TWI531803B - 電路板之測試系統 - Google Patents

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TWI531803B
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張倍銘
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致伸科技股份有限公司
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester

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Description

電路板之測試系統
本發明係關於一種測試系統，尤其係關於電路板之測試系統。
隨著科技之發展，電子設備已普及化至個人使用者，常見的電子設備包括電腦主機、筆記型電腦、手機等可攜式電子設備，且其週邊輸入裝置可配合電子設備使用，以提升操作電子設備之便利性。其中，週邊輸入裝置包括滑鼠裝置、鍵盤裝置以及軌跡球裝置等。
無論是電子設備或其週邊輸入裝置，其內部皆設置有電路板，以使電子設備或其週邊輸入裝置藉由電路板上之電路以及電子元件而運作。於電子設備或其週邊輸入裝置之製造過程中，必須進行測試，以確保電子設備或其週邊輸入裝置之功能正常。其測試包含有於電子設備或其週邊輸入裝置組裝完成前之電路板測試，以及其組裝完成後之功能性測試。其中，對電路板的測試是為了避免於電子設備或其週邊輸入裝置組裝 完成之後才發現電路板有缺陷存在時，必須拆卸電子設備或其週邊輸入裝置來除錯，其將造成的工時浪費。
一般而言，電路板的測試包含有靜態測試以及動態測試，靜態測試即為斷電測試，藉由不供電至電路板而測試電路板上之電子元件，其中電子元件包括電感、電容或電阻等包含有電阻值之電子元件。至於動態測試即為通電測試，藉由供電至電路板而測試電路板上之電子元件之功能是否可正常運作。
電路板之靜態測試係測試人員利用電錶上之接觸探針依序對電路板上之複數電子元件測量，不但耗時，更耗人力，測試人員經過長時間手動測試之後，測試人員容易因疲累而重複測量，或者接觸探針無法準確地與電子元件接觸以造成誤判。故以人力測試之傳統靜態測試方法不但耗時耗力，亦容易發生誤判之情形。
至於電路板之動態測試即為通電測試，其必須對電路板通電，且進行電路板之功能性測試。傳統動態測試方法如下：測試人員將電路板連接於電腦系統，使電路板通電且與電腦系統進行通訊，且電腦系統與電路板互相交換其裝置資訊(包含辨識身分資訊以及規格資訊等等)。當電腦系統辨識出電路板之後，測試人員可利用電錶之接觸探針依序測量電路板上之電子元件之電壓值，且測試人員可藉由所測量到之電壓值是否符合預期而判定電路板是否通過測試。藉由人力測試之傳統動態測試方法之缺點與前述傳統靜態測試方法相同：測試人員經過長時間手動測試之後，測試人員容易因疲累而重複測量，或者接觸探針無法準確地與電子元件接觸以造成誤判。
因此，需要一種不需以人力測量之電路板之測試系統。
本發明之目的在於提供一種不需以人力測量之測試電路板之測試系統。
於一較佳實施例中，本發明提供一種電路板之測試系統，包括一電腦系統以及一測試治具，該測試治具分別連接於一電路板以及該電腦系統，用以獲得該電路板之一電子元件之一實際電壓值。該測試治具包括一接觸元件、一開關電路、一連接模組以及一資料擷取元件，該接觸元件設置於該測試治具上，用以與該電路板之該電子元件接觸，而該開關電路連接於該接觸元件。該連接模組連接於該開關電路以及該電路板，用以連接該電路板以及該電腦系統，使該電腦系統與該電路板進行通訊溝通，且該電腦系統經由該連接模組傳輸一電力至該電路板。該資料擷取元件電性連接於該開關電路以及該電腦系統，用以提供一啟動電壓至該開關電路，使該連接模組運作，並獲得該電子元件之一實際電壓值。該資料擷取元件包括一數位輸出接腳以及一類比輸入接腳，該數位輸出接腳連接於該開關電路，用以輸出該啟動電壓至該開關電路。該類比輸入接腳連接於該電子元件，用以獲得該電子元件之該實際電壓值；其中當該類比輸入接腳獲得該實際電壓值時，該資料擷取元件傳輸該實際電壓值至該電腦系統，使該電腦系統根據該實際電壓值而判斷該電路板是否通過測試。
1、2、4‧‧‧電路板之測試系統
11、21、31、41‧‧‧測試治具
12、22、32、42‧‧‧電腦系統
111、211、311、411‧‧‧接觸元件
112、212、412‧‧‧開關電路
113、213、313、413‧‧‧連接模組
114、214、314、414‧‧‧資料擷取元件
121、221、321、421‧‧‧電腦主機
122、222、322、422‧‧‧顯示螢幕
123、223‧‧‧通用串列匯流排介面
124、224、324、424‧‧‧第一傳輸接腳
125、225、325、425‧‧‧第二傳輸接腳
126、226、326、426‧‧‧第三傳輸接腳
1121‧‧‧第一單刀單擲繼電器
1122、2121、3121‧‧‧驅動電路
1131、2131、3131、4131‧‧‧供電電路
1132、2132、3132、4132‧‧‧通訊電路
1133‧‧‧第二單刀單擲繼電器
1134‧‧‧雙刀雙擲繼電器
2122~2126‧‧‧單刀單擲繼電器
2133、3133‧‧‧第一雙刀雙擲繼電器
2134、3134‧‧‧第二雙刀雙擲繼電器
4121‧‧‧光繼電器
AI1~AI7‧‧‧類比輸入接腳
AO‧‧‧數位輸出接腳
B1~B4‧‧‧光束
D1‧‧‧第一二極體、第一光發射器
D2‧‧‧第二二極體、第二光發射器
D3‧‧‧第三光發射器
D4‧‧‧第四光發射器
DO1~DO7‧‧‧數位輸出接腳
F1~F4‧‧‧金屬氧化物半導體場效電晶體
IN1~IN7‧‧‧輸入接腳
OUT1~OUT7‧‧‧輸出接腳
P、P1‧‧‧電路板
R1~R5‧‧‧固定電阻
Rp、Rp1~Rp5‧‧‧預設電阻值範圍
S1‧‧‧第一信號接點
S2‧‧‧第二信號接點
S3‧‧‧第三信號接點
T1~T5‧‧‧電子元件
Vh‧‧‧啟動電壓
Vp、Vp1~Vp5‧‧‧預設電壓值範圍
Vt‧‧‧測試電壓
VAI、VAI1~VAI5‧‧‧靜態測試之實際電壓值
VAI*、VAI1*~VAI5*‧‧‧動態測試之實際電壓值
圖1係本發明電路板之測試系統於第一較佳實施例中之方塊示意圖。
圖2係本發明電路板之測試系統於第一較佳實施例中之電路示意圖。
圖3係本發明電路板之測試系統之開關電路於第一較佳實施例中閉路之電路示意圖。
圖4係本發明電路板之測試系統之連接模組於第一較佳實施例中閉路之電路示意圖。
圖5係本發明電路板之測試系統於第二較佳實施例中之方塊示意圖。
