CN103036262B - 充电器校正装置及其校正方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭露了一种充电器校正装置及其校正方法，此校正装置包含一控制模组及一处理模组。控制模组控制待校正充电器对电子装置执行第一阶段充电及第二阶段充电。处理模组是根据第二阶段充电时间执行调整程序，以调整待校正充电器的充电回路中的脉波宽度调变讯号的高位准周期。此调整程序分别将一预设高位准周期加上或减去一预设调整幅度，以产生更新高位准周期，再将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度，并重复上述校正回圈至预设次数时，终止校正程序。

Description

充电器校正装置及其校正方法

技术领域

本发明是有关于一种充电器校正装置，特别是一种成本较低，且更有效率的全数位式闪光灯充电器校正装置及其校正方法。

背景技术

在数位相机及数位摄影机中，闪光灯模组是不可或缺的元件，为了触发闪光灯灯管内的惰性气体击出闪光，闪光灯电路中需要有充电电容来储存能量。此电容的充电电压可能高达300伏特以上。因此，为了能够将电容电压提升至300伏特以上的高电压，闪光灯电路中需要有一充电回路来将电池的能量转换到电容中。

在相机的生产过程中，为了使所有生产的相机符合一特定的技术规格，会为闪光灯充电时间订立一上限，使每一台相机在相同电压的条件下，能够有相近的充电时间。而相机的充电回路常使用返驰式转换器(Flyback Converter)的架构。

图1为公知技术的闪光灯充电器的充电回路图，图中的返驰式转换器1是利用脉波宽度调变区块(Pulse Width Modulation，PWM)P1控制N型金氧半导体Q1的导通与截止，并利用电路中的电感对电容C1充电。当脉波宽度调变电路P1处于高位准周期时，半导体Q1的栅极处于高位准，为导通状态，并对变压器T1的一次线圈n_p的电感充电。

相反的，当半导体Q1的栅极处于低位准时，为截止状态。此时，变压器T1二次线圈n_S会感应出电流，此电流会流经二极管D1对电容C1充电，而变压器T1的一次线圈n_p的电感会将在当半导体Q1的栅极处于高位准期间所储存的能量，转换到电容C1。因此，通过不断开关半导体Q1可将电容C1的电压充到300伏特以上。

然而，硬件零件会有误差，例如，一次线圈n_p的电感会有+/-20％的误差。而由于半导体Q1处于导通状态时，流经一次线圈n_p的电流会随着时间增加，电感值愈小，电流上升愈快；相反的，电感值愈大，电流上升愈慢。因此，对返驰式转换器来说，电感的误差会影响其充电的时间。为了避免上述状况，制造商一般会在返驰式转换器中加上一电阻R3，并通过一比较器CP1，监控流经一次线圈n_p的电流，当电流上升到一定程度时，在电阻R3上会出现一大于门槛电压值(Vth)的电压值。此时，脉波宽度调变电路P1关闭半导体Q1，停止对一次线圈n_p的电感继续充电，以控制电容C1的充电时间。

但是，由于这种做法需要在电路中加入电阻R3及比较器CP1，因此成本较高，且由于电阻R3会产生热能，也会降低充电器的效率。因此，如何设计出一种闪光灯充电器校正装置，能降低闪光灯充电器的制造成本，并改善其充电效率，并能提高生产相机或摄影机等产品的产能及优良率，即为本发明所欲解决的问题。

发明内容

有鉴于上述问题，本发明的目的就在于提供一种充电器校正装置及其校正方法，以解决充电器校正装置效率偏低，充电器制造成本过高，以及相机等电子产品在制造过程中，其产能、优良率及工时无法改善等问题。

根据本发明的目的，本发明采用以下技术方案：

一种充电器校正装置，包含：控制模组，控制待校正充电器对电子装置执行第一阶段充电及第二阶段充电，再控制电子装置执行放电程序；以及处理模组，当第二阶段充电时间大于或小于目标充电时间时，执行调整程序，分别将待校正充电器的充电回路中开关的预设高位准周期加上或减去预设调整幅度，以产生更新高位准周期，再将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度，并以更新高位准周期及更新调整幅度分别取代预设高位准周期及预设调整幅度，再重复上述校正回圈至预设次数时，终止校正程序。

