TWI504868B - - Google Patents
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- TWI504868B TWI504868B TW103123868A TW103123868A TWI504868B TW I504868 B TWI504868 B TW I504868B TW 103123868 A TW103123868 A TW 103123868A TW 103123868 A TW103123868 A TW 103123868A TW I504868 B TWI504868 B TW I504868B
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- Taiwan
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410272583.3A CN105333962B (zh) | 2014-06-18 | 2014-06-18 | 一种修正双波段测温误差的温度测量方法及*** |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI504868B true TWI504868B (de) | 2015-10-21 |
| TW201600838A TW201600838A (zh) | 2016-01-01 |
Family
ID=54851790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW103123868A TW201600838A (zh) | 2014-06-18 | 2014-07-10 | 修正雙波段測溫誤差的溫度測量方法及系統 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105333962B (de) |
| TW (1) | TW201600838A (de) |
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| CN113375757B (zh) * | 2020-03-27 | 2022-12-02 | 洛森自动化科技（上海）有限公司 | 一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| TW323333B (de) * | 1994-05-30 | 1997-12-21 | Nippon Kokan Kk | |
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| CN103411684A (zh) * | 2013-07-17 | 2013-11-27 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 测量反应腔室内薄膜温度的方法 |
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| CN102749141A (zh) * | 2012-07-30 | 2012-10-24 | 中国科学院自动化研究所 | 一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器 |
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2014
- 2014-06-18 CN CN201410272583.3A patent/CN105333962B/zh active Active
- 2014-07-10 TW TW103123868A patent/TW201600838A/zh unknown
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN103604507A (zh) * | 2013-11-25 | 2014-02-26 | 国家电网公司 | 一种用于在线监测gis罐体内部导体温升的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105333962B (zh) | 2018-06-22 |
| CN105333962A (zh) | 2016-02-17 |
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