TWI435513B - 充電器校正裝置及其校正方法 - Google Patents

Description

充電器校正裝置及其校正方法

本發明係有關於一種充電器校正裝置，特別是一種成本較低，且更有效率的全數位式閃光燈充電器校正裝置及其校正方法。

在數位相機及數位攝影機中，閃光燈模組是不可或缺的元件，為了觸發閃光燈之燈管內之惰性氣體擊出閃光，閃光燈電路中需要有充電電容來儲存能量。此電容之充電電壓可能高達300伏特以上。因此，為了能夠將電容電壓提升至300伏特以上之高電壓，閃光燈電路中需要有一充電迴路來將電池之能量轉換到電容中。

在相機的生產過程中，為了使所有生產的相機符合一特定的技術規格，會為閃光燈充電時間訂立一上限，使每一台相機在相同電壓的條件之下，能夠有相近的充電時間。而相機之充電迴路常使用返馳式轉換器(Flyback Converter)的架構。

請參閱第1圖，係為習知技藝之閃光燈充電器之充電迴路圖，圖中之返馳式轉換器1係利用脈波寬度調變電路(Pulse Width Modulation，PWM)P1控制N型金氧半導體Q1之導通與截止，並利用電路中之電感對電容充電。當脈波寬度調變電路P1處於高位準週期時，半導體Q1之閘極處於高位準，為導通狀態，並對變壓器 T1之一次側n_p之電感充電。

相反的，當半導體Q1之閘極處於低位準時，為截止狀態。此時，變壓器T1二次側n_S會感應出電流，此電流會流經二極體D1對電容C1充電，而變壓器一次側n_p之電感會將在當半導體Q1之閘極處於高位準期間所儲存的能量，轉換到電容C1。因此，透過不斷開關半導體Q1可將電容C1之電壓充到300伏特以上。

然而，硬體零件會有誤差，例如，一次側np之電感會有+/-20%的誤差。而由於半導體Q1處於導通狀態時，流經一次側n_p之電流會隨著時間增加，電感值愈小，電流上升愈快；相反的，電感值愈大，電流上升愈慢。因此，對返馳式轉換器來說，電感的誤差會影響其充電的時間。為了避免上述狀況，製造商一般會在返馳式轉換器中加上一電阻R3，並透過一比較器CP1，監控流經一次側n_p之電流，當電流上升到一定程度時，在電阻R3上會出現一大於門檻電壓值(Vth)之電壓值。此時，脈波寬度調變電路P1關閉半導體Q1，停止對一次側n_p之電感繼續充電，以控制電容C1之充電時間。

但是，由於這種做法需要在電路中加入電阻R3及比較器CP1，因此成本較高，且由於電阻R3會產生熱能，也會降低充電器的效率。因此，如何設計出一種閃光燈充電器校正裝置，能降低閃光燈充電器之製造成本，並改善其充電效率，並能提高生產相機或攝影機等產品之產能及良率，即為本發明所欲解決之問題。

有鑑於上述習知技藝之問題，本發明之目的就是在提供一種充電 器校正裝置及其校正方法，以解決習知技藝中充電器校正裝置效率低落，充電器製造成本過高，以及相機等電子產品在製造過程中，其產能、良率及工時無法改善等問題。

根據本發明之目的，提出一種充電器校正裝置，係包含：控制模組，係控制待校正充電器對電子裝置執行第一階段充電及第二階段充電，再控制電子裝置執行放電程序；以及處理模組，係當第二階段充電時間大於或小於目標充電時間時，執行調整程序，分別將待校正充電器之充電迴路中開關之預設高位準週期加上或減去預設調整幅度，以產生更新高位準週期，再將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度，並以更新高位準週期及更新調整幅度分別取代預設高位準週期及預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至預設次數時，終止校正程序。

