TWI484394B

TWI484394B - 觸控裝置及其運作方法

Info

Publication number: TWI484394B
Application number: TW101122842A
Authority: TW
Inventors: Jui Ming Liu; Li Lin Liu; Chung Wen Chang; Shen Feng Tai
Original assignee: Himax Tech Ltd
Priority date: 2012-06-26
Filing date: 2012-06-26
Publication date: 2015-05-11
Also published as: TW201401136A

Description

觸控裝置及其運作方法

本發明是有關於一種觸控裝置及其運作方法，且特別是有關於一種可自動重新量測資料基準值的觸控裝置及其運作方法。

隨著資訊技術、無線行動通訊和資訊家電的快速發展與應用，為了達到攜帶便利、體積輕巧化以及操作人性化的目的，許多電子裝置已由傳統之鍵盤或滑鼠等輸入裝置，轉變為使用觸控面板(Touch Panel)作為輸入裝置。目前的觸控面板大致可分為電容式觸控面板以及電阻式觸控面板，其中電容式觸控面板之感測效果較佳，因此成為現今觸控面板之主流。

電容式觸控面板為經由手指或導體材質靠近或觸控觸控面板，而使觸控面板之電容值變化，因此可透過電容值的變化判斷出電容式觸控面板的觸控點。一般而言，在電子裝置開機時，觸控裝置會對電容式觸控面板進行初始化。此時，觸控裝置會認為電容式觸控面板處於無觸控狀態，並且紀錄電容式觸控面板的多個觸控資料作為判斷電容值變化的資料基準值。

然而，當電容式觸控面板初始化時，電容式觸控面板靠近或附著導電物質(如水或金屬)，則觸控裝置所紀錄的資料基準值可能會導致觸控點的誤判。或者，當觸控裝置的使用環境大幅變化時(如溫度大幅變化)，由於電容式觸控面板的電容值亦會隨著溫度而上升或下降，以致於觸控裝置會誤判電容式觸控面板的觸控點。

本發明提供一種觸控裝置及其運作方法，在偵測到的多個觸控資料出現異常時，重新量測觸控面板的多個資料基準值，以避免觸控點的誤判。

本發明提出一種觸控裝置，包括觸控面板及觸控偵測單元。觸控面板具有多個行電極及多個列電極，並且這些行電極與這些列電極交錯而形成多個觸控區域。觸控偵測單元耦接觸控面板，在進行一初始化動作時量測且設定觸控面板的多個資料基準值。觸控偵測單元在掃描觸控面板後取得觸控面板的多個觸控資料，以依據這些資料基準值及這些觸控資料計算出多個觸控值，並依據這些觸控值偵測一觸控點。並且，在這些觸控資料符合一重新測定條件後，觸控偵測單元重新量測及設定觸控面板的這些資料基準值。

本發明亦提出一種觸控裝置的運作方法，其包括下列步驟。在一觸控面板進行一初始化動作時，量測且設定觸控面板的多個資料基準值。在掃描觸控面板後，取得觸控面板的多個觸控資料。依據這些資料基準值及這些觸控資料計算出觸控面板對應的多個觸控值。依據這些觸控值偵測一觸控點。當這些觸控資料符合一重新測定條件時，重新量測及設定觸控面板的這些資料基準值。

在本發明之一實施例中，當觸控面板以一自容式定位方式驅動時，這些資料基準值為觸控面板的多個行電極及多個列電極於初始化動作時對應的多個電容值。

在本發明之一實施例中，重新測定條件為，這些觸控資料中至少其中之一小於等於對應的資料基準值減去重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。

在本發明之一實施例中，當觸控面板以互容式定位方式驅動時，這些資料基準值為觸控面板的多個觸控區域於初始化動作時對應的多個電容值。

在本發明之一實施例中，重新測定條件為，這些觸控資料中至少其中之一大於等於對應的資料基準值與重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間。

在本發明之一實施例中，重新測定條件為，這些觸控資料沿時間上升或下降，並且這些觸控資料至少其中之一大於等於對應的資料基準值與重新測定臨界值的總和或小於等於對應的資料基準值減去重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間。

在本發明之一實施例中，重新測定條件為，觸控面板以自容式定位方式及互容式定位方式的其中之一驅動時，依據這些觸控值偵測出觸控點，觸控面板以自容式定位方式及互容式定位方式的其中另一驅動時，依據這些觸控值未偵測出觸控點。

