TWI262500B - Substrate replacing unit for thin film forming device, and method of replacing substrate - Google Patents

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TWI262500B
TWI262500B TW092107774A TW92107774A TWI262500B TW I262500 B TWI262500 B TW I262500B TW 092107774 A TW092107774 A TW 092107774A TW 92107774 A TW92107774 A TW 92107774A TW I262500 B TWI262500 B TW I262500B
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Hideaki Watanabe
Hideki Ishizaki
Mamoru Usami
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Description

1262500 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於一種對於薄膜形成裝置進行 基板交換單元及基板交換方法。更具體來說, 於一種在與藉由濺鍍法形成薄膜的濺鍍裝置等 裝置之間接受經成膜的基板等且供給成膜前的 元及方法者。 【先前技術】 作爲對於圓板狀基板形成各種薄膜而所製造 體,特別是作爲具有碟狀形狀者,例如有CD、 CD— RW等的CD系統碟片,或是DVD— ROM ,等DVD系統碟片等的光碟,或是MO、MD等 種碟片。 此些碟片,是例如對於聚碳酸酯等原材所成 使用濺鍍法,旋轉塗佈法等各種方法,藉由層積 造。又,一般在基板,實際上將該碟片裝載於驅 用於基板的操作之故,因而在其中央部設有貫通 所層積的薄膜內,例如使用於反射膜等的金 是使用濺鍍法所形成。在該方法中,圓板狀基板 氬等放電用氣體作成所定壓力的真空容器中,相 正面,被固定並被保持著。一般在該狀態下,某 予靶材,藉此放電發生在靶材與基板之間,而產 藉由該電漿中的離子使得靶材表面的靶材構成元 板授受的 發明是關 薄膜形成 板等的單 的記錄媒 CD - R、 > DVD - R 光碟等各 的基板, 薄膜所製 動器時使 孔。 屬薄膜, 是在藉由 對於靶材 一電壓給 生電漿。 素被濺鍍 -6 - (2) 1262500 ,而藉由該濺鍍粒子附著於基板表面進行膜形成。 依碟片的膜構成,也有使用濺鍍裝置進行形成複數薄 膜的情形。此種情形,作爲濺鍍裝置,使用在圓周上配置 複數成膜室,而在其中央配置基板搬運用機器人,在各該 成膜室依序將薄膜形成在基板上的所謂多元型的型式者。 又,在光碟等中,必須設置在設於基板的中央孔部分周圍 及外周部未作出膜形成的非成膜領域,而在依濺鍍所引起 的成膜時,藉由被稱爲內掩罩及外掩罩的工模,在覆蓋非 成膜領域上的狀態下,進行實際的成膜工序。 所以,在習知濺鍍裝置中,將外掩罩等作成固定在基 板,並將此些作爲一體而進行各成膜裝置間,或上述多元 型濺鍍的各成膜室間的基板搬運。具體來說,在多元型濺 鍍裝置中,使得基板與掩罩被保持並被固定在被稱爲托架 的保持工模上,而這些是在藉由托架所保持的狀態下被搬 運在各成膜室間。 在光碟等中,作爲保護膜使用例如氧化膜、氮化膜等 的非金屬膜的情形,此些薄膜是藉由濺鍍將氧化物、氮化 物等所成的靶材被成膜在基板上。然而,使用此些靶材等 時’一般發生放電或是維持該放電所需的施加電壓是較大 ,又’欲得到良好的膜特性時,其成膜速度是成爲低者。 