TWI386634B - 鏡片參數測量承載裝置 - Google Patents

Description

鏡片參數測量承載裝置

本發明涉及一種承載裝置，尤其涉及一種便於裝載鏡片進行參數測量之承載裝置。

鏡頭模組之鏡片質量通常係影響鏡頭模組質量之關鍵，故，於鏡頭模組組裝之前，通常需要對鏡片進行各種參數測量，以檢測鏡片質量好壞。例如，成型後之鏡片通常需要進行鏡片面型精度PV值(Peak to Valley)之測量，PV值係鏡片表面整個面型之最大峰谷值，體現了鏡片光圈之變形程度，係鏡片質量之重要參數之一。

先前技術之鏡片面型精度PV值測量過程中，通常係將待測量鏡片放入具有通孔之金屬模塊中，再將兩塊磁鐵放置於金屬模塊上，利用兩塊磁鐵之磁力與金屬模塊之相互吸引配合作用，將待測量鏡片固定於金屬模塊之通孔中，並露出待測量鏡片之待測量表面，最後再將固定好待測量鏡片之金屬模塊固定到PV值測量裝置上進行測量。惟，由於該固定待測量鏡片進行測量之方式並不係非常方便，固定後只能對待測量鏡片其中一個待測量表面進行測量，無法快速轉換到待測量鏡片另一個待測量表面進行測量。特別當需要對不同尺寸之待測量鏡片進行測量時，或當需要對大批量之待測量鏡片進行測量時，通常需要頻繁更換待測量鏡片進行固定測量，這樣一來不僅需要耗費較多時間，而且還會導致鏡片固定不好，從而影響鏡片PV值測量之速度與準確度。

有鑑於此，提供一種鏡片參數測量承載裝置，以便於裝載鏡片進行參數測量，從而進一步提高鏡片參數測量之速度與準確度實屬必要。

以下以實施例說明一種鏡片參數測量承載裝置。

所述鏡片參數測量承載裝置，其包括第一承載盤、第二承載盤及支撐座，該第一承載盤具有複數個第一容置通孔及第一鎖固結構，該第二承載盤具有複數個與所述第一容置通孔相對應之第二容置通孔及第二鎖固結構，該第一承載盤與第二承載盤相互扣合，用於使複數個第一容置通孔與複數個第二容置通孔相互配合以固定複數個待測量鏡片，該支撐座具有與第一鎖固結構及第二鎖固結構對應之第三鎖固結構，通過第一鎖固結構與第三鎖固結構之配合，或第二鎖固結構與第三鎖固結構之配合，用以選擇性將第一承載盤或第二承載盤固定於支撐座，進而選擇性露出待測量鏡片之待測量表面。

相對於先前技術，所述鏡片參數測量承載裝置包括具有複數個第一容置通孔與第一鎖固結構之第一承載盤，具有複數個第二容置通孔與第二鎖固結構之第二承載盤，及具有第三鎖固結構之支撐座，該第一承載盤與第二承載盤相互扣合，通過第一鎖固結構與第三鎖固結構配合或第二鎖固結構與第三鎖固結構配合，可選擇性地固定第一承載盤或第二承載盤於支撐座，從而可同時裝載固定複數個待測量鏡片進行參數測量，不僅使測量複數個待測量鏡片時固定簡單方便，各個鏡片固定良好，而且 可快速實現複數個待測量鏡片之待測量表面之轉換，有利於提高鏡片參數量測之速度與準確度。

以下結合附圖本技術方案實施例提供之鏡片參數測量承載裝置作進一步說明。

請參閱圖1與圖2，本技術方案實施例一提供一種鏡片參數測量承載裝置100，其包括第一承載盤20、第二承載盤30及支撐座40。

第一承載盤20之形狀可根據實際需要設計。本實施例中，該第一承載盤20呈方形。該第一承載盤20包括第一表面21及與第一表面21相對之第二表面22。該第一表面21設有複數個貫通於第二表面22之第一容置通孔23，該容置通孔23為階梯形通孔結構，用於放置待測量鏡片。該複數個第一容置通孔23之形狀大小可根據待測量鏡片之實際形狀大小來設計，可為與待測量鏡片大小相匹配之圓形通孔或方形通孔，且每個第一容置通孔23之形狀大小可相同也可不同。本實施例中，該複數個第一容置通孔23為大小形狀均相同之圓形通孔。

