TWI393030B - 位置檢測系統及方法 - Google Patents

Description

位置檢測系統及方法 發明領域

本發明係有關一種利用雷射斑點之位置檢測系統。

發明背景

一指向設備是電腦系統之一共同元件，一操作員可使用其圖形使用者介面(GUI)來控制該電腦系統。長年來已開發各種不同的指向設備，包括搖桿、軌跡球、機械滑鼠、光筆、以及為此設計之近年來的光學滑鼠。此外，還有典型使用一尖筆之各種不同類型的數位化輸入板。

該等指向設備之主要目的是將一操作員之手部移動轉換為該電腦可使用之信號。此可藉由使用用以響應該使用者手部移動而移動之游標，來顯示該電腦監視器之螢幕上的一游標來達成。可由該使用者選定之指令典型是鍵入該游標之位置。該所欲之指令首先經由該指向設備之移動來將該游標放置於該螢幕之適當位置，之後致動該指向設備上之一按鈕或開關來選定。

該監視器螢幕上之游標放置的位置控制，初始是藉由機械式檢測一搖桿或一滑鼠有關一固定的參考框架之相對移動來取得，而一滑鼠可位於一桌子或一滑鼠墊之該頂部表面。有一種共同技術是使用該滑鼠內之一顆球，其操作上接觸該電腦或其他表面，並且當該滑鼠移動時滾動。該滑鼠內部有兩個滾輪，其接觸該球並且該球滾動時滾動。該等滾輪其中之一受定向，藉此其檢測一標稱X方向中之運動，而另一滾輪定向與該第一滾輪成90度，所以其檢測該相關聯Y方向之運動。該等滾輪連接至分開的軸，而每一個軸連接至一分開的光學編碼器，其輸出對應其相關聯滾輪之移動的一電氣信號。此信號受適當地編碼並典型以二進制資料送至該電腦，該電腦依序對其接收之資料解碼，並將該電腦螢幕上之該游標移動對應該滑鼠之實體移動的一距離總量。

近年來，光學導航技術已用於產生代表沿著座標軸方向之相對移動的運動信號。該等技術已使用於，例如，光學電腦滑鼠中，以替代傳統滑鼠與軌跡球，並用於電腦系統之視窗使用者介面中的螢幕指向器之位置控制。該類技術具有若干優點，其缺少會累積灰塵以及遭受機械磨損與分解之苦的移動零件。

使用光學導航技術之一系統中的運動可藉由追蹤一系列影像之相對位移來測量。首先，該參考表面之一區域的二維圖形聚焦於一光檢測器陣列上，其輸出受數位化並於一相對記憶體陣列中儲存來作為一參考影像。一短暫時間之後，一第二影像受數位化。若無任何運動產生，則該參考影像之後取得的該影像型樣以及該參考影像之該型樣必須相同。另一方面，若有某些運動產生，則該之後影像的該型樣將沿著運動軸位移，而該影像型樣之位移大小會對應該光感測器陣列之實體移動的大小。針對電腦系統之位置控制，用於替代機械滑鼠之該光學滑鼠會採用此技術。

實際上，該光學滑鼠移動之方向與大小，可藉由比較該參考影像之該型樣與該第二影像之該型樣的一系列位移描述來測量。最佳對應該光學滑鼠之實際運動的該位移影像，可藉由在該參考影像與該等位移第二影像的每一個之間實行一交叉關聯性來判定，而該正確位移最可能提供該最大關聯性數值。使用上述方法，隨後的影像可用於指出該光學滑鼠之後的移動。光學導航感測器可藉由取得一下方的照明表面紋理之一系列影像來操作。該表面具有一微小紋理。

最近另一種設備是當初開發用於膝上型電腦之觸控墊。觸控墊對於一使用者手指之接觸相當敏感。其允許一使用者於該觸控墊之表面僅移動指尖即可移動該電腦螢幕上之游標。使用者手指之存在可由安排於該觸控墊表面下方之一格柵的一電容式感測器陣列來檢測。該電腦螢幕上之游標導航，是經由將該使用者手指與該感測器陣列作電容式耦合來操作。該使用者手指於下方具有兩層良好的電氣導體之一密封表面上滑過，該等電氣導體安排於一格柵中並建立一表面電場。以手指接觸該表面會使該點之電場失真。該接觸指尖可藉由掃描該格柵與感測每一個導體之該失真強度來定位。此技術是一種電容式感測型式，並參照為電場失真感測技術。螢幕上滑鼠或游標之方向會直接受該觸控墊表面之指尖移動的影響。假若軟體許可自定該滑鼠之加速，則亦允許指定滑鼠“輕按”與“拖曳鎖定”的功能。該類觸控墊之大小根據製造商與模型的不同而改變。有些可小至2英吋乘2英吋平方大小。

