TWI397683B - 光學檢測裝置及光學檢測方法 - Google Patents

Description

光學檢測裝置及光學檢測方法

本發明係與光學檢測有關，特別地，係關於一種用以檢測顯示面板之缺陷分佈情形的光學檢測裝置及光學檢測方法。

近年來，隨著影像顯示相關之技術不斷地發展，市面上已出現各種有別於傳統顯示器之新型態的顯示裝置，例如液晶顯示器、電漿顯示器等。其中，又以液晶顯示器或液晶電視等應用液晶顯示技術之產品的普及率最高。

當工廠所生產的液晶顯示器欲出貨之前，均需要透過檢測人員進行產品的檢測工作。一般而言，目前大多數的廠商均已由傳統的人工檢方式改良成自動光學檢測(Automatic Optical Inspection,AOI)之方式進行液晶顯示面板之檢測。為了要將液晶顯示面板上的所有缺陷均檢測出來，通常需要透過讓液晶顯示面板依序顯示多個不同的畫面之方式，以使得液晶顯示面板上的缺陷能夠顯現出來。

由於目前所採用的自動光學檢測方式係擷取液晶顯示面板顯示不同畫面之影像，並透過分別對每一張擷取到之影像進行影像處理之方式檢測出液晶顯示面板上之缺陷。然而，為了要使得檢測結果達到非常精準的程度，以避免某些缺陷未被檢測出之情形發生，勢必需要進行相當多次的影像處理程序。由於需要進行影像處理的影像數目相當多，也導致自動光學檢測方式檢測每一個液晶顯示面板所耗費的時間拉長，自然會對於整體生產效率及產能造成負面的影響。

因此，本發明之主要範疇在於提供一種光學檢測裝置及光學檢測方法，以解決上述問題。

根據本發明之第一具體實施例為一種光學檢測裝置。實際上，該光學檢測裝置係應用於顯示面板之缺陷分佈的檢測。於此實施例中，該光學檢測裝置包含影像擷取模組及影像處理模組。影像擷取模組係用以擷取顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像。影像處理模組係耦接至影像擷取模組，並係用以根據複數個影像產生疊加影像並根據疊加影像產生對應於顯示面板之缺陷分佈資訊。

根據本發明之第二具體實施例為一種之光學檢測方法。於此實施例中，該光學檢測方法係應用於顯示面板之缺陷分佈的檢測。該光學檢測方法包含下列步驟：(a)擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像；(b)疊加該複數個影像以產生一疊加影像；(c)根據該疊加影像產生一缺陷分佈資訊並根據該缺陷分佈資訊判斷對應於該顯示面板之缺陷分佈。

綜上所述，根據本發明之光學檢測裝置及光學檢測方法由於使用影像疊加之方式進行影像處理，可以避免光學檢測面板缺陷時分別針對每一個影像各自進行缺陷比對之情形，因此，根據本發明之光學檢測裝置及光學檢測方法能夠大幅減少光學檢測面板缺陷所需之整體辨識時間，亦可減少儲存所有擷取影像之空間。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

根據本發明之第一具體實施例為一種光學檢測裝置。於此實施例中，該光學檢測裝置係用以檢測顯示面板之缺陷分佈情形，以確保工廠出貨的顯示面板能夠具有優良且可靠的品質，不會有亮點等缺陷產生。該顯示面板可以是液晶顯示面板或其他顯示裝置，但並不以此為限。請參照圖一及圖二，圖一係繪示該光學檢測裝置針對顯示面板進行缺陷檢測的示意圖；圖二係繪示該光學檢測裝置之功能方塊圖。

如圖二所示，光學檢測裝置1包含影像擷取模組10、影像處理模組12及儲存模組14。影像處理模組12耦接至影像擷取模組10以及儲存模組14耦接至影像擷取模組10與影像處理模組12。接下來，將分別就光學檢測裝置1所包含之各模組及其具有之功能進行詳細的介紹。