根據本發明之目的，又提出一種充電器校正方法，係包含下列步驟：藉由控制模組控制待校正充電器對電子裝置執行第一階段充電及第二階段充電；以控制模組控制電子裝置執行放電程序；當第二階段充電時間大於或小於目標充電時間時，由處理模組執行調整程序，分別將待校正充電器之充電迴路中之開關之預設高位準週期加上或減去預設調整幅度，以產生更新高位準週期，再將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度；以及藉由處理模組以更新高位準週期及更新調整幅度分別取代預設高位準週期及預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至預設次數時，終止校正程序。

其中，更包含判斷模組，係當錯誤條件或終止條件發生時，終止校正程序。

其中，更包含微調模組，係當執行第一次校正迴圈時，判斷第二階段充電時間是否符合微調條件，若是，則執行微調程序，再進行調整程序；若否，則執行查找表分析程序，再進行調整程序。

其中，微調程序為減少預設調整幅度，產生微調調整幅度以取代預設調整幅度。

其中，查找表分析程序為根據第二階段充電時間以查找表找出相對應之充電迴路中變壓器之電感值及預估高位準週期，並在進入下一個校正迴圈之該調整程序時，以該預估高位準週期取代更新高位準週期，同時以降低調整幅度取代更新調整幅度。

其中，放電程序為使電子裝置進行完全放電或局部放電，而電子裝置放電後之電壓小於第一階段飽電電壓。

其中，處理模組將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度。

根據本發明之目的，再提出一種充電器校正裝置，係包含：控制手段，係控制待校正充電器對電子裝置執行第一階段充電及第二階段充電，再控制電子裝置執行放電程序；調整手段，係當第二階段充電時間大於或小於目標充電時間時，分別將待校正充電器之充電迴路中之開關之預設高位準週期加上或減去預設調整幅度，以產生更新高位準週期，再將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度；以及疊代手段，係以更新高位準週期及更新調整幅度分別取代預設高位準週期及預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至預設次數時，終止校正程序。

其中，更包含判斷手段，係當錯誤條件或終止條件發生時，終止校正程序。

其中，更包含微調手段，係當執行第一次校正迴圈時，判斷第二階段充電時間是否符合微調條件，若是，則執行微調程序，再進行調整程序；若否，則執行查找表分析程序，再進行調整程序。