基於上述，本發明實施例的觸控裝置及其運作方法，在觸控資料符合重新測定條件時，重新量測觸控面板的資料基準值，以避免不正確的資料基準值或不合適的資料基準值造成觸控點的誤判。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1為依據本發明一實施例的觸控裝置的系統示意圖。請參照圖1，在本實施例中，觸控裝置100包括觸控面板110及觸控偵測單元120。在此，觸控面板110以投射式電容觸控面板為例，亦即觸控面板110具有多個行電極111_1~111_x及多個列電極113_1~113_y，並且行電極111_1與列電極113_1~113_y交錯而形成多個觸控區域115，其中x及y為一正整數。

觸控偵測單元120耦接觸控面板110。在觸控裝置100進行初始化動作時，觸控偵測單元120會認為觸控面板110未被觸控，此時觸控偵測單元120會量測且設定觸控面板110的多個資料基準值DB。並且，在設定資料基準值DB後，觸控偵測單元120可掃描觸控面板110，以取得觸控面板110的多個觸控資料DTT。其中，資料基準值DB與觸控資料DTT的量測方式(即偵測方式)會相同，而資料基準值DB為進行觸控面板110的初始化動作所取得的資料，觸控資料DTT為觸控面板110初始化完成後所取得的資料。

接著，觸控偵測單元120可依據這些資料基準值DB及這些觸控資料DTT計算出多個觸控值，並且依據所計算出的觸控值偵測觸控面板110上的觸控點TP。並且，在這些觸控資料DTT符合一重新測定條件後，觸控偵測單元120會重新量測及設定觸控面板110的資料基準值DB。其中，上述重新測定條件為表示觸控偵測單元120所偵測到的觸控資料DTT出現異常(如大幅上升或下降、整體上升或下降)且持續n個畫面期間，在此n可設定為大於等於10，但本發明實施例不以此為限。並且，上述設定持續n個畫面期間為用以判斷觸控資料DTT的異常是雜訊所引起，或是錯誤的資料基準值DB或不合適資料基準值DB的所引起。

圖2為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1及圖2，在本實施例中，觸控面板110是以自容式定位方式來驅動，亦即觸控偵測單元120會分別偵測行電極111_1~111_x及列電極113_1~113_y的電容值。並且，在此x例如為15，y例如為9，並且觸控偵測單元120會將初始化動作所偵測到的行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的電容值作為資料基準值DB_S，其參照圖2所示。

當觸控偵測單元120以自容式定位方式驅動觸控面板110時，行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)一般會大於等於對應的資料基準值DB_S。並且，行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值(如VP_1)一般會以正值表示，亦即觸控偵測單元120會將行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)減去對應的資料基準值DB_S以取得對應的觸控值(如VP_1)。

然而，若觸控面板110在初始化期間靠近或附著導電物質時，觸控偵測單元120紀錄到的部分資料基準值DB_S會受導電物質的影響而變高。並且，在導電物質遠離觸控面板110或自觸控面板110脫落時，部分的行電極111_1~111_15及部分的列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)可能會小於或等於對應的資料基準值DB_S。

由於觸控行為會導致部分的行電極111_1~111_15及部分的列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)大幅上升，因此在行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)受導電物質影響而下降幅度較低時，觸控偵測單元120可忽略且不回應上述觸控資料(如DTT_1)下降的影響。然而，在行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_1)的下降幅度較高時，可能會影響觸控偵測單元120判斷觸控點TP的準確度，此時可重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S以消除上述觸控資料(如DTT_1)下降的影響。依據上述，本實施例可設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB_S的重新量測，並且資料基準值DB_S的重新量測一般會執行於觸控面板110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值以20為例。如圖2斜線方格所示，行電極111_7~111_10及列電極113_1~113_3的觸控資料DTT_1小於對應的資料基準值DB_S。其中，行電極111_8及列電極113_2的觸控資料DTT_1小於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值，亦即表示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_1的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值。

接著，在行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_1的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S，以避免因錯誤的資料基準值DB_S導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控值VP_1設定為可用負值表示，亦即行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_1小於對應的資料基準值DB_S時，觸控值VP_1可以為負值(如圖2斜線方格所示)。並且，觸控偵測單元120可依據行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_1判斷是否重新量測行電極 111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S。換言之，當行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_1中負值部分的至少其中之一的絕對值大於等於上述重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S。

