TWI433023B - 電容型觸控面板以及其觸控辨識方法與製作方法 - Google Patents

Description

電容型觸控面板以及其觸控辨識方法與製作方法

本發明係有關於電容型觸控感測面板，特別有關於其中接收端電極的佈局設計。

觸控式面板是目前電子產品中常見的一種使用者介面。常見技術包括投影式電容型觸控感測。

投影式電容型觸控感測通常需要使用到兩種電極：一種耦接一發送器，以下稱之發送端電極；一種連結到一接收器(receiver)，以下稱之為接收端電極。常見的一種實施方式是令一發送器輪番供電給複數個發送端電極。供電的發送端電極將與面板內的複數個接收端電極形成電場。使用者觸控對上述電場所造成的影響即是辨識使用者觸控的依據。

在本技術領域中，接收端與發送端電極的佈局設計會左右觸控辨識的靈敏度。

本發明揭露一種電容型觸控感測面板以及其觸控辨識方法以及其製作方法。

根據本發明一種實施方式所揭露的一電容型觸控感測面板，包括：第一組電極，其延著二維座標系統之一第一維度佈置；以及第二組電極，其延著二維座標系統之第二維度佈置，第二組電極與第一組電極相隔。其中，第二組電極之電極皆具有一組分枝，此組分枝具有第一間隔距離，且第二組電極之二相鄰電極的相鄰分枝具有第二間隔距離，且第二間隔距離大於第一間隔距離。

關於上述電容型觸控感測面板的一種觸控辨識方法，包括步驟如下。首先，自第二組電極之二相鄰的第一電極與第二電極感測第一數據及第二數據。且，若第一數據大於下限，第二數據大於下限且小於上限，則判斷有一觸控發生在第一電極與第二電極之間。

根據本發明一種實施方式所揭露的一種手持裝置，其具有運算系統、顯示裝置、電容型觸控感測面板，該電容型觸控感測面板包括：第一組電極，其延著二維座標系統之一第一維度佈置；以及第二組電極，其延著二維座標系統之第二維度佈置，第二組電極與第一組電極相隔。其中，第二組電極之電極皆具有一組分枝，此組分枝具有第一間隔距離，且第二組電極之二相鄰電極的相鄰分枝具有第二間隔距離，且第二間隔距離大於第一間隔距離。

根據本發明一種實施方式所揭露的一電容型觸控感測面，包括：複數個發送端電極，其延著二維座標系統之第一維度佈置；以及複數個接收端電極，其延著二維座標系統之第二維度佈置。其中，複數個接收端電極皆具有一組分枝，此組分枝具有第一間隔距離，且複數個接收端電極之二相鄰接收端電極的二相鄰分枝具有第二間隔距離，且第二間隔距離大於第一間隔距離。

關於上述電容型觸控感測面板的另一種觸控辨識方法，包括步驟如下。驅動第一組電極之電極；由第二組電極之二相鄰的第一電極與第二電極感測第一數據及第二數據；判斷有一觸碰位於該第一組電極之電極上；以及依據第一數據與及第二數據，判斷觸控的位置及範圍。

下文特舉實施例，並配合所附圖示，詳細說明本發明內容。

以下敘述列舉本發明的多種實施方式。以下敘述介紹本發明的基本概念，且並非意圖限制本發明內容。實際發明範圍應依照申請專利範圍界定之。

第1圖為一方塊圖，圖解本發明所揭露之電容型觸控感測面板的一種實施方式。電容型觸控感測面板100包括一電容型觸控感測區域102，其中，如同傳統的電容型觸控感測技術，佈置有複數個發送端電極以及複數個接收端電極，分別連結面板100中的發送器104以及接收器108。面板100內的控制單元108耦接發送器104，以控制電位施加於該等發送端電極的狀況，並且，該等接收端電極所感測到的數據(即電場強度)可交由接收器106傳回給控制單元108，作為辨識使用者觸控的根據。