其中，調整手段將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度。

承上所述，依本發明之充電器校正裝置及其校正方法，其可具有一或多個下述優點：

(1)此充電器校正裝置及其校正方法不需要在充電器中增加任何電子元件，即可有效率地執行充電器校正程序，可節省充電器之製造成本。

(2)此充電器校正裝置及其校正方法可以快速地執行充電器校正程序，因此可以有效地降低電子產品之生產工時。

(3)此充電器校正裝置及其校正方法可以更快速的檢查出電子產品生產過程中的瑕疵品，並有效地對充電器進行校正，因此可以大幅地改善電子產品之產能及良率。

V CC、V th‧‧‧電壓

T1‧‧‧變壓器

n_p‧‧‧變壓器一次側

n_s‧‧‧變壓器二次側

D1‧‧‧二極體

R1、R2、R3‧‧‧電阻

C1‧‧‧電容

Q1‧‧‧N型金氧半導體

CP1‧‧‧比較器

P1‧‧‧脈波寬度調變區塊

2、4‧‧‧閃光燈充電器校正裝置

21、41‧‧‧處理模組

211、411‧‧‧調整程序

22、42‧‧‧控制模組

23、43‧‧‧閃光燈充電器

232、432‧‧‧第二階段充電時間

431‧‧‧第一階段充電時間

24、44‧‧‧閃光燈

45‧‧‧微調模組

451‧‧‧微調程序

452‧‧‧查找表分析程序

46‧‧‧判斷模組

461‧‧‧錯誤條件

462‧‧‧終止條件

S31~S36、S51~S60、S81~S84‧‧‧步驟流程

第1圖 係為習知技藝之閃光燈充電器之一實施例之充電迴路圖。

第2圖 係為本發明之充電器校正裝置之第一實施例之方塊圖。

第3圖 係為本發明之充電器校正裝置之第一實施例之流程圖。

第4圖 係為本發明之充電器校正裝置之第二實施例之方塊圖。

第5A及5B圖 係為本發明之充電器校正裝置之第二實施例之流程圖。

第6圖 係為本發明之充電器校正裝置之一實施例之查找表範例圖。

第7A及7B圖 係為本發明之充電器校正裝置之一實施例之校正流程時間比較圖。

第8圖 係為本發明之充電器校正方法之一實施例之流程圖。

以下將參照相關圖式，說明依本發明之充電器校正裝置及其校正方法之實施例，為使便於理解，下述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

本發明之充電器校正裝置及其校正方法可以適用於數位相機及數位攝影機等各種電子裝置，為便於更暸解本發明之技術特徵，底下是以數位相機為實施例，但並不以此為限。

請參閱第2圖，係為本發明之充電器校正裝置之第一實施例之方塊圖。如圖所示，本發明之閃光燈充電器校正裝置2包含處理模組21及控制模組22。首先，處理模組21會執行初始條件設定，此時閃光燈24已經經過最大幅度的放電，而控制模組22則會控制閃光燈充電器23對閃光燈24進行充電。其中，充電可分為二階段進行，在一般的情況之下，第一階段充電可由閃光燈打完全閃的電壓(約60V左右)充電到100V，第二階段充電則可由100V充電到320V。而在第二階段充電完成後，控制模組22則會控制閃光燈24執行打全閃放電，使閃光燈24之電壓再度回到約60V左右。

值得一提的是，由於在生產相機的過程中，製造商會將閃光燈充電時間例為其技術規格之一，而其所定義的充電時間為由閃光燈 打完全閃放電後之電壓(約60V左右)，充電到飽電電壓320V，所需要的時間。而此飽電電壓為閃光燈足夠打全閃放電的電壓(300V)再加上安全範圍(20V)。然而，不同的相機所需要的電壓也不同，因此，第一階段充電及第二階段充電所需要涵蓋的充電範圍，是由閃光燈打完全閃的電壓，至額定打閃的飽電電壓。如此，整體的充電時間校正流程都會在技術規格要求的完整電壓範圍內做校正。

而在閃光燈24放電後，處理模組21則開始執行調整程序，其會將計算而得之第二階段充電時間232與目標充電時間(Typical Charging Time)相比，若第二階段充電時間232大於目標充電時間，則表示閃光燈充電器23之充電迴路中變壓器之一次側線圈之電感較標準值大，需要較長的時間來儲存能量，因此需要提高充電迴路中之開關之高位準週期，此開關可為脈波寬度調變電路(Pulse Width Modulation，PWM)等。此時處理模組21則將預設高位準週期(Old Ton)加上預設調整幅度(TonOffset)，以獲得更新高位準週期(New Ton)。相反的，若第二階段充電時間232小於目標充電時間，處理模組21則將預設高位準週期減去預設調整幅度，以獲得更新高位準週期。然後，處理模組21將預設調整幅度減半，產生更新調整幅度。處理模組21會將上述校正迴圈重覆執行至一預設次數，在一般的情況之下，此預設次數約為6至7次。