圖3為依照本發明另一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1及圖3，在本實施例中，觸控面板110是以自容式定位方式來驅動，並且在此x例如為15，y例如為9，而行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S、觸控資料DTT_2、DTT_3及觸控值VP_2、VP_3可參照圖3所示，其中觸控資料DTT_2的偵測時間早於觸控資料DTT_3的偵測時間，亦即觸控值VP_2對應的時間早於觸控值VP_3對應的時間。

由於行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)會受環境溫度的影響而變動，因此行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)在環境溫度變動的情況下可能會沿時間整體上升或整體下降。並且，在行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)上升幅度過高或下降幅度過高時，可能會導致觸控偵測單元120誤判觸控面板110的觸控點TP，此時可重新量測行電極111_1~111_15及列電極 113_1~113_9的資料基準值DB_S以消除上述觸控資料(如DTT_2、DTT_3)上升幅度過高或下降幅度過高的影響。在此，本實施例可設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB_S的重新量測，並且資料基準值DB_S的重新量測一般會執行於觸控面板110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值設定為20。圖3所示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_3皆高於其觸控資料DTT_2，亦即表示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)皆沿時間整體上升。並且，行電極111_2、111_10、111_12及列電極113_4、113_7的觸控資料DTT_3大於等於對應的資料基準值DB_S與上述重新測定臨界值的總和(參照圖3中所示斜線方格)，亦即表示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_3的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB_S與上述重新測定臨界值的總和。

接著，當電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)皆沿時間整體上升、行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_3的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB_S與上述重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S，以避免因受環境溫度變動的影響而沿時間上升的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控偵測單元120可依據行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_2及VP3判斷是否重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S。換言之，當行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_3皆大於其觸控值VP2、行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_3的至少其中之一大於等於上述重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S。

圖4為依照本發明再一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1及圖4，在本實施例中，觸控面板110是以自容式定位方式來驅動，並且在此x例如為15，y例如為9，而行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S、觸控資料DTT_2、DTT_4及觸控值VP_2、VP_4可參照圖4所示，其中觸控資料DTT_2的偵測時間早於觸控資料DTT_4的偵測時間，亦即觸控值VP_2對應的時間早於觸控值VP_4對應的時間。並且，依據圖3實施例所述，本實施例可對應地設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB_S的重新量測，並且資料基準值DB_S的重新量測一般會執行於觸控面板 110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值設定為20。圖4所示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_4皆低於其觸控資料DTT_2，亦即表示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_3)皆沿時間整體下降。並且，行電極111_13、111_14及列電極113_5、113_7、113_9的觸控資料DTT_4小於等於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值(參照圖4中所繪示斜線方格)，亦即表示行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_4的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值。

接著，當電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料(如DTT_2、DTT_4)皆沿時間整體下降、行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控資料DTT_4的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB_S減去上述重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S，以避免因環境溫度變動的影響而沿時間整體下降的觸控資料(如DTT_2、DTT_4)導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控偵測單元120可依據行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_2及VP_4判斷是否重新量測行電極111_1~111_15及列電極 113_1~113_9的資料基準值DB_S。換言之，當行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_4皆小於其觸控值VP2、行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的觸控值VP_4中負值部分的至少其中之一的絕對值大於等於上述重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測行電極111_1~111_15及列電極113_1~113_9的資料基準值DB_S。

圖5為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的資料基準值示意圖。圖6A及6B為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1、圖5、圖6A及圖6B，在本實施例中，觸控面板110是以互容式定位方式來驅動，亦即觸控偵測單元120會透過行電極111_1~111_x及列電極113_1~113_y偵測觸控區域115的電容值。並且，在此x例如為15，y例如為9，並且觸控偵測單元120會將初始化動作所偵測到的觸控區域115的電容值作為資料基準值DB(如圖5所示)。

當觸控偵測單元120以互容式定位方式驅動觸控面板110時，觸控區域115的觸控資料DTT(如圖6A所示)一般會小於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)。並且，觸控區域115的觸控值(如圖6B所示)一般會以正值表示，亦即觸控偵測單元120可將觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)減去對應的觸控資料DTT(如圖6A所示)。