圖6係本發明電路板之測試系統於第二較佳實施例中之電路示意圖。
圖7係本發明電路板之測試系統於第三較佳實施例中之電路示意圖。
圖8係本發明電路板之測試系統於第四較佳實施例中之電路示意圖。
首先，定義電路板上之電子元件，其電子元件包括電感、電容或電阻等包含有電阻值之任何電子元件，而非限定為電阻。
鑑於習知技術之問題，本發明提供一種可解決習知技術問題之電路板之測試系統。請參閱圖1，其為本發明電路板之測試系統於第一較佳實施例中之方塊示意圖。電路板之測試系統1可適用於電路板之靜態測試以及動態測試，電路板之測試系統1包括一測試治具11以及一電腦系統12，測試治具11用以連接於一待測試之電路板P，且獲得電路板P之一電子元件T1之一實際電壓值，而電腦系統12電性連接於測試治具11，用以判斷電子元件T1是否通過靜態測試或動態測試。測試治具11包括一接觸元件111、一開關電路112、一連接模組113以及一資料擷取(Data Acquisition，DAQ)元件114，接觸元件111設置於測試治具11上且對應於電子元件T1，用以與電路板P上之電子元件T1接觸。開關電路112連接於接觸元件111，連接模組113連接於開關電路112以及電路板P，用以連接電路板P以及電腦系統12，使電腦系統12與電路板P進行通訊溝通，且電腦系統12經由連接模組113而傳輸一電力至電路板P。資料擷取元件114電性連接於開關電路112，用以提供一測試電壓Vt(請參照圖2)以及一啟動電壓Vh(請參照圖2)至開關電路112而對電路板P進行靜態測試，且可提供啟動電壓Vh至連接模組113而對電路板P進行動態測試。於本較佳實施例中，電路板P係為一印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)，而接觸元件111係為接觸探針。
接下來說明本發明電路板之測試系統之電路結構。請同時圖1以及圖2，圖2係為本發明電路板之測試系統於第一較佳實施例中之電路示意圖。測試治具11中，開關電路112包括一固定電阻R1、一第一單刀單擲(Single Pole Single Throw，SPST)繼電器1121以及一驅動電路1122，固定電阻R1係對應於電子元件T1。單刀單擲繼電器1121包括一共用端(圖2中以接點3表示)、一常開端(圖2中以接點4表示)以及一常閉端(圖2中以接點5表示)，且常閉端連接於固定電阻R1。驅動電路1122連接於資料擷取元件114以及第一單刀單擲繼電器1121，用以因應資料擷取元件114之運作而啟動第一單刀單擲繼電器1121或連接模組113。其中，驅動電路1122包括複數輸入接腳IN1~IN3以及複數輸出接腳OUT1~OUT3，於本較佳實施例中，驅動電路1122係為驅動晶片。
圖2中，資料擷取元件114包括複數數位輸出接腳DO1~DO3、一類比輸出接腳AO以及一類比輸入接腳AI，數位輸出接腳DO1連接於驅動電路1122之輸入接腳IN1，用以輸出啟動電壓Vh至驅動電路 1122，而啟動第一單刀單擲繼電器1121。數位輸出接腳DO2~DO3則分別連接於輸入接腳IN2~IN3，且對應於輸入接腳IN2~IN3之輸出接腳OUT2~OUT3則連接於連接模組113，用以輸出啟動電壓Vh至連接模組113而啟動連接模組113。類比輸出接腳AO連接於固定電阻R1，用以輸出測試電壓Vt，而類比輸入接腳AI分別連接於電子元件T1以及單刀單擲繼電器1121之共用端，用以獲得電子元件T1之實際電壓值。
連接模組113包括一供電電路1131以及一通訊電路1132，供電電路1131連接於驅動電路1122、電腦系統12以及電路板P，用以於供電電路1131被啟動時，傳輸電腦系統12之電力至電路板P。供電電路1131包括一第二單刀單擲繼電器1133以及一第一二極體D1，第二單刀單擲繼電器1133連接於驅動電路1122，且第二單刀單擲繼電器1133之一共用端(圖2中以接點3表示)連接於電腦系統12，而第二單刀單擲繼電器1133之一常閉端(圖2中以接點5表示)連接於電路板P之一第一信號接點S1。第一二極體D1連接於第二單刀單擲繼電器1133，用以防止通過供電電路1131之一第一電流(未顯示於圖中)逆流。其中，當第二單刀單擲繼電器1133閉路時，供電電路1131被啟動而傳輸電力至電路板P。
通訊電路1132連接於驅動電路1122、電腦系統12以及電路板P，用以於通訊電路1132被啟動時，傳輸電腦系統12之一電腦通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電路板，且傳輸電路板P之一裝置通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電腦系統12。通訊電路1132包括一雙刀雙擲繼電器1134以及一第二二極體D2，雙刀雙擲繼電器1134連接於驅動電路1122，且雙刀雙擲繼電器1134之一第一共用端(圖2中以接點13表示)連接於電腦系統12，雙刀雙擲繼電器1134之一第二共用端(圖2中以接點4表示)連接於電腦系統12。而雙刀雙擲繼電器1134之一第一常閉端(圖2中以接點9表示) 連接於電路板P之一第二信號接點S2，且雙刀雙擲繼電器1134之一第二常閉端(圖2中以接點8表示)連接於電路板P之一第三信號接點S3。第二二極體D2連接於雙刀雙擲繼電器1134，用以防止通過通訊電路1132之一第二電流(未顯示於圖中)逆流。其中，當雙刀雙擲繼電器1134閉路時，通訊電路1132被啟動，且電腦系統12傳輸該電腦通訊協定資訊至電路板P，而電路板P則傳輸該裝置通訊協定資訊至電腦系統12。
請再次參閱圖1，電腦系統12包括一電腦主機121以及一顯示螢幕122，電腦主機121連接於資料擷取元件114以及連接模組113，其中，電腦主機121係藉由一通用串列匯流排(USB)介面123而連接於資料擷取元件114，且電腦主機121藉由一第一傳輸接腳124而連接於第二單刀單擲繼電器1133之共用端，電腦主機121藉由一第二傳輸接腳125而連接於雙刀雙擲繼電器之第一共用端，而電腦主機121藉由一第三傳輸接腳126而連接於雙刀雙擲繼電器之第二共用端。於本較佳實施例中，第一傳輸接腳124、第二傳輸接腳125以及第三傳輸接腳126共同形成一另一通用串列匯流排介面，且第一傳輸接腳124係為VDD接腳，第二傳輸接腳125係為D一接腳，而第三傳輸接腳126係為D+接腳。
另外，電腦主機121具有一預設電阻值範圍Rp以及一預設電壓值範圍Vp，預設電阻值範圍Rp用以供電腦主機121判斷電路板P是否通過靜態測試，而預設電壓值範圍Vp則用以供電腦主機121判斷電路板P是否通過動態測試。顯示螢幕122連接於電腦主機121，用以顯示電路板P之測試結果。