由上述可知，本發明之閃光燈充電器校正裝置2不需要在其充電迴路中加入額外的電阻與比較器，就能夠達到校正的目的，因此能夠降低相機之製作成本。

請參閱第3圖，係為本發明之充電器校正裝置之第一實施例之流 程圖。

在步驟S31中，執行初始化設定。

在步驟S32中，判斷校正迴圈之執行次數是否已達到預設次數？若是，則進入步驟S36，終止校正程序；若否，則進入步驟S33。

在步驟S33中，執行第一階段充電、第二階段充電及打全閃完全放電。

在步驟S34中，判斷第二階段充電時間是否大於目標充電時間？若是，則進入步驟S341；若否，則進入步驟S342。

在步驟S341中，計算更新高位準週期，更新高位準週期=預設高位準週期+預設調整幅度。

在步驟S342中，計算更新高位準週期，更新高位準週期=預設高位準週期-預設調整幅度。

在步驟S35中，計算更新調整幅度，更新調整幅度=預設調整幅度/2，並回到步驟S32。

請參閱第4圖，係為本發明之充電器校正裝置之第二實施例之方塊圖。如圖所示，本發明之閃光燈充電器校正裝置4包含處理模組41、控制模組42、微調模組45及判斷模組46。同樣的，處理模組41會執行初始條件設定。而控制模組42則會控制閃光燈充電器43對閃光燈44進行第一階段充電及第二階段充電，並控制閃光燈44進行局部放電。

值得一提的是，在本實施例中，為了使閃光燈充電器校正裝置4 更有效率，不再使用打全閃的方式使閃光燈44進行最大幅度的放電。在第一實施例的校正流程中，對充電時間的校正範圍為第二階段充電，即100V~320V，需要充220V的電壓，因此，充電至少需要數秒的時間。在本實施例中，為了縮短充電時間，因此在初始條件的設定上，只要第二階段飽電電壓與第一階段飽電電壓之差值大於30V以上即可。也就是說，第二階段充電只要充約30V的電壓即可，如此可大幅增加效率。

一般而言，數位相機能夠正常打閃的電壓為250V，因此，第二階段飽電電壓需要大於250V，再加上安全範圍20V。故可將第二階段飽電電壓設定為270V，第一階段的飽電電壓設定為240V。

須注意的是，由於第一及第二階段飽電電壓的修改，閃光燈44放電的方式也不再使用打全閃的方式，只要控制閃光燈44打閃後的電壓低於第一階段飽電電壓即可，並盡可能縮短第一階段充電時間431(從閃光燈打閃後的電壓充電至第一階段飽電電壓所需要的時間)。但是，為了避免觸發錯誤條件(第一階段充電時間431小於第一階段充電時間下限)，所以第一階段充電時間431必須大於第一階段充電時間下限，並加上一些安全時間來避免校正迴圈中充電時間的誤差。在另一方面，第二階段飽電電壓與第一階段飽電電壓之差值也不宜小於30V，若是此差值小於30V，則第二階段充電時間會變的太小，在校正流程中容易產生較大的誤差。

而判斷模組46係在當錯誤條件461發生時，進行錯誤處理，並終止校正程序。此錯誤條件461可包含：

(1)第一階段充電時間431小於第一階段充電時間下限。由於電容 放電是藉由閃光燈44來執行，電容之電壓可能會因為閃光燈44電路異常或燈管損壞等問題而無法順利放電，使第一階段充電時間431變的很短。因此可藉由設定第一階段時間下限來找出有問題的產品，並立即終止校正程序。

(2)第二階段充電時間432小於第二階段充電時間下限。充電迴路中之變壓器、電感、電容與電阻等元件會有誤差存在，但此誤差仍然會在製造商的生產規格之內。藉由事先將誤差最大的零件組合，定出第二階段充電時間下限，並在第二階段充電時間432小於第二階段充電時間下限時馬上終止校正流程，避免在浪費太多的時間在有問題的相機上。

(3)第二階段充電時間432大於第二階段充電時間上限。理由如同上述。

(4)校正程序完成後，第一階段充電時間431加上第二階段充電時間432仍大於總充電時間上限。在校正程序中，可能因為充電的時間誤差，或一些硬體上的小問題(例如，電容漏電等)，使充電時間都無法達到目標充電時間的+/-5%，但過程中也沒有超過第二階段充電時間上限及下限。但是，校正程序完成後，第一階段充電時間431加上第二階段充電時間432仍大於總充電時間上限，則判定為校正失敗。