並且，若觸控面板110在初始化期間靠近或附著導電物質時，觸控偵測單元120可能會紀錄到的錯誤的資料基準值DB(如圖5所示)，以致於可能會影響觸控偵測單元120判斷觸控點TP的準確度。此時，依據圖2實施例所述，本實施例可對應地設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測，並且資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測一般會執行於觸控面板110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值設定為20。如圖6A斜線方格所示，在導電物質的影響下，部分觸控區域115的觸控資料DTT會大於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)。其中，觸控區域115A的觸控資料DTT(圖6A所示)大於對應的資料基準值DTT(如圖5所示121)與上述重新測定臨界值的總和，亦即表示觸控區域115的觸控資料DTT(如圖6A所示)的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)與上述重新測定臨界值的總和。

接著，在觸控區域115的觸控資料DTT(如圖6A所示)的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)與上述重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)，以避免因錯誤的資料基準值DB導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控值(如圖6B所示)設定為可用負值表示，亦即觸控區域115的觸控資料DTT(如圖6A所示)大於對應的資料基準值DB(如圖5所示)時，觸控值(如圖6B所示)可以為負值(如圖6B斜線方格所示)。並且，觸控偵測單元120可依據觸控區域115的觸控值(如圖6B所示)判斷是否重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。換言之，當觸控區域115的觸控值(如圖6B所示)中負值部分的至少其中之一的絕對值大於等於重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。

圖7A及7B為依照本發明另一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。圖8A及8B為依照本發明再一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1、圖5、圖7A、圖7B、圖8A及圖8B，在本實施例中，觸控面板110是以互容式定位方式來驅動，並且在此x例如為15，y例如為9，其中圖7A所示觸控資料DTT的偵測時間早於圖8A所示觸控資料DTT的偵測時間，亦即圖7B所示觸控值所對應的時間早於圖8B所示觸控值所對應的時間。

在觸控區域115的觸控資料DTT(如圖7A及8A所示)受環境溫度變動的影響而上升或下降時，可能會導致觸控偵測單元120無法正確判斷觸控面板110的觸控點TP。此時，依據圖3實施例所述，本實施例可對應地設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測，並且資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測一般會執行於觸控面板110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值設定為20。圖8A所示觸控區域115的觸控資料DTT皆低於圖7A所示對應的觸控區域115的觸控資料DTT，亦即表示觸控區域115的觸控資料DTT(如圖7A及8A所示)皆沿時間整體下降。並且，部分的觸控區域115的觸控資料DTT小於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)減去上述重新測定臨界值的差值(參照圖8A中所示斜線方格)，亦即表示觸控區域115的觸控資料DTT的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB減去重新測定臨界值的差值。

接著，當觸控區域115的觸控資料DTT(如圖7A及圖8A所示)皆沿時間整體下降、觸控區域115的觸控資料DTT的至少其中之一小於等於對應的資料基準值DB減去重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)，以避免因環境溫度變動的影響而沿時間整體下降的觸控資料DTT(如圖7A及圖8A所示)導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控偵測單元120可依據觸控區域115的觸控值(如圖7B及圖8B所示)判斷是否重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。換言之，當圖8B所示觸控區域115的觸控值皆大於圖7B中對應同一觸控區域115的觸控值、圖8B所示觸控區域115的觸控值的至少其中之一大於等於重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。

圖9A及9B為依照本發明又一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。請參照圖1、圖5、圖7A、圖7B、圖9A及圖9B，在本實施例中，觸控面板110是以互容式定位方式來驅動，並且在此x例如為15，y例如為9，其中圖7A所示觸控資料DTT的偵測時間早於圖9A所示觸控資料DTT的偵測時間，亦即圖7B所示觸控值所對應的時間早於圖9B所示觸控值所對應的時間。並且，依據圖5、圖7A、圖7B、圖8A及圖8B的實施例所述，本實施例可對應地設定一重新測定臨界值，以決定是否進行資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測，並且資料基準值DB(如圖5所示)的重新量測一般會執行於觸控面板110未被觸控的畫面期間。

在本實施例中，重新測定臨界值設定為20。如圖9A所示觸控區域115的觸控資料DTT皆高於圖7A所示對應的觸控區域115的觸控資料DTT，亦即表示觸控區域115的觸控資料DTT(如7A及9A所示)皆沿時間整體上升。並且，部分的觸控區域115的觸控資料DTT大於等於對應的資料基準值DB(如圖5所示)與重新測定臨界值的總和(參照圖9A中所示斜線方格)，亦即表示觸控區域115 的觸控資料DTT的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB與重新測定臨界值的總和。

