TWI497059B - Multi - surface detection system and method - Google Patents

Description

多重表面檢測系統與方法

本發明係涉及一種元件檢測系統，更具體而言，本發明係涉及多重表面檢測的一個系統與方法，該系統與方法無需將元件放置在檢測裝備內即可執行檢測。

按，先前熟知元件多重表面檢測的方法係運用單一組影像資料，現行執行類似檢測的方法與系統必須將元件放置在檢測裝置之內，例如必須將元件下降或上升至檢測位置。

然而，有些檢測系統與方法將檢測裝置放置在元件上方或下方，以執行檢測作業，該等系統與方法不同表面之影像資料並不在同一焦平面(focal plane)上，而是在一面積較受檢測元件總面積大許多的區域內。因此，該等系統與方法的解析度很低，或是需要具備不同焦長(focal lengths)的影像資料產生系統。

是以，針對上述習知使用上所存在之問題點，如何研發出一種能夠更具理想實用性之創新構造，實有待相關業界再加以思索突破之目標及方向者。

有鑑於此，發明人本於多年從事相關產品之製造開發與設計經驗，針對上述之目標，詳加設計與審慎評估後，終得一確具實用性之本發明。

本發明之主要目的，係在提供一種多重表面檢測系統與方法，所述系統與方法可克服先前多重表面檢測所運用系統與方法的問題。

本發明係提供一輸送中即時檢測(on-the-fly inspection)系統；該系統包括一個稜鏡結構，該稜鏡結構配置在受檢測品項輸送路徑下方；一影像資料系統則配置在該稜鏡結構下方；一照明總成(lighting assembly)提供一第一照明設備，藉以照明一受檢測品項複數側邊(sides)，同時提供一第二照明設備，藉以照明一個受檢測品項一個底部(bottom)；藉此創新獨特設計，使本發明對照先前技術而言，係可達到如下之優點：

所述檢測系統運用具備兩個反射表面的稜鏡，藉以彌補不同檢測表面間焦長差異，此處該稜鏡係用來彌補光線穿透之不同折射係數(refractive indexes)，而非彌補不同檢測表面間之差異，同時讓受檢測表面可以互相緊鄰的靠在一起，以提高影像資料的解析度。

請參閱第1～7圖所示，係本發明多重表面檢測系統與方法之較佳實施例，惟此等實施例僅供說明之用，在專利申請上並不受此結構之限制；以下說明中，所附規格與圖示中類似組件分別以類似參考數值標示之。為了簡明扼要之故，以下各圖示或許未依據比例繪製，同時特定元件可能以商業設計認可的一般性概念或是圖示方式表示之。

如第1圖所示，係為一檢測物件系統100之示意圖；該檢測物件系統100運用單一組影像資料，以檢測一個物件的側邊與上端。本說明與專利申請範圍從頭到尾將使用上端乙詞，該詞意指直接面對相機或是其他影像資料產生系統的元件表面，即使最終使用時，該表面位於該元件底部或是屬該元件任一側邊。

所述檢測物件系統100包括檢測片(inspection piece)102與稜鏡104，該稜鏡104經過型態模組，以反射如虛線106所指路徑，如此一來，從該稜鏡104底面118即可看到該檢測片102的側邊。以這種方式，相機或其他影像資料產生設備，即可產生該檢測片102上端及側邊的影像資料，正如同從該稜鏡104底面118依虛線106箭頭所示方向所看到的影像一般。

雖然也可以用鏡子來產生類似影像資料，但是利用鏡子的一個缺點是從該檢測片102側邊到與該稜鏡104底面118平行的某個位置的路徑焦長，會比從該檢測片102上端到與該檢測片102上端的檢視框架116的路徑焦長來得長，該檢測片102同時也與該稜鏡104底面118平行。因為該稜鏡104可用來調整焦長，使得自該檢測片102表面至檢視框架116直接影像焦長相吻合，透過該稜鏡104底面118所看到的側邊影像的有效焦長，與該檢測片102上端至檢視框架116的距離可以是相等的，因此可輕易產生一個單一組的聚焦影像資料，以利執行檢測片102之檢測作業。