(5)第一階段充電及第二階段充電的過程中，發生硬體保護錯誤。全數位式閃光燈充電器在設計上提供了幾種硬體保護機制，因此只要第一階段充電與第二階段充電的過程中有硬體保護機制被觸發，校正流程就會立即中止，避免在有問題的相機上做無意義 的校正，能夠更快速的篩選出有問題的相機。

(6)第一階段充電或第二階段充電的過程中，發生軟體充電時間保護錯誤。在全數位式閃光燈充電器的校正流程中，當進行充電時，會打開軟體充電時間保護，來加強保護機制，因此只要充電過程中有軟體充電時間保護機制被觸發，校正流程也會立即中止，避免在有問題的相機上繼續做校正的動作，能夠更快速的篩選出有問題的相機。

另外，判斷模組46也會在終止條件462發生時，終止校正程序。此終止條件462可包含：

(1)第二階段充電時間432達到目標充電時間之+/-5%之內，且第一階段充電時間431加上第二階段充電時間432小於總充電時間上限。由於充電時間會有誤差，第二階段充電時間432達到目標充電時間之+/-5%之內為可接受的範圍。利用這樣的條件，便可以讓充電時間很接近目標充電時間的相機，以最短的時間完成校正程序。

(2)當校正程序完成後，第一階段充電時間431加上第二階段充電時間432小於總充電時間上限。在校正程序中，可能因為充電的時間誤差，使得第二階段充電時間432始終都無法落入目標充電時間的+/-5%，但也沒有超過所設定的第二階段充電時間上限及下限，為了讓這樣的相機依舊能夠通過校正程序，只要最後第一階段充電時間431加上第二階段充電時間432小於總充電時間上限，則可認定這台相機是順利完成校正程序的。

而微調模組45係當執行第一次校正迴圈時，執行加速調整程序， 判斷該第二階段充電時間432是否符合微調條件，此微調條件可視情況自由設定。在本實施例中，此微調條件為當第二階段充電時間432達到目標充電時間之+/-(5%~8%)之間時，若第二階段充電時間432符合此微調條件，則表示第二階段充電時間432已經很接近目標充電時間，則執行微調程序451，減少預設調整幅度(在本實施例中，預設調整幅度為70clock)，產生微調調整幅度(在本實施例中，微調調整幅度為預設調整幅度之一半)，以避免做出太大的調整，造成要多做幾次校正迴圈，來修正第一次調整太多的錯誤。也就是說，當第二階段充電時間432達到目標充電時間之+/-(5%~8%)時，便用較小的調整幅度，直接進行微調，而不再做粗調的動作，使校正程序可以更快完成。而微調程序451結束後，再進行查找表分析程序452。

若第二階段充電時間432不符合此微調條件，表示第二充電時間432離目標充電時間還有一段距離，此時，則執行查找表分析程序452。查找表分析程序452利用事先建立的查找表，並根據第二階段充電時間432找出相對應之電感值及預估高位準週期，並於下一個校正迴圈中，當處理模組41執行調整程序411時，直接使用此預估高位準週期，並同時使用降低調整幅度(在本實施例中為15clock)來做調整，以針對其它電路元件的誤差做修正，以縮短校正程序。

然後，處理模組41則執行調整程序411，若第二階段充電時間432大於目標充電時間，且符合微調條件，則更新高位準週期=預設高位準週期+微調調整幅度；若第二階段充電時間432小於目標充電時間，且符合微調條件，則更新高位準週期=預設高位準週期 -微調調整幅度。最後，處理模組則依查找表分析程序452的結果，以降低調整幅度做為更新調整幅度於下一個校正迴圈中使用，並重覆上述校正迴圈，直到滿足預設次數或符合終止條件為止。