接著，當觸控區域115的觸控資料DTT(如7A及9A所示)皆沿時間整體上升、觸控區域115的觸控資料DTT的至少其中之一大於等於對應的資料基準值DB與重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120會重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)，以避免因環境溫度變動的影響而沿時間整體上升的觸控資料DTT(如7A及9A所示)導致觸控點TP的誤判。

在本發明的一實施例中，觸控偵測單元120可依據觸控區域115的觸控值(如7B及9B所示)判斷是否重新量測觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。換言之，當圖9B所示觸控區域115的觸控值皆小於圖7B中對應同一觸控區域115的觸控值、圖9B所示觸控區域115的觸控值中負值部分的至少其中之一的絕對值大於等於重新測定臨界值且持續n個畫面期間時，觸控偵測單元120重新量測各觸控區域115的資料基準值DB(如圖5所示)。

此外，在本發明的一實施例中，觸控偵測單元120以自容式定位方式及互容式定位方式交替地驅動觸控面板110。當觸控偵測單元120以自容式定位方式驅動觸控面板110可依據觸控值(即資料基準值DB與觸控資料DTT的差值)偵測出觸控點TP且觸控偵測單元120以互容式定位方式驅動觸控面板110無法依據觸控值偵測出觸控點TP時，表示自容式定位方式及互容式定位方式至少其一所對應的資料基準值DB(如圖2中DB_S及圖5所示)造成觸控點TP的誤判，因此觸控偵測單元120可重新量測觸控面板110所對應的資料基準值DB。或者，當觸控偵測單元120以互容式定位方式驅動觸控面板110可偵測出觸控點TP且以自容式定位方式驅動觸控面板110無法偵測出觸控點TP時，觸控偵測單元120同樣可重新量測觸控面板110所對應的資料基準值DB(如圖2中DB_S及圖5所示)。

圖10為依據本發明一實施例的觸控裝置的運作方法的流程圖。請參照圖10，在本實施例中，觸控裝置的運作方法包括下列步驟。在觸控面板進行初始化動作時，量測且設定觸控面板的多個資料基準值(步驟S1010)。在掃描觸控面板後，取得觸控面板的多個觸控資料(步驟S1020)，並且依據這些資料基準值及這些觸控資料計算出這些觸控區域對應的多個觸控值(步驟S1030)。接著，依據這些觸控值偵測觸控點(步驟S1040)。當這些觸控資料符合重新測定條件時，重新量測及重新設定觸控面板的這些資料基準值(步驟S1050)。其中，上述步驟的順序為用以說明，本發明實施例不以此為限，並且上述重新測定條件及上述步驟的細節可參照上述圖1至圖5、圖6A、圖6B、圖7A、圖7B、圖8A、圖8B、圖9A、圖9B的實施例所述，在此則不再贅述。再者，在不符合重新測定條件的情況下，只會執行步驟S1010、S1020、1030及S1040，亦即不會進行資料基準值的重新量測。

綜上所述，本發明實施例的觸控裝置及其運作方法，在觸控資料符合重新測定條件時，重新量測觸控面板的資料基準值，以避免不正確的資料基準值或不合適的資料基準值造成觸控點的誤判。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧觸控裝置