所以’爲了得到具有特定厚度的膜,成膜所需時間變久, 且必須將基板長時間地曝露在高密度的電漿基板。 光碟等的基板是一般由聚碳酸酯等材料所構成之故, 因而對於熱的耐性較低,而在依濺鍍所引起的成膜中,也 (3) 1262500 必須將該溫度保持在基板的耐熱溫度以下。然而,在形成 上述氧化膜時,則成膜所需的時間較久且將基板曝露在高 密度的電漿之故,因而藉由來自電漿的輻射熱或到達基板 的濺鍍粒子的能量等,基板溫度是容易達到耐熱溫度以上 之虞。 作爲該對策,有某程度地增加密接於基板的托架的熱 容量,並將給予基板的熱能傳至托架,就可延遲上昇基板 的溫度所需要的時間。又,有不是僅以一成膜室形成氧化 膜等,而是在複數成膜室費時間且一面在成膜室間進行基 板等的冷卻,一面進行膜形成,則可抑制基板的溫度上昇 等的方法。但是,有某程度以上的熱量被儲存在托架本身 時,則基板會從托架被加熱,結果,也有使得基板溫度成 爲其耐熱溫度以上之虞。 所以,也有考慮將冷卻專用的處理室設在此些複數成 膜室間。但是,冷卻托架單體時,即使將托架等保持在所 謂真空中,未存有傳送熱的空氣等媒體之故,因而被儲存 在托架的熱是不容易被發散,而無法有效果地降低托架的 溫度。又,藉由增加成膜室或構築冷卻專用室,使得成膜 工序所需的時間較久,也有降低該工序的處理效率之虞。 【發明內容】 本發明是鑑於上述課題而創作者,其目的是在於提供 一種成爲可抑制上昇托架溫度的濺鍍裝置者。又,其目的 是在於提供一種使用成爲可抑制上昇托架溫度的托架的供 -8- (4) 1262500 給方法及上述的濺鍍裝置的碟狀記錄媒體的製造方法。 爲了解決上述課題,本發明的基板交換單元,是在基 板’及覆蓋基板的特定部分的磁性體所成的掩罩,及具有 磁性體且使用磁性體而保持基板與保持掩罩的托架的成膜 裝置的托架保持具之間授受基板、掩罩與托架的基板的交 換單元,其特徵爲具備:具有使用於從托架保持具,與基 板及掩罩一起接受托架時,及保持基板、掩罩及托架時的 托:架裝卸手段的基板交換柄;與基板的交換柄正對,且在 與基板交換柄之間,使用磁力授受基板,掩罩及托架的頭 部;具有將掩罩固定於其表面的掩罩固定手段,在與基板 交換柄不相同的位置,與頭部正對,使用掩罩固定手段在 與頭部之間進行掩罩與基板的授受的平台·,存在於基板交 換柄與平台之間,冷卻將基板與掩罩保持在交接於平台後 的頭部的托架的等待位置。 又,在上述基板交換單元中,基板交換柄的托架裝卸 手段,是與設於托架的從特定寬度所成的托架的表面貫通 至背面的小徑部分的長孔,及具有比設於其端部的寬度更 大直徑的貫通孔所成的大徑部分所成的托架裝卸孔協動者 ,在基板交換柄具有對於固定基板,掩罩與托架的基板可 朝垂直方向旋轉的基板固定部,及設於在對應基板固定咅K 的托架裝卸孔的位置的其前端部具有比大徑部分的直徑更 小且比長孔的寬度更大直徑的大徑部,具有比長孔的寬度 更小的直徑,同時具有比長孔的深度更大長度的托架固定 銷所成者較理想。 -9- (5) 1262500 又,爲了解決上述課題,本發明的基板交換單元,是 在基板’及覆蓋基板的特定部分的掩罩,及保持基板與保 持掩罩的托架的成膜裝置的托架保持具之間授受成膜前與 成膜後的基板、掩罩與托架的基板交換單元,其特徵爲具 有··對於托架保持具授受成膜前與成膜後的基板、掩罩與 托架的基板交換柄;裝載有成膜前與成膜後的基板與掩覃 的平台,以及由基板交換柄接受成膜後的基板、掩罩與托 架’對於平台交接成膜後的基板與掩罩,在保持托架的狀 態下等待特定時間之後,由裝載台接受成膜前的基板與掩 罩的臂頭。 