此外，如果運用一面鏡子來產生該檢測片102的側邊影像，其視界會較為寬廣。在這實施例中，必須產生畫素高的影像資料，以填補該檢測片102上端與顯示該檢測片102側邊的鏡子所獲得的影像之間的空間。因此該檢測物件系統100能夠形成畫素密度較高的影像，包括該檢視框架116該檢測片102上端及透過該稜鏡104底面118所看到的該檢測片102側邊的影像資料。

如第1圖所揭，所述角α定義該稜鏡104與第一反射面108及第二反射面110之間的關係。測量與該第一反射面108反射點平行的平面及該反射點與該檢測片102平面之間的角度，即可獲得角α。該第一反射面108平面與在該反射點與該檢測片102平行的平面間之角度為45°+α，同時該第一反射面108與第二反射面110之間的角度為45°-α/ 2，所以角α的一般範圍為20°至50°。此外由第1圖可觀察到，該稜鏡104上部所在平面及該檢測片102上端所在平面之間，有一光源間隙112，該光源間隙112必須夠大，讓一個低角度照明設備114能夠照明該檢測片102上端與側邊。是以就增進光源間隙112功能而言，該稜鏡104之運用較先前技術所採用系統更具優勢。

如第2圖所示，係為本發明之實施例一，顯示一個稜鏡200光線路徑之示意圖。與第1圖所揭稜鏡104不同，上述稜鏡104係屬五稜鏡，五稜鏡具備3個鈍角與2個銳角，而該稜鏡200則屬六稜鏡，六稜鏡具備3個鈍角、1個直角與2個銳角。該稜鏡200包括一個視界，該視界由直線202A與202B界定之。如第2圖所示，沿著一個檢測物件側邊的點A與點B可透過稜鏡204反射之，如圖所指虛線206與208，在該稜鏡204底部所得影像是一個相反的影像，點A與點B位置互換，點A會在點B左側。因此，受檢測品項側邊與單一鏡面所檢視品項側邊的視位置座標正好相反。同理，虛線也會顯示在該稜鏡204中各側邊相關位置，該稜鏡204各反射面之間的角度關係與第1圖所示同。

然而作業時，該稜鏡204可用來產生一個受檢測物件一個側邊的影像，使得單一組影像資料就能夠攫取一個檢測物件的上端與側邊。因為能夠對該稜鏡204影像物件側邊路徑焦長實施調整，使其與影像資料產生系統直接檢視物件上端之路徑焦長一致，所以就可能運用單一影像資料產生系統，例如一個數位影像系統，同時聚焦在受檢測物件側邊影像與上端表面影像。

如第3圖所示，係為本發明之實施例二，顯示一個檢測元件系統300A與300B之示意圖。檢測元件系統300A係顯示一個檢測片輸送系統(例如輸送帶302)朝向箭頭A方向移動，該輸送帶302攜帶檢測片304A~304D通過一個檢測區。稜鏡306A~306D攫取檢測片304A~304D側邊的影像資料，影像資料產生系統308配置在稜鏡306A~306D上端表面所形成的檢視區上方，同時當檢測片304A~304D通過該影像資料產生系統308下方時，該檢視區位於檢測片304A~304D正上方。

正如上述，所述稜鏡306A~306D具備一個焦長，該焦長與通過影像資料產生系統308下方檢視區的檢測片304A~304D表面通過空氣的焦長相等。在另一個實施例中，在檢測片304上端可採用另一個矩形稜鏡，其目的僅在確保折射係數與306A~306D的折射係數相同。以此種方式，影像資料產生系統308能夠產生一組影像資料，該影像資料同時包括檢測片304A-304D上端與側邊。低角度環型照明系統316提供受檢測元件之照明，該低角度環型照明系統316對受檢測元件側邊或上端表面不會產生過度照明，例如採用設定不同亮度值的成列發光二極體或其他適切的方式。

所述影像補償與檢測系統310與影像資料產生系統308連結，此處所使用連結乙詞及其單複數型態之同源字可包括一個實體連結(例如電線、光纖或是電化通訊媒介)、一個虛擬連結(例如透過隨機指定某一數據記憶體設備之記憶體位置，或是HTTP連結)、一個邏輯連結(例如透過積體電路中一個或多個半導體設備)或是其他適切形式之連結。在某一實施例中，一個通聯媒體可以是一個網路系統或是其他適切的通聯媒體。

