TWI588461B - 矽基液晶測試平台 - Google Patents

Description

矽基液晶測試平台

本發明大體上相關於矽基液晶半自動測試平台領域，特定而言，係用於矽基液晶測試平台之伸縮轉接器。

矽基液晶又稱液晶矽基板(Liquid Crystal On Silicon,LCoS)其結構與薄膜電晶體液晶(TFT-LCD)相類似，TFT-LCD是在上下兩塊玻璃基板中灌入液晶，而LCOS則是以CMOS製程形成的驅動電路作為下層基板。

對於LCOS產品，通常而言，可對其外觀及功能性進行檢測，舉例而言，對於功能性之檢測，可在一檢測技術或檢測環境下測試LCOS內部電路之正確性或影像成像之品質；對於外觀上之檢測，可在檢測技術或檢測環境下檢查玻璃或產品外觀的缺陷，例如，表面及內部髒污確認。

為了對LCOS進行檢測，常使用一半自動測試平台，此平台具有一光學路徑以對LCOS進行檢測，此光學路徑可包括具有延遲板、相位板、偏振分光棱镜、分光鏡、透鏡、鏡頭以及一相機。而在此光學路徑中，大部分光學元件之位置及間距是不可調的，舉例而言，LCOS與延遲板的間距係為固定、延遲板至偏振分光棱鏡的間距也為固定，同時，相機位置需配合操作流程與操作環境，因此也可能是固定的。而相機至鏡頭之間通常會有一個轉接器來支撐或固定鏡頭，並且固定鏡頭與相機之間的距離。

由上述可知，在轉接器的使用下，相機與鏡頭的距離可因此而固定。若需要在測試平台上要對不同LCOS產品進行測試，則因LCOS產品具有不同的面板尺寸，又因光學路徑設計之下無法調動光學元件之間距，故在換一個不同的LCOS產品測試時，需要更換一個不同尺寸的轉接器來配合LCOS產品，以達到測試平台的不同測試條件。另一方面，雖然鏡頭可以微調焦距，然而所能微調的程度較小，不足以應付不同尺寸類型之LCOS產品。製造不同的轉接器來滿足不同產品的測試條件的成本非常高，因為產品的總類可能非常多，同時在更換轉接器時常常使得光學路徑之環境有所變動，可能會影響測試 結果，甚至增加損傷光學元件或鏡頭之風險，換言之，對於不同總類產品之測試環境，若使用單一規格之轉接器對於檢測環境而言係非常不方便、容易變更已固定之檢測環境，並且增加了更多的時間與金錢上之成本。

有鑑於上述習知單一規格轉接器的缺失，本發明即用解決上述之問題。本發明之一目的在於提供一種矽基液晶測試平台，改進習知測試平台使用之轉接器需要花費過多時間更換轉接器及需要製造許多不同規格之轉接器之缺失，意即，本發明之矽基液晶測試平台之伸縮轉接器，在更換測試產品的過程中不需將轉接器拿下更換，或製造不同規格之轉接器，而是使用伸縮長度來完成鏡頭位置之調節，可在不需更換轉接器的狀況下達到測試環境之要求。

為了達到上揭之目的及其他目的，本發明提供一種矽基液晶測試平台，測試平台之伸縮轉接器，係使用多個環體耦接，進行伸縮，以調節轉接器之長度。本發明之矽基液晶測試平台，至少包含：承載基座；伸縮轉接器，配置於承載基座之上，伸縮轉接器至少包含：至少一第一環體，具有一第一半徑之一第一孔洞貫穿；以及至少一第二環體，具有一第二半徑之一第二孔洞貫穿，耦接至少第一環體，其中至少第一環體與至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少伸縮轉接器之長度；鏡頭，連接伸縮轉接器；及偏振分光棱镜，配置於檢測光學路徑上。

