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Description
1309340 五、發明說明* 【技術領域】 ^發明與活化能量線性組成物及使用該活化能量線性 組\勿之圖案形成方法有關’尤其與有用於電子裝置之電 路形成、印刷用材料等之正型(posi ti ve)圖案之形成方法 有關。 【習用技術】 電子裝置等之電路圖案形成現在廣汎使用正型光阻 (〇r抗光)钱刻劑(膜)(photoresist)。使用於此等用途之 正型光阻餘刻組成物多為鹼溶性清漆酚醛(n〇v〇丨ac )樹脂 與醒二疊氮化合物感光劑之組合。 此組成物係利用苯醌二疊氮基受紫外光線照射引起光 为解’再經乙烯嗣而形成幾坏酸(indene carboxylic acid)之反應。但使用此醌二疊氮化合物之抗光蝕劑(膜) 在須要形成極精密圖案時會有析像度不足之情形。電子裝 置等之電路圖案形成現在廣汎使用正型光阻(〇r抗光)蝕刻 劑(膜)(photoresist)。使用於此等用途之正型光阻蝕刻 組成物多為鹼溶性清漆酚醛(novolac)樹脂與醌二疊氮化 合物感光劑之組合。 此組成物係利用苯醌二疊氮基受紫外光線照射引起光 分解,再經乙稀嗣而形成β竣酸(indene carboxylic a c i d)之反應。但使用此酸二疊氮化合物之抗光姓劑(膜) 在須要形成極精密圖案時會有析像度不足之情形。 另一方面,日本公開專利公報第平6 _ 295 064號提示 由含羧基之聚合物、1分子中含2個以上乙烯鰱基之化合
第7頁 1309340 五、發明說明(2) 物、及因照射活化月b里線而產生酸之化合物等形成之感光 性組成物。由該組成物形成之塗膜因加熱(第丨次加熱)引 起叛基與乙烯醚基之加成反應使多元羧酸樹脂交聯而'不溶 於溶劑或鹼性水溶液,其次照射活化能量線後加熱(第2次 加熱)時’因照射活化能量線產生之酸之催化作用而切斷 交聯構造’使塗膜照射部分再度可溶於溶劑或鹼性水溶 液,將該照射部分以顯影(〇 r顯像)去除即可形成光阻圖 案。 上述以多元羧酸樹脂、多官能團乙烯醚基化合物、及 照射活化能量線產生酸、以加熱形成電路圖案之方法,基 本上能滿足最近之極微細電路圖案形成之需要。但以活化 能量線照射後欲切斷照射部分之交聯構造時加熱步驟為必 須’加熱條件須要6〇 t〜150 °C、10〜60分鐘。增加此種 加熱條件(第2次加熱)可能產生圖案製造步驟之製造速度 減低及南溫加熱使基板變形等問題。又照射光(活化能量 線)產生之酸成分因第2次加熱而擴散於光阻膜中而有無法 獲得析像性優異之光阻膜之問題。 【發明概述】 本發明之目的在於提供照射活化能量線後不需以高溫 條件加熱即可形成靈敏度及析像度優異且安定之正型光阻 圖案之活化能量線性組成物及使用該組成物之圖案形成方 法。 為解決上述課題,經本發明者等專心研究結果,獲知 使用以特定之含乙烯醚基化合物及含特定量羧基及/或
第8頁 1309340 五、發明說明(3) 笔本基且具特疋數平均分子量(number average molecular weight)及玻璃轉脆溫度之聚合物為必要成分 之活化能量線性組成物,於照射活化能量線後不需以6 〇 以上高溫第2次加熱處理即可形成靈敏度及析像度優異且 安定之正型光阻圖案乃完成本發明。 亦即本發明為有關於: (1) 一種活化能量線性組成物,其特徵為含有下列(A)、 (B)為其必要成分: ^Α)為一種含乙烯醚基化合物,由下列一般式(1)代表之 (單)乙烯醚化合物及下列一般式(2)代表之聚乙烯醚化合 物所組成群中至少選取1種。 以下列一般式(1 )代表之(單)乙烯醚化合物
h2c=c-o-r (式中R為結合於醚鍵之R之第1個原子為第2級碳原子 或第3級碳原子之烴鍵、環狀碳原子構造、組合環狀碳原 子,造與烴鍵之結合、及雜環狀芳香族構造、或組合雜環 狀芳香族構造與烴鍵之結合。)及 以下列一般式(2 )代表之聚乙烯醚化合物
1309340 五、發明說明(4) [式中R1為環狀碳原子構造、組合環狀碳原子構造與 煙鍵之結合、環狀芳香族構造、雜環狀芳香族構造、組合 環狀芳香族構造與煙鍵之結合、組合雜環狀芳香族構造與 烴鍵之結合、及1〜24個碳原子數之烴鍵,A1、A2為以下式 (a )代表之基 R5 R3 Ό- R4 R2 O-C=CH,
(式(a )中R2各別為可具有環狀碳原子構造、芳香族、雜環 狀構造之1〜2 4個碳原子數之1價烴基,至少其取代位置之 凡素為碳原子;R3、R4、R5各別為獨立之可具有環狀碳原 I構造、芳香族、雜環狀構造之i〜24個碳原子數之i價烴 f或氫原子,(1為0或1。但以為】〜^個碳原子數之烴鍵 L >iA1、a2之q均為1,為〇時^或舻之結合位置之ri原子 為第2級碳原子或第3級碳原子。) A3為以下式(b)代表之基
R5 R3 I I Η —〇—宁〇—C=CH2 (b) R4 R2
第10頁 1309340 五、發明說明(5) 0〜2之整數。] (B)為一種聚合物,由下列聚合物(a)〜(c)所組成群中 至少選取1種。 聚合物(a):每lkg聚合物含有〇.5〜1〇當量之羧基且里有 3000〜1〇〇〇〇〇範圍内之數平均分子量及〇 t以上之玻璃轉 脆溫度, 聚合物(b) : Sikg聚合物含有當量之羥苯基且具有 5 0 0〜1 0 000 0範圍内之數平均分子量及〇 t以上之玻璃轉脆 溫度,及 聚合物(c):每lkg聚合物含有0.2〜2〇當量之雜装美盥翔 基且具有3_〜範圍内之數平 之玻璃轉脆溫度。 (2) 如同(1)之活化能量線性組成物,其中之含乙烯醚基化 合物(A)為環己基乙烯醚。 (3) 如同(1)之活化能量線性組成物’其中之含乙烯醚基化 合物(A)為以下式代表之聚乙烯醚化合物
(4)如同(1 )之活化能量線性組成物,其中之含乙埽醚基化 合物(A)為以下式代表之聚乙烯醚化合物
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五、發明說明(6)
H2C=C HC— 0—CH HC—CH .
