TWI599823B - 光學組件貼合體之製造系統、製造方法及儲存媒體 - Google Patents
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Description
本發明係關於一種將光學組件貼合至光學顯示部件的光學組件貼合體之製造系統、製造方法及儲存媒體。
本發明係根據2013年5月16日於日本提出申請之特願第2013-104151號而主張其優先權,並引用其內容。
傳統上,已知液晶顯示器等光學顯示設備的生產系統。該生產系統將貼合至液晶面板(光學顯示部件)的偏光板等光學組件,從長條薄膜切割出符合液晶面板之顯示區域尺寸的層片。其後,將光學組件貼合至液晶面板(例如,參考專利文獻1)。
專利文獻1:日本專利特開第2003-255132號公報。
一般而言,上述長條薄膜(光學薄膜)係將浸漬有二色性(dichroism)色素之樹脂薄膜朝一方向延伸所製造。該長條薄膜之光學軸方向與該樹脂薄膜之延伸方向概略一致。因此,傳統上係以該延伸方向為基準來設計
長條薄膜的切斷角度。
但是,關於長條薄膜之光學軸,於長條薄膜整體並非相同,於長條薄膜面內具有若干差異。因此,從長條薄膜切割出偏光板(光學組件)的情況,因該長條薄膜面內之光學軸差異的影響,所切割出的偏光板之光學軸將產生偏差。
將薄膜狀光學組件貼合至光學顯示部件的情況亦同樣會生產上述光學軸差異。因此,需要提升相對光學顯示部件的光學組件之光學軸方向的精度。
本發明有鑑於上述事項,提供一種可提升貼合至光學顯示部件的光學薄膜之光學軸方向精度的光學組件貼合體之製造系統、製造方法及儲存媒體。
(1)關於本發明的一形態之光學組件貼合體的製造系統,具備:控制裝置,根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;校準裝置,根據該控制裝置所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;貼合裝置,將該光學組件層貼合至由該校準裝置校準好之光學顯示部件;檢測裝置,於該貼合裝置所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及切斷裝置,沿著該貼合面的外周緣,切斷該檢測裝置所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
另外,上述結構中的「光學顯示部件及光學組件層之貼合面」係指,對向光學顯示部件的光學組件層之面;「貼合面的外周緣」具體而言係指,於光學顯示部件中,貼合有光學組件層之側的基板之外周緣。
而且,光學組件層的「第一區域(對應貼合面區域)」係指,於光學組件層中,較光學組件層及對向的光學顯示部件之顯示區域大並較光學顯示部件的外形(平面視圖中之輪廓外形)小的區域,且為於光學顯示部件中避開了電子部件
安裝部等功能部分的區域。
(2)於上述(1)之形態中,該切斷裝置較佳從該光學組件層切割出對應該貼合面大小的光學組件層,藉以切割出包含該光學顯示部件及該光學組件層的光學組件貼合體。
此外,上述結構中的「對應貼合面大小」係指,較光學顯示部件之顯示區域大並較光學顯示部件之外形(平面視圖中之輪廓外形)小的區域。
(3)於上述(1)之形態中,該控制裝置較佳讓該光學顯示部件之基準軸與該檢查資料所示之光學組件層的光學軸方向呈平行,以決定該相對貼合位置。
(4)於上述(3)之形態中,該控制裝置較佳使用通過該光學顯示部件之平面中心的長邊方向軸來作為該基準軸。
(5)於上述(1)之形態中,該校準裝置較佳讓該光學組件層與該光學顯示部件配置至該控制裝置所決定的相對貼合位置,以進行該光學顯示部件的校準。
(6)於上述(1)之形態中,該校準裝置較佳由該第一搬送裝置朝該光學顯示部件的搬送方向之垂直方向移動、及由該第一搬送裝置繞該光學顯示部件的搬送方向之垂直軸迴轉,以將該光學顯示部件搬送至該相對貼合位置。
(7)於上述(1)之形態中,該校準裝置較佳於將該光學顯示部件反轉後,根據該控制裝置所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準。
(8)於上述(1)之形態中,該貼合裝置較佳使用較該顯示區域大且較該光學顯示部件的外形小之區域來作為該第一區域。
(9)於上述(1)之形態中,該切斷裝置較佳使用雷射來切斷該光學組件層。
(10)於上述(1)之形態中,較佳更具備攝影裝置,拍攝該光學顯示部件之位置;其中該控制裝置根據該檢查資料與該攝影裝置所拍攝之光學顯示部件的位置,決定該相對貼合位置。
(11)於上述(1)之形態中,較佳更具備第一搬送裝置,將該光學顯示部件以該校準裝置、該貼合裝置及該切斷裝置之順序進行搬送。
(12)於上述(1)之形態中,較佳更具備第二搬送裝置,將該光學組件層搬送至該貼合裝置。
(13)於上述(12)之形態中,該第二搬送裝置較佳具備回收部,回收該切斷裝置所切斷之剩餘部分。
(14)關於本發明的一形態之光學組件貼合體的製造方法,包含:根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;根據決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;將該光學組件層貼合至校準好之光學顯示部件;於所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及沿著該貼合面的外周緣,切斷所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
(15)關於本發明的一形態之電腦可讀式儲存媒體,儲存有執行下述動作的程式:根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;根據所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;將該光學組件層貼合至校準好之光學顯示部件;於所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及沿著該貼合面的外周緣,切斷所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一
區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
而且,關於本發明的一形態係於將光學組件貼合於光學顯示部件以形成光學組件貼合體的製造方法中,包含:貼合光學組件層的製程,將較該光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層貼合至該光學顯示部件,以形成貼合層;決定相對貼合位置的製程,於該光學組件層貼合至該光學顯示部件前,根據該光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;校準製程,於該光學組件層貼合至該光學顯示部件前,根據該控制裝置所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;以及切割製程,於該光學組件層貼合至該光學顯示部件後,於該貼合層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣,並於該貼合層中,沿著該貼合面的外周緣,切斷對應該光學組件層之貼合面部分及其外側的剩餘部分,從該光學組件層切割出對應該貼合面大小的光學組件,藉以從該貼合層切割出包含單一個光學顯示部件及與其重疊之光學組件的光學組件貼合體。