為達上述所有目的，其中該第二半徑大於或等於該至少一第一環體之半徑，使得該至少一第二環體覆蓋於該至少一第一環體上。

為達上述所有目的，其中該至少第二環體上具有止付螺紋，用以固定該至少第一環體與該至少第二環體。

為達上述所有目的，其中該至少一第一環體之一第一表面向內延伸，用以嵌入一鏡頭。

為達上述所有目的，其中該至少一第一環體與該至少一第二環體之材料為鋁。

為達上述所有目的，其中該驗證模組更包括一掃描器，其中該伸縮轉接器伸縮範圍為0至70mm。

為達上述所有目的，其中更包含至少一第三環體，耦接該至少一第二環體，其中該至少第三環體與該至少第二環體具有至少一部份重疊，以增 加或減少該伸縮轉接器之長度。

為達上述所有目的，本發明提供一種矽基液晶測試平台，至少包含：承載基座；伸縮轉接器，配置於承載基座之上，伸縮轉接器至少包含：至少一第一環體，具有一第一半徑之一第一孔洞貫穿；以及至少一第二環體，具有一第二半徑之一第二孔洞貫穿，耦接至少第一環體，其中至少第一環體與至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少伸縮轉接器之長度；鏡頭，連接伸縮轉接器；偏振分光棱镜，配置於檢測光學路徑上；以及延遲板，配置於檢測光學路徑上，鄰接偏振分光棱镜。

為達上述所有目的，其中該至少一第一環體之第二表面向外延伸、該至少一第二環體之第一表面向內延伸以及該至少一第二環體之第二表面向外延伸，且其中該至少一第一環體之第二表面與該至少一第二環體之第一表面覆蓋時使得該伸縮轉接器內部光線不外漏。

相較於先前習知技術，根據本發明之用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器，除了較傳統轉接器具有不必費時更換轉接器的方便性外，更能達到避免破壞檢測環境及降低製作多個單一規格轉接器之成本等功效。

以上所述係用以說明本發明之目的、技術手段以及其可達成之功效，相關領域內熟悉此技術之人可以經由以下實施例之示範與伴隨之圖式說明及申請專利範圍更清楚明瞭本發明。

900‧‧‧習知之單一規格轉接器

951‧‧‧矽基液晶

952‧‧‧延遲板

953‧‧‧偏振分光棱镜

954‧‧‧鏡頭

955‧‧‧承載基座

956‧‧‧相機

200、300、400、500‧‧‧用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器

501‧‧‧具有最長長度之伸縮轉接器

502‧‧‧具有最短長度之伸縮轉接器

210、310、410‧‧‧第一環體

212、312‧‧‧第一半徑

213、313‧‧‧第一孔洞

220、320、420‧‧‧第二環體

222、322‧‧‧第二半徑

223、323‧‧‧第二孔洞

330、430‧‧‧第三環體

414‧‧‧第一環體之第一表面

415‧‧‧第一環體之第二表面

424‧‧‧第二環體之第一表面

425‧‧‧第二環體之第二表面

434‧‧‧第三環體之第一表面

435‧‧‧第三環體之第二表面

444‧‧‧第四環體之第一表面

445‧‧‧第四環體之第二表面

560‧‧‧伸縮範圍

圖1係根據本發明之一實施例說明矽基液晶測試平台之伸縮轉接器之基本架構示意圖。

圖2係根據本發明之一實施例說明伸縮轉接器與矽基液晶檢測平台之示意圖。

圖3係根據本發明之一實施例說明矽基液晶測試平台之伸縮轉接器之剖面示意圖。

圖4係根據本發明之一實施例說明矽基液晶測試平台之伸縮轉接器之伸縮長度示意圖。

以下藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式，經由說明書中所揭示之內容，熟悉該領域中之技術者將領會多媒體訊號傳輸裝置及其傳輸 方法，並能輕易地瞭解本發明之功效與優點。然該領域之熟習技藝者須瞭解本創作亦可在不具備這些細節之條件下實行。此外，文中不會對一些已熟知之結構或功能或是作細節描述，以避免各種實施例間不必要相關描述之混淆，以下描述中使用之術語將以最廣義的合理方式解釋，即使其與本創作某特定實施例之細節描述一起使用。

本發明將以較佳實施例及觀點加以敘述以解釋本發明之結構，僅用來說明而非用以限制本發明之申請專利範圍，因此，除說明書中之較佳實施例外，本發明亦可廣泛實行於其他實施例中。

第一實施例

圖1係根據本發明之一實施例說明用於矽基液晶測試平台之伸縮轉接器之基本架構示意圖。本發明提供一種用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器，在一實施例中，伸縮轉接器200至少包含：至少一第一環體210，具有一第一半徑212之第一孔洞213(未顯示於圖)貫穿；以及至少一第二環體220，具有一第二半徑222之一第二孔洞223(未顯示於圖)貫穿，耦接至少第一環體210，其中至少第一環體210與至少第二環體220具有至少一部份重疊，以增加或減少伸縮轉接器之長度。