需特別說明的是，測試治具11中之開關電路112以及資料擷取元件114之運作係對電路板P上之電子元件T1進行靜態測試，而連接模組113以及資料擷取元件114之運作則對電路板P上之電子元件T1進行 動態測試，其中，電路板P之測試過程係先進行靜態測試，待電路板P通過靜態測試之後，才可進行動態測試。其原因在於，電路板P之動態測試必須使電路板P通電，故電路板P必須先經過靜態測試以確保電路板P上之電子元件T1確實妥善焊接，而不會於電路板P通電時發生短路或開路等情形。否則，電路板P會發生燒毀之情形。
首先簡單說明電路板P之靜態測試的運作情形。當本發明電路板之測試系統1欲開始對電路板P上之電子元件T1進行靜態測試之前，測試人員必須放置電路板P於測試治具11上，並使測試治具11之接觸元件111與電子元件T1接觸，其中，接觸元件111不但可固定電路板P測試治具11上，亦可建立電子元件T1與資料擷取元件114之間的電性連接。當電路板P於測試治具11上設置妥善之後，資料擷取元件114藉由數位輸出接腳DO1輸出啟動電壓Vh至驅動電路1122之輸入接腳IN1，其中，驅動電路1122中對應於輸入接腳IN1之輸出接腳OUT1輸出該啟動電壓Vh至第一單刀單擲繼電器1121，使第一單刀單擲繼電器1121之共用端由與常開端接觸之狀態變更至與常閉端接觸之狀態，亦即第一單刀單擲繼電器1121閉路，如圖3所示。另一方面，資料擷取元件114藉由類比輸出接腳AO而輸出測試電壓Vt，使電子元件T1與固定電阻R1形成一等效電路。於本較佳實施例中，啟動電壓Vh係為一高邏輯準位電壓，例如5伏特。
接下來，類比輸入接腳AI連接於等效電路且根據歐姆定律，使類比輸入接腳AI由等效電路中獲得對應於電子元件T1之實際電壓值VAI，且資料擷取元件114藉由通用串列匯流排介面123而傳輸靜態測試之實際電壓值VAI至電腦主機121。其中，實際電壓值VAI係為電子元件T1進行靜態測試時之電壓值。
當電腦主機121接收到靜態測試之實際電壓值VAI之後， 由於電腦主機121中預設有計算出對應於電子元件T1之實際電阻值之公式：對應於電子元件T1之實際電阻值Rt=(實際電壓值VAI×固定電阻R1之電阻值)/(測試電壓Vt×實際電壓值VAI)，其中，上述公式係因應等效電路以及歐姆定律而獲得。因此，電腦主機121可根據上述公式而計算出電子元件T1之實際電阻值Rt，且電腦主機121於獲得實際電阻值Rt之後，判斷實際電阻值Rt是否介於預設電阻值範圍Rp之間。當電腦主機121判斷實際電阻值Rt介於預設電阻值範圍Rp之間時，電腦主機121判斷電子元件T1通過靜態測試，且顯示螢幕122顯示一通過靜態測試訊息(未顯示於圖中)，以供測試人員觀看。反之，當電腦主機121判斷實際電阻值Rt未介於預設電阻值範圍Rp之間時，電腦主機121則判斷電子元件T1靜態測試失敗，且顯示螢幕122顯示一靜態測試失敗訊息(未顯示於圖中)。因此，測試人員可根據顯示螢幕122所顯示之測試結果而得知電子元件T1是否通過靜態測試。
於電子元件T1通過靜態測試之後，開始進行電路板P之動態測試。於進行動態測試之前，測試人員必須利用連接模組113而連接電腦主機121以及電路板P，亦即，將電腦主機121之第一傳輸接腳124連接於第二單刀單擲繼電器1133之共用端，且連接電腦主機121之第二傳輸接腳125以及雙刀雙擲繼電器1134之第一共用端，連接電腦主機121之第三傳輸接腳126以及雙刀雙擲繼電器1134之第二共用端。另一方面，將電路板P之第一信號接點S1連接於第二單刀單擲繼電器1133之常閉端，且將電路板P之第二信號接點S2連接於雙刀雙擲繼電器1134之第一常閉端，而將電路板P之第三信號接點S3連接於雙刀雙擲繼電器1134之第二常閉端。
接下來開始進行電路板P之動態測試。圖2中，資料擷取 元件114藉由數位輸出接腳DO2~DO3輸出啟動電壓Vh至驅動電路1122之輸入接腳IN2~IN3，且驅動電路1122中對應於輸入接腳IN2~IN3之輸出接腳OUT2~OUT3分別輸出啟動電壓Vh至供電電路1131以及通訊電路1132。供電電路1131中，第二單刀單擲繼電器1133之共用端因應輸出接腳OUT2所傳輸之啟動電壓Vh而由與常開端接觸之狀態變更至與常閉端接觸之狀態，亦即第二單刀單擲繼電器1133閉路，如圖4所示。此時，供電電路1131被啟動而建立電腦主機121以及電路板P之間的電性連接，使電腦主機121得以藉由供電電路1131而傳輸電力至電路板P。於本較佳實施例中，啟動電壓Vh係為一低邏輯準位電壓，例如0~0.7伏特。
通訊電路1132中，雙刀雙擲繼電器1134之第一共用端因應輸出接腳OUT2所傳輸之啟動電壓Vh而由與第一常開端接觸之狀態變更至與第一常閉端接觸之狀態，且雙刀雙擲繼電器1134之第二共用端亦因應輸出接腳OUT3所傳輸之啟動電壓Vh而由與第二常開端接觸之狀態變更至與第二常閉端接觸之狀態，亦即雙刀雙擲繼電器1134閉路，如圖4所示。此時，通訊電路1132被啟動而建立電腦主機121以及電路板P之間的通訊協定連接，使電腦主機121得以藉由通訊電路1132而傳輸電腦通訊協定資訊至電路板P，且電路板P亦藉由通訊電路1132而傳輸裝置通訊協定資訊至電腦主機121，以便於電腦主機121辨識電路板P且獲得電路板P之相關資訊。
於供電電路1131以及通訊電路1132被啟動之後，電路板P獲得來自於電腦主機121之電力而被通電，且電路板P上之電子元件T1亦被通電，此時，資料擷取元件114中連接於電子元件T1之類比輸入接腳AI獲得對應於電子元件T1之實際電壓值VA1*，且資料擷取元件114藉由通用串列匯流排介面123而實際電壓值VAI*至電腦主機121，其中該實際 電壓值VA1*係為電子元件T1進行動態測試時之電壓值。
當電腦主機121接收到動態測試之實際電壓值VAI*之後，電腦主機121藉由判斷實際電壓值VAI*是否介於預設電壓值範圍Vp之間而判斷電子元件T1是否通過動態測試。當電腦主機121判斷實際電壓值VAI*介於預設電壓值範圍Vp之間時，電腦主機121判斷電子元件T1通過動態測試，且顯示螢幕122顯示一通過動態測試訊息(未顯示於圖中)，以供測試人員觀看。反之，當電腦主機121判斷實際電壓值VAI*未介於預設電壓值範圍Vp之間時，電腦主機121則判斷電子元件T1動態測試失敗，且顯示螢幕122顯示一動態測試失敗訊息(未顯示於圖中)。因此，測試人員可根據顯示螢幕122所顯示之動態測試結果而得知電子元件T1是否通過動態測試。