從關於本發明的形態可知,根據顯示光學組件層之光學軸方向的檢查資料而進行校準之後,將光學組件層貼合至光學顯示部件。藉此,即使是光學軸方向因光學組件層之位置而改變的情況,可配合該光學軸方向來校準光學顯示部件,並貼合至光學組件層。藉此,可提升相對於光學顯示部件的光學組件之光學軸方向的精度。而且,可改善光學顯示設備的色彩度及對比度。而且,亦可對應具任意光學軸方向的光學組件貼合體之製造。
5‧‧‧滾筒搬送機
11‧‧‧第一校準裝置
12‧‧‧第一貼合裝置
12’‧‧‧第一貼合裝置
12a‧‧‧搬送裝置
12a’‧‧‧搬送裝置
12b‧‧‧夾壓滾筒
12c‧‧‧滾筒保持部
12d‧‧‧保護薄膜回收部
12c‧‧‧第一回收部
13‧‧‧第一切斷裝置
13’‧‧‧第一切斷裝置
14‧‧‧第二校準裝置
15‧‧‧第二貼合裝置
15a‧‧‧搬送裝置
15b‧‧‧夾壓滾筒
15c‧‧‧滾筒保持部
15d‧‧‧第二回收部
16‧‧‧第二切斷裝置
17‧‧‧第三校準裝置
17’‧‧‧第三校準裝置
18‧‧‧第三貼合裝置
18’‧‧‧第三貼合裝置
18a‧‧‧搬送裝置
18b‧‧‧夾壓滾筒
18c‧‧‧滾筒保持部
18d‧‧‧第三回收部
19‧‧‧第三切斷裝置
20‧‧‧控制裝置
41‧‧‧第一檢測裝置
42‧‧‧第二檢測裝置
43‧‧‧攝影裝置
43a‧‧‧拍攝面
44‧‧‧照明光源
45‧‧‧控制部
C‧‧‧攝影機
CA‧‧‧檢查區域
ED‧‧‧外周緣
F1‧‧‧第一光學組件層
F2‧‧‧第二光學組件層
F3‧‧‧第三光學組件層
F11‧‧‧第一光學組件
F12‧‧‧第二光學組件
F13‧‧‧第三光學組件
F1S‧‧‧層片
F21‧‧‧第一貼合層
F22‧‧‧第二貼合層
F23‧‧‧第三貼合層
FX‧‧‧光學組件層
G‧‧‧邊框部
H‧‧‧高度
H1‧‧‧高度
P‧‧‧液晶面板
P1‧‧‧第一基板
P2‧‧‧第二基板
P3‧‧‧液晶層
P4‧‧‧顯示區域
P5‧‧‧電子部件安裝部
P11‧‧‧第一單面貼合面板
P12‧‧‧第二單面貼合面板
P13‧‧‧雙面貼合面板
pf‧‧‧保護薄膜
pt1‧‧‧起點
pt2‧‧‧終點
PX‧‧‧光學顯示部件
R1‧‧‧第一料捲滾筒
R2‧‧‧第二料捲滾筒
R3‧‧‧第三料捲滾筒
SA1‧‧‧第一貼合面
SA2‧‧‧第二貼合面
t‧‧‧切斷端
θ‧‧‧傾斜角度
第1圖係本發明之實施形態中光學顯示設備之薄膜貼合系統的示意結構圖。
第2圖係上述薄膜貼合系統之第二貼合裝置周邊的立體圖。
第3圖係顯示上述薄膜貼合系統之光學組件層的光學軸方向與其貼合之光學顯示部件的立體圖。
第4圖係上述薄膜貼合系統中第一貼合層的剖面圖。
第5圖係上述薄膜貼合系統之第二切斷裝置中第二貼合層的剖面圖。
第6圖係上述薄膜貼合系統之第三切斷裝置中第三貼合層的平面圖。
第7圖係第6圖之A-A線的剖面圖。
第8圖係通過上述薄膜貼合系統之雙面貼合面板的剖面圖。
第9圖係顯示已貼合至液晶面板的光學組件層之雷射切斷端的剖面圖。
第10圖係顯示光學組件層單體之雷射切斷端的剖面圖。
第11圖係顯示上述薄膜貼合系統之第一貼合裝置周邊變形例的示意結構圖。
第12圖係顯示上述薄膜貼合系統之第三貼合裝置周邊變形例的示意結構圖。
第13圖係顯示檢測貼合面的外周緣之第一檢測裝置的示意圖。
第14圖係顯示檢測貼合面的外周緣之第一檢測裝置變形例的示意圖。
第15圖係顯示檢測貼合面的外周緣之位置的平面圖。
第16圖係顯示檢測貼合面的外周緣之第二檢測裝置的示意圖。
以下,參考圖面說明本發明之實施形態。本實施形態中,說明包含光學組件貼合體之製造裝置的薄膜貼合系統。
第1圖係顯示本實施形態之薄膜貼合系統1的示意結構。薄膜貼合系統1係例如將偏光薄膜或相位差薄膜、輝度增加薄膜等薄膜狀光學組件貼合至例如液晶面板或有機電致發光(OEL,Organic Electro-Luminescencc)面板等面板狀光學顯示部件。
薄膜貼合系統係製造包含有該光學顯示部件及光學組件的光學組件貼合體。薄膜貼合系統1中,係使用液晶面板P作為該光學顯示部件。
薄膜貼合系統1之各部位係透過作為電子控制裝置的控制裝置20進行整體控制。
薄膜貼合系統1係從貼合製程之起始位置到終點位置為止,使用例如驅動式之滾筒搬送機5來搬送液晶面板P,同時對液晶面板P依序施以特定處理。液晶面板P以其正/反面呈水平狀態下於滾筒搬送機5上進行搬送。
此外,第1圖之紙面左側係顯示液晶面板P的搬送方向上游側(以下,稱作面板搬送上游側)。第1圖之紙面右側則顯示液晶面板P的搬送方向下游側(以下,稱作面板搬送下游側)。
一併參考第6圖至第8圖進行說明。此外,第7圖以及第8圖中,液晶面板P之紙面上方側係為顯示面側,紙面下方側則為背光側。液晶面板P之平面視圖為長方形(參考第6圖)。從液晶面板P的外周緣距特定寬度之內側處,形成具有沿該外周緣形狀之顯示區域P4(參考第6圖)。於後述第二校準裝置14的面板搬送上游側時,使得顯示區域P4之短邊約略沿著搬送方向來搬送液晶面板P。於該第二校準裝置14的面板搬送下游側時,則使得顯示區域P4之長邊約略沿著搬送方向來搬送液晶面板P。
針對該液晶面板P之正面與反面,將長條形之第一光學組件層F1、第二光學組件層F2及第三光學組件層F3所切割出的第一光學組件F11、第二光學組件F12及第三光學組件F13適當地貼合於液晶面板P(參考第8
圖)。本實施形態中,液晶面板P之背光側及顯示面側的雙面係各自貼合有作為偏光薄膜之第一光學組件F11及第三光學組件F13(參考第8圖)。液晶面板P之背光側一面進一步貼合有重疊於第一光學組件F11之作為輝度增加薄膜(參考第8圖)的第二光學組件F12。
如第1圖所示,薄膜貼合系統1具備第一校準裝置11、第一貼合裝置12、第一切斷裝置13及第二校準裝置14。
第一校準裝置11將液晶面板P從上游製程搬送至滾筒搬送機5之面板搬送上游側上,同時進行液晶面板P的校準。第一貼合裝置12設置於第一校準裝置11的面板搬送下游側。第一切斷裝置13設置於接近第一貼合裝置12處。第二校準裝置14設置於第一貼合裝置12及第一切斷裝置13的面板搬送下游側。
而且,薄膜貼合系統1具備第二貼合裝置15、第二切斷裝置16、第三校準裝置17、第三貼合裝置18及第三切斷裝置19。
第二貼合裝置15設置於第二校準裝置14的面板搬送下游側。第二切斷裝置16設置於接近第二貼合裝置15處。第三校準裝置17設置於第二貼合裝置15及第二切斷裝置16的面板搬送下游側。
第三貼合裝置18設置於第三校準裝置17的面板搬送下游側。
第三切斷裝置19設置於接近第三貼合裝置18處。
而且,詳細內容於後述,於第二切斷裝置16的面板搬送上游側,設置檢測裝置,用以規定在第二切斷裝置16的切斷位置;於第三切斷裝置19的面板搬送上游側,設置檢測裝置,用以規定在第三切斷裝置19的切斷位置。
第一校準裝置11可保持液晶面板P並自由地朝垂直方向及水平方向進行搬送。而且,第一校準裝置11具有拍攝液晶面板P之面板搬送上
游側及下游側之端部的一對攝影機C(參考第3圖)。攝影機C的攝影資料傳送至控制裝置20。
控制裝置20根據該攝影資料與預先儲存之光學軸方向的檢查資料,啟動第一校準裝置11。不過,後述第二校準裝置14及第三校準裝置17亦同樣地具有攝影機C,並將該攝影機C之攝影資料用以進行校準。
第一校準裝置11受控制裝置20之控制,進行相對第一貼合裝置12之液晶面板P的校準。此時,決定液晶面板P於垂直搬送方向之水平方向(以下稱作部件寬度方向)上的位置,及繞垂直軸之迴轉方向(以下稱作迴轉方向)上的位置。在此狀態下,將液晶面板P引導至第一貼合裝置12之貼合位置。
第一貼合裝置12針對被引導至貼合位置的長條狀第一光學組件層F1之上側面,將沿其上方搬送之液晶面板P的下側面(背光側)進行貼合。第一貼合裝置12具備搬送裝置12a及夾壓滾筒12b。
搬送裝置12a從捲繞有第一光學組件層F1之第一料捲滾筒R1將第一光學組件層F1捲出,並沿其長邊方向搬送第一光學組件層F1。夾壓滾筒12b將滾筒搬送機5所搬送之液晶面板P的下側面貼合至搬送裝置12a所搬送之第一光學組件層F1的上側面。