參閱圖1之說明，在一實施例中，矽基液晶測試平台之伸縮轉接器200之第一環體210之第一孔洞213，其半徑為第一半徑212貫穿第一環體210；第二環體220之第二孔洞223，其半徑為第二半徑222貫穿第二環體210，此第二半徑222大於或等於第一環體210之半徑，使得第二環體220耦接於第一環體210並覆蓋於第一環體上210上。當第二半徑222等於第一環體210之半徑時，則第二緩體剛好覆蓋於第一環體210上，當第二半徑222大於第一環體210之半徑時，則可增加墊片或其他材料，以經由墊片使得第二環體220蓋於第一環體210上。此時，第二環體220應耦接並覆蓋於210上，同時，第二環體220與第一環體210重疊，使得第二環體220移動於第一環體210之上，因此伸縮轉接器200之長度可藉由覆蓋之長度伸長或縮短。

承上所述，在一實施例中，應當注意的是，關於環體之半徑及孔洞之半徑，在此之數值僅為舉例而非加以限制，在不背離本發明範疇下，使用者可考量實際狀況或考量光通量對應之檢測環境來製作環體半徑及孔洞半徑之規格，惟相耦接之兩環體，需滿足後一環體孔洞之半徑大於或等於前一環體之 半徑，使後一環體可覆蓋於前一環體上即可，至於環體半徑或孔洞半徑實際長度則與此無關。

承上所述，在一實施例中，第二環體220上具有止付螺紋，可固定第一環體210與第二環體220，如此一來，第一環體210與第二環體220將不互相移動，而可保持伸縮轉接器200之固定長度。通常而言，為使止付螺絲可有效固定第一環體210與第二環體220，第一環體210與第二環體220必須具有一定長度之重疊。故在一實施例中，伸縮轉接器可伸最長之長度為第一環體210之長度加上第二環體220之長度再扣掉兩者至少需重疊部分之長度。舉例而言，若第一環體之長度為28-32mm，較佳為30mm，第二環體之長度為18-22mm，較佳為20mm，至少需重疊5mm，則伸縮轉接器可伸長之最長長度為41-49mm，較佳為45mm。

承上所述，在一實施例中，應注意的是，第一環體210與第二環體212之長度在製造時可為調整，意即，第一環體210與第二環體220之長度並非固定。如此一來，在第一環體210與第二環體200之最大重疊長度下，伸縮轉接器200之可縮短之最短長度可為第一環體210之長度或第二環體220之長度。舉例而言，若第一環體之長度為28-32，較佳為30mm，第二環體之長度為18-22mm，較佳為20mm，在最大重疊之狀況下，則伸縮轉接器可縮短之最短長度為28-32mm，較佳為30mm。在一實施例中，若第一環體之長度等於第二環體之長度，則在兩者完全重疊時，有最短伸縮長度。

承上所述，在一實施例中，第一環體210與第二環體220所使用之材料為鋁，且需要做陽極霧面染黑表面處理，以使伸縮轉接器200耐用且具有不易透光及不易反光之特性。

第二實施例

圖2係根據本發明之一實施例說明伸縮轉接器與矽基液晶半自動檢測平台之示意圖。參閱圖2所示，在一實施例中，矽基液晶測試平台，至少包含：承載基座955；伸縮轉接器300，配置於承載基座955之上，伸縮轉接器包含至少一第一環體310，具有一第一半徑312之一第一孔洞313貫穿；以及至少一第二環體320，具有一第二半徑322之一第二孔洞323貫穿，耦接至少第一環體310，其中至少第一環體310與至少第二環體320具有至少一部份重疊，以增加或減少該伸縮轉接器之長度；鏡頭954，連接伸縮轉接器300；及偏振分 光棱镜953，配置於檢測光學路徑上。

承上所述，在一實施例中，矽基液晶測試平台之伸縮轉接器300，可包含兩個以上之環體，且每個環體皆具有孔洞並且可相互重疊使得伸縮轉接器300有更長之伸縮量。在一實施例中，伸縮轉接器300具有第三環體330，此第三環體330之孔洞半徑大於或等於第二環體320之第二半徑322，使得第三環體330可覆蓋於第二環體320，並在第二環體320上移動。