\ / \ / C—C C——C H2 h2 h2 h2 (5) 如同(1)〜(4)之任一種活化能量線性組成物, 光(致)酸發生劑化合物(c)。 s (6) 如同(5)之活化能量線性組成物,對聚合物(b)i〇〇 份含有含乙烯醚基化合物(A)5〜150重量份,對聚合 與含乙烯醚基化合物(A)之合計量100重量份含 發生劑化合物(C)〇〜4〇重量份。 (7) —種圖案形成方法,其特徵為依序進行:塗佈上述活 化能量線性組成物於基板之步驟,加熱該基板之步驟昭 J活化能量線以形成圖案狀之步,驟,照射後不加埶或以6〇 C以一下溫度加熱處理之步驟,以鹼性顯像液顯像之步驟。 (8) —種圖案形成方法,其特徵為依序進行:塗佈上述活 化能量線性組成物於可以透過活化能量線之透明支持薄膜 i始ΐ ΐ燥形成活化能量線性組成物塗膜層以形成活化能 纽ϊί膜之步驟,壓黏該光阻乾膜之活化能量線性 2物塗膜層於形成圖案之基板上之步驟,加熱該基板之 二圓安f上Ϊ支持薄膜照射活化能量線於上述塗膜層以形 理之步驟,剝離上;ϊ ί: 或6〇。以下溫度加熱處 上述支持薄膜後以鹼性顯像液顯像之步 (9) -種圖案形成方法’其特徵為依序進行:塗佈上述活
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五、發明說明(7) 化能量線性組成物於轉印薄膜上、使乾燥形成活化能量線 性組成物塗膜層以形成光阻轉印薄膜之步驟,壓黏該光陡 轉印溥膜之活化能量線性組成物塗膜層於形成圖案之基板 上之步驟’加熱該基板之步驟,剝離上述轉印薄膜之步 驟,照射活化能量線於塗膜層以形成圖案狀之步驟,照射 後不加熱或以6 0 C以下溫度加熱處理之步驟,以鹼性顯俊 液顯像之步驟。 【實施發明之最佳形態】 以下詳細說明本發明。 首先說明本發明之組成物。 含乙嫌鍵基化合铷γα): 本發明之組成物之必要成分含乙烯醚基化合物(A)為 乙稀喊基與第2級碳原子或第3級碳原子結合之化合物,尤 其最好為以下列一般式(i )代表之單乙烯醚化合物 H2c=c—〇-R (1)
(式。中R為結合於醚鍵之R之第1個原子為第2級碳原子或第3 級石发原子之烴鍵、環狀碳原子構造、組合環狀碳原子構造 與煙鍵之結合、及雜環狀芳香族構造、或組合雜環狀芳香 族構造與烴鍵之結合。)或以下列一般式(2 )代表之聚乙 歸峻化合物之任一種含乙烯醚基化合物 A3 (2) A1——R1——A2
第13頁 1309340 五、發明說明(8) 烴鍵之"社中R1為環狀碳原子構造、組合環狀碳原子構造與 i狀芳:ί、環狀芳香族構造、雜環狀芳香族構造、組合 烴鍵之沾入構造與烴鍵之結合、組合雜環狀芳香族構造與 Ca)抑主〇 S、及1〜24個碳原子數之烴鍵,A1、Α2為以下式 R5 R3 (a) Ό-十-十- R4 R2 (式(a)中R2各別為可具有環狀碳原子構造、芳香族、雜環 狀構造之1〜24個碳原子數之i價烴基,至少其取代位置之 元素為碳,子;R3、R4、Rs各別為獨立之可具有環狀碳原 子構,、芳香族、雜環狀構造〜24個碳原子數之】價烴 基或氫原子,q為0或1 ^但…為i〜2 4個碳原子數之烴鍵 時,A1、A2之q均為1,如〇為〇時…或…之結合位置之R1原子 為第2級碳原子或第3級破原子。) A3為以下式(b)代表之基
R5 R3 η · I Η —〇-C-(j:—〇-〇=CH2 (b) R4 R2 (式(b)中之R2〜R5如同式(a)中之r2〜r5所定義。)p為 0〜2之整數。]
第14頁 1309340 五、發明說明(9) 於一般式(1)以R代表w A 1田丁甘! « 表之煙基可舉例如異丙基、1~甲兩 基、1-甲丁基、1-甲戊基 ,甲丙 基、卜甲癸基、卜甲十 甲己基、卜甲庚基、1-甲辛 ^ 况基、乙丙基、1-乙丁其 t 乙戊基、卜乙己基、1-乙庵Α 1内丞 乙丁基、1~ u次基、1-乙辛基、1-乙癸其 , 乙十一烧基、或叙丁基、 ,! - « , . , , 1,卜二曱丙基、1,1-二甲 丁基、 ,一甲戊基、1,卜—甲己基、J,卜二甲庚基q,卜一 二癸基、1,1〜二甲十二烧基等具有第2級碳 原子或第3級碳原子之基。 Ί 環狀碳原子構造可舉你丨 環己基、環庚基等。例如%丙基、環丁基、環戊基、 類 類 類 類 芳香族雜環狀構造可包含„比喃類、料類(,比 pyrone)、吡咯類、吡咯咁類、吡咯啶類(〇r四氫吡 pyrrolidine)、咪唑咁類、咪唑啶類(〇r四氫咪唑 lmidazolidine)、吡唑啶類(pyraz〇lidine)、。底啶 °辰π秦類、嗎咐類、q ^朵滿類、色滿類等。 —又亦可為組合上述環狀碳原子構造與烴基之結合 σ芳香族雜環狀構造與烴基之結合。但乙烯醚基之結^^ 置均為第2級碳原子或第3級碳原子。 α α立 其中以環狀碳原子構造較好’尤其環己基較好。 於一般式(2)以R2、R3、R4代表之1〜24個碳原子 之1價烴基可舉例如曱基、乙基、丙基、丁基、戊基、 基、辛基、癸基、十二烷基等。此等基可為直鏈狀或分 狀。環狀碳原子構造包含環己基、苯基等。雜環狀構S β 包含。比喃類、哌噚類、吡咯類、吡咯咁類、吡略燒類k 4
