TWI628428B - 多視角影像擷取裝置、及其多視角影像檢測設備 - Google Patents

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Abstract

一種多視角影像擷取裝置,用以對待測物的表面進行影像檢測。該多視角影像擷取裝置包含一拾取裝置、一影像擴增模組、一影像擷取裝置、以及一檢測裝置。該拾取裝置用以將該待測物移動至一檢測位置。該影像擴增模組係設置於該檢測位置的周側,用以反射該待測物不同視角影像。該影像擷取裝置於該檢測位置處,拍攝該待測物及該影像擴增模組上反射的影像,以獲得該待測物複數個視角影像。該檢測裝置接收該待測物複數個視角影像,以檢測該待測物之表面。

Description

多視角影像擷取裝置、及其多視角影像檢測設備
本發明係有關於一種多視角影像擷取裝置及其多視角影像檢測設備,尤指一種於一次拍攝中可獲得待測物複數個視角影像的多視角影像擷取裝置及其多視角影像檢測設備。
自動光學檢查(Automated Optical Inspection,AOI),係為運用機器視覺進行檢測的技術,用以改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺失,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力...等領域。
影像處理的技術早期應用於書報業,在後期中逐漸被應用在其他的領域中。目前機器視覺係廣泛地應用於生產線上,主要用於將產品透過移載設備送進檢測站,透過檢測站的影像擷取裝置對待測物進行取像、特徵辨識後,在分類器中判定有瑕疵的項目。
在影像處理的技術中,曲面待測物的處理相當困難,主要原因在於因為曲面關係,檢測裝置於成像上會有待測物 邊緣資訊遭到壓縮問題,以單一或兩個攝影機針對待側物的兩側拍攝時,在邊緣處被壓縮的影像有難以進行影像檢測的問題。實務上為解決上述問題,多半是利用複數個攝像裝置對應曲面待測物的複數個方向的表面進行拍攝、或是透過轉動機構轉動待測物,進行多次取像檢測,以獲得待測物的複數個視角的表面。然而增加攝影機的方式會大幅的增加設備建置的成本,而轉動球體則會大幅地增加檢測的時間,造成檢測設備的效率低落。
本發明的主要目的,在於解決過去技術中於偵測球體待測物表面影像時,因為設備建置成本過高及檢測效率不足的問題。
為達到上述目的,本發明係提供一種多視角影像擷取裝置,用以對待測物的表面進行影像擷取,包含一拾取裝置、一影像擴增模組、以及一影像擷取裝置。該拾取裝置用以將該待測物移動至一檢測位置。該影像擴增模組設置於該檢測位置的周側,用以反射該待測物不同視角的影像。該影像擷取裝置於該檢測位置處,拍攝該待測物及該影像擴增模組上反射的影像,以獲得該待測物複數個視角的影像。
本發明的另一目的,在於提供一種多視角影像擷取裝置,用以對待測物的表面進行影像檢測。該多視角影像擷取裝置包含一拾取裝置、一影像擴增模組、一影像擷取裝置、以及一檢測裝置。該拾取裝置用以將該待測物移動至一檢測位置。該影 像擴增模組係設置於該檢測位置的周側,用以反射該待測物不同視角影像。該影像擷取裝置於該檢測位置處,拍攝該待測物及該影像擴增模組上反射的影像,以獲得該待測物複數個視角影像。該檢測裝置接收該待測物複數個視角影像,以檢測該待測物之表面。
本發明的另一目的,在於提供一種多視角影像檢測設備,用以對待測物的表面進行檢測。該多視角影像檢測設備包含一第一多視角影像擷取裝置、一第二多視角影像擷取裝置、以及一檢測裝置。該第一多視角影像擷取裝置藉由一第一拾取裝置固定該待測物於一第一檢測位置,並透過一第一影像擴增模組反射該待測物不同視角影像,以供一第一影像擷取裝置影像擷取該待測物上半部影像。該第二多視角影像擷取裝置藉由一第二拾取裝置固定該待測物於一第二檢測位置,並透過一第二影像擴增模組反射該待測物不同視角影像,以供一第二影像擷取裝置影像擷取該待測物下半部影像。該檢測裝置接收該待測物上半部影像與該待測物下半部影像,以檢測該待測物之表面。
本發明可以在一次拍攝中獲得待測物複數個表面的影像,相較習知技術必須轉動待測物進行多面檢測,本發明可大幅的提升拍攝的效率。
本發明可以在一次拍攝程序中獲得待測物複數個表面的影像,相較習知技術必須透過複數個攝影機對待測物的複數個視角進行檢測,本發明可大幅的降低設備建置的成本。