需特別說明的是，動態測試中之連接電腦主機121以及電路板P的動作並非限定於靜態測試完成之後再進行，亦可以於靜態測試開始之前進行。資料擷取元件114可藉由數位輸出接腳DO1輸出啟動電壓Vh而啟動驅動電路1122，以進行電路板P之靜態測試，且資料擷取元件114亦可藉由數位輸出接腳DO2~DO3輸出啟動電壓Vh而啟動連接模組113，以進行電路板P之動態測試。換言之，當本發明電路板之測試系統1進行靜態測試時，資料擷取元件114之數位輸出接腳DO1運作，而其數位輸出接腳DO2~DO3不運作。反之，當本發明電路板之測試系統1進行動態測試時，資料擷取元件114之數位輸出接腳DO2~DO3運作，而其數位輸出接腳DO1不運作。
根據上述可知，本發明電路板之測試系統藉由上述架構而模擬測試人員以人力對電子元件進行靜態測試以及動態測試的運作，以藉由靜態測試判斷電子元件是否妥善被設置於電路板上，且藉由動態測試判斷 電子元件是否可正常運作，亦即進行電子元件之功能性測試(Function Testing)。本較佳實施例中僅以電路板P上具有一個電子元件T1為例，以便於說明，但並非限制本發明電路板之測試系統僅可測試具有單一電子元件之電路板，以下將提供可測試具有複數電子元件於其上之電路板之測試系統。
再者，本發明更提供一第二較佳實施例。請同時參閱圖5以及圖6，圖5係為本發明電路板之測試系統於第二較佳實施例中之方塊示意圖，圖6係為本發明電路板之測試系統於第二較佳實施例中之電路示意圖。電路板之測試系統2用以對包含有複數電子元件T1~T5之電路板P1進行靜態測試以及動態測試，且電路板之測試系統2包括一測試治具21以及一電腦系統22，電腦系統22包括一電腦主機221以及一顯示螢幕222，其中電腦主機221藉由一通用串列匯流排介面223而連接於測試治具21，且電腦主機221具有複數預設電阻值範圍Rp1~Rp5以及預設電壓值範圍Vp1~Vp5。本較佳實施例之電腦系統22之結構以及功能皆與前述第一較佳實施例中之電腦系統12相同，故不再贅述。而本較佳實施例與第一較佳實施例中不同之處在於測試治具21之結構，其中，測試治具21中之各元件之功能仍與第一較佳實施例中之測試治具11相同，但其各元件之連接方式稍有變化，詳細說明如下。
請繼續參閱圖5以及圖6，測試治具21包括複數接觸元件211、一開關電路212、連接模組213以及一資料擷取元件214，複數接觸元件211設置於測試治具21上且對應於複數電子元件T1~T5，用以與電路板上之複數電子元件T1~T5接觸，其中一個接觸元件211對應於一個電子元件，也就是說，本較佳實施例之測試治具21包括5個接觸元件211。開關電路212連接於複數接觸元件211，其包括複數固定電阻R1~R5、一 驅動電路2121以及複數單刀單擲繼電器2122~2126，複數固定電阻R1~R5以及複數單刀單擲繼電器2122~2126皆對應於複數電子元件T1~T5，且其運作與前述第一較佳實施例中之固定電阻R1以及單刀單擲繼電器1121相同。驅動電路2121連接於資料擷取元件214以及複數單刀單擲繼電器2122~2126，用以因應資料擷取元件214之運作而選擇性地啟動一個或多個單刀單擲繼電器2122~2126。驅動電路包括複數輸入接腳IN1~IN7以及複數輸出接腳OUT1~OUT7，其中，驅動電路2121每次可因應資料擷取元件214之運作而選擇啟動任一個單刀單擲繼電器2122~2126。於本較佳實施例中，驅動電路2121係為驅動晶片。
圖6中，資料擷取元件214包括複數數位輸出接腳DO1~DO7、一類比輸出接腳AO以及複數類比輸入接腳AI1~AI5，複數數位輸出接腳DO0~DO7對應於複數輸入接腳IN1~IN7且分別連接於相對應之輸入接腳IN1~IN7。複數類比輸入接腳AI1~AI5對應於複數電子元件T1~T5以及複數單刀單擲繼電器2122~2126且分別連接於相對應之電子元件T1~T5以及單刀單擲繼電器2122~2126。而類比輸出接腳AO則分別連接於複數固定電阻R1~R5。需特別說明的是，固定電阻R1~R5之電阻值並非限定互相相同，其可根據需求採用電阻值互相不同之固定電阻，於另一較佳實施例中，亦可採用電阻值互相相同之固定電阻。
圖5以及圖6中，連接模組213包括一供電電路2131以及一通訊電路2132，供電電路2131連接於驅動電路2121之輸出接腳OUT6、電腦主機221以及電路板P1，用以於供電電路2131被啟動時，傳輸電腦主機221之一電力至電路板P1。供電電路2131包括一第一雙刀雙擲繼電器2133以及一第一二極體D1，第一雙刀雙擲繼電器2133連接於驅動電路2121，且第一雙刀雙擲繼電器2133之一第一共用端(圖6中以接點13表示) 連接於電腦主機221之一第一傳輸接腳224，而第一雙刀雙擲繼電器2133之一第一常閉端(圖6中以接點9表示)連接於電路板P1之一第一信號接點S1。第一二極體D1連接於第一雙刀雙擲繼電器2133，用以防止通過供電電路2131之一第一電流(未顯示於圖中)逆流。其中，當第一雙刀雙擲繼電器2133閉路時，供電電路2131被啟動而傳輸來自於電腦主機221之電力至電路板P1。
請繼續參閱圖6，通訊電路2132連接於驅動電路2121之輸出接腳OUT7、電腦系統22以及電路板P1，用以於通訊電路2132被啟動時，傳輸電腦主機221之一電腦通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電路板P1，且傳輸電路板P1之一裝置通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電腦主機221。通訊電路2132包括一第二雙刀雙擲繼電器2134以及一第二二極體D2，第二雙刀雙擲繼電器2134連接於驅動電路2121，且第二雙刀雙擲繼電器2134之一第一共用端(圖6中以接點13表示)連接於電腦主機221之一第二傳輸接腳225，第二雙刀雙擲繼電器2134之一第二共用端(圖67中以接點4表示)連接於電腦主機221之一第三傳輸接腳226。而第二雙刀雙擲繼電器2134之一第一常閉端(圖6中以接點9表示)連接於電路板P1之一第二信號接點S2，且第二雙刀雙擲繼電器2134之一第二常閉端(圖6中以接點8表示)連接於電路板P1之一第三信號接點S3。第二二極體D2連接於第二雙刀雙擲繼電器2134，用以防止通過通訊電路2132之一第二電流(未顯示於圖中)逆流。其中，當第二雙刀雙擲繼電器2134閉路時，通訊電路2132被啟動，且電腦主機221傳輸該電腦通訊協定資訊至電路板P1，而電路板P1則傳輸該裝置通訊協定資訊至電腦主機221。
關於本發明電路板之測試系統2之靜態測試以及動態測試的運作情形大致上本發明電路板之測試系統1相同，其不同之處僅在於本 發明電路板之測試系統2測試之電子元件數量增加為5個。因此，於資料擷取元件214之數位輸入接腳AI1~AI5獲得之VAI1~VAI5以及VAI1*~VAI5*之後，電腦主機221中221具有複數預設電阻值範圍Rp1~Rp5以及預設電壓值範圍Vp1~Vp5，以便分別對電子元件T1~T5進行靜態測試以及動態測試。其中，實際電壓值VA1~VAI5係為電子元件T1~T5進行靜態測試時之電壓值，而實際電壓值VA1*~VAI5*係為電子元件T1~T5進行動態測試時之電壓值。