第15頁 1309340 五、發明說明(ίο) β坐13林類、p米β坐α定類、。比β坐咬類、°底咬類、旅σ秦類、嗎0林 類、4哚滿類、色滿類等。 又於一般式(2 ),R1之環狀碳原子構造包含環己基、 苯基等。又組合環狀碳原子構造與烴鍵之結合包含雙酚殘 基。雜環狀構造可包含°比喃類、°底D弄類、。比α各類、。比Β各口林 類、《比η各烧類、味。坐σ秫類、β米峻咬類、。比唾σ定類、σ底唆 類、°底ρ秦類、嗎ρ林類、°5丨°果滿類、色滿類等。 但R1為1〜2 4個碳原子數之烴鍵時,A1、Α2之q均為1, 如q為0時A1或A2之結合位置之R1原子為第2級碳原子或第3 級礙原子。 一般式(2)之化合物可舉例如下列化合物。
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lliiilii 第17頁 1309340 五、發明說明(12) H.C=C | H, h2 ; C— -c CH, t 3 c—c \ / \ / \ 0——CH HC- 一 C—CH HC—O \ / I \ / \ C— -c ch3 c—c c: ^2 H2 H2 h2 h :CH。
l+2C=:C c2-c2
O—CH HC—CH HC—O
聚合物(B): (a)含有羧基之聚合物: 為1分子中至少含1個羧基之薄膜形成性聚合物,可舉 例如含有羧基之聚合性不飽和單體之單一聚合物,該含有 羧基之單體與其他可共聚單體之共聚合物,分子鏈中或分 子末端具有羧基之聚酯類、聚胺酯類、聚醯胺類等樹脂 等。
上述含有羧基之聚合性不飽和單體可舉例如丙烯酸、 甲基丙稀酸、巴豆酸、伊康酸(or分解烏頭酸)等;又與此 等含有羧基之單體可共聚之其他單體可舉例如(曱基)丙烯 酸甲酯、(曱基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、(甲基) 丙烯酸丁酯、(甲基)丙烯酸己酯、(甲基)丙烯酸辛酯、
第18頁 1309340 五、發明說明(13) (甲基)丙稀酸2〜乙己酯、(甲其 酸癸醋等(甲基)丙婦酸#〜酸ϋ、(曱基)兩稀 (甲基)丙稀酸經丁,等(V基)(丙甲稀基:=^^ 乙烯、α-甲基笨乙烯、對第三嫌^麵烷s曰;= 化合物;乙酸乙烯、广田且、工! "·本乙烯荨乙烯芳香族 烯吡,各烷酮等,此#<如、(甲基)丙烯醯胺、乙 使用。尤其使/早體可單獨使用或亦可2種以上組合 苯乙稀(如對第:丁乙美稀;ϋ基苯乙nc6烷基取代 種單體時,所“化合物為第2 合。 之I像圖案在精確性、耐蝕性方面較適 聚合物(a)最好具有約3000〜約100000、尤 〜約30 0 00範圍内之费承祕八工曰 尤其約30 00 11^聚合物含〇,5〜1()^#均7;:^;而幾基含量最好為每 含量小於0 5”,广^ 〜5當量範圍内。羧基 薄膜交聯度不\ / 、’,在照射活化光線前加熱形成之 又 刀,且曝光部對驗性顯影劑之溶解度低而 有顯像性降低趨勢,另—方面,如超⑽當量=度低而 組成物之貯存安定性有減低趨勢。 , 又聚合物(a)之玻璃轉脆溫度(Tg)以〇 t以上、尤其5 〜70 °C範圍内較好。Tg未達〇它時塗膜表現黏著性,容易 附著灰塵而較難操作。 .00含_支皇笨某之-厶物: 為1分子中至少含1個羥苯基之聚合物,可舉例如一官 旎性或多官能性苯酚化合物,烷基苯酚化合物或其混合物 1309340 五、發明說明(14) --—- 與甲醛,丙酮等羰基化合物之縮合(〇r縮聚)物,對羥基笨 乙烯,含羥基乙烯芳香族化合物之單一聚合物,該含羥基 乙烯芳香族化合物與其他可能共聚單體之共聚合物等。 上述一官能性或多官能性苯酚化合物可舉例如苯酚、 鄰甲酚、間甲酚、對甲酚、3,卜二曱苯酚、2, 6—二曱苯 盼/ 2, ^_„二甲笨酚、鄰苯二酚、間苯二酚、苯三酚、雙酚 A等在苯環上具有1〜3個羥基之化合物,而烷基苯酚化合 ,可舉例如,異丙基苯酚、對第三丁基苯酚、對第三戊基 苯酚、對第三辛基苯酚等個碳原子數之烷基、尤其1 〜4個碳原子數之烷基苯酚化合物。 ***均分子4。聚合物(b)之經 銘囹含U 0〜10當量、尤其2. 0〜8當量 乂 口、 °赵苯基含量小於1. 0當量/ kg時,在照射
1309340 五、發明說明(15) 活化光線前加熱形成之薄膜交聯度 量/ kg時,抗蝕膜較易脆化。X不充为,而如超過ίο當 又聚合物(b)與聚合物(0相 以0。。以上、ϋ其5〜70。。範圍内較好其脆溫度(Tg) 表現黏著性,容易附著灰塵而較_ Tg未達0 C時塗膜 1^1含有羧基與|苯基之聚^^ 為1分子中至少含1個羧基盥麵 物,可舉例如對經基笨乙晞等經基;形成性聚合 性不飽和單體之共聚合物;羥基笨 7 /、3羧基之聚合 其他可能共聚單體之共聚合物。 與該含羧基單體及 上述含叛基之聚合性不飽和單艚 基丙烯酸、巴豆酸、伊康酸等. +例如丙烯酸、甲 體可舉例如(甲基)丙歸酸甲酉旨’ 1可能共聚之其他單 J)两歸酸丙醋、(甲基)丙烯酸丁能基=酸乙醋酸』甲 丙埽酸壬其“、(甲基)丙歸酸2-乙己酿、(甲基) 燒酉旨·(甲νΛ :西丙騎癸醋等(甲基)丙稀酸之G A (甲基’Λ 乙酯、(甲基)丙埽酸2-經丙醋、 稀酸@(f基 > ㈣酸經丁酿等(甲基)丙 基苯己烯蓉r掄菩意/ 基笨乙烯、對第三丁 晴、化合物;乙酸乙烯、(甲基)丙稀 使用赤:)丙烯醯胺、乙烯哌咯烷_等,此等單體可單獨 甲駿3亦可2種以上紐合使用。又Μ基笨甲酸、三經基笨 由I於一备基苯甲酸等苯紛破酸類,或此等苯紛碳酸類與 紛、碳原子數1〜18之料基笨H院基苯盼 '或
