TWI449323B - 頻率產生器的校正電路及其補償電路 - Google Patents

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Description

頻率產生器的校正電路及其補償電路
本發明係有關於一種校正電路及頻率產生器，尤指一種根據溫度校正晶體振盪器的振盪頻率的校正電路及可穩定輸出不受溫度影響的頻率之頻率產生器。
石英晶片係為一天然壓電材料。當外部電壓加於石英晶片的上下二側時，由於石英晶片之機械與電性耦合作用，使得石英晶片產生機械變形，導致石英晶片的上下二側會產生一電位差。如果石英晶片的上下二側係加上交流電壓時，石英晶片即可產生週而復始之振盪。而由石英晶片構成的晶體振盪器具有頻率穩定度高的特點，可在遠端通訊、行動電話系統、全球衛星定位系統、導航、遙控、航太工業、高速電腦、精密計測儀器及消費性電子等領域中，作為標準頻率源，以提供頻率基準。
請參照第1圖，第1圖係為說明晶體振盪器所產生的頻率隨溫度變化的示意圖。如第1圖所示，晶體振盪器所產生的頻率f仍會隨溫度而些微飄移目標頻率f0，其中第1圖的縱軸係為頻率f與目標頻率f0之間的差值Δf與目標頻率f0的比值。因此，晶體振盪器需要校正電路，以補償晶體振盪器因溫度變化所產生的頻率誤差。
本發明的一實施例提供一種晶體振盪器的校正電路。該校正電路包含至少二補償電路及一比較器。該些補償電路係耦接一輸入信號，以至少分別輸出一第一補償信號以及一第二補償信號；該比較器係耦接該第一補償信號與該第二補償信號，以輸出一校正信號，其中該校正信號用以決定該晶體振盪器之一振盪頻率。
本發明的另一實施例提供一種頻率產生器。該頻率產生器包含一晶體振盪器、一溫度偵測電路及一校正電路。該晶體振盪器係用以產生一振盪頻率；該溫度偵測電路係用以偵測一溫度，以產生一輸入信號；該校正電路係耦接於該溫度偵測電路，該校正電路包含至少二補償電路及一比較器。該些補償電路係耦接該輸入信號，以至少分別輸出一第一補償信號以及一第二補償信號；該比較器係耦接該第一補償信號與該第二補償信號，以輸出一校正信號，其中該校正信號用以決定該振盪頻率。
本發明的另一實施例提供一種多階補償單元。該多階補償單元包含一第一乘法器、一第二乘法器及一第一放大器。該第一乘法器係耦接該輸入信號以及一調整參數信號，以輸出一第一信號；該第二乘法器係耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；該第一放大器係耦接該第二信號，以輸出一補償信號。
本發明的另一實施例提供一種多階補償單元。該多階補償單元包含一第一乘法器、一第二乘法器、一第一放大器、一第四乘法器及一第二放大器。該第一乘法器係耦接一輸入信號以及一調整參數信號，以輸出一第一信號；該第二乘法器係耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；該第一放大器係耦接該第二信號，以輸出一第一補償信號；該第四乘法器係耦接該輸入信號、該第二信號，以及該調整參數信號，以輸出第三信號；該第二放大器係耦接該第三信號，以輸出一第二補償信號。
本發明的另一實施例提供一種多階補償單元。該多階補償單元包含一第一乘法器、一第二乘法器、一第一放大器、一第四乘法器、一第二放大器、一第五乘法器及一第三放大器。該第一乘法器係耦接一輸入信號以及一調整參數信號，以輸出一第一信號；該第二乘法器係耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；該第一放大器係耦接該第二信號，以輸出一第一補償信號；該第四乘法器係耦接該輸入信號、該第二信號，以及該調整參數信號，以輸出第三信號；該第二放大器係耦接該第三信號，以輸出一第二補償信號；該第五乘法器係耦接該輸入信號、該第三信號，以及該調整參數信號，以輸出第四信號；該第三放大器係耦接該第四信號，以輸出一第三補償信號。
本發明的另一實施例提供一種多階補償單元。該多階補償單元包含一第一乘法器、一第二乘法器、一第一放大器、一第四乘法器、一第二放大器、一第五乘法器、一第三放大器、一第六乘法器及一第四放大器。該第一乘法器係耦接一輸入信號以及一調整參數信號，以輸出一第一信號；該第二乘法器係耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；該第一放大器係耦接該第二信號，以輸出一第一補償信號；該第四乘法器係耦接該輸入信號、該第二信號，以及該調整參數信號，以輸出第三信號；該第二放大器係耦接該第三信號，以輸出一第二補償信號；該第五乘法器係耦接該輸入信號、該第三信號，以及該調整參數信號，以輸出第四信號；該第三放大器係耦接該第四信號，以輸出一第三補償信號；該第六乘法器係耦接該輸入信號、該第四信號，以及該調整參數信號，以輸出第五信號；該第四放大器係耦接該第五信號，以輸出一第四補償信號。
