TWI364545B - Switched type measurement system for measuring resistance value and voltage resisting value of tested duty - Google Patents
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1364545 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 ^發明係關於-種切換式檢測系統,特別是指一種 二给:貝!,少一待測物件之一阻抗值與一耐壓值之切 換式檢測系統。 【先前技術】 ,現有之電子零配件完成部份或全部之製作程序 進’ ::了確保其品質符合特定之安全規範或產品規格標 ,Li都必須對其進行特定之電性檢測。尤其對於馬 ί、發電機等利用電磁轉換原理而運作之電子零 -而§,通常都會具備感應線圈。 雪3於Ϊ備感應線圈’就·⑤達、風扇、發電機等電子 5常都會就阻抗、耐壓以及層間(各線圈 曰B 、堅等三項檢測項目進行檢測。其原因詳述如下: ^ p' 為了確涊線圈品質的良窥,並確認線圈各區 圈)具備良好的平衡度,因此要進行(各區域線 圈)阻抗值的檢測。 Λ ^ 曰不^一,為了確認馬達、風扇、發電機等電子零配件 品規格標準所規範之高壓 若干於包覆於線圈外的漆包線本身可能會存在 孔,同時,在纏繞漆包線或是喊馬達、 漆包複^鱗電子零配狀加I過財,可能會發生 漆線剥洛之情況,因此’必須進行層間耐壓檢測^ 5 1364545 【發明内容】 本發明所欲解決之技術問題與目的: 综觀以上所述,在習知技 式將彼此獨立之阻抗檢測:壓線的方 成檢測工作線的緣故檢=置以耐 本發明之主要目的在於提2於此, 統可獨立設置於單一裝置中,利用^统,該系 物件分別進行用阻抗值檢測與高壓值檢^式來對待測 阻抗值檢測與高壓值檢測之外,亦可利:二別 方式來對同—待測物件進行層間耐壓測切換的 本發明解決問題之技術手段: 參 係』=以之技術手段 物件之-阻抗值與一耐=,該測 微處理單元接收―在 抗值時,微處理單元係傳送出—切表^測阻 項目,f,使阻抗檢測 件電r生連通’藉以檢測阻抗值;當 :’、j物 換信號== 換開關而傳送至待凜’,==== 7 述各元件可設置在一主檢測裝置中。 在本發明較佳實施例中,切換式檢測系統更包含一 二間耐壓檢測單元,藉以檢測該待測物件之一層間耐壓 層間耐壓檢測單元係電性連通該檢測項目切換電 /、中,當該操作信號係代表檢測該層間耐壓值時, 理單兀係傳送出該切換信號以接通(Switch Off) =ί Γ刀換開關,使該層間耐壓檢測單元電性連通於 ,層間耐壓檢測單元不僅可内建於上述 以外亦可另外設置於一外接檢測裝置中, 以外接方式與主檢測裝置電性連通。 本發明對照先前技術之功效: =裝ί時料微控制單元係依據操作信號ί發送= Μ,以對待測物件切換進行阻抗值、 換 耐壓值等檢測。因此,只需要單 間 時完成上述三項檢測。顯而易見地,本==可同 =測予置本身所佔用的空間,藉以節:, 的是’本發明更可節省搭接待測物件; 有效節省進行上述三項 及圖體實施例’將藉由以下之實施例 【實施方式】 由於本發明所提供之切換式檢測系統, 可廣泛 壤 1364545 值等檢測,、m件進行阻抗值、耐壓值或層間耐壞 電路…十卜::依據待測物件之特質與量測範圍,而在 f 舉,故在此不再--贅述,僅列ί其c 的兩個實施例來加以具體說明。 較 路功其係顯示本發明第-實施例之電 月匕万塊不思圖。如圖所示,一电 =系用以對三待測物件_、4()ΰ與' i::統 行阻抗值、鳴或層間耐難等檢洌。