承上所述，在一實施例中，應當注意的是，本發明之環體並不只限於二個或三個，在不違背本發明之範疇下，更可包含超過三個以上之環體。惟每個環體孔洞之半徑皆大於或等於與其耦接之下個環體之半徑，舉例而言，第三環體330之孔洞半徑大於或等於第二環體320之半徑；第二環體320之孔洞半徑大於或等於第一環體310之半徑，故每個環體皆可覆蓋下一個與其耦接之較小半徑之環體上，並可於其上移動或滑動，而使伸縮專接器300之整體長度伸長或縮短。

承上所述，在一實施例中，應當注意的是，關於環體之半徑及孔洞之半徑，在此之數值僅為舉例而非加以限制，在不背離本發明範疇下，使用者可考量實際狀況或考量光通量對應之檢測環境來製作環體半徑及孔洞半徑之規格，惟相耦接之兩環體，需滿足後一環體孔洞之半徑大於或等於前一環體之半徑，使後一環體可覆蓋於前一環體上即可，至於環體半徑或孔洞半徑實際長度則與此無關。

參閱圖2所示，在一實施例中，測試平台之測試環境具有一測試之光學路徑。在光學路徑中，從矽基液晶產品951出發之元件可包括有延遲板952、偏振分光棱镜953、鏡頭954及伸縮轉接器300，其中，因第一環體310、第二環體320及第三環體330皆具有孔洞，因此光可通過伸縮轉接器300最後到達相機956。應注意的是，伸縮轉接器300係利用承載基座955所固定，同時也固定與伸縮轉接器之鏡頭954。

參閱圖2所示，在一實施例中，伸縮轉接器300與鏡頭954及承載基座955耦接。通常而言，係使用螺絲將伸縮轉接器300、鏡頭954及承載基座955三者固定，舉例而言，在一實施例中，使用止付螺絲將伸縮轉接器300之第一環體310與鏡頭954相固定，使用止付螺絲將伸縮轉接器300之第三環體330固定於承載基座955上。當固定完成後，矽基液晶產品951之檢測環境 也為之固定，測試平台可開始進行測試。應當注意的是，不限於使用止付螺絲，伸縮轉接器300與鏡頭954、及承載基座955之固定在不違背本發明之範疇下還可包括其他方式，舉例而言，使鏡頭嵌入第一環體310，或使用上下壓合的方式固定伸縮轉接器300及承載基座955。

第三實施例

圖3係根據本發明之一實施例說明用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器之剖面示意圖。參考圖3所示，在一實施例中，第一環體之一第一表面414為與鏡頭954耦接之表面，而第一表面可向內延伸，使第一孔洞的開口變小，利於鏡頭954之放入。在一實施例中，鏡頭954可平整地嵌入第一表面上而不使得入射或射出鏡頭954之光線受到伸縮轉接器400擋住，並可再利用止付螺絲對鏡頭954與伸縮轉接器400做固定。

參閱圖4所示，在一實施例中，第一環體之一第一表面414為與鏡頭954耦接之表面，第一環體之一第二表面415為與第二環體420耦接之表面；第二環體之一第一表面424為與第一環體410耦接之表面，第二環體之第二表面425為與第三環體430耦接之表面；同理而言，第三環體之一第一表面434為與第二環體420耦接之表面，第三環體之第二表面435則為與第四環體410耦接之表面。

承上所述，在一實施例中，每兩個環體互相耦接之表面為具有向內或向外延伸之表面，使得伸縮轉接器400之接合處密封，而使得伸縮轉接器之接合處不漏光。舉例而言，第一環體之一第二表面415向外延伸，第二環體之第一表面424向內延伸，兩表面交錯互相蓋合，加強第一環體410與第二環體420接縫處之密合，使其易於固定並不漏光；第二環體之一第二表面425向外延伸，第三環體之第一表面434則向內延伸，兩表面交錯互相蓋合，加強第二環體410與第三環體430接縫處之密合，使其易於固定並不漏光。同理而言，第三環體與第四環體之耦接處亦為相同之設計。