搬送裝置12a具備滾筒保持部12c及保護薄膜回收部12d。滾筒保持部12c保持著捲繞有第一光學組件層F1之第一料捲滾筒R1,並沿其長邊方向捲出第一光學組件層F1。保護薄膜回收部12d將重疊於第一光學組件層F1的下側面而與第一光學組件層F1一併捲出的保護薄膜pf,在第一貼合裝置12之面板搬送下游側進行回收。
夾壓滾筒12b具有於軸線方向相互平行配置的一對貼合滾筒。一對貼合滾筒之間形成有特定間隙,該間隙內即為第一貼合裝置12的貼合位
置。將液晶面板P及第一光學組件層F1重合導入該間隙內。該等液晶面板P及第一光學組件層F1於該貼合滾筒之間受夾壓,並送往面板搬送下游側。藉此,便可形成將複數個液晶面板P相距特定間隔而連續貼合至長條狀第一光學組件層F1之上側面的第一貼合層F21。
一併參考第4圖以及第5圖進行說明。不過,第4圖以及第5圖中,液晶面板P之紙面上方側係為背光側,紙面下方側係為顯示面側。第一切斷裝置13位於保護薄膜回收部12d的面板搬送下游側。第一切斷裝置13於第一光學組件層F1之特定部位(沿搬送方向上並列的液晶面板P之間)處,沿該部件寬度方向將整個寬度切斷。藉此,第一切斷裝置13切斷第一貼合層F21之第一光學組件層F1,而作為較顯示區域P4大(本實施形態中較液晶面板P大)的層片F1S。不過,第一切斷裝置13較佳可使用切割刀片,亦可使用雷射切割機。透過該切斷,形成第一單面貼合面板P11,其係於液晶面板P的下側面貼合有較顯示區域P4大之層片F1S。
另外,於層片F1S中,突出於液晶面板P外側部分的大小(層片F1S的剩餘部分大小)因應液晶面板P的尺寸而適當設定。例如,層片F1S適用於5吋至10吋的中小型尺寸之液晶面板P的情況,於層片F1S的各側邊中,將層片F1S的一側邊及液晶面板P的一側邊之間的間隔設定為2mm-5mm範圍之長度。
參考第1圖進行說明。第二校準裝置14係例如可保持滾筒搬送機5上的第一單面貼合面板P11並繞垂直軸迴轉90°。藉此,與顯示區域P4之短邊略呈平行而搬送的第一單面貼合面板P11係轉換方向為與顯示區域P4之長邊略呈平行而進行搬送。不過,前述迴轉係為當貼合至液晶面板P的其它光學組件層之光學軸方向相對第一光學組件層F1之光學軸方向配置呈直角的情況。
第二校準裝置14進行與該第一校準裝置11相同的校準。即,第二校準裝置14根據儲存於控制裝置20之光學軸方向的檢查資料及該攝影機C的攝影資料,決定相對第二貼合裝置15的第一單面貼合面板P11之部件寬度方向及迴轉方向的位置。在此狀態中,第一單面貼合面板P11被引導至第二貼合裝置15之貼合位置。
第二貼合裝置15針對被引導至貼合位置的長條狀第二光學組件層F2之上側面,將沿其上方搬送之第一單面貼合面板P11的下側面(液晶面板P之背光側)進行貼合。即,為了使貼合於第一單面貼合面板P11中液晶面板P的背光側之層片F1S及第二光學組件層F2接觸,而貼合第一單面貼合面板P11及第二光學組件層F2。
第二貼合裝置15具備搬送裝置15a及夾壓滾筒15b。
搬送裝置15a從捲繞有第二光學組件層F2之第二料捲滾筒R2將第二光學組件層F2捲出,並沿其長邊方向搬送第二光學組件層F2。夾壓滾筒15b將滾筒搬送機5所搬送之第一單面貼合面板P11的下側面貼合至搬送裝置15a所搬送之第二光學組件層F2的上側面。
搬送裝置15a具備滾筒保持部15c及第二回收部15d。
滾筒保持部15c保持著捲繞有第二光學組件層F2之第二料捲滾筒R2,並沿其長邊方向捲出第二光學組件層F2。第二回收部15d將通過位於夾壓滾筒15b的面板搬送下游側之第二切斷裝置16後的第二光學組件層F2之剩餘部分回收。
夾壓滾筒15b具有沿軸線方向相互平行配置的一對貼合滾筒。一對貼合滾筒之間形成有特定間隙,該間隙內即為第二貼合裝置15的貼合位置。將第一單面貼合面板P11及第二光學組件層F2重合導入該間隙內。該等第一單面貼合面板P11及第二光學組件層F2於該貼合滾筒之間受夾壓,並送
往面板搬送下游側。藉此,便可形成將複數個第一單面貼合面板P11相距特定間隔而連續貼合至長條狀第二光學組件層F2之上側面的第二貼合層F22。
一併參考第2圖以及第5圖進行說明。第二切斷裝置16位於夾壓滾筒15b的面板搬送下游側。第二切斷裝置16同時切斷第二光學組件層F2與貼合於其上側面的第一單面貼合面板P11之第一光學組件層F1之層片F1S。第二切斷裝置16例如為二氧化碳(CO2)雷射切割機。第二切斷裝置16沿層積體及液晶面板P的貼合面之外周緣(本實施形態中係沿液晶面板P之外周緣)不間斷地切斷第二光學組件層F2與第一光學組件層F1之層片F1S的層積體。將各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)貼合至液晶面板P後再一同進行切割,可提高各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的光學軸方向之精度。而且,可消除各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)間的光學軸方向之偏差。再者,可簡化第一切斷裝置13中的切斷。
藉由第二切斷裝置16的切斷,形成第二單面貼合面板P12,其係於液晶面板P的下側面重疊貼合有第一光學組件F11及第二光學組件F12(參考第7圖)。此時,使第二單面貼合面板P12與切除對應貼合面的部分(第一光學組件F11、第二光學組件F12)後殘餘呈框狀的各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之剩餘部分能相互分離。
第二光學組件層F2之剩餘部分會成為複數相連的梯子狀。該剩餘部分與第一光學組件層F1之剩餘部分被共同捲取至第二回收部15d。
另外,關於對應貼合面的部分如後述。
參考第1圖進行說明。第三校準裝置17將液晶面板P之顯示面側朝向上側面的第二單面貼合面板P12進行正/反反轉,使得液晶面板P之背光側朝向上側面。第三校準裝置17進行與該第一校準裝置11及第二校準裝置
14相同的校準。即,第三校準裝置17根據儲存於控制裝置20之光學軸方向檢查資料及該攝影機C的攝影資料,決定相對第三貼合裝置18的第二單面貼合面板P12之部件寬度方向及迴轉方向上的位置。在此狀態中,第二單面貼合面板P12被引導至第三貼合裝置18之貼合位置。
第三貼合裝置18針對被引導至貼合位置的長條狀第三光學組件層F3之上側面,將沿其上方搬送之第二單面貼合面板P12的下側面(液晶面板P之顯示面側)進行貼合。第三貼合裝置18具備搬送裝置18a及夾壓滾筒18b。
搬送裝置18a從捲繞有第三光學組件層F3之第三料捲滾筒R3將第三光學組件層F3捲出,並沿其長邊方向搬送第三光學組件層F3。夾壓滾筒18b將滾筒搬送機5所搬送之第二單面貼合面板P12的下側面貼合至搬送裝置18a所搬送之第三光學組件層F3的上側面。
搬送裝置18a具備滾筒保持部18c及第三回收部18d。
滾筒保持部18c保持著捲繞有第三光學組件層F3之第三料捲滾筒R3,並沿其長邊方向捲出第三光學組件層F3。第三回收部18d將通過位於夾壓滾筒18b之面板搬送下游側之第三切斷裝置19後的第三光學組件層F3之剩餘部分回收。
夾壓滾筒18b具有沿軸線方向相互平行配置的一對貼合滾筒。一對貼合滾筒之間形成有特定間隙,該間隙內即為第三貼合裝置18的貼合位置。將第二單面貼合面板P12及第三光學組件層F3重合導入該間隙內。該第二單面貼合面板P12及該第三光學組件層F3於該貼合滾筒之間受夾壓,並送往面板搬送下游側。藉此,便可形成將複數個第二單面貼合面板P12相距特定間隔而連續貼合至長條狀第三光學組件層F3上側面的第三貼合層F23。
第三切斷裝置19位於夾壓滾筒18b之面板搬送下游側,切斷