100‧‧‧多視角影像檢測設備
SP‧‧‧待測物
10‧‧‧待測物入料裝置
20‧‧‧第一多視角影像擷取裝置
21‧‧‧第一拾取裝置
22‧‧‧第一影像擴增模組
23‧‧‧第一影像擷取裝置
30‧‧‧第二多視角影像擷取裝置
31‧‧‧第二拾取裝置
32‧‧‧第二影像擴增模組
33‧‧‧第二影像擷取裝置
40‧‧‧分類裝置
50‧‧‧檢測裝置
60‧‧‧中央系統
Q1‧‧‧曲面反射鏡
Q2‧‧‧曲面反射鏡
W11‧‧‧平面反射鏡
W12‧‧‧平面反射鏡
W13‧‧‧平面反射鏡
W14‧‧‧平面反射鏡
H1‧‧‧開口
W21‧‧‧平面反射鏡
W22‧‧‧平面反射鏡
W23‧‧‧平面反射鏡
W24‧‧‧平面反射鏡
H2‧‧‧開口
E11‧‧‧平面反射鏡
E12‧‧‧平面反射鏡
H3‧‧‧開口
E21‧‧‧平面反射鏡
E22‧‧‧平面反射鏡
H4‧‧‧開口
α1‧‧‧角度
α2‧‧‧角度
區塊A-區塊J
圖1,為本發明多視角影像檢測設備的方塊示意圖。
圖2,為待測物的區塊分布示意圖(一)。
圖3,為待測物的區塊分布示意圖(二)。
圖4,為本發明中影像擴增模組第一實施態樣的側面示意圖(一)。
圖5,為本發明中影像擴增模組第一實施態樣的正面示意圖(一)。
圖6,為本發明中影像擴增模組第一實施態樣的側面示意圖(二)。
圖7,為本發明中影像擴增模組第一實施態樣的正面示意圖(二)。
圖8,為本發明中影像擴增模組第二實施態樣的側面示意圖(一)。
圖9,為本發明中影像擴增模組第二實施態樣的正面示意圖(一)。
圖10,為本發明中影像擴增模組第二實施態樣的側面示意圖(二)。
圖11,為本發明中影像擴增模組第二實施態樣的正面示意圖(二)。
圖12,為本發明中影像擴增模組第三實施態樣的側面示意圖(一)。
圖13,為本發明中影像擴增模組第三實施態樣的正面示意圖(一)。
圖14,為本發明中影像擴增模組第三實施態樣的側面示意圖(二)。
圖15,為本發明中影像擴增模組第三實施態樣的正面示意圖(二)。
有關本發明之詳細說明及技術內容,現就配合圖式說明如下。再者,本發明中之圖式,為說明方便,其比例未必照實際比例繪製,該等圖式及其比例並非用以限制本發明之範圍,在此先行敘明。
請參閱「圖1」,為本發明多視角影像檢測設備的方塊示意圖,如圖所示:本實施態樣係提供一種多視角影像檢測設備100,用以對待測物SP的表面進行檢測。該多視角影像檢測設備100包含有一待測物入料裝置10、一第一多視角影像擷取裝置20、一第二多視角影像擷取裝置30、一分類裝置40、以及一檢測裝置50。
所述的待測物入料裝置10用以輸入該待測物SP(如圖2、圖3所示)藉以預備進行檢測。具體而言,該待測物入料裝置10係可以為輸送帶、入料軌道、移載裝置、或其他類此用以輸送待測物SP的裝置,於本發明中不予以限制。
所述的第一多視角影像擷取裝置20藉由一第一拾取 裝置21固定該待測物SP於一第一檢測位置,並透過一第一影像擴增模組22反射該待測物SP不同視角的影像,以供一第一影像擷取裝置23影像擷取該待測物SP上半部影像。具體而言,該第一多視角影像擷取裝置20係藉由該第一拾取裝置21抓取該待測物入料裝置10的待測物SP,並將該待測物SP移動至該第一檢測位置,用以拍攝該待測物SP的影像。該第一影像擴增模組22係設置於該第一檢測位置的周側,藉以反射該待測物SP不同視角的影像以供設置於該待測物SP一側的第一影像擷取裝置23拍攝並同時獲得該待測物SP的複數個影像,藉此增加檢測的效率。
所述的第二多視角影像擷取裝置30藉由一第二拾取裝置31固定該待測物SP於一第二檢測位置,並透過一第二影像擴增模組32反射該待測物SP不同視角影像,以供一第二影像擷取裝置33影像擷取該待測物SP下半部影像。具體而言,該第二多視角影像擷取裝置30係藉由該第二拾取裝置31抓取該第一多視角影像擷取裝置20上的待測物SP,並將該待測物SP移動至該第二檢測位置,用以拍攝該待測物SP下半部的影像。該第二影像擴增模組32係設置於該第二檢測位置的周側,藉以反射該待測物SP不同視角影像以供設置於該待測物SP一側的第二影像擷取裝置33拍攝並同時獲得該待測物SP的複數個影像,藉此增加檢測的效率。
於較佳實施態樣中,該第一拾取裝置21及該第二拾取裝置31係為真空吸附裝置,用以透過提供真空吸附力,以吸附 待測物SP的曲狀表面。