需特別說明的是，雖然資料擷取元件之類比輸出接腳AO分別連接於複數固定電阻R1~R5，但由於電路板之測試系統2每次僅針對一個電子元件進行靜態測試，故類比輸出接腳AO每次所提供之參考電壓Vt足以使電子元件與相對應之固定電阻形成等效電路，以進行靜態測試。於實際操作上，電路板之測試系統每次可針對二個至三個電子元件進行靜態測試，其類比輸出接腳所提供之參考電壓仍足以使該二至三個電子元件與相對應之固定電阻形成等效電路。也就是說，驅動電路每次可因應資料擷取元件之運作而選擇啟動開關電路中之多個單刀單擲繼電器或多個雙刀雙擲繼電器。因此，本發明電路板之測試系統並非限制每次僅可測試一個電子元件，亦可每次測試複數個電子元件，以提升其測試效率。
再者，本發明更提供一第三較佳實施例。請參閱圖7，其為本發明電路板之測試系統於第三較佳實施例中之電路示意圖。電路板之測試系統包括一測試治具31以及一電腦系統32，電腦系統32包括一電腦主機321以及一顯示螢幕322，且測試治具31包括複數接觸元件311、一開關電路(未顯示於圖中)、連接模組313以及一資料擷取元件314，開關電路連接於複數接觸元件311，其包括複數固定電阻R1~R5、一驅動電路3121以及複數單刀單擲繼電器3122~3126。本較佳實施例之電路板之測試系統 之結構以及運作情形皆與前述第二較佳實施例中之電路板之測試系統相同，故不再贅述，而本較佳實施例之電路板之測試系統與第二較佳實施例之電路板之測試系統中不同之處僅在於，連接模組313分別與電腦系統以及電路板(未顯示於圖中)之連接方式不同，詳細說明如下。
圖7中，連接模組313包括一供電電路3131以及一通訊電路3132，供電電路3131連接於開關電路312之一驅動電路3121、電腦系統以及電路板，且供電電路3131包括一第一雙刀雙擲繼電器3133以及一第一二極體D1，第一雙刀雙擲繼電器3133以及第一二極體D1之功能以及運作情形皆與前述第二較佳實施例相同，而該兩者的不同之處僅在於，第一雙刀雙擲繼電器3133連接於驅動電路3121之輸出接腳OUT6，且第一雙刀雙擲繼電器3133之一第一共用端(圖8中以接點13表示)連接於電路板之一第一信號接點S1，而第一雙刀雙擲繼電器3133之一第一常閉端(圖8中以接點9表示)連接於電腦系統之一第一傳輸接腳324。也就是說，本較佳實施例中之第一雙刀雙擲繼電器3133連接於電腦系統以及電路板之連接方式與第二較佳實施例相反，而不影響其動態測試之運作過程。
另一方面，通訊電路3132連接於驅動電路3121、電腦系統以及電路板，且通訊電路3132包括一第二雙刀雙擲繼電器3134以及一第二二極體D2，第二雙刀雙擲繼電器3134以及第二二極體D2之功能以及運作情形皆與前述第二較佳實施例相同，而該兩者的不同之處僅在於，第二雙刀雙擲繼電器3134連接於驅動電路3121之輸出接腳OUT7，且第二雙刀雙擲繼電器3134之一第一共用端(圖8中以接點13表示)連接於電路板之一第二信號接點S2，第二雙刀雙擲繼電器3134之一第二共用端(圖7中以接點4表示)連接於電路板P1之一第三信號接點S3。而第二雙刀雙擲繼電器3134之一第一常閉端(圖7中以接點9表示)連接於電腦系統之一第二傳輸 接腳325，且第二雙刀雙擲繼電器3134之一第二常閉端(圖7中以接點8表示)連接於電腦系統之一第三傳輸接腳326。也就是說，本較佳實施例中之第二雙刀雙擲繼電器3134連接於電腦系統以及電路板之連接方式與第二較佳實施例相反，而不影響其動態測試之運作過程。
關於本較佳實施例中之電路板之測試系統對電路板進行靜態測試以及動態測試之運作接與第二較佳實施例相同，故不再多加說明。
需特別說明的是，第一較佳實施例中之電路板之測試系統1之連接模組113連接於電腦主機121以及電路板P之方式亦可採用與第三較佳實施例中相同的連接方式，也就是說，於供電電路1131中，可將其第二單刀單擲繼電器1133之共用端連接於電路板P之一第一信號接點S1，且將第二單刀單擲繼電器1133之常閉端連接於電腦主機121之第一傳輸接腳124。而於通訊電路1132中，可將雙刀雙擲繼電器1134之第一共用端連接於電路板P之第二信號接點S2，且雙刀雙擲繼電器1134之第二共用端電路板P之第三信號接點S3。而將雙刀雙擲繼電器1134之第一常閉端連接於電腦主機121之第二傳輸接腳125，且雙刀雙擲繼電器1134之第二常閉端連接於電腦主機121之第三傳輸接腳125。上述不同的連接方式不影響電路板之測試系統1之動態測試的運作過程，故其運作過程則不再贅述。
此外，本發明更提供一第四較佳實施例。請參閱圖8，其為本發明電路板之測試系統於第四較佳實施例中之電路示意圖。電路板之測試系統4包括一測試治具41以及一電腦系統42，電腦系統42包括一電腦主機421以及一顯示螢幕422，且測試治具41包括一接觸元件411、一開關電路412、連接模組413以及一資料擷取元件414。本較佳實施例之電路板之測試系統之結構以及運作情形皆與前述第一較佳實施例中之電路板之測試系統相同，故不再贅述，而本較佳實施例之電路板之測試系統與第一 較佳實施例之電路板之測試系統中不同之處僅在於，開關電路412以及連接模組413之內部電路的結構，詳細說明如下。
圖8中，開關電路412連接於接觸元件411，其包括一固定電阻R1以及一光繼電器4111，光繼電器4111用以因應啟動電壓Vh而使電子元件T1與固定電阻R1形成一等效電路。第一光繼電器4111包括一第一光發射器D1以及一第一金屬氧化物半導體場效電晶體F1，第一光發射器D1之一第一輸入端(圖8中以接點1表示)連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO1，且第一光發射器D1之一第二輸入端(圖8中以接點2表示)接地，用以因應啟動電壓Vh而輸出一第一光束B1。第一金屬氧化物半導體場效電晶體F1之一第一輸出端(圖8中以接點3表示)連接於固定電阻R1，且第一金屬氧化物半導體場效電晶體F1之一第二輸出端(圖8中以接點4表示)連接於資料擷取元件413之類比輸入接腳AI1以及電子元件T1，用以根據第一光束B1而閉路且啟動光繼電器4111。於本較佳實施例中，光繼電器4111係為單刀單擲常開型之光繼電器。
當光繼電器4111被啟動時，資料擷取元件413之類比輸入接腳AI1可獲得靜態測試之實際電壓值VAI(未顯示於圖中)，接下來，電路板之測試系統4繼續進行靜態測試之運作，且其運作過程與第一較佳實施例相同，而不再贅述。
