TWI506388B - 自動溫度測試系統及溫度測試方法 - Google Patents

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Description

自動溫度測試系統及溫度測試方法
本發明涉及一種自動溫度測試系統及溫度測試方法。
在手機等消費性電子產品的生產過程中都需要進行表面溫度測試。目前的溫度測試方法一般是通過人工在待測電子產品表面粘貼熱電偶溫度感應器，再通過資料獲取器採集熱電偶溫度感應器測得的溫度。使用該方法測試電子產品表面溫度時，存在如下問題：一方面，人工粘貼熱電偶溫度感應器可能造成位置的偏差，從而影響測試結果；另一方面，粘貼過程中容易導致熱電偶溫度感應器的損壞，熱電偶溫度感應器的重複利用率不高；另外，人工作業需要耗費較多的時間，造成不必要人力浪費，從而影響生產效率。
為解決上述問題，本發明提供一種自動溫度測試系統。該溫度測試系統包括一支撐面、一攝像單元、一主機單元以及一溫度感測單元。該支撐面用於承載該待測物體。該攝像單元用於對放置有該待測物體的支撐面進行拍攝。該主機單元包括一處理模組以及一測試路徑設定模組，該處理模組用於接收該攝像單元拍攝的圖像，控制將該圖像顯示在一顯示幕中，並將該圖像對應到一坐標 系，該圖像上的各個點分別對應該坐標系中的一座標；該測試路徑設定模組用於回應用戶在該顯示的拍攝圖像上某一位置的點選操作，獲取該圖像中被點選位置的座標並將該座標作為該待測物體待測部位的座標。該溫度感測單元用於根據主機單元確定的待測部位的座標，對該待測物體的待測部位進行溫度測試。
本發明還提供了一種自動溫度測試方法，該方法包括如下步驟：該攝像單元拍攝放置有待測物體的支撐面的圖像；該主機單元接收攝像單元拍攝的圖像，控制將該圖像顯示在顯示幕中，並將該拍攝圖像對應到一坐標系，該圖像中的各個點分別對應該坐標系中的一座標；該主機單元回應用戶在該顯示的拍攝圖像上某一位置的點選操作，獲取該圖像中被點選位置的座標並將該座標作為該待測物體待測部位的座標；該溫度感測單元根據主機單元確定的待測部位的座標，對該待測物體上的待測部位進行溫度測試；該溫度感測單元將測得的資料發送至該主機單元中進行分析處理。
本發明中的自動溫度測試系統及溫度測試方法測試結果準確，節省人力物力，且方便快捷。
100‧‧‧自動溫度測試系統
200‧‧‧待測物體
10‧‧‧攝像單元
20‧‧‧主機單元
201‧‧‧處理模組
202‧‧‧測試路徑設定模組
30‧‧‧溫度感測單元
301‧‧‧驅動模組
302‧‧‧X軸步進電機
303‧‧‧Y軸步進電機
304‧‧‧溫度感應器
40‧‧‧支撐面
圖1係本發明一實施方式中自動溫度測試系統的功能模組示意圖。
圖2係本發明一實施方式中自動溫度測試系統的結構示意圖。
圖3係本發明一實施方式中自動溫度測試方法流程圖。
下面結合附圖，對本發明中的自動溫度測試系統及溫度測試方法作進一步的詳細描述。
請一併參閱圖1及圖2，一種自動溫度測試系統100用於測量待測物體200的溫度。該自動溫度測試系統100包括攝像單元10、主機單元20、溫度感測單元30以及支撐面40。
該支撐面40用於承載待測物體200。該攝像單元10中裝有攝像元件，該攝像單元10與該主機單元20相連，用於對放置有待測物體200的支撐面40進行拍攝，並將拍攝到的圖像發送至該主機單元20。在本實施方式中，該攝像單元10為一攝像頭。
