TWI394172B - Automatic test sorting machine - Google Patents

Description

隨身碟自動測試分類機

本發明係提供一種利用各裝置之時序搭配作動，可一貫化自動執行隨身碟之測試及分類作業，而大幅提升作業便利性及測試產能之隨身碟自動測試分類機。

按，隨著科技資訊的進步，早期用以儲存電子資料之磁碟片已逐漸被體積輕巧且儲存容量大之隨身碟所取代，請參閱第1圖，該隨身碟1係設有一具LED12之電路板11，並於電路板11之前端固設有金屬製之插頭13，該插頭13末端之連結部131係搭接於電路板11上，再以外殼14將電路板11包覆於內，而完成隨身碟1之組裝作業。

由於隨身碟需歷經多道加工製程，業者為確保隨身碟之品質，而會選擇於隨身碟尚未加裝外殼或已裝設外殼之二種狀態下執行測試作業，以測試隨身碟是否損壞，並淘汰出不良品，目前業者測試隨身碟之方式，係以人工一一將待測隨身碟之插頭插置電性連結於測試機之測試插座上而執行測試作業，於測試完畢後，再以人工依測試結果，將不同測試等級之隨身碟加以分類收置；惟此一測試方式對於數量龐大之隨身碟而言，以人工方式將各待測之隨身碟一一插置於測試機之測試插座上，不僅作業緩慢耗時，亦大幅降低生產效能，再者，人工測試作業易因人工操作不確實或誤判等因素而降低測試準確率。

故在講求全面自動化及品質提升之趨勢下，以人工執行隨身碟測試作業之方式實有改進之必要，如何設計一種可自動化測試及分類，以大幅提高生產效能之隨身碟自動測試分類機，即為業者致力研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種隨身碟自動測試分類機，包含有供料匣、收料匣、移料裝置及複數個測試裝置，該供料匣係用以承置待測之隨身碟，可供移料裝置之取放器取出移載待測之隨身碟至測試裝置處，該測試裝置係設有複數層可作X軸向位移之載具，用以承置整組之承座、測試機構及定位機構，並將承座及各機構由測試區載送至換料區，以供取放器將待測之隨身碟置入於承座上，再載送反向復位至測試區，該定位機構及測試機構即作Y軸向位移，使定位機構壓抵待測之隨身碟定位，並使測試機構之測試插座插合電性連結於待測隨身碟之插頭以執行測試作業，於測試完畢後，載具再將承座及各機構移出至換料區，以供取放器取出完測之隨身碟，並依測試結果移載至收料匣而分類收置；藉此，利用各裝置之時序搭配作動，而可自動執行隨身碟之測試作業，達到大幅提升測試產能之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種隨身碟自動測試分類機，更包含於該測試裝置之定位機構上裝配有具複數個感測器之檢查模組，而可利用定位機構帶動檢查模組位移至待測隨身碟之上方，使檢查模組之各感測器分別檢查待測隨身碟是否放反或LED是否損壞，以淘汰出擺置錯誤或不良品之隨身碟，達到提升測試品質之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置係採多層式載具設計，而可供配置更多承座，以大幅增加隨身碟之測試產量，並可縮減佔用空間，達到提升產能及利於空間配置之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種隨身碟自動測試分類機，而以機器取代人工作業，而自動化測試隨身碟，以節省人力及設備，達到降低成本之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種隨身碟自動測試分類機，而以機器取代人工作業，可自動取料及分類良品、不良品，達到提升檢測作業便利性之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：

請參閱第2圖，該隨身碟自動測試分類機可應用測試具LED之隨身碟成品/半成品，以及不具LED之隨身碟成品/半成品，本實施例之隨身碟自動測試分類機係應用於測試具LED且為半成品之隨身碟，而包含於機台20之前端設有供料匣30、良品收料匣40，該供料匣30係用以承置待測之隨身碟，良品收料匣40係用以承置完測之良品隨身碟，另於機台20之後端則設有不良品收料匣50、複數個測試裝置60，以及可於供料匣30、良品收料匣40、不良品收料匣50及各測試裝置60間移載待/完測隨身碟之移料裝置70，其中，該不良品收料匣50係位於測試裝置60之側方，並設有空的料盤，用以承置擺置錯誤或不良品之隨身碟，由於不良品收料匣50與供料匣30二者所使用之料盤相同，而可將供料匣30上被取料完畢之空料盤移載至不良品收料匣50處，以供承置擺置錯誤或不良品之隨身碟。