所述的分類裝置40係用以將正常的待測物SP及具有瑕疵的待測物SP進行分類,或是將待測物SP依據瑕疵的種類進行分類,藉以將待測物SP進行分類收集。具體而言,所述的分類裝置係可以為輸送帶、移載裝置、多軸載台、旋轉載台或其他類此用以移載待測物SP並將待測物SP進行分類的裝置,於本發明中不予以限制。
所述的檢測裝置50係可以為影像處理器,用以接收該待測物SP上半部影像與該待測物SP下半部影像,經由影像中找到待測物SP的瑕疵,檢測該待測物SP之表面。具體而言,該檢測裝置50例如可以透過二值化處理、去雜訊處理、邊緣強化處理、或影像強化處理等影像處理程序,用以找到影像中待測物SP的瑕疵區域,並將瑕疵區域回傳至中央系統60以進行瑕疵分類、人眼視覺檢測、或是NG料的修補。
上述的裝置可透過有線或無線訊號與控制器進行溝通,透過控制器進行各裝置間工作的協調。該控制器例如可以為中央處理器(Central Processing Unit,CPU),或是其他可程式化之一般用途或特殊用途的微處理器(Microprocessor)、數位訊號處理器(Digital Signal Processor,DSP)、可程式化控制器、特殊應用積體電路(Application Specific Integrated Circuits,ASIC)、可程式化邏輯裝置(Programmable Logic Device,PLD)或其他類似裝置或這些裝置的組合,並配合儲存單元執行軟體、韌體或各部數據 的儲存。
以下係針對本發明中所述的影像擴增模組(第一影像擴增模組22、第二影像擴增模組32)進行詳細的說明。為便於一次拍攝中獲得待測物SP複數個視角的影像,本發明中係揭示一種影像擴增模組用以輔助第一影像擷取裝置23及該第二影像擷取裝置33獲取待測物SP完整表面影像。所述的影像擴增模組係具有一開口對應至一檢測位置,令該影像擴增模組環設於該檢測位置上該待測物SP的周側,供拾取裝置移動至該檢測位置時用以反射該待測物SP不同視角的影像,以經由該影像擷取裝置於一次拍攝中獲得該待測物SP的複數個表面的影像。所述的待測物SP於較佳實施態樣中係為曲面待測物,惟,於本發明中亦不排除將所述裝置及系統用於對應規則、或不規則等其他不同形狀及結構的待測物表面進行檢測,在此先行敘明。
為便於對應不同實施態樣的收光角度及不同視角的對應位置進行說明,以下係針對待測物SP的複數個區域分別定義並進行說明,如「圖2」及「圖3」,所述的待測物SP主要可以分為十個區塊,分別為兩對向側區塊A、區塊B(分別對應至待測物SP的上半球及下半球),以及環繞於該區塊A、及區塊B之間的區塊C、區塊D、區塊E、區塊F、區塊G、區塊H、區塊I、及區塊J。其中,區塊C、區塊G、區塊E、及區塊I係緊鄰於區塊A,區塊D、區塊H、區塊F、及區塊J則緊鄰於區塊B。以六面視角觀之,區塊A係為待測物SP的第一面、區塊B係為待測物SP的 第二面、區塊C及區塊D係為待測物SP的第三面、區塊E及區塊F係為待測物SP的第四面、區塊G及區塊H係為待測物SP的第五面、區塊I及區塊J係為待測物SP的第六面。
以下係針對本發明中所述的影像擴增模組舉三種不同實施例進行說明,請先參閱「圖4」至「圖7」,為本創作中影像擴增模組的第一實施例的外觀示意圖。
本實施態樣係揭示一種影像擴增模組,該影像擴增模組係為一曲面反射鏡,該曲面反射鏡的中間位置係具有一供該待測物SP設置的開口。由於曲面反射鏡的收光角度廣,可以接收該待測物SP穿過該開口後的大部分區域的影像。
於較佳實施態樣中,於進行檢測時,該待測物SP的中心位置可移動至該曲面反射鏡的焦點上,藉此可獲得較大的反射面積。以下係配合「圖1」至「圖3」的待測物表面瑕疵檢測系統及球體區塊分布圖說明本實施態樣的檢測程序:如「圖4」至「圖5」所示,於第一多視角影像擷取裝置20進行檢測時,係透過第一影像擷取裝置23拍攝該待測物SP的影像,獲得待測物SP區塊A的影像(上半球),由於待測物SP的中心位置係對應至曲面反射鏡Q1的焦點位置,待測物SP的周側的四個面都將顯示於該曲面反射鏡Q1上,其中包含了區塊C及區塊D、區塊E及區塊F、區塊G及區塊H、區塊I及區塊J,意即可以在一次拍攝中獲得待測物SP除了第一拾取裝置21抓取面(區塊B)以外其他區塊的影像。