又’爲了解決上述課題,本發明的基板交換方法,是 在基板、及覆蓋基板的特定部分的磁性體所成的掩罩,及 具有磁性體且使用磁性體而保持基板與保持掩罩的托架的 成膜裝置的托架保持具之間授受基板、掩罩與托架的基板 交換方法’其特徵爲:藉由基板交換柄,由托架保持具接 受基板、掩罩與托架的工序;藉由臂頭,由基板交換柄接 受基板、掩罩與托架的工序;將基板與掩罩從臂頭裝載於 平台i:的工序;將平台上的基板與掩罩交換成新的基板與 掩罩的工序;藉由臂頭,與托架一起保持平台上的新的基 中反與掩罩’並交接至基板交換柄的工序;以及藉由基板交 換Μ ’將新的基板與掩罩及托架交接至托架保持具的工序 m _ )¾ ;在交換平台上的基板與掩罩時,進行冷卻被保持 在臂頭的托架。 (6) 1262500 【實施方式】 針對於本發明的實施形態的基板交換單元及濺鍍 ,將由上方觀看槪略構成表示於第1圖。在本實施形 ,以13個成膜室102及基板供給與取出室103的14 成的濺鍍裝置1 〇 〇作爲例子加以說明。又,在配設方 方形的各邊上的成膜室1 〇2配置有:將各放電空間使 被限定在靶材近旁的特定領域所需等的所謂稱爲接地 構成;防止多餘的濺鍍粒子附著於裝置內部所需的所 爲防止屏的構成;使用於放電的氬氣體的導入系統, 空排氣系統等各種構成。然而,此些構成是與本發明 直接關係,因此省略圖示及在此的說明。 在各成膜室1 02配設於圓周上的中央部,配設有 保持具搬運單元105。在托架保持具搬運單元105, 架保持具搬運單元1 05的旋轉中心爲中心放射狀地保 同時地保持基板1、掩罩2及托架1 0的1 4個托架保 70。在本發明中,托架10是作成與托架保持具70可 地加以處理。各托架保持具70是藉由托架保持具搬 元105被旋轉驅動成分別正對於各成膜室102。 在表示於圖的裝置,是在供給及取出室1 〇3中, 朝順時鐘方向旋轉一面依序進行托架保持具70接受 1、掩罩2及托架10,而在連續的各成膜室102前停 定時間後再進行薄膜的形成的工序。通過1 3個成 102之前,結束該裝置100的成膜工序的基板1,是 罩2及托架1 0 —起由供給及取出室103被取出。配 裝置 態中 室所 ^ 14 用於 屏的 謂稱 及真 沒有 托架 以托 持著 持具 獨立 運單 一面 基板 止特 膜室 與掩 設於 -11 - (7) 1262500 供給及取出室1 0 3之前的基板交換單元6,是藉由基板交 換柄2 0,從托架保持具70接受結束成膜工序的基板1、 掩罩2及托架1〇。 基板交換單元6是由基板交換柄20,及第1及第2 臂頭30、40,及第1及第2平台50、60所構成。第1及 第2臂頭3 0、4 0是分別具有第1及第2頭部3 1、4 1於其 前端部,而其另一端被連結成保持大約9 0°夾角,以其連 結部作爲中心,而藉由未圖示的臂頭驅動機構,被支持成 可轉動之狀態。第1及第2平台5 0、6 0,是分別配置在 以該連結部作爲中心成爲180°對稱,且來自該連結部的距 離與從該連結部至頭部3 1、4 1中心爲止的距離相等的位 置° 又’後述的基板交換柄20的水平位置,是配置在第 1及第2平台50、60的中間而來自該旋轉中心的距離位 於與從該連結中心至頭部3 1、4 1中心爲止的距離相等的 位置。又,臂頭30、40位於等待位置80時,第1及第2 頭部3 1、4 1是成爲分別位於第1平台5 0與基板交換柄 20之水平位置的中間,及第2平台60與基板交換柄20 之水平位置的中間。藉由該構成,第1頭部3 1位於第1 平台5 0上時,第2頭部4 1是位在呈水平狀態的基板交換 柄2 0上,而第2頭部4 1位於第2平台6 0上時,第1頭 部3 1位在呈水平狀態的基板柄2 0上。 針對於基板交換單元6對於基板交換柄2 0的基板1 ’掩罩2及托架1 〇的交接等次序加以說明。