圖8中，連接模組413包括一供電電路4131以及一通訊電路4132，供電電路4131連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO2、電腦主機42以及電路板(未顯示於圖中)。供電電路4131包括一第二光發射器D2以及一第二金屬氧化物半導體場效電晶體F2，第二光發射器D2之一第三輸入端(圖8中以接點1表示)連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO2，且第二光發射器D2之一第四輸入端(圖8中以接點2表示)接地，用 以因應啟動電壓Vh而輸出一第二光束B2。第二金屬氧化物半導體場效電晶體F2之一第三輸出端(圖8中以接點3表示)連接於電腦主機41之一第一傳輸接腳424，且第二金屬氧化物半導體場效電晶體F之一第四輸出端(圖8中以接點4表示)連接於電路板之一第一信號接點S1，用以根據第二光束B2而閉路且啟動供電電路4131。其中，當第二金屬氧化物半導體場效電晶體F2閉路時，供電電路4131被啟動而傳輸來自於電腦主機421之電力至電路板。於本較佳實施例中，供電電路4131係為單刀單擲常開型之光繼電器。
通訊電路4132連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO3、電腦主機42以及電路板，通訊電路4132包括一第三光發射器D3、一第三金屬氧化物半導體場效電晶體F3、一第四光發射器D4以及一第四金屬氧化物半導體場效電晶體F4。第三光發射器D3之一第五輸入端(圖8中以接點1表示)連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO3，且第三光發射器D3之一第六輸入端(圖8中以接點2表示)接地，用以因應啟動電壓Vh而輸出一第三光束B3。第三金屬氧化物半導體場效電晶體F3之一第五輸出端(圖8中以接點8表示)連接於電腦主機41之一第二傳輸接腳425，且第三金屬氧化物半導體場效電晶體F3之一第六輸出端(圖8中以接點7表示)連接於電路板之一第二信號接點S2，用以根據第三光束B3而閉路。
第四光發射器D4之一第七輸入端(圖8中以接點3表示)亦連接於資料擷取元件413之數位輸出接腳DO3，且第四光發射器D4之一第八輸入端(圖8中以接點4表示)接地，用以因應啟動電壓Vh而輸出一第四光束B4。第四金屬氧化物半導體場效電晶體F4之一第七輸出端(圖8中以接點6表示)連接於電腦主機41之一第二傳輸接腳426，且第四金屬氧化物半導體場效電晶體F4之一第八輸出端(圖8中以接點5表示)連接於電路 板之一第三信號接點S3，用以根據第四光束B3而閉路。其中當第二金屬氧化物半導體場效電晶體F2以及第三金屬氧化物半導體場效電晶體F3皆閉路時，啟動通訊電路4132，且傳輸電腦主機421之一電腦通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電路板，且傳輸電路板之一裝置通訊協定資訊(未顯示於圖中)至電腦主機421。於本較佳實施例中，通訊電路4132係為雙刀雙擲常開型之光繼電器。至於本較佳實施例之電路板之測試系統4之動態測試的運作情形與前述第一較佳實施例中相同，而不再贅述。
本較佳實施例之電路板之測試系統4之開關電路412中以光繼電器4111取代傳統的單刀單擲繼電器，而通訊模組413中雙刀雙擲常開型之光繼電器取代傳統的單刀單擲繼電器以及雙刀雙擲繼電器。與傳統的單刀單擲繼電器以及雙刀雙擲繼電器相比，光繼電器可降低前述兩種傳統繼電器所需損耗的電流，而具有可大幅降低激磁損耗之優點。另外，由於光繼電器中之光發射器僅需低電壓即可被驅動，故開關電路412不需設置有驅動電路，而可減少元件之成本。
需特別說明的是，本發明電路板之測試系統中之資料擷取元件以及驅動電路之接腳數量雖然有限，但可額外分別於資料擷取元件以及驅動電路上增設多工器(Multiplexer)，以擴充資料擷取元件以及驅動電路之接腳數量，以便於資料擷取元件以及驅動電路可連接於更多的單刀單擲繼電器或雙刀雙擲繼電器，而進一步地增加可測試之電子元件數量。換言之，測試人員於測試一個電路板之過程中，可測試之電子元件數量越多，其靜態測試效率越高。
根據上述各較佳實施例可知，本發明電路板之測試系統可藉由於測試治具上設置資料擷取元件以及開關電路，使得所欲測試之電子元件以及相對應之固定電阻形成等效電路，而得以由等效電路中取得對應於 進行靜態測試中的電子元件之實際電壓值。之後由電腦系統藉由公式以及該靜態測試之實際電壓值而計算獲得對應於電子元件之實際電阻值，且電腦系統再判斷實際電阻值是否介於預設電阻值範圍，以判斷該電子元件是否通過靜態測試。
另外，本發明電路板之測試系統可藉由資料擷取元件以及連接模組而形成電路板連接於電腦系統之模擬電路，使得電路板獲得來自電腦系統之電力而通電，以便於利用資料擷取元件獲得對應於進行動態測試中的電子元件之實際電壓值。之後，電腦系統再判斷該實際電壓值是否介於預設電壓值範圍，以判斷該電子元件是否通過動態測試。相較於習知人力測試方式，本發明電路板之測試系統可取代人力反覆以電錶上之接觸探針依序接觸每一欲測試的電子元件，而可節省人力以及時間，且具有較佳之測試效率。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，並非用以限定本發明之申請專利範圍，因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含於本案之申請專利範圍內。
11‧‧‧測試治具
12‧‧‧電腦系統
111‧‧‧接觸元件
113‧‧‧連接模組
114‧‧‧資料擷取元件
121‧‧‧電腦主機
122‧‧‧顯示螢幕
123‧‧‧通用串列匯流排介面
124‧‧‧第一傳輸接腳
125‧‧‧第二傳輸接腳
126‧‧‧第三傳輸接腳
1121‧‧‧第一單刀單擲繼電器
1122‧‧‧驅動電路
1131‧‧‧供電電路
1132‧‧‧通訊電路
1133‧‧‧第二單刀單擲繼電器
1134‧‧‧雙刀雙擲繼電器
AI1‧‧‧類比輸入接腳
AO‧‧‧數位輸出接腳
D1‧‧‧第一二極體
D2‧‧‧第二二極體
DO1~DO3‧‧‧數位輸出接腳
IN1~IN3‧‧‧輸入接腳
OUT1~OUT7‧‧‧輸出接腳
P‧‧‧電路板
R1‧‧‧固定電阻
Rp‧‧‧預設電阻值範圍
S1‧‧‧第一信號接點
S2‧‧‧第二信號接點
S3‧‧‧第三信號接點
T1‧‧‧電子元件
Vh‧‧‧啟動電壓
Vp‧‧‧預設電壓值範圍
Vt‧‧‧測試電壓
VAI‧‧‧靜態測試之實際電壓值
VAI*‧‧‧動態測試之實際電壓值

Claims (12)

