TWI567951B - 主動元件陣列基板 - Google Patents

Description

主動元件陣列基板

本發明是有關於一種主動元件陣列基板，且特別是有關於一種具有修補線的主動元件陣列基板。

近年來，雖然平面顯示器技術已趨成熟，但顯示面板的組成元件，如主動元件陣列基板，在製造過程之中難免會產生一些瑕疵(defect)。當用以傳遞訊號至畫素的訊號線發生開路瑕疵時，位於發生開路瑕疵處另一側的畫素會無法接收到訊號而形成線缺陷，因而導致顯示面板呈現畫面異常的狀況。在考量製造成本的情況下，一般會對線缺陷進行修補，而修補的方法為藉由單一條修補線將修補訊號從訊號線的另一端提供，從而解決位於開路瑕疵處另一側的畫素單元無法接收到訊號的問題。

然而，開路瑕疵可能發生在任何一條訊號線上，而各訊號線在主動元件陣列基板上分佈的位置不同，故修補訊號的傳遞路徑會隨著開路瑕疵位在不同的位置而不同，即修補後的修補線的阻抗值會不同。而當修補後的修補線的阻抗值過大或過小時，即修補訊號傳遞至訊號線的另一端後與原訊號不匹配，將使得顯 示面板會有淡線的異常顯示。

本發明提供一種主動元件陣列基板，其可提供良好的修補訊號以避免發生阻抗不匹配的問題。

本發明的主動元件陣列基板，包括基板、畫素陣列、多條訊號線、驅動裝置、第一修補線、多條第二修補線以及第三修補線。基板具有顯示區與周邊電路區。畫素陣列配置於顯示區內。多條訊號線與畫素陣列電性連接，且每一訊號線從顯示區延伸至周邊電路區。驅動裝置配置於周邊電路區內，且與訊號線電性連接。第一修補線配置於周邊電路區內，且與驅動裝置電性連接，其中第一修補線與訊號線的一端交疊以形成多個第一預修補點。多條第二修補線配置於周邊電路區內，其中第一修補線與第二修補線的一端交疊以形成多個第二預修補點。第三修補線配置於周邊電路區內，其中第三修補線與訊號線的一端交疊以形成多個第三預修補點。第三修補線與第二修補線的一端交疊以形成多個第四預修補點。

本發明的主動元件陣列基板，包括基板、畫素陣列、多條訊號線、驅動裝置、第一修補線、多條第二修補線以及第三修補線。基板具有顯示區與周邊電路區。畫素陣列配置於顯示區內。多條訊號線與畫素陣列電性連接，且每一訊號線從顯示區延伸至周邊電路區，其中訊號線中的一者具有開路瑕疵。驅動裝置配置 於周邊電路區內，且與訊號線電性連接。第一修補線配置於周邊電路區內，且與驅動裝置電性連接，其中第一修補線與訊號線的一端交疊，且第一修補線與具有開路瑕疵的訊號線的交疊處具有第一熔接點。多條第二修補線配置於周邊電路區內，其中第一修補線與第二修補線的一端交疊，且第一修補線與第二修補線的交疊處具有至少一第二熔接點。第三修補線配置於周邊電路區內，其中第三修補線與訊號線的一端交疊，且第三修補線與具有開路瑕疵的訊號線的交疊處具有第三熔接點。第三修補線與第二修補線的一端交疊，且第三修補線與第二修補線的交疊處具有至少一第四熔接點，以使得第一修補線、第二修補線中的至少一第二修補線以及第三修補線與具有開路瑕疵的訊號線電性連接。