根据本发明的目的，又提出一种充电器校正方法，包含下列步骤：通过控制模组控制待校正充电器对电子装置执行第一阶段充电及第二阶段充电；以控制模组控制电子装置执行放电程序；当第二阶段充电时间大于或小于目标充电时间时，由处理模组执行调整程序，分别将待校正充电器的充电回路中的开关的预设高位准周期加上或减去预设调整幅度，以产生更新高位准周期，再将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度；以及通过处理模组以更新高位准周期及更新调整幅度分别取代预设高位准周期及预设调整幅度，再重复上述校正回圈至预设次数时，终止校正程序。

其中，该充电器校正装置还包含判断模组，当错误条件或终止条件发生时，终止校正程序。

其中，该充电器校正装置还包含微调模组，当执行第一次校正回圈时，判断第二阶段充电时间是否符合微调条件，若是，则执行微调程序，再进行调整程序；若否，则执行查找表分析程序，再进行调整程序。

其中，微调程序为减少预设调整幅度，产生微调调整幅度以取代预设调整幅度。

其中，查找表分析程序为根据第二阶段充电时间以查找表找出相对应的充电回路中变压器的电感值及预估高位准周期，并在进入下一个校正回圈的该调整程序时，以该预估高位准周期取代更新高位准周期，同时以降低调整幅度取代更新调整幅度。

其中，放电程序为使电子装置进行完全放电或局部放电，而电子装置放电后的电压小于第一阶段饱和电压。

其中，处理模组将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度。

根据本发明的目的，再提出一种充电器校正装置，它包含：控制单元，控制待校正充电器对电子装置执行第一阶段充电及第二阶段充电，再控制电子装置执行放电程序；调整单元，当第二阶段充电时间大于或小于目标充电时间时，分别将待校正充电器的充电回路中的开关的预设高位准周期加上或减去预设调整幅度，以产生更新高位准周期，再将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度；以及迭代单元，以更新高位准周期及更新调整幅度分别取代预设高位准周期及预设调整幅度，再重复上述校正回圈至预设次数时，终止校正程序。

其中，该充电器校正装置还包含判断单元，当错误条件或终止条件发生时，终止校正程序。

其中，该充电器校正装置还包含微调单元，当执行第一次校正回圈时，判断第二阶段充电时间是否符合微调条件，若是，则执行微调程序，再进行调整程序；若否，则执行查找表分析程序，再进行调整程序。

其中，调整单元将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度。

承上所述，依本发明的充电器校正装置及其校正方法，其可具有一或多个下述优点：

(1)此充电器校正装置及其校正方法不需要在充电器中增加任何电子元件，即可有效率地执行充电器校正程序，可节省充电器的制造成本。

(2)此充电器校正装置及其校正方法可以快速地执行充电器校正程序，因此可以有效地降低电子产品的生产工时。

(3)此充电器校正装置及其校正方法可以更快速的检查出电子产品生产过程中的瑕疵品，并有效地对充电器进行校正，因此可以大幅地改善电子产品的产能及优良率。

附图说明

图1为公知技术的闪光灯充电器的一实施例的充电回路图；

图2为本发明的充电器校正装置的第一实施例的方块图；

图3为本发明的充电器校正装置的第一实施例的流程图；

图4为本发明的充电器校正装置的第二实施例的方块图；

图5A及5B为本发明的充电器校正装置的第二实施例的流程图；

图6为本发明的充电器校正装置的一实施例的查找表范例图；

图7A及7B为本发明的充电器校正装置的一实施例的校正流程时间比较图；

图8为本发明的充电器校正方法的一实施例的流程图。

具体实施方式

以下将参照相关图式，说明依本发明的充电器校正装置及其校正方法的实施例，为便于理解，下述实施例中的相同元件以相同的符号标示来说明。

本发明的充电器校正装置及其校正方法可以适用于数位相机及数位摄影机等各种电子装置，为便于更了解本发明的技术特征，以下是以数位相机为实施例，但并不以此为限。

图2为本发明的充电器校正装置的第一实施例的方块图。如图所示，本发明的闪光灯充电器校正装置2包含处理模组21及控制模组22。首先，处理模组21会执行初始条件设定，此时闪光灯24已经经过最大幅度的放电，而控制模组22则会控制闪光灯充电器23对闪光灯24进行充电。其中，充电可分为两阶段进行，在一般情况下，第一阶段充电可由闪光灯24打完全闪的电压(约60V左右)充电到100V，第二阶段充电则可由100V充电到320V。而在第二阶段充电完成后，控制模组22会控制闪光灯24执行打全闪放电，使闪光灯24的电压再度回到约60V左右。