二 式檢測糸統200包含一人機介面2、 換 -檢測項目切換電路4、一電力,理3、 與一層間耐騎測Ϊ元t 7、—阻抗檢測迴路8 微處理單元3係轉接於人機介面2,並 項i切換電路4、電力供應單元5、電粬則 檢知單元7以及層間耐驗測單元 遠電路 3,目_電路4係與電力供應單元5 ^^ ^ 6、共用檢知單元7、阻抗檢測迴路8 =切 耐昼檢測單元9電性連通。電力供及層間 ,高電壓源。電力輸_奐電路;y為一交/ 阻抗檢測迴路8、待測物件·、彻與卿紐連通於 至少一使用者(未標示)可利用八 輸入至微處理單元3,在微處理單以::操 力供應單元5供應—檢 5 ’使電 ,作:號係代表檢測待測物件= 至>、一者之阻抗值時,微處理單元 二00中之 以接通(Switch On )檢測項目切換、g刀^言說 目切換開關叫標示於第三圖),使阻=¾ 136454^ ί待測物件300、400與500中之至少一者電性連通, =以利用阻抗檢測迴路8來檢測待測物件3〇〇、4〇〇與 500中之至少一者之阻抗值。 右操作彳§號係代表檢測待測物件、4〇〇與500 至少一者之耐壓值時,微處理單元3係傳送出'切換 =:以切斷(Switch 〇ff)檢測項目切換電路4内之檢 二:目:丨:切換開關S 41 (標示於第三圖),使檢測電力經由 目切換開關S41而傳送至待測物件3〇〇、400與 之至少一者,藉以檢測待測物件300、400與500 之至J 者之耐壓值。 若操作“號係代表檢測待測物件300、400盘500 者之層間耐壓值時,微處理料3係^送出 =;以切斷(SWitCh 〇ff)檢測項目切換電路4内 SI 開關S41(標示於第三圖 >使層_壓 =兀9電性連通於待測物件3〇〇、4〇〇與5⑻中之 一者,藉以檢測待測物件3〇〇、4〇〇盥5〇 〉 '一者之層間耐壓值。 ^ 更輕屬技術領域巾具有通常知識者能夠 技術之電路圖。請夫閱第一 R^下將進頻路上述 係顯示太二岔第二圖與第四圖,其中,第三圖 顯示本發明第—f餘丨夕穿' 心桃圖,第四圖係 併參閱第二圖。:分電路圖。同時,請- 單元3、给、胃丨5圖所不,上述之人機介面2、微處理 早兀3檢測項目切換電路4、 出切換電路6、丑用拾知留_ Λ刀供應早70 5、電力輸 置於-主檢測裝置7與阻抗檢測迴路8係設 介面CP1,連^介面CP1檢測裝置D1具備一連接 為一 RS232tt埠 輕接於微處理單元3,並可 'i 1364545 檢測項目切換電路4包含檢測項目切換開關so以 及六個開關S42、S43、S44、S45、S46盥S47 ;其中, 開關S44為高壓開關,開關S42、S45與S46為低'壓開 關,開關S43為(高壓)層間耐壓控制開關,開關S47 為(低壓)層間耐壓控制開關。電力輸出切換電路6包 含十八個切換開關S60卜S618、八個輸出端子'J62i〜j628 以及一低壓端子J629。其中,切換開關S6〇1為高壓 出控制切換開關,切換開關S602為低壓輸出控制切換 開關。切換開關S603〜S618係分別兩兩耦接於輸出端子 =21〜J628。輸出端子】62卜腿係分難接於待測物件 300、400與500之一端,輸出端子J627與j628係妓同 耦接於待測物件300、400與500之另一端。低壓 J629係耦接於(低壓層間财壓控制)開關。 共用檢知單元7包含一分壓器71、一阻抗 72、一電流檢知器73與一類比/數位轉換器7 = 測迴路8包含-阻抗信號源81,藉以發送出一阻抗$ 來檢測阻抗值。各相關元件之配置與搭接關鱗如二 圖所不。 一 層間耐壓檢測單元9係設置於-外接檢測 内,外接檢測裝置D2具備一連接介面cp2,連^ CP2可與連接介面⑵相互連通,並 接槔。層間耐壓檢測單元9包含—人機介面91、 理控制器92、-直流電力供應單元93、 ^ -取樣元件95、一測試波形記錄元件96以二、 97。儲能元件94通常可為—電容ϋ。各㈣ 置與搭接關係詳如第四圖所示。 _件之配 的是,在使用者可利用人機介面2或91 /刀別將代表核測待測物件300、4〇〇盥5〇〇 ^丨、 者之層f树壓值之操作信號輸人至微處理單元^ 11