所述影像補償與檢測系統310包括側邊檢測系統312與上端檢測系統314，該側邊檢測系統312與上端檢測314都可以利用硬體、軟體或軟、硬體適切組合方式執行，同時也可以在一般用途處理器平台執行的一個或多個軟體系統。此處所謂一個硬體系統可以包括一個分立元件的組合、一個積體電路、一個專用積體電路、一個現場可編程輯閘陣列(field programmable gate array)或是其他適切硬體；一個軟體系統可包括一個或多個物件、媒介(agents)、線索(threads)、程式碼行數(lines of code)、子程式(subroutines)、獨立軟體應用系統、2行或多行程式碼，或是可在2個或多個軟體應用系統或2個或多個處理器上執行的適切軟體結構，或是其他適切軟體結構。在某一個實施例中，一個軟體系統可包括一行或多行程式碼，或是其他能夠在一般用途軟體應用系統上執行的適切軟體結構，例如：一個作業系統，與能夠在一般用途軟體應用系統上執行的其他適切軟體結構的一行或多行程式碼。

所述影像補償與檢測系統310接收來自影像產生系統308的影像資料，同時提供側邊影像資料給側邊檢測系統312，也提供上端影像資料給上端檢測系統314。在某一個實施例中，該影像產生系統308可產生受檢測品項多重影像，例如運用不同照明角度、不同照明顏色/波長、不同照明強度，或是運用其他照明參數之變化，因此藉由比對不同影像資料組別、運用不同照明型態或其他適切方式，即可偵測出瑕疵。在某一個實施例中，運用諸如預先定義模板(predetermined templates)、影像偵測技術或其他適切作業程序，該影像補償與檢測系統310可定位具備檢測片304A~304D其中之一影像資料的區域。如檢測元件系統300B所示，該影像資料產生系統308所產生的影像資料範例組可包括檢測片304C一個上端及透過稜鏡306A~306D所看到的檢測片304C側邊。利用稜鏡306A~306D，該影像補償與檢測系統310可將該檢測片304C側邊影像分離，並將該等影像提供給側邊檢測系統312進行分析，例如直接轉移畫素、稜鏡所產生扭曲變形影像之補償，或是以其他適切方式為之。同理，也可將該檢測片304C上端影像提供給上端檢測系統314。以此種方式，可以產生某一受檢測品項上端與側邊影像，此處影像資料產生系統308至檢測片304A~304D的檢視路徑焦長與側邊檢視的路徑焦長等長。同理，運用諸如模式比對、預先定義區域影像資料定位、遮蔽(masking)、畫素直方圖資料(pixel histogram data)或其他適切資料，該上端檢測系統314可產生並檢查檢測片304C上端影像資料。

於某一個實施例中，該側邊檢測系統312與上端檢測系統314可運用照明設備放射不同波長的光線，如此可以做到以下事項：以一個第一種顏色光線照明側邊，並以一個第二種顏色光線照明上端；運用不同顏色光線同時檢測側邊與上端；運用最佳化光源波長或其他適切方式，偵測預先定義之瑕疵級別。該側邊檢測系統312與上端檢測系統314可運用(或交替運用)來自不同位置、不同光源之照明，以提升偵測瑕疵、受損或其他問題之能力。在此一實施例中，利用比對2個不同角度照明之影像資料，例如藉由表面瑕疵所投射之陰影或是其他適切方式，可偵測出表面瑕疵。

如第4圖所示，係為本發明之實施例三，顯示一個檢測系統400A與400B之示意圖。在該檢測系統400B中，所述影像補償與檢測系統402包括檢測片追蹤系統404、側邊檢測系統406與上端檢測系統408。藉由直接檢視諸如檢測片414B與414C範例檢視檢測片上端，或是透過稜鏡412A~412D檢視片側邊，該影像資料產生系統410自一個視界產生影像資料，該視界包括複數檢測片414A~414D。所述低角度環型照明系統418提供受檢測元件之照明，但對受檢測元件之側邊或上端表面並不會造成過度照明，諸如採用預先設定不同亮度值之成列發光二極體或其他適切方式。