值得一提的是，由于在生产相机的过程中，制造商会将闪光灯充电时间列为其技术规格之一，而其所定义的充电时间为由闪光灯24打完全闪放电后的电压(约60V左右)，充电到饱和电压320V，所需要的时间。而此饱和电压为闪光灯24足够打全闪放电的电压(300V)再加上安全范围(20V)。然而，不同的相机所需要的电压也不同，因此，第一阶段充电及第二阶段充电所需要涵盖的充电范围，是由闪光灯24打完全闪的电压，至额定打闪的饱和电压。如此，整体的充电时间校正流程都会在技术规格要求的完整电压范围内做校正。

而在闪光灯24放电后，处理模组21则开始执行调整程序211，其会将计算而得的第二阶段充电时间232与目标充电时间(Typical Charging Time)相比，若第二阶段充电时间232大于目标充电时间，则表示闪光灯充电器23的充电回路中变压器的一次线圈的电感较标准值大，需要较长的时间来储存能量，因此需要提高充电回路中的开关的高位准周期，此开关可为脉波宽度调变电路(Pulse Width Modulation，PWM)等。此时处理模组21则将预设高位准周期(Old Ton)加上预设调整幅度(TonOffset)，以获得更新高位准周期(New Ton)。相反的，若第二阶段充电时间232小于目标充电时间，处理模组21则将预设高位准周期减去预设调整幅度，以获得更新高位准周期。然后，处理模组21将预设调整幅度减半，产生更新调整幅度。处理模组21会将上述校正回圈重复执行至一预设次数，在一般的情况下，此预设次数约为6至7次。

由上述可知，本发明的闪光灯充电器校正装置2不需要在其充电回路中加入额外的电阻与比较器，就能够达到校正的目的，因此能够降低相机的制作成本。

图3为本发明的充电器校正装置的第一实施例的流程图。

在步骤S31中，执行初始化设定。

在步骤S32中，判断校正回圈的执行次数是否已达到预设次数？若是，则进入步骤S36，终止校正程序；若否，则进入步骤S33。

在步骤S33中，执行第一阶段充电、第二阶段充电及打全闪完全放电。

在步骤S34中，判断第二阶段充电时间是否大于目标充电时间？若是，则进入步骤S341；若否，则进入步骤S342。

在步骤S341中，计算更新高位准周期，更新高位准周期＝预设高位准周期+预设调整幅度。

在步骤S342中，计算更新高位准周期，更新高位准周期＝预设高位准周期-预设调整幅度。

在步骤S35中，计算更新调整幅度，更新调整幅度＝预设调整幅度/2，并回到步骤S32。

图4为本发明的充电器校正装置的第二实施例的方块图。如图所示，本发明的闪光灯充电器校正装置4包含处理模组41、控制模组42、微调模组45及判断模组46。同样的，处理模组41会执行初始条件设定。而控制模组42则会控制闪光灯充电器43对闪光灯44进行第一阶段充电及第二阶段充电，并控制闪光灯44进行局部放电。

值得一提的是，在本实施例中，为了使闪光灯充电器校正装置4更有效率，不再使用打全闪的方式使闪光灯44进行最大幅度的放电。在第一实施例的校正流程中，对充电时间的校正范围为第二阶段充电，即100V～320V，需要充220V的电压，因此，充电至少需要数秒的时间。在本实施例中，为了缩短充电时间，在初始条件的设定上，只要第二阶段饱和电压与第一阶段饱和电压的差值大于30V以上即可。也就是说，第二阶段充电只要充约30V的电压即可，如此可大幅提高效率。

一般而言，数位相机能够正常打闪的电压为250V，因此，第二阶段饱和电压需要大于250V，再加上安全范围20V。故可将第二阶段饱和电压设定为270V，第一阶段的饱和电压设定为240V。