發明概要

某些代表性實施例中，揭示一種檢測系統。該檢測系統包括一基體、一雷射、與一感測器陣列。該基體包括一第一表面、概念上分為多個區域之一第二表面、與一第三表面。該雷射組配來將電磁輻射發射至該基體並隨後入射於第二表面區域上。該感測器陣列組配來擷取從該第二表面反射之電磁輻射。若具有第一電介質常數之一第一電介質與某些區域接觸，則入射其上之電磁輻射會經歷完全的內部反射，而若具有第二電介質常數之一第二電介質與其他區域接觸，則入射其上之該等某些電磁輻射會由該第二電介質反射回該基體。該感測器陣列組配來於該第二表面上檢測源自該電磁輻射入射之雷射斑點，並檢測從該第二電介質反射之電磁輻射。

另一代表性實施例中，揭示一種方法。該方法包含以一雷射來照明一表面、將一項目放置於該表面之一第一位置、擷取由一感測器陣列從該照明表面反射之一第一型樣、將該擷取之第一型樣儲存於一資料儲存設備、並藉由比較該擷取之第一型樣與該擷取之第二型樣，從該第一位置來計算該項目之位置改變。

本文呈現之該等代表性實施例的其他方面與優點，將從下列詳細說明連同該等伴隨圖式而更加明顯。

圖式簡單說明

該等伴隨圖式提供視覺之表示法，其用於更完整地說明各種代表性實施例，並可使業界之熟於此技者用於更了解該等實施例與其固有的優點。該等圖式中，相同參考數字用於識別相對應之元件。

第1A圖是一入射於一光滑、反射表面之雷射照明系統的圖形。

第1B圖是一入射於形成斑點之一極細微的粗糙、反射表面之雷射照明系統的圖形。

第2圖是於各種不同的代表性實施例中所述之一檢測系統的一圖形。

第3圖是以與各種不同的代表性實施例中所述之該表面垂直的一角度來觀察一第二表面之圖形。

第4圖是於各種不同的代表性實施例中所述之該檢測系統的另一圖形。

第5圖是利用於各種不同的代表性實施例中所述之雷射斑點來判定位置改變的一方法之一流程圖。

較佳實施例之詳細說明

為了舉例說明如圖式中所示，本文揭示一種新奇的位置檢測系統之代表性實施例。諸如搖桿、軌跡球、機械式滑鼠、光筆、光學滑鼠、與數位輸入板之各種不同的導航設備，已被用於驅動電腦螢幕上之一游標。然而，於諸如行動電話之迷你、電子商用產品中，機械式搖桿開關構成目前的導航技術。一特定、預先規劃之電子功能的選定可藉由按下一圓板之一側來達成。此技術簡單並節省成本。但是，其選定彈性受限於通常與一迷你顯示器耦合之四種可能的分散搖桿位置(上/下與左/右)。某些代表性實施例中，揭示一種較精密的導航方案，其中雷射斑點之檢測可與一手指之移動組合，以類似一電腦滑鼠那般的方法來驅動一迷你顯示器上游標的運動。

下列詳細說明與該等圖式之若干圖形中，相同元件以相同的參考數字來識別。

第1A圖是一入射於一光滑、反射表面120之雷射照明系統110的圖形。來自一雷射之光線110同調或同相，如第1A圖所示，當從一完全光滑、反射表面反射時亦保持如此。遵循從該反射表面120反射之該所生光波顯示為反射雷射光111。

第1B圖是一入射於形成斑點之一極細微的粗糙、反射表面120之雷射照明系統110的圖形。然而，雷射光110入射於一極細微的粗糙表面120上時，如第1B圖所示，該入射雷射光110之一部分會從該極小瑕疵121散射，之後產生一光線型樣而“黑暗斑點”可由一感測器陣列檢測。該散射顯示於第1B圖中之散射光112，本文中亦參照為該斑點光112。