第2圖為一佈局圖，圖解第1圖電容型觸控感測區域102。電容型觸控感測區域102包括第一組電極TX_1-TX_7…，其延著二維座標系統之第一維度佈置(即X方向)。第一組電極TX_1-TX_7…可作為複數個發送端電極TX_1-TX_7…的一種佈局圖樣。電容型觸控感測區域102亦包括第二組電極RX_1…RX_7…，其延著二維座標系統之第二維度佈置(即Y方向)。在此，第一維度及第二維度可大約呈90度夾角。第二組電極RX_1…RX_7…可作為接收端電極RX_1…RX_7…的一種佈局圖樣。第一組電極TX_1-TX_7…與第二組電極RX_1…RX_7…皆為透明導電材料，例如為ITO材質。感測結構形成於第一組電極TX_1-TX_7…與第二組電極RX_1…RX_7…交叉處，其可感測至少一觸控所產生的電場變化。其中上述第一組電極TX_1-TX_7…與第二組電極RX_1…RX_7…間係以介電材質垂直地上下相隔(即以射出紙面的方向上下相隔)。

圖中，第二組電極RX_1…RX_7…之電極皆具有一組分枝，且此組分枝的分枝數量為2或大於2。因此，接收端電極RX_1…RX_7…皆呈一多齒叉形。此實施例雖以音叉圖樣實現所述多齒叉形，但並非意圖限定其技術範圍。在其他實施方式中，也可以數量更多的齒形結構實現一多齒叉形圖樣，例如，可為三叉形、甚至更多叉形。

本發明在多齒叉形之接收端電極的佈局上有特殊設計在此，上述組分枝可具有第一間隔距離，且第二組電極之二相鄰電極的相鄰分枝具有第二間隔距離。以第2圖所示實施方式為例，音叉圖樣的兩個齒形結構是相距一第一間隔距離A，而相鄰的音叉圖樣之相鄰的齒形結構是設計成相距一第二間隔距離B。第二間隔距離B需大於第一間隔距離A。在某些實施方式中，更限定第二間隔距離B為第一間隔距離A的1.5~2倍。在其他實施方式-例如，採三叉形、或更多齒叉形圖樣實現多齒叉形的例子-同樣是遵循上述的佈置規則。整理之，同一接收端電極的複數個齒形結構是採一第一距離間隔佈置。相鄰的兩接收端電極之相鄰的兩齒形結構是採一第二距離佈置，且該第二距離大於該第一距離。

第3圖以一剖面圖局部呈現第2圖所示之佈局，其中除了顯示一個發送端電極TX_i，更圖解兩個接收端電極RX_j以及RX_j+1。接收端電極RX_j的佈置中心與接收端電極RX_j+1的佈置中心呈一距離x。如第2圖所揭露，接收端電極RX_j的兩個齒形結構相距第一間隔距離A；接收端電極RX_j+1的兩個齒狀結構同樣也相距第一間隔距離A；且相鄰的兩接收端電極RX_j以及RX_j+1之相鄰的兩齒狀結構以第二間隔距離B相距。第3圖更示意發送端電極TX_i被施加電位時，其與接收端電極RX_j、RX_j+1所形成的電場。

另外，相較於第3圖所示的本發明技術，第4A圖以及第4B圖則顯示兩種傳統佈局技術的剖面圖與電場狀況。為與第3圖內容作比較，第4A圖以及第4B同樣也是以發送端電極TX_i以及接收端電極RX_j與RX_j+1為例，且接收端電極RX_j的佈置中心與接收端電極RX_j+1的佈置中心同樣呈上述距離x。

參閱第4A圖，其中是以單一條狀實現各接收端電極，並非使用多齒叉形圖樣。參閱第4B圖，其中雖然同樣是採用多齒叉形圖樣實現接收端電極，但其中令接收端電極RX_j的兩個齒狀結構是相距距離C、且相鄰接收端電極RX_j以及RX_j+1之相鄰齒狀結構也是相距距離C。以下將第4B圖之佈局稱為對稱型叉形圖樣佈局，相對於本發明技術的非對稱型叉形圖樣佈局。