本發明提供一種晶體振盪器的校正電路及頻率產生器。該校正電路及頻率產生器係利用至少二補償電路產生至少二補償信號，以補償該晶體振盪器因一溫度變化所產生的頻率誤差。而該至少二補償電路中的每一補償電路所包含的複數個補償單元可為任意不同階補償單元(不包含二階補償單元)的組合。另外，該至少二補償電路中的三階以上補償單元係透過複數個乘法器與至少一放大器實現。因此，因為該至少二補償電路中的每一補償電路所包含的該複數個補償單元可為任意不同階補償單元的組合，所以本發明可根據一使用者的需求，調整該至少二補償電路的設計，降低該至少二補償電路的設計複雜度，及補償精準度。
請參照第2圖，第2圖係為本發明的一實施例說明頻率產生器的校正電路200的示意圖。校正電路200包含二補償電路204、206及一比較器VR，然而補償電路204、206僅係用以清楚說明本發明，亦即本發明並不受限於僅有二補償電路204、206。一溫度偵測電路202係耦接於補償電路204、206，用以偵測一溫度T以產生一輸入信號LIV，其中輸入信號LIV係和溫度T呈線性關係。補償電路204、206係耦接輸入信號LIV，並根據輸入信號LIV，分別輸出一第一補償信號CV204、一第二補償信號CV206至比較器VR。比較器VR係耦接第一補償信號CV204與第二補償信號CV206，並根據第一補償信號CV204與第二補償信號CV206，以輸出一校正信號CS，其中校正信號CS係用以決定晶體振盪器VCXO之一振盪頻率，且晶體振盪器VCXO係為一石英振盪器。比較器VR係為一變容二極體，比較器VR可根據第一補償信號CV204、第二補償信號CV206，改變校正信號CS。因此，校正電路200即可根據隨溫度改變的校正信號CS，微調晶體振盪器VCXO因為溫度改變而產生的頻率誤差。另外，在本發明的另一實施例中，校正電路200包含溫度偵測電路202。
如第2圖所示，補償電路204包含第一組補償單元2042及一第一加法器2044。第一組補償單元2042包含n個補償單元，第一組補償單元2042係耦接輸入信號LIV，用以輸出一第一組單元補償信號，其中n≧1；第一加法器2044係耦接第一組單元補償信號，以產生第一補償信號CV204。補償電路206包含第二組補償單元2062及一第二加法器2070。第二組補償單元2062包含m個補償單元，用以輸出一第二組單元補償信號；第二加法器2070係耦接第二組單元補償信號，以產生第二補償信號CV206。而第一組補償單元2042內的n個補償單元和第二組補償單元2062內的m個補償單元，可為任意不同階補償單元的組合，但不包含二階補償單元。
請參照第3A圖、第3B圖和第3C圖，第3A圖、第3B圖和第3C圖係為本發明的不同實施例說明第一組補償單元2042和第二組補償單元2062的示意圖。如第3A圖所示，第一組補償單元2042包含一零階補償單元20420、一一階補償單元20421及一第一加法器2044，其中零階補償單元20420係耦接輸入信號LIV，用以根據輸入信號LIV，輸出一零階補償信號CV0；一階補償單元20421係耦接輸入信號LIV，用以根據輸入信號LIV，輸出一一階補償信號CV1；第一加法器2044係耦接零階補償信號CV0與一階補償信號CV1，以產生第一補償信號CV204。第二組補償單元2062包含一三階補償單元2063，而三階補償單元2063包含一第一乘法器20632、一第二乘法器20634及一第一放大器20636，其中三階補償單元2063係耦接輸入信號LIV，以輸出一三階補償信號CV3作為第二補償信號CV206。第一乘法器20632具有一第一端，用以接收輸入信號LIV，一第二端，用以接收輸入信號LIV，一第三端，用以接收一調整參數信號T0，及一輸出端，用以輸出一第一信號(LIV-T0)2 ；第二乘法器20634具有一第一端，用以接收輸入信號LIV，一第二端，用以接收第一信號(LIV-T0)2 ，一第三端，用以接收調整參數信號T0，及一輸出端，用以輸出一第二信號(LIV-T0)3 ；第一放大器20636具有一第一端，耦接於第二乘法器20634，用以接收第二信號(LIV-T0)3 ，及一輸出端，用以輸出一三階補償信號CV3。另外，可根據式(1)產生補償電路204中的高階(三階和三階以上)補償信號。
CVj=COEF(j-2)×(LIV-T0)j 　(1)
其中第j-2係數COEF(j-2)係為第j-2放大器所提供的係數，j≧3，且j為正整數。
因此，三階補償信號CV3可由式(2)表示：
CV3=COEF1×(LIV-T0)3 　(2)