须注意的是，由于第一及第二阶段饱和电压的修改，闪光灯44放电的方式也不再使用打全闪的方式，只要控制闪光灯44打闪后的电压低于第一阶段饱和电压即可，并尽可能缩短第一阶段充电时间431(从闪光灯44打闪后的电压充电至第一阶段饱和电压所需要的时间)。但是，为了避免触发错误条件461(第一阶段充电时间431小于第一阶段充电时间下限)，所以第一阶段充电时间431必须大于第一阶段充电时间下限，并加上一些安全时间来避免校正回圈中充电时间的误差。在另一方面，第二阶段饱和电压与第一阶段饱和电压的差值也不宜小于30V，若是此差值小于30V，则第二阶段充电时间会变的太小，在校正流程中容易产生较大的误差。

而判断模组46是在错误条件461发生时，进行错误处理，并终止校正程序。此错误条件461可包含：

(1)第一阶段充电时间431小于第一阶段充电时间下限。由于电容放电是通过闪光灯44来执行，电容的电压可能会因为闪光灯44电路异常或灯管损坏等问题而无法顺利放电，使第一阶段充电时间431变的很短。因此可通过设定第一阶段时间下限来找出有问题的产品，并立即终止校正程序。

(2)第二阶段充电时间432小于第二阶段充电时间下限。充电回路中的变压器、电感、电容与电阻等元件会有误差存在，但此误差仍然会在制造商的生产规格内。通过事先将误差最大的零件组合，定出第二阶段充电时间下限，并在第二阶段充电时间432小于第二阶段充电时间下限时马上终止校正流程，避免浪费太多的时间在有问题的相机上。

(3)第二阶段充电时间432大于第二阶段充电时间上限。理由如同上述。

(4)校正程序完成后，第一阶段充电时间431加上第二阶段充电时间432仍大于总充电时间上限。在校正程序中，可能因为充电的时间误差，或一些硬件上的小问题(例如，电容漏电等)，使充电时间都无法达到目标充电时间的+/-5％，但过程中也没有超过第二阶段充电时间上限及下限。但是，校正程序完成后，第一阶段充电时间431加上第二阶段充电时间432仍大于总充电时间上限，则判定为校正失败。

(5)第一阶段充电及第二阶段充电的过程中，发生硬件保护错误。全数位式闪光灯充电器在设计上提供了几种硬件保护机制，因此只要第一阶段充电与第二阶段充电的过程中有硬件保护机制被触发，校正流程就会立即中止，避免在有问题的相机上做无意义的校正，能够更快速的筛选出有问题的相机。

(6)第一阶段充电或第二阶段充电的过程中，发生软件充电时间保护错误。在全数位式闪光灯充电器的校正流程中，当进行充电时，会打开软件充电时间保护，来加强保护机制，因此只要充电过程中有软件充电时间保护机制被触发，校正流程也会立即中止，避免在有问题的相机上继续做校正的动作，能够更快速的筛选出有问题的相机。

另外，判断模组46也会在终止条件462发生时，终止校正程序。此终止条件462可包含：

(1)第二阶段充电时间432达到目标充电时间的+/-5％内，且第一阶段充电时间431加上第二阶段充电时间432小于总充电时间上限。由于充电时间会有误差，第二阶段充电时间432达到目标充电时间的+/-5％内为可接受的范围。利用这样的条件，便可以让充电时间很接近目标充电时间的相机，以最短的时间完成校正程序。

(2)当校正程序完成后，第一阶段充电时间431加上第二阶段充电时间432小于总充电时间上限。在校正程序中，可能因为充电的时间误差，使得第二阶段充电时间432始终都无法落入目标充电时间的+/-5％，但也没有超过所设定的第二阶段充电时间上限及下限，为了让这样的相机依旧能够通过校正程序，只要最后第一阶段充电时间431加上第二阶段充电时间432小于总充电时间上限，则可认定这台相机是顺利完成校正程序的。

而微调模组45是当执行第一次校正回圈时，执行加速调整程序411，判断该第二阶段充电时间432是否符合微调条件，此微调条件可视情况自由设定。在本实施例中，此微调条件为当第二阶段充电时间432达到目标充电时间的+/-(5％～8％)间时，若第二阶段充电时间432符合此微调条件，则表示第二阶段充电时间432已经很接近目标充电时间，则执行微调程序451，减少预设调整幅度(在本实施例中，预设调整幅度为70脉波单位(clock))，产生微调调整幅度(在本实施例中，微调调整幅度为预设调整幅度的一半)，以避免做出太大的调整，造成要多做几次校正回圈，来修正第一次调整太多的错误。也就是说，当第二阶段充电时间432达到目标充电时间的+/-(5％～8％)时，便用较小的调整幅度，直接进行微调，而不再做粗调的动作，使校正程序可以更快完成。而微调程序451结束后，再进行查找表分析程序452。