以下參考第3、4A、4B圖，比較本案的佈局技術與傳統佈局技術。

比較第3圖以及第4A圖，多齒叉形圖樣所形成的電場較條形圖樣密集。多齒叉形圖樣所供應的均勻電場使得觸控的線性辨識度大大提升。例如，以食指或觸控筆在面板上畫直線，本發明的佈局設計可較傳統第4A圖佈局設計準確辨識其畫直線動作，完整辨識出其筆直的特徵。

以第3圖之佈局設計為例，當使用者之食指由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，經由電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方，移動至電極RX_j+1之兩齒狀結構的中心點上方，感應的電場強度將分別由900個強度單位(即食指在電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上時，接收電極RX_j所感應的電場強度)，穩定地下降至700個強度單位(即食指在電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方時，接收端電極RX_j或RX_j+1所分別感應的電場強度)，再穩定地增加至900個強度單位(即食指在電極RX_j+1上方時，接收端電極RX_j+1所感應的電場強度)。若以第4A圖之佈局設計為例，當使用者之食指由電極RX_j上方，經由電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方，移動至RX_j+1上方時，感應的電場強度將分別由1000個強度單位(即食指在電極RX_j上方時，接收端電極RX_j所感應的電場強度)，急降至500個強度單位(即食指在電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方上方時，接收端電極RX_j或RX_j+1所分別感應的電場強度)，又急增至1000個強度單位(即食指在電極RX_j+1上方時，接收端電極RX_j+1所感應的電場強度)。因此，在同樣的接收端電極密度，即在相同的距離x下，若採用第4A圖的佈局，接收器106所判讀的電場強度將會有過大的變化量，造成訊號的抖動(jitter)，並造成線性(linearity)的失真，常會將筆直的畫線辨識為歪扭的畫線。本案所揭露的佈局技術相當適合用來辨識小面積觸控動作。

比較第3圖以及第4B圖，第3圖非對稱型叉形圖樣佈局所形成的電場雖然不若第4B圖對稱型叉形圖樣佈局均勻(例如，相對於第3圖所示的900、700、900強度單位，第4B圖相對三位置的觸控是對應800、750、800強度單位，比較均勻)，但其非極度勻稱的電場反而有利於大面積觸控的辨識(例如，大姆指的觸控操作)、或近距離的多點觸控辨識(例如，以兩根手指頭拉滑操作時，兩根手指頭最靠近的狀況)。

以下分別以第3圖及第4B圖之佈局設計為例，詳述並比較在同樣的接收端電極密度下，若使用大姆指拉滑操作，各個接收端電極所能感測的電場強度分佈。

若使用的是第3圖之佈局設計，且大姆指所觸控的範圍是由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，延伸至電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方，電極RX_j與RX_j+1將分別感測出900與700個強度單位的電場強度。若使用的是第4B圖之佈局設計，對於同樣的觸控面積(大姆指所觸控的範圍亦是由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，延伸至電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方)，電極RX_j與RX_j+1皆會分別感測出800與750個強度單位的電場強度。關於第3圖的例子，基於電極RX_j與RX_j+1分別感測出的900與700個強度單位，差距高達200強度單位，可確定觸控的範圍係為由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，延伸至電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方。然而，相同的情況下，若採用第4B圖之佈局設計，則由於電極RX_j(感測到800強度單位)與RX_j+1(感測到750強度單位)的感測僅有50強度單位的差距，屬於可容許的誤差範圍，不易辨識大姆指所觸控的範圍究竟是(1)由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，延伸至電極RX_j與RX_j+1間的中心點上方、或是(2)由電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方，延伸至電極RX_j+1之兩齒狀結構的中心點上方。相較之下，使用第3圖之佈局設計可得出較準確的大面積觸控的辨識。