如圖一所示，光學檢測裝置1之影像擷取模組10係用以擷取顯示面板2於不同的時間所顯示之複數個影像。一般而言，由於對於顯示面板2進行光學檢測時，必須使顯示面板2顯示多個不同的畫面(亦即顯示樣式)，以藉此判斷顯示面板2是否具有缺陷以及缺陷的所在位置。因此，每當顯示面板2顯示不同的畫面時，影像擷取模組10即需擷取顯示面板2顯示這些畫面時之影像，以利後續影像處理及缺陷分析等步驟之進行。

實際上，影像擷取模組10可以是任何具有影像擷取功能之裝置，例如攝影機或相機。此外，這些不同的畫面(顯示樣式)可以透過隨機方式自一畫面(顯示樣式)資料庫中選取而產生或由使用者依照其習慣或喜好進行設定而得，並無一定之限制。

舉例而言，當光學檢測裝置1針對顯示面板2進行光學檢測時，若顯示面板2分別於第一時間、第二時間、第三時間、第四時間及第五時間依序顯示第一畫面、第二畫面、第三畫面、第四畫面及第五畫面等五個不同的畫面，則光學檢測裝置1之影像擷取模組10即可分別擷取顯示面板2於第一時間T1顯示第一畫面之第一影像、顯示面板2於第二時間T2顯示第二畫面之第二影像、顯示面板2於第三時間T3顯示第三畫面之第三影像、顯示面板2於第四時間T4顯示第四畫面之第四影像以及顯示面板2於第五時間T5顯示第五畫面之第五影像。

於實際應用中，由於顯示面板2包含有複數個像素(pixel)，所以當顯示面板2顯示任一個畫面時，顯示面板2的每一個像素均會分別對應於一灰階值(gray-level value)。於此實施例中，假設顯示面板2包含以一維陣列形式排列之六個像素，由左至右分別為第一像素21、第二像素22、第三像素23、第四像素24、第五像素25及第六像素26，如圖三(A)所示。實際上，顯示面板2之像素的排列方式可以有各種不同的可能性，故無一定之限制。

當影像擷取模組10擷取第一影像至第五影像等五個影像後，影像處理模組12將會根據該五個影像產生一疊加影像。接著，影像處理模組12將會進一步根據該疊加影像產生對應於顯示面板2之一缺陷分佈資訊。實際上，該缺陷分佈資訊係與顯示面板2之每一個像素是否具有缺陷有關。

值得注意的是，由於本發明之光學檢測裝置1的影像處理模組12係採用影像疊加之方式進行影像處理，故可避免傳統光學檢測顯示面板之缺陷時，分別針對每一個影像各自進行缺陷比對之耗時方式，以大幅減少光學檢測顯示面板之缺陷所需的整體辨識時間，亦可減少儲存所有擷取影像之空間。尤其當光學檢測之準確度要求較嚴格，亦即需要進行影像處理之影像數目較多時，本發明具有之節省時間及空間的優勢即更加明顯。

接下來，將透過兩個不同的實例來詳細說明光學檢測裝置1進行顯示面板2之缺陷檢測的運作情形，以更清楚呈現影像處理模組12如何根據擷取的影像產生疊加影像並進行後續之影像處理程序。

首先，在第一個實例中，假設顯示面板2如同圖三(A)一樣，由左至右分別為第一像素21、第二像素22、第三像素23、第四像素24、第五像素25及第六像素26。請參照圖三(B)，假設當顯示面板2顯示第一影像至第五影像時，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值即如圖三(B)所示。

由圖三(B)可知，於影像擷取模組10所擷取之第一影像中，顯示面板2之第一像素21、第二像素22、第三像素23、第四像素24、第五像素25及第六像素26所對應的灰階值均為2。同樣地，於第三影像中，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值均為7。另外，於第四影像中，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值均為4；於第五影像中，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值均為5。

唯一不同的是，於第二影像中，顯示面板2之第一像素21、第二像素22、第四像素24、第五像素25及第六像素26所對應的灰階值均為3，但第三像素23所對應的灰階值為6。