其中第一係數COEF1係為第一放大器20636所提供的係數，且第依係數COEF1係為一定值。另外，第一乘法器20632與第二乘法器20634係為吉爾伯特(gilbert-cell)形式的乘法器(詳見第6圖)。在第3A圖中，三階補償信號CV3即為第二補償信號CV206。
如第3B圖所示，第一組補償單元2042包含零階補償單元20420、一階補償單元20421及一第一加法器2044。另外，在第3A圖中，已詳述第一組補償單元2042。因此，在此不再贅述第一組補償單元2042。第二組補償單元2062包含三階補償單元2063和一四階補償單元2064，其中在第3A圖中，已詳述三階補償單元2063。因此，在此不再贅述三階補償單元2063。四階補償單元2064包含一第四乘法器20642、一第二放大器20644及第二加法器2070，其中第二加法器2070係耦接三階補償信號CV3與一四階補償信號CV4，以產生第二補償信號CV206。第四乘法器20642具有一第一端，用以接收輸入信號LIV，一第二端，用以接收第二信號V2，一第三端，用以接收調整參數信號T0，及一輸出端，用以輸出一第三信號(LIV-T0)4 ；第二放大器20644具有一第一端，耦接於第四乘法器20642，用以接收第三信號(LIV-T0)4 ，及一輸出端，用以輸出一四階補償信號CV4，其中四階補償信號CV4係根據式(1)、第三信號(LIV-T0)4 及一第二係數COEF2產生，其中第二係數COEF2係為一可變係數。另外，第四乘法器20642係為吉爾伯特形式的乘法器(詳見第6圖)。在第3B圖中，第3B圖的第二補償信號CV206係根據式(3)、三階補償信號CV3和四階補償信號CV4透過第二加法器2070產生。
CV206=CV3+CV4=COEF1×(LIV-T0)3 +COEF2×(LIV-T0)4 　(3)
如第3C圖所示，第一組補償單元2042包含零階補償單元20420及一階補償單元20421。另外，在第3A圖中，已詳述第一組補償單元2042。因此，在此不再贅述第一組補償單元2042。第二組補償單元2062包含三階補償單元2063、四階補償單元2064、一五階補償單元2065及第二加法器2070，其中第二加法器2070係耦接三階補償信號CV3、四階補償信號CV4與一五階補償信號CV5，以產生第二補償信號CV206。五階補償單元2065包含一第五乘法器20652和一第三放大器20654。第五乘法器20652具有一第一端，用以接收輸入信號LIV，一第二端，用以接收第三信號(LIV-T0)4 ，一第三端，用以接收調整參數信號T0，及一輸出端，用以輸出一第四信號(LIV-T0)5 ；第三放大器20654具有一第一端，耦接於第五乘法器20652，用以接收第四信號(LIV-T0)5 ，及一輸出端，用以輸出一五階補償信號CV5，其中五階補償信號CV5係根據式(1)、第四信號(LIV-T0)5 及一第三係數COEF3產生，其中第三係數COEF3係為一可變係數。另外，第四乘法器20652係為吉爾伯特形式的乘法器(詳見第6圖)。在第3C圖中，第3C圖的第二補償信號CV206係根據式(4)、三階補償信號CV3、四階補償信號CV4和五階補償信號CV5透過第二加法器2070產生。
另外，請參照第3D圖，第3D圖係為說明第3C圖的第二補償信號CV206(CV3+CV4+CV5)、三階補償信號CV3及一階補償信號CV1對溫度的關係示意圖。如第3D圖所示，第二補償信號CV206、三階補償信號CV3及一階補償信號CV1係隨著溫度而改變。因此，使用者可根據晶體振盪器VCXO隨溫度變化所產生的頻率誤差，彈性調整補償電路204、206的複數個補償單元，以準確地校正晶體振盪器VCXO隨溫度變化所產生的頻率誤差。
本發明的另一實施例係為第一組補償單元2042包含零階補償單元20420及一階補償單元20421。第二組補償單元2062包含三階補償單元2063至k階補償單元206k，其中k≧6。另外，k階補償單元206k的操作原理皆和四階補償單元2064和五階補償單元2065相同，在此不再贅述。
請參照第4圖，第4圖係為本發明的另一實施例說明第一組補償單元2042和第二組補償單元2062的示意圖。第一組補償單元2042包含零階補償單元20420、一階補償單元20421、三階補償單元20623及四階補償單元20624。第二組補償單元2042包含五階補償單元2065和六階補償單元2066，其中六階補償單元2066包含第六乘法器20662和第四放大器20664。因此，第4圖的第一補償信號CV204係根據式(5)、零階補償信號CV0、一階補償信號CV1、三階補償信號CV3和四階補償信號CV4透過第一加法器2044產生，以及第二補償信號CV206係根據式(6)、五階補償信號CV5和六階補償信號CV6透過第二加法器2070產生。
CV204=CV0+CV1+COEF1×(LIV-T0)3 +COEF2×(LIV-T0)4 　(5)