又如檢測系統400A所示，該影像資料產生系統410所產生範例檢視包括檢測片414B與414C上端，以及檢測片414B一個側邊、透過稜鏡412C所看到的檢測片414B與414C一個側邊、透過稜鏡412A所看到的檢測片414C側邊與透過稜鏡412B所看到的檢測片414B與414C側邊。因為影像資料包括多重檢測片的各個側邊，該檢測片追蹤系統404會識別並追蹤與該檢測片相關聯的側邊影像。在某一個實例失中，當某一檢測片輸送系統(諸如拾取與放置工具[pick and place tool))416朝箭頭A方向移動檢測片時，會掃描通過影像資料產生系統410視界之檢測片。該影像補償與檢測系統402接收影像資料，並透過稜鏡412A~412D及直接檢視檢測片表面，識別檢測片、檢測片上端與檢測片側邊。另外可將一個稜鏡配置在檢測片414下方，其目的僅在確保折射係數與稜鏡412A~412D之折射係數相符。同理，可執行適切的補償作業程序，以補償相關稜鏡所產生任何側邊影像資料之扭曲變形。該側邊檢測系統406與上端檢測系統408用來分析影像資料，以決定檢測片是否合乎標準。該檢測片追蹤系統404接收來自側邊檢測系統406與上端檢測系統408的側邊影像資料之測試結果，並決定一組包括檢測片4個側邊與上端的完整影像資料是否產生。影像補償與檢測系統402產生不合格檢測片之指標(indications)，據以拒收該不合格檢測片。在某一個實施例中，可對拾取與放置工具416加以控制，將不合格品項放置在事先定義的位置，並發通知給作業人員，以利作業人員以人工方式檢視該檢測片，或是採用其他適切方式執行此一動作。

如第5圖所揭，係為本發明之實施例四，為顯示品項檢測的一個方法500的流程圖。該方法500利用一個或多個稜鏡，以免除檢測片三個軸向移動之必要性。該方法500由步驟501開始，該步驟501係將檢測片放置在複數稜鏡之上，或放置在複數稜鏡之下，或是以其他適切方式放置檢測片，檢測片放置方式端視檢測片輸送工具而定，諸如拾取與放置工具、輸送帶，或是其他適切的輸送工具。接下來為步驟502，步驟502係產生影像資料。在某一個實例中，影像資料可來自包括一組4個稜鏡與一個直接檢視區的一個視界，或是來自其他適切視界。接下來為步驟503。

步驟503決定視界中受檢測品項是否屬多重檢測片，如果不屬多重檢測片，則來到步驟504，該步驟504產生檢測片側邊與上端的影像資料，同時並執行一個或多個影像資料分析作業。在某一個實例中，可執行側邊與上端的影像資料分析，以確認該影像資料是否包括任何瑕疵指標；產生畫素直方圖資料；分析來自影像資料內部所涵蓋預先定義位置的資料；執行其他適切作業程序。接下來為步驟505。

步驟505決定檢測片是否通過檢測，如果該檢測片未通過檢測，則來到步驟506，步驟506會拒收該檢測片。在某一個實例中，可提供一個指令給拾取與放置控制設備，將不合格檢測片放置到瑕疵品中，並發通知給作業人員，以利作業人員移除該檢測片，同時執行人工檢測，或是採行其他適切之作業程序。同理，如果步驟505決定該檢測片通過檢測，則返回步驟501。

如果步驟503決定受檢測品項係多重檢測片，則來到步驟507。步驟507產生多重檢測片上端與側邊影像資料，同時將上端與側邊影像分離。在某一個實施例中，如果多重上端影像與側邊影像同時呈現，不但必須將上端影像與側邊影像分離，同時也必須將側邊影像資料與適切之上端影像資料連結，以便形成一個完整的側邊與上端影像資料組。接著來到步驟508，該步驟508執行影像資料之檢測。在某一個實施例中，可藉由諸如直方圖檢測、預先定義區檢測或其他適切資料等一般檢測作業程序，對上端與側邊影像資料組實施檢測。接著來到步驟509，該步驟509追蹤測試結果。在某一個實施例中，可能在同一個時間檢測複數檢測片，如此可將任何有瑕疵側邊與複數檢測片其中之一連結。在這實施例中，透過測試結果追蹤作業之遂行，使得每一檢測片通過檢測設備時，能夠產生一組完整的影像資料，因此相對於檢測片輸送移動方向，當這些檢測片無需朝一個第三軸的方向移動，而由一個位置朝向第二個位置側向輸送移動時，諸如朝向檢測設備移動，可對該等檢測片實施移動間即時檢測(fly inspection)。接下來為步驟510。