基於上述，本發明之主動元件陣列基板配置有修補線，當修補訊號線發生開路瑕疵時，則發生開路瑕疵之訊號線、第一修補線、第二修補線以及第三修補線可彼此熔接，以使修補訊號可經由發生開路瑕疵之訊號線的另一端提供至畫素電極，其中熔接第二修補線的條數可依據開路瑕疵在主動元件陣列基板上發生的位置決定，即可按照所需要的阻抗值來調整熔接第二修補線的條數，以使主動元件陣列基板中的訊號線的阻抗值相匹配。如此一來，本發明之主動元件陣列基板可提供良好的修補訊號，以使此主動元件陣列基板後續組裝成顯示面板後具有良好的顯示品質。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉 實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

10、20‧‧‧主動元件陣列基板

100‧‧‧基板

102‧‧‧顯示區

104‧‧‧周邊電路區

120‧‧‧畫素陣列

132‧‧‧資料線

134‧‧‧掃描線

140‧‧‧資料線驅動裝置

142‧‧‧掃描線驅動裝置

151、251‧‧‧第一修補線

152、252‧‧‧第二修補線

153、253‧‧‧第三修補線

161、261‧‧‧第一預修補點

162、262‧‧‧第二預修補點

163、263‧‧‧第三預修補點

164、264‧‧‧第四預修補點

I、II、III、IV‧‧‧區域

D‧‧‧汲極

E‧‧‧畫素電極

G‧‧‧閘極

L1、W1‧‧‧第一熔接點

L2、W2‧‧‧第二熔接點

L3、W3‧‧‧第三熔接點

L4、W4‧‧‧第四熔接點

P1、P2、P3、P4‧‧‧開路瑕疵

S‧‧‧源極

T‧‧‧主動元件

U‧‧‧畫素單元

圖1是本發明之第一實施例之主動元件陣列基板的架構示意圖。

圖2與圖3為圖1之主動元件陣列基板面臨不同資料線受損情況下進行修補時的架構示意圖。

圖4是本發明之第二實施例之主動元件陣列基板的架構示意圖。

圖5與圖6為圖4之主動元件陣列基板面臨不同資料線受損情況下進行修補時的架構示意圖。

圖1是本發明之第一實施例之主動元件陣列基板的架構示意圖。請參考圖1，主動元件陣列基板10包括基板100、畫素陣列120、多條訊號線(在此，訊號線為資料線132)、多條掃描線134、驅動裝置(在此，驅動裝置為資料線驅動裝置140)、掃描線驅動裝置142、第一修補線151、多條第二修補線152以及第三修補線153。

詳細來說，基板100具有顯示區102與周邊電路區104。每一資料線132以及每一掃描線134從顯示區102延伸至周邊電 路區104。資料線驅動裝置140配置於周邊電路區104內，且與資料線132電性連接。掃描驅動裝置142配置於周邊電路區104內，且與掃描線134電性連接。第一修補線151配置於周邊電路區104內，且與資料線驅動裝置140電性連接，其中第一修補線151與每一資料線132的一端交疊以形成多個第一預修補點161。多條第二修補線152配置於周邊電路區104內，其中第一修補線151與每一第二修補線152的一端交疊以形成多個第二預修補點162。第三修補線153配置於周邊電路區104內，其中第三修補線153與每一資料線132的一端交疊以形成多個第三預修補點163，以及第三修補線153與每一第二修補線152的一端交疊以形成多個第四預修補點164。此時，資料線132、第一修補線151、第二修補線152以及第三修補線153彼此無電性相連。

如圖1中所示，第一修補線151以及第三修補線153是以數量分別為一條為例說明。如此一來，一條第一修補線151以及一條第三修補線153可對應一條資料線132進行修補。當然，本發明並不限定於此。在其他實施例中，第一修補線151、第三修補線153可分別為兩條、三條或其他可能之數量。當第一修補線151與第三修補線153皆為兩條的情況下，則可對應兩條資料線132進行修補。當第一修補線151與第三修補線153皆為三條的情況下，則可對應三條資料線132進行修補。換句話說，可修補的資料線132之數量可藉由第一修補線151與第三修補線153的數量來決定。此外，如圖1中所示，本實施例的第二修補線152是 以數量為四條為例說明，且四條第二修補線152是對應於一條第一修補線151以及一條第三修補線153。當然，本發明並不限定於此。在其他實施例中，第二修補線152可為兩條、三條、五條或其他可能之數量。