若第二阶段充电时间432不符合此微调条件，表示第二充电时间432离目标充电时间还有一段距离，此时，则执行查找表分析程序452。查找表分析程序452利用事先建立的查找表，并根据第二阶段充电时间432找出相对应的电感值及预估高位准周期，并于下一个校正回圈中，当处理模组41执行调整程序411时，直接使用此预估高位准周期，并同时使用降低调整幅度(在本实施例中为15clock)来做调整，以针对其它电路元件的误差做修正，以缩短校正程序。

然后，处理模组41则执行调整程序411，若第二阶段充电时间432大于目标充电时间，且符合微调条件，则更新高位准周期＝预设高位准周期+微调调整幅度；若第二阶段充电时间432小于目标充电时间，且符合微调条件，则更新高位准周期＝预设高位准周期-微调调整幅度。最后，处理模组则依查找表分析程序452的结果，以降低调整幅度做为更新调整幅度于下一个校正回圈中使用，并重复上述校正回圈，直到满足预设次数或符合终止条件462为止。

另外，若第二阶段充电时间432大于目标充电时间，但不符合微调条件，则更新高位准周期＝预设高位准周期+预设调整幅度；若第二阶段充电时间432小于目标充电时间，但不符合微调条件，则更新高位准周期＝预设高位准周期-预设调整幅度。也就是说，在第二阶段充电时间432不符合微调条件的情况下，第一轮的校正回圈仍然执行粗调。同样的，处理模组41以降低调整幅度做为更新调整幅度于下一个校正回圈中使用，并重复上述校正回圈，直到满足预设次数或符合终止条件462为止。

须注意的是，无论第二阶段充电时间432是否符合此微调条件，当进入第二次校正回圈的调整程序411时，均是以查找表分析程序452的结果来做运算，即预估高位准周期与降低调整幅度，以加速校正程序。

在另一方面，本发明的技术领域中的通常知识者也可以结合各个功能性的模组为一整合的装置，或是将各个功能性的模组拆分为更细部的装置，更可以用各种有相同功能的手段，来达到相同的目的，这些修改均未脱离本发明的精神与范畴。

图5A及5B为本发明的充电器校正装置的第二实施例的流程图。

在步骤S51中，执行初始化设定。

在步骤S52中，判断校正回圈的执行次数是否已达到预设次数？若是，则进入步骤S60，终止校正程序；若否，则进入步骤S53。

在步骤S53中，执行第一阶段充电、第二阶段充电及局部放电。

在步骤S54中，判断是否有错误条件或是有终止条件发生？若是，则进入步骤S60，终止校正程序；若否，则进入步骤S55。

在步骤S55中，判断是否为第一次执行校正回圈？若是，则进入步骤S56；若否，则进入步骤S58。

在步骤S56中，执行加速调整程序。

在步骤S57中，判断第二充电时间是否在目标充电时间的+/-(5％～8％)内？若是，则进入步骤S571，将预设调整幅度减半，产生微调调整幅度，并进入步骤S572；若否，则直接进入步骤S572。

在步骤S572中，根据查找表找出相应的电感值及预估高位准周期，并设定降低调整幅度为15clock，并进入步骤S58。

在步骤S58中，判断第二充电时间是否大于目标充电时间？若是，则进入步骤S581；若否，则进入步骤S582。

在步骤S581中，计算更新高位准周期，更新高位准周期＝预设高位准周期+微调调整幅度(或预设调整幅度)。

在步骤S582中，计算更新高位准周期，更新高位准周期＝预设高位准周期-微调调整幅度(或预设调整幅度)。

在步骤S59中，计算更新调整幅度，更新调整幅度＝降低调整幅度15clock，并回到步骤S52。

图6为本发明的一实施例的查找表范例图。此查找表可以有很多种建立方式。例如，先请制造商以每隔0.5μH一颗的方式，提供所有在误差范围内的电感，然后使用相同的电压与相同的高位准周期充电，观察其第二阶段充电时间，并依照每一种电感值所求得的充电时间，建立一时间表。针对每一颗电感值差距为0.5μH的电感(也可以低于0.5μH)，调整出一个预估高位准周期，使其第二阶段的充电时间，最接近设计的目标充电时间，并依照每一种电感值所求得的预估高位准周期，建立预估高位准周期表。如此一来，就能快速的找到最适合有特定电感值的变压器的高位准周期，而不用经过多次的校正回圈。