請參閱第3、4、5圖，該供料匣30係於前、後方設有疊置區301及暫置區302，其疊置區301之兩側係分別設有固定式軌道31及可作X軸向伸縮位移之承置件32，並以承置件32承置具待測隨身碟之料盤，另於疊置區301之二固定式軌道31間設有一頂盤機構及Y軸向載送機構，該頂盤機構係設有一由驅動源331驅動作Z軸向升降位移之承板332，而可以承板332頂置承置件32上之料盤，並移載至二固定式軌道31上，而Y軸向載送機構係設有一由驅動源341驅動作Y軸向位移之推桿342，而可利用推桿342將二固定式軌道31上之料盤由疊置區301推移至暫置區302，該暫置區302之兩側係設有二由驅動源351驅動作X軸向位移之活動式軌道352，並於二活動式軌道352上設有可作X軸向位移之定位件36，以及於二活動式軌道352間設有另一可旋轉作動之定位件37，當推桿342將料盤推移至二活動式軌道352上後，可利用二定位件36、37分別頂置於料盤之側面及前面，而將料盤定位，另於暫置區302設有一頂盤機構，其係設有一由驅動源381驅動作Z軸向升降位移之承板382，而可使承板382頂置於料盤之底面，以使料盤平穩供料。

請參閱第2、6圖，該移料裝置70係設有一載送機構71用以帶動複數個取放器72同步作X-Y-Z軸向位移，而各取放器72則可再由獨立之驅動源73分別驅動作Z軸向位移，由於移料裝置70係設有至少前後二排取放器72，其中一排取放器係用以取放待測之隨身碟，而另一排取放器則用以取放完測之隨身碟，進而可利用載送機構71先帶動複數個取放器72作X-Y軸向位移至供料匣30之暫置區302上方，並使各取放器72同步作Z軸向下降位移，而於暫置區302之料盤上取出待測之隨身碟80。

請參閱第7、8、9、10圖所示，各測試裝置60係於一盛裝容器61內設有複數層容置空間供分別裝設載具62，並以複數個驅動源63分別驅動各載具62於盛裝容器61內、外部之測試區及換料區間作X軸向往復位移，且於盛裝容器61與各載具62間設有相互配合之滑軌611及滑座621，用以輔助載具62平穩位移，而各層載具62上則裝設有整組之承座64、定位機構及測試機構，其中，該承座64係設有複數個容置槽641供承置待測之隨身碟，並於承座64之後方設有定位機構及測試機構，該定位機構係設有一由驅動源651驅動作Y軸向位移之機架652，並於機架652上相對應各容置槽641位置設有一可作Z軸向位移之壓件653，用以壓抵於各待測隨身碟之插頭上，而定位待測之隨身碟，另於機架652上設有檢查模組，該檢查模組係於電路板661上相對應各容置槽641位置設有第一感測器662及第二感測器663，其第一感測器662係用以感測各待測隨身碟之插頭的金屬連結部，以檢查待測之隨身碟是否放置反面，而第二感測器663係用以感測各待測隨身碟之LED是否損壞，而測試機構則設有一由驅動源671驅動作Y軸向位移之機架672，並於機架672上設有測試板673，測試板673係於相對應各容置槽641位置設有複數個測試插座674，用以分別插合於待測隨身碟之插頭而作電性連結，另於測試板673之底面設有相對應測試插座674數量之傳輸線675以連結測試機(圖未示出)，測試機可將測試結果傳輸至中央控制單元(圖未示出)，該中央控制單元再依測試結果控制及整合各裝置作動。