第三光學組件層F3。第三切斷裝置19具有與第二切斷裝置16相同的雷射加工機,沿第三光學組件層F3及液晶面板P之貼合面的外周緣(例如,沿液晶面板P之外周緣)不間斷地切斷第三光學組件層F3。
藉由第三切斷裝置19的切斷,形成雙面貼合面板P13,其係於第二單片貼合面板P12的下側面貼合有第三光學組件F13(參考第8圖)。此時,使雙面貼合面板P13與切除對應貼合面的部分(第三光學組件F13)後殘餘呈框狀的第三光學組件層F3之剩餘部分能相互分離。第三光學組件層F3之剩餘部分會與第二光學組件層F2之剩餘部分同樣地成為複數相連的梯子狀(參考第2圖)。該剩餘部分被捲取至第三回收部18d。
雙面貼合面板P13通過圖中未顯示之缺陷檢查裝置,檢查是否有缺陷(貼合不良等)後,搬送至下游製程進行其它處理。
此處,一般的長條狀光學薄膜(相當於各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3))係將經二色性色素進行染色之樹脂薄膜朝一軸延伸而製造,光學薄膜的光學軸方向與樹脂薄膜的延伸方向大略一致。但是,由於光學薄膜整體並非相同,故光學薄膜的光學軸在光學薄膜的寬度方向會有些許偏差。
為此,冀望在其寬度方向將複數個光學顯示部件貼合至光學薄膜的情況中,配合光學薄膜的光學軸方向進行光學顯示部件的校準。
藉此,對於抑制光學顯示設備單元之光學軸偏差,來改善色彩度及對比度是有效的。
作為偏光薄膜之光學薄膜為了遮斷沿一方向上振動之光線以外的光線,係以例如碘或二色性染料等進行染色。不過,光學薄膜處亦可進一步層積有剝離薄膜或保護薄膜。
檢查光學薄膜之光學軸方向的檢查裝置具備光源及分析儀。
光源配置於光學薄膜之正/反面的一側。分析儀則配置於光學薄膜之正/反面的另一側。分析儀接收自光源照射並透射光學薄膜的光線,檢測出該光線強度,藉以檢測出光學薄膜之光學軸。分析儀例如可於光學薄膜之寬度方向上移動。檢查裝置使分析儀於光學薄膜之寬度方向移動的同時,藉由此分析儀檢測光學薄膜之光學軸。藉此,檢查裝置在光學薄膜的寬度方向之複數檢查位置上檢查光學薄膜之光學軸。另外,不一定要為使該分析儀於光學薄膜之寬度方向移動的結構,亦可為於光學薄膜之寬度方向具備複數分析儀的結構。
該光學薄膜之寬度方向上設定有複數個檢查點,該分析儀可沿該等複數個檢查點之排列方向移動。檢查裝置搬送光學薄膜,同時移動分析儀,以於該各檢查點檢查光學軸方向。檢查裝置所檢測之光學薄膜的光學軸資料係與光學薄膜的位置(光學薄膜之長邊方向的位置以及寬度方向的位置)資料連結地儲存於儲存裝置。經檢查裝置檢查後的光學薄膜捲取成滾筒狀,以形成料捲滾筒。
本實施形態的情況中,該檢查裝置所獲得之各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3)之光學軸方向的檢查資料係與各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3)之長邊方向位置與寬度方向位置資料連結地儲存於控制裝置20之記憶體。此檢查之後,各自捲取各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3),以形成各料捲滾筒(第一料捲滾筒R1、第二料捲滾筒R2、第三料捲滾筒R3)。
以下,各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3)可統稱為光學組件層FX,貼合至各光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3)的液晶面板P、第一單面貼合面板P11及第二單面貼合面板P12可統稱為光學顯示部件PX。
此處,構成光學組件層FX之偏光薄膜係例如經二色性色素進行染色之聚乙烯醇(PVA)薄膜,並朝一軸延伸所形成。由於偏光薄膜於延伸時會有PVA薄膜厚度之不均勻或二色性色素染色不均勻等問題,亦造成光學組件層FX之寬度方向內側與寬度方向外側之光學軸方向相異的問題。
該處,本實施形態中,根據預先儲存於控制裝置20之光學組件層FX各部位中的光學軸面內分佈檢查資料,決定相對光學組件層FX的光學顯示部件PX之貼合位置(相對貼合位置)。然後,本實施形態中,配合此貼合位置,在進行相對光學組件層FX之光學顯示部件PX的校準後,將光學顯示部件PX貼合至光學組件層FX。
具體而言,首先,求得於光學組件層FX之部件寬度方向上並列的光學顯示部件PX的基準軸(例如,通過平面視圖形狀之中心位置的長邊方向軸等)。
其次,根據該面內分佈資料經適當校正處理等,估計出與光學組件層FX中光學顯示部件PX之基準軸重疊位置的光學軸方向。
接著,根據所估計出之光學軸方向,修正光學顯示部件PX之貼合位置,以決定光學顯示部件PX與光學組件層FX的相對貼合位置。其後,進行光學顯示部件PX之校準。
藉此,即使是在光學組件層FX之寬度方向上相異位置處貼合光學顯示部件PX的情況,可抑制相對光學顯示部件PX之基準位置的光學組件層FX之光學軸方向偏差。根據本實施形態,光學軸公差可幾乎為0°(容許公差為±0.25°)。
不過,亦可於捲出光學組件層FX的同時檢測出光學軸方向,並根據該檢測資料進行光學顯示部件PX之校準。而且,前述各種校準方式不限定於光學組件層FX之光學軸方向為0°及90°的情況,亦可適用於任意角度的
情況。
第3圖係於較寬的光學組件層FX之寬度方向上並列貼合有三個光學顯示部件PX的範例。但是,本發明並不限定於此,亦可於光學組件層FX之寬度方向上並列貼合有二個以下或四個以上的光學顯示部件PX。而且,亦可將較窄的光學組件層FX沿寬度方向排列複數個,並各自貼合光學顯示部件PX。
參考第4圖進行說明。液晶面板P具備第一基板P1、第二基板P2及液晶層P3。
第一基板P1係例如薄膜電晶體(TFT,Thin Film Transistor)基板所構成的長方形基板。第二基板P2係對向第一基板P1配置的長方形基板。液晶層P3係封入第一基板P1與第二基板P2之間。不過,為了圖示方便起見,省略剖面圖中的各層剖面線。
參考第6圖以及第7圖進行說明。第一基板P1外周緣之三側邊係沿著第二基板P2相對應之三側邊配置,外周緣剩餘之一側邊則延伸至第二基板P2相對應之一側邊的外側。藉此,於第一基板P1之一側邊處設置有延伸至第二基板P2外側的電子部件安裝部P5。
參考第5圖以及第7圖進行說明。第二切斷裝置16以後述的檢測裝置檢測後,沿著第二光學組件層F2與層片F1S的層積體以及液晶面板P之貼合面的外周緣,切斷第一光學組件層F1及第二光學組件層F2。於第5圖中,係顯示構成檢測裝置的攝影裝置43。而且,第三切斷裝置19以後述的檢測裝置檢測後,沿著第三光學組件層F3及液晶面板P之貼合面的外周緣,切斷第三光學組件層F3。於第7圖中,係顯示構成檢測裝置的攝影裝置43。顯示區域P4之外側處設置有將第一基板P1及第二基板P2接合之密封劑等設置用特定寬度之邊框部G。於該邊框部G之寬度內以第二切斷裝置16及第三
切斷裝置19進行雷射切割。
貼合面之外周緣的檢測及藉由切斷裝置的切斷,詳細敘述如下。
第13圖係顯示檢測貼合面之外周緣的第一檢測裝置41之示意圖。於第13圖中,為了方便,以液晶面板P之貼合有層片F1S之側為上側,第一檢測裝置41之結構係顯示為上下相反。
本實施形態的薄膜貼合系統1所具備的第一檢測裝置41具有:攝影裝置43,拍攝第二貼合層片F22中液晶面板P及層片F1S之貼合面(以下,稱為第一貼合面SA1)的外周緣ED之畫面;照明光源44,照亮外周緣ED;以及控制部45,儲存攝影裝置43所拍攝之畫面,或根據畫面進行檢測出外周緣ED用的演算。
此種第一檢測裝置41設置於第1圖中第二切斷裝置16之面板搬送上游側的夾壓滾筒15b與第二切斷裝置16之間。