第2圖是於各種不同的代表性實施例中所述之一檢測系統200的一圖形。如第2圖所示，該檢測系統200包含一基體210、一雷射220與一感測器陣列230。該基體210包含一第一表面211、一第二表面212與一第三表面213。該雷射220組配來將光線110，或更一般的電磁輻射110經由該第一表面211發射至該基體210，而隨後入射該第二表面212上。具有一第一電介質常數之一第一電介質250與該第二表面212接觸時，來自該雷射220之該光線110受發射為一平行光束並遵循路徑240進入通過該基體210。該類情況中，該基體210之該電介質常數與該光線110入射該第二表面212之角度，會使該光線110歷經完全的內部反射，藉此該光線110皆不會脫離進入該第一電介質250。該第一電介質250可以是，例如，空氣或其他適當的物質。針對完全的內部反射發生時，該基體210之該電介質常數必須大於該第一電介質250之該電介質常數。

一旦該光線110從該第二表面212反射，該光線會行經至該第三表面213。該第三表面213包含一第一區段213a與一第二區段213b。該第一區段213a受反映，藉此從該第二表面212入射之該任何反射光111會再次反射回進入該基體210。該感測器陣列230組配來接收入射於該第三表面213之該第二區段213b上的光線110。然而，該檢測系統200典型設計是，當缺少斑點以及該第一電介質250與該第二表面212接觸時，來自該雷射220之該光束110將不會入射於該第三表面213之該第二區段213b上。然而，該第二表面212中之極小瑕疵121，以及該第三表面213之該第一區段213a中的極小瑕疵121，將形成某些該光線110於該感測器陣列230上接收。因此，該感測器陣列230組配來檢測源自該光線110於該第二表面212入射之雷射斑點，以及源自該光線110於該第一區段213a入射/反射與隨後於該第二表面212入射/反射之任何雷射斑點。

此外，該第三表面213之該第一區段213a可包含一第一與一第二次區段213a－1、213a－2。該第一次區段213a－1可受反映而該第二次區段213a－2可不相同。例如，該第二次區段213a－2可以一黑色或者部分或完全吸收該光線110之其他物質來涵蓋或覆蓋，以降低入射於該感測器陣列230之外來光線110，因而使該感測器陣列230對於該斑點之該散射光線110更敏感。該第二次區段213a－2亦可以是透通允許該光線110離開該基體210。注意不由斑點散射並來自該雷射220之該光束110的一部分不包含有用的資訊，而若允許其由該感測器陣列230收集會使該散射光線110之檢測更加困難。

為了簡化舉例說明，該第二表面212中之該等極小瑕疵121、該第三表面213之該第一區段213a中的該等極小瑕疵121以及所生之散射光112不顯示於第2圖中。

第3圖是以與各種不同的代表性實施例中所述之該表面212垂直的一角度來觀察一第二表面212之圖形。第3圖中，該第二表面212概念性分為多個區域121m，為了簡化舉例說明僅識別本身其中之一。應強調該等多個微小區域121m僅為概念性區域並且僅用於簡化說明。

第4圖是於各種不同的代表性實施例中所述之該檢測系統200的另一圖形。第4圖中，一第二電介質260，可能是一手指、一手指之***線、或其他適當的物質，與該第二表面212之一部分接觸。特別是，該第二電介質260與該第二表面212之該等多個區域212m的一或更多區域接觸，而該第一電介質250與該第二表面212之剩餘區域212m接觸。該第二電介質260具有足以大於該第一電介質常數之一第二電介質常數，藉此完全的內部反射不會發生於與該第二電介質260接觸之該第二表面212的該等區域212m。雷射光110入射於與該第一電介質250接觸之該等區域212m中的該第二表面212上的結果，將與第2圖所述的相同。然而，針對與該第二電介質260接觸之該等區域，該反射光111將根據該第二電介質260加入之斑點與該第二電介質260之反射特性來加以修改。因此，在該第二表面212之一或更多位置上存有該第二電介質260的情況下，該感測器陣列230接收之該光線型樣，將從不存有該第二電介質260的情況下接收之型樣來修改。

通過該基體210之完整行程前，該光線110可入射於該第二表面212並從該第二表面212反射一或更多次。該反射光111之後可從該第三表面213反射一或更多次，或於該第三表面213完全不反射。典型情況是，該第二表面212與該第三表面213平行，並作為一波導來將沿著該基體之長度的該光線110導引至該感測器陣列230所在的末端位置。另一種典型情況是，該光線110於該第二與該第三表面212、213兩者間將歷經多次反射。