  1. 一種電路板之測試系統，包括：一電腦系統；一測試治具，分別連接於一電路板以及該電腦系統，用以獲得該電路板之一電子元件之一實際電壓值，該測試治具包括：一接觸元件，設置於該測試治具上，用以與該電路板之該電子元件接觸；一開關電路，連接於該接觸元件；一連接模組，連接於該開關電路以及該電路板，用以連接該電路板以及該電腦系統，使該電腦系統與該電路板進行通訊溝通，且該電腦系統經由該連接模組傳輸一電力至該電路板；以及一資料擷取元件，電性連接於該開關電路以及該電腦系統，用以提供一啟動電壓至該開關電路，使該連接模組運作，並獲得該電子元件之一實際電壓值，該資料擷取元件包括：一數位輸出接腳，連接於該開關電路，用以輸出該啟動電壓至該開關電路；以及一類比輸入接腳，連接於該電子元件，用以獲得該電子元件之該實際電壓值；其中當該類比輸入接腳獲得該實際電壓值時，該資料擷取元件傳輸該實際電壓值至該電腦系統，使該電腦系統根據該實際電壓值而判斷該電路板是否通過測試；其中，當該啟動電壓係一高邏輯準位電壓時，該開關電路以及該資料擷取元件對該電子元件進行靜態測試；而當該 啟動電壓係一低邏輯準位電壓時，該連接模組以及該資料擷取元件對該電子元件進行動態測試。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該連接模組包括：一供電電路，連接於該開關電路、該電腦系統以及該電路板，用以於該供電電路被啟動時，傳輸該電腦系統之該電力至該電路板；以及一通訊電路，連接於該開關電路、該電腦系統以及該電路板，用以於該通訊電路被啟動時，傳輸該電腦系統之一電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該電路板之一裝置通訊協定資訊至該電腦系統。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之電路板之測試系統，其中該供電電路包括：一單刀單擲繼電器，連接於該開關電路之一驅動電路，且該單刀單擲繼電器之一共用端連接於該電腦系統之一第一傳輸接腳，而該單刀單擲繼電器之一常閉端連接於該電路板之一第一信號接點，用以於該單刀單擲繼電器閉路時，傳輸該電力至該電路板；以及一第一二極體，連接於該單刀單擲繼電器，用以防止通過該供電電路之一電流逆流；而該通訊電路包括：一雙刀雙擲繼電器，連接於該驅動電路，且該雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電腦系統之一第二傳輸接腳，該雙刀雙擲繼電器之一第二共用端連接於該電腦系統之一第三傳輸接腳，而該雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電路板之一第二信號接點，且該雙刀雙擲繼電器之一第二常閉端連接於該電路板之一第三信號接點，用以於該雙刀雙擲繼電器閉 路時，傳輸該電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該裝置通訊協定資訊至該電腦系統；以及一第二二極體，連接於該雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該通訊電路之一另一電流逆流。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之電路板之測試系統，其中該供電電路包括：一第一雙刀雙擲繼電器，連接於該開關電路之一驅動電路，且該第一雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電腦系統之一第一傳輸接腳，而該第一雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電路板之一第一信號接點，用以於該第一雙刀雙擲繼電器閉路時，傳輸該電力至該電路板；以及一第一二極體，連接於該第一雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該供電電路之一電流逆流；而該通訊電路包括：一第二雙刀雙擲繼電器，連接於該驅動電路，且該第二雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電腦系統之一第二傳輸接腳，該第二雙刀雙擲繼電器之一第二共用端連接於該電腦系統之一第三傳輸接腳，而該第二雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電路板之一第二信號接點，且該第二雙刀雙擲繼電器之一第二常閉端連接於該電路板之一第三信號接點，用以於該第二雙刀雙擲繼電器閉路時，傳輸該電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該裝置通訊協定資訊至該電腦系統；以及一第二二極體，連接於該第二雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該通訊電路之一另一電流逆流。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之電路板之測試系統，其中該供電電路包 括：一第一光發射器，該第一光發射器之一第一輸入端連接於該資料擷取元件，且該第一光發射器之一第二輸入端接地，用以因應該啟動電壓而輸出一第一光束；以及一第一金屬氧化物半導體場效電晶體，該第一金屬氧化物半導體場效電晶體之一第一輸出端連接於該電腦系統之一第一傳輸接腳，且該第一金屬氧化物半導體場效電晶體之一第二輸出端連接於該電路板之一第一信號接點，用以根據該第一光束而閉路且啟動該供電電路；而該通訊電路包括：一第二光發射器，該第二光發射器之一第三輸入端連接於該資料擷取元件，且該第二光發射器之一第四輸入端接地，用以因應該啟動電壓而輸出一第二光束；一第二金屬氧化物半導體場效電晶體，該第二金屬氧化物半導體場效電晶體之一第三輸出端連接於該電腦系統之一第二傳輸接腳，且該第二金屬氧化物半導體場效電晶體之一第四輸出端連接於該電路板之一第二信號接點，用以根據該第二光束而閉路；一第三光發射器，該第三光發射器之一第五輸入端連接於該資料擷取元件，且該第三光發射器之一第六輸入端接地，用以因應該啟動電壓而輸出一第三光束；以及一第三金屬氧化物半導體場效電晶體，該第三金屬氧化物半導體場效電晶體之一第五輸出端連接於該電腦系統之一第三傳輸接腳，且該第二金屬氧化物半導體場效電晶體之一第六輸出端連接於該電路板之一第三信號接點，用以根據該第三光束而閉路；其中當該第二金屬氧化物半導體場效 電晶體以及該第三金屬氧化物半導體場效電晶體皆閉路時，啟動該通訊電路，並傳輸該電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該裝置通訊協定資訊至該電腦系統。