步驟510決定是否已經接收一個檢測片的一組完整檢測資料，如果尚未接收一組完整的資料，返回步驟501，同時將該等檢測片移除，直至產生一組完整的影像資料為止。反之，則來到步驟511，該步驟511決定檢測片是否通過檢測，如果通過檢測，返回步驟501，否則來到步驟512。該步驟512會拒收未通的檢測片，同時會執行一個適切的作業程序，或產生指標。接下來返回步驟501。

作業中，當檢測片通過一個檢測設備的視界時，方法500可對檢測片進行檢測。該方法500與先前技術所採用系統不同，如果採用先前技術系統，所有檢測品項必須朝向一個軸向輸送移動，以利將側邊放置在檢測設備視界之內，如果一個檢測設備利用該方法500，則該設備單一視界即可獲得側邊與上端影像資料，如此即可執行持續輸送移動、移動中即時檢測與其他適切作業程序。

如第6圖所示，係為本發明之實施例五，顯示一個光源總成600之示意圖。該光源總成600包括照明設備602A~602D，該等照明設備602A~602D分別配置在照明設備支座606A~606D之上。在某一個實施例中，該照明設備602A~602D可配置在一個圓頂照明支座，例如一個可提供3⁰ 至80⁰ 照明範圍或其他適切範圍的圓頂照明設備。一個環型陣列LED照明設備或其他適切照明設備604A~604D也同時分別配置在照明設備支座606A~606D，以利提供低角度光源。箭頭608顯示一個檢測品項610穿過光源總成600之輸送路徑。

作業中，該光源總成600用來執行品項移動中即時檢測，同時利用來自兩個不同光源型態模組的光線，提供一個檢測品項側邊與底部的照明。該光源總成600具備一個管道，使得檢測品項能夠沿著穿過一個稜鏡陣列的一個一度空間的輸送路徑(例如沿著一條直線)垂直移動，該稜鏡陣列係用來產生檢測品項側邊與底部的影像資料，且該檢測品項無需朝向其他空間移動，例如一個二度或三度空間的輸送路徑(例如無須側向移動，同時也不必將檢測品項降低至稜鏡或鏡子所在的空間)。可利用不同照明設備執行以下事項：提供一個檢測品項底部與側邊之照明；提供不同光源波長；提供不同照明角度；或是其他適切目的與用途。透過照明型態612之運用，該光源總成600可用來精進拐角檢測，例如包裝瑕疵偵測之改善。

如第7圖所示，係為本發明之實施例六，顯示一個光源總成700之示意圖。該光源設備支座702支撐發光二極體704A~704B或其他適切照明設備，該等發光二極體704A~704B或其他適切照明設備提供由支座712所支撐的檢測品項716側邊之照明，該支座712可運用吸附方式或其他適切機制支撐檢測品項706，同時沿著該照明設備支座702一個管道輸送該檢測品項706。該發光二極體704A與704B可依據一個角度配置或是實施型態模組，讓光源集中在檢測品項706側邊。在某一個實施例中，發光二極體704A與704B可依據水平角度20⁰ 至35⁰ 配置，以提供檢測品項706側邊最適照明，或是依據與稜鏡708A與708B協調的角度配置。

該稜鏡708A與708B配置於檢測品項706路徑之下，同時被一個發光二極體環狀陣列710或其他適切照明設備所包圍。該環狀陣列710以固定化格式顯示之，因為發光二極體或其他照明設備能夠以環狀配置，因此能夠提供照明設備支撐702內部環境均勻統一的照明，同時能夠依據一定角度或其他方式配置，將照明集中在該檢測品項706的底部表面。

作業中，該檢測品項706會沿著稜鏡上方光源總成700內部一個管道輸送，例如以線性方式移動，而且無須一個二度或三度空間的額外動作，該等稜鏡經過型態模組，以便獲得該檢測品項側邊之影像資料。利用一個第一照明設備，以利將光源集中在檢測品項側邊，同時利用一個第二照明設備，以提供檢測品項底部表面之照明。可利用一種真空拾取與放置工具或其他適切支撐，以倒轉層位方式支撐檢測品項，以利執行該檢測品項上端表面之檢測，隨後該等檢測品項會輸送通過位於稜鏡上方之管道。利用配置在該等稜鏡對端的一部相機或是其他適切設備，產生一個單一組的影像資料，該影像資料包括該檢測品項所有4個側邊及該檢測品項底部。藉由光源之運用，可利用不同角度或波長提供照明，針對不同影像資料組別進行比對，以利瑕疵或毀損品項之偵測，並能夠突顯毀損之各種不同型態，例如包裝瑕疵或其他適切事項。