V/U 吁 J 理控制器92後,可驻士、垂杜人工t > =理單元=控= k遽能同步更新並隨時保持吻合。收之麵作 將進ίίίίίΐ靜態配置與搭接關係的描述後,以下 物件3〇ί、°_盘^例中’如何實現對待測 層間耐驗等測試 切換進行阻抗值、耐錄或 ;具3昼;行==== = :ΐ£Γ:==號在:== 出切換電路6。檢測項目切換電路4在接收切 ,會接通(SWltCh〇n)檢測項目切換開關S41, 開關S_6。同時,電力輸出: 關電===S6f8接通一)切換開 此日寸,阻抗信號源81所發送出之阻抗信號4产 =則物件300與阻抗檢知n 72 α產生—贱檢知
iti知信號經由類比/數位轉換器74數位化後,會。傳U 阻抗值。同時,電流檢知器73 ίϊΐ 74叙,檢知信號’電流檢知信號經由類比/數位轉λ哭 4數位化後,會傳送至微處理單元3,並在微處理單二 二解析出一電流值,以對計算出之阻抗值做進一步= 請繼續參閱第六圖’其係顯示本發明第一實施例對 12 1364545 具低阻抗之待測物件進行阻抗值檢測之方 不二當使用者經由人機介面2輸入操作信號,二 之操作信號係代表檢測具備低阻抗(^ ^ 試值)之待測物件姻阻抗值時,在 ffi乍信號後,會傳送出切換信號至檢測項目切換=
:,力輸出切換電路6。檢測項目切換電路4在J ^,^^接^㈤滅叫檢測項目切換開關
同時mi關’與(低壓)開關祕。 ,時·’,力輸出娜電路6在接收切換信號後, (SwitchOn)切換開關 S6〇3 與 S616。 ,時,阻抗信號源81所發送出之 g 72 料生知^ ί=浐气由類比/數位轉換器74數位化後,會傳送 微處理早疋3 ’並在微處理單元3中( if 3〇0之阻抗值。同時,電流檢知器73亦Ϊ產 74 崎位轉換器
待測參閱苐七圖、,其係顯示本發明第—實施例對 瘦由人機值制之方式。如圖所^,當使用者 代表檢、輸人操作信號,且所輸人之操作信號係 元1垃/、物件300與400之耐壓值時,在微處理單 切換作信號後,會傳送出切換信號至檢測項目 、 電力輸出切換電路6。檢測項目切換電路 換ηΪ t換信號後,會切斷(Switch0ff)檢測項目切 n J。同時,電力輸出切換電路6在接收切換信 i 。曰接通(SWitCh 〇n)切換開關編1、S6〇2、S603
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丄J叶J 丄J叶J 此時,電力供應單元5 二力!70 5所發送出之檢測電力會流
以對計算出之耐壓值做進 出一低電壓,低電壓經由類; 後,會傳送至微處理單元3, 一步之補正。 翻^_^圖,其侧示本發明第—實施例對 ^物件進行賴耐壓值檢狀方式。同時,請-併來 閱苐三圖與第四圖。如圖所示,當使用者經由人機介面 5 1輸入操作信號,且所輸入之操作信號係代表檢測 f測物件300之層間耐壓值時,在微處理單元3接收到 操作L號後,會傳送出切換信號至檢測項目切換電路4 與,力輸出切換電路6。檢測項目切換電路4在接收切 換“號後’會切斷(Switch Off)檢測項目切換開關S41, 並且接通(高壓層間耐壓控制)開關S43與(低壓層間 耐壓控制)開關S47。