於此實例中，影像處理模組12係先以加總的方式分別將顯示面板2之每一個像素於不同影像中所對應的灰階值相加，以得到分別對應於每一個像素之疊加灰階值。一般而言，各像素之間它們的疊加灰階值會有多數像素的灰階比較值是相同的數值，則此多數之疊加灰階值可視為正常，而不同於多數之疊加灰階值的像素疊加灰階值則視為異常。如圖三(B)所示，第一像素21、第二像素22、第四像素24、第五像素25及第六像素26的疊加灰階值均為21；而第三像素23的疊加灰階值則為24，相較於其它像素的疊加灰階值均為21之下，則可視第三像素23的疊加灰階值為異常。

接著，影像處理模組12將會透過分別將每一個像素之疊加灰階值減去其相鄰像素之疊加灰階值後再進行加總以產生對應於每一個像素之灰階比較值。如圖三(B)所示，由於第一像素21之疊加灰階值21減去其唯一相鄰的第二像素22之疊加灰階值21剛好為零，代表對應於第一像素21之灰階比較值即為零。

對於第二像素22而言，由於第二像素22有兩個相鄰的像素，分別是第一像素21及第三像素23，而第二像素22之疊加灰階值21減去第一像素21之疊加灰階值21剛好為零，並且第二像素22之疊加灰階值21減去第三像素23的疊加灰階值24為-3，故對應於第二像素22之灰階比較值即為-3。同理，對應於第三像素23之灰階比較值為6；對應於第四像素24之灰階比較值為-3；對應於第五像素25及第六像素26之灰階比較值均為零。

藉此，影像處理模組12即可根據第一像素21至第六像素26之灰階比較值是否異常，判定每一個像素是否具有缺陷，並根據上述的判斷結果產生缺陷分佈資訊，以供檢測人員參考。一般而言，各像素之間它們的灰階比較值會有多數像素的灰階比較值是相同的數值，則此多數之灰階比較值可視為正常，而不同於多數之灰階比較值的像素灰階比較值則視為異常。於此實例中，影像處理模組12即可根據較為異常的第二像素22、第三像素23及第四像素24之灰階比較值，判斷出第三像素23很有可能具有缺陷，檢測人員即可針對第三像素23進行進一步的檢查程序。

上述之實例係描述顯示面板2之同一個缺陷在不同的顯示畫面中並沒有亮、暗差別的情形，亦即具有缺陷之像素並末在顯示某一影像時具有過高的異常灰階值且於顯示另一影像具有過低的異常灰階值，而是只出現過高的異常灰階值或只出現過低的異常灰階值之情形。

於另一個實例中，顯示面板2之同一個缺陷在不同的顯示畫面中會有亮、暗之差別，亦即具有缺陷之像素在顯示某一影像時具有過高的異常灰階值且於顯示另一影像時具有過低異常灰階值。

假設顯示面板2如同圖三(A)一樣，由左至右分別為第一像素21、第二像素22、第三像素23、第四像素24、第五像素25及第六像素26。請參照圖四(A)，假設當顯示面板2顯示第一影像至第五影像時，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值即如圖四(A)所示。

由圖四(A)可知，於影像擷取模組10所擷取之第一影像中，顯示面板2之第一像素21、第二像素22、第三像素23、第四像素24、第五像素25及第六像素26所對應的灰階值均為2。同樣地，於第四影像中，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值均為4；於第五影像中，顯示面板2之第一像素21至第六像素26所對應的灰階值均為5。

值得注意的是，於第二影像中，顯示面板2之第一像素21、第二像素22、第四像素24、第五像素25及第六像素26所對應的灰階值均為3，但第三像素23所對應的灰階值為6；於第三影像中，顯示面板2之第一像素21、第二像素22、第四像素24、第五像素25及第六像素26所對應的灰階值均為7，但第三像素23所對應的灰階值為4。也就是說，第三像素23之灰階值於顯示第二影像時具有較其他像素來得高的異常灰階值，但在顯示第三影像時則具有較其他像素來得低的異常灰階值。

針對此一現象，影像處理模組12將會先透過平方的方式分別將顯示面板2之每一個像素於顯示不同影像時所對應的灰階值加以平方，以得到每一個像素於顯示不同影像時所對應之灰階值的平方值，如圖四(B)所示。