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篇紛,]間笨二紛、鄰苯二酚等中選取1種或2種以上苯酚 類之二^物與甲酸縮合所得聚合物當做聚合物(A,)使用。 聚合物(c)最好具有約5 00〜約1 00000、尤其約1 50 0〜 約3000 0範圍内之數平均分子量。羧基含量最好為每1kg聚 =含〇.巧0當量、尤其0.5〜5當量範圍内,^苯g基聚 ^蓋最好為母1kg聚合物含1.〇〜1〇當量、尤其2.0〜§當量 ϊ?::羧基含量小於〇.5當量/ kg時,在照射活化光線 月J於二=成之溥膜父聯度不充分,且曝光部對鹼性顯影劑 之浴解度低而有顯像性降低趨勢,另一方面,如超過丨0當 量/ kg時,組成物之貯存安定性有減低趨勢。另外,如田 =基含量小於U當量/ kg,則交聯時之交聯度可能不 又聚合物(c)之玻璃轉脆溫度(Tg)以〇 t以上、尤其5 較好。Tg未達代時塗膜表現黏著性,容易 附著灰塵而較難操作。 立酸發生劑彳卜,a物(c): 八照射活化能量線而產生酸之化合物(c)為能夠產生 分強度之酸以切斷如後述因照射活化能量線而分 2(匕與化合物(A)形成之交聯構造之化合物"下有時 稱為光(致)酸發生化合物』),可使用向來習知者。 &使用為該光(致)酸發生劑之化合物及混合物可舉 重氮鹽、鱗鹽、錡鹽及碘鹽;鹵素化合物;有機金屬/ 有機齒素之組合;強酸,如甲苯磺酸之安息香(〇r笨偶 因、benzoin)與鄰硝基苄_ ;及美國專利第4,371,6〇5鞔
第22頁 1309340 五、發明說明(17) s己載之N -經基醯胺績酸酯與N-經基醯亞胺續酸醋。稀丙基 奈醒.一疊氣_ 4 _靖酸S旨類亦包含在内。較適合之光(致)增 溶劑為二芳基碘鹽或三芳基銃鹽。此等通常以複合金金屬 鹵素化物之鹽之狀態存在’如四氟硼酸鹽、六氟綈酸鹽、 六氟坤酸鹽、六氟碟酸鹽等。表現感光性之其他酸發生劑 尚包含付加成具芳香族繙酸發生劑之負離子基為正相對離 子(counter ion)之低聚物類與聚合物類。該聚合物類之 例包含美國專利第4,661,429號第9段第1-68行及第1〇段第 1-14行(在本發明列入參考文獻)所敘述之聚合物類。為調 整對化學放射線之可能利用波長之光譜感度為目的,此系 統最好添加敏化劑(or增感劑)。此必要性依系統要求及所 使用特定感光性化合物而定。例如只回應3〇 〇ηπι以下波長 之填鹽及鈒鹽時’可使用二苯基酮及其衍生物、多環狀芳 香知經類如二苯併蔥(ΟΓ二篇叙苯、perylene)、祐(〇r嵌 二葚、pyrene)、葱(anthracene)及其衍生物等而能對較 長波長感光。二芳基碘鹽或三芳基鏽鹽之分解亦可由雙一 (對- N,N二甲胺基亞苄基)-丙酮賦予感光性。結合於具有3 〜4個原子鏈之蔥之錡鹽為有效光(致)增溶劑。敘述於 M.G.Tilley 博士論文、North Dakota State University, Fargo,ND(1988) [Diss.Abstr.Int.B,49,87991 (1989); Chem_Abstr.,ill, 39942u]之化合物亦為適合之光(致) 增溶劑。其他適合之酸發生劑為ATASS,即六氟銻酸 3 -( 9 -蔥基)丙二笨基銃酯。 此化合物為蔥與鎞鹽由3個碳原子所成之鏈鍵結合。
第23頁 1309340 五、發明說明(18) ί二H用為酸發生劑之追加例如甲苯續酸二苯㈣、甲 =酸本偶因_、及六氣録酸三芳基㈣。又除上 甲 亦::用鐵—重烯複合物類、釘〜重烯複合物 = ::(Chelate)複合物類、三嗔化合物類、Si ==類、她類、績酸醯亞胺,類、齒素化合: 類荨。再如日本公開專利公報第平7_ 1 46 5 52號、第平9 ,18號記載之酸發生劑亦可使用。光(致)酸發生 二比例為對化合物(A)與聚合物(B)之合 重量份、尤其約。.2〜2◦重量份心^ 將上if二:Ϊ :之正型感,舌化能量線性樹脂組成物可使用 ^ ^述各成/刀为散或溶解於有機溶劑(使用顏料為著色劑 柃則將顏料微分散)而成之有機溶劑類樹脂組成物。 (A) 分, 但-用5 本發明之組成物為如上述含有含乙烯醚基化合物 聚合物(Β)、及依需要(〇光(致)g楚發生化合物等3成 其配合比例可因應該組成物用途而在廣範圍内改變, 般以含乙烯醚基化合物(A)對聚合物(B)1〇〇重量份使 重1份、尤其10〜100重量份之範圍内較好,而 (乂光(致)酸發生化合物則㈣聚合物⑻與含乙烯醚基化 之合計100重量份最好以〇〜4〇重量份、尤其〇.2〜 2 〇重1份之範圍内使用。 本發明之 '组成物可依冑要配合增感色素(〇r敏化染 枓)j使用之增感色素可舉例如吩嗔鳴類、蔥類、謹類 军本、C〇r〇nene)、苯併蔥類、二苯併蔥類、 青類、香豆酮類等。