於第一多視角影像擷取裝置20拍攝完成的待測物SP係於流程中移載至第二多視角影像擷取裝置30進行另一側的拍攝。於進行另一側拍攝時,如「圖6」及「圖7」所示,由於第二拾取裝置31係由另一側抓取待測物SP,待測物SP區塊B的影像(下半球)可以被第二影像擷取裝置33拍攝取得。於第二多視角影像擷取裝置30時同樣亦可以透過曲面反射鏡Q2對待測物SP進行拍攝,所獲得的待測物SP的影像除了包含有區塊B外,同樣包含有區塊C及區塊D、區塊E及區塊F、區塊G及區塊H、區塊I及區塊J,透過兩次拍攝可進一步於另一個角度確認待測物SP上相同區塊是否有於前一次拍攝角度無法獲得的瑕疵。於另一較佳實施態樣中,由於第一多視角影像擷取裝置20時已獲得待測物SP除了區塊B以外的所有影像,於第二多視角影像擷取裝置30時可以單獨設置第二影像擷取裝置33拍攝待測物SP的另一側獲得區塊B的影像,而無須再另外設置影像擴增模組。
於另一較佳實施態樣中,所揭示的影像擴增模組(第一影像擴增模組22、第二影像擴增模組32)係為複數個設置於該待測物SP周側的平面反射鏡,該平面反射鏡係與該待測物SP及影像擷取裝置間具有一角度,用以反射該待測物SP的複數個不同視角的影像至該影像擷取裝置。利用平面反射鏡進行檢測的優點在於平面反射鏡並不具備曲率,因此所反射獲得的影像相對比較不會有變形的情況,因此於待測物SP的每一位置的影像都能夠達到合理檢測精確度。
於其中一較佳實施態樣中,請參閱「圖8」至「圖11」,為本創作中影像擴增模組的第二實施態樣的外觀示意圖。
如「圖8」、及「圖9」所示,本實施態樣中,於第一多視角影像擷取裝置20上,該平面反射鏡W11、W12、W13、W14分別平均設置於一開口H1周側的四個方向上,於第一拾取裝置21係將該待測物SP由該開口H1置入,透過該平面反射鏡W11、W12、W13、W14反射該待測物SP四個視角的影像。如「圖8」及「圖9」所示,平面反射鏡W11、W12、W13、W14設置於該待測物SP的四個方向,除了面對第一影像擷取裝置23的區塊A(上半球)以外,區塊C由平面反射鏡W11上所獲得、區塊G由平面反射鏡W12上所獲得、區塊E由平面反射鏡W13上所獲得、區塊I則由由平面反射鏡W14上所獲得。因此,待測物SP上半球的五個區塊可以於一次拍攝中獲得。
接續,於第一多視角影像擷取裝置20拍攝完成的待測物SP係移載至第二多視角影像擷取裝置30進行下半球的拍攝。該平面反射鏡W21、W22、W23、W24分別平均設置於一開口H2周側的四個方向上。於進行下半球拍攝時,如「圖10」及「圖11」所示,由於第二拾取裝置31係由另一側抓取待測物SP,因此待測物SP區塊B的影像(下半球)可以被拍攝取得。於第二多視角影像擷取裝置30時同樣透過四個平面反射鏡W21、W22、W23、W24獲得該待測物SP的擴增影像,並針對該待測物SP及該擴增影像進行拍攝,所獲得的待測物SP的影像除了面對第二影 像擷取裝置33的區塊B以外,區塊D由平面反射鏡W21上所獲得、區塊F由平面反射鏡W22上所獲得、區塊H由平面反射鏡W23上所獲得、區塊J則由平面反射鏡W24上所獲得,透過第二次的拍攝可取得該待測物SP另一半球上尚未獲得的影像。藉此,於兩次拍攝中獲得該待測物SP全部的影像。
於設置四面平面反射鏡W11-W14、平面反射鏡W21-W24的實施態樣中,重點在於獲得待測物SP前側的影像,為使該影像擷取裝置的視覺區域遠近的中心落於被檢測曲面的中間位置上,該待測物SP中心必須穿過該開口H1、H2位置適當距離,該平面反射鏡與該影像擷取裝置的拍攝方向之間的角度α1,其較佳應趨近於27度角,合理值可以為17度角至37度角之間,須視平面反射鏡W11-W14、平面反射鏡W21-W24與待測物SP之間的距離、以及該待測物SP穿過開口的距離而決定。
於另一較佳實施態樣中,請參閱「圖12」至「圖15」,為本創作中影像擴增模組的第三實施態樣示意圖。
於本實施態樣中,係透過變更平面反射鏡E1與該影像擷取裝置拍攝方向之間的角度,變更該影像擷取裝置對該待測物SP的取像角度。於「圖12」及「圖13」中,由於第一拾取裝置21係將整顆該待測物SP穿過該平面反射鏡之間的開口H3,因此可以看到該待測物SP更後側的影像,並於一次拍攝中獲得待測物SP前半球及後半球的影像。由於影像擷取裝置可以在單面平面反射鏡中獲得兩個區塊的影像,本實施態樣僅須設置兩個平面反 射鏡即可獲得五個區塊的影像。如「圖12」及「圖13」所示,除了區塊A(上半球)以外,第一影像擷取裝置23於一側的平面反射鏡E11獲得區塊C、區塊D的全部影像,於另一側的平面反射鏡E12中可以獲得區塊E、區塊F的全部影像,因此,待測物SP一側的五個區塊可以於一次拍攝中獲得。