請參閱第11、12圖，當移料裝置70之取放器72將待測之隨身碟80移載至測試裝置60之換料區時，該測試裝置60可控制其中一層之驅動源63驅動載具62作X軸向位移，使載具62將承座64、定位機構及測試機構由測試區載送至換料區，該移料裝置70之載送機構71即可視位於換料區之該層承座64位置，而帶動取放器72作Z軸向位移，並將待測之隨身碟80置入於承座64之容置槽641內；請參閱第13、14圖，接著該測試裝置60之驅動源63係驅動載具62載送承座64、定位機構及測試機構由換料區復位至測試區，該定位機構之驅動源651即驅動機架652作Y方向位移，而帶動各壓件653及檢查模組同步作Y方向位移至承座64之上方，並使各壓件653、第一感測器662及第二感測器663分別相對應於待測隨身碟80之插頭801、金屬連結部802及LED803，進而使壓件653作Z軸向位移而下降壓抵於待測隨身碟80之插頭801定位，並以第一感測器662感測待測隨身碟80之金屬連結部802，以判別待測隨身碟80是否放置反面，再以第二感測器663檢查待測隨身碟80之LED803是否損壞，例如待測隨身碟80之LED803損壞時，可先控制定位機構復位，並以驅動源63驅動載具62將承座64及損壞之LED803由測試區載出至換料區，以供移料裝置70之取放器72可將損壞之隨身碟80取出移載至不良品收料匣50收置，之後再控制驅動源63驅動載具62將承座64等由換料區載入至測試區，並使定位機構之各壓件653再次壓抵待測隨身碟80之插頭801定位；請參閱第15圖所示，於各待測隨身碟80定位後，該測試裝置60之測試機構係以驅動源671帶動機架672作Y方向位移，而使各測試插座674插合於相對應待測隨身碟80之插頭801，以電性連結至測試機而執行測試作業；請參閱第16圖所示，當第一層承座64內之待測隨身碟80進行測試時，測試裝置60可控制第二層之驅動源63A驅動載具62A將承座64A、定位機構及測試機構由測試區載出至換料區，由於移料裝置70之取放器72已將下一待測之隨身碟81取出移載至換料區，而可使移料裝置70之取放器72作Z軸向位移將下一待測之隨身碟81置入於承座64A之容置槽641A內而完成下一置料動作；請參閱第17圖所示，於測試完畢後，測試機係將測試結果傳輸至中央控制單元，由中央控制單元控制各裝置作動，該測試裝置60之測試機構係以驅動源671帶動機架672及各測試插座674反向位移復位，而定位機構之各壓件653係上升復位以解除完測隨身碟80之定位，並以驅動源651帶動機架652及壓件653、檢查模組反向復位；請參閱第18圖所示，於測試裝置60完成隨身碟80之測試作業後，即以驅動源63驅動載具62作X軸向位移，使載具62將承座64、定位機構及測試機構由測試區載送至換料區，以供移料裝置70之取放器72可於承座64之容置槽641取出完測之隨身碟80。

請參閱第3、19圖，該移料裝置70之取放器72係將完測之隨身碟80移載至收料匣40處，該收料匣40係於前、後方設有疊置區401及暫置區402，其暫置區402之兩側係設有二由驅動源411驅動作X軸向位移之活動式軌道412以承置空的料盤，並於二活動式軌道412上設有可作X軸向位移之定位件42，以及於二活動式軌道412間設有另一可旋轉作動之定位件43，而可利用二定位件42、43分別頂置於料盤之側面及前面，而將料盤定位，另於暫置區402之二活動式軌道412間設有一頂盤機構及Y軸向載送機構，該頂盤機構係設有一由驅動源441驅動作Z軸向升降位移之承板442，而可使承板442頂置於料盤之底面，以使料盤平穩收料，該移料裝置70之取放器72即可將完測之隨身碟80置入於料盤中收置；請參閱第3、19、20圖，當暫置區402之料盤盛滿完測之隨身碟80後，該暫置區402之Y軸向載送機構係設有一由驅動源451驅動作Y軸向位移之推桿452，而可利用推桿452將二活動式軌道412上盛滿完測隨身碟80之料盤由暫置區402推移至疊置區401，該疊置區401之兩側係分別設有固定式軌道46及可作旋轉擺動之承置件47，該承置件47可用以承置料盤，另於疊置區401之二固定式軌道46間設有一頂盤機構，該頂盤機構係設有一由驅動源481驅動作Z軸向升降位移之承板482，而可以承板482將固定式軌道46上之料盤頂置於承置件47上收置。

請參閱第21、22、23圖，為使供料匣30暫置區302處被取料完的空料盤可作有效之利用，而於供、收料匣30、40之二暫置區302、402間設有一空盤載送機構，該空盤載送機構係以驅動源391驅動一載送件392於二暫置區302、402間作X軸向位移，當供料匣30暫置區302之料盤被取料完畢後，由於承板382已頂置於料盤之底面，而可控制驅動源351驅動二活動式滑軌352向外側位移，使承板382可頂置空的料盤下降位移，並移載至空盤載送機構之載送件392上方；該空盤載送機構即以驅動源391驅動載送件392作X軸向位移，使載送件392將空的料盤由供料匣30之暫置區302載送至收料匣40之暫置區402處；接著該收料匣40暫置區402係以驅動源411驅動二活動式軌道412作X軸向外移，使承板442可頂置載送件392上之空料盤上升至二活動式軌道412之上方，於二活動式軌道412反向復位後，再控制承板442下降位移，而將空料盤置放於二活動式軌道412上以供收料；另該收料匣40之暫置區402係於機台之下方設有暫存架49，以供暫時收置空的料盤，因此，當二活動式軌道412上已具有空的料盤時，該頂盤機構則可控制承板442將下一空料盤頂置於暫存架49上收置備料。