此外，該第三表面213之該第一區段213a可包含一第一與一第二次區段213a－1、213a－2。該第一次區段213a－1可受反映而該第二次區段213a－2可不相同。例如，該第二次區段213a－2可以一黑色或者部分或完全吸收該光線110之其他物質來涵蓋或覆蓋，以降低入射於該感測器陣列230之外來光線110，因而使該感測器陣列230對於該斑點之該散射光線110更敏感。該第二次區段213a－2亦可以是透通允許該光線110離開該基體210。注意不由斑點散射並且不由該第二電介質260反射，來自該雷射220之該光束110的一部分不包含有用的資訊，而若允許其由該感測器陣列230收集會使該散射光線110之檢測更加困難。

為了簡化舉例說明，該第二表面212中之該等極小瑕疵121、該第三表面213之該第一區段213a中的該等極小瑕疵121以及所生之散射光112不顯示於第4圖中。

該感測器陣列230較佳是一互補式金氧半導體(CMOS)感測器陣列。然而，亦可使用諸如一電荷耦合設備(CCD)、光二極體陣列或光電晶體陣列之其他影像設備。第2圖與第4圖所示之該雷射220較佳是一垂直孔表面發射雷射(VCSEL)220，但亦可以是其他類型之雷射220。該雷射220亦可由其他光源來替代，例如，一發光二極體(LED)等等。然而，一雷射220可提供該斑點較佳的解析度。

第4圖所示之該檢測系統200更包含收集來自該感測器陣列230之信號455的一導航電路470。該收集信號455之後可儲存於可以是一記憶體480之一資料儲存設備480。該檢測系統200亦可包含一控制器490。

操作上，藉由使用該感測器陣列230來擷取相繼的曝光，可檢測到該第二電介質260與該第二表面212間之相對移動。由於位在一第一位置之該第二電介質260，一產生之第一型樣被擷取並轉移至該導航電路470，其之後典型地將該型樣儲存於該記憶體480中。該第二電介質260有關該第二表面212之隨後移動至一第二位置，由於該第二電介質260之不同位置，會造成不同於該第一型樣之一第二型樣。該第二電介質260之相對移動可藉由比較該等第一與第二型樣而由該導航電路470來計算。

該感測器陣列230以該應用判定之一速率來擷取型樣，而該速率可隨時間改變。如同由該第二電介質260之存在與其位置所修改的那般，該等擷取型樣代表該第二表面212之該等各種不同的區域212m。此位置資訊轉移至該控制器490來作為位置信號475。該控制器490隨後產生可用於將一螢幕499上之一游標497或其他指示器497定位的一輸出信號495。

該導航電路470與/或該記憶體480可組配來當作導航電路470之一整合部分或是與其分離之一部分。此外，導航電路470可實施來作為，但不侷限於，一專屬數位信號處理器、一特定應用積體電路、或是一邏輯閘組合。

第5圖是利用於各種不同的代表性實施例中所述之雷射斑點來判定位置改變的一方法500之一流程圖。區塊510中，一表面212以來自一雷射220之光線110來照明。區塊510之後轉移控制至區塊520。

區塊520中，包含斑點並於本文中亦參照為一斑點型樣，從該照明表面212散射之一型樣，由該感測器陣列230擷取。區塊520之後轉移控制至區塊530。

區塊530中，該擷取之斑點型樣儲存於一記憶體480中。區塊530之後轉移控制至區塊540。

區塊540中，從該照明表面212散射之該下一個斑點型樣由該感測器陣列230擷取。區塊540之後轉移控制至區塊550。

區塊550中，該下一個擷取之斑點型樣儲存於一記憶體480中。區塊550之後轉移控制至區塊560。

區塊560中，兩個擷取之斑點型樣受比較以判定可能已放置該表面212上之一項目260(第二電介質260)的位置改變已被檢測。區塊560之後轉移控制至區塊570。

區塊570中，若檢測到一位置改變，則區塊570轉移控制至區塊580。否則，區塊570轉移控制至區塊540。

區塊580中，一移動指示器497，例如一螢幕499上之一游標497，用以響應該計算之位置改變而移動。區塊580之後轉移控制至區塊540。

簡而言之，本文已揭示利用雷射斑點作位置判定與導航的一種系統。某些代表性實施例中，本文揭示之該等教示可用於提供簡潔、低成本的系統，為此目的該系統利用一表面上之手指移動。該檢測程序利用該著名的光學雷射之光學現象，其中來自一聚焦雷射之光線由一極細微的粗糙表面來散射，而所生之反射光產生一光線型樣與黑色斑點。