接續,於第一多視角影像擷取裝置20拍攝完成的待測物SP係移載至第二多視角影像擷取裝置30進行另一側的拍攝。於進行另一側拍攝時,如「圖14」及「圖15」所示,由於第二拾取裝置31係由另一側抓取待測物SP,因此待測物SP區塊B的影像(下半球)可以被拍攝取得。於第二多視角影像擷取裝置30時同樣透過二個平面反射鏡E21、E22獲得該待測物SP的擴增影像,並針對該待測物SP及該擴增影像進行拍攝,除了區塊B以外,第二影像擷取裝置33於一側的平面反射鏡E21獲得區塊I、區塊J的全部影像,於另一側的平面反射鏡E22中可以獲得區塊G、及區塊H的全部影像,透過二次拍攝即可以獲得該待測物SP全部的影像。
於設置二面平面反射鏡E11、E12(或平面反射鏡E21、E22)的實施態樣中,重點在於獲得待測物SP中間位置的影像,為使該影像擷取裝置的視覺區域遠近的中心落於被檢測曲面的中間位置上,該待測物SP中心必須整顆穿過該開口位置,且該平面反射鏡E11、E12(或平面反射鏡E21、E22)與該影像擷取裝置的拍攝方向之間的角度α2較佳應趨近於45度角,合理值可以為 35度角至55度角之間,須視平面反射鏡E11、E12(或平面反射鏡E21、E22)與待測物SP之間的距離、以及該待測物SP穿過開口H3、H4的距離而決定。
惟,於本實施態樣中即便由兩個平面反射鏡E11、E12(或平面反射鏡E21、E22)就可以獲得待測物SP的五個區塊的影像,本發明亦不排除同時配置四個平面反射鏡以便針對相同區域重複進行檢測以增加準確率的實施態樣,在此先行敘明。
除上述兩個平面反射鏡或四個平面反射鏡的實施態樣外,本發明亦不排除設置單個或複數個平面反射鏡、單個或複數個曲面反射鏡、或是在不脫離本發明主要精神下的其他均等實施態樣,在此先行敘明。
綜上所述,本發明可以在一次拍攝中獲得待測物複數個表面的影像,相較習知技術必須轉動球體進行多面檢測,本發明可大幅的提升拍攝的效率。此外,本發明可以在一次拍攝中獲得待測物複數個表面的影像,相較習知技術必須透過複數個攝影機對待測物的複數個視角進行檢測,本發明可大幅的降低設備建置的成本。
以上已將本發明做一詳細說明,惟以上所述者,僅惟本發明之一較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即凡依本發明申請專利範圍所作之均等變化與修飾,皆應仍屬本發明之專利涵蓋範圍內。

Claims (16)

  1. 一種多視角影像擷取裝置,用以對待測物的表面進行影像擷取,包含:一拾取裝置,用以將一待測物入料裝置的該待測物移動至一檢測位置;一影像擴增模組,設置於該檢測位置的周側,用以反射該待測物不同視角的影像;以及一影像擷取裝置,於該檢測位置處,拍攝該待測物及該影像擴增模組上反射的影像,以獲得該待測物複數個視角的影像。
  2. 一種多視角影像擷取裝置,用以對待測物的表面進行影像檢測,包含:一拾取裝置,用以將一待測物入料裝置的該待測物移動至一檢測位置;一影像擴增模組,係設置於該檢測位置的周側,用以反射該待測物不同視角影像;一影像擷取裝置,於該檢測位置處,拍攝該待測物及該影像擴增模組上反射的影像,以獲得該待測物複數個視角影像;以及一檢測裝置,接收該待測物複數個視角影像,以檢測該待測物之表面。
  3. 如申請專利範圍第1或2項中任一項所述的多視角影像擷取裝置,其中該影像擴增模組包括一曲面反射鏡,該曲面反射鏡的中間位置係具有一供該待測物穿過的開口。
  4. 如申請專利範圍第1或2項中任一項項所述的多視角影像擷取裝置,其中該影像擴增模組包括複數個設置於檢測位置周側的平面反射鏡,其中該平面反射鏡係與該影像擷取裝置拍攝方向之間具有一設置角度,用以反射該待測物的複數個視角影像。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的多視角影像擷取裝置,其中該平面反射鏡係平均設置於該檢測位置周側的四個方向上,用以一次反射該待測物四個視角的影像。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的多視角影像擷取裝置,其中該平面反射鏡與該影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於17度至37度之間。
