TWI567620B - 附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 - Google Patents

附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 Download PDF

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TWI567620B
TWI567620B TW103137266A TW103137266A TWI567620B TW I567620 B TWI567620 B TW I567620B TW 103137266 A TW103137266 A TW 103137266A TW 103137266 A TW103137266 A TW 103137266A TW I567620 B TWI567620 B TW I567620B
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倉澤隼人
石崎剛司
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日本顯示器股份有限公司
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Description

附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器
本發明係關於一種可檢測外部接近物體之顯示裝置，尤其係關於一種可基於靜電電容之變化檢測外部接近物體之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，稱為所謂觸控面板之可檢測外部接近物體之觸控檢測裝置受到矚目。觸控面板裝設或一體化於液晶顯示裝置等顯示裝置上而被用於附有觸控檢測功能之顯示裝置。而且，附有觸控檢測功能之顯示裝置藉由使顯示裝置顯示各種按鈕圖像等，而能夠以觸控面板代替通常之機械式按鈕來輸入資訊。包含此種觸控面板之附有觸控檢測功能之顯示裝置無需如鍵盤或滑鼠、小鍵盤般之輸入裝置，因此，有使用擴大之傾向，即除用於電腦以外，亦用於如行動電話裝置或平板(tablet)般之個人數位助理等中。
作為觸控檢測裝置之方式，存在光學式、電阻式、靜電電容式等若干種方式。靜電電容式之觸控檢測裝置用於移動終端等，具有相對簡單之構造，且可實現低消耗電力。例如，於專利文獻1中記載有實現了透光性電極圖案之非可視化對策之觸控面板。
又，於專利文獻2中記載有使電極要素彼此導通之佈線形成於夾於鄰接之第1及第2電極要素之間之間隙的輸入裝置。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2010-197576號公報
[專利文獻2]日本專利特開2010-182277號公報
關於附有觸控檢測功能之顯示裝置，因薄型化、大畫面化或高精細化而要求觸控檢測電極之低電阻化。觸控檢測電極係使用ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)等透光性導電氧化物作為透光性電極之材料。為了使觸控檢測電極為低電阻，使用金屬材料等導電性材料較為有效。然而，若使用金屬材料等導電性材料，則有因顯示裝置之像素與金屬材料等導電性材料之干擾而水波紋被視認的可能性。
又，伴隨附有觸控檢測功能之顯示裝置被搭載於各種電子機器，而要求提高同時觸控複數個部位之所謂多點觸控輸入、利用筆之輸入、或使指尖或筆尖位於觸控面之上空之所謂懸浮輸入等之自由度。
本揭示係鑒於上述問題點而完成者，其提供一種可使用金屬材料等導電性材料之觸控檢測電極，並且可降低水波紋被視認之可能性的附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。或者，本揭示提供一種可提高觸控輸入之自由度之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
本發明之一態樣包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結 合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係由與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合而成，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成。
進而，作為其他之一態樣，亦可構成為，上述複數個小電極部之各者包含複數根上述導電性細線，且上述複數根導電性細線係於與上述第1方向交叉之第2方向上隔開固定之間隔而配置。
進而，作為其他之一態樣，亦可構成為，上述複數個小電極部呈矩陣狀排列，且上述佈線部係與該佈線部所結合之小電極部之位於上述第1方向側之小電極部內之導電性細線隔開上述固定之間隔而配置。
進而，作為其他之一態樣，上述第1細線片與上述第2細線片亦可具有以上述第1方向為軸之線對稱之形狀。
進而，作為其他之一態樣，亦可進而包括：驅動信號驅動器，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極供給驅動信號；及觸控檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，根據經由作為上述複數個小電極部之另一部分之第2組電極與上述第1組電極之間的互靜電電容而出現在上述第2組電極之信號，檢測物體之接觸或接近。
進而，作為其他之一態樣，亦可進而包括：X檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極供給電荷，然後根據對上述第1組電極所充電之電荷，檢測物體之接觸或接近位置之X座標；及Y檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之另一部分之 第2組電極供給電荷，然後根據對上述第2組電極所充電之電荷，檢測物體之接觸或接近位置之Y座標。
進而，作為其他之一態樣，亦可構成為具有於未在上述顯示區域進行圖像顯示之期間以不同之檢測特性檢測物體之接觸或接近的第1模式與第2模式，且進而包括：驅動電極驅動器，其於上述第1模式及上述第2模式之兩種模式下，對上述複數個驅動電極供給驅動信號；第1觸控檢測信號放大部，其於上述第1模式及上述第2模式之兩種模式下，根據經由上述複數個驅動電極與作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極之間的互靜電電容而出現在上述第1組電極之信號，檢測物體之接觸或接近；及第2觸控檢測信號放大部，其於上述第2模式下，根據經由上述複數個驅動電極與作為上述複數個小電極部之另一部分之第2組電極之間的互靜電電容而出現在上述第2組電極之信號，檢測物體之接觸或接近。
進而，作為其他之一態樣，上述第2組電極亦可於上述第2模式下設為電性浮動狀態。
本發明之電子機器係具備上述附有觸控檢測功能之顯示裝置者。關於本發明之電子機器，例如，符合的有電視裝置、數位相機、個人電腦、攝錄影機或行動電話等移動終端裝置等。
1‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1A‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1B‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1C‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1H‧‧‧1顯示水平期間
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示器件
10A‧‧‧附有觸控檢測功能之 顯示器件
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
14‧‧‧驅動電極驅動器
14A‧‧‧第1驅動電極驅動器
14B‧‧‧第2驅動電極驅動器
19A‧‧‧COG
19B‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示器件
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
24‧‧‧絕緣層
30‧‧‧觸控檢測器件
30A‧‧‧觸控檢測器件
31‧‧‧玻璃基板
32‧‧‧濾色器
32R、32G、32B‧‧‧色區域
35‧‧‧偏光板
40‧‧‧觸控檢測部
40A‧‧‧觸控檢測部
40B‧‧‧觸控檢測部
40C‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧觸控檢測信號放大部
42A‧‧‧第1觸控檢測信號放大部
42B‧‧‧第2觸控檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
43A‧‧‧第1A/D轉換部
43B‧‧‧第2A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標抽取部
46‧‧‧檢測時序控制部
47‧‧‧X檢測部
48‧‧‧Y檢測部
49‧‧‧A/D轉換部
50‧‧‧A/D轉換部
201‧‧‧開關
202‧‧‧檢測電路
203‧‧‧箭頭
204‧‧‧箭頭
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧發光部
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單開關
524‧‧‧快門按鈕
525‧‧‧透鏡蓋
531‧‧‧本體部
532‧‧‧透鏡
533‧‧‧起動/終止開關
534‧‧‧顯示部
541‧‧‧本體
542‧‧‧鍵盤
543‧‧‧顯示部
551‧‧‧上側殼體
552‧‧‧下側殼體
553‧‧‧連結部
554‧‧‧顯示器
555‧‧‧次顯示器
556‧‧‧圖片燈
557‧‧‧相機
561‧‧‧殼體
562‧‧‧顯示部
A‧‧‧觸控檢測期間
Ad‧‧‧顯示區域
A11、A12、A21、A22、A31、A32、A41、A42、A51、A52、A61、A62、A71、A72、A75、A81、A85‧‧‧小電極部
A101、A201、A301、A401、A501‧‧‧小電極部
A102、A202、A302、A402、A502‧‧‧小電極部
A104~A804‧‧‧小電極部
A106~A806‧‧‧小電極部
A108~A808‧‧‧小電極部
A110~A810‧‧‧小電極部
B‧‧‧顯示期間
B11‧‧‧佈線部
B12‧‧‧佈線部
B21‧‧‧佈線部
B22‧‧‧佈線部
b‧‧‧彎曲部間長度
C1‧‧‧電容元件
C1'‧‧‧電容元件
C2‧‧‧靜電電容
C3‧‧‧靜電電容
C11~C15‧‧‧觸控檢測電極
C101~C111‧‧‧觸控檢測電極
COMDC‧‧‧顯示用之直流電位
COML‧‧‧驅動電極
D‧‧‧介電體
d‧‧‧色區域寬度
DET‧‧‧電壓檢測器
Dx‧‧‧色區域正交方向
Dy‧‧‧像素排列方向
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧觸控檢測電極
GCL‧‧‧掃描線
I0‧‧‧電流
I1‧‧‧電流
LC‧‧‧液晶元件
ML、MLd‧‧‧導電性細線
ML1‧‧‧導電性細線
ML2‧‧‧導電性細線
MLe‧‧‧端部
mesh1‧‧‧包圍區域
mesh2‧‧‧包圍區域
P‧‧‧導電性細線間隔
Pix‧‧‧像素
Reset‧‧‧期間
Rx‧‧‧觸控檢測信號
S‧‧‧交流信號源
S11‧‧‧開關元件
Scan‧‧‧掃描方向
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧信號線
SPix‧‧‧副像素
T‧‧‧端子部
T1‧‧‧端子部
T2‧‧‧端子部
T3‧‧‧端子部
T4‧‧‧端子部
T5‧‧‧端子部
T6‧‧‧端子部
TDA‧‧‧檢測區域
TDB1‧‧‧第1導通部
TDC‧‧‧彎曲部
TDCL‧‧‧彎曲部
TDCR‧‧‧彎曲部
TDD‧‧‧虛設電極
TDDS‧‧‧分割部
TDG‧‧‧檢測佈線
TDL‧‧‧觸控檢測電極
TDX‧‧‧交叉部
Tr‧‧‧TFT元件
Tx‧‧‧驅動信號
Ua‧‧‧細線片
Ua1‧‧‧第1端部
Ua2‧‧‧第2端部
Ub‧‧‧細線片
Ub1‧‧‧第1端部
Ub2‧‧‧第2端部
Uc‧‧‧細線片
Ud‧‧‧細線片
Ue‧‧‧導電性細線
Uf‧‧‧細線片
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
|△V|‧‧‧絕對值
Vcc‧‧‧電源電壓
Vcom‧‧‧驅動信號
Vcom(n-1)‧‧‧驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vpix‧‧‧像素信號
Vscan‧‧‧掃描信號
Vscan(n-1)‧‧‧掃描信號
Vscan(n)‧‧‧掃描信號
Vout‧‧‧信號輸出
θL‧‧‧角度
θR‧‧‧角度
圖1係表示基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖2係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖3係表示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖4係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指 接觸或接近之狀態之說明圖。
圖5係表示圖4所示之手指接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例的圖。
圖7係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖8係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖9係表示基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。
圖10係表示基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之像素配置的電路圖。
圖11係表示基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例的立體圖。
圖12係表示基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。
圖13係表示基本例之觸控檢測電極之配置之模式圖。
圖14係用以說明基本例之觸控檢測電極與各色區域之關係之模式圖。
圖15係表示基本例之變化例1之觸控檢測電極之配置之模式圖。
圖16係表示基本例之變化例2之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。
圖17係表示第1實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖18係表示於顯示期間及觸控檢測期間內供給至驅動電極、第1組電極及第2組電極之信號之時序之概要的圖。
圖19係自與顯示期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖20係表示顯示期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。
圖21係自與觸控檢測期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖22係表示觸控檢測期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。
圖23係表示觸控檢測電極之配置之一例之模式圖。
圖24係表示第1實施形態之變化例之觸控檢測電極之配置的模式圖。
圖25係表示本發明之第2實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖26係表示於顯示期間及觸控檢測期間內供給至驅動電極、第1組電極及第2組電極之信號之時序之概要的圖。
圖27係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖28係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖29係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖30係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖31係自與顯示期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖32係表示顯示期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視 圖。