上述實施例所揭示者係藉以具體說明本發明，且文中雖透過特定的術語進行說明，當不能以此限定本發明之專利範圍；熟悉此項技術領域之人士當可在瞭解本發明之精神與原則後對其進行變更與修改而達到等效之目的，而此等變更與修改，皆應涵蓋於如后所述之申請專利範圍所界定範疇中。

100．．．檢測物件系統

102．．．檢測片

104．．．稜鏡

106．．．虛線

108．．．第一反射面

110．．．第二反射面

112．．．光源間隙

114．．．低角度照明設備照明設備

116．．．框架

118．．．底面

200．．．稜鏡

202A、202B．．．直線

204．．．稜鏡

206、208．．．虛線

300A、300B．．．檢測元件系統

302．．．輸送帶

304A～304D．．．檢測片

306A～306D．．．稜鏡

308．．．影像資料產生系統

310．．．影像補償與檢測系統

312．．．側邊檢測系統

314．．．上端檢測系統

316．．．低角度環型照明系統

400A、400B．．．檢測系統

402．．．影像補償與檢測系統

404．．．檢測片追蹤系統

406．．．側邊檢測系統

408．．．上端檢測系統

410．．．影像資料產生系統

412A～412D．．．稜鏡

414A～414D．．．檢測片

416．．．拾取與放置工具

418．．．低角度環型照明系統

500．．．方法

501～512．．．步驟

600．．．光源總成

602A～602D．．．照明設備

604A～604D．．．照明設備

606A～606D．．．照明設備支座

608．．．箭頭

610．．．檢測品項

612．．．照明型態

700．．．光源總成

702．．．光源設備支座

704A、704B．．．發光二極體

706．．．檢測品項

708A、708B．．．稜鏡

710．．．發光二極體環狀陣列

712．．．支座

第1圖：本發明稜鏡之第一、二反射面關係示意圖。

第2圖：本發明之稜鏡光線路徑示意圖。

第3圖：本發明之檢測元件系統示意圖。

第4圖：本發明之檢測系統示意圖。

第5圖：本發明之品項檢測方法方塊示意圖。

第6圖：本發明之光源總成示意圖一。

第7圖：本發明之光源總成示意圖二。

100．．．檢測物件系統

102．．．檢測片

104．．．稜鏡

106．．．虛線

108．．．第一反射面

110．．．第二反射面

112．．．光源間隙

114．．．低角度照明設備照明設備

116．．．框架

118．．．底面

Claims (17)