除上述之外，畫素陣列120配置於顯示區102內，資料線132以及掃描線134與畫素陣列120電性連接。詳細來說，畫素陣列120包括多個畫素單元U，每一畫素單元U包括主動元件T以及與主動元件T電性連接的畫素電極E。主動元件T包括閘極G、源極S以及汲極D，且畫素電極E透過汲極D與主動元件T電性連接。每一畫素單元U對應連接一條資料線132以及一條掃描線134，其中閘極G與掃描線134連接，且資料線132與源極S連接。對其中一條資料線132而言，當資料線驅動裝置140提供一資料訊號於資料線132的一端，資料訊號會依序傳遞至同一條資料線132的另一端，並且透過搭配掃描線134提供的掃描訊號，資料訊號會依序傳遞至排列於同一條資料線132上的畫素單元U，且資料訊號可經由主動元件T傳遞至畫素電極E。如此一來，當主動元件陣列基板10後續組裝成顯示面板後，則可顯示畫面。

多條第二修補線152是由單一金屬材料所形成，可例如是與資料線132選用相同的金屬材料。如此一來，在不增加新的製程步驟的情況下，即可於製作資料線132的同時將多條第二修補線152實現於基板100上。另一方面，第一修補線151以及第 三修補線153可以與掃描線134選用相同的金屬材料。如此一來，在不增加新的製程步驟的情況下，即可於製作掃描線134的同時將第一修補線151以及第三修補線153實現於基板100上。

應用前述的主動元件陣列基板10，針對受損之資料線132的修補方法舉例說明如下。圖2與圖3為圖1之主動元件陣列基板面臨不同資料線受損情況下進行修補時的架構示意圖。

首先，請參考圖2，當主動元件陣列基板10的資料線132發生開路瑕疵P1時，藉由使發生開路瑕疵P1的資料線132、第一修補線151、第二修補線152以及第三修補線153彼此電性相連，可形成一完整的修補訊號傳遞路徑(如粗線箭頭所示)，以使得資料訊號得以傳遞至位在開路瑕疵P1另一側的畫素單元U。

詳細來說，如圖2所示，發生開路瑕疵P1的資料線132、第一修補線151、第二修補線152以及第三修補線153彼此電性相連可藉由熔接發生開路瑕疵P1的資料線132所對應的第一預修補點161、第二預修補點162、第三預修補點163以及第四預修補點164來實現。更詳細來說，對第一修補線151與具有開路瑕疵P1的資料線132的交疊處的第一預修補點161進行熔接可形成第一熔接點L1，以使第一修補線151與具有開路瑕疵P1的資料線132電性相連；對第一修補線151與第二修補線152的交疊處的第二預修補點162進行熔接可形成第二熔接點L2，以使第一修補線151與第二修補線152電性相連；對第三修補線153與具有開路瑕疵P1的資料線132的交疊處的第三預修補點163進行熔接可形成第 三熔接點L3，以使第三修補線153與具有開路瑕疵P1的資料線132電性相連；以及對第三修補線153與第二修補線152的交疊處的第四預修補點164進行熔接可形成第四熔接點L4，以使第三修補線153與第二修補線152電性相連。如此一來，資料訊號得以傳遞至具有開路瑕疵P1的資料線132所對應的所有畫素單元U，以驅動該些畫素單元U正常作動。

在本實施例中，主動元件陣列基板10透過具有多條第二修補線152，使得其可根據發生開路瑕疵P1的資料線132所在的位置來調整熔接第二修補線152的條數以調整整體第二修補線152的阻抗值，藉此主動元件陣列基板10能夠提供良好的修補訊號並達成有效的修補效果。詳細而言，如圖2中所示，第二修補線152的數量為四條，因此畫素陣列120於顯示區102中分佈的區域可以區分為區域I、區域II、區域III以及區域IV等四個區域，其中區域I、II、III、IV的劃分是依修補訊號的傳遞路徑長短，即修補後的修補線所需要的阻抗值大小來決定。