攝影裝置43固定並配置於外周緣ED之第一貼合面SA1的內側,呈傾斜狀態,使第一貼合面SA1的法線與攝影裝置43之拍攝面43a的法線夾有角度θ(以下,稱為攝影裝置43之傾斜角度θ)。攝影裝置43使拍攝面43a朝向外周緣ED,從第二貼合層F22中貼合有層片F1S之側拍攝外周緣ED的畫面。
攝影裝置43之傾斜角度θ設定為能確實地拍攝構成第一貼合面SA1的第一基板P1之外周緣。例如,液晶面板P係將主板分割成複數個液晶面板,係所謂形成多層面板的情況,構成液晶面板P的第一基板P1與第二基板P2之外周緣處係產生有偏差,第二基板P2之端面偏移至第一基板P1端面的外側。前述情況中,攝影裝置43之傾斜角度θ可設定為讓第二基板P2外周緣不進入攝影裝置43之拍攝視野內。
前述情況中,攝影裝置43之傾斜角度θ可配合第一貼合面SA1與攝影裝置43之拍攝面43a中心之間的距離H(以下,稱為攝影裝置43之高度H)地進行設定。例如,攝影裝置43之高度H為50mm以上,100mm以下的情況中,攝影裝置43之傾斜角度θ可設定於5°以上,20°以下之範圍的角度。但是,依經驗已知偏差量的情況中,可根據其偏差量求得攝影裝置43之高度H及攝影裝置43之傾斜角度θ。本實施形態中,攝影裝置43之高度H設定為78mm,攝影裝置43之傾斜角度θ設定10°。
攝影裝置43之傾斜角度θ亦可為0°。第14圖係顯示第一檢測裝置41變形例的示意圖,係攝影裝置43之傾斜角度θ為0°的情況例示。即使於第14圖中,為了方便,以液晶面板P之貼合有層片F1S之側為上側,第一檢測裝置41之結構係顯示為上下相反。如第14圖所示,攝影裝置43及照明光源44可各別配置在沿著第一貼合面SA1之法線方向而重疊於外周緣ED的位置處。
第一貼合面SA1與攝影裝置43之拍攝面43a中心之間的距離H1(以下,稱為攝影裝置43之高度H1)可設定為易於檢測出第一貼合面SA1之外周緣ED的位置。例如,攝影裝置43之高度H1可設定於50mm以上,150mm以下之範圍。
照明光源44固定並配置於第二貼合層F22中貼合有層片F1S之側的相反側。照明光源44以傾斜的姿勢配置於第一貼合面SA1外側,其係較相對第一貼合面SA1之法線方向的外周緣ED更外側。於本實施形態中,照明光源44之光軸與攝影裝置43之拍攝面43a的法線係呈平行。
此外,照明光源44亦可配置於第二貼合層F22中貼合有層片F1S之側(即,與攝影裝置43同一側)。
而且,只要能藉由照明光源44放射出的照明光線,照亮攝影
裝置43所拍攝之外周緣ED,照明光源44之光軸與攝影裝置43之拍攝面43a的法線亦可相互交叉。
第15圖係顯示檢測出貼合面外周緣之位置的平面圖。在如第15圖所示之第二貼合層F22的搬送路線上,設定有檢查區域CA。檢查區域CA係設定於被搬送之液晶面板P上,對應第一貼合面SA1之外周緣ED的位置。第15圖中,檢查區域CA係設定在對應平面視圖呈矩形之第一貼合面SA1之四個角部的四個位置處,以檢測出第一貼合面SA1之角部(即外周緣ED)的結構。第15圖中,於第一貼合面SA1之外周緣中,對應角部之鉤狀部分係顯示為外周緣ED。
第13圖之第一檢測裝置41於四個位置處之檢查區域CA中檢測出外周緣ED。
具體而言,各檢查區域CA各自配置有攝影裝置43及照明光源44,第一檢測裝置41拍攝每一個被搬送之液晶面板P的第一貼合面SA1之角部,根據攝影資料檢測出外周緣ED。所檢測之外周緣ED的資料儲存於第13圖所示之控制部45。
此外,只要能檢測出第一貼合面SA1之外周緣,則檢查區域CA之設定位置不限定於此。例如,各檢查區域CA亦可配置於對應第一貼合面SA1之各側邊一部分(例如各側邊之中央部)的位置。此情況中,係檢測出第一貼合面SA1之各側邊(四個側邊,即外周緣)的結構。
而且,攝影裝置43及照明光源44不限定為配置在各檢查區域CA的結構,亦可為能沿著第一貼合面SA1之外周緣ED設定之移動路線上進行移動之結構。此情況中,只要各設置一組攝影裝置43與照明光源44即可。
第二切斷裝置16的層片F1S及第二光學組件層F2之切斷位置根據第一貼合面SA1之外周緣ED的檢測結果來調整。如第14圖所示之控制
部45根據儲存之第一貼合面SA1之外周緣ED的資料,設定層片F1S及第二光學組件層F2之切斷位置,使第一光學組件F11形成不會突出液晶面板P外側(第一貼合面SA1外側)的大小。第二切斷裝置16於藉由控制部45所決定的切斷位置,切斷層片F1S及第二光學組件層F2。
回到第1圖,第二切斷裝置16設置於第一檢測裝置41之面板搬送下游側。第二切斷裝置16沿著所檢測之外周緣ED,切斷貼合至液晶面板P之層片F1S及第二光學組件層F2中對應第一貼合面SA1的部分、與其外側的剩餘部分,藉以切割出對應第一貼合面SA1大小的第一光學組件F11及第二光學組件F12(參考第8圖)。藉此,形成於液晶面板P之上側面重疊貼合有第一光學組件F11及第二光學組件F12的第二單面貼合面板P12。
此處,該「對應第一貼合面SA1的部分」係指,在層片F1S及第二光學組件層F2中,較對向液晶面板P之顯示區域大並較液晶面板P之外形(平面視圖中之輪廓外形)小的區域,且為於液晶面板P中避開了電子部件安裝部等功能部分的區域。
本實施形態中,於平面視圖為矩狀外形之液晶面板P中除了該功能部分之外的三個側邊處,沿液晶面板P之外周緣以雷射切斷剩餘部分,而相當於該功能部分的一側邊,則從液晶面板P之外周緣朝顯示區域P4側適當深入的位置處以雷射切斷剩餘部分。例如,第一基板P1為薄膜電晶體(TFT,Thin Film Transistor)基板的情況中,在相當於功能部分的一側邊中,除了功能部分之外,於從液晶面板P之外周緣朝顯示區域P4側偏移特定量的位置進行切斷。
第16圖係顯示檢測貼合面之外周緣的第二檢測裝置42之示意圖。於第16圖中,為了方便,以液晶面板P之貼合有第三光學組件層F3之側為上側,第二檢測裝置42之結構係顯示為上下相反。本實施形態之薄膜貼合
系統1所具備的第二檢測裝置42具有:攝影裝置43,拍攝第三貼合層F23中的液晶面板P與第三光學組件層F3之貼合面(以下,稱為第二貼合面SA2)的外周緣ED之畫面;照明光源44,照亮外周緣ED;以及控制部45,儲存攝影裝置43所拍攝之畫面,根據畫面進行檢測出外周緣ED用的演算。第二檢測裝置42具有與上述第一檢測裝置41相同之結構。
這樣的第二檢測裝置42設置於第1圖中第三切斷裝置19之面板搬送上游側的夾壓滾筒18b與第三切斷裝置19之間。第二檢測裝置42於第三貼合層F23的搬送路線上所設定之檢查區域處,與上述第一檢測裝置41相同地,檢測出第二貼合面SA2之外周緣ED。
第三切斷裝置19的第三光學組件層F3之切斷位置根據第二貼合面SA2之外周緣ED的檢測結果來調整。如第13圖所示之控制部45根據所儲存的第二貼合面SA2之外周緣ED的資料,設定第三光學組件層F3之切斷位置,使第三光學組件F13形成不會突出液晶面板P外側(第二貼合面SA2外側)的大小。第三切斷裝置19於藉由控制部45所決定的切斷位置,切斷第三光學組件層F3。
第三切斷裝置19沿著所檢測之外周緣ED,切斷貼合至液晶面板P之第三光學組件層F3中對應第二貼合面SA2的部分、與其外側的剩餘部分,藉以切割出對應第二貼合面SA2大小的第三光學組件F13(參考第8圖)。藉此,形成雙面貼合面板P13,其係於第二單面貼合面板P12之上側面貼合有第三光學組件F13。
此處,該「對應第二貼合面SA2的部分」係指,在第三光學組件層F3中,較對向液晶面板P之顯示區域大並較液晶面板P之外形(平面視圖中之輪廓外形)小的區域,且為於液晶面板P中避開了電子部件安裝部等功能部分的區域。
如第10圖所示,單獨對樹脂製的光學組件層FX進行雷射切割時,其切斷端t可能因熱變形而膨脹或呈波浪形。因此,將雷射切割後之光學組件層FX貼合至光學顯示部件PX的情況,光學組件層FX處易產生空氣混入或變形等貼合不良問題。
