TWI463389B - 電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法,尤指一種是利用惠斯同電橋(Wheatstone bridge)原理以快速偵測觸控面板是否被觸碰的電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法。
請參照第1圖、第2圖和第3圖,第1圖是為說明一種觸控面板100的示意圖,第2圖是為說明觸控面板100的偵測電路200的示意圖,和第3圖是為說明當偵測電路200偵測到有手指觸碰觸控面板100和沒有偵測到手指觸碰觸控面板100的示意圖。如第1圖所示,觸控面板100包含複數個X軸的感測線XS1-XSN與複數個Y軸的感測線YS1-YSM,其中每一條感測線是耦接於複數個感測單元,且N、M是為正整數。如第2圖所示,偵測電路200的電流源202可根據一預定順序依序對複數個X軸的感測線XS1-XSN與複數個Y軸的感測線YS1-YSM充電。因此,偵測電路200即可通過觸控面板100上二相鄰感測單元間的寄生電容SC的電容值變化來偵測觸控面板100上觸控點的位置。如第2圖和第3圖所示,當沒有手指觸碰觸控面板100時,感測線XS1-XSN(或感測線YS1-YSM)上二相鄰感測單元間的寄生電容SC被充電至一參考電壓VREF的時間是為T1,亦即當寄生電容SC被充電至參考電壓VREF時,一比較器204產生一重置訊號RS給一計數器206和一開關208。此
時,計數器206即可根據計數器206內的一時脈CLK和重置訊號RS,記錄時間T1並在時間T1時重置計數器206的計數,開關208可在時間T1時根據重置訊號RS,重置寄生電容SC所儲存的電位,以及使比較器204的輸出回復到初始狀態。如第2圖和第3圖所示,當手指觸碰觸控面板100時,感測線XS1-XSN(或感測線YS1-YSM)上被手指觸碰的二相鄰感測單元間的寄生電容SC’(因為寄生電容SC’是寄生電容SC並聯手指觸碰觸控面板100所造成的寄生電容,所以寄生電容SC’是大於寄生電容SC)被充電至參考電壓VREF的時間是為T2(T2大於T1)。因此,觸控面板100的時序控制器即可重複上述過程,以偵測觸控面板100上的觸控點。但是上述偵測方法具有較慢的偵測速度,不易實現多點觸控且易受雜訊干擾。
本發明的一實施例提供一種電容觸控系統。該電容觸控系統包含一觸控面板、一偵測電路及一微處理器。該觸控面板包含複數個掃描區,其中各該些掃描區包含複數個感測單元;該偵測電路是耦接於該觸控面板,利用惠斯同電橋原理根據一預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,以產生對應於各該些掃描區中每一掃描區的偵測結果;該微處理器是用以產生該預定時序至該偵測電路,以及根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰。
本發明的另一實施例提供一種操作電容觸控系統的方法,該電容觸控系統包含一觸控面板、一偵測電路及一微處理器,其中該觸
控面板包含複數個掃描區,以及各該些掃描區包含複數個感測單元。該方法包含該微處理器產生一第一預定時序;該偵測電路利用惠斯同電橋原理並根據該第一預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,以產生對應於各該些掃描區中每一掃描區的偵測結果;該微處理器根據對應於每一掃描區的偵測結果,執行一相對應的動作。
本發明提供一種電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法。該電容觸控系統和該方法是利用一偵測電路根據惠斯同電橋原理和一預定時序,依序對一觸控面板上的複數個掃描區發射驅動訊號,以產生對應於各該些掃描區中每一掃描區的偵測結果。然後,一微處理器即可根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰。當該微處理器判斷一掃描區被觸碰時,該微處理器會通知該偵測電路根據另一預定時序,對該掃描區的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於該掃描區的每一感測單元的偵測結果。相較於先前技術,因為該偵測電路在每一掃描區僅偵測一對寄生電容,所以該偵測電路掃描該觸控面板的該些掃描區的時間可被減少。如此,本發明不僅可快速偵測該觸控面板是否被觸碰,亦可利用該惠斯同電橋原理以降低該觸控面板的雜訊進而達到多點觸控的目的。
請參照第4圖,第4圖是為本發明的一實施例說明一種電容觸控系統400的示意圖。電容觸控系統400包含一觸控面板402、一偵測電路404及一微處理器406。觸控面板402包含複數個掃描區,
其中複數個掃描區中的每一掃描區包含複數個感測單元(如第4圖所示,每一掃描區包含9個感測單元)。但本發明並不受限於每一掃描區包含9個感測單元。另外,觸控面板402是可為一投射式電容觸控面板,且亦為一互感式電容觸控面板。偵測電路404是耦接於觸控面板402,利用惠斯同電橋原理並根據一預定時序,依序對觸控面板402的複數個掃描區中的每一行掃描區發射驅動訊號,以產生對應於觸控面板402複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果。但在本發明的另一實施例中,偵測電路404是利用惠斯同電橋原理並根據預定時序,依序對觸控面板402的複數個掃描區中的每一列掃描區發射驅動訊號,以產生對應於觸控面板402複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果。微處理器406是用以產生預定時序至偵測電路404,以及根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰。