CV206=COEF3×(LIV-T0)5 +COEF4×(LIV-T0)6 　(6)
另外，第3A圖、第3B圖、第3C圖和第4圖的實施例僅係用以清楚說明第一組補償單元2042和第二組補償單元2062可為任意不同階補償單元的組合，但不包含二階補償單元。因此，本發明並不受限於第3A圖、第3B圖、第3C圖和第4圖的實施例。
請參照第5圖，第5圖係為本發明的另一實施例說明一種頻率產生器500的示意圖。頻率產生電路500包含溫度偵測電路202及二補償電路204、206及一晶體振盪器502。晶體振盪器502係用以輸出一不受溫度影響的振盪頻率F。另外，頻率產生器500的晶體振盪器502的操作原理皆和第2圖的晶體振盪器VCXO相同，在此不再贅述。
請參照第6圖，第6圖係為說明吉爾伯特(gilbert-cell)形式的乘法器的示意圖。如第6圖所示，當吉爾伯特形式的第i乘法器接收調整參數信號T0、輸入信號LIV及第i-1信號(LIV-T0)i 後，第i乘法器將輸出第i信號(LIV-T0)i+1 ，其中第i-1信號(LIV-T0)i 和第i乘第i信號(LIV-T0)i+1 係由式(7)、式(8)表示。
(LIV-T0)i =(LIV-T0)i _P-(LIV-T0)i _N　(7)
(LIV-T0)i+1 =(LIV-T0)i+1 _P-(LIV-T0)i+1 _N　(8)
如第6圖、式(7)和式(8)所示，(LIV-T0)i _P和(LIV-T0)1 _N係為(LIV-T0)i 的差動訊號，而(LIV-T0)i+1 _P和(LIV-T0)i+1 _N係為(LIV-T0)i+1 的差動訊號。
綜上所述，本發明所提供的晶體振盪器的校正電路及頻率產生器係利用至少二補償電路產生至少二補償信號，以補償晶體振盪器因溫度變化所產生的頻率誤差。而至少二補償電路中的每一補償電路所包含的複數個補償單元可為任意不同階補償單元(不包含二階補償單元)的組合。另外，至少二補償電路中的三階以上補償單元係透過乘法器與放大器實現。因此，因為至少二補償電路中的每一補償電路所包含的複數個補償單元可為任意不同階補償單元的組合，所以本發明可根據使用者的需求，調整至少二補償電路的設計，降低至少二補償電路的設計複雜度，及補償精準度。
以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。
200．．．校正電路
202．．．溫度偵測電路
204、206．．．補償電路
500．．．頻率產生器
2042．．．第一組補償單元
2044．．．第一加法器
2062．．．第二組補償單元
2070．．．第二加法器
2063．．．三階補償單元
2064．．．四階補償單元
2065．．．五階補償單元
20420．．．零階補償單元
20421．．．一階補償單元
20632．．．第一乘法器
20634．．．第二乘法器
20636．．．第一放大器
20642．．．第四乘法器
20644．．．第二放大器
20652．．．第五乘法器
20654．．．第三放大器
20662．．．第六乘法器
20664．．．第四放大器
CV0．．．零階補償信號
CV1．．．一階補償信號
CV3．．．三階補償信號
CV4．．．四階補償信號
CV5．．．五階補償信號
CV6．．．六階補償信號
CV204．．．第一補償信號
CV206．．．第二補償信號
f．．．目標頻率
F．．．頻率
LIV．．．輸入信號
T0．．．調整參數信號
VCXO、502．．．晶體振盪器
VR、5022．．．比較器
第1圖係為說明晶體振盪器所產生的頻率隨溫度變化的示意圖。
第2圖係為本發明的一實施例說明正晶體振盪器的校正電路的示意圖。
第3A圖、第3B圖和第3C圖係為本發明的不同實施例說明第一組補償單元和第二組補償單元的示意圖。
第3D圖係為說明第3C圖的第二補償信號、三階補償信號及一階補償信號對溫度的關係示意圖。
第4圖係為本發明的另一實施例說明第一組補償單元和第二組補償單元的示意圖。
第5圖係為本發明的另一實施例說明一種頻率產生器的示意圖。
第6圖係為說明吉爾伯特(gilbert-cell)形式的乘法器的示意圖。
200．．．校正電路
202．．．溫度偵測電路
204、206．．．補償電路
2042．．．第一組補償單元
2044．．．第一加法器
2062．．．第二組補償單元
2070．．．第二加法器
CV204．．．第一補償信號
CV206．．．第二補償信號
LIV．．．輸入信號
VCXO．．．晶體振盪器
VR．．．比較器

Claims (19)