1309340 五、發明說明(19) 此等增感色 0 . 1〜1 0重量部 本發明之組 劑以無色染料與 (4-二甲胺基-2-胺基-2-曱苯基) 舉例如戊基演、 基溴化曱酯、溴 碳、三(2,3 -二 $ 戊基碘、1,1 , 1-等。亦可含有以 本發明之組 脂、丙烯酸樹脂 性於所形成之薄 乙稀趟基化合物 再者,本發 本發明之組 溶劑中混合調製 之各成分則無特 環己酮、異佛爾 酯等S旨類,甲醇 類,节醇等含芳 等甘醇類與甲醇 等之單或二乙_ 素之配合量為對(B)聚合物1〇〇重量部使用 尤其0.3〜5重量部之範圍内較好。 成物可依需要配合著色劑,可使用之著色 鹵素化合物之組合為習知。無色染料如三 甲苯基)曱烷『無色結晶紫』、三(4-二甲 甲烷『無色孔雀石綠』等。鹵素化合物可 異戊基溴、溴化異丁烯、溴化乙烯、二笨 甲苯、二溴甲烷、三溴苯二曱颯、四溴化 I丙基)璘酸醋、三氯乙醯胺、戊基峨、異 三氯-2, 2-雙(對氣苯基)乙烷、六氣乙烷 上例舉以外之著色劑。 成物可添加鄰苯甲酸酯等可塑劑、聚酯樹 等’以賦予適當可撓性(〇r彎曲性)及不黏 膜。其添加量一般為對(^)聚合物與(^)含 之合計1 0 0重量部最好5 〇重量部以下。 ,,* η ,"IL 〜|工 即剛 0 成物可將上述各成分直接調製或依需要在 別=ί可使用之溶劑只要能夠溶解組成物 例如丙酮、甲乙酮、甲異丁晒、 類,乙酸"旨、乙酸乙酿、乙酸丁 乙醇、丙醇等1〜;10碳 香族醇類,乙-痕屯 肪族醇 或該單鱗之類等甘醇_類,二4燒本= 1309340 環狀碳酸 要可單獨 醚基結合 羥苯基與 射光線產 斷,因此 依序進 ’加熱該 驟,照射 驗性顯像 五、發明說明(20) 氫呋喃等環狀醚類,碳酸 酯類,脂肪族及芳香族煙 或2種以上混合使用。 又本發明之特徵為含 位置為第2級或第3級碳原 乙烯越基加成反應形成之 生之酸而以6 0 t:以下加熱 形成靈敏度及析像度優異 其次說明本發明之圖 圖案形成方法1 : 為本發明之圖案形成 行:塗佈上述活化能量線 基板之步驟,照射活化能 後不加熱或以6 0 °C以下溫 液顯像之步驟等即可形成 _圖案形成方法2 : 為本發明之圖案形成 行:塗佈上述活化能量線 之透明支持薄膜上、使乾 層以形成活化能量線性光 之活化能量線性組成物塗 驟,加熱該基板之步驟, 於上述塗膜層以形成圖案 °C以下溫度加熱處理之步 乙二酯、碳酸丙二酯等 類等等。此等溶劑依需 乙烯醚基化合物之乙烯 子。此結果,由叛基或 交聯構造,因曝光或照 溫度或不加熱即容易切 之抗蝕圖案。 案形成方法。 方法之一種實施形態, 性組成物於基板之步驟 量線以形成圖案狀之步 度加熱處理之步驟,以 所希望之圖案。 方法之另一種實施形態 性組成物於可以透過活 燥形成活化能量線性組 阻乾膜之步驟,壓黏該 膜層於形成圖案之基板 經上述支持薄膜照射活 狀之步驟,照射後不加 驟,剝離上述支持薄膜 ,依序進 化能量線 成物塗膜 光阻乾膜 上之步 化能量線 熱或以6 0 後以鹼性
第26頁 1309340 五、發明說明(21) 顯像液顯像之步驟等即可形成所希望之圖案。 圖案形成: 為本發明之圖案形成方法之再另一種實施形態,依序 進行:塗佈上述活化能量線性組成物於轉印薄膜=、使乾 燥形成活化能量線性組成物塗膜層以形成光阻轉印薄膜^ 步驟’壓黏該光阻轉印薄膜之活化能量線性組成物塗膜層 於形成圖案之基板上之步驟,加熱該基板之步驟,剝離上 述轉印薄膜之步驟,照射活化能量線於塗膜層以形成圖案 狀之步驟,照射後不加熱或以6 0 °C以下溫度加熱處理之^ 驟,以鹼性顯像液顯像之步驟等即可形成所希望之圖案。 以下說明上述圖案形成方法1〜3中敘述之各步驟^斤使 用物品及方法。 塗佈活化能量線性組成物之基板或壓黏光阻乾膜或光 阻轉印薄膜之基板’例如使用銅箔疊層基板。 塗佈活化能量線性組成物於基板或後述之支持膜之方 法,例如可用滾筒、輥塗機、轉塗機、幕塗機、喷霧(〇r 喷塗機)、靜電塗漆、浸潰塗漆、絲網印刷、旋轉塗漆等 方法塗佈。 塗佈活化能量線性組成物之基板或支持膜之加熱條件 為於熱風乾燥爐以60 C〜150 、5分鐘〜1小時,最好80 °C〜120 °C、1〇分鐘〜30分鐘進行塗膜層之形成。 照射活化能直線使形成圖案之活化能量線光源可使用 習用之例如由超南壓水銀燈、高壓水銀燈、中壓水銀燈、 低壓水銀燈、化學燈、碳藏燈、氙氣燈、齒化金屬燈、螢
麵 第27百 1309340 五、發明說明(22) ί f1絲燈、太陽光等各種光源所得光線以紫外線濾光 1务外線濾、除之可見範圍光線或在可見範圍具有振盈線 ,發f雷射光(〇Γ激光)。輸出功率高且安定之雷射光源以 風雷射光或YAG雷射光之第二高次諧波(532nm)較好。 。液$顯像處理例如將顯像液以約1 〇 t〜8〇 °c、最好j 5 L:50。。之液溫噴霧或浸潰約1〇秒鐘〜60分鐘、最好約3〇 ^。3 G》-’即可在活化能量線性組成物塗膜層形成圖 驗性顯像液可舉例如甲胺、二甲胺、三甲胺、乙胺、 胺、異丙胺、二異丙胺、三異丙㉟、丁胺、 :::基2胺:t乙醇胺、三乙醇胺、甲胺基乙醇、 知、氣水、氫氧化鈉、氫氧化鉀、矽酸鈉、石夕 -文鉀、衩酸鈉、氫氧化四乙銨等之水性液。 