圖33係自與觸控檢測期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖34係表示觸控檢測期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。
圖35係表示本發明之第3實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖36係自與高精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖37係表示高精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。
圖38係自與低精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。
圖39係表示低精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。
圖40係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖41係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖42係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖43係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖44係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖45係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或 顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖46係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖47係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖48係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖49係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖50係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖51係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖52係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。
以下，一面參照圖式，一面對本發明之實施形態進行說明。再者，揭示不過僅為一例，關於業者可容易想到之保持發明之主旨之適當變更，當然包含於本發明之範圍內。又，為了使說明更明確，有時圖式與實際之態樣相比而模式性地表示各部之寬度、厚度、形狀等，但僅為一例，並不限定本發明之解釋。又，於本說明書與各圖中，對與已針對既出之圖於上文敍述者相同之要素標註相同之符號，且有時適當省略詳細之說明。進而，以下記載之構成要素可適當進行組合。再者，說明係按照以下之順序進行。
1.基本例
2.第1實施形態
3.第2實施形態
4.第3實施形態
5.應用例(電子機器)
上述實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置應用於電子機器之例。
<1.基本例> [構成例] (整體構成例)
圖1係表示本發明之基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括附有觸控檢測功能之顯示器件10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40。該附有觸控檢測功能之顯示裝置1之附有觸控檢測功能之顯示器件10係內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示器件10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20與靜電電容型之觸控檢測器件30一體化而成之裝置。再者，附有觸控檢測功能之顯示器件10亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20上裝設靜電電容型之觸控檢測器件30而成之裝置。再者，液晶顯示器件20例如亦可為有機EL(Electroluminescence，電致發光)顯示器件。
液晶顯示器件20如後述般，係依據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，於每1水平線依序掃描而進行顯示的器件。控制部11係如下電路，即，根據自外部供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，以該等相互同步地動作之方式進行控制。
閘極驅動器12具有如下功能：根據自控制部11供給之控制信號，依序選擇附有觸控檢測功能之顯示器件10之成為顯示驅動之對象之1 水平線。
源極驅動器13係如下電路，即，根據自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之後述之各副像素SPix供給像素信號Vpix。
驅動電極驅動器14係如下電路，即，根據自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之後述之驅動電極COML供給驅動信號Vcom。
觸控檢測部40係如下電路，即，根據自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示器件10之觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無針對觸控檢測器件30之觸控(後述之接觸或接近之狀態)，於有觸控之情形時求出觸控檢測區域中之其座標等。該觸控檢測部40包括觸控檢測信號放大部42、A/D(analog to digital，模擬/數位)轉換部43、信號處理部44、座標抽取部45、及檢測時序控制部46。
觸控檢測信號放大部42係將自觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet放大。觸控檢測信號放大部42亦可包括去除觸控檢測信號Vdet中所包含之高頻成分(雜訊成分)，擷取觸控成分並分別輸出的低通類比濾波器。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測器件30根據靜電電容型觸控檢測之基本原理進行動作，輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，對本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中之觸控檢測之基本原理進行說明。圖2係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。圖3係表示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。圖4係為了說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理而表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。圖5係表示圖4所示之手 指接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例的圖。
例如，如圖2及圖4所示，電容元件C1、C1'包括夾隔介電體D相互對向配置之一對電極、驅動電極E1及觸控檢測電極E2。如圖3所示，電容元件C1之一端與交流信號源(驅動信號源)S結合，另一端與電壓檢測器(觸控檢測部)DET結合。電壓檢測器DET係例如包含於圖1所示之觸控檢測信號放大部42之積分電路。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則經由與觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側結合之電壓檢測器DET，出現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。再者，該交流矩形波Sg係相當於後述之觸控驅動信號Vcomt者。
於手指未接觸(或接近)之狀態(非接觸狀態)下，如圖2及圖3所示，伴隨對於電容元件C1之充放電，與電容元件C1之電容值對應之電流I0流動。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I0之變動轉換為電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，於手指接觸(或接近)之狀態(接觸狀態)下，如圖4所示，藉由手指而形成之靜電電容C2與觸控檢測電極E2相接觸或位於附近，藉此，位於驅動電極E1與觸控檢測電極E2之間之邊緣部分之靜電電容被遮蔽，而作為電容值小於電容元件C1之電容值之電容元件C1'發揮作用。而且，若觀察圖5所示之等效電路，則電流I1流動至電容元件C1'。如圖6所示，電壓檢測器DET係將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換為電壓之變動(虛線之波形V1)。於此情形時，波形V1之振幅比上述波形V0小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|係根據手指等自外部接近之物體之影響而變化。再者，為精度良好地檢測波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|，電壓檢測 器DET更佳為藉由電路內之切換，配合交流矩形波Sg之頻率，進行設定重設電容器之充放電之期間Reset的動作。
圖1所示之觸控檢測器件30係依據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(後述之觸控驅動信號Vcomt)，逐一對檢測區塊依序掃描而進行觸控檢測。
觸控檢測器件30係自複數個後述之觸控檢測電極TDL，經由圖3或圖5所示之電壓檢測器DET，對每一檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet，並供給至觸控檢測部40之A/D轉換部43。
A/D轉換部43係如下電路，即，以與驅動信號Vcom同步之時序，對自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號分別取樣並轉換為數位信號。
信號處理部44包括減少A/D轉換部43之輸出信號中所包含之對驅動信號Vcom進行取樣之頻率以外之頻率成分(雜訊成分)的數位濾波器。信號處理部44係根據A/D轉換部43之輸出信號檢測有無針對觸控檢測器件30之觸控的邏輯電路。信號處理部44進行僅擷取因手指所致之差分之電壓之處理。該因手指所致之差分之電壓係上述波形V0與波形V1之差分之絕對值|△V|。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值|△V|平均化之運算，求出絕對值|△V|之平均值。藉此，信號處理部44可降低因雜訊而產生之影響。信號處理部44係將檢測到之因手指所致之差分之電壓與特定之閾值電壓進行比較，若為該閾值電壓以上，則判斷為自外部接近之外部接近物體之接觸狀態，若未達閾值電壓，則判斷為外部接近物體之非接觸狀態。以此方式，觸控檢測部40可進行觸控檢測。
座標抽取部45係於信號處理部44檢測到觸控時求出其觸控面板座標的邏輯電路。檢測時序控制部46以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標抽取部45同步地動作之方式進行控制。座標抽取部45將觸 控面板座標作為信號輸出Vout而輸出。
(模組)
圖7及圖8係表示安裝有附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1在安裝於模組時，亦可於玻璃基板之TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)基板21上形成上述驅動電極驅動器14。
如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1包含附有觸控檢測功能之顯示器件10、驅動電極驅動器14、及COG(Chip On Glass，覆晶玻璃)19A。該附有觸控檢測功能之顯示器件10係於相對於後述之TFT基板21之表面之垂直方向上，模式性地表示驅動電極COML、及以與驅動電極COML立體交叉之方式形成之觸控檢測電極TDL。即，驅動電極COML係形成於沿著附有觸控檢測功能之顯示器件10之1邊之方向上，觸控檢測電極TDL係形成於沿著附有觸控檢測功能之顯示器件10之另一邊之方向上。觸控檢測電極TDL之輸出係經由設置於附有觸控檢測功能之顯示器件10之上述另一邊側且由可撓性基板等構成之端子部T，而與安裝於該模組之外部之觸控檢測部40結合。驅動電極驅動器14係形成於作為玻璃基板之TFT基板21。COG19A係安裝於TFT基板21之晶片，且係內置有圖1所示之控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13等顯示動作所需之各電路者。又，如圖8所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1亦可將驅動電極驅動器14內置於COG19B。
如圖8所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1包含COG19B。圖8所示之COG19B除了內置有上述顯示動作所需之各電路以外，進而內置有驅動電極驅動器14。附有觸控檢測功能之顯示裝置1係如後述般，於顯示動作時，於每1水平線進行線序掃描。即，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係與沿著附有觸控檢測功能之顯示器件10之1邊之方 向平行地進行顯示掃描。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係於觸控檢測動作時，依序對驅動電極COML施加驅動信號Vcom，藉此，於每1檢測線進行線序掃描。即，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係與沿著附有觸控檢測功能之顯示器件10之另一邊之方向平行地進行觸控檢測掃描。
(附有觸控檢測功能之顯示器件)
其次，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之構成例詳細進行說明。圖9係表示本基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。圖10係表示本基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之像素配置的電路圖。附有觸控檢測功能之顯示器件10包括像素基板2、對向地配置於與該像素基板2之表面垂直之方向之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
像素基板2包含作為電路基板之TFT基板21、呈矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21與像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及將像素電極22與驅動電極COML絕緣之絕緣層24。於TFT基板21，形成有對圖10所示之各副像素SPix之薄膜電晶體(TFT；Thin Film Transistor)元件Tr、圖9所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之信號線SGL、驅動各TFT元件Tr之掃描線GCL等佈線。如此，信號線SGL係沿與TFT基板21之表面平行之平面延伸，對像素供給用以顯示圖像之像素信號Vpix。圖10所示之液晶顯示器件20包含呈矩陣狀配置之複數個副像素SPix。副像素SPix包括TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成者，於該例中，由n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金氧半導體)型之TFT構成。TFT元件Tr之源極或汲極之一者與信號線SGL結合，閘極與掃描線GCL結合，源極或汲極之另一者與液晶元件LC之一端結合。例如，液晶元件LC之一端與TFT元件Tr之汲極結合，另一端與驅 動電極COML結合。