該第一容置通孔23包括靠近第一表面21一端之第一通孔231與靠近第二表面22一端之第二通孔232，該第一通孔231之內切圓直徑大於第二通孔232之內切圓直徑，從而使得第一容置通孔23呈階梯形通孔結構。該階梯形之通孔結構於靠近第二表面22一端形成阻擋，以使待測量鏡片可固定位於第一容置通孔23中，不會落出，同時便於待測量鏡片之待測量表面露出便於測量。該第一通孔231 之內切圓直徑應當等於待測量鏡片之直徑。該第二通孔232之內切圓直徑應當小於待測量鏡片之直徑且大於或等於待測量鏡片之待測量表面之直徑。另外，第一通孔231與第一表面21交接處可設置為倒角結構。

此外，第一承載盤20設有複數個第一鎖固結構24，用於將第一承載盤20固定於支撐座40。本實施例中，複數個第一鎖固結構24為貫通於第一表面21與第二表面22之通孔結構，該複數個第一鎖固結構24與支撐座40上之相應螺孔之位置相對應、形狀大小相匹配，並通過螺釘連接固定。該第一承載盤20之第一表面21還可設置複數個凸柱25，以使第一承載盤20直接與第二承載盤30進行卡扣配合。該凸柱25可為圓形柱、橢圓形柱或方形柱，該複數個凸柱25可與複數個第一鎖固結構24呈間隔排列。本實施例中，第一承載盤20為方形結構，於第一承載盤20兩個對角處設置第一鎖固結構24，該第一鎖固結構24與支撐座40上之相應螺孔之位置相對應、形狀大小相匹配；於第一承載盤20另外兩個對角處之第一表面21設置兩個凸柱25，該凸柱25為圓形柱。

第二承載盤30與該第一承載盤20之形狀大小相匹配，亦呈方形。該第二承載盤30包括第三表面31及與第三表面31相對之第四表面32。該第三表面31設有複數個與第一承載盤20之第一容置通孔23位置相對應、形狀相匹配、並貫通於第四表面32之第二容置通孔33。該第二容置通孔33可為與第一容置通孔23位置相對應、形狀相匹配之圓形通孔或方形通孔。本實施例中，該第二容置通孔33 為圓形通孔。該第二容置通孔33之內切圓直徑小於第一容置通孔23之第一通孔231之內切圓直徑，即待測量鏡片之直徑，且大於或等於待測量鏡片之待測量表面之直徑。當第二承載盤30與第一承載盤20相互扣合後，使待測量鏡片可固定位於第一容置通孔23與第二容置通孔33中，同時便於露出待測量鏡片之待測量表面進行參數測量。當然，該第二容置通孔33亦可呈階梯形通孔結構，以配合第一容置通孔23固定待測量鏡片為宜。另外，第二容置通孔33與第四表面32交接處亦可設置為倒角結構。

此外，該第二承載盤30設有複數個第二鎖固結構34，用於將第二承載盤30固定於支撐座40。第二鎖固結構34與支撐座40相應螺孔之位置相對應、形狀大小相匹配，並通過螺釘連接固定。本實施例中，複數個第二鎖固結構34為貫通於第三表面31與第四表面32之通孔結構，與支撐座40相應之螺孔通過螺釘連接固定。該第二承載盤30之第三表面31還可設置複數個卡扣孔35，其與第一承載盤20之複數個凸柱25位置相對應、形狀大小相匹配，以使第一承載盤20可直接與第二承載盤30通過凸柱25與卡扣孔35進行卡扣配合固定待測量鏡片。該複數個卡扣孔35可與複數個第二鎖固結構34呈間隔排列。本實施例中，第二承載盤30為方形結構，於第二承載盤30兩個對角處設置兩個第二鎖固結構34，該第二鎖固結構34與第一鎖固結構24及支撐座40上之相應螺孔之位置相對應、形狀大小相匹配；於第二承載盤30對應於第一承載盤20之凸柱25兩個對角處之第三表面34設置相應之兩個卡扣孔 35。

支撐座40用於支撐固定第一承載盤20與第二承載盤30。該支撐座40包括第一支撐板41、第二支撐板42與支撐體43。該第一支撐板41與該第二支撐板42平行固定連接於支撐體43相對兩側。該第一支撐板41上設有複數個第三鎖固結構411，其與第一承載盤20之第一鎖固結構24及第二承載盤30之第二鎖固結構34之位置相對應、形狀大小相匹配，用於將第一承載盤20及第二承載盤30固定於第一支撐板41。本實施例中，第一鎖固結構24與第二鎖固結構34均為通孔結構，第三鎖固結構411為螺孔結構，第一承載盤20與支撐座40或第二承載盤30與支撐座40通過螺釘固定連接。該第二支撐板42上設有複數個螺孔421，其與參數測量裝置工作台面之螺孔位置相對應、形狀大小相匹配，用於將第二支撐板42通過螺釘固定於參數測量裝置工作台面。該支撐體43之高度可根據實際需要設計，通過支撐座40之過渡支撐，第一承載盤20與第二承載盤30固定更加方便，且第一承載盤20之第一鎖固結構24與第二承載盤30之第二鎖固結構34之形狀位置大小不需要完全與參數測量裝置工作台面上之螺孔之形狀位置大小相匹配，鏡片參數測量承載裝置100之安裝使用亦更為方便。