更詳細而言，相較於區域II、區域III以及區域IV，當開路瑕疵發生於區域I時，修補訊號的傳遞路徑較短，故透過熔接一條第二修補線152(即形成相對應的一個第二熔接點L2以及一個第四熔接點L4)，就可使得修補後之發生開路瑕疵P1的資料線132具有與其他資料線132相匹配的阻抗值。如此一來，修補訊號傳遞至發生開路瑕疵P1的資料線132的另一端後可與原訊號匹配而不會產生線缺陷。而相較於區域I、區域II以及區域III，當開 路瑕疵發生於區域IV時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可透過熔接四條第二修補線152(即形成相對應的四個第二熔接點L2以及四個第四熔接點L4)來降低整體第二修補線152的阻抗值。如此一來，修補後之發生開路瑕疵P1的資料線132能夠具有與其他資料線132相匹配的阻抗值，而避免產生線缺陷。同樣地，相較於區域I，當開路瑕疵發生於區域II時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可熔接兩條第二修補線152(即形成相對應的兩個第二熔接點L2以及兩個第四熔接點L4)來獲得良好的修補訊號。同樣地，相較於區域II，當開路瑕疵發生於區域III時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可熔接三條第二修補線152(即形成相對應的三個第二熔接點L2以及三個第四熔接點L4)來獲得良好的修補訊號。

具體來說，請再次參照圖2，當開路瑕疵P1發生於區域IV時，藉由熔接發生開路瑕疵P1的資料線132所對應的一個第一預修補點161、四個第二預修補點162、一個第三預修補點163以及四個第四預修補點164以形成一個第一熔接點L1、四個第二熔接點L2、一個第三熔接點L3以及四個第四熔接點L4，可使得修補訊號能夠傳遞至發生開路瑕疵P1的資料線132的另一端並與原訊號相匹配。也就是說，透過使用一條第一修補線151、四條第二修補線152與一條第三修補線153來修補受損的資料線132而與該資料線132連接後，能避免第一修補線151、第二修補線152與第三修補線153因阻抗值過大而影響修補訊號的傳遞。如此一來，當主動元件陣列基板10後續組裝成顯示面板後，可提供良好 的顯示畫面。

另外，請參照圖3，當開路瑕疵P2發生於區域I時，藉由熔接發生開路瑕疵P2的資料線132所對應的一個第一預修補點161、一個第二預修補點162、一個第三預修補點163以及一個第四預修補點164以形成一個第一熔接點L1、一個第二熔接點L2、一個第三熔接點L3以及一個第四熔接點L4，可使得修補訊號能夠傳遞至發生開路瑕疵P2的資料線132的另一端並與原訊號相匹配。也就是說，透過使用一條第一修補線151、一條第二修補線152與一條第三修補線153來修補受損的資料線132而與該資料線132連接後，能避免第一修補線151、第二修補線152與第三修補線153因阻抗值過小而影響修補訊號的傳遞。如此一來，當主動元件陣列基板10後續組裝成顯示面板後，可提供良好的顯示畫面。

當然，本發明並不以圖2以及圖3中所繪者為限，也就是說，本發明並不限定區域的數量以及區域劃分的方式。在其他實施例中，畫素陣列120於顯示區102中所劃分的區域可依據第二修補線152的條數及修補訊號傳遞路徑的長短作選擇。

另外，由於主動元件陣列基板10可根據所需要的阻抗值來調整第二修補線152被熔接的數量以有效達成修補的效果，故主動元件陣列基板10可適用於在進行修補時易因阻抗不平均而造成線缺陷的大尺寸顯示面板中。