以下更以第3圖及第4B圖之佈局設計為例，詳述並比較在同樣的接收端電極密度下，若發生近距離的多點觸控，各個接收端電極所能感測的電場強度分佈。

請參閱第2圖，發生於位置F1以及F2的觸控可為近距離多點觸控的一種狀況-例如，一隻手指觸控電極RX_2之兩齒狀結構的中心點上方，且另一手指觸控電極RX_3與RX_4間的中心點上方。若使用的是第3圖所介紹的佈局設計，電極RX_2、RX_3、與RX_4可能分別感測出900、700、700個強度單位的電場強度。若使用的是第4B圖之佈局設計，對於同樣的近距離多點觸控，電極RX_2、RX_3、與RX_4會分別感測到800、750、750個強度單位的電場強度，感測到的50強度單位差值屬於可容許誤差。在第3圖結構中，基於電極RX_2、RX_3、與RX_4分別感測出的900、700、700個強度單位有明顯的強度單位差距(200強度單位)，可確定有多點觸控發生，一觸控發生在電極RX_2之兩齒狀結構的中心點上方，且另一觸控發生在電極RX_3與RX_4間的中心點上方。然而，相同的情況下，若採用第4B圖之佈局設計，則由於電極RX_2、RX_3、與RX_4感測到的電場強度差距極小、是若在可容許誤差範圍，控制器非常有可能將此三個電極感測到的強度視為相同強度，誤判其為大面積觸控。換言之，第4B圖之佈局使控制器無法正確分辨大面積觸控以及近距離多點觸控。

本案所揭露的佈局技術在大面積觸控辨識、或近距離多點觸控辨識上皆有很不錯的表現。

關於上述發送端電極以及上述接收端電極的製作，可皆以透明導電膜(ITO)實現之。上述發送端電極以及接收端電極之間可更包括軟性介電材質(PET)。

需特別聲明的是，發送端電極並不限定為第2圖所示之一列列設計。以其他圖樣或排列方式實現的發送端電極，都可被用來搭配本案所揭露的接收端電極圖樣使用。此段落特別討論本發明電容型觸控感測面板所使用的一種多點觸控辨識方法，可由第1圖之控制單元108實現。此觸控辨識方法，包括步驟如下。首先，控制單元108將驅動第一組電極TX_1-TX_7…之一電極TX_i，若第二組電極RX_1…RX_7…感測到有觸控發生，則判斷此觸控是位於第一組電極TX_1-TX_7…之一電極TX_i上。接著，控制單元108自第二組電極RX_1…RX_7…之二相鄰的第一電極RX_j與第二電極RX_j+1感測第一數據及第二數據。若第一數據大於下限，第二數據大於下限且小於上限，則判斷有一觸控發生在第一電極RX_j與第二電極RX_j+1之間。以第3圖之佈局設計為例，當使用者之食指觸控電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方時，電極RX_j感測的電場強度將為900個強度單位。控制單元108可設定前述之上限為900個強度單位。電極RX_j感測的電場強度可能會受到雜訊的干擾，使得當使用者之食指觸控電極RX_j之兩齒狀結構的中心點上方時，電極RX_j所感測的值會略小於前述900個強度單位。因此控制單元108亦可設定上限為一個容錯上限，即設定上限為850個強度單位。同樣地，當使用者之食指觸控第一電極RX_j與第二電極RX_j+1間的中心點上方時，第一電極RX_j與第二電極RX_j+1感測的電場強度將為700個強度單位。因此，控制單元108亦可設定下限為700個強度單位。

若控制單元108感測到第一數據大於上限，則可判斷觸控發生在第一電極RX_j與第二電極RX_j+1之間，且觸控的範圍延伸至第一電極RX_j。控制單元108更可由第二組電極RX_1…RX_7…內與第二電極RX_j+1相鄰的一個第三電極RX_j+2感測一個第三數據；並且若第一數據大於該下限，第二數據介於上限與下限之間，且三數據大於下限，則控制單元108可判斷有一個第二觸控發生在第二電極RX_j+1與第三電極RX_j+2之間，且第二觸控與前述位於第一電極RX_j與第二電極RX_j+1之間的觸控互相分離。