圖10所示之副像素SPix係藉由掃描線GCL而與液晶顯示器件20之屬於同一列之其他副像素SPix相互結合。掃描線GCL係與閘極驅動器12結合，自閘極驅動器12被供給掃描信號Vscan。又，副像素SPix係藉由信號線SGL而與液晶顯示器件20之屬於同一行之其他副像素SPix相互結合。信號線SGL係與源極驅動器13結合，自源極驅動器13被供給像素信號Vpix。進而，副像素SPix係藉由驅動電極COML而與液晶顯示器件20之屬於同一列之其他副像素SPix相互結合。驅動電極COML係與驅動電極驅動器14結合，自驅動電極驅動器14被供給驅動信號Vcom。即，於該例中，屬於同一列之複數個副像素SPix共有一根驅動電極COML。本基本例之驅動電極COML延伸之方向係與掃描線GCL延伸之方向平行。本基本例之驅動電極COML延伸之方向不受限定，例如，驅動電極COML延伸之方向亦可為與信號線SGL延伸之方向平行之方向。
圖1所示之閘極驅動器12係經由圖10所示之掃描線GCL將掃描信號Vscan施加至像素Pix之TFT元件Tr之閘極，藉此，依序選擇呈矩陣狀形成於液晶顯示器件20之副像素SPix中之1列(1水平線)作為顯示驅動之對象。圖1所示之源極驅動器13係經由圖10所示之信號線SGL將像素信號Vpix分別供給至構成藉由閘極驅動器12依序選擇之1水平線之各副像素SPix。然後，於該等副像素SPix，根據所供給之像素信號Vpix，進行1水平線之顯示。圖1所示之驅動電極驅動器14係施加驅動信號Vcom，對圖7及圖8所示之包括特定根數之驅動電極COML之區塊中之每一個對驅動電極COML進行驅動。
如上所述，液晶顯示器件20係藉由閘極驅動器12以分時地對掃描線GCL線序掃描之方式進行驅動，而依序選擇1水平線。又，液晶顯示器件20係藉由源極驅動器13對屬於1水平線之副像素SPix供給像 素信號Vpix，而於每1水平線進行顯示。進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對包含與上述1水平線對應之驅動電極COML之區塊施加驅動信號Vcom。
本基本例之驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能。圖11係表示本基本例之附有觸控檢測功能之顯示器件之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例的立體圖。圖11所示之驅動電極COML係如圖9所示，於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向。觸控檢測器件30係包含設置於像素基板2之驅動電極COML、及設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL而構成。觸控檢測電極TDL係包含沿與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條狀之電極圖案而構成。而且，觸控檢測電極TDL係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案係與觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與觸控檢測電極TDL而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。再者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)並不限於呈條狀分割成複數個之形狀。例如，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)亦可為梳齒形狀。或者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)只要分割成複數個即可，分割驅動電極COML之狹縫之形狀可為直線，亦可為曲線。
藉由該構成，利用觸控檢測器件30進行觸控檢測動作時，驅動電極驅動器14以分時地對驅動電極區塊線序掃描之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan上驅動電極COML之1檢測區塊依序被選擇。然後，自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。如此，觸控檢測器件30進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢 測之基本原理中之驅動電極E1對應，觸控檢測電極TDL係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30依據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件30之觸控檢測面整體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
液晶層6係根據電場之狀態調變通過此處之光者，例如，使用利用FFS(Fringe Field Switching，邊緣場切換)或IPS(In Plane Switching，共平面切換)等橫向電場模式之液晶之液晶顯示器件。再者，亦可於圖9所示之液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間分別配設配向膜。
對向基板3包含玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面之濾色器32。於玻璃基板31之另一面形成有作為觸控檢測器件30之檢測電極之觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL上配設有偏光板35。
圖9所示之濾色器32係週期性地配置著色為例如紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之濾色器之色區域，將R、G、B之3色之色區域32R、32G、32B(參照圖10)與上述圖10所示之各副像素SPix建立對應，並將色區域32R、32G、32B設為1組而構成像素Pix。像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向配置成矩陣狀，而形成後述之顯示區域Ad。濾色器32係於與TFT基板21垂直之方向上，與液晶層6對向。如此，副像素SPix可進行單色之色顯示。再者，濾色器32只要著色為不同色，則亦可為其他顏色之組合。又，亦可不具備濾色器32。如此，亦可有不存在濾色器32之區域、即未著色之副像素SPix。
[動作及作用]
接著，對本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作及作 用進行說明。
驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之共用驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能，因此，有驅動信號Vcom相互受到影響之可能性。因此，分為進行顯示動作之顯示期間B、及進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A而對驅動電極COML施加驅動信號Vcom。驅動電極驅動器14係於進行顯示動作之顯示期間B施加驅動信號Vcom作為顯示驅動信號。而且，驅動電極驅動器14係於進行觸控檢測動作之觸控檢測期間A施加驅動信號Vcom作為觸控驅動信號。於以下之說明中，將作為顯示驅動信號之驅動信號Vcom記載為顯示驅動信號Vcomd，將作為觸控驅動信號之驅動信號Vcom記載為觸控驅動信號Vcomt。
(整體動作概要)
控制部11係根據自外部供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，以該等相互同步地動作之方式進行控制。閘極驅動器12係於顯示期間B，對液晶顯示器件20供給掃描信號Vscan，依序選擇成為顯示驅動之對象之1水平線。源極驅動器13係於顯示期間B，對構成藉由閘極驅動器12而選擇之1水平線之各像素Pix供給像素信號Vpix。
於顯示期間B，驅動電極驅動器14對1水平線之驅動電極區塊施加顯示驅動信號Vcomd。於觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對與觸控檢測動作相關之驅動電極區塊依序施加觸控驅動信號Vcomt，依序選擇1檢測區塊。附有觸控檢測功能之顯示器件10係於顯示期間B，根據由閘極驅動器12、源極驅動器13及驅動電極驅動器14所供給之信號進行顯示動作。附有觸控檢測功能之顯示器件10係於觸控檢測期間A，根據由驅動電極驅動器14所供給之信號進行觸控檢測動作，並自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。觸控檢測信號放大部 42係將觸控檢測信號Vdet放大並輸出。A/D轉換部43係以與觸控驅動信號Vcomt同步之時序，將自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號轉換為數位信號。信號處理部44係根據A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無針對觸控檢測器件30之觸控。座標抽取部45係於在信號處理部44進行觸控檢測時，求出其觸控面板座標。
(詳細動作)
其次，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1之詳細動作進行說明。圖12係表示本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一動作例的時序波形圖。如圖12所示，液晶顯示器件20係依據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，於掃描線GCL中之鄰接之第(n-1)列、第n列、第(n+1)列之掃描線GCL之每1水平線依序掃描而進行顯示。同樣地，驅動電極驅動器14係根據自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML中之鄰接之第(n-1)列、第n列、第(n+1)列進行供給。
如此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1，於每個1顯示水平期間(1H)，分時地進行觸控檢測動作(觸控檢測期間A)與顯示動作(顯示期間B)。於觸控檢測動作中，於每個1顯示水平期間1H，選擇不同之驅動電極COML並施加驅動信號Vcom，藉此進行觸控檢測之掃描。以下，對其動作詳細進行說明。
首先，閘極驅動器12對第(n-1)列之掃描線GCL施加掃描信號Vscan，而掃描信號Vscan(n-1)自低位準變化為高位準。藉此，開始1顯示水平期間1H。
繼而，於觸控檢測期間A，驅動電極驅動器14對第(n-1)列之驅動電極COML施加驅動信號Vcom，而驅動信號Vcom(n-1)自低位準變化為高位準。該驅動信號Vcom(n-1)係經由靜電電容傳送至觸控檢測電極TDL，而觸控檢測信號Vdet發生變化。繼而，若驅動信號Vcom(n- 1)自高位準變化為低位準，則觸控檢測信號Vdet同樣地變化。該觸控檢測期間A中之觸控檢測信號Vdet之波形係與上述觸控檢測之基本原理中之觸控檢測信號Vdet對應者。A/D轉換部43係藉由對該觸控檢測期間A中之觸控檢測信號Vdet進行A/D轉換而進行觸控檢測。藉此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1，進行1檢測線之觸控檢測。
繼而，於顯示期間B，源極驅動器13對信號線SGL施加像素信號Vpix，進行對於1水平線之顯示。再者，如圖12所示，該像素信號Vpix之變化經由寄生電容傳送至觸控檢測電極TDL，而觸控檢測信號Vdet會發生變化，但藉由使得於顯示期間B內A/D轉換部43不進行A/D轉換，可抑制該像素信號Vpix之變化對觸控檢測之影響。源極驅動器13進行之像素信號Vpix之供給結束後，閘極驅動器12使第(n-1)列之掃描線GCL之掃描信號Vscan(n-1)自高位準變化為低位準，而結束1顯示水平期間。
繼而，閘極驅動器12對與方才不同之第n列之掃描線GCL施加掃描信號Vscan，而掃描信號Vscan(n)自低位準變化為高位準。藉此，開始下一個1顯示水平期間。
於下一個觸控檢測期間A內，驅動電極驅動器14對與方才不同之第n列之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。繼而，A/D轉換部43對觸控檢測信號Vdet之變化進行A/D轉換，藉此，進行該1檢測線之觸控檢測。
繼而，於顯示期間B，源極驅動器13對信號線SGL施加像素信號Vpix，進行對於1水平線之顯示。又，驅動電極驅動器14將顯示驅動信號Vcomd作為共用電位施加至驅動電極COML。此處，顯示驅動信號Vcomd之電位例如成為觸控檢測期間A中之驅動信號Vcomt之低位準之電位。再者，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1進行點反轉驅動，因此，源極驅動器13施加之像素信號Vpix之極性與前一個 1顯示水平期間之極性相比反轉。該顯示期間B結束後，該1顯示水平期間1H結束。
自此之後，重複進行上述動作，藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係藉由遍及顯示面整面之掃描而進行顯示動作，並且藉由遍及觸控檢測面整面之掃描而進行觸控檢測動作。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，於1顯示水平期間(1H)，觸控檢測動作係於觸控檢測期間A內進行，顯示動作係於顯示期間B內進行。由於如此般於不同之期間進行觸控檢測動作與顯示動作，故可於同一個1顯示水平期間內進行顯示動作與觸控檢測動作之兩個動作，並且可抑制顯示動作對觸控檢測之影響。
(觸控檢測電極之配置)
圖13係表示本基本例之觸控檢測電極之配置之模式圖。圖14係用以說明本基本例之觸控檢測電極與各色區域之關係的模式圖。
如圖13所示，本基本例之觸控檢測電極TDL包含複數根導電性細線ML，關於上述複數根導電性細線ML，若俯瞰觀察整體則於與對向基板3平行之平面上，沿與後述之同色之色區域延伸之方向相同之方向延伸。例如，本基本例之複數根導電性細線ML全部為相同之形狀。導電性細線ML彼此於導電性細線ML之色區域方向Dy側之端部MLe經由第1導通部TDB1而連接，而屬於檢測區域TDA。於檢測區域TDA，複數根導電性細線ML導通，且相互之間具有固定間隔地延伸。相鄰之導電性細線ML間之間隔且色區域正交方向Dx之間隔係導電性細線間隔P。例如，本基本例之導電性細線間隔P固定。再者，本基本例之導電性細線ML延伸之方向係將1根導電性細線ML中之一端部MLe與另一端部MLe連結之直線之方向。或者，導電性細線ML延伸之方向係1根導電性細線ML所占之形狀中成為長度方向之方向。
複數個檢測區域TDA相互之間具有固定間隔地延伸。第1導通部 TDB1係經由檢測佈線TDG而與圖1所示之觸控檢測部40連接。又，第1導通部TDB1係由與導電性細線ML相同之材料形成。藉由上述構成，可減少導電性細線ML之數量，與此同時，由於利用複數根金屬佈線ML對固定之範圍進行觸控檢測，故可降低進行觸控檢測時之電阻。
導電性細線ML包含導電性細線ML延伸之方向相對於後述之色區域所延伸之方向(信號線SGL延伸之方向)具有角度θL的部分。又，導電性細線ML包含導電性細線ML延伸之方向相對於後述之色區域延伸之方向具有角度θR的部分。例如，本基本例之角度θL與角度θR相等。又，導電性細線ML係於彎曲部TDCL及在彎曲部TDCR折回之鋸齒狀線或波狀線。1根導電性細線ML中之利用彎曲部TDCL與彎曲部TDCL之下一彎曲部TDCR錯開之色區域正交方向Dx之長度係彎曲部間長度b。例如，本基本例之彎曲部間長度b固定。又，導電性細線ML之寬度較佳為處於3μm以上且10μm以下之範圍。其原因在於：若導電性細線ML之寬度為10μm以下，則顯示區域Ad中覆蓋未能由黑矩陣或掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過之開口部的面積變小，故而損害開口率之可能性變低。又，其原因在於：若導電性細線ML之寬度為3μm以上，則形狀穩定，發生斷線之可能性變低。