另外，若第二階段充電時間432大於目標充電時間，但不符合微調條件，則更新高位準週期=預設高位準週期+預設調整幅度；若第二階段充電時間432小於目標充電時間，但不符合微調條件，則更新高位準週期=預設高位準週期-預設調整幅度。也就是說，在第二階段充電時間432不符合微調條件的情況之下，第一輪的校正迴圈仍然執行粗調。同樣的，處理模組41以降低調整幅度做為更新調整幅度於下一個校正迴圈中使用，並重覆上述校正迴圈，直到滿足預設次數或符合終止條件為止。

須注意的是，無論第二階段充電時間432是否符合此微調條件，當進入第二次校正迴圈之調整程序411時，均是以查找表分析程序452的結果來做運算，即預估高位準週期與降低調整幅度，以加速校正程序。

在另一方面，本發明之技術領域中之通常知識者也可以結合各個功能性的模組為一整合的裝置，或是將各個功能性的模組拆分為更細部的裝置，更可以用各種有相同功能的手段，來達到相同的目的，這些修改均未脫離本發明之精神與範疇。

請參閱第5A及5B圖，係為本發明之充電器校正裝置之第二實施例之流程圖。

在步驟S51中，執行初始化設定。

在步驟S52中，判斷校正迴圈之執行次數是否已達到預設次數？若是，則進入步驟S60，終止校正程序；若否，則進入步驟S53。

在步驟S53中，執行第一階段充電、第二階段充電及局部放電。

在步驟S54中，判斷是否有錯誤條件或是有終止條件發生？若是，則進入步驟S60，終止校正程序；若否，則進入步驟S55。

在步驟S55中，判斷是否為第一次執行校正迴圈？若是，則進入步驟S56；若否，則進入步驟S58。

在步驟S56中，執行加速調整程序。

在步驟S57中，判斷第二充電時間是否在目標充電時間之+/-(5%~8%)之內？若是，則進入步驟S571，將預設調整幅度減半，產生微調調整幅度，並進入步驟S572；若否，則直接進入步驟S572。

在步驟S572中，根據查找表找出相應之電感值及預估高位準週期，並設定降低調整幅度為15clock，並進入步驟S58。

在步驟S58中，判斷第二充電時間是否大於目標充電時間？若是，則進入步驟S581；若否，則進入步驟S582。

在步驟S581中，計算更新高位準週期，更新高位準週期=預設高位準週期+微調調整幅度(或預設調整幅度)。

在步驟S582中，計算更新高位準週期，更新高位準週期=預設高位準週期-微調調整幅度(或預設調整幅度)。

在步驟S59中，計算更新調整幅度，更新調整幅度=降低調整幅度15clock，並回到步驟S52。

請參閱第6圖，係為本發明之一實施例之查找表範例圖。此查找表可以有很多種建立方式。例如，先請製造商以每隔0.5uH一顆的方式，提供所有在誤差範圍之內的電感，然後使用相同的電壓與相同的高位準週期充電，觀察其第二階段充電時間，並依照每一種電感值所求得的充電時間，建立一時間表。針對每一顆電感值差距為0.5uH的電感(也可以低於0.5uH)，調整出一個預估高位準週期，使其第二階段的充電時間，最接近設計的目標充電時間，並依照每一種電感值所求得的預估高位準週期，建立預估高位準週期表。如此一來，就能快速的找到最適合有特定電感值之變壓器之高位準週期，而不用經過多次的校正迴圈。

舉例而言，量測一顆未知電感值(xx.xuH)變壓器之充電時間，由圖中可以看出來，此變壓器之電感值應位於10.5uH~11.0uH之間。若目標充電時間為850000us，即可以使用查表的方式得知，此變壓器需要將高位準週期設為425，其充電時間能夠達到約850000us。

請參閱第7A及7B圖，係為本發明之一實施例之校正流程時間比較圖。為了方便說明，在本實施例中將第一實施例之方法稱為方法1，而第二實施例之方法稱方法2。在方法1中，第二階段充電範圍是由100V至320V，而在方法2中，第二階段充電範圍是由240V至270V，此電壓的調整可以大幅地提升校正效率。