又,作爲以 -12- (8) 1262500 下說明的參照,將從正面觀看托架1 0的狀態表示於第2 圖;將在基板交換柄2 0與第1及第2臂頭3 0、4 0之間授 受基板1、掩罩2及托架1 〇時的狀態的斷面槪略表示於 第3圖;將在托架保持具7 0與基板交換柄2 0之間授受基 板1、掩罩2及托架1 0時的狀態的斷面槪略表示於第4 圖;將基板1及掩罩2保持在第1及第2平台50、60上 的狀態的斷面槪略表示於第5圖;第1及第2臂頭3 0、 4 0保持托架1 0的狀態的斷面槪略表示於第6圖。又,在 本實施例中,作成在中央部使用未形成貫通孔的基板1, 因此成爲未使用內掩罩的構成。 在本實施例中,托架1 〇是在基板保持面具有:容納 外掩罩2的背面凸部3的環狀溝部1 1,及配置於該溝部 1 1的底面的小磁鐵1 2。又,在環狀溝部1 1的外周,從托 架中心等距離地配置有從托架表面貫通至背面的托架固定 用孔1 3及托架裝卸用孔1 4。 托架固定用孔13及托架裝卸用孔14,是藉由圓形貫 通孔朝圓周方向延伸的長孔所成的小徑部分1 5,及在其 一端部連續有比該圓形的內徑的徑較大的大徑部分1 6所 構成。又,托架固定用孔13是隔著位置90°地配設在圓周 方向,托架裝卸用孔1 4是配設成位於托架固定用孔1 3彼 此間的中間。又,托架固定用孔1 3與托架裝卸用孔1 4, 是對於長孔的大徑部分1 6的構成位置配設成在圓周方向 位於相反位置的狀態。 首先,對於有結束成膜後的基板1的供給及取出室 -13- (9) 1262500 1 0 3,乾燥氮氣等被導入而成爲該室朝大氣中開放的狀 。如第4圖所示地,在濺鍍裝置1 0 0內,基板1、掩罩 及托架10,是藉由托架保持具70被支持著。托架保持 7 〇的托架固定部7 1是被連結於托架保持具旋轉電動機 ’而藉由軸承7 3被支持成可旋轉之狀態。又,掩罩2 由設在托架1 〇的小磁鐵1 2的磁力被密接並被固定於托 1 0,而具有大約圓板形狀的基板1,是在藉由該掩罩2 托架被夾持的狀態下,藉由托架1 0被保持著。 該托架保持具7 0是具有··未圖示的磁鐵,及配置 對應於托架固定用孔1 3的位置而設於托架固定部7 1的 架固定銷74。托架固定銷74是由小徑部75與設在前 部的大徑部76所構成;小徑部74是可插崁托架固定用 1 3的小徑部分1 5的直徑所構成,又,大徑部7 6是可 嵌托架固定用孔1 3的大徑部分1 6且無法插嵌小徑部分 直徑所構成。又,托架固定銷74的小徑部分75的長度 是設定成比托架固定用孔1 3的小徑部分1 5的深度更大 藉由未圖示的磁鐵的磁力,掩罩2、托架1〇是藉 托架保持具70被吸附並被保持著。將托架固定銷74插 於托架固疋用孔1 3的大徑部分1 6之後,使用托架保持 旋轉用電動機72,將托架固定銷74與托架固定部71 起朝托架固定用孔1 3的小徑部分〗5方向旋轉。藉由該 作’卡合有托架固定銷74的大徑部76與托架固定用 1 3的小徑部分1 5,施以托架1 〇對於托架保持具7〇的 定。 態 2 具 72 藉 架 與 於 托 端 孔 插 的 由 嵌 具 操 孔 固 1262500 基板交換柄20是具有被連接於托 几木衣卸用電動機2 2 ,且藉由軸承23可旋轉地支持的托架支持部21。托架支 持部2丨是在托架支持面固定並保持著托架1〇,而在該支 持面,位於與設在托架1 〇的托架奘知田Ζί J忙木衣卸用孔1 4對應的配置 上,設有與上述托架固定銷7 4相同^ 士 t4彳日Ν形狀的托架裝卸銷24 〇 又,托架裝卸銷24也與托架固定銷μ同樣地具有小 徑部25與其前端的大徑部26,而小徑部25的長度設成 比托架裝卸用孔14的小徑部分15的深度更長。此些托架 裝卸銷24是構成著與托架裝卸用孔14協動的托架裝卸手 段。該基板交換柄20接近於保持上述基板丨等的狀態的 托架保持具70,並將托架裝卸銷24插嵌於托架裝卸用孔 Μ的大徑部分16。