觸控檢測電極TDL之導電性細線ML係由作為導電性之金屬材料之鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之合金之金屬材料所形成。或者，觸控檢測電極TDL之導電性細線ML係由鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之氧化物(金屬氧化物)所形成，具有導電性。導電性細線ML亦可以將上述金屬材料與上述金屬氧化物積層1層以上所得之積層體而圖案化。導電性細線ML亦可以將上述金屬材料或金屬氧化物與作為透光性電極之材料之ITO(Indium Tin Oxide)等透光性導電氧化物積層1層以上所得之積層 體而圖案化。導電性細線ML之電阻低於作為透光性電極之材料之ITO等透光性導電氧化物。導電性細線ML之材料係相同膜厚下之透過率低於ITO之透過率。例如，導電性細線ML之材料之透過率亦可為10%以下。
如圖13所示，複數個檢測區域TDA相互之間具有固定間隔地配置。於配置觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之區域與不存在觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之區域之間，遮光性存在差異，因此，有觸控檢測電極TDL容易被視認之可能性。因此，於對向基板3，於相鄰之檢測區域TDA之間配置有未與檢測佈線TDG連接之虛設電極TDD。虛設電極TDD係由與觸控檢測電極TDL之導電性細線ML相同之材料形成。虛設電極TDD之導電性細線MLd只要具有與觸控檢測電極TDL相同程度之遮光性，則亦可為不同之材料。虛設電極TDD形成於與觸控檢測電極TDL相同之層。藉此，可利用同一步驟形成虛設電極TDD及觸控檢測電極TDL，而可抑制製造步驟。
又，圖13所示之虛設電極TDD包含在與對向基板3平行之平面上延伸之複數根導電性細線MLd。導電性細線MLd係未與第1導通部TDB1連接之導電性細線ML。複數根導電性細線MLd係以相鄰之導電性細線MLd彼此具有導電性細線間隔P之方式配置。藉此，配置觸控檢測電極TDL之區域與未配置觸控檢測電極TDL之區域之遮光性之差變小，因此，可降低觸控檢測電極TDL被視認之可能性。
導電性細線MLd係於在導電性細線ML中存在彎曲部TDCL及彎曲部TDCR之位置，具有不存在與導電性細線ML相同之材料之狹縫即分割部TDDS。因此，分割部TDDS妨礙相對於導電性細線MLd延伸之方向之角度不同之部分彼此之電性導通，而產生與觸控檢測電極TDL之電容差。因此，即便於當觸控檢測時手指接近觸控檢測電極TDL與虛設電極TDD之兩者之情形時，虛設電極TDD亦可減小對圖6所示之絕 對值|△V|造成之影響。如此，虛設電極TDD之分割部TDDS分割為比觸控檢測電極TDL之導電性細線ML之面積小，藉此，可減小對觸控檢測之精度造成之影響。再者，分割部TDDS亦可僅位於導電性細線ML中存在彎曲部TDCL及彎曲部TDCR之位置中之一部分。例如，分割部TDDS亦可僅位於導電性細線ML中存在彎曲部TDCL之位置。
其次，利用圖14對導電性細線ML與各色區域32R、32G、32B之關係進行說明。圖14係將圖13所示之導電性細線ML之一部分放大所得之圖。如上所述，顯示區域Ad係將色區域32R、32G、32B與各副像素SPix建立對應，且包含複數個將色區域32R、32G、32B設為1組之像素Pix。複數個像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向Dx及與信號線SGL平行之方向Dy配置成矩陣狀。又，同色之色區域係形成與信號線SGL平行之行而延伸。色區域正交方向Dx係相對於同色之色區域延伸之方向正交之方向。各色區域32R、32G、32B之寬度且色區域正交方向Dx之寬度係色區域寬度d。
複數根導電性細線ML係於相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向重疊。複數根導電性細線ML係以導電性細線間隔P小於彎曲部間長度b與色區域寬度d之和之方式配置。即，複數根導電性細線ML係以滿足下述式(1)之方式配置。
P<b+d．．．(1)
進而，導電性細線間隔P較佳為彎曲部間長度b以上。即，複數根導電性細線ML較佳為進而滿足下述式(2)。
b≦P．．．(2)
進而，具體而言，導電性細線間隔P較佳為160μm以下。即，複數根導電性細線ML較佳為進而滿足下述式(3)。其原因在於：於導電性細線間隔P為160μm以下之情形時，無法以人類的眼睛之解析度對導電性細線ML進行解像之可能性提高，而不易被視認。
P≦160μm．．．(3)
如上所述，像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向及與信號線SGL平行之方向配置成矩陣狀。於掃描線GCL及信號線SGL由黑矩陣覆蓋之情形時，黑矩陣抑制光之透過。於掃描線GCL及信號線SGL未由黑矩陣覆蓋之情形時，掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過。於本基本例中，沿著與掃描線GCL平行之方向之複數條直線狀之花樣且具有週期性之花樣容易出現在顯示區域Ad上。又，沿著與信號線SGL平行之方向之複數條直線狀之花樣且具有週期性之花樣容易出現在顯示區域Ad上。因此，於在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上使觸控檢測電極TDL重疊之情形時，出現在顯示區域Ad上之花樣與觸控檢測電極TDL產生干擾而形成明暗花樣，從而有水波紋被視認之可能性。尤其是，於導電性細線ML為與掃描線GCL或信號線SGL平行之直線狀之情形時，水波紋被視認之可能性變高。又，於色區域32R、32G、32B中特定之色區域被導電性細線ML遮蔽之情形時，產生每一色區域之亮度之差，因此，有水波紋被視認之可能性。
如圖14所示，關於本基本例之導電性細線ML，若俯瞰觀察整體，則沿與色區域延伸之方向相同之方向延伸，若局部進行觀察，則包含相對於該方向具有角度之部分。又，色區域延伸之方向係與信號線SGL平行之方向。又，導電性細線ML係鋸齒狀線或波狀線，包含相對於掃描線GCL或信號線SGL具有角度之部分。因此，與導電性細線ML為與掃描線GCL或信號線SGL平行之直線狀之情形相比，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低水波紋被視認之可能性。
又，如圖14所示，本基本例之複數根導電性細線ML包含與色區域32R、32G、32B形成之顏色之行之全部在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上重疊的部分。因此，色區域32R、32G、32B中特定之 色區域不易被導電性細線ML遮蔽。因此，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1不易產生每一色區域之亮度之差，而可降低水波紋被視認之可能性。
本基本例之複數根導電性細線ML全部為相同之形狀，且以滿足上述式(1)之方式配置。藉此，複數根導電性細線ML規則地配置，因此，各導電性細線ML變得不明顯。因此，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1能夠使導電性細線ML不易被人類視認出。又，於滿足上述式(1)之情形時，複數根導電性細線ML必定包含與色區域32R、32G、32B形成之顏色之行之全部在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上重疊的部分。因此，色區域32R、32G、32B中特定之色區域不易被導電性細線ML遮蔽。因此，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1不易產生每一色區域之亮度之差，而可降低水波紋被視認之可能性。
進而，於滿足上述式(2)之情形時，相鄰之導電性細線ML間之間隔保持在一定值以上。因此，顯示區域Ad中由導電性細線ML覆蓋未能由黑矩陣或掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過之開口部的面積變小。因此，本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可進一步降低損害開口率之可能性。
再者，角度θR及角度θL較佳為30度以上且40度以下或50度以上且60度以下。由於導電性細線ML相對於掃描線GCL及信號線SGL所成之角度成為一定大小以上之角度，故明暗花樣之週期容易縮短至人類無法視認之程度。因此，可降低水波紋被視認之可能性。
[基本例之變化例1]
其次，對基本例之變化例1之附有觸控檢測功能之顯示裝置進行說明。圖15係表示基本例之變化例1之觸控檢測電極之配置的模式圖。再者，對與上述基本例中所說明者相同之構成要素標註相同之符 號並省略重複之說明。
如圖15所示，基本例之變化例1之觸控檢測電極TDL包含在與對向基板3平行之平面上沿像素排列方向Dy延伸之導電性細線ML1及導電性細線ML2。導電性細線ML1與導電性細線ML2成為1組，並形成檢測區域TDA。
導電性細線ML1係基本例中所表示之導電性細線ML。導電性細線ML2具有相對於導電性細線ML1以與像素排列方向Dy平行之直線為對稱軸之線對稱之形狀。導電性細線ML2係由與導電性細線ML1相同之材料形成。導電性細線ML2係以導電性細線ML1之彎曲部TDC與導電性細線ML2之彎曲部TDC連接而形成交叉部TDX的方式配置。導電性細線ML1與導電性細線ML2係利用交叉部TDX導通。藉此，導電性細線ML1與導電性細線ML2形成由細線片Ua與細線片Ub包圍之包圍區域mesh1。再者，導電性細線ML1與導電性細線ML2亦可不利用彎曲部TDC連接。例如，亦可利用導電性細線ML1中之細線片Ua之中間部與導電性細線ML2中之細線片Ub之中間部連接而導通。
導電性細線ML包含細線片Ua與細線片Ub。細線片Ua係相對於像素排列方向Dy具有角度地延伸之導電性材料之圖案，且包含第1端部Ua1與第2端部Ua2。同樣地，細線片Ub係沿與細線片Ua延伸之方向不同之方向延伸之導電性材料之圖案，且包含第1端部Ub1與第2端部Ub2。細線片Ua與細線片Ub係將細線片Ua之第2端部Ua2與細線片Ub之第1端部Ub1連接而導通，且將細線片Ua之第1端部Ua1與細線片Ub之第2端部Ub2連接而導通。
又，細線片Ua之第2端部Ua2與細線片Ub之第1端部Ub1之連接部成為導電性細線ML之彎曲部TDC，細線片Ua與細線片Ub係於每一彎曲部TDC以特定之角度折回。例如，基本例之變化例1之導電性細線ML係細線片Ua之長度與細線片Ub之長度相等。而且，細線片Ua延伸 之方向相對於像素排列方向Dy所成之角度之大小與細線片Ub延伸之方向相對於像素排列方向Dy所成之角度之大小相等。導電性細線ML於每一彎曲部TDC朝像素正交方向Dx彎曲之方向發生變化。
虛設電極TDD包含細線片Uc及細線片Ud。細線片Uc係與細線片Ua平行地配置，細線片Ud係與細線片Ub平行地配置。又，細線片Uc與細線片Ud係以由2個細線片Uc及2個細線片Ud包圍之包圍區域mesh2之面積與包圍區域mesh1相同之方式配置。藉此，配置觸控檢測電極TDL之區域與未配置觸控檢測電極TDL之區域之遮光性之差變小，因此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低觸控檢測電極TDL容易被視認之可能性。
藉由上述構成，即便導電性細線ML1與導電性細線ML2中之一導電性細線之一部分變細而導通不可靠，由於在交叉部TDX與另一導電性細線連接，故基本例之變化例1之附有觸控檢測功能之顯示裝置亦可提高觸控檢測之概率。
[基本例之變化例2]
圖16係表示本基本例之變化例2之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。上述之本基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可將使用FFS、IPS等各種模式之液晶之液晶顯示器件20與觸控檢測器件30一體化而製成附有觸控檢測功能之顯示器件10。圖16所示之本基本例之變化例2之附有觸控檢測功能之顯示器件10亦可代替此而將TN(Twisted Nematic：扭轉向列)、VA(Vertical Alignment：垂直配向)、ECB(Electrically Controlled Birefringence：電控雙折射)等各種模式之液晶與觸控檢測器件一體化。
<2.第1實施形態> [構成例] (整體構成例)
圖17係表示本發明之第1實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1A包括附有觸控檢測功能之顯示器件10A、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、第1驅動電極驅動器14A、第2驅動電極驅動器14B、及觸控檢測部40A。該附有觸控檢測功能之顯示裝置1A之附有觸控檢測功能之顯示器件10A係內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示器件10A係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20與靜電電容型之觸控檢測器件30A一體化而成之裝置。再者，附有觸控檢測功能之顯示器件10A亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20上裝設靜電電容型之觸控檢測器件30A而成之裝置。再者，液晶顯示器件20例如亦可為有機EL顯示器件。
如之前所說明般，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A具有觸控檢測期間及顯示期間(參照圖12)。附有觸控檢測功能之顯示裝置1A係於觸控檢測期間，如之前所說明般，利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式進行觸控檢測。進而，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A係於顯示期間，將觸控檢測電極TDL分為2個組，利用第1組電極與第2組電極之間之互靜電電容方式進行觸控檢測。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A於顯示期間內亦可進行觸控檢測，可提高對於觸控之響應性，而可提高觸控輸入之自由度。
圖18係表示於顯示期間及觸控檢測期間內供給至驅動電極、第1組電極及第2組電極之信號之時序之概要的圖。再者，於圖18中，連續地表示顯示期間與觸控檢測期間，但於顯示期間與觸控檢測期間之間亦可存在不進行顯示及觸控檢測之期間。
第1驅動電極驅動器14A係於顯示期間內將顯示用之直流電位Vcomd(COMDC)供給至驅動電極COML。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A進行圖像顯示。又，第1驅動電極驅動器14A係於觸控檢 測期間內將觸控檢測用之驅動信號Vcomt(Tx)供給至驅動電極COML。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A係利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式進行觸控檢測。
第2驅動電極驅動器14B係於顯示期間內，將觸控檢測用之驅動信號Vcomt(Tx)供給至構成觸控檢測電極TDL之2個組中之第1組電極。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A藉由檢測經由第1組電極與第2組電極之間產生之靜電電容而自第2組電極輸出之觸控檢測信號Vdet(Rx)來進行觸控檢測。再者，第2驅動電極驅動器14B係於觸控檢測期間內不進行動作，不對第1組電極進行信號之供給。
(觸控檢測器件)
其次，對觸控檢測器件30A之構成例詳細進行說明。圖19係自與顯示期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於觸控檢測器件30A之對向基板3上，複數個小電極部A11、A21、．．．、A85形成為像素排列方向(信號線SGL之延伸方向)Dy上8列且與像素排列方向正交之方向(掃描線GCL之延伸方向)Dx上5行之矩陣狀。該等複數個小電極部構成觸控檢測電極TDL。再者，此處，複數個小電極部形成為8列5行，但並不限定於此，亦可形成數量更多之小電極部。又，複數個小電極部形成為矩陣狀，但並不限定於此，例如，亦可形成為各列與鄰接之列於方向Dx錯開或者各行與鄰接之行於方向Dy錯開。