該主機單元20包括一處理模組201及一測試路徑設定模組202。該處理模組201接收該攝像單元10拍攝的放置有待測物體200的支撐面40的圖像，控制該主機單元20將該拍攝圖像顯示在該主機單元20的顯示幕(圖未示)中，並將該圖像對應到一坐標系，該圖像上的各個點分別對應該坐標系中的一座標，從而生成該圖像上的各個點與該坐標系中座標的對應關係。
該測試路徑設定模組202用於回應用戶在該顯示幕顯示的圖像上某一位置的點選操作，獲取該用戶點選位置的座標並將該座標作為該待測物體200待測部位的座標。在本實施方式中，該主機單元20為一電腦，當用戶想要測試放置於支撐面40上的待測物體200某一部位的溫度時，用戶可通過該電腦的滑鼠點選該拍攝圖像中的待測物體200的待測部位，該測試路徑設定模組202通過獲取用戶點選位置的座標確定該待測物體200上該待測部位的實際位置。
該溫度感測單元30為一獨立於該主機單元20的裝置，並通過資料線(圖中未示)與該主機單元20進行通信。該溫度感測單元30用於根據該主機單元20確定的待測部位的座標對該待測物體200上的待測部位進行溫度測試。在本實施方式中，該溫度感測單元30包括一驅動模組301、一X軸步進電機302、一Y軸步進電機303以及一溫度感應器304，其中該X軸步進電機302與該Y軸步進電機303的位置與該坐標系中的座標相對應。在本實施方式中，該溫度感應器304為一紅外溫度感應器，該溫度感應器304可在該X軸步進電機302以及Y軸步進電機303的帶動下移動。該驅動模組301接收該測試路徑設定模組202獲取的用戶設定的待測部位的座標，驅動該X軸步進電機302以及該Y軸步進電機303帶動該溫度感應器304移動到該待測部位的座標對應位置，使該溫度感應器304對準該待測物體200上的待測部位對該待測部位進行溫度測試。該溫度感應器304還將測得的溫度資料傳送至該主機單元20中的處理模組201，該處理模組201對該溫度資料進行分析處理。
請參閱圖3，為本發明一實施方式中自動溫度測試方法流程圖，該自動溫度測試方法包括如下步驟：
S201：該攝像單元10拍攝放置有待測物體200的支撐面40的圖像。
S202：該主機單元20中的處理模組201接收該攝像單元10拍攝的圖像，將該圖像顯示在顯示幕中，並將該拍攝圖像對應到一坐標系中，該圖像中的各個點分別對應該坐標系中的一座標。
S203：該主機單元20中的測試路徑設定模組202回應用戶在該顯示幕中顯示的拍攝圖像上某一位置的點選操作，獲取該圖像中被 點選位置的座標並將該座標作為該待測物體待測部位的座標。
S204：該溫度感測單元30根據該主機單元20確定的待測部位的座標對該待測物體200上的待測部位進行溫度測試。具體的，該溫度感測單元30中的驅動模組301接收該測試路徑設定模組202獲取的用戶設定的待測部位的座標，驅動該X軸步進電機302以及該Y軸步進電機303帶動該溫度感應器304移動到該待測部位的座標對應位置，使該溫度感應器304對準該待測物體200上的待測部位對該待測部位進行溫度測試。
S205：該溫度感應器304將測得的溫度資料發送至該主機單元20中的處理模組201進行分析處理。
100‧‧‧自動溫度測試系統
10‧‧‧攝像單元
20‧‧‧主機單元
201‧‧‧處理模組
202‧‧‧測試路徑設定模組
30‧‧‧溫度感測單元
301‧‧‧驅動模組
302‧‧‧X軸步進電機
303‧‧‧Y軸步進電機
304‧‧‧溫度感應器