接著，影像處理模組12再分別將每一個像素於顯示不同影像時所對應之灰階值的平方值相加，以得到每一個像素的疊加灰階值。如圖四(B)所示，第一像素21、第二像素22、第四像素24、第五像素25及第六像素26的疊加灰階值均為103；第三像素23的疊加灰階值則為97。

接著，影像處理模組12將會透過分別將每一個像素之疊加灰階值減去其相鄰像素之疊加灰階值後再加總之方式，產生分別對應於每一個像素之灰階比較值。如圖四(B)所示，由於第一像素21之疊加灰階值103減去其唯一相鄰的第二像素22之疊加灰階值103剛好為零，代表對應於第一像素21之灰階比較值即為零。

對於第二像素22而言，由於第二像素22共有兩個相鄰的像素，分別是第一像素21及第三像素23，而第二像素22之疊加灰階值103減去第一像素21之疊加灰階值103剛好為零，並且第二像素22之疊加灰階值103減去第三像素23的疊加灰階值97為6，故對應於第二像素22之灰階比較值即為6。同理可得，對應於第三像素23之灰階比較值為-12；對應於第四像素24之灰階比較值為6；對應於第五像素25及第六像素26之灰階比較值均為零。

藉此，影像處理模組12即可根據第一像素21至第六像素26之灰階比較值是否異常，判定每一個像素是否具有缺陷，並根據上述的判斷結果產生缺陷分佈資訊，以供檢測人員參考。於此實例中，影像處理模組12即可根據較為異常的第二像素22、第三像素23及第四像素24之灰階比較值，判斷出第三像素23很有可能具有缺陷，檢測人員即可針對第三像素23進一步執行其他檢查程序。

至於儲存模組14則係用以儲存影像擷取模組10所擷取之所有的影像，並且用以提供影像處理模組12讀取這些影像以進行後續之影像處理程序。實際上，儲存模組14可以是記憶體、硬碟或其他儲存裝置，並無一定之限制。

根據本發明之第二具體實施例為一種光學檢測方法。於此實施例中，該光學檢測方法係應用於顯示面板之缺陷分佈的檢測。實際上，該顯示面板可以是液晶顯示面板，但並不以此為限。請參照圖五，圖五係繪示該光學檢測方法之流程圖。

如圖五所示，首先，執行步驟S10，擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像。一般而言，為了能夠有效地將液晶顯示面板上的所有缺陷均檢測出來，因此，該方法必須使顯示面板在不同的時間下分別顯示許多個不同的畫面(顯示樣式)並擷取顯示面板顯示這些畫面的影像，以作為該方法接下來進行缺陷判斷及分析的主要依據。

實際上，這些畫面(顯示樣式)可以均相異且可透過隨機方式產生或由使用者任意設定而得，並無一定之限制。

接著，執行步驟S12，疊加步驟S10所擷取之該複數個影像以產生一疊加影像。之後，執行步驟S14，根據步驟S12所得到的疊加影像產生對應於該顯示面板之一缺陷分佈資訊，並根據該缺陷分佈資訊判斷對應於該顯示面板之缺陷分佈。透過步驟S12及步驟S14，該方法即不需如同傳統的光學檢測方法一樣，分別針對每一個影像進行一次影像處理之程序，即可順利地產生對應於該顯示面板之缺陷分佈資訊，故能夠有效地減少整體的影像處理時間及影像儲存空間。

於實際應用中，由於該顯示面板包含有複數個像素，當該顯示面板顯示該複數個影像中之一影像時，該複數個像素中之每一個像素均分別對應於一灰階值。至於該缺陷分佈資訊係與該複數個像素中之每一個像素是否具有缺陷有關。

實際上，上述的缺陷分佈資訊係透過比較該複數個像素所對應之複數個疊加灰階值而產生。至於該方法產生該複數個疊加灰階值之方式，則可能有下列兩種：第一種方式是，該方法分別將每一個像素於顯示該複數個影像時所對應之複數個灰階值相加而得到該複數個疊加灰階值。此種方式係較適用於顯示面板之同一個缺陷在顯示不同的顯示畫面時並沒有亮、暗差別之情形，亦即具有缺陷之像素並未在顯示某一影像時具有過高的異常灰階值(相較於同一影像之其它灰階值下)且於顯示另一影像時具有過低的異常灰階值(相較於同一影像之其它灰階值下)。