複數個小電極部構成第1組電極及第2組電極。第1組電極係由小電極部A11、A31、．．．、A71、A22、．．．、A75構成。第2組電極係由小電極部A21、A41、．．．、A81、A12、．．．、A85構成。即，第1組電極與第2組電極係於對向基板3上形成棋盤格花樣。再者，此處，第1組電極與第2組電極於對向基板3上形成棋盤格花樣，但並不限定於此。較佳為以第1組電極中所包含之小電極部之數量與 第2組電極中所包含之小電極部之數量為大致相同之數量為佳。
圖20係表示顯示期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。於顯示期間內，自第2驅動電極驅動器14B對構成第1組電極之小電極部A11、A31、A51、A71、A22、A42、A62供給驅動信號Tx。該驅動信號Tx係經由第1組電極與第2組電極之間產生之靜電電容而傳送至構成第2組電極之小電極部A21、A41、A61、A12、A32、A52、A72，將觸控檢測信號Rx(Vdet)自第2組電極輸出至觸控檢測信號放大部42。該顯示期間內之觸控檢測信號Rx之波形係與上述觸控檢測之基本原理中之觸控檢測信號Vdet對應者。A/D轉換部43係藉由對該顯示期間內之觸控檢測信號Rx進行A/D轉換而進行觸控檢測。即，第1組電極係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應，第2組電極係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30A係於顯示期間內，依據該基本原理進行觸控。再者，藉由對自構成第2組電極之小電極部A21、A41、A61、A12、A32、A52、A72輸出之觸控檢測信號Rx個別地進行放大、A/D轉換、信號處理，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
圖21係自與觸控檢測期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於觸控檢測期間內，第1行之小電極部A11、A21、．．．、A81構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C11。同樣地，第2行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C12，第3行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C13，第4行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C14，第5行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C15。該等觸控檢測電極C11~C15構成觸控檢測電極TDL。
圖22係表示觸控檢測期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯 視圖。形成1行之小電極部A11、A21、A31、A41、A51、A61、A71係於觸控檢測期間內電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C11。同樣地，形成1行之小電極部A12、A22、A32、A42、A52、A62、A72係於觸控檢測期間內電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C12。觸控檢測電極C11、C12係於觸控檢測期間內，於與在與觸控檢測器件之主面垂直之方向上相隔地交叉之驅動電極COML(參照圖9、圖11及圖16)之間產生靜電電容。
如之前所說明般，驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30A之驅動電極發揮功能。若參照圖9，則驅動電極COML係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向。觸控檢測器件30A係包含設置於像素基板2之驅動電極COML、及設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)而構成。若參照圖11，則觸控檢測電極TDL係包含沿與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條狀之電極圖案(觸控檢測電極C11~C15)而構成。而且，觸控檢測電極TDL係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案(觸控檢測電極C11~C15)係與觸控檢測部40A之觸控檢測信號放大部42之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與觸控檢測電極TDL而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。
藉由該構成，觸控檢測器件30A中，於觸控檢測期間內，第1驅動電極驅動器14A以分時地對驅動電極區塊線序掃描之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan驅動電極COML之1檢測區塊依序被選擇。然後，自觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)輸出觸控檢測信號Rx(Vdet)。如此，觸控檢測器件30A進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1 對應，觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30A係於觸控檢測期間內，依據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件30A之觸控檢測面整體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
再者，各小電極部與第1驅動電極驅動器14A之間之連接、各小電極部與第2驅動電極驅動器14B之間之連接、或者各小電極部與觸控檢測信號放大部42之間之連接之切換例如可藉由於各小電極部與第1驅動電極驅動器14A、第2驅動電極驅動器14B、或觸控檢測信號放大部42之間之佈線上設置開關元件並藉由控制部11控制該等開關元件而進行，亦可藉由第1驅動電極驅動器14A及第2驅動電極驅動器14B之輸出段(輸出緩衝部)及觸控檢測信號放大部42之輸入段(輸入緩衝部)而進行。
(觸控檢測電極之配置)
圖23係表示觸控檢測電極之配置之一例之模式圖。再者，對與上述基本例中所說明者相同之構成要素標註相同之符號並省略重複之說明。
如圖23所示，觸控檢測電極TDL包含小電極部A11、A21、A31、A12、A22、A32。小電極部A11包含在與對向基板3平行之平面上沿像素排列方向(信號線SGL之延伸方向)Dy延伸之複數根導電性細線Ue。各導電性細線Ue係由細線片Ub、細線片Ua及細線片Ub沿方向Dy排列結合而構成。細線片Ua與細線片Ub例如具有以與方向Dy平行之直線為對稱軸之線對稱之形狀。複數根導電性細線Ue係於與像素排列方向正交之方向(掃描線GCL之延伸方向)Dx隔開間隔地設置。相鄰之導電性細線Ue間之間隔且方向Dx之間隔(間距)例如為固定。再者， 導電性細線Ue延伸之方向係將1根導電性細線Ue中之一端部與另一端部連結之直線之方向。或者，導電性細線Ue延伸之方向係1根導電性細線Ue所占之形狀中成為長度方向之方向。又，導電性細線Ue係鋸齒狀線或波狀線。複數根導電性細線Ue之方向Dy之端部係藉由沿方向Dx延伸之細線片Uf而相互結合。再者，細線片Uf設置於複數根導電性細線Ue之端部，但並不限定於此，亦可設置於複數根導電性細線Ue之端部以外之部位、例如複數根導電性細線Ue之中央部。小電極部A21、A31、A12、A22、A32亦具有與小電極部A11相同之構成。
小電極部A11係藉由自小電極部A11沿方向Dy延伸至顯示區域之外側之邊框之佈線部B11，而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T1結合。佈線部B11係由複數個細線片Ua及複數個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。佈線部B11與小電極部A21、A31中所包含之導電性細線之間隔係與導電性細線Ue間之間隔相同。小電極部A21係藉由自小電極部A21沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B21而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T2結合。佈線部B21係由複數個細線片Ua及複數個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。佈線部B21與小電極部A31中所包含之導電性細線之間隔係與導電性細線Ue間之間隔相同。
小電極部A12係藉由自小電極部A12沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B12而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T4結合。佈線部B12係由複數個細線片Ua及複數個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。佈線部B12與小電極部A22、A32中所包含之導電性細線之間隔係與導電性細線Ue間之間隔相同。小電極部A22係藉由自小電極部A22沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B22而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T5結合。佈線部B22係由複數個細線片Ua及複數 個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。佈線部B22與小電極部A32中所包含之導電性細線之間隔係與導電性細線Ue間之間隔相同。藉此，配置小電極部之區域與配置佈線部之區域之遮光性之差變小，因此，可降低觸控檢測電極TDL被視認之可能性。
再者，構成小電極部A31之導電性細線Ue由於小電極部A31位於顯示區域Ad之端部，故不藉由佈線部而直接與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T3結合。同樣地，構成小電極部A32之導電性細線Ue由於小電極部A32位於顯示區域Ad之端部，故不藉由佈線部而直接與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T6結合。
細線片Ua、Ub及Uf之寬度較佳為處於3μm以上且10μm以下之範圍。其原因在於：若細線片Ua、Ub及Uf之寬度為10μm以下，則顯示區域Ad中覆蓋未能由黑矩陣或掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過之開口部的面積變小，而損害開口率之可能性變低。又，其原因在於：若細線片Ua、Ub及Uf之寬度為3μm以上，則形狀穩定，發生斷線之可能性變低。
細線片Ua、Ub及Uf係由作為導電性之金屬材料之鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之合金之金屬材料所形成。或者，細線片Ua、Ub及Uf係由鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、鉬(Mo)、鉻(Cr)、鎢(W)、該等之氧化物(金屬氧化物)所形成，具有導電性。細線片Ua、Ub及Uf亦可以將上述金屬材料與上述金屬氧化物積層1層以上所得之積層體而圖案化。細線片Ua、Ub及Uf亦可以將上述金屬材料或金屬氧化物與作為透光性電極之材料之ITO(Indium Tin Oxide)等透光性導電氧化物積層1層以上所得之積層體而圖案化。細線片Ua、Ub及Uf之電阻低於作為透光性電極之材料之ITO等透光性導電氧化物。細線片Ua、Ub及Uf之材料係相同膜厚下之透過率低於ITO之透過率。例如，細線片Ua、Ub及Uf之材料之透過率亦可為10%以 下。
如圖23所示，小電極部A11、A21、A31之行與小電極部A12、A22、A32之行係具有固定間隔地配置。於配置觸控檢測電極TDL之導電性細線Ue之區域與不存在觸控檢測電極TDL之導電性細線Ue之區域，遮光性存在差異，因此，有觸控檢測電極TDL容易被視認之可能性。因此，於對向基板3，於相鄰之小電極部之行之間配置有未與端子部T1~T6連接之虛設電極TDD。虛設電極TDD係由與觸控檢測電極TDL之導電性細線Ue相同之材料形成。虛設電極TDD只要具有與觸控檢測電極TDL相同程度之遮光性，則亦可為不同之材料。虛設電極TDD係形成於與觸控檢測電極TDL相同之層。藉此，可利用同一步驟形成虛設電極TDD及觸控檢測電極TDL，而可抑制製造步驟。
又，圖23所示之虛設電極TDD包含在與對向基板3平行之平面上延伸之複數個細線片Uc、Ud。細線片Uc、Ud係未與端子部T1~T6連接之細線片。細線片Uc具有與細線片Ua大致相同之形狀。細線片Ud具有與細線片Ub大致相同之形狀。細線片Uc係與細線片Ua平行地配置，細線片Ud係與細線片Ub平行地配置。相鄰之細線片Uc間之間隔且方向Dx之間隔例如為固定，與相鄰之導電性細線Ue間之間隔且方向Dx之間隔相同。相鄰之細線片Ua與細線片Uc之間之間隔且方向Dx之間隔例如為固定，與相鄰之導電性細線Ue間之間隔且方向Dx之間隔相同。相鄰之細線片Ud間之間隔且方向Dx之間隔例如為固定，與相鄰之導電性細線Ue間之間隔且方向Dx之間隔相同。相鄰之細線片Ub與細線片Ud之間之間隔且方向Dx之間隔例如為固定，與相鄰之導電性細線Ue間之間隔且方向Dx之間隔相同。藉此，配置觸控檢測電極TDL之區域與未配置觸控檢測電極TDL之區域之遮光性之差變小，因此，可降低觸控檢測電極TDL被視認之可能性。
於細線片Uc與細線片Ud之間具有不存在與細線片Ua、Ub及Uf相 同之材料之狹縫。因此，狹縫妨礙相對於細線片Uc、Ud延伸之方向之角度不同之部分彼此之電性導通，而產生與觸控檢測電極TDL之電容差。因此，即便於當觸控檢測時手指接近觸控檢測電極TDL與虛設電極TDD之兩者之情形時，虛設電極TDD亦可減小對圖6所示之絕對值|△V|造成之影響。如此，虛設電極TDD藉由狹縫而分割得比觸控檢測電極TDL之導電性細線Ue之面積小，藉此，可減小對觸控檢測之精度造成之影響。再者，細線片Uc、Ud之各者係藉由狹縫而分割，但例如，亦可將一對細線片Uc、Ud結合而製成導電性細線，並將該導電性細線於方向Dy上隔開間隔地排列複數根。
再者，導電性細線Ue與色區域32R、32G、32B之關係可設為與之前參照圖14所說明之關係相同之關係。本實施形態之導電性細線Ue係與圖14之導電性細線ML對應。
若參照圖14，則顯示區域Ad係將色區域32R、32G、32B與各副像素SPix建立對應，且包含複數個將色區域32R、32G、32B設為1組之像素Pix。複數個像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向Dx及與信號線SGL平行之方向Dy配置成矩陣狀。又，同色之色區域係形成與信號線SGL平行之行而延伸。色區域正交方向Dx係相對於同色之色區域延伸之方向正交之方向。各色區域32R、32G、32B之寬度且色區域正交方向Dx之寬度係色區域寬度d。
複數根導電性細線ML(Ue)係於相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向重疊。複數根導電性細線ML(Ue)係以導電性細線間隔P小於彎曲部間長度b與色區域寬度d之和之方式配置。即，複數根導電性細線ML(Ue)係以滿足下述式(1)之方式配置。
P<b+d．．．(1)
進而，導電性細線間隔P較佳為彎曲部間長度b以上。即，複數根導電性細線ML(Ue)較佳為進而滿足下述式(2)。
b≦P．．．(2)
進而，具體而言，導電性細線間隔P較佳為160μm以下。即，複數根導電性細線ML(Ue)較佳為進而滿足下述式(3)。其原因在於：於導電性細線間隔P為160μm以下之情形時，無法以人類的眼睛之解析度對導電性細線ML(Ue)進行解像之可能性提高，而不易被視認。
P≦160μm．．．(3)