  1. 一種頻率產生器的校正電路，包含：至少二補償電路，該些補償電路係耦接一輸入信號，以至少分別輸出一第一補償信號以及一第二補償信號，其中該至少二補償電路包括一第一補償電路與一第二補償電路，且該第一補償電路包含：一零階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一零階補償信號；一一階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一一階補償信號；及一第一加法器，耦接該一零階補償信號與該一階補償信號，以產生該第一補償信號；及該第二補償電路包括：一N階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N階補償信號作為該第二補償信號，其中N為大於二之整數；以及一比較器，耦接該第一補償信號與該第二補償信號，以輸出一校正信號，其中該校正信號用以決定該晶體振盪器之一振盪頻率。
  2. 如請求項1所述之校正電路，其中該比較器為一變容二極體。
  3. 如請求項1所述之校正電路，另包含一溫度偵測電路，用以偵 測一溫度以產生該輸入信號。
  4. 如請求項1所述之校正電路，其中該第二補償電路另包括：一N+1階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+1階補償信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號與該N+1階補償信號，以產生該第二補償信號。
  5. 如請求項1所述之校正電路，其中該第二補償電路另包括：一N+2階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+2階補償信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號、該N+1階補償信號，以及該N+2階補信號，以產生該第二補償信號。
  6. 一種頻率產生器的校正電路，該校正電路包含至少二補償電路，其中該至少二補償電路係耦接一輸入信號，用以分別輸出至少一第一補償信號以及一第二補償信號，該至少二補償電路包括一第一補償電路與一第二補償電路，且該第一補償電路包含：一零階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一零階補償信號； 一一階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一一階補償信號；一N階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N階補償信號作為該第二補償信號，其中N為大於二之整數；一N+1階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+1階補償信號；一第一加法器，耦接該一零階補償信號、該一階補償信號、該N階補償信號，以及該N+1階補償信號，以產生該第一補償信號；及該第二補償電路包括：一N+2階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+2階補信號；一N+3階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+3階補信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號、該N+2階補償信號，以及該N+3階補信號，以產生該第二補償信號；及一比較器，耦接該第一補償信號與該第二補償信號，用以輸出一校正信號，其中該校正信號用以決定該晶體振盪器之一振盪頻率。
  7. 如請求項1或6所述之校正電路，其中該N階補償單元包括：一第一乘法器，耦接該輸入信號以及一調整參數信號，以 輸出一第一信號；一第二乘法器，耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；以及一第一放大器，耦接該第二信號，以輸出該N階補償信號。
  8. 如請求項4或6所述之校正電路，其中，該N+1階補償單元包括：一第四乘法器，耦接該輸入信號、該第二信號，以及該調整參數信號，以輸出第三信號；以及一第二放大器，耦接該第三信號，以輸出該N+1階補償信號。
  9. 如請求項5或6所述之校正電路，其中，該N+2階補償單元包括：一第五乘法器，耦接該輸入信號、該第三信號，以及該調整參數信號，以輸出第四信號；以及一第三放大器，耦接該第四信號，以輸出該N+2階補償信號。
  10. 如請求項6所述之校正電路，其中，該N+3階補償單元包括：一第六乘法器，耦接該輸入信號、該第四信號，以及該調整參數信號，以輸出第五信號；以及 一第四放大器，耦接該第五信號，以輸出該N+3階補償信號。