請參閱圖3，該鏡片參數測量承載裝置100使用時，可將複數個待測量鏡片50直接放置於第一承載盤20之第一容置通孔23中，再將第二承載盤30之第三表面31與第一承載盤20之第一表面21相對，蓋於第一承載盤20上使第一 承載盤20與第二承載盤30相互扣合。由於第一承載盤20與第二承載盤30於形狀大小構造上相匹配，故可很好扣合於一起。此時，待測量鏡片50很好地固定於第一承載盤20與第二承載盤30之間，且待測量鏡片50之第一待測量表面501與第二待測量表面502分別從第一容置通孔23與第二容置通孔33露出。

請參閱圖4A，當需要測量露出第二容置通孔33之第二待測量表面502時，將第一承載盤20固定於支撐座40，此時，第二表面22與第一支撐板41接觸，扣合好地第一承載盤20與第二承載盤30通過第一鎖固結構24與第三鎖固結構411經螺釘固定於支撐座40。當然，螺釘亦可同時穿過第三鎖固結構411、第一鎖固結構24及第二鎖固結構34。請參閱圖4B，當需要測量露出第一容置通孔23之第一待測量表面501時，將第二承載盤30固定於支撐座40，此時，第四表面32與第一支撐板41接觸，扣合好地第一承載盤20與第二承載盤30通過第二鎖固結構34與第三鎖固結構411經螺釘固定於支撐座40進行測量。當然，螺釘亦可同時穿過第三鎖固結構411、第二鎖固結構34及第一鎖固結構24。該鏡片參數測量承載裝置100可快速實現複數個待測量鏡片50之第一待測量表面501與第二待測量表面502轉換，有利於提高鏡片參數量測之速度與準確度。同時由於各個待測量鏡片50之位置固定，即使更換另一批待測量鏡片後，仍然便於參數測量裝置按記憶坐標進行測量，有效加速測量速度。

請參閱圖5，本技術方案實施例二提供一種鏡片參數測量 承載裝置200，其與實施例一提供之鏡片參數測量承載裝置100之不同之處在於，該第一鎖固結構24a為設於第一承載盤20之第二表面22之卡柱結構，第二鎖固結構34a為設於第二承載盤30之第四表面32之卡柱結構，第三鎖固結構411a為與第一鎖固結構24a及第二鎖固結構34a相配合之卡槽結構，該卡柱結構與卡槽結構配合，用於固定第一承載盤20與第二承載盤30於支撐座40。扣合好地第一承載盤20與第二承載盤30可通過第一鎖固結構24a與第三鎖固結構411a之卡扣配合固定於支撐座40，或通過第二鎖固結構34a與第三鎖固結構411a之卡扣配合固定於支撐座40來選擇待測量鏡片之待測量表面進行測量。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝之人士，在援依本案發明精神所作之等效修飾或變化，皆應包含於以下之申請專利範圍內。