同時,電力輸出切換電路6在接 收切換信號後,會接通(Switch On)切換開關S601、 S602、S603與S 618。因此,層間耐壓檢測單元9會經 由檢測項目切換電路4、電力輸出切換電路6而與;4測 物件電性連通。 此時,直流電力供應單元93會對儲能元件94進行 充電,當儲能元件94所累積之電能達到一標準檢測電 能時,微處理控制器92會傳送出一切換信號以接通放 電開關97 ’此時,儲能元件94會釋放出標準檢測電能, 取樣元件95會一直不斷擷取儲能元件94釋放標準檢測 電能後所產生之電性參數震盪波形(如電壓震盪波
<' X 14 1364545
藉由連接介面CP2與CPI 送至微處理單元3。 思锻或暫存器)所預 以解析出一層間耐壓值。在 耐壓值的解析工作之後,可 而將所解析之層間耐壓值傳
一層間耐壓檢測單元9,包含一儲能元件91,、一取 料一測试波形記錄几件93’與一放電開關94,。 配置與搭接關係詳如第九圖所示。顯而易 發明第二實施例中’係將第-實施例中之人 ^^ 9卜微處理控制器92與直流電力供應單元% ^功此为別融入人機介面2、微處理單元3與電力供應 單元5。因此’可進一步將層間耐壓檢測單忑9,内; ^•述之主檢測裝置D1中。惟在檢測待測物件3〇〇、4的 二H中之至少—者之層間耐壓值時,電力供應單元5 所供應之檢測電力必須為直流電。 舉凡在所述技術領域中具有通常知識者皆能輕 本發明第二實施例中,由於更進一步將層間耐 壓核測皁元9,内建於主檢測裝置D1中;因此,只需要 部主檢測裝置D1即可對待測物件3〇〇、4〇〇與5〇〇 之至少一者切換進行阻抗值、耐壓值或層間耐壓值等檢 15 1364545 ^顯而易見地,本發明確實不僅可有效節省檢測 本身所佔用的空間,藉以節省空間成本;更重要的 本發明更可節省搭接待測物件所需之時間與人力,因此 y進一步有效節省進行上述三項檢測所需之 力成本。 ^八 藉由上述之本發明實施例可知,本發明確具產業 亡之利用價值。惟以上之實施例說明,僅為本^明之 =佳實施例說明,舉凡所屬技術領域中具有通常知識 考當可依據本發明之上述實施例說明而作其它種種 之改良及变化。然而這些依據本發明實施例所作的種 ,改良及變化,當仍屬於本發明之發明精神及界定之 專利範圍内。 【圖式簡單說明】 第一圖係顯示在習知技術中對一待測物件進行阻抗、耐 壓以及層間耐壓等檢測之檢測技術; 第二圖係顯示本發明第—實施例之電路功能方塊示意 圖, 第三圖係顯示本發明第一實施例之第一部分電路圖; 第四圖係顯示本發明第一實施例之第二部分電路圖; 第五圖係顯示本發明第一實施例對具高阻抗之待測物 件進行阻抗值檢測之方式; 第六圖係顯示本發明第一實施例對具低阻抗之待測物 件進行阻抗值檢測之方式; 第七圖係顯示本發明第一實施例對待測物件進行耐壓 值檢測之方式; 16 1364545 5 電力供應單元 6 電力輸出切換電路 S601 (高壓輸出控制)切換開關 S602 (低壓輸出控制)切換開關 S603〜S618 切換開關 ; J621 〜J628 輸出端子 J629 低壓端子 7 共用檢知單元 71 分壓器 72 阻抗檢知器 73 電流檢知器 74 類比/數位轉換器 8 阻抗檢測迴路 81 阻抗信號源 9 > 9, 層間财塵檢測單元 91 人機介面 92 微處理控制器 93 直流電力供應單元 94、91, 儲能元件 95、92, 取樣元件 96、93, 測試波形記錄元件 97、94, 放電開關 18 1364545 D1 主檢測裝置 D2 外接檢測裝置 CPI、CP2 連接介面