之後,使用托架裝卸用旋轉電動機22 ,將位於大徑部分1 6的托架裝卸銷24朝小徑部分丨5方 向旋轉移動,而將托架1 〇固定在基板交換柄2〇。 大約同時地,使用托架保持具旋轉電動機72 ,將托 架固疋銷74與托架固定部7 i 一起朝托架固定用孔丨3的 大徑πβ分1 6旋轉移動。由此,該基板丨、掩罩2及托架 1 〇,是成爲從托架保持具7 〇可裝卸之狀態,而結束基板 1等k托架保持具7 0交接至基板交換柄2 〇。然後,藉由 未圖示的基板交換柄驅動機構,基板交換柄2〇是後退, 被驅動成從將對於托架保持具7 〇呈正對的基板支持成大 約垂直的垂直姿勢,變成以基板1作爲上方朝大約水平方 向支持的水平姿勢。 -15- (11) 1262500 基板交換柄20從托架保持具70接受基板1、掩罩2 及托架1 0,進行朝水平方向變更其姿勢的操作的期間’ 第1及第2臂頭30、40是在各該等待位置80停止其動作 。這時候,在表示於第6圖的狀態,下一應交接於托架保 持具70的托架1 〇是被保持在第1臂頭3 0的第1頭部3 1 ’而在該等待位置80中,藉由氮氣體等被冷卻。又,第 2臂頭4 0的第2頭部4 1,是爲了接受經成膜的基板1等 ,在未經保持托架1 0等的狀態下,在該等待位置80等待 〇 對於具有第1頭部3 1的托架1 0應交接的成膜前的基 板1,是在表示於第5圖的狀態下,被準備在第1平台5 0 上。成膜前的基板1,是在將成膜面朝下方(平台表面) 的狀態下與掩罩2 —體化而被裝載於第1平台50上。該 平台50是在其內部具有被支持於平台用磁鐵臂53的平台 用磁鐵5 2,該磁鐵臂5 3是被連接於平台用氣缸5 4。此些 平台用磁鐵52,平台用磁鐵臂53及平台用氣缸54是構 成掩罩固定手段。 藉由驅動該氣缸54,平台用磁鐵52是經由平台用磁 鐵臂5 3,對於平台表面的掩罩支持面5 1移動在最接近位 置與最遠離位置之間。藉由磁性體所構成的外掩罩2,是 在平台用磁鐵5 2最接近於平台表面5 1的第5圖的狀態下 ,被固定並保持在平台表面。藉由該外掩罩2依平台用磁 鐵52被固定在特定位置,基板丨也成爲被保持在隨著掩 罩2的特定位置。 -16- (12) 1262500 如第6圖所示地,第1及第2頭部3i、41是在其內 部’具有被支持於頭用磁鐵臂34的頭用磁鐵33,該磁鐵 臂3 4是被連接於頭用氣缸3 5。藉由該氣缸3 5的驅動, 頭用磁鐵3 3是經由頭用磁鐵臂3 4,對於頭部3 1的托架 支持面3 2移動在最接近位置與最遠離位置之間。在頭用 磁鐵3 3最接近於托架支持面3 2的第6圖的狀態下,籍由 該磁鐵3 3的磁力被固定並保持在托架支持面3 2。該狀萍 成爲現在時刻的第1頭部3 1的等待狀態。 之後,藉由未圖示的臂頭驅動機構,第1及第2臂頭 30、40以連結部作爲中心被轉動,第1頭部31移動至第 1平台50上’又第2頭部41移動至水平狀態的基板交換 柄2 0上之後,停止該轉動。在此,各該頭部3 1、4 1,是 朝第1平台5 0的表面及水平狀態的基板交換柄20的托架 支持部21下降。在保持有第1臂部31的托架1〇,與第1 平台5 0上的掩罩2及基板1接觸,同時地第2頭部4 1, 與保持有基板交換柄2 0的托架1 0接觸的時刻,則停止該 下降。此些接觸狀態是藉由未圖示的一般的接觸感測器來 確認。 在該狀態,在第1平台50中,藉由平台用氣缸54的 操作,使得平台用磁鐵52移動至與平台表面最遠離位置 。所以,該磁鐵5 2藉由及於掩罩2的磁力,使得配設於 托架的小磁鐵1 2及第1頭部3 1的頭用磁鐵3 3及於掩罩 2的磁力變大。結果,使得基板1與掩罩2密接於托架1 〇 ,此些作成一體成爲被保持在第1頭部3 1。 -17- (13) 1262500 如上所述’第2頭部4 1是與第i頭部3 1 一起下降, 而沒有保持托架1 0等的第2頭部4 1,是其托架支持部2 1 與基板交換柄20上的托架1 0的背面接觸,而停止其下降 。然後’藉由頭用氣缸3 5的操作,將頭用磁鐵3 3作成最 接近於托架支持面3 2的狀態,藉由該磁鐵3 3的磁力,在 此些夾持基板的狀態下將掩罩2及托架1 〇吸附在托架支 持面。然後’藉由托架裝卸用旋轉電動機2 2,使得基板 父換柄2 0的托架支持部2 1及托架裝卸銷2 4被旋轉,而 解除托架裝卸用孔1 4與托架裝卸銷2 4的卡合。 經由以上的次序,第!頭部3 1是成爲保持著夾持成 膜則的基板1的掩罩2及托架1 〇的狀態,而第2頭部41 是成爲保持著夾持成膜後的基板丨的掩罩2及托架丨〇的 狀態。在該狀態下,藉由未圖示的臂頭驅動機構,第1及 第2臂頭30、40是上昇至特定高度,之後,第丨頭部31 位於基板父換柄2 0,且第2頭部4 1是旋轉驅動至位於第 2平台60上。 之後,第1及第2臂頭3〇、4〇是下降,對於設在第 ^頭部3”斤保持的托架1〇的托架裝卸用孔14,插嵌有基 板交換柄20的托架裝卸銷24,而停止其下降。這時候, 同時地,被保持在帛2頭部41的掩罩2,也接觸於第2 平台60的掩罩支持面51。在此,基板交換柄2〇的托架 支持部21及托架裝卸銷24藉由托架裝卸用電動機22被 旋轉移動。由此’托架裝卸銷、24移動至托架裝卸用孔Μ 的小徑部为' 1 5,使得托架裝卸銷24的大徑部26與托架 -18- (14) 1262500 裝卸用孔1 4的小徑部分1 5卡合,施以對於基板交換柄 20的成膜前基板1,及夾持此些的掩罩2及托架1〇的固 定。 之後’第1頭部3 1的頭用磁鐵3 3,藉由頭用氣缸3 5 ’從第1頭部3 1的托架支持面3 2移動至最遠離位置。進 行基板1等從此些第1頭部3 1交接至基板交換柄2 0之同 時’進行掩罩2及基板1從第2頭部4 1交接至第2平台 60。又,第2平台60是具有與上述第1平台50相同構造 〇 在掩罩2接觸於第2平台6 〇的狀態下,設在第2平 台60的平台用磁鐵52,經由平台用磁鐵臂53,藉由平台 用氣缸54被驅動至對於平台表面的掩罩支持面5丨最接近 位置。在該狀態下,藉由第2頭部41的頭用磁鐵3 3及被 保持在該頭部4 1的托架1 〇的小磁鐵1 2及掩罩2的磁力 ,比藉由平台用的磁鐵5 2及於掩罩2的磁力者較小。 然而,頭用磁鐵3 3及於托架1 0的小磁鐵12的磁力 ’是設成比平台用磁鐵5 2及於該小磁鐵1 2的磁力更強的 狀態。所以’在該狀態下當第2頭部4 1上昇時,基板1 及掩罩2是藉由第2平台60被吸附保持著,而托架10是 藉由第2頭部41被吸附保持之狀態。此時,將基板1, 掩罩2及托架1 〇交接至基板交換柄2 0的第1頭部3 1也 同時地上昇。 之後,第1及第2臂頭3 0、4 0,是藉由臂頭驅動機 構旋轉驅動成位於各該等待位置8 0上的狀態。該狀態下 -19- (15) 1262500 ,依照與基板1、掩罩2及托架1 0從上述托架保持具70 交接至基板交換柄2 0的相反次序,進行基板1、掩罩2 及托架從基板交換柄20交接至上述托架保持具70。 被裝載於第2平台60上的經成膜的基板1及掩罩2,是 藉由未圖示的基板移載機器人,與成膜前的新基板1及掩 罩2交換。同時地,存有保持成膜前的基板1等的基板交 換柄70的裝進取出室被排氣,而開始對於該基板1的成 膜工序。 然後’將保持新的經成膜的基板1、掩罩2及保持此 些的托架10的托架保持具70移動至基板供給及取出室 1 03 ’且施以該室的大氣開放。