如第4圖所示,偵測電路404包含一第一開關電路4042、一比較器4044、一第二開關電路4046、一可變電容4048及一定電容4050。第一開關電路4042是用以連接對應一掃描區4022的一第一感測線至一電源4052的第一端;第二開關電路4046是用以連接對應掃描區4042的二相鄰第二感測線SS1、SS2至比較器4044;可變電容4048具有一第一端,耦接於第二感測線SS1和比較器4044,及一第二端,耦接於電源4052的第二端;定電容4050具有一第一端,耦接於第二感測線SS2和比較器4044,及一第二端,耦接於電源4052的第二端。如第4圖所示,第一感測線FS1是位於觸控面
板402的一第一軸向上,以及第二感測線SS1、SS2是位於觸控面板402的一第二軸向上。另外,掃描區4022僅是用以說明偵測電路404的功能,亦即本發明並不受限於偵測電路404僅耦接於掃描區4022。
如第4圖所示,當偵測電路404根據預定時序,對複數個掃描區中的第一行掃描區發射驅動訊號(亦即偵測電路404對第一感測線FS1發射驅動訊號)時,第二開關電路4046即可連接對應掃描區4022的第二感測線SS1、SS2至比較器4044。如第4圖所示,掃描區4022中對應於第一感測線FS1和第二感測線SS1、SS2的寄生電容C1、C2,以及可變電容4048及定電容4050的關係是由式(1)所決定:
如式(1)所示,C4048
是為可變電容4048的電容值以及C4050
定電容4050的電容值。此時,因為當掃描區4022沒有被觸碰時,可變電容4048的電容值沒有改變,所以比較器4044不會產生一偵測結果CS至微處理器406,以及微處理器406即可根據對應於掃描區4022的偵測結果CS,判斷掃描區4022沒有被觸碰。然後,微處理器406通知偵測電路404內的第二開關電路4046連接對應下一掃描區(亦即耦接於第一感測線FS1的一掃描區4024)的二第二感測線至比較器4044。因此,微處理器406即可根據對應於掃描區4024的偵測
結果,判斷掃描區4024是否被觸碰。另外,當掃描區4022被觸碰時,掃描區4022中對應於第一感測線FS1和第二感測線SS1、SS2的寄生電容C1、C2,以及可變電容4048及定電容4050的關係還是由式(1)所決定。但寄生電容C1、C2的電容值因為觸碰物而改變,所以可變電容4048的電容值必需改變以維持式(1)。因此,當可變電容4048的電容值變化超過一預定值時,比較器4044會產生一偵測結果CS至微處理器406。然後,微處理器406即可根據偵測結果CS,判斷掃描區4022被觸碰。如此,重複上述過程,微處理器406即可快速判斷觸控面板402上耦接於第一感測線FS1與其他第一感測線的掃描區是否被觸碰。另外,本發明並不受限於偵測電路404在掃描區4022偵測寄生電容C1、C2,亦即偵測電路404可在掃描區4022偵測其他寄生電容。但偵測電路404在每一掃描區僅偵測一對寄生電容,以減少偵測電路404掃描觸控面板402的複數個掃描區的時間。
當微處理器406根據偵測結果CS,判斷掃描區4022被觸碰時,偵測電路404即可根據另一預定時序,對掃描區4022的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於掃描區4022的每一感測單元的偵測結果。然後,微處理器406即可根據對應於掃描區4022的每一感測單元的偵測結果和一內插法,計算掃描區4022內至少一觸控點的座標。在微處理器406計算出掃描區4022內至少一觸控點的座標後,微處理器406即可通知偵測電路404內的第二開關電路4046連接對應下一掃描區(亦即耦接於第一感測線FS1的掃描區4024)的二第二
感測線至比較器4044。因此,微處理器406即可根據對應於掃描區4024的偵測結果,判斷掃描區4024是否被觸碰。
請參照第4圖和第5圖,第5圖係為本發明的另一實施例說明一種操作電容觸控系統的方法之流程圖。第5圖之方法係利用第4圖的電容觸控系統400說明,詳細步驟如下:步驟500:開始;步驟502:微處理器406產生一第一預定時序;步驟504:偵測電路404利用惠斯同電橋原理並根據第一預定時序,依序對複數個掃描區發射驅動訊號,以產生對應於複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果;步驟506:微處理器406根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰;如果是,進行步驟508;如果否,跳回步驟504;步驟508:微處理器406通知偵測電路404根據一第二預定時序,對被觸碰的掃描區的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於被觸碰的掃描區的每一感測單元的偵測結果;步驟510:微處理器406根據對應於被觸碰的掃描區的每一感測單元的偵測結果,產生被觸碰的掃描區內至少一觸控點的座標;跳回步驟504。