第四實施例

圖4係根據本發明之一實施例說明矽基液晶測試平台之伸縮轉接器之伸縮長度示意圖。在一實施例中，矽基液晶測試平台之伸縮轉接器，可包含兩個以上之環體，且每個環體皆具有孔洞並且可相互重疊使得伸縮轉接器有足夠之伸縮量。在一實施例中，伸縮轉接器501具有三個環體，且環體間互 相有部分重疊，而伸縮轉接器之一端偶接鏡頭954，另一端耦接相機956，此外，伸縮轉接器501為當三個環體互相移動使得伸縮轉接器501具有最長之長度。反之，伸縮轉接器502為當三個環體互相重疊使伸縮轉接器502具有最短之長度，參閱圖4所示，在一實施例中，應注意的是，三個環體之長度不一定相同，應視測試環境使用者所決定，舉例而言，若第三環體有最長之長度，則伸縮轉接器502之最短長度可為第三環體之長度；同理可言，若三個環體長度相等，則在三個環體完全重疊時，伸縮轉接器502具有最短長度。總而言之，使用者可根據測試環境製造出相對應之伸縮轉接器501，在此之環體數量、每一環體之長度及環體覆蓋之長度均為舉例而不為之限制，在不違背本發明範疇下，環體數量、每一環體之長度及每一環體之覆蓋長度皆為可調，應視使用者實際需求之考量而設定。

參閱圖4所示，在一實施例中，伸縮轉接器501、502之伸縮範圍560則為伸縮轉接器501之長度減去伸縮轉接器502之長度。換言之，伸縮範圍560為鏡頭954至相機956之距離變化量。伸縮範圍560為伸縮轉接器501是否適用於多個不同產品之判斷，舉例而言，若多個矽基液晶951需調動鏡頭954向相機956方向移動48-52mm，較佳為50mm，則伸縮範圍560需介於0-50mm可在範圍內適用此伸縮轉接器。

承上所示，在一實施例中，伸縮轉接器501之伸縮範圍為0至72mm，較佳為0-70mm，意即，鏡頭954至相機956之距離可藉伸縮轉接器501移動70-72mm，較佳為70mm。應注意的是，在此之伸縮轉接器501之伸縮範圍506僅為舉例而非加以限制，在不違背本發明範疇之下，還可為其他值，例如0-71mm或0-50mm，應視使用者實際需求所設定。而設定之規格同樣也可調整，舉例而言，若伸縮範圍560為0-71mm，可將最長伸長量71mm平均分散到四個環體之伸長量，或者對每個環體設定不同伸長量之規格，只要總伸長量可達71mm即可。

參閱圖2及圖4所示，在一實施例中，使用者可先預估所有矽基液晶產品可能會使鏡頭954移動之距離，規劃所需之伸長範圍，再行製作對應此伸縮範圍560之伸縮轉接器300，或直接選擇已製作好之可容許伸長量之伸縮轉接器300。當鏡頭954已固定於伸縮轉接器300前端之環體310，且伸縮轉接 器之尾端環體320固定於承載基座955上後，則完成伸縮轉接器300之設置，可使用矽基液晶半自動測試平台開始測試矽基液晶產品951，而需要變更矽基產品951進行測試，使用者不須將鏡頭954、伸縮轉接器300及承載基座955拆下，而是調整環體之止付螺絲，變更環體間之覆蓋長度，進一步調整伸縮轉接器適當之長度，即可進行下一個不同矽基液晶產品951之測試。

綜上所述，本發明提供一種用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器，改進習知測試平台使用之轉接器需要花費過多時間更換轉接器及需要製造許多不同規格之轉接器之缺失，意即，本發明之用於矽基液晶半自動測試平台之伸縮轉接器，在更換測試產品的過程中不需將轉接器拿下更換，甚至花費較多時間與成本製造不同規格之轉接器，而是使用不同半徑大小之環體互相耦接，以移動環體相互覆蓋之長度來完成長度之伸長或縮短，固定鏡頭之後，藉由伸縮長度來完成鏡頭位置之調節，可在不需更換單一規格轉接器的狀況下節省時間與成本來達到測試環境之要求。

上述之目的在於解釋，各種特定細節係為了提供對於本發明之徹底理解。熟知本發明領域之通常知識者應可實施本發明，而無需其中某些特定細節。在其他實施例中，習知的結構及裝置並未顯示於方塊圖中。在圖式元件之間可能包含中間結構。所述的元件可能包含額外的輸入和輸出，其並未詳細描繪於附圖中。

本發明包含各種處理程序，該處理程序得以硬碟元件加以執行，或內嵌於電腦可讀取指令中，其可形成一般或特殊目的且具有編程指令的處理器或邏輯電路，以執行程序，除此之外，該程序亦得由硬體及軟體之組合加以執行。

用基本形式來描述方法，在未脫離本發明範疇下，任一方法或訊息得自程序中增加或刪除，熟知該項技術領域之通常知識者應可進一步改良或修正本發明，特定實施方式僅用以說明，非限制本發明。