另一方面,本實施形態中,如第9圖所示,於液晶面板P貼合好光學組件層FX之後,以雷射切斷光學組件層FX。本實施形態中,光學組件層FX之切斷端t會受到液晶面板P之玻璃表面支撐。因此,光學組件層FX之切斷端t不會產生膨脹或波浪形,且於液晶面板P之貼合後進行故不會有前述貼合不良。
雷射加工機之切割線的振動幅度(公差)係較切割刀片之公差更小。因此本實施形態中,與使用切割刀片切斷光學組件層FX的情況相比,可使得該邊框部G的寬度更窄。而且,可達到液晶面板P之小型化及/或顯示區域P4之大型化。這可應用於近年來之智慧型手機或平板電腦終端等,需要在機殼尺寸之限制下將顯示畫面放大的高機能行動裝置。
而且,對將光學組件層FX整合於液晶面板P之顯示區域P4的層片進行切割之後,貼合至液晶面板P的情況中,該層片及液晶面板P各自的尺寸公差,以及該等之相對貼合位置的尺寸公差會疊加。因此,液晶面板P之邊框部G的寬度難以縮小。換言之,顯示區域難以擴大。
另一方面,將光學組件層FX貼合至液晶面板P之後,依據顯示區域P4進行切割的情況中,僅須考慮切斷線之振動公差。因此,可縮小邊框部G之寬度的公差(±0.1mm以下)。此特點亦可使得液晶面板P之邊框部G的寬度變窄(可使得顯示區域擴大)。
再者,以非利刃的雷射來切斷光學組件層FX,切斷時不會有作用力施加至液晶面板P,因此液晶面板P之基板的端緣不易產生裂痕或破
裂,提升對於熱循環等的耐久性。同樣地,由於不接觸液晶面板P,對於電子部件安裝部P5的損傷亦較少。
另外,以雷射切斷光學組件層FX的情況,雷射照射之每單位長度的能量較佳需考慮液晶面板P或光學組件層FX的厚度結構來決定。
本實施形態中,以雷射切斷光學組件層FX的情況,每單位長度的能量較佳在0.01~0.11(J/mm)的範圍內進行雷射照射。於雷射照射中,每單位長度的能量過大時,以雷射切斷光學組件層FX的情況,光學組件層FX將有可能受到損傷。但是,因為每單位長度的能量在0.01~0.11(J/mm)的範圍內進行雷射照射,可防止光學組件層FX受到損傷。
如第6圖所示,以雷射切斷光學組件層FX(第6圖中之第三光學組件層F3)的情況,例如於顯示區域P4之一長邊的延長上設定為雷射切割的起點pt1。接著,從該起點pt1先開始進行該一長邊的切斷動作。雷射切割之終點pt2係設定於雷射環繞顯示區域P4一圈後,到達顯示區域P4之起點側短邊的延長上之位置。起點pt1及終點pt2係設定使得光學組件層FX之剩餘部分仍會剩餘特定接續部分,而能承受捲取光學組件層FX時的張力。
如以上說明,上述實施形態中光學組件貼合體之製造系統,於將光學組件(第一光學組件F11、第二光學組件F12)貼合至液晶面板P而形成第二單面貼合面板P12之製造系統中,具備:控制裝置20,根據顯示較該液晶面板P之顯示區域P4大的光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之光學軸方向的檢查資料,決定該液晶面板P與該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的相對貼合位置;校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14),根據該控制裝置20所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之液晶面板P的校準;貼合裝置(第一貼合裝置12、第二貼合裝置15),將該光學組件層(第一光學組件層F1、
第二光學組件層F2)依序貼合至根據該校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14)校準好之光學顯示部件,以作為第二貼合層F22;檢測裝置(第一檢測裝置41),於該貼合裝置(第一貼合裝置12、第二貼合裝置15)所貼合之光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)中,檢測該光學組件層(第一光學組件層F1)及該液晶面板P之第一貼合面SA1的外周緣;以及切斷裝置(第一切斷裝置16),沿著該第一貼合面SA1的外周緣,切斷該檢測裝置(第一檢測裝置41)所檢測之光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的區域中對應該光學組件層(第一光學組件層F1)之第一貼合面SA1區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
同樣地,上述實施形態中光學組件貼合體之製造系統,於將光學組件(第三光學組件F13)貼合至第二單面貼合面板P12而形成雙面貼合面板P13之製造系統中,具備:貼合裝置(第三貼合裝置18),將較該液晶面板P之顯示區域P4大的光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12之光學組件(第一光學組件F11、第二光學組件F12)的相反側之面,來作為第三貼合層F23;控制裝置20,於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12前,根據該光學組件層(第三光學組件層F3)之光學軸方向的檢查資料,決定該液晶面板P及該第二單面貼合面板P12的相對貼合位置;校準裝置(第三校準裝置17),於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12前,根據該控制裝置20所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層(第三光學組件層F3)之第二單面貼合面板P12的校準;檢測裝置(第二檢測裝置42),於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12後,於該貼合裝置(第三貼合裝置18)所貼合之光學組件層(第三光學組件層F3)中,檢測該光學組件層(第三光學組件層F3)及該液晶面板P之第二貼合面SA2的外周緣;以及切斷裝置(第三切斷裝置19),沿著該第二貼
合面SA2之外周緣,切斷該檢測裝置(第二檢測裝置42)所檢測之光學組件層(第三光學組件層F3)的區域中對應該光學組件層(第三光學組件層F3)之第二貼合面SA2區域的第一區域與該光學組件層(第三光學組件層F3)之第一區域外側區域的第二區域,從該光學組件層(第三光學組件層F3)切割出對應該第二貼合面SA2大小的光學組件(第三光學組件F13),藉以從該第三貼合層F23切割出包含單一個液晶面板P及與其重疊之光學組件(第三光學組件F13)的雙面貼合面板P13。
本實施形態中,如上所述,該切斷裝置(第二切斷裝置16)較佳係從該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)切割出對應該第一貼合面SA1大小的光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2),藉以切割出包含該液晶面板P及該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的第二貼合層F22(光學組件貼合體)。
而且,本實施形態中,該控制裝置20較佳係讓該液晶面板P之基準軸與由該檢查資料所示之光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的光學軸方向呈平行,以決定該相對貼合位置。
而且,本實施形態中,如上所述,該控制裝置20較佳係使用通過該液晶面板P之平面中心的長邊方向軸來作為該基準軸。
而且,本實施形態中,該校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14)較佳係讓該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)與該液晶面板P配置至該控制裝置20所決定的相對貼合位置,以進行該液晶面板P的校準。