如第4圖所示,在步驟504中,偵測電路404是用以利用惠斯同電橋原理並根據第一預定時序,依序對觸控面板402的複數個掃描區中的每一行掃描區發射驅動訊號,以產生對應於觸控面板402複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果。但在本發明的另一實施例中,偵測電路404是利用惠斯同電橋原理並根據第一預定時序,依序對觸控面板402的複數個掃描區中的每一列掃描區發射驅動訊號,以產生對應於觸控面板402複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果。例如,當偵測電路404根據第一預定時序,對複數個掃描區中的第一行掃描區發射驅動訊號(亦即偵測電路404對第一感測線FS1發射驅動訊號)時,第二開關電路4046即可連接對應掃描區4022的第二感測線SS1、SS2至比較器4044。如此,比較器4044即可根據可變電容4048的電容值變化,決定是否產生對應掃描區4022的偵測結果CS至微處理器406。亦即當可變電容4048的電容值變化超過一預定值時,比較器4044會產生對應掃描區4022的偵測結果CS至微處理器406。在步驟506中,微處理器406可根據對應於掃描區4022的偵測結果CS,判斷掃描區4022沒有被觸碰。在步驟508中,當微處理器406根據偵測結果CS,判斷掃描區4022被觸碰時,偵測電路404即可根據第二預定時序,對掃描區4022的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於掃描區4022的每一感測單元的偵測結果。然後,微處理器406即可根據對應於掃描區4022的每一感測單元的偵測結果和一內插法,計算掃描區4022內至少一觸控點的座標。在微處理器406計算出掃描區4022內至少一觸控點的座標後,再次進行步驟504,微處理器406即可通知偵測電路404內
的第二開關電路4046連接對應下一掃描區(亦即耦接於第一感測線FS1的掃描區4024)的二第二感測線至比較器4044。因此,偵測電路404可產生對應於掃描區4024的偵測結果,以及微處理器406可根據對應於掃描區4024的偵測結果,判斷掃描區4024是否被觸碰。如此,重複上述過程,微處理器406即可快速判斷觸控面板402上耦接於第一感測線FS1與其他第一感測線的掃描區是否被觸碰。
綜上所述,本發明所提供的電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法是利用惠斯同電橋原理並根據預定時序,依序對觸控面板上的複數個掃描區發射驅動訊號,以產生對應於複數個掃描區中每一掃描區的偵測結果。然後,微處理器即可根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰。當微處理器判斷一掃描區被觸碰時,微處理器會通知偵測電路根據另一預定時序,對掃描區的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於掃描區的每一感測單元的偵測結果。相較於先前技術,因為偵測電路在每一掃描區僅偵測一對寄生電容,所以偵測電路掃描觸控面板的複數個掃描區的時間可被減少。如此,本發明不僅可快速偵測觸控面板是否被觸碰,亦可利用惠斯同電橋原理以降低觸控面板的雜訊進而達到多點觸控的目的。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
100、402‧‧‧觸控面板
200、404‧‧‧偵測電路
202‧‧‧電流源
204、4044‧‧‧比較器
206‧‧‧計數器
208‧‧‧開關
400‧‧‧電容觸控系統
406‧‧‧微處理器
4022、4024‧‧‧掃描區
4042‧‧‧第一開關電路
4046‧‧‧第二開關電路
4048‧‧‧可變電容
4050‧‧‧定電容
4052‧‧‧電源
CS‧‧‧偵測結果
CLK‧‧‧時脈
FS1‧‧‧第一感測線
RS‧‧‧重置訊號
SC、C1、C2‧‧‧寄生電容
SS1、SS2‧‧‧第二感測線
T1、T2‧‧‧時間
VREF‧‧‧參考電壓
XS1-XSN、YS1-YSM‧‧‧感測線
500-510‧‧‧步驟
第1圖是為說明一種觸控面板的示意圖。
第2圖是為說明觸控面板的偵測電路的示意圖。
第3圖是為說明當偵測電路偵測到有手指觸碰觸控面板和沒有偵測到手指觸碰觸控面板的示意圖。
第4圖是為本發明的一實施例說明一種電容觸控系統的示意圖。
第5圖係為本發明的另一實施例說明一種操作電容觸控系統的方法之流程圖。
400‧‧‧電容觸控系統
402‧‧‧觸控面板
404‧‧‧偵測電路
406‧‧‧微處理器
4022、4024‧‧‧掃描區
4042‧‧‧第一開關電路
4044‧‧‧比較器
4046‧‧‧第二開關電路
4048‧‧‧可變電容
4050‧‧‧定電容
4052‧‧‧電源
CS‧‧‧偵測結果
FS1‧‧‧第一感測線
C1、C2‧‧‧寄生電容
SS1、SS2‧‧‧第二感測線
Claims (14)