  7. 如申請專利範圍第4項所述的多視角影像擷取裝置,其中該平面反射鏡係設置於該檢測位置的二側,用以反射該待測物二側視角的影像。
  8. 如申請專利範圍第7項所述的多視角影像擷取裝置,其中該平 面反射鏡與該影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於35度至55度之間。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的多視角影像擷取裝置,其中該拾取裝置係為真空吸附裝置。
  10. 一種多視角影像檢測設備,用以對待測物的表面進行檢測,包含:一第一多視角影像擷取裝置,藉由一第一拾取裝置將一待測物入料裝置的該待測物固定於一第一檢測位置,並透過一第一影像擴增模組反射該待測物不同視角影像,以供一第一影像擷取裝置影像擷取該待測物上半部影像;一第二多視角影像擷取裝置,藉由一第二拾取裝置固定該待測物於一第二檢測位置,並透過一第二影像擴增模組反射該待測物不同視角影像,以供一第二影像擷取裝置影像擷取該待測物下半部影像;以及一檢測裝置,接收該待測物上半部影像與該待測物下半部影像,以檢測該待測物之表面。
  11. 如申請專利範圍第10項所述的多視角影像檢測設備,其中該第一影像擴增模組及該第二影像擴增模組係為一曲面反射鏡,該曲面反射鏡的中間位置係具有一供該待測物設置的開口。
  12. 如申請專利範圍第10項所述的多視角影像檢測設備,其中,該第一影像擴增模組及該第二影像擴增模組分別包括複數個設置於該第一檢測位置及該第二檢測位置周側的平面反射鏡,該第一影像擴增模組的平面反射鏡係與該第一影像擷取裝置拍攝方向間具有一角度,該第二影像擴增模組的平面反射鏡係與該第二影像擷取裝置拍攝方向間具有一角度,用以反射該待測物的複數個不同視角的影像。
  13. 如申請專利範圍第12項所述的多視角影像檢測設備,其中該平面反射鏡係平均設置於該第一檢測位置及該第二檢測位置周側的四個方向上,用以反射該待測物四個視角的影像。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的多視角影像檢測設備,其中該第一影像擴增模組的平面反射鏡與該第一影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於17度至37度之間;該第二影像擴增模組的平面反射鏡與該第二影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於17度至37度之間。
  15. 如申請專利範圍第12項所述的多視角影像檢測設備,其中該第一影像擴增模組的平面反射鏡係設置於該第一檢測位置四個方向上的二側,用以反射該待測物二側視角的影像,該第二 影像擴增模組的平面反射鏡係設置於該第二檢測位置四個方向上的另外兩側,用以反射該待測物另外二側視角的影像。
  16. 如申請專利範圍第15項所述的多視角影像檢測設備,其中該第一影像擴增模組的平面反射鏡與該第一影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於35度至55度之間;該第二影像擴增模組的平面反射鏡與該第二影像擷取裝置拍攝方向之間的角度較佳係介於35度至55度之間。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11320385B2 (en) * 2018-10-16 2022-05-03 Seagate Technology Llc Intelligent defect identification system
CN111435114A (zh) * 2019-01-11 2020-07-21 贵州中烟工业有限责任公司 一种颗粒外观缺陷全视角检测装置及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200535299A (en) * 2004-02-16 2005-11-01 Tiziano Barea Device for the optical analysis, including two-dimensional, of a thread or yarn