而且,本實施形態中,如上所述,該校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14)較佳係由該滾筒搬送機5(第一搬送裝置)朝該液晶面板P搬送方向之垂直方向移動、及由該滾筒搬送機5繞該液晶面板P搬送方向之垂直軸迴轉,藉以將該液晶面板P搬送至該相對貼合位置。
而且,本實施形態中,如上所述,該校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14)較佳係於將該液晶面板P反轉後,根據該控制裝置20所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之液晶面板P的校準。
而且,本實施形態中,如上所述,該貼合裝置(第一貼合裝置12、第二貼合裝置15)較佳係以較該顯示區域大且較該液晶面板P的外形小的區域來作為該第一區域。
而且,本實施形態中,如上所述,該切斷裝置(第二切斷裝置16)較佳係使用雷射來切斷該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)。
而且,本實施形態中,如上所述,較佳係更具備攝影機C(攝影裝置),拍攝該液晶面板P之位置,其中該控制裝置20根據該檢查資料與該攝影機C所拍攝之液晶面板P的位置,決定該相對貼合位置。
而且,本實施形態中,如上所述,較佳係更具備滾筒搬送機5(第一搬送裝置),將該液晶面板P以該校準裝置(第一校準裝置11、第二校準裝置14)、該貼合裝置(第一貼合裝置12、第二貼合裝置15)及該切斷裝置(第二切斷裝置16)之順序進行搬送。
而且,本實施形態中,如上所述,較佳係更具備搬送裝置12a(第二搬送裝置),將該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)搬送至該貼合裝置(第一貼合裝置12、第二貼合裝置15)。
而且,本實施形態中,如上所述,該搬送裝置12a較佳係具備第二回收部15d,回收由該第二切斷裝置16所切斷之光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)的第二區域。
此結構中,根據光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組
件層F2、第三光學組件層F3)之光學軸方向的檢查資料進行校準之後,貼合至液晶面板P。藉此,即使是因應光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2、第三光學組件層F3)之位置而改變其光學軸方向的情況,可依據該光學軸方向校準液晶面板P並貼合。藉此,可提升相對於液晶面板P的光學組件(第一光學組件F11、第二光學組件F12、第三光學組件F13)之光學軸方向的精度,可改善光學顯示設備的色彩度及對比度。而且,亦可對應具有任意之光學軸方向的光學組件貼合體之製造。
另外,上述實施形態的薄膜貼合系統中,使用檢測裝置檢測複數個液晶面板P的每一者之貼合面的外周緣,依據所檢測之外周緣,可設定貼合於各個液晶面板P的光學組件層之切斷位置。藉此,無論液晶面板P或光學組件層大小的個體差異,皆可切斷所需大小的光學組件,因沒有因液晶面板P或光學組件層大小的個體差異所造成之品質差異,故可縮小顯示區域周邊之邊框部,以達成顯示區域之擴大及機器之小型化目的。
此處,上述實施形態中光學組件貼合體之製造方法,根據顯示較該液晶面板P之顯示區域P4大的光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之光學軸方向的檢查資料,決定該液晶面板P及該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)之相對貼合位置;根據所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層(第一光學組件層F1、該第二光學組件層F2)之液晶面板P的校準;將該光學組件層(第一光學組件層F1、第二光學組件層F2)依序貼合於校準好之光學顯示部件,以作為第二貼合層F22,於該第二貼合層F22中,檢測該光學組件層(第一光學組件層F1)與該液晶面板P之第一貼合面SA1的外周緣,然後於該第二貼合層F22中,沿著該第一貼合面SA1的外周緣,切斷對應該光學組件層(第一光學組件層F1)之第一貼合面SA1區域的第一區域與該光學組件層(第一光學組件層F1)之第一區域外側區域的第二區域。
同樣地,上述實施形態中的光學組件貼合體之製造方法,包含:貼合第三光學組件層F3的製程,將較該第二單面貼合面板P12之顯示區域P4大的第三光學組件層F3貼合至該第二單面貼合面板P12的光學組件(第一光學組件F11、第二光學組件F12)之相反側的面,以作為第三貼合層F23;決定相對貼合位置的製程,於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12前,根據該光學組件層(第三光學組件層F3)之光學軸方向的檢查資料,決定該液晶面板P及該第二單面貼合面板P12的相對貼合位置;校準製程,於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12前,根據該控制裝置20所決定的相對貼合位置,進行相對該光學組件層(第三光學組件層F3)之第二單面貼合面板P12的校準;檢測製程,於該光學組件層(第三光學組件層F3)貼合至該第二單面貼合面板P12後,於該貼合裝置(第三貼合裝置18)所貼合之光學組件層(第三光學組件層F3)中,檢測該光學組件層(第三光學組件層F3)及該液晶面板P之第二貼合面SA2的外周緣;以及切割製程,沿著該第二貼合面SA2的外周緣,切斷所檢測之光學組件層(第三光學組件層F3)的區域中對應該光學組件層(第三光學組件層F3)之第二貼合面SA2區域的第一區域與該光學組件層(第三光學組件層F3)之第一區域外側區域的第二區域,從該光學組件層(第三光學組件層F3)切割出對應該第二貼合面SA2大小的光學組件(第三光學組件F13),藉以從該第三貼合層F23切割出包含單一個液晶面板P及與其重疊之光學組件(第三光學組件F13)的雙面貼合面板P13。
另外,第11圖係顯示薄膜貼合系統1的變形例。相較於第1圖的結構,具有以第一貼合裝置12’代替該第一貼合裝置12,及以第一切斷裝置13’代替該第一切斷裝置13的相異點。其它部分,與前述實施形態相同結構者則賦予相同元件符號並省略詳細說明。
第一貼合裝置12’具備搬送裝置12a’以代替該搬送裝置12a。搬
送裝置12a’與該搬送裝置12a相比,除了滾筒保持部12c及保護薄膜回收部12d之外,更具有第一回收部12e。第一回收部12e捲取通過第一切斷裝置13’而被切割殘餘呈梯子狀的第一光學組件層F1之剩餘部分。
第一切斷裝置13’位於保護薄膜回收部12d之面板搬送下游側,並位於第一回收部12e之面板搬送上游側。第一切斷裝置13’為了從第一光學組件層F1切割出較顯示區域P4大的層片,切斷第一光學組件層F1。第一切斷裝置13’具有與該第二切斷裝置16及該第三切斷裝置19相同的雷射加工機。第一切斷裝置13’沿顯示區域P4外側之特定邊線不間斷地切斷第一光學組件層F1。
藉由第一切斷裝置13’的切斷,形成第一單面貼合面板P11’,其係於液晶面板P的下側面貼合有較顯示區域P4大的第一光學組件層F1之層片。此時,第一單面貼合面板P11’與切割殘餘呈梯子狀的第一光學組件層F1之剩餘部分相互分離,第一光學組件層F1之剩餘部分被捲取至第一回收部12e。