- 一種電容觸控系統,包含:一觸控面板,包含複數個掃描區,其中各該些掃描區包含複數個感測單元;一偵測電路,耦接於該觸控面板,利用惠斯同電橋(Wheatstone bridge)原理根據一預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,以產生對應於各該些掃描區中每一掃描區的偵測結果,該偵測電路包含:一第一開關電路,用以連接對應一掃描區的一第一感測線至一電源的第一端;一比較器;一第二開關電路,用以連接對應該掃描區的二相鄰第二感測線至該比較器;一可變電容,具有一第一端,耦接於該二相鄰第二感測線中的一第二感測線和該比較器,及一第二端,耦接於該電源的第二端;及一定電容,具有一第一端,耦接於該二相鄰第二感測線中的另一第二感測線和該比較器,及一第二端,耦接於該電源的第二端;及一微處理器,用以產生該預定時序至該偵測電路,以及根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷每一掃描區是否被觸碰。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該觸控面板係為一投射 式電容觸控面板。
- 如請求項2所述的電容觸控系統,其中該投射式電容觸控面板係為一互感式電容觸控面板。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,是為該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區中的每一列掃描區發射驅動訊號。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,是為該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區中的每一行掃描區發射驅動訊號。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該微處理器根據對應於該掃描區的偵測結果,判斷該掃描區是否被觸碰,是為當該偵測電路所包含的可變電容的電容值變化超過一預定值時,該微處理器判斷該掃描區被觸碰。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該第一感測線是位於該觸控面板的一第一軸向上,以及該二相鄰第二感測線是位於該觸控面板的一第二軸向上。
- 如請求項1所述的電容觸控系統,其中該微處理器另用以當一掃描區被至少一物件觸碰時,計算該掃描區內至少一觸控點的座標。
- 一種操作電容觸控系統的方法,該電容觸控系統包含一觸控面板、一偵測電路及一微處理器,其中該觸控面板包含複數個掃描區,以及各該些掃描區包含複數個感測單元,該方法包含:該微處理器產生一第一預定時序;該偵測電路利用惠斯同電橋原理並根據該第一預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,以產生對應於各該些掃描區中每一掃描區的偵測結果;及該微處理器根據對應於每一掃描區的偵測結果,判斷該掃描區被觸碰時,該微處理器通知該偵測電路根據一第二預定時序,對該掃描區的每一感測單元發射驅動訊號,以產生對應於該掃描區的每一感測單元的偵測結果。
- 如請求項9所述的方法,其中該微處理器根據對應於該掃描區的偵測結果,執行該相對應的動作,是為該微處理器根據對應於該掃描區的偵測結果,判斷該掃描區沒有被觸碰時,該微處理器判斷下一掃描區是否被觸碰。
- 如請求項9所述的方法,另包含: 該微處理器根據對應於該掃描區的每一感測單元的偵測結果,計算該掃描區內至少一觸控點的座標。
- 如請求項9所述的方法,其中該微處理器根據對應於該掃描區的偵測結果,判斷該掃描區被觸碰,是為當該偵測電路所包含的可變電容的電容值變化超過一預定值時,該微處理器判斷該掃描區被觸碰。
- 如請求項9所述的方法,其中該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,是為該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區中的每一列掃描區發射驅動訊號。
- 如請求項9所述的方法,其中該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區發射驅動訊號,是為該偵測電路根據該預定時序,依序對該些掃描區中的每一行掃描區發射驅動訊號。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW101123219A TWI463389B (zh) | 2012-06-28 | 2012-06-28 | 電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法 |
US13/562,329 US9182849B2 (en) | 2012-06-28 | 2012-07-31 | Capacitive touch system and method of operating a capacitive touch system |
Applications Claiming Priority (1)
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TW101123219A TWI463389B (zh) | 2012-06-28 | 2012-06-28 | 電容觸控系統和操作電容觸控系統的方法 |
Publications (2)
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