CN101504376A (zh) * 2009-03-11 2009-08-12 张勇 球形物体表面光学检测的方法及装置
CN103286081A (zh) * 2013-05-07 2013-09-11 浙江工业大学 基于单目多视角机器视觉的钢珠表面缺陷在线自动分选装置
CN103645190A (zh) * 2013-11-27 2014-03-19 上海工程技术大学 用于纱线外观参数测量的可调节双扭镜盒及其装置
CN204202647U (zh) * 2014-10-26 2015-03-11 汪锐 一种采用反射镜辅助***测试的装置

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0799326B2 (ja) * 1986-08-30 1995-10-25 株式会社マキ製作所 球塊状物品の外観検査方法と装置
JPH03203399A (ja) * 1989-12-29 1991-09-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着装置
US5452080A (en) * 1993-06-04 1995-09-19 Sony Corporation Image inspection apparatus and method
US5563703A (en) * 1994-06-20 1996-10-08 Motorola, Inc. Lead coplanarity inspection apparatus and method thereof
WO1997032181A1 (en) * 1996-03-01 1997-09-04 Durand-Wayland, Inc. Optical inspection apparatus and method for articles
JP3614597B2 (ja) * 1996-10-24 2005-01-26 三菱原子燃料株式会社 内面撮像装置
US6160906A (en) * 1998-06-01 2000-12-12 Motorola, Inc. Method and apparatus for visually inspecting an object
US6270226B1 (en) * 2000-05-16 2001-08-07 William G. Taylor Multi-view imaging device
US7205529B2 (en) * 2001-02-01 2007-04-17 Marel Hf Laser mirror vision
US20030072011A1 (en) * 2001-10-09 2003-04-17 Shirley Lyle G. Method and apparatus for combining views in three-dimensional surface profiling
US6813016B2 (en) * 2002-03-15 2004-11-02 Ppt Vision, Inc. Co-planarity and top-down examination method and optical module for electronic leaded components
JP4020144B2 (ja) * 2006-03-10 2007-12-12 オムロン株式会社 表面状態の検査方法
US20080013820A1 (en) * 2006-07-11 2008-01-17 Microview Technology Ptd Ltd Peripheral inspection system and method
JP2008089351A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Olympus Corp 外観検査装置及び外観検査方法
