TWI570421B - Production method of anti - breaking electric closed circuit - Google Patents

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TWI570421B
TWI570421B TW105111453A TW105111453A TWI570421B TW I570421 B TWI570421 B TW I570421B TW 105111453 A TW105111453 A TW 105111453A TW 105111453 A TW105111453 A TW 105111453A TW I570421 B TWI570421 B TW I570421B
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Inventor
Ya-Yin Zheng
Bo-Lin Chen
Original Assignee
Interface Optoelectronics (Shenzhen) Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

防斷式電性封閉迴路之製作方法
本發明係關於一種迴路之製作方法,且特別關於一種防斷式電性封閉迴路之製作方法。
觸控面板現今被應用在許多電子裝置上,隨著使用需求與技術的創新,從小至隨身的電子裝置到大型的顯示面板均可發現觸控技術所帶來的便利性。然而,在觸控面板製造過程中可能會因許多因素的影響而使得其感測器連線的狀況因而失效,亦即斷線或接觸不良,進而影響生產成本及產品功能。
舉例來說,如第1圖所示,當在一絕緣基板10上形成一封閉感測迴路12時,會先進行斷路檢測,若確認此封閉感測迴路12沒有斷路狀況,才會進一步於絕緣基板10與封閉感測迴路12上形成其他的結構。在現有技術中,為了檢測封閉感測迴路12之斷路狀況,係提供一電壓產生器14與一示波器16,並將電壓產生器14與示波器16連接探針,使封閉感測迴路12之任意二端接觸探針。當電壓產生器14產生電壓給封閉感測迴路12時,理論上,若封閉感測迴路12沒有任何斷路,則示波器16係顯示零壓降,若封閉感測迴路12有斷路時,示波器16應顯示電壓產生器14所產生之電壓波形。但對於封閉感測迴路12,由於其封閉特性,故當僅有一處斷路時,示波器16仍會顯示零壓降,即無法檢測出封閉感測迴路12之斷路,造成漏檢。
因此,本發明係在針對上述的困擾,提出一種防斷式電性封閉迴路之製作方法,以解決習知所產生的問題。
本發明的主要目的,在於提供一種防斷式電性封閉迴路之製作方法,其係在對應斷路開口之位置的迴路感測線上施加電壓,以檢測斷路狀況,俟確認迴路感測線並無斷路時,填滿斷路開口,以形成完整之電性封閉迴路,進而避免電性封閉迴路之斷路漏檢狀況。
為達上述目的,本發明提供一種防斷式電性封閉迴路之製作方法,首先,提供一絕緣基板,其上形成有一迴路感測線,此迴路感測線具有至少一開路斷口。接著,在迴路感測線對應開路斷口之二端施加非零電壓,以判斷迴路感測線是否斷路:若是,停止後續步驟;以及若否,填滿至少一導電區塊於開路斷口中,以電性連接迴路感測線,並與迴路感測線形成一電性封閉迴路。
導電區塊之材質為銀,且同時更形成於迴路感測線之頂面。此外,絕緣基板為透明絕緣基板,例如玻璃基板。
開路斷口之數量為二時,導電區塊之數量亦皆為二,二導電區塊分別填滿二開路斷口,且迴路感測線對應每一開路斷口之二端施加非零電壓。或者,開路斷口之數量為複數個時,導電區塊之數量亦皆為複數個,所有導電區塊分別填滿所有開路斷口,且迴路感測線對應每一開路斷口之二端施加非零電壓。
迴路感測線對應開路斷口之二端透過探針連接一訊號顯示器與一電壓產生器,其中訊號顯示器例如為示波器。電壓產生器施加非零電壓至迴路感測線之二端,且判斷訊號顯示器是否顯示零壓降,在訊號顯示器顯示零壓降時,填滿導電區塊於開路斷口中,在訊號顯示器未顯示零壓降時,停止後續步驟。
茲為使 貴審查委員對本發明的結構特徵及所達成的功效更有進一步的瞭解與認識,謹佐以較佳的實施例圖及配合詳細的說明,說明如後:
本發明之實施例將藉由下文配合相關圖式進一步加以解說。盡可能的,於圖式與說明書中,相同標號係代表相同或相似構件。於圖式中,基於簡化與方便標示,形狀與厚度可能經過誇大表示。可以理解的是,未特別顯示於圖式中或描述於說明書中之元件,為所屬技術領域中具有通常技術者所知之形態。本領域之通常技術者可依據本發明之內容而進行多種之改變與修改。
以下請參閱第2圖。本發明之防斷式電性封閉迴路之待測結構之第一實施例包含一絕緣基板18與一迴路感測線20,其中絕緣基板18為透明絕緣基板或玻璃基板。迴路感測線20設於絕緣基板18上,迴路感測線20具有至少一開路斷口22,在第一實施例中,開路斷口22之數量以一為例。迴路感測線20對應開路斷口22之二端透過探針23連接一訊號顯示器24與一電壓產生器26,訊號顯示器24例如為示波器。電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20之二端,以利用訊號顯示器24之顯示波形來判斷斷路狀況,當顯示波形為零壓降時,則迴路感測線20處於非斷路狀況。當迴路感測線20處於非斷路狀況時,開路斷口22中更設有如材質為銀之一導電區塊28,使導電區塊28延伸覆蓋於迴路感測線20之頂面,以利用導電區塊28電性連接迴路感測線20,並與迴路感測線20形成一電性封閉迴路。本發明於對應開路斷口22之位置施加電壓,方能清楚得知迴路感測線20之斷路狀況,而不會有漏檢之情形發生,等確保迴路感測線20實為無任何斷線時,形成導電區塊28於已知的開路斷口22中,以與迴路感測線20形成一完整封閉迴路。