若文中有一元件“A”耦接(或耦合)至元件“B”，元件A可能直接耦接(或耦合)至B，亦或是經元件C間接地耦接(或耦合)至B。若說明書載明一元件、特徵、結構、程序或特性A會導致一元件、特徵、結構、程序或特性B，其表示A至少為B之一部分原因，亦或是表示有其他元件、特徵、結構、程序或特性協助造成B。在說明書中所提到的“可能”一詞，其元件、特徵、程序 或特性不受限於說明書中；說明書中所提到的數量不受限於“一”或“一個”等詞。

本發明無論就目的、手段及功效，在在均顯示其迥異於習知技術之特徵，為一大突破。惟須注意，上述實施例僅為例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明之範圍。雖然在這裡已闡明與解釋特定實施例與所揭露之應用，該實施例並不意圖侷限於精確解釋，任何熟於此項技藝之人士均可在不違背本發明之技術原理及精神下，對實施例作修改與變化。也應當了解，在不背離本發明所揭露之精神與範疇下，本發明所揭露於此之元件與其之各種修正、變更、對於此領域之技術者為顯而易見之加以排列之延伸、操作、該方法之細節，以及在此所揭露之裝置與方法將不被侷限，且應包含於下述專利申請範圍內。

954‧‧‧鏡頭

210‧‧‧第一環體

212‧‧‧第一半徑

220‧‧‧第二環體

222‧‧‧第二半徑

Claims (9)

1. 一種矽基液晶測試平台，至少包含：承載基座；伸縮轉接器，配置於該承載基座之上，該伸縮轉接器至少包含：至少一第一環體，具有一第一半徑之一第一孔洞貫穿；以及至少一第二環體，具有一第二半徑之一第二孔洞貫穿，耦接該至少第一環體，其中該至少第一環體與該至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少該伸縮轉接器之長度；鏡頭，連接該伸縮轉接器；偏振分光棱镜，配置於檢測光學路徑上；以及其中該至少一第一環體之一第二表面向外延伸、該至少一第二環體之一第一表面向內延伸以及該至少一第二環體之一第二表面向外延伸，且其中該至少一第一環體之該第二表面與該至少一第二環體之該第一表面覆蓋時使得該伸縮轉接器內部光線不外漏。
2. 如申請專利範圍第1項所述之矽基液晶測試平台，其中該第二半徑大於或等於該至少一第一環體之半徑，使得該至少一第二環體覆蓋於該至少一第一環體上。
3. 如申請專利範圍第2項所述之矽基液晶測試平台，其中該至少一第二環體上具有止付螺紋，用以固定該至少一第一環體與該至少一第二環體。
4. 如申請專利範圍第2項所述之矽基液晶測試平台，其中該至少一第一環體之一第一表面向內延伸，用以嵌入一鏡頭。
5. 如申請專利範圍第1項所述之矽基液晶測試平台，其中該至少一第一環體與該至少一第二環體之材料為鋁。
6. 如申請專利範圍第1項所述之矽基液晶測試平台，其中該伸縮轉接器伸縮範圍為0至75mm。
7. 如申請專利範圍第3項所述之矽基液晶測試平台，更包含至少一第三環體，耦接該至少一第二環體，其中該至少第三環體與該至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少該伸縮轉接器之長度。
8. 一種矽基液晶測試平台，至少包含：承載基座；伸縮轉接器，配置於該承載基座之上，該伸縮轉接器至少包含：至少一第一環體，具有一第一半徑之一第一孔洞貫穿；以及至少一第二環體，具有一第二半徑之一第二孔洞貫穿，耦接該至少第一環體，其中該至少第一環體與該至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少該伸縮轉接器之長度；鏡頭，連接該伸縮轉接器；偏振分光棱镜，配置於檢測光學路徑上；延遲板，配置於檢測光學路徑上，鄰接該偏振分光棱镜；以及其中該至少一第一環體之一第二表面向外延伸、該至少一第二環體之一第一表面向內延伸以及該至少一第二環體之一第二表面向外延伸，且其中該至少一第一環體之該第二表面與該至少一第二環體之該第一表面覆蓋時使得該伸縮轉接器內部光線不外漏。
9. 如申請專利範圍第8項所述之矽基液晶測試平台，更包含至少一第三環體，耦接該至少一第二環體，其中該至少第三環體與該至少第二環體具有至少一部份重疊，以增加或減少該伸縮轉接器之長度。