第二種方式則是，若該複數個像素中之一特定像素於顯示該複數個影像中之第一影像時具有過高的異常灰階值並於顯示第二影像時具有過低的異常灰階值，該方法將會分別把每一個像素於顯示該複數個影像時所對應之複數個灰階值先平方後再相加，以得到該複數個疊加灰階值。此種方式較適用於顯示面板之同一個缺陷在顯示不同的顯示畫面時會有亮、暗之差別，亦即具有缺陷之像素在顯示某一影像時具有過高的異常灰階值且於顯示另一影像時具有過低的異常灰階值。

如圖六所示，當該方法產生每一個像素之疊加灰階值後，執行步驟S20，分別將對應每一個像素之疊加灰階值減去對應其相鄰像素之疊加灰階值後再加總，以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值。接著，執行步驟S22，比較該複數個灰階比較值以產生該缺陷分佈資訊，以供檢測人員參考。一般而言，各像素之間它們的灰階比較值會有多數像素的灰階比較值是相同的數值，則此多數之灰階比較值可視為正常，而不同於多數之灰階比較值的像素灰階比較值則視為異常。因此，於實際應用中，步驟S22可藉由比較該複數個灰階比較值中之每一個灰階比較值是否異常來判定該複數個像素中之每一個像素是否具有缺陷。

綜上所述，根據本發明之光學檢測裝置及光學檢測方法由於使用影像疊加之方式進行影像處理，故可避免光學檢測面板缺陷時分別針對每一個影像各自進行缺陷比對之情形，以大幅減少光學檢測面板缺陷所需之整體辨識時間，亦可減少儲存所有影像之空間。尤其當光學檢測之準確度要求較嚴格，亦即需要進行影像處理之影像數目較多時，本發明具有之節省時間及空間的優勢即更加明顯。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

S10~S22．．．流程步驟

1．．．光學檢測裝置

2．．．顯示面板

10．．．影像擷取模組

12．．．影像處理模組

14．．．儲存模組

21．．．第一像素

22．．．第二像素

23．．．第三像素

24．．．第四像素

25．．．第五像素

26．．．第六像素

圖一係繪示根據本發明之第一具體實施例的光學檢測裝置針對顯示面板進行檢測之示意圖。

圖二係繪示根據本發明之第一具體實施例之光學檢測裝置的功能方塊圖。

圖三(A)係繪示顯示面板所包含之像素。

圖三(B)係繪示影像處理模組產生缺陷分佈資訊之一實例。

圖四(A)及圖四(B)係繪示影像處理模組產生缺陷分佈資訊之另一實例。

圖五係繪示根據本發明之第二具體實施例之光學檢測方法的流程圖。

圖六係繪示該光學檢測方法根據每一個像素之疊加灰階值產生缺陷分佈資訊之詳細流程圖。

1．．．光學檢測裝置

10．．．影像擷取模組

12．．．影像處理模組

14．．．儲存模組

Claims (13)