基於上述第一實施例可知，當主動元件陣列基板10中的資料線132發生開路瑕疵時，則可藉由發生開路瑕疵之資料線 132、第一修補線151、第二修補線152以及第三修補線153彼此電性相連，使資料訊號得以傳遞至開路瑕疵處另一側的畫素單元U。再者，由於一條第一修補線151以及一條第三修補線153是對應多條第二修補線152交疊，故可依據修補後的修補線所需要的阻抗值來調整熔接第二修補線152的條數，以使主動元件陣列基板10中的資料線132的阻抗值相匹配。如此一來，主動元件陣列基板10後續組裝成顯示面板後具有良好的顯示品質。

另外，在圖1至圖3的第一實施例中，訊號線為資料線132，而與訊號線電性連接的驅動裝置為資料線驅動裝置140，但本發明並不限於此。在其他實施例中，訊號線也可以是掃描線，而驅動裝置則可以是掃描線驅動裝置。以下，將參照圖4至圖6進行詳細說明。

圖4是本發明之第二實施例之主動元件陣列基板的架構示意圖。請同時參考圖4及圖1，本實施例的主動元件陣列基板20與第一實施例中的主動元件陣列基板10相似，二者主要差別之處主要在於：修補線的配置方式不相同。因此，在圖4的主動元件陣列基板20與圖1的主動元件陣列基板10中，使用相同或相似的標號來表示相同或相似的元件，且相關說明皆可參照前文。以下，將僅針對兩者之間的主要差異進行說明。

第一修補線251配置於周邊電路區104內，且與掃描線驅動裝置142電性連接，其中第一修補線251與每一掃描線134的一端交疊以形成多個第一預修補點261。多條第二修補線252 配置於周邊電路區104內，其中第一修補線251與每一第二修補線252的一端交疊以形成多個第二預修補點262。第三修補線253配置於周邊電路區104內，其中第三修補線253與每一掃描線134的一端交疊以形成多個第三預修補點263，以及第三修補線253與每一第二修補線252的一端交疊以形成多個第四預修補點264。此時，掃描線134、第一修補線251、第二修補線252以及第三修補線253彼此無電性相連。

如圖4中所示，第一修補線251以及第三修補線253是以數量分別為一條為例說明。如此一來，一條第一修補線251以及一條第三修補線253可對應一條掃描線134進行修補。當然，本發明並不限定於此。在其他實施例中，第一修補線251、第三修補線253可分別為兩條、三條或其他可能之數量。當第一修補線251與第三修補線253皆為兩條的情況下，則可對應兩條掃描線134進行修補。當第一修補線251與第三修補線253皆為三條的情況下，則可對應三條掃描線134進行修補。換句話說，可修補的掃描線134之數量可藉由第一修補線251與第三修補線253的數量來決定。此外，如圖4中所示，本實施例的第二修補線252是以數量為四條為例說明，且四條第二修補線252是對應於一條第一修補線251以及一條第三修補線253。當然，本發明並不限定於此。在其他實施例中，第二修補線252可為兩條、三條、五條或其他可能之數量。

多條第二修補線252是由單一金屬材料所形成，且例如 與掃描線134選用相同的金屬材料，如此一來，在不增加新的製程步驟之情況下，即可於製作掃描線134的同時將多條第二修補線252實現於基板100上。另一方面，第一修補線251以及一第三修補線253可以與資料線132選用相同的金屬材料。如此一來，在不增加新的製程步驟之情況下，即可於製作資料線132的同時將第一修補線251以及一第三修補線253實現於基板100上。