此處，玻璃基板31係與本揭示中之「基板」之一具體例對應。像素Pix係與本揭示中之「像素」之一具體例對應。顯示區域Ad係與本揭示中之「顯示區域」之一具體例對應。小電極部A11~A85係與本揭示中之「小電極部」之一具體例對應。小電極部A11、A31、．．．、A75係與本揭示中之「第1組電極」之一具體例對應。小電極部A21、A41、．．．、A85係與本揭示中之「第2組電極」之一具體例對應。端子部T1~T6係與本揭示中之「端子部」之一具體例對應。佈線部B11、B21、B22、B12係與本揭示中之「佈線部」之一具體例對應。細線片Ua係與本揭示中之「第1細線片」之一具體例對應。細線片Ub係與本揭示中之「第2細線片」之一具體例對應。導電性細線Ue係與本揭示中之「導電性細線」之一具體例對應。方向Dy係與本揭示中之「第1方向」之一具體例對應。方向Dx係與本揭示中之「第2方向」之一具體例對應。觸控檢測電極TDL係與本揭示中之「觸控檢測電極」之一具體例對應。驅動電極COML係與本揭示中之「驅動電極」之一具體例對應。
如上所述，像素Pix係沿著與掃描線GCL平行之方向Dx及與信號線SGL平行之方向Dy配置成矩陣狀。於掃描線GCL及信號線SGL由黑矩陣覆蓋之情形時，黑矩陣抑制光之透過。於掃描線GCL及信號線SGL未由黑矩陣覆蓋之情形時，掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過。本實施形態中，沿著與掃描線GCL平行之方向Dx之複數條直線 狀之花樣且具有週期性之花樣容易出現在顯示區域Ad上。又，沿著與信號線SGL平行之方向Dy之複數條直線狀之花樣且具有週期性之花樣容易出現在顯示區域Ad上。因此，於在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上使觸控檢測電極TDL重疊之情形時，出現在顯示區域Ad上之花樣與觸控檢測電極TDL產生干擾而形成明暗花樣，從而有水波紋被視認之可能性。尤其是，於構成小電極部之導電性細線Ue及佈線部為與掃描線GCL或信號線SGL平行之直線狀之情形時，水波紋被視認之可能性變高。又，於色區域32R、32G、32B中特定之色區域被導電性細線Ue遮蔽之情形時，產生每一色區域之亮度之差，因此，有水波紋被視認之可能性。
如圖14所示，關於本實施形態之導電性細線ML(Ue)，若俯瞰觀察整體，則沿與色區域延伸之方向Dy相同之方向延伸，若局部進行觀察，則包含相對於該方向具有角度之部分。又，色區域延伸之方向Dy係與信號線SGL平行之方向。又，導電性細線Ue係鋸齒狀線或波狀線，且包含相對於掃描線GCL或信號線SGL具有角度之部分。因此，與導電性細線Ue為與掃描線GCL或信號線SGL平行之直線狀之情形相比，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A可降低水波紋被視認之可能性。
又，本實施形態之複數根導電性細線Ue可包含與色區域32R、32G、32B形成之顏色之行之全部在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上重疊的部分(參照圖14)。因此，色區域32R、32G、32B中特定之色區域不易被導電性細線Ue遮蔽。因此，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A不易產生每一色區域之亮度之差，而可降低水波紋被視認之可能性。
本實施形態之複數根導電性細線Ue均藉由細線片Ua、Ub之結合而構成，且以滿足上述式(1)之方式配置。藉此，複數根導電性細線 Ue係規則地配置，因此，各導電性細線Ue變得不明顯。因此，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A能夠使導電性細線Ue不易被人類視認出。又，於滿足上述式(1)之情形時，複數根導電性細線Ue必定包含與色區域32R、32G、32B形成之顏色之行之全部在相對於顯示區域Ad之表面垂直之方向上重疊的部分。因此，色區域32R、32G、32B中特定之色區域不易被導電性細線Ue遮蔽。因此，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A不易產生每一色區域之亮度之差，而可降低水波紋被視認之可能性。
進而，於滿足上述式(2)之情形時，相鄰之導電性細線Ue間之間隔保持在一定值以上。因此，顯示區域Ad中由導電性細線Ue覆蓋未能由黑矩陣或掃描線GCL及信號線SGL抑制光之透過之開口部的面積變小。因此，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A可進一步降低損害開口率之可能性。
再者，角度θR及角度θL(參照圖14)較佳為30度以上且40度以下或50度以上且60度以下。由於導電性細線Ue相對於掃描線GCL及信號線SGL所成之角度成為一定大小以上之角度，故明暗花樣之週期容易縮短至人類無法視認之程度。因此，可降低水波紋被視認之可能性。
又，將小電極部與端子部之間結合之佈線部係與小電極部同樣地，藉由細線片Ua、Ub之結合而構成。藉此，小電極部中之因細線片Ua、Ub而產生之遮光與佈線部中之因細線片Ua、Ub而產生之遮光大致相同，因此，本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A可降低因小電極部與佈線部之差異而導致水波紋被視認之可能性。
又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A係於顯示期間內，將觸控檢測電極TDL分為2個組，對第1組電極供給驅動信號Tx，並檢測經由第1組電極與第2組電極之間產生之靜電電容而自第2組電極輸出之觸控檢測信號Rx，藉此，可進行觸控檢測。藉此，附有觸控檢測功能 之顯示裝置1A於顯示期間內亦可進行觸控檢測，可提高對於觸控之響應性，而可提高觸控輸入之自由度。
[第1實施形態之變化例]
其次，對第1實施形態之變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置進行說明。圖24係表示第1實施形態之變化例之觸控檢測電極之配置的模式圖。再者，對與上述基本例中所說明者相同之構成要素標註相同之符號並省略重複之說明。
如圖24所示，第1實施形態之變化例之觸控檢測電極TDL包含小電極部A11、A21、A31、A12、A22、A32。小電極部A11包含在與對向基板3平行之平面上沿像素排列方向(信號線SGL之延伸方向)Dy延伸之複數根導電性細線ML1及複數根導電性細線ML2。複數根導電性細線ML1及複數根導電性細線ML2係沿與像素排列方向正交之方向(掃描線GCL之延伸方向)Dx交替地排列結合而構成。
導電性細線ML1係基本例之變化例1中所示之導電性細線ML。導電性細線ML2具有相對於導電性細線ML1以與方向Dy平行之直線為對稱軸之線對稱之形狀。導電性細線ML2係由與導電性細線ML1相同之材料形成。導電性細線ML2係以導電性細線ML1之彎曲部與導電性細線ML2之彎曲部結合而形成交叉部TDX的方式配置。導電性細線ML1與導電性細線ML2係利用交叉部TDX而導通。藉此，導電性細線ML1與導電性細線ML2形成由細線片Ua及細線片Ub包圍之包圍區域mesh1。再者，導電性細線ML1與導電性細線ML2亦可不利用彎曲部連接。例如，亦可利用導電性細線ML1中之細線片Ua之中間部與導電性細線ML2中之細線片Ub之中間部連接而導通。再者，導電性細線ML1、ML2延伸之方向係將1根導電性細線ML1、ML2中之一端部與另一端部連結之直線之方向。或者，導電性細線ML1、ML2延伸之方向係1根導電性細線ML1、ML2所占之形狀中成為長度方向之方向。 又，導電性細線ML1、ML2係鋸齒狀線或波狀線。小電極部A21、A31、A12、A22、A32亦具有與小電極部A11相同之構成。
小電極部A11係藉由自小電極部A11沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B11而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T1結合。佈線部B11係由複數個細線片Ua及複數個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。小電極部A21係藉由自小電極部A21沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B21而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T2結合。小電極部A12係藉由自小電極部A12沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B12而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T4結合。小電極部A22係藉由自小電極部A22沿方向Dy延伸至邊框之佈線部B22而與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T5結合。佈線部B21、B12、B22係與佈線部B11同樣地，由複數個細線片Ua及複數個細線片Ub沿方向Dy交替地排列結合而構成。再者，構成小電極部A31之導電性細線ML1、ML2由於小電極部A31位於顯示區域Ad之端部，故不藉由佈線部而直接與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T3結合。同樣地，構成小電極部A32之導電性細線ML1、ML2由於小電極部A32位於顯示區域Ad之端部，故不藉由佈線部而直接與形成於觸控檢測器件30A之邊框之端子部T6結合。
虛設電極TDD包含細線片Uc及細線片Ud。細線片Uc具有與細線片Ua大致相同之形狀。細線片Ud具有與細線片Ub大致相同之形狀。細線片Uc係與細線片Ua平行地配置，細線片Ud係與細線片Ub平行地配置。又，細線片Uc與細線片Ud係以由2個細線片Uc及2個細線片Ud包圍之包圍區域mesh2之面積與包圍區域mesh1相同之方式配置。藉此，配置觸控檢測電極TDL之區域與未配置觸控檢測電極TDL之區域之遮光性之差變小，因此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1A可降低觸控檢測電極TDL容易被視認之可能性。
藉由上述構成，即便導電性細線ML1與導電性細線ML2中之一導電性細線之一部分變細而導通不可靠，由於在交叉部TDX與另一導電性細線連接，故第1實施形態之變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置亦可提高觸控檢測之概率。
<3.第2實施形態> [構成例] (整體構成例)
圖25係表示本發明之第2實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1B包括附有觸控檢測功能之顯示器件10A、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40B。觸控檢測部40B係如下電路，即，根據自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示器件10A之觸控檢測器件30A供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無針對觸控檢測器件30A之觸控(接觸或接近之狀態)，於有觸控之情形時求出觸控檢測區域中之其座標等。該觸控檢測部40B除包括觸控檢測信號放大部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標抽取部45及檢測時序控制部46以外，亦包括X檢測部47、Y檢測部48、A/D轉換部49及A/D轉換部50。
如之前所說明般，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B具有觸控檢測期間及顯示期間(參照圖12)。附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係於觸控檢測期間內，如之前所說明般，利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式，使用觸控檢測信號放大部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標抽取部45及檢測時序控制部46而進行觸控檢測。進而，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係於顯示期間內，將觸控檢測電極TDL分為2個組，利用第1組電極中之自靜電電容方式，使用Y檢測部48、A/D轉換部50、信號處理部44及座標抽取部 45進行觸控之Y座標檢測。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係於顯示期間內，利用第2組電極中之自靜電電容方式，使用X檢測部47、A/D轉換部49、信號處理部44及座標抽取部45進行觸控之X座標檢測。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B於顯示期間內亦可進行觸控檢測，可提高對於觸控之響應性，而可提高觸控輸入之自由度。
圖26係表示於顯示期間及觸控檢測期間內供給至驅動電極、第1組電極及第2組電極之信號之時序之概要的圖。再者，於圖26中，連續地表示顯示期間與觸控檢測期間，但於顯示期間與觸控檢測期間之間亦可存在不進行顯示及觸控檢測之期間。
驅動電極驅動器14係於顯示期間內將顯示用之直流電位Vcomd(COMDC)供給至驅動電極COML。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B進行圖像顯示。又，驅動電極驅動器14係於觸控檢測期間內將觸控檢測用之驅動信號Vcomt(Tx)供給至驅動電極COML。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式而進行觸控檢測。
X檢測部47係於顯示期間內，對第2組電極供給電荷，然後檢測對第2組電極之自靜電電容所充電之電荷，並輸出至A/D轉換部49。A/D轉換部49係對自X檢測部47輸入之信號進行A/D轉換，並輸出至信號處理部44。信號處理部44係根據A/D轉換部49之輸出信號，檢測有無對觸控檢測器件30A之觸控的邏輯電路。信號處理部44進行僅擷取因手指所致之差分之電壓之處理。信號處理部44係將檢測到之因手指所致之差分之電壓與特定之閾值電壓進行比較，若為該閾值電壓以上，則判斷為自外部接近之外部接近物體接觸狀態，若未達閾值電壓，則判斷為外部接近物體非接觸狀態。以此方式，觸控檢測部40B可進行觸控檢測。座標抽取部45係於信號處理部44檢測到觸控時求出 其觸控面板座標的邏輯電路。座標抽取部45輸出觸控面板之X座標。再者，X檢測部47係於觸控檢測期間內不進行動作，不對第2組電極進行電荷之供給。
Y檢測部48係於顯示期間內，對第1組電極供給電荷，然後檢測對第1組電極之自靜電電容所充電之電荷，並輸出至A/D轉換部50。A/D轉換部50係對自Y檢測部48輸入之信號進行A/D轉換，並輸出至信號處理部44。信號處理部44係根據A/D轉換部50之輸出信號，檢測有無對觸控檢測器件30A之觸控的邏輯電路。信號處理部44進行僅擷取因手指所致之差分之電壓之處理。信號處理部44係將檢測到之因手指所致之差分之電壓與特定之閾值電壓進行比較，若為該閾值電壓以上，則判斷為自外部接近之外部接近物體接觸狀態，若未達閾值電壓，則判斷為外部接近物體非接觸狀態。以此方式，觸控檢測部40B可進行觸控檢測。座標抽取部45係於信號處理部44檢測到觸控時求出其觸控面板座標的邏輯電路。座標抽取部45輸出觸控面板之Y座標。再者，Y檢測部48係於觸控檢測期間內不進行動作，不對第1組電極進行電荷之供給。
再者，於顯示期間內，X檢測部47、Y檢測部48、A/D轉換部49及A/D轉換部50進行動作而檢測觸控，因此，觸控檢測信號放大部42及A/D轉換部43不進行動作。
(自靜電電容方式觸控檢測之基本原理)
X檢測部47及Y檢測部48係於顯示期間內，根據自靜電電容方式觸控檢測之基本原理進行動作，而檢測有無觸控。參照圖27~圖30，對本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1B中之自靜電電容方式觸控檢測之基本原理進行說明。圖27及圖28係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。圖29及圖30係為了說明自靜電電容方式觸控檢測之基本原理而表示手 指接觸或接近之狀態之說明圖。
首先，如圖27所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與電源電壓Vcc連接。觸控檢測電極TDL包含靜電電容C3，電荷自電源電位Vcc沿箭頭203之方向朝觸控檢測電極TDL流動，觸控檢測電極TDL被充電與靜電電容C3對應之電荷。
其次，如圖28所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與檢測電路202連接，已充電至觸控檢測電極TDL之電荷係沿箭頭204之方向朝檢測電路202流動。檢測電路202可藉由計測自觸控檢測電極TDL流入之電荷，而檢測觸控檢測電極TDL之靜電電容C3。