以下介紹本發明利用第一實施例製作防斷式電性封閉迴路之流程,請參閱第3(a)圖至第3(c)圖。首先,如第3(a)圖所示,提供絕緣基板18,其上形成有迴路感測線20,此迴路感測線20具有一開路斷口22。接著,如第3(b)圖所示,於迴路感測線20對應開路斷口22之二端透過探針23連接訊號顯示器24與電壓產生器26,使電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20之二端,且判斷訊號顯示器24是否顯示零壓降。由於在此實施例中,迴路感測線20並無任何斷路,故訊號顯示器24顯示零壓降,在此同時,如第3(c)圖所示,填滿至少一導電區塊28於開路斷口22中,使導電區塊28電性連接迴路感測線20,並與迴路感測線20形成一電性封閉迴路。由於在此開路斷口22之數量為一,故導電區塊28之數量亦為一。
接著,以下亦介紹本發明利用第一實施例判斷出斷路狀況之流程,請參閱第4(a)圖與第4(b)圖。首先,如第4(a)圖所示,提供絕緣基板18,其上形成有迴路感測線20,此迴路感測線20具有一開路斷口22。接著,如第4(b)圖所示,於迴路感測線20對應開路斷口22之二端透過探針23連接訊號顯示器24與電壓產生器26,使電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20之二端,且判斷訊號顯示器24是否顯示零壓降。由於在此實施例中,迴路感測線20有一未知的斷路處,故訊號顯示器24未顯示零壓降,並停止後續步驟。
以下請參閱第5圖。本發明之防斷式電性封閉迴路之待測結構之第二實施例包含一絕緣基板18與一迴路感測線20,第一實施例與第二實施例差別在於開路斷口22之數量,在第二實施例中,開路斷口22之數量為二或複數個,在此以二為例,故所使用之導電區塊28之數量亦為二。若開路斷口22之數量為複數個時,所使用之導電區塊28之數量亦為複數個。迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端透過探針23連接一訊號顯示器24與一電壓產生器26。電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端,以利用訊號顯示器24之顯示波形來判斷斷路狀況,當訊號顯示器24之顯示波形為零壓降時,則表示迴路感測線20處於非斷路狀況,故而每一開路斷口22中更設有如材質為銀之一導電區塊28,使所有導電區塊28延伸覆蓋於迴路感測線20之頂面,以利用所有導電區塊28電性連接迴路感測線20,並與迴路感測線20形成一電性封閉迴路。
以下介紹本發明利用第二實施例製作防斷式電性封閉迴路之流程,請參閱第6(a)圖至第6(c)圖。首先,如第6(a)圖所示,提供絕緣基板18,其上形成有迴路感測線20,此迴路感測線20具有二已知的開路斷口22。接著,如第6(b)圖所示,於迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端透過探針23連接訊號顯示器24與電壓產生器26,使電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端,且判斷訊號顯示器24是否顯示零壓降。由於在此實施例中,迴路感測線20並無任何斷路,故訊號顯示器24顯示零壓降,在此同時,如第6(c)圖所示,填滿二導電區塊28分別於二開路斷口22中,使所有導電區塊28電性連接迴路感測線20,並與迴路感測線20形成一電性封閉迴路。
接著,以下亦介紹本發明利用第二實施例判斷出斷路狀況之流程,請參閱第7(a)圖與第7(b)圖。首先,如第7(a)圖所示,提供絕緣基板18,其上形成有迴路感測線20,此迴路感測線20具有二已知的開路斷口22。接著,如第7(b)圖所示,於迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端透過探針23連接訊號顯示器24與電壓產生器26,使電壓產生器26施加非零電壓至迴路感測線20對應每一開路斷口22之二端,且判斷訊號顯示器24是否顯示零壓降。由於在此實施例中,迴路感測線20有一未知的斷路處,故訊號顯示器24未顯示零壓降,並停止後續步驟,將整個元件視為不良品。
綜上所述,本發明在對應斷路開口之位置的迴路感測線上施加電壓,以檢測迴路感測線之每一線段之斷路狀況,俟確認迴路感測線之每一線段並無斷路時,即填滿斷路開口,以形成完整之電性封閉迴路,進而避免電性封閉迴路之斷路漏檢狀況。
以上所述者,僅為本發明一較佳實施例而已,並非用來限定本發明實施之範圍,故舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾,均應包括於本發明之申請專利範圍內。
10‧‧‧絕緣基板
12‧‧‧封閉感測迴路
14‧‧‧電壓產生器
16‧‧‧示波器
18‧‧‧絕緣基板
20‧‧‧迴路感測線
22‧‧‧開路斷口
23‧‧‧探針
24‧‧‧訊號顯示器
26‧‧‧電壓產生器
28‧‧‧導電區塊
第1圖為先前技術之檢測封閉感測迴路之架構示意圖。 第2圖為本發明之防斷式電性封閉迴路之待測結構之第一實施例的結構示意圖。 第3(a)圖至第3(c)圖為本發明之利用第一實施例製作防斷式電性封閉迴路之各步驟結構示意圖。 第4(a)圖與第4(b)圖為本發明之利用第一實施例判斷出斷路狀況之各步驟結構示意圖。 第5圖為本發明之防斷式電性封閉迴路之待測結構之第二實施例的結構示意圖。 第6(a)圖至第6(c)圖為本發明之利用第二實施例製作防斷式電性封閉迴路之各步驟結構示意圖。 第7(a)圖與第7(b)圖為本發明之利用第二實施例判斷出斷路狀況之各步驟結構示意圖。
18‧‧‧絕緣基板
20‧‧‧迴路感測線
22‧‧‧開路斷口
23‧‧‧探針
24‧‧‧訊號顯示器
26‧‧‧電壓產生器