應用前述的主動元件陣列基板20，針對受損之掃描線134的修補方法舉例說明如下。圖5與圖6為圖4之主動元件陣列基板面臨不同掃描線受損情況下進行修補時的架構示意圖。

首先，請參考圖5，當主動元件陣列基板20的掃描線134發生開路瑕疵P3時，藉由使發生開路瑕疵P3的掃描線134、第一修補線251、第二修補線252以及第三修補線253彼此電性相連，可形成一完整的修補訊號傳遞路徑(如粗線箭頭所示)，以使得掃描訊號得以傳遞至位在開路瑕疵P3另一側的畫素單元U。

詳細來說，如圖5所示，發生開路瑕疵P3的掃描線134、第一修補線251、第二修補線252以及第三修補線253彼此電性相連可藉由熔接發生開路瑕疵P3的掃描線134所對應的第一預修補點261、第二預修補點262、第三預修補點263以及第四預修補點264來實現。更詳細來說，對第一修補線251與具有開路瑕疵P3的掃描線134的交疊處的第一預修補點261進行熔接可形成第一熔接點W1，以使第一修補線251與具有開路瑕疵P3的掃描線134電性相連；對第一修補線251與第二修補線252的交疊處的第二 預修補點262進行熔接可形成第二熔接點W2，以使第一修補線251與第二修補線252電性相連；對第三修補線253與具有開路瑕疵P3的掃描線134的交疊處的第三預修補點263進行熔接可形成第三熔接點W3，以使第三修補線253與具有開路瑕疵P3的資料線132電性相連；以及對第三修補線253與第二修補線252的交疊處的第四預修補點264進行熔接可形成第四熔接點W4，以使第三修補線253與第二修補線252電性相連。如此一來，掃描訊號得以傳遞至具有開路瑕疵P3的掃描線134所對應的所有畫素單元U，以驅動該些畫素單元U正常作動。

在本實施例中，主動元件陣列基板20透過具有多條第二修補線252，使得其可根據發生開路瑕疵P3的掃描線134所在的位置來調整熔接第二修補線252的條數以調整整體第二修補線252的阻抗值，藉此主動元件陣列基板20能夠提供良好的修補訊號並達成有效的修補效果。詳細而言，如圖5中所示，第二修補線252的數量為四條，因此畫素陣列120於顯示區102中分佈的區域可以區分為區域I、區域II、區域III以及區域IV等四個區域，其中區域I、II、III、IV的劃分是依修補訊號的傳遞路徑長短，即修補後的修補線所需要的阻抗值大小來決定。

更詳細而言，相較於區域II、區域III以及區域IV，當開路瑕疵發生於區域I時，修補訊號的傳遞路徑較短，故透過熔接一條第二修補線252(即形成相對應的一個第二熔接點W2以及一個第四熔接點W4)，就可使得修補後之發生開路瑕疵P3的掃描線 134具有與其他掃描線134相匹配的阻抗值。如此一來，修補訊號傳遞至發生開路瑕疵P3的掃描線134的另一端後可與原訊號匹配而不會產生線缺陷。而相較於區域I、區域II以及區域III，當開路瑕疵發生於區域IV時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可透過熔接四條第二修補線252(即形成相對應的四個第二熔接點W2以及四個第四熔接點W4)來降低整體第二修補線252的阻抗值。如此一來，修補後之發生開路瑕疵P3的掃描線134能夠具有與其他掃描線134相匹配的阻抗值，而避免產生線缺陷。同樣地，相較於區域I，當開路瑕疵發生於區域II時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可熔接兩條第二修補線252(即形成相對應的兩個第二熔接點W2以及兩個第四熔接點W4)來獲得良好的修補訊號。同樣地，相較於區域II，當開路瑕疵發生於區域III時，修補訊號的傳遞路徑較長，故可熔接三條第二修補線252(即形成相對應的三個第二熔接點W2以及三個第四熔接點W4)來獲得良好的修補訊號。