110‧‧‧觸控面板

111_1~111_x‧‧‧行電極

113_1~113_y‧‧‧列電極

115、115A‧‧‧觸控區域

120‧‧‧觸控偵測單元

DB、DB_S‧‧‧資料基準值

DTT、DTT_1~DTT_4‧‧‧觸控資料

TP‧‧‧觸控點

VP_1~VP_4‧‧‧觸控值

S1010、S1020、S1030、S1040、S1050‧‧‧步驟

圖1為依據本發明一實施例的觸控裝置的系統示意圖。

圖2為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。

圖3為依照本發明另一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。

圖4為依照本發明再一實施例圖1的觸控面板以自容式定位方式驅動的資料基準值、觸控資料及觸控值示意圖。

圖5為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的資料基準值示意圖。

圖6A及6B為依照本發明一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。

圖7A及7B為依照本發明另一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。

圖8A及8B為依照本發明再一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。

圖9A及9B為依照本發明又一實施例圖1的觸控面板以互容式定位方式驅動的觸控資料及觸控值示意圖。

圖10為依據本發明一實施例的觸控裝置的運作方法的流程圖。

S1010、S1020、S1030、S1040、S1050‧‧‧步驟

Claims

一種觸控裝置，包括：一觸控面板，具有多個行電極及多個列電極，並且該些行電極與該些列電極交錯而形成多個觸控區域；以及一觸控偵測單元，耦接該觸控面板，在進行一初始化動作時量測該觸控面板的多個第一觸控資料以設定該觸控面板的多個資料基準值，在掃描該觸控面板後取得該觸控面板的多個第二觸控資料，以及依據該些資料基準值及該些第二觸控資料計算出多個觸控值，以依據該些觸控值偵測一觸控點，並且在該些第二觸控資料符合一重新測定條件後，該觸控偵測單元重新量測及重新設定該觸控面板的該些資料基準值。
如申請專利範圍第1項所述之觸控裝置，其中當該觸控面板以一自容式定位方式驅動時，該些資料基準值為該些行電極及該些列電極於該初始化動作時對應的多個電容值。
如申請專利範圍第2項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料中至少其中之一小於等於對應的資料基準值減去一重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第2項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料沿時間上升或下降，並且該些第二觸控資料至少其中之一大於等於對應的資料基準值與一重新測定臨界值的總和或小於等於對應的資料基準值減去該重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第1項所述之觸控裝置，其中當該觸控面板以一互容式定位方式驅動時，該些資料基準值為該些觸控區域於該初始化動作時對應的多個電容值。
如申請專利範圍第5項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料中至少其中之一大於等於對應的資料基準值與一重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第5項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料沿時間上升或下降，並且該些第二觸控資料至少其中之一大於等於對應的資料基準值與一重新測定臨界值的總和或小於等於對應的資料基準值減去該重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第1項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該觸控面板以一自容式定位方式及一互容式定位方式的其中之一驅動時，該觸控偵測單元依據該些觸控值偵測出該觸控點，該觸控面板以該自容式定位方式及該互容式定位方式的其中另一驅動時，該觸控偵測單元依據該些觸控值未偵測出該觸控點。
一種觸控裝置的運作方法，包括：在一觸控面板進行一初始化動作時，量測該觸控面板的多個第一觸控資料以設定該觸控面板的多個資料基準值；在掃描該觸控面板後，取得該觸控面板的多個第二觸控資料；依據該些資料基準值及該些第二觸控資料計算出該觸控面板對應的多個觸控值；依據該些觸控值偵測一觸控點；以及當該些第二觸控資料符合一重新測定條件時，重新量測及重新設定該觸控面板的該些資料基準值。
如申請專利範圍第9項所述之觸控裝置的運作方法，其中當該觸控面板以一自容式定位方式驅動時，該些資料基準值為該觸控面板的多個行電極及多個列電極於該初始化動作時對應的多個電容值。
如申請專利範圍第10項所述之觸控裝置的運作方法，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料中至少其中之一小於等於對應的資料基準值減去一重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第10項所述之觸控裝置的運作方法，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料沿時間上升或下降，並且該些第二觸控資料至少其中之一大於等於對應的資料基準值與一重新測定臨界值的總和或小於等於對應的資料基準值減去該重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第9項所述之觸控裝置的運作方法，其中當該觸控面板以一互容式定位方式驅動時，該些資料基準值為該觸控面板的多個觸控區域於該初始化動作時對應的多個電容值。
如申請專利範圍第13項所述之觸控裝置的運作方法，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料中至少其中之一大於等於對應的資料基準值與一重新測定臨界值的總和且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第13項所述之觸控裝置的運作方法，其中該重新測定條件為，該些第二觸控資料沿時間上升或下降，並且該些第二觸控資料至少其中之一大於等於對應的資料基準值與二重新測定臨界值的總和或小於等於對應的資料基準值減去該重新測定臨界值的差值且持續n個畫面期間，其中n為一正數且大於等於10。
如申請專利範圍第9項所述之觸控裝置，其中該重新測定條件為，該觸控面板以一自容式定位方式及一互容式定位方式的其中之一驅動時，依據該些觸控值偵測出該觸控點，該觸控面板以該自容式定位方式及該互容式定位方式的其中另一驅動時，依據該些觸控值未偵測出該觸控點。