如第7A圖所示，圖中之數據為在相同的初始條件下的實驗結果， 即以相同的相機型號、相同的電感值及相同的電源。第二階段充電時間為設定之目標充電時間，而平均第二階段充電時間為實際測試的平均值。在第7B圖中，預設高位準週期等於更新高位準週期，也就是說，兩個方法都在第一次校正迴圈中完成校正程序。而由圖中之結果可以很明顯的看來，方法2所花費的時間僅為方法1的三分之一左右。因此，方法2中將第二階段充電時間縮短並採用局部放電的方式，確實能夠大幅提升校正效率。

儘管前述在說明本發明之充電器校正裝置的過程中，亦已同時說明本發明之充電器校正方法的概念，但為求清楚起見，以下仍另繪示流程圖詳細說明。

請參閱第8圖，係為本發明之充電器校正方法之流程圖。本發明之充電器校正方法係包含下列步驟：

在步驟S81中，藉由控制模組控制待校正充電器對電子裝罝執行第一階段充電及第二階段充電。

在步驟S82中，以控制模組控制電子裝置執行放電程序。

在步驟S83中，當第二階段充電時間大於或小於目標充電時間時，由處理模組執行調整程序，分別將待校正充電器之充電迴路中之開關之預設高位準週期加上或減去預設調整幅度，以產生更新高位準週期，再將預設調整幅度減半，以產生更新調整幅度。

在步驟S84中，藉由處理模組重覆上述校正迴圈，當重覆次數達到預設次數時，終止校正程序。

本發明之充電器校正裝置及其校正方法的詳細說明以及實施方式 已於前面敘述本發明之充電器校正裝置時描述過，在此為了簡略說明便不再重覆敘述。

綜上所述，本發明之充電器校正裝置及其校正方法不需要在充電器之充電迴路中增加任何電子元件，即可達到提高校正效率的效果，可節省充電器之製造成本。另外，本發明之充電器校正裝置及其校正方法可以快速地執行充電器校正程序，因此可以有效地降低電子產品之生產工時。再者，本發明之充電器校正裝置及其校正方法可以更快速的檢查出電子產品生產過程中的瑕疵品，並有效地對充電器進行校正，因此可以大幅地改善電子產品之產能及良率。因此，本發明確實可以改進習知技藝之缺點。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

4‧‧‧閃光燈充電器校正裝置

41‧‧‧處理模組

411‧‧‧調整程序

42‧‧‧控制模組

43‧‧‧閃光燈充電器

431‧‧‧第一階段充電時間

432‧‧‧第二階段充電時間

44‧‧‧閃光燈

45‧‧‧微調模組

451‧‧‧微調程序

452‧‧‧查找表分析程序

46‧‧‧判斷模組

461‧‧‧錯誤條件

462‧‧‧終止條件

Claims (15)