100、200‧‧‧鏡片參數測量承載裝置

20‧‧‧第一承載盤

21‧‧‧第一表面

22‧‧‧第二表面

23‧‧‧第一容置通孔

231‧‧‧第一通孔

232‧‧‧第二通孔

24、24a‧‧‧第一鎖固結構

25‧‧‧凸柱

30‧‧‧第二承載盤

31‧‧‧第三表面

32‧‧‧第四表面

33‧‧‧第二容置通孔

34、34a‧‧‧第二鎖固結構

35‧‧‧卡扣孔

40‧‧‧支撐座

411、411a‧‧‧第三鎖固結構

41‧‧‧第一支撐板

42‧‧‧第二支撐板

421‧‧‧螺孔

43‧‧‧支撐體

50‧‧‧待測量鏡片

501‧‧‧第一待測量表面

502‧‧‧第二待測量表面

圖1係本技術方案實施例一提供之鏡片參數測量承載裝置之立體示意圖。

圖2係本技術方案實施例一提供之鏡片參數測量承載裝置之沿對角線之剖視圖。

圖3係本技術方案實施例一提供之鏡片參數測量承載裝置放置待測量鏡片之局部放大圖。

圖4A~4B係本技術方案實施例一提供之鏡片參數測量承載 裝置之使用狀態局部放大示意圖。

圖5係本技術方案實施例二提供之鏡片參數測量承載裝置之立體示意圖。

100‧‧‧鏡片參數測量承載裝置

20‧‧‧第一承載盤

21‧‧‧第一表面

22‧‧‧第二表面

23‧‧‧第一容置通孔

24‧‧‧第一鎖固結構

25‧‧‧凸柱

30‧‧‧第二承載盤

31‧‧‧第三表面

32‧‧‧第四表面

33‧‧‧第二容置通孔

34‧‧‧第二鎖固結構

35‧‧‧卡扣孔

40‧‧‧支撐座

411‧‧‧第三鎖固結構

41‧‧‧第一支撐板

42‧‧‧第二支撐板

421‧‧‧螺孔

43‧‧‧支撐體

Claims (12)

1. 一種鏡片參數測量承載裝置，其包括第一承載盤、第二承載盤及支撐座，該第一承載盤具有複數個第一容置通孔及第一鎖固結構，該第二承載盤具有複數個與所述第一容置通孔相對應之第二容置通孔及第二鎖固結構，該第一承載盤與第二承載盤相互扣合，用於使複數個第一容置通孔與複數個第二容置通孔相互配合以固定複數個待測量鏡片，該支撐座包括第一支撐板，該第一支撐板設有第三鎖固結構，該第三鎖固結構域第一鎖固結構及第二鎖固結構相對應，通過第一鎖固結構與第三鎖固結構之配合，或第二鎖固結構與第三鎖固結構之配合，用以選擇性地將第一承載盤或第二承載盤固定於支撐座，進而選擇性地露出待測量鏡片之待測量表面。
2. 如申請專利範圍第1項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一承載盤與第二承載盤之形狀大小相匹配，第一承載盤具有第一表面與相對第二表面，該第一表面設有複數個貫通於第二表面之第一容置通孔，該第二承載盤具有第三表面與相對第四表面，該第三表面設有複數個與第一容置通孔相對應，並貫通於第四表面之第二容置通孔，第一承載盤之第一表面與第二承載盤之第三表面相互扣合。
3. 如申請專利範圍第2項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一鎖固結構為貫通於第一表面與第二表面之通孔結構，第二鎖固結構為貫通於第三表面與第四表面之通孔結構，第三鎖固結構為螺孔結構，該第一鎖固結構與第 三鎖固結構或第二鎖固結構與第三鎖固結構用螺釘配合固定。
4. 如申請專利範圍第1項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一鎖固結構為設於第一承載盤之第二表面之卡柱結構，第二鎖固結構為設於第二承載盤之第四表面之卡柱結構，第三鎖固結構為與卡柱結構相配合之卡槽結構，該第一鎖固結構與第三鎖固結構卡扣配合，或該第二鎖固結構與第三鎖固結構卡扣配合。
5. 如申請專利範圍第2、3或4項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一容置通孔與第二容置通孔為圓形通孔或方形通孔。
6. 如申請專利範圍第2、3或4項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一容置通孔為階梯形通孔結構，其包括靠近第一表面一端之第一通孔與靠近第二表面一端之第二通孔，該第一通孔之內切圓直徑大於第二通孔之內切圓直徑。
7. 如申請專利範圍第6項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一通孔之內切圓直徑等於待測量鏡片之直徑。
8. 如申請專利範圍第7項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第二通孔之內切圓直徑大於或等於待測量鏡片之待測量表面之直徑。
9. 如申請專利範圍第8項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第二容置通孔之內切圓直徑小於待測量鏡片之直徑，且大於或等於待測量鏡片之待測量表面之直徑。
10. 如申請專利範圍第2、3或4項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一容置通孔與第一表面相接處及第二容 置通孔與第四表面相接處為倒角結構。
11. 如申請專利範圍第2、3或4項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中，所述第一承載盤之第一表面設有複數個凸柱，第二承載盤之第三表面設有複數個與所述複數個凸柱相配合之卡扣孔，用於使第一承載盤與第二承載盤相互卡扣扣合。
12. 如申請專利範圍第1項所述之鏡片參數測量承載裝置，其中所述支撐座進一步包括第二支撐板與支撐體，該第一支撐板與該第二支撐板平行固定連接於支撐體相對兩側，該第二支撐板設有螺孔。