整理之，該方法在相鄰兩接收端電極所感測到的一第一數據以一第二數據皆顯示有感測到觸控、且該第一以及該二數據皆小於一頂值數據(為觸控發生在一個接收端電極正上方時該個接收端電極所感測到的數據)的容錯上限時，會判斷有觸控發生在上述相鄰兩接收端電極之間。第2圖的位置F2觸控即可用上述方式辨識出來，與位置F1觸控分離，完成近距離多點觸控辨識。基於以上技術，緊鄰的多點觸控不會再被誤判成單一個大面積觸控。以上設計相當適合現今的手機觸控面板應用。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做些許更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．電容型觸控感測面板

102．．．電容型觸控感測區域

104．．．發送器

106．．．接收器

108．．．控制單元

A．．．第一間隔距離

B．．．第二間隔距離

C．．．一距離

F1、F2．．．示意觸碰位置

RX_1…RX_7、RX_j、RX_j+1．．．接收端電極

TX_1…TX_8、TX_i．．．發送端電極

以及

X．．．第一維度

第1圖為一方塊圖，圖解本發明所揭露之電容型觸控感測面板的一種實施方式；

第2圖為一佈局圖，圖解第1圖投影式電容型觸控感測區域102中、複數個發送端電極TX_1-TX_7…、以及複數個接收端電極RX_1-RX_7…的一種佈局圖樣；

第3圖以一剖面圖局部呈現第2圖所示之佈局，其中除了顯示一個發送端電極TX_i，更圖解兩個接收端電極RX_j以及RX_j+1；並且

第4A圖以及第4B圖顯示兩種傳統佈局技術的剖面圖與電場狀況。

A．．．第一間隔距離

B．．．第二間隔距離

F1、F2．．．示意觸碰位置

RX_1…RX_7．．．接收端電極

以及

TX_1…TX_8．．．發送端電極

Claims (26)