第12圖係顯示薄膜貼合系統1的其它變形例。相較於第1圖的結構,具有以第三校準裝置17’及第三貼合裝置18’代替該第三校準裝置17及第三貼合裝置18的相異點。其它部分,與前述實施形態相同結構者則賦予相同元件符號並省略詳細說明。
第三校準裝置17’與該第三校準裝置17相比,為較簡單的結構,沒有面板正/反反轉功能,僅具有與該第一校準裝置11及第二校準裝置14相同的校準功能。即,第三校準裝置17’根據儲存於控制裝置20之光學軸方向的檢查資料及該攝影機C之攝影資料,決定相對第三貼合裝置18’之第二單面貼合面板P12的部件寬度方向及迴轉方向上之位置。在此狀態中,第二單面貼合面板P12被引導至第三貼合裝置18’之貼合位置。
第三貼合裝置18’與該第三貼合裝置18相比,係針對被引導至貼合位置的長條狀第三光學組件層F3下側面,將沿其下方搬送之第二單面貼合面板P12上側面(液晶面板P之顯示面側)進行貼合。第三貼合裝置18’具有該搬送裝置18a及夾壓滾筒18b上下顛倒的結構。藉此,第三光學組件層F3之貼合面變成朝下貼合,可抑制對此貼合面的刮痕或灰塵等異物之附著。
另外,本發明不限定於上述實施形態及變形例,例如與該第三貼合裝置18’相同地,第一貼合裝置12及第二貼合裝置15亦可上下顛倒。而且,亦可將該等上下顛倒之各貼合裝置與該第一貼合裝置12’及第一切斷裝置13’進行適當組合。
而且,除了將光學顯示部件貼合至從料捲滾筒捲出之光學組件層的結構之外,亦可將複數個光學顯示部件適當地貼合至大尺寸光學組件層的結構。
接著,上述實施形態及變形例中之結構僅為本發明之一例,於不偏離該發明之要旨的範圍內各種變化皆為可能。
上述控制裝置20於內部具有電腦系統。接著,上述各裝置之動作係以程式形式儲存於電腦可讀取的儲存媒體,以電腦執行讀出的程式,以進行上述處理。此處,電腦可讀取的儲存媒體係指磁碟、磁光碟、CD-ROM、DVD-ROM、半導體記憶體等。而且,較佳亦可藉由通訊線路將該電腦程式傳送至電腦,由接受到該傳送資料的電腦執行該程式。
而且,上述程式,較佳亦可為用以實現前述一部分功能者。
再者,較佳亦可藉由將已儲存於電腦系統中的程式進行組合以達成前述功能,即所謂的差別檔案(difference file;差別程式)。
本發明係可適用於,一種可提升貼合至光學顯示部件的光學薄膜之光學軸方向精度的光學組件貼合體之製造系統、製造方法及儲存媒體等。
5‧‧‧滾筒搬送機
11‧‧‧第一校準裝置
12‧‧‧第一貼合裝置
12a‧‧‧搬送裝置
12b‧‧‧夾壓滾筒
12c‧‧‧滾筒保持部
12d‧‧‧保護薄膜回收部
13‧‧‧第一切斷裝置
14‧‧‧第二校準裝置
15‧‧‧第二貼合裝置
15a‧‧‧搬送裝置
15b‧‧‧夾壓滾筒
15c‧‧‧滾筒保持部
15d‧‧‧第二回收部
16‧‧‧第二切斷裝置
17‧‧‧第三校準裝置
18‧‧‧第三貼合裝置
18a‧‧‧搬送裝置
18b‧‧‧夾壓滾筒
18c‧‧‧滾筒保持部
18d‧‧‧第三回收部
19‧‧‧第三切斷裝置
20‧‧‧控制裝置
F1‧‧‧第一光學組件層
F2‧‧‧第二光學組件層
F3‧‧‧第三光學組件層
F21‧‧‧第一貼合層
F22‧‧‧第二貼合層
F23‧‧‧第三貼合層
P‧‧‧液晶面板
P11‧‧‧第一單面貼合面板
P12‧‧‧第二單面貼合面板
P13‧‧‧雙面貼合面板
pf‧‧‧保護薄膜
R1‧‧‧第一料捲滾筒
R2‧‧‧第二料捲滾筒
R3‧‧‧第三料捲滾筒
Claims (14)
- 一種光學組件貼合體的製造系統,具備:控制裝置,根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;校準裝置,根據該控制裝置所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;貼合裝置,將該光學組件層貼合至由該校準裝置校準好之光學顯示部件;檢測裝置,於該貼合裝置所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及切斷裝置,沿著該貼合面的外周緣,切斷該檢測裝置所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該切斷裝置從該光學組件層切割出對應該貼合面大小的光學組件層,藉以切割出包含該光學顯示部件及該光學組件層的光學組件貼合體。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該控制裝置讓該光學顯示部件之基準軸與該檢查資料所示之光學組件層的光學軸方向呈平行,以決定該相對貼合位置。
- 如申請專利範圍第3項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該控制裝置使用通過該光學顯示部件之平面中心的長邊方向軸來作為該基準軸。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該校準裝置讓該光學組件層與該光學顯示部件配置至該控制裝置所決定的相對貼合位置,以進行該光學顯示部件的校準。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該校準裝置於將該光學顯示部件反轉後,根據該控制裝置所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該貼合裝置使用較該顯示區域大且較該光學顯示部件的外形小之區域來作為該第一區域。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該切斷裝置使用雷射來切斷該光學組件層。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,更具備攝影裝置,拍攝該光學顯示部件之位置;其中該控制裝置根據該檢查資料及該攝影裝置所拍攝之光學顯示部件的位置,決定該相對貼合位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,更具備第一搬送裝置,將該光學顯示部件以該校準裝置、該貼合裝置及該切斷裝置之順序進行搬送。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中更具備第二搬送裝置,將該光學組件層搬送至該貼合裝置。
- 如申請專利範圍第11項所述之光學組件貼合體的製造系統,其中該第二搬送裝置具備回收部,回收該切斷裝置所切斷之剩餘部分。
- 一種光學組件貼合體的製造方法,包含: 根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件與該光學組件層的相對貼合位置;根據所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;將該光學組件層貼合至校準好之光學顯示部件;於所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及沿著該貼合面的外周緣,切斷所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
- 一種電腦可讀式儲存媒體,儲存有執行下述動作的程式:根據顯示較光學顯示部件之顯示區域大的光學組件層之光學軸方向的檢查資料,決定該光學顯示部件及該光學組件層的相對貼合位置;根據所決定之相對貼合位置,進行相對該光學組件層之光學顯示部件的校準;將該光學組件層貼合至校準好之光學顯示部件;於所貼合之光學組件層中,檢測該光學組件層及該光學顯示部件之貼合面的外周緣;以及沿著該貼合面的外周緣,切斷所檢測之光學組件層的區域中對應該光學組件層之貼合面區域的第一區域與該光學組件層之第一區域外側區域的第二區域。
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