據此，本發明係利用各裝置之時序搭配作動，可一貫化自動執行隨身碟之測試及分類作業，而大幅提升作業便利性及測試產能，實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

[習式]

1．．．隨身碟

11．．．電路板

12．．．LED

13．．．插頭

131．．．連結部

14．．．外殼

[本發明]

20．．．機台

30．．．供料匣

301．．．疊置區

302．．．暫置區

31．．．固定式軌道

32．．．承置件

331．．．驅動源

332．．．承板

341．．．驅動源

342．．．推桿

351．．．驅動源

352．．．活動式軌道

36．．．定位件

37．．．定位件

381．．．驅動源

382．．．承板

391．．．驅動源

392．．．載送件

40．．．良品收料匣

401．．．疊置區

402．．．暫置區

411．．．驅動源

412．．．活動式軌道

42．．．定位件

43．．．定位件

441．．．驅動源

442．．．承板

451．．．驅動源

452．．．推桿

46．．．固定式軌道

47．．．承置件

481．．．驅動源

482．．．承板

49．．．暫存架

50．．．不良品收料匣

60．．．測試裝置

61．．．盛裝容器

611．．．滑軌

62、62A．．．載具

621．．．滑座

63、63A．．．驅動源

64、64A．．．承座

641、641A．．．容置槽

651．．．驅動源

652．．．機架

653．．．壓件

661．．．電路板

662．．．第一感測器

663．．．第二感測器

671．．．驅動源

672．．．機架

673．．．測試板

674．．．測試插座

675．．．傳輸線

70．．．移料裝置

71．．．載送機構

72．．．取放器

73．．．驅動源

80、81．．．隨身碟

801．．．插頭

802．．．金屬連結部

803．．．LED

第1圖：隨身碟之示意圖。

第2圖：本發明之各裝置配置圖。

第3圖：本發明供料匣及收料匣之示意圖。

第4圖：本發明供料匣之使用示意圖(一)。

第5圖：本發明供料匣之使用示意圖(二)。

第6圖：本發明移料裝置移料至供料匣之使用示意圖。

第7圖：本發明測試裝置之示意圖。

第8圖：本發明測試裝置之局部示意圖(一)。

第9圖：本發明測試裝置之局部示意圖(二)。

第10圖：本發明測試裝置之局部示意圖(三)。

第11圖：本發明測試裝置之使用示意圖(一)。

第12圖：本發明測試裝置之使用示意圖(二)。

第13圖：本發明測試裝置之使用示意圖(三)。

第14圖：本發明測試裝置之使用示意圖(四)。

第15圖：本發明測試裝置之使用示意圖(五)。

第16圖：本發明測試裝置之使用示意圖(六)。

第17圖：本發明測試裝置之使用示意圖(七)。

第18圖：本發明測試裝置之使用示意圖(八)。

第19圖：本發明收料匣之使用示意圖(一)。

第20圖：本發明收料匣之使用示意圖(二)。

第21圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(一)。

第22圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(二)。

第23圖：本發明空盤載送機構之使用示意圖(三)。

20．．．機台

30．．．供料匣

40．．．良品收料匣

50．．．不良品收料匣

60．．．測試裝置

70．．．移料裝置

Claims (39)