Claims (5)

  1. 一種自動溫度測試系統，用於對一待測物體進行溫度測試，其改良在於，該溫度測試系統包括：一支撐面，用於承載該待測物體；一攝像單元，用於對放置有該待測物體的支撐面進行拍攝；一主機單元，包括一處理模組以及一測試路徑設定模組，該處理模組用於接收該攝像單元拍攝的圖像，控制將該圖像顯示在一顯示幕中，並將該圖像對應到一坐標系，該圖像上的各個點分別對應該坐標系中的一座標；該測試路徑設定模組用於回應用戶在該顯示的拍攝圖像上某一位置的點選操作，獲取該圖像中被點選位置的座標並將該座標作為該待測物體待測部位的座標；一溫度感測單元，該溫度感測單元包括一驅動模組、一X軸步進電機、一Y軸步進電機以及一溫度感應器，其中該X軸步進電機與該Y軸步進電機的位置與該坐標系中的坐標相對應，該驅動模組接收該測試路徑設定模組獲取的用戶設定的待測部位的坐標，驅動該X軸步進電機以及該Y軸步進電機帶動該溫度感應器移動到該待測部位的坐標對應位置，使該溫度感應器對準該待測物體上的待測部位對該待測部位進行溫度測試。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述之自動溫度測試系統，其中，該主機單元為一電腦，用戶通過該電腦的滑鼠點擊該顯示在顯示幕中的拍攝圖像。
  3. 根據申請專利範圍第1項所述之自動溫度測試系統，其中，該溫度感應器為一紅外溫度感應器。
  4. 根據申請專利範圍第1項所述之自動溫度測試系統，其中，該溫度感應器還將測得的資料傳送至主機單元中的處理模組進行分析處理。
  5. 一種自動溫度測試方法，應用於一自動溫度測試系統，其中該自動溫度測試系統包括一支撐面、一攝像單元、一主機單元以及一溫度感測單元，其中，該溫度感測單元還包括一驅動模組、一X軸步進電機、一Y軸步進電機以及一溫度感應器，其改良特徵在於，該自動溫度測試方法包括如下步驟：該攝像單元拍攝放置有待測物體的支撐面的圖像；該主機單元接收攝像單元拍攝的圖像，控制將該圖像顯示在顯示幕中，並將該拍攝圖像對應到一坐標系，該圖像中的各個點分別對應該坐標系中的一座標；該主機單元回應用戶在該顯示的拍攝圖像上某一位置的點選操作，獲取該圖像中被點選位置的座標並將該座標作為該待測物體待測部位的座標；該溫度感測單元中的驅動模組接收該測試路徑設定模組獲取的用戶設定的待測部位的座標，驅動該X軸步進電機以及該Y軸步進電機帶動該溫度感應器移動到該待測部位的座標對應位置，使該溫度感應器對準該待測物體上的待測部位對該待測部位進行溫度測試；該溫度感測單元將測得的資料發送至該主機單元中進行分析處理。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106197744A (zh) * 2015-05-28 2016-12-07 天津市汇和电气设备有限公司 一种移动式高压线温度无线检测装置
US10386309B2 (en) 2015-06-02 2019-08-20 Sapotech Oy Method and apparatus for determining features of hot surface
CN105286807A (zh) * 2015-09-17 2016-02-03 深圳市科迈通讯技术有限公司 基于互联网的温度测试方法及***
CN105788969B (zh) * 2016-04-27 2017-11-28 国家电网公司 热工用高精度测温继电器
CN109238470A (zh) * 2018-10-30 2019-01-18 合肥京东方视讯科技有限公司 温度测试装置、温度测试***及温度测试方法
CN113686545B (zh) * 2021-10-26 2022-02-08 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 一种激光器整机用光栅测试***

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040136582A1 (en) * 1996-08-23 2004-07-15 Bacus Laboratories, Inc. Apparatus for remote control of a microscope
US20080294000A1 (en) * 2007-04-06 2008-11-27 Hoya Corporation Endoscope support system
US20090142133A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Caterpillar Inc. Paving system and method

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6031930A (en) * 1996-08-23 2000-02-29 Bacus Research Laboratories, Inc. Method and apparatus for testing a progression of neoplasia including cancer chemoprevention testing
JP3606138B2 (ja) * 1999-11-05 2005-01-05 セイコーエプソン株式会社 ドライバｉｃ、電気光学装置及び電子機器
US7597663B2 (en) * 2000-11-24 2009-10-06 U-Systems, Inc. Adjunctive ultrasound processing and display for breast cancer screening
CN1542416A (zh) * 2003-05-02 2004-11-03 北京行者华视网络***集成技术有限公 测温方法和测温装置
TWI273881B (en) * 2005-12-14 2007-02-11 Mitac Int Corp Temperature detecting system and method
CN100587422C (zh) * 2006-09-27 2010-02-03 费安路 大流量人群体温检测方法及其装置
US7821488B2 (en) * 2007-03-16 2010-10-26 Mstar Semiconductor, Inc. Temperature-dependent overdrive circuit for LCD panel and method of implementing the same
CN102187266A (zh) * 2008-10-14 2011-09-14 夏普株式会社 液晶显示装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040136582A1 (en) * 1996-08-23 2004-07-15 Bacus Laboratories, Inc. Apparatus for remote control of a microscope
US20080294000A1 (en) * 2007-04-06 2008-11-27 Hoya Corporation Endoscope support system
US20090142133A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-04 Caterpillar Inc. Paving system and method

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