1. 一種充電器校正裝置，係包含：一控制模組，係控制一待校正充電器對一電子裝置執行一第一階段充電及一第二階段充電，再控制該電子裝置執行一放電程序；一處理模組，係當一第二階段充電時間大於或小於一目標充電時間時，執行一調整程序，分別將該待校正充電器之充電迴路中一開關之一預設高位準週期加上或減去一預設調整幅度，以產生一更新高位準週期，並產生一更新調整幅度，再以該更新高位準週期及該更新調整幅度分別取代該預設高位準週期及該預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至一預設次數時，終止校正程序；以及一判斷模組，係當一錯誤條件或一終止條件發生時，終止校正程序。
2. 如申請專利範圍第1項所述之充電器校正裝置，更包含一微調模組，係當執行第一次校正迴圈時，判斷該第二階段充電時間是否符合一微調條件，若是，則執行一微調程序，再進行該調整程序；若否，則執行一查找表分析程序，再進行該調整程序。
3. 如申請專利範圍第2項所述之充電器校正裝置，其中該微調程序為減少該預設調整幅度，產生一微調調整幅度以取代該預設調整幅度。
4. 如申請專利範圍第2項所述之充電器校正裝置，其中該查找表分析程序為根據該第二階段充電時間以一查找表找出相對應之充電迴路中儲能電感之電感值及一預估高位準週期，並在進入下一個校 正迴圈之該調整程序時，以該預估高位準週期取代該更新高位準週期，同時以一降低調整幅度取代該更新調整幅度。
5. 如申請專利範圍第1項所述之充電器校正裝置，其中該放電程序為使該電子裝置進行完全放電或局部放電，而該電子裝置放電後之電壓小於一第一階段飽電電壓。
6. 如申請專利範圍第1項所述之充電器校正裝置，其中該處理模組將該預設調整幅度減半，以產生該更新調整幅度。
7. 一種充電器校正裝置，其包含：一控制手段，係控制一待校正充電器對一電子裝置執行一第一階段充電及一第二階段充電，再控制該電子裝置執行一放電程序；一調整手段，係當一第二階段充電時間大於或小於一目標充電時間時，分別將該待校正充電器之充電迴路中之一開關之一預設高位準週期加上或減去一預設調整幅度，以產生一更新高位準週期，並產生一更新調整幅度；一疊代手段，係以該更新高位準週期及該更新調整幅度分別取代該預設高位準週期及該預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至一預設次數時，終止校正程序；以及一判斷手段，係當一錯誤條件或一終止條件發生時，終止校正程序。
8. 如申請專利範圍第7項所述之充電器校正裝置，更包含一微調手段，係當執行第一次校正迴圈時，判斷該第二階段充電時間是否符合一微調條件，若是，則執行一微調程序，再進行該調整程序；若否，則執行一查找表分析程序，再進行該調整程序。
9. 如申請專利範圍第7項所述之充電器校正裝置，其中該調整手段將該預設調整幅度減半，以產生該更新調整幅度。
10. 一種充電器校正方法，係包含下列步驟：藉由一控制模組控制一待校正充電器對一電子裝罝執行一第一階段充電及一第二階段充電；以該控制模組控制該電子裝置執行一放電程序；當一第二階段充電時間大於或小於一目標充電時間時，由一處理模組執行一調整程序，分別將該待校正充電器之充電迴路中之一開關之一預設高位準週期加上或減去一預設調整幅度，以產生一更新高位準週期，並產生一更新調整幅度；藉由該處理模組以該更新高位準週期及該更新調整幅度分別取代該預設高位準週期及該預設調整幅度，再重覆上述校正迴圈至一預設次數時，終止校正程序；以及由一判斷模組在當一錯誤條件或一終止條件發生時，終止校正程序。
11. 如申請專利範圍第10項所述之充電器校正方法，更包含下列步驟：以一微調模組，在執行第一次校正迴圈時，判斷該第二階段充電時間是否符合一微調條件，若是，則執行一微調程序，再進行該調整程序；若否，則執行一查找表分析程序，再進行該調整程序。
12. 如申請專利範圍第11項所述之充電器校正方法，其中該微調程序為減少該預設調整幅度，產生一微調調整幅度以取代該預設調整幅度。
13. 如申請專利範圍第11項所述之充電器校正方法，其中該查找表分析程序為根據該第二階段充電時間以一查找表找出相對應之充電迴路中儲能電感之電感值及一預估高位準週期，並在進入下一個 校正迴圈之該調整程序時，以該預估高位準週期取代該更新高位準週期，並以一降低調整幅度取代該更新調整幅度。
14. 如申請專利範圍第10項所述之充電器校正方法，其中該放電程序為使該電子裝置進行完全放電或局部放電，而該電子裝置放電後之電壓小於一第一階段飽電電壓。
15. 如申請專利範圍第10項所述之充電器校正方法，其中該處理模組將該預設調整幅度減半，以產生該更新調整幅度。