其次，對手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形進行說明。如圖29所示，手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形時，手指之靜電電容C2加入至觸控檢測電極TDL之靜電電容C3。因此，若觸控檢測電極TDL藉由開關201與電源電壓Vcc連接，則電荷自電源電位Vcc沿箭頭203之方向朝觸控檢測電極TDL流動，觸控檢測電極TDL及手指被充電與靜電電容C3及C2對應之電荷。
繼而，如圖30所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與檢測電路202連接，已充電至觸控檢測電極TDL及手指之電荷係沿箭頭204之方向朝檢測電路202流動。檢測電路202可藉由計測自觸控檢測電極TDL及手指流入之電荷，而檢測觸控檢測電極TDL與手指之靜電電容。
(觸控檢測器件)
其次，對觸控檢測器件30A之構成例詳細進行說明。圖31係自與顯示期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於觸控檢測器件30A之對向基板3上，複數個小電極部A11、A21、．．．、A85形成為像素排列方向(信號線SGL之延伸方向)Dy上8列且與像素排列方向正交之方向(掃描線GCL之延伸方向)Dx上5行 的矩陣狀。該等複數個小電極部構成觸控檢測電極TDL。再者，此處，複數個小電極部形成為8列5行，但並不限定於此，亦可形成數量更多之小電極部。又，複數個小電極部形成為矩陣狀，但並不限定於此，例如，亦可形成為各列與鄰接之列於方向Dx上錯開或者各行與鄰接之行於方向Dy上錯開。
複數個小電極部構成第1組電極與第2組電極。第1組電極係由小電極部A11、A31、．．．、A71、A22、．．．、A75構成。第2組電極係由小電極部A21、A41、．．．、A81、A12、．．．、A85構成。即，第1組電極與第2組電極係於對向基板3上形成棋盤格花樣。再者，此處，第1組電極與第2組電極於對向基板3上形成棋盤格花樣，但並不限定於此。較佳為以第1組電極中所包含之小電極部之數量與第2組電極中所包含之小電極部之數量為大致相同之數量為佳。
圖32係表示顯示期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。於顯示期間內，對構成第1組電極之小電極部A11、A31、A51、A71、A22、A42、A62，首先自Y檢測部48供給電荷。然後，Y檢測部48係檢測對第1組電極之自靜電電容所充電之電荷，並輸出至A/D轉換部50。A/D轉換部50係藉由對已充電至第1組電極之自靜電電容之電荷進行A/D轉換而進行觸控檢測。即，觸控檢測器件30A係於顯示期間內，依據上述自靜電電容方式觸控檢測之基本原理檢測觸控之Y座標。
又，於顯示期間內，對構成第2組電極之小電極部A21、A41、A61、A12、A32、A52、A72，首先自X檢測部47供給電荷。然後，X檢測部47係檢測對第2組電極之自靜電電容所充電之電荷，並輸出至A/D轉換部49。A/D轉換部49係藉由對已充電至第2組電極之自靜電電容之電荷進行A/D轉換而進行觸控檢測。即，觸控檢測器件30A係於顯示期間內，依據上述自靜電電容方式觸控檢測之基本原理檢測觸控 之X座標。
圖33係自與觸控檢測期間內之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於觸控檢測期間內，第1行之小電極部A11、A21、．．．、A81構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C11。同樣地，第2行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C12，第3行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C13，第4行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C14，第5行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C15。該等觸控檢測電極C11~C15構成觸控檢測電極TDL。
圖34係表示觸控檢測期間內之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。形成1行之小電極部A11、A21、A31、A41、A51、A61、A71係於觸控檢測期間內電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C11。同樣地，形成1行之小電極部A12、A22、A32、A42、A52、A62、A72係於觸控檢測期間內電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C12。觸控檢測電極C11、C12係於觸控檢測期間內與在與觸控檢測器件之主面垂直之方向上相隔地交叉之驅動電極COML(參照圖9、圖11及圖16)之間產生靜電電容。
如之前所說明般，驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30A之驅動電極發揮功能。若參照圖9，則驅動電極COML係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向。觸控檢測器件30A係包含設置於像素基板2之驅動電極COML、及設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)而構成。若參照圖11，則觸控檢測電極TDL係包含沿與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條狀之電極圖案(觸控檢測電極C11~C15)而構成。而且，觸控檢測電極TDL 係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案(觸控檢測電極C11~C15)係與觸控檢測部40B之觸控檢測信號放大部42之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與觸控檢測電極TDL而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。
藉由該構成，於觸控檢測器件30A，於觸控檢測期間內，驅動電極驅動器14以分時地對驅動電極區塊線序掃描之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan驅動電極COML之1檢測區塊依序被選擇。然後，自觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)輸出觸控檢測信號Rx(Vdet)。如此，觸控檢測器件30A進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應，觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C11~C15)係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30A係於觸控檢測期間內，依據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件30A之觸控檢測面整體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
再者，各小電極部與X檢測部47之間之連接、各小電極部與Y檢測部48之間之連接、或各小電極部與觸控檢測信號放大部42之間之連接之切換例如可藉由於各小電極部與X檢測部47、Y檢測部48或觸控檢測信號放大部42之間之佈線上設置開關元件並藉由控制部11控制該等開關元件而進行，亦可藉由X檢測部47及Y檢測部48之輸入輸出段(輸入輸出緩衝部)及觸控檢測信號放大部42之輸入段(輸入緩衝部)而進行。
(觸控檢測電極之配置)
再者，小電極部A11~A85之內部構成係與之前所說明之第1實施形態(參照圖23)、或第1實施形態之變化例(參照圖24)相同。
本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1B發揮與之前所說明之第1實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1A相同之效果，除此以外，亦發揮如下效果。本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係於顯示期間內，利用第2組電極中之自靜電電容方式檢測觸控之X座標，並利用第1組電極中之自靜電電容方式檢測觸控之Y座標。自靜電電容方式係對筆尖或指尖等不與觸控面接觸而位於觸控面之上空之所謂懸浮輸入有效。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B係於觸控檢測期間內，利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL(包含第1組電極及第2組電極)之間之互靜電電容方式，檢測觸控之X座標及Y座標。互靜電電容方式與自靜電電容方式相比，對利用筆之輸入、或同時進行複數個部位之觸控之所謂多點觸控輸入有效。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B藉由交替地重複對所謂懸浮輸入有效之自靜電電容方式(顯示期間)、及對利用筆之輸入或所謂多點觸控輸入有效之互靜電電容方式(觸控檢測期間)，可有效地檢測所謂懸浮輸入、利用筆之輸入及所謂多點觸控輸入。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1B可提高觸控輸入之自由度。
<4.第3實施形態> [構成例] (整體構成例)
圖35係表示本發明之第3實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1C包括附有觸控檢測功能之顯示器件10A、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40C。觸控檢測部40C係如下電路，即，根據自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示器件10A之觸控檢測器件30A供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無針對觸控檢測器件30A之觸控(接觸或接近之狀態)，於有觸控 之情形時求出觸控檢測區域中之其座標等。該觸控檢測部40C包括第1觸控檢測信號放大部42A、第2觸控檢測信號放大部42B、第1A/D轉換部43A、第2A/D轉換部43B、信號處理部44、座標抽取部45及檢測時序控制部46。
如之前所說明般，附有觸控檢測功能之顯示裝置1C具有觸控檢測期間及顯示期間(參照圖12)。附有觸控檢測功能之顯示裝置1C具有於觸控檢測期間內以較高之精細度進行觸控檢測之高精細觸控檢測模式、及以較低之精細度進行觸控檢測之低精細觸控檢測模式。附有觸控檢測功能之顯示裝置1C係於低精細觸控檢測模式下，利用作為構成觸控檢測電極TDL之複數個小電極部之一部分之第1組電極與驅動電極COML之間之互靜電電容方式而進行觸控檢測。附有觸控檢測功能之顯示裝置1C係於高精細觸控檢測模式下，利用第1組電極及觸控檢測電極TDL之第1組電極以外之第2組電極與驅動電極COML之間之互靜電電容方式而進行觸控檢測。
第1觸控檢測信號放大部42A係將自觸控檢測器件30A之第1組電極供給之觸控檢測信號Rx(Vdet)放大。第1觸控檢測信號放大部42A亦可包括去除觸控檢測信號Rx中所包含之高頻成分(雜訊成分)，擷取觸控成分並分別輸出的低通類比濾波器。第1A/D轉換部43A係以與驅動信號Vcom同步之時序，對自第1觸控檢測信號放大部42A輸出之類比信號分別取樣並轉換為數位信號的電路。再者，由於第1組電極在高精細觸控檢測模式及低精細觸控檢測模式之兩種模式下被使用，故第1觸控檢測信號放大部42A及第1A/D轉換部43A係以高精細觸控檢測模式及低精細觸控檢測模式之兩種模式進行動作。
第2觸控檢測信號放大部42B係將自觸控檢測器件30A之第2組電極供給之觸控檢測信號Rx(Vdet)放大。第2觸控檢測信號放大部42B亦可包括去除觸控檢測信號Rx中所包含之高頻成分(雜訊成分)，擷取觸 控成分並分別輸出的低通類比濾波器。第2A/D轉換部43B係以與驅動信號Vcom同步之時序，對自第2觸控檢測信號放大部42B輸出之類比信號分別取樣並轉換為數位信號的電路。再者，由於第2組電極在高精細觸控檢測模式下被使用，故第2觸控檢測信號放大部42B及第2A/D轉換部43B係以高精細觸控檢測模式進行動作。因此，第2觸控檢測信號放大部42B係於低精細觸控檢測模式下不進行動作。
(觸控檢測器件)
其次，對觸控檢測器件30A之構成例詳細進行說明。圖36係自與高精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於觸控檢測器件30A之對向基板3上，形成有沿像素排列方向(信號線SGL之延伸方向)Dy延伸之複數個觸控檢測電極C101~C111。複數個觸控檢測電極C101~C111分別包含沿方向Dy排列之複數個小電極部。複數個觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111構成第1組電極，複數個觸控檢測電極C102、C104、．．．、C110構成第2組電極。
再者，此處，第1組電極與第2組電極每隔1根地交替排列，但並不限定於此，亦可每隔2根以上地交替排列。
圖37係表示高精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。第1行之小電極部A11、A21、A31、A41、A51係於高精細觸控檢測模式下電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C101。觸控檢測電極C101係與第1觸控檢測信號放大部42A結合，並將觸控檢測信號Rx(Vdet)輸出至第1觸控檢測信號放大部42A。同樣地，第2行之小電極部A12、A22、A32、A42、A52構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C102。觸控檢測電極C102係與第2觸控檢測信號放大部42B結合，並將觸控檢測信號Rx(Vdet)輸出至第2觸控檢測信號放大部42B。
圖38係自與低精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之主面垂直之方向觀察所得的概要俯視圖。於低精細觸控檢測模式下，第1行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C101。同樣地，第3行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C103，第5行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C105，第7行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C107，第9行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C109，第11行之小電極部構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C111。該等觸控檢測電極C101、C103、C105、C107、C109、C111構成第1組電極。
於低精細觸控檢測模式下，第2行之小電極部A102~A801成為電性浮動狀態。同樣地，第4行之小電極部A104~A804成為電性浮動狀態，第6行之小電極部A106~A806成為電性浮動狀態，第8行之小電極部A108~A808成為電性浮動狀態，第10行之小電極部A110~A810成為電性浮動狀態。
圖39係表示低精細觸控檢測模式下之觸控檢測器件之一部分之概要俯視圖。第1行之小電極部A101、A201、A301、A401、A501係於低精細觸控檢測模式下電性結合而構成沿方向Dy延伸之假想之1根觸控檢測電極C101。觸控檢測電極C101係與第1觸控檢測信號放大部42A結合，並將觸控檢測信號Rx(Vdet)輸出至第1觸控檢測信號放大部42A。
另一方面，第2行之小電極部A102、A202、A302、A402、A502係於低精細觸控檢測模式下成為電性浮動狀態。