  11. 一種頻率產生器，包含：一晶體振盪器，用以產生一振盪頻率；一溫度偵測電路，用以偵測一溫度，以產生一輸入信號；一校正電路，耦接於該溫度偵測電路，該校正電路包含：至少二補償電路，該些補償電路係耦接該輸入信號，以至少分別輸出一第一補償信號以及一第二補償信號，其中該至少二補償電路包括一第一補償電路與一第二補償電路，且該第一補償電路包含：一零階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一零階補償信號；一一階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一一階補償信號；及一第一加法器，耦接該一零階補償信號與該一階補償信號，以產生該第一補償信號；及該第二補償電路包括：一N階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N階補償信號作為該第二補償信號，其中N為大於二之整數；以及一比較器，耦接該第一補償信號與該第二補償信號，以輸出一校正信號，其中該校正信號用以決定該振盪頻率。
  12. 如請求項11所述之頻率產生器，其中該比較器為一變容二極體。
  13. 如請求項11所述之頻率產生器，其中該第二補償電路另包括：一N+1階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+1階補償信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號與該N+1階補償信號，以產生該第二補償信號。
  14. 如請求項11所述之頻率產生器，其中該第二組補償電元另包括：一N+2階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+2階補償信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號、該N+1階補償信號，以及該N+2階補信號，以產生該第二補償信號。
  15. 一種頻率產生器，包含：一晶體振盪器，用以產生一振盪頻率；一溫度偵測電路，用以偵測一溫度，以產生一輸入信號；一校正電路，耦接於該溫度偵測電路，該校正電路包含：至少二補償電路，該些補償電路係耦接該輸入信號，以至少分別輸出一第一補償信號以及一第二補償信號，其中該至少二補償電路包括一第一補償電路與一第二補償電路，且該 第一補償電路包含：一零階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一零階補償信號；一一階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一一階補償信號；一N階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N階補償信號作為該第二補償信號，其中N為大於二之整數；一N+1階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+1階補償信號；及一第一加法器，耦接該一零階補償信號、該一階補償信號、該N階補償信號，以及該N+1階補償信號，以產生該第一補償信號；及該第二補償電路包括：一N+2階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+2階補信號；一N+3階補償單元，耦接該輸入信號，以輸出一N+3階補信號；以及一第二加法器，耦接該N階補償信號、該N+2階補償信號，以及該N+3階補信號，以產生該第二補償信號。
  16. 如請求項11或15所述之頻率產生器，其中該N階補償單元包括：一第一乘法器，耦接該輸入信號以及一調整參數信號，以 輸出一第一信號；一第二乘法器，耦接該輸入信號、該第一信號，以及該調整參數信號，以輸出一第二信號；以及一第一放大器，耦接該第二信號，以輸出該N階補償信號。
  17. 如請求項13或15所述之頻率產生器，其中該N+1階補償單元包括：一第四乘法器，耦接該輸入信號、該第二信號，以及該調整參數信號，以輸出第三信號；以及一第二放大器，耦接該第三信號，以輸出該N+1階補償信號。
  18. 如請求項14或15所述之頻率產生器，其中該N+2階補償單元包括：一第五乘法器，耦接該輸入信號、該第三信號，以及該調整參數信號，以輸出第四信號；以及一第三放大器，耦接該第四信號，以輸出該N+2階補償信號。
  19. 如請求項15所述之頻率產生器，其中該N+3階補償單元包括：一第六乘法器，耦接該輸入信號、該第四信號，以及該調整參數信號，以輸出第五信號；及 一第四放大器，耦接該第五信號，以輸出該N+3階補償信號。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI500256B (zh) * 2011-05-25 2015-09-11 Realtek Semiconductor Corp 振盪頻率偏移偵測方法以及振盪頻率偏移偵測電路