1. 一種隨身碟自動測試分類機，包含：供料匣：係用以容納至少一盛裝待測隨身碟之料盤；收料匣：係用以容納至少一盛裝完測隨身碟之料盤；測試裝置：係設有複數層容置空間供裝設可於測試區及換料區間往復位移之載具，各載具上則承載有具容置槽之承座，用以承置隨身碟，又各層容置空間係設有可位移作動之測試機構，各測試機構係具有測試插座，而可位移與隨身碟插合測試，另於各層容置空間設有定位機構用以定位隨身碟；移料裝置：係設有取放器，用以於供、收料匣及測試裝置之換料區間移載待/完測隨身碟；中央控制單元：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於前、後方設有疊置區及暫置區。
3. 依申請專利範圍第2項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區之兩側設有固定式軌道，並設有可作X軸向位移之承置件用以承置料盤。
4. 依申請專利範圍第3項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區設有頂盤機構，用以頂置料盤。
5. 依申請專利範圍第4項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該頂盤機構係設有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
6. 依申請專利範圍第3項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於疊置區設有Y軸向載送機構，用以於疊置區與暫置區間載送料盤。
7. 依申請專利範圍第6項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該Y軸向載送機構係於二固定式軌道間設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之推桿，用以推移料盤。
8. 依申請專利範圍第2項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區之兩側設有可由驅動源驅動作X軸向位移之活動式軌道。
9. 依申請專利範圍第8項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區設有定位件用以定位料盤。
10. 依申請專利範圍第8項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該供料匣係於暫置區設有一頂盤機構，用以頂置料盤。
11. 依申請專利範圍第10項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該頂盤機構係具有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
12. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於前、後方設有疊置區及暫置區。
13. 依申請專利範圍第12項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於疊置區之兩側設有固定式軌道，並設有可擺動之承置件用以承置料盤。
14. 依申請專利範圍第13項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於疊置區設有頂盤機構，用以頂置料盤。
15. 依申請專利範圍第14項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該頂盤機構係設有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
16. 依申請專利範圍第12項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區之兩側設有可由驅動源驅動作X軸向位移之活動式軌道。
17. 依申請專利範圍第16項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區設有Y軸向載送機構，用以於疊置區與暫置區間載送料盤。
18. 依申請專利範圍第17項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該Y軸向載送機構係於二活動式軌道間設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之推桿，用以推移料盤。
19. 依申請專利範圍第16項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣係於暫置區設有定位件用以定位料盤。
20. 依申請專利範圍第16項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣之暫置區係設有一頂盤機構，用以頂置料盤。
21. 依申請專利範圍第20項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該頂盤機構係具有一驅動源驅動作Z軸向位移之承板，用以頂置料盤。
22. 依申請專利範圍第16項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該收料匣之暫置區係於機台之下方設有暫存架，用以供暫置空的料盤。
23. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，更包含於供、收料匣間設有一空盤載送機構，用以於供、收料匣間載送空的料盤。
24. 依申請專利範圍第23項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該空盤載送機構係設有一由驅動源驅動於供、收料匣間作X軸向往復位移之載送件。
25. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置係於盛裝容器內設有複數層容置空間供裝設載具。
26. 依申請專利範圍第25項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該盛裝容器之各容置空間與載具間係設有相互配合之滑軌及滑座，用以輔助載具平穩位移。
27. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置之各載具係分別由驅動源驅動於測試區及換料區間作X軸向往復位移。
28. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置之各載具上係承載有承座、測試機構及定位機構。
29. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置之測試機構係設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之機架，並於機架上設有測試板，該測試板於相對應承座容置槽位置設有測試插座，用以插合於隨身碟之插頭而作電性連結，並於測試板之底面設有相對應測試插座數量之傳輸線以連結測試機。
30. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該定位機構係設有一由驅動源驅動作Y軸向位移之機架，並於機架上相對應承座容置槽位置設有可作Z軸向位移之壓件，用以定位隨身碟。
31. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該測試裝置係設有具至少一感測器之檢查模組。
32. 依申請專利範圍第31項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該檢查模組係於電路板上設有第一感測器，用以檢查隨身碟是否放置反面。
33. 依申請專利範圍第31或32項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該檢查模組係於電路板上設有第二感測器，用以檢查隨身碟之LED是否損壞。
34. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該移料裝置係設有載送機構，用以帶動取放器作X-Y-Z軸向位移。
35. 依申請專利範圍第34項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該移料裝置之取放器係具有獨立之驅動源，用以帶動取放器單獨作Z軸向位移以取放待/完測隨身碟。
36. 依申請專利範圍第34項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該移料裝置係設有至少前後二排取放器，其中一排取放器係用以取放待測隨身碟，而另一排取放器則用以取放完測隨身碟。
37. 依申請專利範圍第1項所述之隨身碟自動測試分類機，更包含一不良品收料匣，用以收置不良品隨身碟或正反面擺置錯誤之隨身碟。
38. 依申請專利範圍第37項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該不良品收料匣係位於測試裝置之側方，並設有空的料盤用以收置隨身碟。
39. 依申請專利範圍第37項所述之隨身碟自動測試分類機，其中，該不良品收料匣之空料盤係與供料匣之料盤相同，不良品收料匣可收置供料匣之空料盤。