1. 一種複數檢測品項移動中即時檢測之系統，每一檢測品項包含一底部表面及及至少一與底部表面區別的側邊表面，該系統包括：一檢測品項運送系統設置以沿著一單面檢測傳送路徑移動檢測品項，如此每一檢測品項的一底部表面存在於一檢測平面並通過於在檢測平面內之一檢測區域；一稜鏡結構包含至少一稜鏡，每一稜鏡結構內的稜鏡有第一端、第二端及第一反射面設置用來接收當檢測品項沿著一單面檢測品項傳送路徑移動通過檢測區域時在複數檢測品項內之每一檢測品項之至少一側邊表面反射之光線，且將該接收反射光線導向稜鏡的第二端，該稜鏡結構每一稜鏡的第一端包含在一稜鏡平面，該稜鏡平面平行且透過空間帶隙與該檢測平面軸向分離，該稜鏡結構內之每一稜鏡之第一端以此設置在該檢測平面之下；一配置在該稜鏡結構內每一稜鏡第二端下方的影像資料系統，該影像資料系統產生該複數檢測品項內每一檢測品項的至少一側邊表面的影像資料，複數檢測品項沿著一單面檢測品項傳送路徑移動通過該檢測面內之檢測區域；以及一光源總成，圍繞及延伸在稜鏡結構之上，該光源總成有一管道在稜鏡結構之上，透過此該複數檢測品項藉著檢測品運送系統為可移動，並有一套發光元件設置在檢測平面之下。
2. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該光源總成第一光源照射在複數檢測品項內之至少一檢測品項的一複數側邊表面，第二光源照射在複數檢測品項內之至少一檢測品項的底部表面。
3. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中光源總成包含一圓頂照明設備，且該圓頂照明設備包含一複數LED區段照射該檢測品項的複數側邊表面及底部表面。
4. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該稜鏡結構包括複數稜鏡且包含第一稜鏡及第二稜鏡設置在沿著一單面檢測品項傳送路徑方向之各別相關不同位置，該檢測品項運送系統設置以用來沿著一單面檢測傳送路徑傳送複數檢測品項中之每一檢測品項通過光源總成的管道，以此該複數檢測品項中之每一檢測品項在通過第二稜鏡前可通過第一稜鏡。
5. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，該稜鏡結構之每一稜鏡之第一反射表面是以一預定角度定位在第一反射表面的一平面及平行於檢測平面之一平面之間，且該光源總成包含發光元件設置在管道之下且發光元件圓形環繞住稜鏡結構。
6. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中第一反射面的一個或多個稜鏡，該第一反射面平面與另一與該檢測平面平行的平面間之夾角為45°+α，而α大約為20°至50°，且該稜鏡結構包含一第二反射表面並有一與第一反射表面相關之預設角度關係以接受由此反射的光線。
7. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該光源總成包括複數發光二極體，該複數發光二極體配置在稜鏡結構內每一稜鏡的第一端及第二端之間沿著稜鏡結構一部分的管道之下。
8. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該光源總成包括一發光二極體環狀陣列。
9. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該稜鏡結構包含複數稜鏡經過安排，當從稜鏡結構內每一稜鏡之第二端某一點檢視該複數稜鏡時，此種安排可提供該檢測品項複數側邊表面之單一套影像資料。
10. 依據申請專利範圍第9項所述之系統，其中該複數稜鏡包括：一第一組相互對立的稜鏡，以提供複數檢測品項內至少一個檢測品項右側與左側邊表面之影像；及一第二組相互對立的稜鏡，以提供複數檢測品項內至少一個檢測品項前端與後端側邊表面之影像。
11. 依據申請專利範圍第10項所述之系統，其中該稜鏡結構包括一配置在該第一組相互對立的稜鏡與該第二組相互對立的稜鏡中心的第五稜鏡，以符合一個聚焦影像的一個折射係數。
12. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，進一步包括一低角度照明設備以提供檢測平面及稜鏡平面之間空間帶隙內之照明。
13. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中光源總成包括一複數LED區段以照射檢測品項底部。
14. 依據申請專利範圍第1項所述之系統，其中該影像資料系統利用不同的照射角度、波長、強度產生複數檢 測品項內一檢測品項的多重影像。
15. 一種品項移動中即時檢測之方法，該方法包括：沿著一單面檢測品項傳送路徑在照明總成內部管道輸送一檢測品項，該檢測品項的底部表面存在於一檢測平面內之檢測區域；運用一光源總成，提供該檢測品項複數側邊平面之照明；以及運用一光源總成，提供該檢測品項底部表面之照明；在照明總成內部管道輸送一檢測品項在稜鏡結構之上，該稜鏡結構由複數個稜鏡組成包含第一稜鏡及第二稜鏡，每一稜鏡結構內的稜鏡有第一端、第二端及第一反射表面用來將光線射入於稜鏡的第一反射表面上並導向至稜鏡的第二端，該稜鏡結構每一稜鏡的第一端包含在一稜鏡平面，該稜鏡平面在光源總成內管道之下平行且透過空間帶隙與該檢測平面軸向分離，該稜鏡結構內之每一稜鏡之第一端以此設置在該檢測平面之下；當檢測品項沿著一單面檢測品項傳送路徑移動時，在稜鏡結構內每一稜鏡的第一反射表面接收來自檢測品項側邊表面反射出之光線；當檢測品項沿著一單面檢測品項傳送路徑移動通過檢測區域時檢測品項越過稜鏡結構並利用設置於稜鏡結構內每一稜鏡第二端下方的影像資料系統產生檢測品項的複數側邊表面的影像資料。
16. 依據申請專利範圍第15項所述之方法，其中該方法進一步包括：產生檢測品項複數側邊表面影像資料，包 含產生檢測品項複數側邊表面的單一套影像資料。
17. 依據申請專利範圍第15項所述之方法，其中運用該光源總成提供該檢測品項複數側邊表面照明包括提供該測試品項複數側邊拐角之照明。