  6. 如申請專利範圍第2項所述之電路板之測試系統，其中該供電電路包括：一單刀單擲繼電器，連接於該驅動電路，且該單刀單擲繼電器之一常閉端連接於該電腦系統之一第一傳輸接腳，而該單刀單擲繼電器之一共用端連接於該電路板之一第一信號接點，用以於該單刀單擲繼電器閉路時，傳輸該電力至該電路板；以及一第一二極體，連接於該單刀單擲繼電器，用以防止通過該供電電路之一電流逆流；而該通訊電路包括：一雙刀雙擲繼電器，連接於該驅動電路，且該雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電腦系統之一第二傳輸接腳，該雙刀雙擲繼電器之一第二常閉端連接於該電腦系統之一第三傳輸接腳，而該雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電路板之一第二信號接點，且該雙刀雙擲繼電器之一第二共用端連接於該電路板之一第三信號接點，用以於該雙刀雙擲繼電器閉路時，傳輸該電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該裝置通訊協定資訊至該電腦系統；以及一第二二極體，連接於該雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該通訊電路之一另一電流逆流。
  7. 如申請專利範圍第2項所述之電路板之測試系統，其中該供電電路包括： 一第一雙刀雙擲繼電器，連接於該驅動電路，且該第一雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電腦系統之一第一傳輸接腳，而該第一雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電路板之一第一信號接點，用以於該第一雙刀雙擲繼電器閉路時，傳輸該電力至該電路板；以及一第一二極體，連接於該第一雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該供電電路之一電流逆流；而該通訊電路包括：一第二雙刀雙擲繼電器，連接於該驅動電路，且該第二雙刀雙擲繼電器之一第一常閉端連接於該電腦系統之一第二傳輸接腳，該第二雙刀雙擲繼電器之一第二常閉端連接於該電腦系統之一第三傳輸接腳，而該第二雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電路板之一第二信號接點，且該第二雙刀雙擲繼電器之一第二共用端連接於該電路板之一第三信號接點，用以於該第二雙刀雙擲繼電器閉路時，傳輸該電腦通訊協定資訊至該電路板，且傳輸該裝置通訊協定資訊至該電腦系統；以及一第二二極體，連接於該第二雙刀雙擲繼電器，用以防止通過該通訊電路之一另一電流逆流。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該電腦系統包括：一電腦主機，連接於該資料擷取元件以及該連接模組，且該電腦主機具有一預設電壓值範圍，該電腦主機用以判斷該電路板是否通過測試；以及一顯示螢幕，連接於該電腦主機，用以顯示該電路板之測試結果，其中當該電腦主機接收到該實際電壓值時，判斷該實際電壓值是否介於該預設 電壓值範圍之間，當該電腦系統判斷該實際電壓值不介於該預設電壓值範圍之間時，判斷該電子元件未通過測試，且該顯示螢幕顯示一測試失敗訊息；而當該電腦主機判斷該實際電壓值介於該預設電壓值範圍之間時，判斷該電子元件通過測試，且該顯示螢幕顯示一通過測試訊息。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該開關電路包括：一固定電阻，對應於該電子元件，且連接於該資料擷取元件之一類比輸出接腳；一單刀單擲繼電器，該單刀單擲繼電器之一常開端連接於該固定電阻，且該單刀單擲繼電器之一共用端連接於該電子元件以及該類比輸入接腳；以及一驅動電路，連接於該資料擷取元件以及該單刀單擲繼電器，用以根據該啟動電壓而啟動該連接模組或該單刀單擲繼電器；其中當該連接模組被啟動時，該電路板與該電腦系統之間之連接被建立，且該電路板被通電，使該資料擷取元件之該類比輸入接腳獲得該電子元件之該實際電壓值。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該開關電路包括：一第一固定電阻，對應於該電子元件，且連接於該資料擷取元件之一類比輸出接腳；一第二固定電阻，對應於該電路板之一另一電子元件，且連接於該類比輸出接腳；一雙刀雙擲繼電器，該雙刀雙擲繼電器之一第一常開接點連接於該第一 固定電阻，且該雙刀雙擲繼電器之一第二常開接點連接於該第二固定電阻，該雙刀雙擲繼電器之一第一共用端連接於該電子元件以及該類比輸入接腳，而該雙刀雙擲繼電器之一第二共用端連接於該另一電子元件以及該資料擷取元件之一另一類比輸入接腳；以及一驅動電路，連接於該資料擷取元件以及該雙刀雙擲繼電器，用以根據該啟動電壓而啟動該連接模組或該雙刀雙擲繼電器；其中當該連接模組被啟動時，該電路板與該電腦系統之間之連接被建立，且該電路板被通電，使該資料擷取元件之該類比輸入接腳獲得該電子元件之該實際電壓值，且該資料擷取元件之該另一類比輸入接腳獲得該另一電子元件之一另一實際電壓值。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該開關電路包括：一固定電阻，對應於該電子元件；以及一光繼電器，連接於該資料擷取元件以及該固定電阻，用以因應該啟動電壓而使該電子元件與該固定電阻形成一等效電路，該光繼電器包括：一第四光發射器，該光發射器之一第七輸入端連接於該資料擷取元件，且該光發射器之一第八輸入端接地，用以因應該啟動電壓而輸出一第四光束；以及一第四金屬氧化物半導體場效電晶體，該第四金屬氧化物半導體場效電晶體之一第七輸出端連接於該固定電阻，且該第四金屬氧化物半導體場效電晶體之一第八輸出端連接於該資料擷取元件，用以根據該第四光束而閉路且啟動該光繼電器；其中當該光繼電器被啟動時，該電子元件與該 固定電阻形成該等效電路；其中當該連接模組被啟動時，該電路板與該電腦系統之間之連接被建立，且該電路板被通電，使該資料擷取元件之一類比輸入接腳獲得該電子元件之該實際電壓值。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之電路板之測試系統，其中該驅動電路係一驅動晶片，且該接觸元件係一接觸探針，而該啟動電壓係一高邏輯準位電壓。
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