過、'舌之,案形成方法(2)使用為光阻乾膜之可透 等:化肊罝線之透明支持膜使用對苯二▼酸聚乙二醇酯 壓黏該光阻乾膜之活化能量線性組成物塗膜戶於形成 著。圆茶之土板上之方法如以3。c〜12〇t溫度加壓黏 轉印Ϊ = 3案形成方法⑴使用為光阻轉印薄膜之 轉Ρ溥膜可舉例如對苯二曱酸聚乙二醇酯等。 美板ίίΠ:且轉印薄膜之活化能量線二组成物塗膜層於 土板上之方法如以3〇 t〜12(rc溫度加壓黏著。 又於圖案形成方法(2)、⑻光阻薄膜壓黏步驟與基 第28頁 1309340 五、發明說明(23) 板加熱步驟可分開進行或如上述與壓黏同時進行。 黑本發,之組成物可使用於習知之感光性材料如塗料、 印II ί著劑、抗(耐)蝕材料、印刷版材料(平版及凸版 ^ Si材料、膠印印刷用PS版等),資訊記錄材料, 子彫像製作材料等廣汎用途。 制而Ϊ Ϊ ^之方法只要包含上述各步驟者則其用途並無限 關、業I;別舉例如電氣零件相關、照明相 信號相關;1、丄響:關、控制相㈣、自動販售相關、 化學相關、高二無機化學相關、有機 金、纖維類.八 1、&金相關、纖維等化學、冶 相關、印刷相;、容;::關、金屬加工相關、塑性加工 農水產相關、食° =、包裝相關等處理、運輸類; 康、娛樂相心二:Γ相關、家庭用品相關、健 上述之機械工學類等等。 (bui lt〜u )軋類…底絕緣薄膜形成方法、組合法 方法、顯矛P絕緣薄膜形成方法、耐焊劑絕緣薄膜形成 法、濾色器之著色絕缓镇2方法、顯不面板之黑帶形成方 雷射照相圖案、CD錄、立母恶形成方法、顯示面板螢光體、 工、軟性場碟片::、線圈等;物理類如光纖加 等;化學、冶金、上光學零件、電波吸收體 、’維類,如無機玻璃、水泥、陶瓷之絕 1309340 五、發明說明(24) 緣體等;4王里、運輸類如印刷品、印刷原版、繞射光柵、 打印、條型碼、面罩、過據、#刻、除霜、水泥加工、石 ^加工纖維加卫、塑膠加卫、標籤等;生活用品類如載 體、化妝品、醱酵工業等;機械工學類如微形機械零件 等。 【實施例】 本發明不受下述實施例所限制。部及%均為重量基 合成例1 :
合成含羧基聚合物(1) 聚合得由丙烯酸7.8部、曱基丙烯酸酯5〇部、乙基丙 烯酸酯12. 2部、苯氧基乙二醇丙烯酸酯3〇部、及聚合起始 劑第三丁基過氧化2 -乙基己酸酯1部組成之混合物。此 含羧基聚合物之數平均分子量為45〇〇、羧基含量為i當量 / kg聚合物。又玻璃轉脆溫度為〇 t以上。 合成例2 : 合成含羥苯基聚合物(2) 立 甲酚1 490部、30%甲醛水溶液1145部、脫離子水i 30
部、及草酸6. 5部在三角瓶中迴流6〇分鐘。其次加15%鹽酸 2.5部並迴流40分鐘後,加約15;1(:之脫離子水4〇()部使内 谷物保持約75 t狀態下使樹脂沈澱。加35%氫氧化鈉溶液 中和後移除水液層,並重複此洗清操作2次後,於減壓下 以20。(:乾燥得清漆酚醛型樹脂。此清漆酚醛型樹脂(含 羥苯基聚合體)之數平均分子量為6〇〇、羥苯基含量為1〇
第30頁 1309340 五、發明說明(25) 當量/ kg聚合物。又玻璃轉脆溫度為〇°C以上。 合成例3 : 合成含羧基及羥苯基聚合物(3) 羥基苯甲酸60 0部、鄰甲酚90 0部、30%甲醛水溶液 1145部、脫離子水13〇部、及草酸6. 5部在三角瓶中迴流6〇 分鐘。其次加15%鹽酸13. 5部並迴流4〇分鐘後,加約15 t 之脫離子水4 0 0部使内容物保持約50它狀態下使樹脂沈 殿。再加脫離子水400部於50 t洗清樹脂後移除水液層, 並重複此洗清操作3次後,於減壓下以約12〇 °c乾燥得清漆 酚醛型樹脂。其數平均分子量為約65〇、缓基含量 量^聚合物、經苯基含量為5.4當量/ kg聚合虽 玻璃轉脆溫度為〇。(:以上。 實施例1 : ,言有上述聚合物(1)100部(當做聚合物(B))、 土乙烯醚14部之樹脂(當做含乙烯醚基化合物 製。、『二酸發生劑(日本Daicel UCB股份有限公司 ί援Λ 』、以下均使用此商品)2部之混合物、、容缺 於裱己烷’調製成30重量%組成物溶液。 物冷解 f施例2 : 丨1除4使用上述聚合物(2 )當做聚合物(B)外苴他h & 施例1相同方法調製成3。重量%組成 。卜-他均與實 實施你丨3 祐制Λ使用上述聚合物(3)當做聚合物(b )外其他& 施例1相同方法調製成3。重《組成物溶J卜其他均與實
1309340 五、發明說明(26) ' --- 比較例1丄 _ 除使用甲基乙烯醚當做含乙烯醚基化合物(A)外其他 均與:施例1相同方法調製成3〇重量%組成物溶液。
下而丨f I有上述聚合物(1)100部(當做聚合物(Β))、以 >列化學式仲主 J 量、去4^'表之化合物53匪〇1(對聚合物(1)每100§之 之、、曰二^ 3乙歸喊基化合物(〇、及光(致)酸發生劑2部 解於環己烷’調製成30重量%組成物溶液。 h2c=8 η2 η. Η0 Η. 2
c—、m 〇~CH HC—C—CH HC—Q CK c—c h2 h2 c—c h2 h2
Mm 施例彳相^上、4聚合物(2)當做聚合物(B)外其他均與實 ^同方法調製成3 〇重量%組成物溶液。 施例4除相使r用上述聚合物(3)當做聚合物(B)外其他均與實 相同方法調製成30重量%組成物溶液。