US10491155B2 (en) * 2016-03-15 2019-11-26 Texas Instruments Incorporated Temperature compensated oscillator driver
CN110212911B (zh) * 2019-06-24 2023-04-07 Oppo广东移动通信有限公司 一种频率校准方法及装置、存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4560959A (en) * 1982-05-18 1985-12-24 Standard Telephones And Cables Public Limited Company Temperature controlled crystal oscillator arrangement
US5481229A (en) * 1994-11-29 1996-01-02 Motorola, Inc. Low power temperature compensated crystal oscillator
US6292066B1 (en) * 1997-07-11 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Function generator, crystal oscillation device and method of adjusting crystal oscillation device
US20080007363A1 (en) * 2006-06-01 2008-01-10 Kei Nagatomo Function generation circuit

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4079280A (en) * 1976-06-02 1978-03-14 Hewlett-Packard Company Quartz resonator cut to compensate for static and dynamic thermal transients
JPH08116214A (ja) 1994-10-17 1996-05-07 Fujitsu Ltd 関数発生装置及び温度補償付き発振回路
WO2005020427A1 (ja) * 2003-08-21 2005-03-03 Murata Manufacturing Co., Ltd. 温度補償型圧電発振器、およびこれを備えた電子装置
US7161340B2 (en) * 2004-07-12 2007-01-09 Realtek Semiconductor Corp. Method and apparatus for generating N-order compensated temperature independent reference voltage
CN101459428B (zh) * 2007-12-14 2011-09-28 上海华虹Nec电子有限公司 数模转换器温度补偿方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4560959A (en) * 1982-05-18 1985-12-24 Standard Telephones And Cables Public Limited Company Temperature controlled crystal oscillator arrangement
US5481229A (en) * 1994-11-29 1996-01-02 Motorola, Inc. Low power temperature compensated crystal oscillator
US6292066B1 (en) * 1997-07-11 2001-09-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Function generator, crystal oscillation device and method of adjusting crystal oscillation device
US20080007363A1 (en) * 2006-06-01 2008-01-10 Kei Nagatomo Function generation circuit

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