具體來說，請再次參照圖5，當開路瑕疵P3發生於區域IV時，藉由熔接發生開路瑕疵P3的掃描線134所對應的一個第一預修補點261、四個第二預修補點262、一個第三預修補點263以及四個第四預修補點264以形成一個第一熔接點W1、四個第二熔接點W2、一個第三熔接點W3以及四個第四熔接點W4，可使得修補訊號能夠傳遞至發生開路瑕疵P3的掃描線134的另一端並與原訊號相匹配。也就是說，透過使用一條第一修補線251、四條第二修補線252與一條第三修補線253來修補受損的掃描線134 而與該掃描線134連接後，能避免第一修補線251、第二修補線252與第三修補線253因阻抗值過大而影響修補訊號的傳遞。如此一來，當主動元件陣列基板20後續組裝成顯示面板後，可提供良好的顯示畫面。

另外，請參照圖6，當開路瑕疵P4發生於區域I時，藉由熔接發生開路瑕疵P4的掃描線134所對應的一個第一預修補點261、一個第二預修補點262、一個第三預修補點263以及一個第四預修補點264以形成一個第一熔接點W1、一個第二熔接點W2、一個第三熔接點W3以及一個第四熔接點W4，可使得修補訊號能夠傳遞至發生開路瑕疵P4的掃描線134的另一端並與原訊號相匹配。也就是說，透過使用一條第一修補線251、一條第二修補線252與一條第三修補線253來修補受損的掃描線134而與該掃描線134連接後，能避免第一修補線251、第二修補線252與第三修補線253因阻抗值過小而影響修補訊號的傳遞。如此一來，當主動元件陣列基板20後續組裝成顯示面板後，可提供良好的顯示畫面。

當然，本發明並不以圖5以及圖6中所繪者為限，也就是說，本發明並不限定區域的數量以及區域劃分的方式。在其他實施例中，畫素陣列120於顯示區102中所劃分的區域可依據第二修補線252的條數及修補訊號傳遞路徑的長短作選擇。

另外，由於主動元件陣列基板20可根據所需要的阻抗值來調整第二修補線252被熔接的數量以有效達成修補的效果，故主動元件陣列基板20可適用於在進行修補時易因阻抗不平均而造 成線缺陷的大尺寸顯示面板中。

基於上述第二實施例可知，當主動元件陣列基板20中的掃描線134發生開路瑕疵時，則可藉由發生開路瑕疵之掃描線134、第一修補線251、第二修補線252以及第三修補線253彼此電性相連，使掃描訊號得以傳遞至開路瑕疵處另一側畫素單元U。再者，由於一條第一修補線251以及一條第三修補線253是對應多條第二修補線252交疊，故可依據修補後的修補線所需要的阻抗值來調整熔接第二修補線252的條數，以使主動元件陣列基板20中的掃描線134的阻抗值相匹配。如此一來，主動元件陣列基板20後續組裝成顯示面板後具有良好的顯示品質。

另外一提的是，前述的第一實施例僅繪示了一組修補線(即一條第一修補線251、多條第二修補線252以及一條第三修補線253)以及第二實施例也僅繪示了一組修補線(即一條第一修補線251、多條第二修補線252以及一條第三修補線253)，但本發明並不限於此。在其他實施例中，本領域的技術人員在參照前述第一及第二實施例之後，理應能理解主動元件陣列基板中也可以同時配置兩組以上的修補線，使得當主動元件陣列基板內的任一訊號線發生開路瑕疵時其仍能提供良好的修補訊號。

綜上所述，本發明的主動元件陣列基板在無發生開路瑕疵的情況下，可正常顯示畫面。另一方面，當於訊號線發生開路瑕疵時，由於具有開路瑕疵的訊號線、第一修補線、第二修補線以及第三修補線彼此交疊，故可依據修補後的修補線所需要的阻 抗值來調整熔接第二修補線的條數，以使主動元件陣列基板中的訊號線的阻抗值相匹配。如此一來，主動元件陣列基板後續組裝成顯示面板後具有良好的顯示品質。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧主動元件陣列基板