Ml 下列將含有上述聚合物(1) 100部(當做聚合物(B))、以 量 $學式代表之化合物53mmol (對聚合物(1)每1 Q〇g之 ▲做3乙稀趟基化合物(A))、及光(致)酸發生劑2部
〜σ物溶解於環己烷,調製成30重量%組成物溶液
1309340 五、發明說明(27) h2c=c O—CH HC—CH He—Ο C—CΗ2 Η, c—c H2 H, g 二 ch2 實施例8 : 除使用上述聚合物(2 )當做聚合物(B)外其他均與實 施例4相同方法調製成30重量%組成物溶液。 實施例9 :
除使用上述聚合物(3)當做聚合物(B)外其他均與實 施例4相同方法調製成30重量%組成物溶液。 比較例2 : 除使用以下列化學式代表之化合物當做含乙烯醚基化 合物(A)外其他均與實施例4相同方法調製成30重量%組成 物溶液。
比較例3 :
除使用日本公開專利公報第平6 - 2950 64號實施例1 記載以下列化學式代表之化合物當做含乙烯醚基化合物 (A)外其他均與實施例4相同方法調製成30重量%組成物溶 液。
第33頁 1309340 、發明說明(28)
、g=CH2 態評估就龄1 : 丨 +以下述方法使用各實施例及比較例組成物溶液形成光 阻薄膜並評估其性能。光阻薄膜形成方法為將各實施例及 比較例所得組成物溶液以棒塗機(bar coater)在銅箔層 ^板上塗佈成厚度10 之乾燥膜,以100 t乾燥10分鐘進 行輕笨基及乙烯醚基加成反應,即形成光阻薄膜。 (1) 暫乾燥後之指觸乾燥性:用下列標準評估塗佈及乾燥 上述各實施例及比較例組成物溶液後之塗膜表面指觸乾燥 性。 、 〇.完全不黏 △:少許會黏 x :會黏 (2) 感度:將365nm紫外光線經過級進片(step tablet、曰 本曰立公司製品、21級)照射在上述各實施例及比較例組 成物溶液塗佈及乾燥後之薄膜表面,室溫放置丨〇分鐘後於 25 C用0· 75%碳酸鈉水溶液顯影製成評估基板。實施例1〜 3及比較例1之感度評估就3〇〇mJ/cm2、5〇〇 fflJ/cm2、ι〇〇() mJ/cm2等3種紫外光線強度評估可能形成圖案之級進片級 數’實施例4〜9及比較例2、3則就1 〇〇mJ/cm2、3〇〇 mJ/cm2、1〇〇〇 mj/cm2等3種紫外光線強度評估可能形成圖
第34頁 1309340 五、發明說明(29) ----- 案之級進片級數。 (3) 耐蝕性:用下列標準目視評估以上沭士 |〜丄 处方法製成之各評 估基板用氯化銅蝕刻液引起之塗膜剝離情形。 〇:完全不剝離 △:少許剝離 X :有剝離 (4) 剝離性:用下列標準目視評估以上述方法製成之各評 估基板浸潰在5 0 C、3 %氧氧化納水溶液引起之塗膜去除性 及剝離性。 〇:完全無殘渣 △:少許有殘渣 X :全面殘留抗餘劑 上述各試驗之結果列示如表1。由表1結果可知 明之活化能量線性組成物所形成之(光阻)塗犋,^ x 耐蝕性優異,剝離性亦良好》 ’其感度、 表1 ii'/jl
第35頁 1309340 五、發明說明(30) 性能評估 -· ·—— 指觸 乾燥性 感度(mJ/cm2) 耐蝕性 _彔讎性 100 300 500 1000 〜 實施例1 〇 — 7級 1〇級 Μ鈹~~ 〇 〇 實施例2 Ο — 5級 m 12級 〇 o 實施例3 Ο — 6級 9級 13級 b Ο ί 比較例1 〇 — 曝3¾不溶 曝獅不溶 曝獅不f 〇 ----1 〇 實施例4 〇」 7級 10級— 14級 〇 〇 實施例5 Ό 5級 8級— — 12級 〇 〇 實施例6 〇 6級 9級 ’ — 卜 13級〜 〇 〇 實施例7 〇 7級 「1〇級 — Η級 〇 〇 實施例8 〇 5級 8級 ^ ~ ----- 12級 b 〇 實施例9 〇 6級 9級 13級〜 b 〇 比較例2 〇 曝獅不溶 曝獅 曝光部不溶 b 〇 比較例3 〇 曝光部不溶 曝鄕不溶 b 〇 實施例1 0 : 將實施例1所得纟且成物、玄达k & 乙二料支持膜上塗佈成厚Ί棒2機在對苯二甲酸聚 !〇分鐘。其次裝著厚度2。二⑷ 面形成乾膜型光阻膜。 無處理“烯膜於上述塗佈 其次剝離聚丙烯膜 度100°C層疊機壓黏於18 胺膜之基板上。 將乾膜型光阻膜塗佈面用滾筒溫 以"1銅羯層疊在厚度100以m聚醯亞 此基板與性能評估試駱〗办人上 ® 1 η ^ Μ # ^ m ^ 驗凡全相同方法曝光、室溫滋 置1 0为鐘後剝離支持膜,與性能 進行評估。結果如表2所示…試驗1完全相同方法 1309340