US7880798B2 (en) * 2008-09-09 2011-02-01 Electro Scientific Industries, Inc. Apparatus and method for optically converting a three-dimensional object into a two-dimensional planar image
CN101726495A (zh) * 2008-10-24 2010-06-09 中茂电子(深圳)有限公司 光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台
JP5563372B2 (ja) * 2010-05-20 2014-07-30 第一実業ビスウィル株式会社 外観検査装置
SG177786A1 (en) * 2010-07-13 2012-02-28 Semiconductor Tech & Instr Inc System and method for capturing illumination reflected in multiple directions
US20120293623A1 (en) * 2011-05-17 2012-11-22 Gii Acquisition, Llc Dba General Inspection, Llc Method and system for inspecting small manufactured objects at a plurality of inspection stations and sorting the inspected objects
JP2014535056A (ja) * 2011-11-08 2014-12-25 ザ・トラスティーズ・オブ・コロンビア・ユニバーシティ・イン・ザ・シティ・オブ・ニューヨーク トモグラフィのデータを取り込むための同時多方向イメージングに向けたシステムと方法
CN102538704B (zh) * 2012-01-09 2013-12-11 王�华 硬币立面及轮廓在线检测光学***
CN202770779U (zh) * 2012-08-27 2013-03-06 由田新技股份有限公司 运用多轴机械臂的检测装置
JP6085134B2 (ja) * 2012-09-21 2017-02-22 リコーエレメックス株式会社 検査装置
CN102937583B (zh) * 2012-10-24 2014-11-12 浙江工业大学 基于单目多视角机器视觉的珍珠光洁度在线自动分级装置
TWI524064B (zh) * 2014-09-05 2016-03-01 由田新技股份有限公司 多重瑕疵檢出之光學檢測設備
CN205720050U (zh) * 2016-06-27 2016-11-23 怀化学院 一种球状物体全表面图像采集装置
CN106226316A (zh) * 2016-08-31 2016-12-14 江苏大学 一种单摄像机宽视场视觉螺纹检测装置及其检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200535299A (en) * 2004-02-16 2005-11-01 Tiziano Barea Device for the optical analysis, including two-dimensional, of a thread or yarn
CN101504376A (zh) * 2009-03-11 2009-08-12 张勇 球形物体表面光学检测的方法及装置
CN103286081A (zh) * 2013-05-07 2013-09-11 浙江工业大学 基于单目多视角机器视觉的钢珠表面缺陷在线自动分选装置
CN103645190A (zh) * 2013-11-27 2014-03-19 上海工程技术大学 用于纱线外观参数测量的可调节双扭镜盒及其装置
CN204202647U (zh) * 2014-10-26 2015-03-11 汪锐 一种采用反射镜辅助***测试的装置

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