100‧‧‧基板

102‧‧‧顯示區

104‧‧‧周邊電路區

120‧‧‧畫素陣列

132‧‧‧資料線

134‧‧‧掃描線

140‧‧‧資料線驅動裝置

142‧‧‧掃描線驅動裝置

151‧‧‧第一修補線

152‧‧‧第二修補線

153‧‧‧第三修補線

161‧‧‧第一預修補點

162‧‧‧第二預修補點

163‧‧‧第三預修補點

164‧‧‧第四預修補點

D‧‧‧汲極

E‧‧‧畫素電極

G‧‧‧閘極

S‧‧‧源極

T‧‧‧主動元件

U‧‧‧畫素單元

Claims (9)

1. 一種主動元件陣列基板，包括：一基板，具有一顯示區與一周邊電路區；一畫素陣列，配置於該顯示區內；多條訊號線，與該畫素陣列電性連接，且每一訊號線從該顯示區延伸至該周邊電路區；一驅動裝置，配置於該周邊電路區內，且與該些訊號線電性連接；一第一修補線，配置於該周邊電路區內，且與該驅動裝置電性連接，其中該第一修補線與該些訊號線的一端交疊以形成多個第一預修補點；多條第二修補線，配置於該周邊電路區內，其中該第一修補線與該些第二修補線的一端交疊以形成多個第二預修補點；以及一第三修補線，配置於該周邊電路區內，其中該第三修補線與該些訊號線的一端交疊以形成多個第三預修補點，以及該第三修補線與該些第二修補線的一端交疊以形成多個第四預修補點。
2. 如申請專利範圍第1項所述的主動元件陣列基板，其中該些第二修補線由單一金屬材料所形成。
3. 如申請專利範圍第1項所述的主動元件陣列基板，其中該驅動裝置為資料線驅動器，該些訊號線為資料線。
4. 如申請專利範圍第1項所述的主動元件陣列基板，其中該驅動裝置為掃描線驅動器，該些訊號線為掃描線。
5. 一種主動元件陣列基板，包括：一基板，具有一顯示區與一周邊電路區；一畫素陣列，配置於該顯示區內；多條訊號線，與該畫素陣列電性連接，且每一訊號線從該顯示區延伸至該周邊電路區，其中該些訊號線中的一者具有一開路瑕疵；一驅動裝置，配置於該周邊電路區內，且與該些訊號線電性連接；一第一修補線，配置於該周邊電路區內，且與該驅動裝置電性連接，其中該第一修補線與該些訊號線的一端交疊，且該第一修補線與具有該開路瑕疵的訊號線的交疊處具有一第一熔接點；多條第二修補線，配置於該周邊電路區內，其中該第一修補線與該些第二修補線的一端交疊，且該第一修補線與該些第二修補線的交疊處具有至少一第二熔接點；以及一第三修補線，配置於該周邊電路區內，其中該第三修補線與該些訊號線的一端交疊，且該第三修補線與具有該開路瑕疵的訊號線的交疊處具有一第三熔接點，以及該第三修補線與該些第二修補線的一端交疊，且該第三修補線與該些第二修補線的交疊處具有至少一第四熔接點，以使得該第一修補線、該些第二修補線中的至少一第二修補線以及該第三修補線與具有該開路瑕疵的訊號線電性連接。
6. 如申請專利範圍第5項所述的主動元件陣列基板，其中該 些第二修補線由單一金屬材料所形成。
7. 如申請專利範圍第5項所述的主動元件陣列基板，其中該驅動裝置為資料線驅動器，該些訊號線為資料線。
8. 如申請專利範圍第5項所述的主動元件陣列基板，其中該驅動裝置為掃描線驅動器，該些訊號線為掃描線。
9. 如申請專利範圍第5項所述的主動元件陣列基板，其中該第一修補線與該些第二修補線的交疊處具有多個第二熔接點，以及該第三修補線與該些第二修補線的交疊處具有多個第四熔接點。