實施例1 1 : 將實施例1所得組成物溶液以棒塗機在厚度38 理之對苯二甲酸聚乙二醇酯支持膜上塗佈成厚度10 0^乾 燥膜,以1 2 0 C乾燥1 〇分鐘即得轉印薄膜型光阻膜。 將此轉印薄膜型光阻膜用滾筒溫度1〇〇 t層疊機壓黏 於18 //m銅箔層疊在厚度1〇〇;am聚醯亞胺膜之基板上。 、剝離轉印薄膜,將此基板與性能評估試驗^完全相同 方法曝光、室溫放置1 〇分鐘後,與性能評估試驗1完全相 同方法進行評估。結果如表2所示。 實施例1 : 使用實施例4所得組成物溶液以外其他均與實施 相同方法製造乾膜型光阻膜,並與性能評估驗= 同方法進行評估。結果如表2所示 70 實施例: 除使用實施例4所得組成物溶液以外其他均盥 11相同方法製造轉印薄膜型光阻膜,並與性能評估貫 完全相同方法進行評估。結果如表2所示。 實施例: 除使用實施例7所得組成物溶液以外其他 10相同方法製造乾膜型光阻膜’纟與性能評估試驗;全 相同方法進行評估。結果如表2所示。 70王 實施你 除使用實施例7所得組成物溶液以外其他均 11相同方法製造轉印薄膜型総膜,i與性能評估試驗^
第37頁 1309340 五、發明說明(32) 完全相同方法進行評估。結果如表2所示。 表2 性能評估 ____ 指觸 威 ftYmJ/cm2) 臟性 剝離性 乾燥性 100 300 500 1000 實施例10 〇 —— 7級 10級 14級 〇 〇 實施例11 〇 一 7級 10級 14級 〇 〇 實施例12 〇 5級 8級 — 12級 〇 〇 實施例13 〇 7級 1〇級 — 14級 〇 〇 實施例14 〇 5級 8級 — 12級一 〇 〇 實施例15 * 〇 7級 10級 — Μ級 〇 〇 【產業上利用之可能性】 如上述,依據本發明可提供曝光後不加熱或以6 〇 °C以 下加熱,但感度及析像性優異之化學放大型正型光阻膜, I提升製造速度與信賴性。再者由於曝光後不需加熱或僅 $低* $加熱,t故可抑制基板之熱經歷,減少熱對基板之影 源* 1時亦能減1低拌隨曝光後需加熱發生之設備投資及能
第38頁 1309340 圖式簡單說明 無
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Claims (1)
1309340 案號 91120916 年Ίζ月丨修正 丨附仵:一 六、申請專利範圍 1 · 一種活化能量線性組成物,其特徵為以含有下列成分 (A)、(B)為其必要成分: 成分(A)為一種含乙烯醚基化合物,由環己基乙烯醚、 以 K '2 、f \ I . Ο—CH HC—-C——CH h2 h2 C—C HC—O S2_h2 CH, S2~h2 代表之聚乙烯醚化合物及以 Η. H2C: :c '2 c—-c / \ / CH HC—CH h2 h2 C—Q HC—Q H2 h2 -广I l -----Ι,^Γϊ,. H ^ 代表之聚乙烯醚化合物所組成群中至少選取1種; 成分(B)為一種聚合物,由下列聚合物(a)〜(c)所組 成群中至少選取1種; 聚合物(a):每lkg聚合物含有0.5〜10當量之羧基且具有 3 0 0 0〜1 0 0 0 0 0範圍内之數平均分子量及0°C以上之玻璃轉 脆溫度, 聚合物(b):每lkg聚合物含有1〜10當量之羥苯基且具有 5 0 0〜1 0 0 0 0 0範圍内之數平均分子量及0°C以上之玻璃轉脆 溫度,及
第41頁 1309340 _案號91120916_年月曰 修正_ 六、申請專利範圍 聚合物(c):每lkg聚合物含有0· 2〜20當量之羥苯基與羧 基且具有5 0 0〜1 0 0 0 0 0範圍内之數平均分子量及0°C以上之 玻璃轉脆溫度。 2 · 如申請專利範圍第1項之活化能量線性組成物,其中 更包含光(致)酸發生劑化合物(C )。 3 · 如申請專利範圍第2項之活化能量線性組成物,其中 對聚合物(B) 1 0 0重量份含有含乙烯醚基化合物(A ) 5〜1 5 0 重量份,對聚合物(B)與含乙烯醚基化合物(A )之合計量 1 0 0重量份含有光(致)酸發生劑化合物(C) 0〜4 0重量份。 4 · 一種圖案形成方法,其特徵為依序進行:塗佈申請專 利範圍第1項至第3項中任一項之活化能量線性組成物於基 板之步驟;加熱該基板之步驟;照射活化能量線以形成圖 案狀之步驟;照射後不加熱或以6 0°C以下溫度加熱處理之 步驟;及以鹼性顯像液顯像之步驟。 5 · —種圖案形成方法,其特徵為依序進行:塗佈申請專 利範圍第1項至第3項中任一項之活化能量線性組成物於可 以透過活化能量線之透明支持薄膜上,使乾燥形成活化能 量線性組成物塗族層,而形成活化能量線性光阻乾膜之步 驟;壓黏該光阻乾膜之活化能量線性組成物塗膜層於形成 圖案之基板上之步驟;加熱該基板之步驟;經上述支持薄
第42頁 1309340 _案號91120916_年月曰 修正_ 六、申請專利範圍 膜照射活化能量線於上述塗膜層以形成圖案狀之步驟;照 射後不加熱或以6 0°C以下溫度加熱處理之步驟;及剝離上 述支持薄膜後以鹼性顯像液顯像之步驟。
6 · —種圖案形成方法,其特徵為依序進行:塗佈申請專 利範圍第1項至第3項中任一項之活化能量線性組成物於轉 印薄膜上,使乾燥形成活化能量線性組成物塗膜層,而形 成光阻轉印薄膜之步驟;壓黏該光阻轉印薄膜之活化能量 線性組成物塗膜層於形成圖案之基板上之步驟;加熱該基 板之步驟;剝離上述轉印薄膜之步驟;照射活化能量線於 塗膜層以形成圖案狀之步驟;照射後不加熱或以6 0°C以下 溫度加熱處理之步驟;及以鹼性顯像液顯像之步驟。
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