再者，第2行之小電極部A102、A202、A302、A402、A502與第2觸控檢測信號放大部42B之間之結合及非結合之切換例如可藉由於第2行之小電極部A102、A202、A302、A402、A502與第2觸控檢測信號 放大部42B之間之佈線上設置開關元件S11(參照圖37及圖39)並藉由控制部11控制該開關元件S11而進行，亦可藉由第2觸控檢測信號放大部42B之輸入段(輸入緩衝部)而進行。
如之前所說明般，驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30A之驅動電極發揮功能。於高精細觸控檢測模式下，構成觸控檢測電極TDL之觸控檢測電極C101~C111係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向(參照圖9)。觸控檢測電極TDL中之第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)係與第1觸控檢測信號放大部42A之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。同樣地，觸控檢測電極TDL中之第2組電極(觸控檢測電極C102、C104、．．．、C110)係與第2觸控檢測信號放大部42B之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與第2組電極(觸控檢測電極C102、C104、．．．、C110)而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。
藉由該構成，於觸控檢測器件30A，於高精細觸控檢測模式下，驅動電極驅動器14以分時地對驅動電極區塊線序掃描之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan驅動電極COML之1檢測區塊依序被選擇(參照圖11)。然後，自觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C101~C111)輸出觸控檢測信號Rx(Vdet)。如此，觸控檢測器件30A進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應，觸控檢測電極TDL(觸控檢測電極C101~C111)係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30A係於高精細觸控檢測模式下，依據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件 30A之觸控檢測面整體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
又，於低精細觸控檢測模式下，構成觸控檢測電極TDL之第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向(參照圖9)。構成觸控檢測電極TDL之第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)係與第1觸控檢測信號放大部42A之輸入分別結合。藉由驅動電極COML與第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。
藉由該構成，於觸控檢測器件30A，於低精細觸控檢測模式下，驅動電極驅動器14以分時地對驅動電極區塊線序掃描之方式驅動。藉此，於掃描方向Scan驅動電極COML之1檢測區塊依序被選擇(參照圖11)。然後，自構成觸控檢測電極TDL之第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)輸出觸控檢測信號Rx(Vdet)。如此，觸控檢測器件30A進行1檢測區塊之觸控檢測。即，驅動電極區塊係與上述觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應，構成觸控檢測電極TDL之第1組電極(觸控檢測電極C101、C103、．．．、C111)係與觸控檢測電極E2對應，且觸控檢測器件30A係於低精細觸控檢測模式下，依據該基本原理檢測觸控。如圖11所示，相互交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件30A之觸控檢測面整體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
再者，高精細觸控檢測模式與低精細觸控檢測模式之切換可藉由已接受來自使用者之指示輸入之電子機器之應用處理器(主機CPU(Central Processing Unit，中央處理單元))向控制部11傳送切換控制信號並由控制部11控制觸控檢測部42C而進行。
(觸控檢測電極之配置)
再者，小電極部之內部構成係與之前所說明之第1實施形態(參照圖23)、或第1實施形態之變化例(參照圖24)相同。
此處，高精細觸控檢測模式係與本揭示中之「第1模式」之一具體例對應。低精細觸控檢測模式係與本揭示中之「第2模式」之一具體例對應。
本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1C發揮與之前所說明之基本例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1相同之效果，除此以外，亦發揮如下效果。本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1C係於高精細觸控檢測模式下，利用驅動電極COML與第1組電極及第2組電極之間之互靜電電容方式檢測觸控。藉此，可進行高精細之觸控檢測，例如，對利用較細之筆尖之觸控檢測有效。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1C係於低精細觸控檢測模式下，利用驅動電極COML與第1組電極之間之互靜電電容方式檢測觸控。此時，第2組電極成為電性浮動狀態，因此，驅動電極COML與第1組電極之間之邊緣電場容易通過第2組電極所占之部分並到達至觸控面之上空。藉此，對筆尖或指尖等不與觸控面接觸而位於觸控面之上空之所謂懸浮輸入有效。因此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1C藉由切換可進行高精細之觸控檢測之高精細觸控檢測模式與對所謂懸浮輸入有效之低精細觸控檢測模式，可提高觸控輸入之自由度。
再者，第1~第3實施形態係於將複數個小電極部分為2個組並分開使用各組之方面共通。因此，可組合第1~第3實施形態。此時，作為複數個小電極部之一部分之一組之電極可與第1實施形態之第2組電極、第2實施形態之第1組或第2組電極、第3實施形態之第1組電極對應。即，作為複數個小電極部之一部分之一組之電極可始終用作觸控檢測電極。另一方面，作為複數個小電極部之另一部分之另一組之電 極可與第1實施形態之第1組電極、第2實施形態之第2組或第1組電極、第3實施形態之第2組電極對應。即，作為複數個小電極部之另一部分之另一組之電極可用作觸控檢測電極、驅動電極或浮動電極。
<5.應用例(電子機器)>
其次，參照圖40~圖52，對本實施形態及變化例中所說明之附有觸控檢測功能之顯示裝置之應用例進行說明。圖40~圖52係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置或顯示裝置之電子機器之一例的圖。本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話等移動終端裝置或攝錄影機等所有領域之電子機器。換言之，本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置可應用於將自外部輸入之影像信號或於內部產生之影像信號顯示為圖像或影像之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖40所示之電子機器係應用本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置的電視裝置。該電視裝置例如包括包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部510，該影像顯示畫面部510係本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置。
(應用例2)
圖41及圖42所示之電子機器係應用本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置的數位相機。該數位相機例如包含快閃用之發光部521、顯示部522、選單開關523及快門按鈕524，上述顯示部522係本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1及顯示裝置。如圖41所示，該數位相機包含透鏡蓋525，藉由使透鏡蓋525滑動而露出攝影透鏡。數位相機可藉由拍攝自上述攝影透鏡入 射之光而拍攝數位照片。
(應用例3)
圖43所示之電子機器係表示應用本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置之攝錄影機之外觀者。該攝錄影機例如包含本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體攝影用之透鏡532、攝影時之起動/終止開關533及顯示部534。而且，顯示部534係本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置。
(應用例4)
圖44所示之電子機器係應用本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置的筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦例如包含本體541、用於字符等之輸入操作之鍵盤542及顯示圖像之顯示部543，顯示部543係本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置。
(應用例5)
圖45~圖51所示之電子機器係應用本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置的行動電話。該行動電話係例如利用連結部(鉸鏈部)553將上側殼體551與下側殼體552連結而成者，且包含顯示器554、次顯示器555、圖片燈556及相機557。上述顯示器554或次顯示器555係本實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置。
(應用例6)
圖52所示之電子機器係作為行動式電腦、多功能之行動電話、可語音通話之行動電腦或可通信之行動電腦進行動作，且有時亦稱為所謂智慧型手機、平板的個人數位助理。該個人數位助理例如於殼體561之表面包含顯示部562。該顯示部562係本實施形態及變化例之附 有觸控檢測功能之顯示裝置及顯示裝置。
又，本揭示亦可採取以下之構成。
(1)一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；複數個小電極部，其等排列於與上述基板之主面平行之面；及複數個驅動電極，其等於與上述複數個小電極部之間形成靜電電容；且作為上述複數個小電極部之一部分之一組之電極係用作觸控檢測電極，作為上述複數個小電極部之另一部分之另一組之電極係用作觸控檢測電極、第2驅動電極或浮動電極。
A11、A12、A21、A22、A31、A32‧‧‧小電極部
B11‧‧‧佈線部
B12‧‧‧佈線部
B21‧‧‧佈線部
B22‧‧‧佈線部
Dx‧‧‧色區域正交方向
Dy‧‧‧像素排列方向
T1‧‧‧端子部
T2‧‧‧端子部
T3‧‧‧端子部
T4‧‧‧端子部
T5‧‧‧端子部
T6‧‧‧端子部
TDD‧‧‧虛設電極
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Ua‧‧‧細線片
Ub‧‧‧細線片
Uc‧‧‧細線片
Ud‧‧‧細線片
Ue‧‧‧導電性細線
Uf‧‧‧細線片

Claims (8)

  1. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係有與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成，上述複數個小電極部各自包含複數根上述導電性細線，上述複數根導電性細線係於與上述第1方向交叉之第2方向上隔開固定之間隔而配置。
  2. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述複數個小電極部呈矩陣狀排列，上述佈線部係與該佈線部所結合之小電極部之位於上述第1方向側之小電極部內之導電性細線隔開上述固定之間隔而配置。
  3. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述第1細線片與上述第2細線片具有以上述第1方向為軸之線對稱之形狀。
  4. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係有與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成，上述顯示裝置進而包括：驅動信號驅動器，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極供給驅動信號；及觸控檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，根據經由作為上述複數個小電極部之另一部分之第2組電極與上述第1組電極之間的互靜電電容而出現在上述第2組電極之信號，檢測物體之接觸或接近。
  5. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數 個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係有與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成，上述顯示裝置進而包括：X檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極供給電荷，然後根據對上述第1組電極所充電之電荷，檢測物體之接觸或接近位置之X座標；及Y檢測部，其於在上述顯示區域進行圖像顯示之期間，對作為上述複數個小電極部之另一部分之第2組電極供給電荷，然後根據對上述第2組電極所充電之電荷，檢測物體之接觸或接近位置之Y座標。
  6. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之 複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係有與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成，上述顯示裝置具有於未在上述顯示區域進行圖像顯示之期間以不同之檢測特性檢測物體之接觸或接近的第1模式與第2模式，且進而包括：驅動電極驅動器，其於上述第1模式及上述第2模式之兩種模式下，對上述複數個驅動電極供給驅動信號；第1觸控檢測信號放大部，其於上述第1模式及上述第2模式之兩種模式下，根據經由上述複數個驅動電極與作為上述複數個小電極部之一部分之第1組電極之間的互靜電電容而出現在上述第1組電極之信號，檢測物體之接觸或接近；及第2觸控檢測信號放大部，其於上述第2模式下，根據經由上述複數個驅動電極與作為上述複數個小電極部之另一部分之第2組電極之間的互靜電電容而出現在上述第2組電極之信號，檢測物體之接觸或接近。
  7. 如請求項6之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述第2組電極係於上述第2模式下設為電性浮動狀態。
  8. 一種電子機器，其包括附有觸控檢測功能之顯示裝置， 上述附有觸控檢測功能之顯示裝置包含：基板；顯示區域，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個像素；觸控檢測電極，其包含排列於與上述基板之主面平行之面之複數個小電極部；複數個佈線部，其等將上述複數個小電極部與形成於上述顯示區域之外側之端子部電性結合；及複數個驅動電極，其等於與上述觸控檢測電極之間形成靜電電容；且上述小電極部包含至少1根導電性細線，該導電性細線係有與第1方向形成第1角度之至少1個第1細線片和與上述第1方向形成第2角度之至少1個第2細線片於上述第1方向側結合，上述佈線部係由至少1個上述第1細線片與至少1個上述第2細線片於上述第1方向側結合而構成，上述複數個小電極部各自包含複數根上述導電性細線，上述複數根導電性細線係於與上述第1方向交叉之第2方向上隔開固定之間隔而配置。
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