成膜前基板丨及掩罩2裝 載於第2平台60,托架1 〇被保持在第2頭部41,而在第 1平台5 0並沒有裝載任何物品,且在第1頭部3 1未保持 任何物品的該狀態,是在如上所述的基板1、掩罩2及托 架1 〇的交接次序中,成爲各平台及各頭部分別更換的狀 態。以下,除了基板的交接次序更換平台及頭部之外,是 如上述地重複。 藉由將基板的交接工序作成以上的次序,而在頭部位 在等待位置時,成爲可慢慢地冷卻或強制地冷卻頭部所保 持的托架。由此,在經常地被管理在一定溫度或特定溫度 以下的托架上裝載基板,成爲可進行濺鍍裝置的薄膜形成 。因此,即使在某一程度以上的時間,將基板曝露在電漿 的成膜處理成爲需要時’也藉由將該托架的熱容量作成適 當者,成爲可抑制上昇基板的溫度。 -20- (16) 1262500 又’在本實施例,作成使用在中央部未設有貫通孔的 基板。但是本發明是並不被限定於此者,也可使用在中央 部具有貫通孔的基板。又,作爲平台的掩罩固定手段,作 成使用依磁鐵的磁力,惟可使用真空吸附等各種的固定方 法。又’作爲托架裝卸手段作成使用托架裝卸銷等,惟在 該部分也可適應真空吸附等各種固定方法。又,作成使用 覆蓋基板中央部的所謂稱爲內掩罩的又一掩罩也可以。此 時,該內掩罩固定在基板,是作成依埋設在托架內部的磁 鐵也可以,或對於內掩罩固定用作成使用另一個磁鐵也可 以。 又,在基板交換柄、臂頭及平台中,作成水平地保持 基板等進行各構成間的交接,惟作成大約垂直地保持基板 等而進行各構成間的交接的構成也可以。又,在本實施例 中’作成在等待位置進行冷卻托架時噴上乾燥氮氣等,惟 托架的冷卻方法是並未被限定於此者。具體來說,將被水 冷等的板狀冷卻機構等,配設在等待位置的頭部下方,而 在大氣中進行將該冷卻機構推向托架的操作也可以。又, 在頭部本體設置水冷機構等,由此作成進行管理托架的溫 度也可以。 又,作爲使用本發明時成爲對象的薄膜形成裝置例舉 灘鍍裝置,惟本發明的適應是並不被限定於此者,而對於 蒸鍍裝置,CVD裝置等各種的薄膜形成裝置也可適·應。 又’本發明是不僅使用作爲光碟等製造方法,而且之後施 以中央部的去除工序的成品,例如對於硬碟等,所有圓盤 -21 - (17) 1262500 狀構件的製程也可適應。 藉由本發明的實施,將托架的溫度保持在一定或特定 溫度以下的狀態,成爲可保持基板等。由此’即使實施須 將基板長時間地曝露在電漿的成膜處理時’也可將給予基 板的熱能量逸散至被冷卻的托架,而成爲在更廣泛的成膜 條件下對於基板上可進行薄膜形成。 【圖式簡單說明】 · 第1圖是表示本發明的基板交換單元及濺鍍裝置的平 面上的槪略構成的圖式。 第2圖是表示從正面觀看托架的狀態的槪略構成的圖 · 式。 - 第3圖是表示在基板交換柄與第1及第2臂頭之間授 受基板、掩罩及托架時的狀態的剖視槪略的圖式。 第4圖是表示在托架保持具與基板交換柄之間授受基 板、掩罩及托架時的狀態的剖視槪略的圖式。 0 第5圖是表示基板及掩罩被保持在第1及第2平台上 的狀態的剖視槪略的圖式。 第6圖是表示第1及第2臂頭保持托架之狀態的剖視 槪略的圖式。 〔主要元件對照表〕 1 基板 2 掩罩 -22- 基板交換單元 托架 溝部 小磁鐵 托架固定用孔 托架裝卸用孔 小徑部分 大徑部分 基板交換柄 托架支持部 托架裝卸用電動機 軸承 托架裝卸銷 小徑部 大徑部 第1臂頭 第1頭部 頭用磁鐵臂 頭用磁鐵 第2臂頭 第2頭部 第1平台 掩罩支持面 平台用磁鐵 -23- 平台用磁鐵臂 平台用氣缸 第2平台 托架保持具 托架固定部 托架保持具旋轉用電動機 軸承 托架固定銷 小徑部 大徑部 等待位置 濺鍍裝置 成膜室 基板供給及取出室 托架保持具搬運單元 -24-

Claims (1)