举例而言，量测一颗未知电感值(xx.xμH)变压器的充电时间，由图中可以看出来，此变压器的电感值应位于10.5μH～11.0μH间。若目标充电时间为850000μs，即可以使用查表的方式得知，此变压器需要将高位准周期设为425，其充电时间能够达到约850000μs。

图7A及7B为本发明的一实施例的校正流程时间比较图。为了方便说明，在本实施例中将第一实施例的方法称为方法1，而第二实施例的方法称方法2。在方法1中，第二阶段充电范围是由100V至320V，而在方法2中，第二阶段充电范围是由240V至270V，此电压的调整可以大幅地提升校正效率。

如图7A所示，图中的数据为在相同的初始条件下的实验结果，即以相同的相机型号、相同的电感值及相同的电源。第二阶段充电时间为设定的目标充电时间，而平均第二阶段充电时间为实际测试的平均值。在图7B中，预设高位准周期等于更新高位准周期，也就是说，两个方法都在第一次校正回圈中完成校正程序。而由图中的结果可以很明显的看来，方法2所花费的时间仅为方法1的三分之一左右。因此，方法2中将第二阶段充电时间缩短并采用局部放电的方式，确实能够大幅提升校正效率。

尽管前述在说明本发明的充电器校正装置的过程中，也已同时说明本发明的充电器校正方法的概念，但为求清楚起见，以下仍另绘示流程图详细说明。

图8为本发明的充电器校正方法的流程图。本发明的充电器校正方法系包含下列步骤：

在步骤S81中，通过控制模组控制待校正充电器对电子装置执行第一阶段充电及第二阶段充电。

在步骤S82中，以控制模组控制电子装置执行放电程序。

在步骤S83中，当第二阶段充电时间大于或小于目标充电时间时，由处理模组执行调整程序，分别将待校正充电器的充电回路中的开关的预设高位准周期加上或减去预设调整幅度，以产生更新高位准周期，再将预设调整幅度减半，以产生更新调整幅度。

在步骤S84中，通过处理模组重复上述校正回圈，当重复次数达到预设次数时，终止校正程序。

本发明的充电器校正装置及其校正方法的详细说明以及实施方式已于前面叙述本发明的充电器校正装置时描述过，在此为了简略说明便不再重复叙述。

综上所述，本发明的充电器校正装置及其校正方法不需要在充电器的充电回路中增加任何电子元件，即可达到提高校正效率的效果，可节省充电器的制造成本。另外，本发明的充电器校正装置及其校正方法可以快速地执行充电器校正程序，因此可以有效地降低电子产品的生产工时。再者，本发明的充电器校正装置及其校正方法可以更快速的检查出电子产品生产过程中的瑕疵品，并有效地对充电器进行校正，因此可以大幅地改善电子产品的产能及优良率。因此，本发明确实可以改进公知技术的缺点。

以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于后附的专利保护范围中。

Claims (15)

1.一种充电器校正装置，其特征在于，它包含：

一控制模组，控制一待校正充电器对一电子装置执行一第一阶段充电及一第二阶段充电，再控制所述电子装置执行一放电程序；

一处理模组，当一第二阶段充电时间大于或小于一目标充电时间时，执行一调整程序，分别将所述待校正充电器的充电回路中一开关的一预设高位准周期加上或减去一预设调整幅度，以产生一更新高位准周期，并产生一更新调整幅度，再以所述更新高位准周期及所述更新调整幅度分别取代所述预设高位准周期及所述预设调整幅度，再重复上述校正回圈至一预设次数时，终止校正程序；以及