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Claims (1)
1364545 抑年’1月z日修正本i ______ 十、申請專利範圚·· -種切換式檢測系統 值與一耐顧,並且包含:少—待測物件之一阻抗 一電力供應單元,係提供—檢測電力; -檢測項目_電路,係電
測物传,勺八 、於该電力供應單元與該待 至:件包含-檢測項目切換開關,更包含: 開闕,係電性連通該電力供應單元;以及 至夕一低壓_,係電性連通該電力供應單元; :广迴路’峨於該檢測項目切換電路;以及 7理單元,係分別電性連通於該電力供應單元與該檢測 項目切換電路; 其I,顧微處理單元接收一操作信號後,當該操作信號係 厂表檢翁阻抗斜’賴處理單元係傳送出—切換信號 以接通(Switch 0n)該檢測項目切換_,使該阻抗檢 測迴路與該待測物件電性連通,藉以檢測該阻抗值;當該 操作信號係代表檢繼_值時,該微處理單元係傳送出 k刀換彳。號以切辦(Switch 〇ff)該檢測項目切換開關, 使該檢測電力,經由該檢測項目切換開關而傳送至該待測 物件,藉以檢測該耐壓值;當該待測物件之該阻抗值低於 一臨界測試值時’該切換信號係接通上述至少一高壓開關 20 之一者,亚且同時接通上述至少—低壓開财之一者。 2·如申請專利範圍第〗項所述之切換式檢測系統,更包含一帝 力輸出切換電路,該電力輸出切換電路係分別電性連通該: 測項目切換電路與該待測物件,並且包含: 魏個輸㈣子,係_接於該待測物件;以及 • 複數個切換開關,係兩兩輕接於上述複數個輸出端子。 3.如申請專利範圍第〗項所述之切換式檢測系統,更包含一人 機介面’該人機介面係耦接於該微處理單元,以供至少一使 用者將該操作信號輸入至該微處理單元。 4. 如申請專利範圍第1項所述之切換式檢測系統,更包含一層 啊壓檢測單元,該層間耐壓檢測單元係電性連通該檢測項 目切換電路,藉⑽換檢繼酬物件之—賴耐壓值。 5. 如申請專利範圍第4項所述之切換式檢測系統,其中,該檢 測項目切換電路更包含至少一層間耐屢控制開關,且該層間 耐[控制開關係分別電性連通於該層間耐壓檢測單元與該 待測當該操作信號係代表檢測該層間财壓值時,該微 處理單凡知傳送出該切換信號以切斷(Switch Off)該檢測 、、销並接通(Switch 〇n)該層間对壓控制開關, 21 U64-545 件,藉以檢測該 鱗測物件, 6.如申請專利範圍第5項所述 / 性連通於該微處理單元之第—連接⑽更包含一電 -連接:::圍弟6項所述之切換式檢測系統,其中,該第 遷接,丨面係一RS232連接埠。 8. 如申睛專利範圍第6項所述之切拖 間耐麵測單元更包含檢測系統,其中,該層 传雷m 接細,且該第二連接介面 糸電性連通於該第-連接介面。 9.t申物範_項所述之切換式檢測系統,其中,該第 一連接介面係一RS232連接埠。 如月專利軌圍第i項所述之切換式檢測系統,更包含一共 用仏知早疋,且該共用檢知單元係輕接於該檢測項目切換電 路…織處理單凡’藉雜據賴作錢*切碰知該阻抗 值與該耐麗值。 其中,該 U.如申請專利範圍第1G項所述之切換式檢測系統, 22 1364545 12 :申請專_第1G項所述之切換式_統,其中,該 “用檢知單元包含—電流檢 —恭、、 稭以心知—電流值,並以 电々IL榀知k號將該電流值傳送 出該_值。 U錢處理以,據以計算
13.如申請專利範圍第 抗檢測迴路包含一 測該阻抗值。 1項所述之切換式檢_統,其中,該阻 阻抗信號源,H崎卽—阻抗信號來檢
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