1. 一種光學檢測裝置(optical inspection apparatus)，應用於一顯示面板(displaying panel)之缺陷分佈(defect distribution)的檢測，該光學檢測裝置包含：一影像擷取模組，用以擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像；以及一影像處理模組，耦接至該影像擷取模組，該影像處理模組根據該複數個影像產生一疊加影像並根據該疊加影像產生對應於該顯示面板之一缺陷分佈資訊；其中，該顯示面板包含複數個像素(pixel)，當該顯示面板顯示該複數個影像中之一影像時，該複數個像素中之每一個像素均分別對應於一灰階值(gray-level value)，該影像處理模組係分別將每一個像素於顯示該複數個影像時所對應之複數個灰階值相加，以得到該疊加影像的複數個疊加灰階值，之後分別將對應每一個像素之疊加灰階值減去與其相鄰像素之疊加灰階值，以據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值，再比較該複數個灰階比較值以產生該缺陷分佈資訊，且多數之該複數個疊加灰階值具有一相同數值。
2. 一種光學檢測裝置，應用於一顯示面板之缺陷分佈的檢測，該光學檢測裝置包含：一影像擷取模組，用以擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像；以及一影像處理模組，耦接至該影像擷取模組，該影像處理模組 根據該複數個影像產生一疊加影像並根據該疊加影像產生對應於該顯示面板之一缺陷分佈資訊；其中，該顯示面板包含複數個像素，當該顯示面板顯示該複數個影像中之一影像時，該複數個像素中之每一個像素均分別對應於一灰階值，該影像處理模組係分別將每一個像素於顯示該複數個影像時所對應之複數個灰階值平方後相加，以得到該疊加影像的複數個平方後疊加灰階值，之後分別將每一個像素之平方後疊加灰階值減去與其相鄰像素之平方後疊加灰階值，以據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值，再比較該複數個灰階比較值以產生該缺陷分佈資訊，且多數之該複數個平方後疊加灰階值具有一相同數值。
3. 如申請專利範圍第1或2項所述之光學檢測裝置，其中該複數個影像係根據該顯示面板顯示的複數個顯示樣式(pattern)而產生。
4. 如申請專利範圍第3項所述之光學檢測裝置，其中該複數個顯示樣式中之所有顯示樣式均相異。
5. 如申請專利範圍第3項所述之光學檢測裝置，其中該複數個顯示樣式係以隨機方式產生或由使用者設定而得。
6. 如申請專利範圍第1或2項所述之光學檢測裝置，進一步包含：一儲存模組，耦接至該影像擷取模組及該影像處理模組，用以儲存該影像擷取模組所擷取之該複數個影像並提供 該影像處理模組進行讀取。
7. 一種光學檢測方法(optical inspection method)，應用於一顯示面板之缺陷分佈的檢測，該顯示面板包含複數個像素，當該顯示面板顯示該複數個影像中之一影像時，該複數個像素中之每一個像素均分別對應於一灰階值，該光學檢測方法包含下列步驟：擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像；分別將每一個像素於顯示該複數個影像時所對應之複數個灰階值平方後相加，以得到該疊加影像的複數個平方後疊加灰階值；分別將每一個像素之平方後疊加灰階值減去與其相鄰像素之平方後疊加灰階值，並據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值；以及比較該複數個灰階比較值以產生該缺陷分佈資訊。
8. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測方法，其中分別將每一個像素之平方後疊加灰階值減去與其相鄰像素之平方後疊加灰階值，並據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值包含：分別將非位於邊界之每一個像素的平方後疊加灰階值減去與其相鄰之兩像素的平方後疊加灰階值所得之兩差值相加，並據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值。
9. 一種光學檢測方法，應用於一顯示面板之缺陷分佈的檢測，該顯示面板包含複數個像素，當該顯示面板顯示該複數個影像中之一影像時，該複數個像素中之每一個像素均分別對應於一灰階值，疊加該複數個影像時會產生複數個疊加灰階值以對應該複數個像素，該光學檢測方法包含下列步驟：擷取該顯示面板於不同的時間所顯示之複數個影像；疊加該複數個影像以產生一疊加影像；分別將每一個像素之疊加灰階值減去與其相鄰像素之疊加灰階值，並據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值；以及比較該複數個灰階比較值以產生該缺陷分佈資訊。
10. 如申請專利範圍第7或9項所述之光學檢測方法，另包含該顯示面板顯示複數個樣式(pattern)而產生該複數個影像。
11. 如申請專利範圍第10項所述之光學檢測方法，其中該複數個樣式中之所有樣式均相異。
12. 如申請專利範圍第10項所述之光學檢測方法，另包含以隨機方式或由使用者設定產生該複數個樣式。
13. 如申請專利範圍第9項所述之光學檢測方法，其中分別將每一個像素之疊加灰階值減去與其相鄰像素之疊加灰階值，並據以 產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值包含：分別將非位於邊界之每一個像素的疊加灰階值減去與其相鄰之兩像素的疊加灰階值所得之兩差值相加，並據以產生對應於該複數個像素之複數個灰階比較值。