Claims (7)

  1. 一種防斷式電性封閉迴路之製作方法,其係包含下列步驟:提供一絕緣基板,其上形成有一迴路感測線,該迴路感測線具有至少一開路斷口;以及在該迴路感測線對應該開路斷口之二端透過探針連接一訊號顯示器與一電壓產生器,該電壓產生器施加非零電壓至該迴路感測線之該二端,且判斷該訊號顯示器是否顯示零壓降:若否,停止後續步驟;以及若是,填滿至少一導電區塊於該開路斷口中,以電性連接該迴路感測線,並與該迴路感測線形成一電性封閉迴路。
  2. 如請求項1所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該導電區塊更形成於該迴路感測線之頂面。
  3. 如請求項1所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該導電區塊之材質為銀。
  4. 如請求項1所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該開路斷口之數量為複數個時,該導電區塊之數量亦皆為複數個,該些導電區塊分別填滿該些開路斷口,且在該迴路感測線對應該開路斷口之該二端連接該探針以施加該非零電壓之步驟中,係在該迴路感測線對應每一該開路斷口之該二端連接該探針以施加該非零電壓。
  5. 如請求項1所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該絕緣基板為透明絕緣基板。
  6. 如請求項5所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該透明絕緣基板為玻璃基板。
  7. 如請求項1所述之防斷式電性封閉迴路之製作方法,其中該訊號 顯示器為示波器。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101726943A (zh) * 2008-10-21 2010-06-09 华映视讯(吴江)有限公司 主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法
TW201510541A (zh) * 2013-06-14 2015-03-16 Interface Optoelectronic Shenzhen Co Ltd 檢測電路及檢測方法
JP2015166680A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 オー・エイチ・ティー株式会社 接触型回路パターン検査装置及びその検査方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7759582B2 (en) * 2005-07-07 2010-07-20 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board
CN100484370C (zh) * 2005-12-15 2009-04-29 比亚迪股份有限公司 一种柔性印刷电路板的制作方法
JP5972668B2 (ja) * 2012-05-29 2016-08-17 日東電工株式会社 配線回路基板およびその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101726943A (zh) * 2008-10-21 2010-06-09 华映视讯(吴江)有限公司 主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法
TW201510541A (zh) * 2013-06-14 2015-03-16 Interface Optoelectronic Shenzhen Co Ltd 檢測電路及檢測方法
JP2015166680A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 オー・エイチ・ティー株式会社 接触型回路パターン検査装置及びその検査方法

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