雷射光從一光源發射，耦合至一波導並由，例如，一矽感測器檢測。該波導之表面頂部上的手指移動改變該感測器上之該光線型樣。此改變可由一感測器陣列來檢測。該波導結構具有若干優點。首先，其降低有關該雷射輸出對眼部安全性的考量。完全的內部反射使該雷射光保持在該波導(與該模組)內側，直到有一手指接觸時。之後該雷射光僅反射隔開該手指而不洩漏至該波導外部。此外，使用該波導結構可增加通過該系統之該光學路徑的長度。光學長度判定該斑點的大小，而因此判定該感測器陣列上之像素大小。典型地，較大的斑點大小較佳地允許該感測器之較大的像素大小，此可增加靈敏度。在不增加該模組之高度的情況下，該波導結構可增加光學長度，於小型、行動式應用中，其典型為較優質的選擇。

斑點導航是根據同調光之干擾技術，而因此典型地需要一雷射光源。該發射光由一稜鏡結構耦合至該波導。如第2圖與第4圖所示，此結構可，例如，藉由一塑膠部分之射入鑄模而整合於該波導，或可與其分離。該發射光線之後導引通過該結構，並與該感測器擷取之該光線的至少一部分耦合。為了協助此耦合，該感測器可，例如，使用光黏著劑來附接於該波導而無任何氣隙。若無手指或其他項目存在，或者若該手指穩定，則該感測器將檢測一穩定的斑點型樣。若該手指移動，則該感測器上之該斑點型樣移動。該斑點型樣之改變可以該感測器檢測。斑點移動之檢測可藉由比較兩個或更多擷取型樣來實現。

已於本文中詳細說明之該等代表性實施例，已經由範例但不經由限制來加以呈現。業界之熟於此技者應了解，各種不同的改變可以上述實施例之該等形式與細節來完成，並形成保持在該等後附之申請專利範圍的範疇中之等效實施例。

110．．．雷射照明系統、光線、電磁輻射

111．．．反射雷射光

112．．．散射光、斑點光

120．．．反射表面

121．．．極小瑕疵

200．．．檢測系統

210．．．基體

211．．．第一表面

212．．．第二表面

212m．．．多個區域

213．．．第三表面

213a．．．第一區段

213a－1．．．第一次區段

213b．．．第二區段

213b－1．．．第二次區段

220．．．雷射

230．．．感測器陣列

240．．．路徑

250．．．第一電介質

260．．．第二電介質

455．．．信號

470．．．導航電路

475．．．位置信號

480．．．資料儲存電路

490．．．控制器

495．．．輸出信號

497．．．游標

499．．．螢幕

500．．．方法

510，520，530，540，550，560，570，580．．．區塊

第1A圖是一入射於一光滑、反射表面之雷射照明系統的圖形。

第1B圖是一入射於形成斑點之一極細微的粗糙、反射表面之雷射照明系統的圖形。

第2圖是於各種不同的代表性實施例中所述之一檢測系統的一圖形。

第3圖是以與各種不同的代表性實施例中所述之該表面垂直的一角度來觀察一第二表面之圖形。

第4圖是於各種不同的代表性實施例中所述之該檢測系統的另一圖形。

第5圖是利用於各種不同的代表性實施例中所述之雷射斑點來判定位置改變的一方法之一流程圖。

110．．．光線、電磁輻射

111．．．反射雷射光

112．．．散射光、斑點光

200．．．檢測系統

210．．．基體

211．．．第一表面

212．．．第二表面

213．．．第三表面

213a．．．第一區段

213a－1．．．第一次區段

213b．．．第二區段

220．．．雷射

230．．．感測器陣列

240．．．路徑

250．．．第一電介質

Claims (16)