一判断模组，当一错误条件或一终止条件发生时，终止校正程序。

2.如权利要求1所述的充电器校正装置，其特征在于，它还包含一微调模组，当执行第一次校正回圈时，判断所述第二阶段充电时间是否符合一微调条件，若是，则执行一微调程序，再进行所述调整程序；若否，则执行一查找表分析程序，再进行所述调整程序。

3.如权利要求2所述的充电器校正装置，其特征在于，所述微调程序为减少所述预设调整幅度，产生一微调调整幅度以取代所述预设调整幅度。

4.如权利要求2所述的充电器校正装置，其特征在于，所述查找表分析程序为根据所述第二阶段充电时间以一查找表找出相对应的充电回路中储能电感的电感值及一预估高位准周期，并在进入下一个校正回圈的所述调整程序时，以所述预估高位准周期取代所述更新高位准周期，同时以一降低调整幅度取代所述更新调整幅度。

5.如权利要求1所述的充电器校正装置，其特征在于，所述放电程序为使所述电子装置进行完全放电或局部放电，而所述电子装置放电后的电压小于一第一阶段饱和电压。

6.如权利要求1所述的充电器校正装置，其特征在于，所述处理模组将所述预设调整幅度减半，以产生所述更新调整幅度。

7.一种充电器校正装置，其特征在于，其包含：

一控制单元，控制一待校正充电器对一电子装置执行一第一阶段充电及一第二阶段充电，再控制所述电子装置执行一放电程序；

一调整单元，当一第二阶段充电时间大于或小于一目标充电时间时，分别将所述待校正充电器的充电回路中的一开关的一预设高位准周期加上或减去一预设调整幅度，以产生一更新高位准周期，并产生一更新调整幅度；

一迭代单元，以所述更新高位准周期及所述更新调整幅度分别取代所述预设高位准周期及所述预设调整幅度，再重复上述校正回圈至一预设次数时，终止校正程序；以及

一判断单元，当一错误条件或一终止条件发生时，终止校正程序。

8.如权利要求7所述的充电器校正装置，其特征在于，它还包含一微调单元，当执行第一次校正回圈时，判断所述第二阶段充电时间是否符合一微调条件，若是，则执行一微调程序，再进行所述调整程序；若否，则执行一查找表分析程序，再进行所述调整程序。

9.如权利要求7所述的充电器校正装置，其特征在于，所述调整单元将所述预设调整幅度减半，以产生所述更新调整幅度。

10.一种充电器校正方法，其特征在于，包含下列步骤：

通过一控制模组控制一待校正充电器对一电子装罝执行一第一阶段充电及一第二阶段充电；

以所述控制模组控制所述电子装置执行一放电程序；

当一第二阶段充电时间大于或小于一目标充电时间时，由一处理模组执行一调整程序，分别将所述待校正充电器的充电回路中的一开关的一预设高位准周期加上或减去一预设调整幅度，以产生一更新高位准周期，并产生一更新调整幅度；

通过所述处理模组以所述更新高位准周期及所述更新调整幅度分别取代所述预设高位准周期及所述预设调整幅度，再重复上述校正回圈至一预设次数时，终止校正程序；以及

由一判断模组在当一错误条件或一终止条件发生时，终止校正程序。

11.如权利要求10所述的充电器校正方法，其特征在于，还包含下列步骤：

以一微调模组，在执行第一次校正回圈时，判断所述第二阶段充电时间是否符合一微调条件，若是，则执行一微调程序，再进行所述调整程序；若否，则执行一查找表分析程序，再进行所述调整程序。

12.如权利要求11所述的充电器校正方法，其特征在于，所述微调程序为减少所述预设调整幅度，产生一微调调整幅度以取代所述预设调整幅度。

13.如权利要求11所述的充电器校正方法，其特征在于，所述查找表分析程序为根据所述第二阶段充电时间以一查找表找出相对应的充电回路中储能电感的电感值及一预估高位准周期，并在进入下一个校正回圈的所述调整程序时，以所述预估高位准周期取代所述更新高位准周期，并以一降低调整幅度取代所述更新调整幅度。

14.如权利要求10所述的充电器校正方法，其特征在于，所述放电程序为使所述电子装置进行完全放电或局部放电，而所述电子装置放电后的电压小于一第一阶段饱和电压。

15.如权利要求10所述的充电器校正方法，其特征在于，所述处理模组将所述预设调整幅度减半，以产生所述更新调整幅度。