  1. (1) 1262500 拾、申請專利範圍 1· 一種基板交換單元,是在基板,及覆蓋上述基板 的特定部分的磁性體所成的掩罩,及具有磁性體且使用上 述磁性體而保持上述基板與保持掩罩的托架的成膜裝置的 托架保持具之間授受上述基板、掩罩與托架基板的交換單 元,其特徵爲具備: 具有使用於從上述托架保持具,與上述基板及掩罩〜 起接受上述托架時,及保持上述基板、掩罩及托架時的托 架裝卸手段的基板交換柄; 與上述基板的交換柄正對,且在與上述基板交換柄之 間,使用磁力授受上述基板,掩罩及托架的頭部; 具有將上述掩罩固定於其表面的掩罩固定手段,在與 上述基板交換柄不相同的位置,與上述頭部正對,使用上 述掩罩固定手段在與上述頭部之間進行上述掩罩與基板的 授受的平台;以及 存在於上述基板交換柄與上述平台之間,冷卻將上述 基板與掩罩保持在交接於上述平台後的上述頭部的上述托 架的等待位置。 2.如申請專利範圍第1項所述的基板交換單元,其 中,上述基板交換柄的上述托架裝卸手段,是與設於上述 托架的從特定寬度所成的上述托架的表面貫通至背面的小 徑部分的長孔,及具有比設於其端部的上述寬度更大直徑 的貫通孔所成的大徑部分所成的托架裝卸孔協動者,在上 述基板交換柄具有對於固定上述基板,掩罩與托架的上述 -25- (2) 1262500 基板可朝垂直方向旋轉的基板固定部,及設在對應於上述 基板固定部的上述托架裝卸孔的位置的其前端部具有比上 述大徑部分的直徑更小且比上述長孔的寬度更大直徑的大 徑部,具有比上述長孔的寬度更小的直徑,同時具有比上 述長孔的深度更大長度的托架固定銷所成者。 3 . 一種基板交換單元,是在基板,及覆蓋上述基板 的特定部分的掩罩,及保持上述基板與保持上述掩罩的托 架的成膜裝置的托架保持具之間授受成膜前與成膜後的上 述基板、掩罩與托架的基板交換單元,其特徵爲具有: 對於上述托架保持具授受上述成膜前與成膜後的基板 ,掩罩與托架的基板交換柄: 裝載有上述成膜前與成膜後的基板與掩罩的平台;以 及 由上述基板交換柄接受上述成膜後的基板、掩罩與托 架,對於上述平台交接上述成膜後的基板與掩罩,在保持 上述托架的狀態下等待特定時間之後,由上述裝載台接受 上述成膜前的基板與掩罩的臂頭。 4. 一種基板交換方法,是在基板,及覆蓋上述基板 的特定部分的磁性體所成的掩罩,及具有磁性體且使用上 述磁性體而保持上述基板與保持掩罩的托架的成膜裝置的 托架保持具之間授受上述基板、掩罩與托架的基板交換方 法,其特徵爲: 藉由基板交換柄,由上述托架保持具接受上述基板、 掩罩與托架的工序; -26- (3) 1262500 藉由臂頭,由上述基板交換柄接受上述基板、掩罩與 托架的工序; 將上述基板與掩罩從上述臂頭裝載於平台上的工序; 將上述平台上的上述基板與掩罩交換成新的基板與掩 罩的工序; 藉由上述臂頭,與上述托架一起保持上述平台上的上 述新的基板與掩罩,並交接至上述基板交換柄的工序,以 及 · 藉由上述基板交換柄,將上述新的基板與掩罩及上述 托架交接至上述托架保持具的工序所構成; 在交換上述平台上的基板與掩罩時,進行冷卻被保持 - 在上述臂頭的上述托架。 _ -27- 1262500 陸、(一)、本案指定代表圖為:第1圖 (二)、本代表圖之元件代表符號簡單說明: 6 基 板 的 交 換 單元 20 基 板 的 交 換 柄 30 第 1 臂 頭 3 1 第 1 頭 部 40 第 2 臂 頭 4 1 第 2 頭 部 50 第 1 平 台 60 第 2 平 台 70 托 架 保 持 具 80 等 待 位 置 1 〇 0濺鍍裝置 102成膜室 103基板供給及取出室 105托架保持具搬運單元 柒、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學 式:
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