1. 一種位置檢測系統，包含：一基體，其包含一第一表面、概念上分為多個區域之一第二表面、與具有第一與第二區段之一第三表面；一雷射，其組配來經由該第一表面將電磁輻射發射至該基體，並隨後入射於第二表面之某些區域上；以及一感測器陣列，其組配來擷取從該第二表面反射並入射於該第二區段之電磁輻射，其中若具有第一電介質常數之一第一電介質與某些區域接觸，則入射其上之電磁輻射會經歷完全的內部反射，而若具有第二電介質常數之一第二電介質與其他區域接觸，則入射其上之該等某些電磁輻射會由該第二電介質反射回該基體，其中該第一區段之至少一部分組配來反射入射其上之電磁輻射，而其中該感測器陣列組配來於該第二表面上檢測源自該電磁輻射入射之雷射斑點，並檢測從該第二電介質反射之電磁輻射，其中該基板經配置使至少有一些電磁輻射在被該感測器陣列擷取之前，至少從該第一表面直接移動至第二表面，然後從該第二表面直接至第三表面，且然後從該第三表面直接至第二表面，且由於該第一電介質並未延伸到該第三表面之該第二區段，其中該基板經配置使該電磁輻射會經歷該完全反射，該感測器陣列被安置以接收入射在該第三表面之該第二區段上之唯一該電磁輻射。
2. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中，除了由於斑點之散射外，若該第一電介質與該等區域之一或更多個接觸，則入射其上之該電磁輻射並不由該感測器陣列來收集。
3. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該雷射是一垂直孔表面發射雷射。
4. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該第三表面之至少一部分是一反映表面。
5. 如申請專利範圍第4項之位置檢測系統，其中該第三表面之該第一區段之一第一小部分是一反映表面，且該第三表面之該第一區段之一第二小部分被覆蓋著一光吸收材料，該第二小部分被安置在該第一小部分與該第三表面之該第二區段之間。
6. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該第一電介質是從由手指組織與空氣組成之群組中選定。
7. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該第二電介質是從由手指組織與空氣組成之群組中選定。
8. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該基體作為針對來自該雷射之該電磁輻射的一波導。
9. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該第二表面與該第三表面實質地平行。
10. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，其中該第二電介質包含一隻手指之至少一個***線。
11. 如申請專利範圍第1項之位置檢測系統，更包含： 一資料儲存設備；與一導航電路，其中該導航電路組配來收集來自該感測器陣列之信號、將該等收集之信號儲存於該資料儲存設備中、並藉由比較從不同時間點收集之信號來計算有關該第二表面之該第二電介質的相對移動。
12. 如申請專利範圍第11項所述之檢測系統，更包含：一控制器，其中該位置資訊從該導航電路轉移至該控制器以作為位置信號，而其中該控制器隨後產生可用於在一螢幕上擺放一游標之位置的一輸出信號。
13. 一種位置檢測方法，包含下列步驟：發射光線自一雷射至一基板之第一表面；在該基板內傳送該光線，從該第一表面至該基板之第二及第三表面，使得至少有一些該光線，從該第一表面直接傳送至該第二表面，然後從該第二表面直接至該第三表面之一第一區段，且然後從該第三表面直接至該第二表面，以產生一斑點型樣其反射自該第二表面在該第三表面之一第二區段，包含完全反射部分在該第二及第三表面之間之一些光線，使得完全反射光線並未延伸到該第三表面之該第二區段；擷取由一感測器陣列在該第三表面之該第二區段從該第二表面反射之該斑點型樣，該感測器陣列被安置以接收入射在該第三表面之該第二區段上之唯一該光線，使得該完全反射光線未被該第二陣列擷取；將該擷取之斑點型樣儲存於一資料儲存設備； 擷取由該感測器陣列反射自該第二表面之另一個斑點型樣；藉由比較至少兩個擷取之斑點型樣來計算位置之改變。
14. 如申請專利範圍第13項之位置檢測方法，更包含下列步驟：若一位置改變的確發生，則用以響應該計算之位置改變而移動一螢幕上之一游標；以及從擷取一下一個斑點型樣開始來重複上述步驟。
15. 如申請專利範圍第13項之位置檢測方法，其中該等斑點型樣包含來自放置與該第二表面接觸之一項目的斑點。
16. 如申請專利範圍第13項之位置檢測方法，其中該傳送包含反射在第三表面之該第一區段之一第一小部分的一些該光線，且吸收在第三表面之該第一區段之一第二小部分的部分一些光線，該第一小部分為鏡面的，該第二小部分被覆蓋著一光吸收材料，該第二小部分被安置在該第一小部分與該第三表面之該第二區段之間。