1. 一種電容型觸控感測面板，包括：一第一組電極，其延著一二維座標系統之一第一維度佈置；以及一第二組電極，其延著該二維座標系統之一第二維度佈置，該第二組電極與該第一組電極相隔，其中，該第二組電極之電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該第二組電極之二相鄰電極的相鄰分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，其中一感測結構形成於該第一與第二組電極交叉處，其可感測至少一觸控所產生的電場變化。
3. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，其中該第二間隔距離為該第一間隔距離的1.5倍至2倍。
4. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，其中該組分枝的分枝數量為2或大於2。
5. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，其中上述第一與第二電極皆為透明導電材料。
6. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，其中上述第一與第二電極間係以介電材質垂直地相隔。
7. 如申請專利範圍第1項所述之電容型觸控感測面板，更包括一控制單元，用以控制電位施加至該第一組電極、並且處理該第二組電極所感測到的數據。
8. 一種電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，該電容型觸控感測面板包括一第一組電極，其延著一二維座標系統之一第一維度佈置；一第二組電極，其延著該二維座標系統之一第二維度佈置；其中，該第二組電極之電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該第二組電極之二相鄰電極的相鄰分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離，上述辨識方法包括：自該第二組電極之二相鄰的一第一電極與一第二電極感測一第一數據及一第二數據；並且若該第一數據大於一下限，該第二數據大於該下限且小於一上限，則判斷有一觸控發生在該第一電極與該第二電極之間。
9. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，其中該上限為觸控發生在該第二組電極之電極正上方時該電極所感測到的數據。
10. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，其中該上限為觸控發生在該第二組電極之電極正上方時該電極所感測到的一容錯上限。
11. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，其中該下限為觸控發生在該第二組電極之二相鄰電極之間時，該二相鄰電極所感測到的一下限。
12. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：驅動該第一組電極之一電極；且判斷該觸控位於該第一組電極之該電極上。
13. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：若該第一數據大於該上限，則判斷該觸控發生在該第一電極與該第二電極之間，且該觸控的範圍延伸至該第一電極上方。
14. 如申請專利範圍第8項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：由該第二組電極內與該第二電極相鄰的一第三電極感測一第三數據；並且若該第一數據大於該下限，該第二數據介於該上限與該下限之間，且該三數據大於該下限，則判斷有一第二觸控發生在該第二電極與該第三電極之間，且該第二觸控與該觸控互相分離。
15. 一種電容型觸控感測面板，包括：複數個發送端電極，其延著一二維座標系統之一第一維度佈置；以及複數個接收端電極，其延著該二維座標系統之一第二維度佈置，其中，該複數個接收端電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該複數個接收端電極之二相鄰接收端電極的二相鄰分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離。
16. 一種手持裝置，其具有一運算系統、一顯示裝置、一電容型觸控感測面板，該電容型觸控感測面板包括：一第一組電極，其延著一二維座標系統之一第一維度佈置；以及一第二組電極，其延著該二維座標系統之一第二維度佈置，該第二組電極與該第一組電極相隔，其中，該第二組電極之電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該第二組電極之二相鄰電極的二相鄰分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離。
17. 一種電容型觸控感測面板的製作方法，包括：延著一二維座標系統之一第一維度佈置一第一組電極；以及延著該二維座標系統之一第二維度佈置一第二組電極，且該第二組電極與該第一組電極相隔，其中，該第二組電極之電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該第二組電極之二相鄰電極的分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離。
18. 如申請專利範圍第17項所述之電容型觸控感測面板製作方法，其中該第一與第二組電極交叉處形成一感測結構，可感測至少一觸控所產生的電場變化。
19. 如申請專利範圍第17項所述之電容型觸控感測面板製作方法，其中該第二間隔距離為該第一間隔距離的1.5倍至2倍。
20. 如申請專利範圍第17項所述之電容型觸控感測面板製作方法，其中該組分枝的分枝數量為2或大於2。
21. 如申請專利範圍第17項所述之電容型觸控感測面板製作方法，其中上述第一與第二電極皆為透明導電材料。
22. 如申請專利範圍第17項所述之電容型觸控感測面板製作方法，其中上述第一與第二電極間係以介電材質垂直相隔。
23. 一種電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，該電容型觸控感測面板包括一第一組電極，其延著一二維座標系統之一第一維度佈置；一第二組電極，其延著該二維座標系統之一第二維度佈置；其中，該第二組電極之電極皆具有一組分枝，該組分枝具有一第一間隔距離，且該第二組電極之二相鄰電極的二相鄰分枝具有一第二間隔距離，且該第二間隔距離大於該第一間隔距離，上述辨識方法包括：驅動該第一組電極之一電極；由該第二組電極之二相鄰的一第一電極與一第二電極感測一第一數據及一第二數據；判斷有一觸碰位於該第一組電極之該電極上；依據該第一數據與及該第二數據，判斷該觸控的位置及範圍。
24. 如申請專利範圍第23項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：若該第一以及該二數據皆小於一上限，且大於一下限，則判斷該觸控發生在該第一電極與該第二電極之間。
25. 如申請專利範圍第23項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：若該第一數據大於該上限，且該第二數據介於該上限與該下限之間，則判斷該觸碰發生在該第一電極上，且該觸碰延伸至該第一電極與該第二電極之間。
26. 如申請專利範圍第23項所述之電容型觸控感測面板所採用的辨識方法，更包括：由該第二組電極內與該第二電極相鄰的一第三電極感測一第三數據；並且若該第一數據大於該下限，該第二數據小於該上限，且該三數據大於該下限，則判斷有一第二觸控發生在該第二電極與該第三電極之間，且該第二觸控與該觸控互相分離。