TW495558B - Gas distribution system - Google Patents

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TW495558B TW089109368A TW89109368A TW495558B TW 495558 B TW495558 B TW 495558B TW 089109368 A TW089109368 A TW 089109368A TW 89109368 A TW89109368 A TW 89109368A TW 495558 B TW495558 B TW 495558B
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duct
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Lawrence Duane Bartholomew
Soon K Yuh
Gregory Mark Stumbo
Mark B King
Jeffrey Chan
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Silicon Valley Group Thermal
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Description

495558 A7 B7 五、發明說明(1 ) 申請案交互參考 (請先閱讀背面之注音?事項寫本頁) 本申請案優先於1 9 9 9年5月1 7日提出申請之美 國專利臨時申請案60/1 34,443,該案倂入本文 參考。 1明領域 一般而言,本發明與化學氣相沈積系統有關,更明確 地說,與增進的氣體分配系統有關,用以提供實質上等流 率的氣體給化學氣相沈積系統中的多路徑。 發明背景 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 化學氣相沈積(C VD )系統是在基底表面沈積或生 長各種成分之薄膜最常用也是最爲吾人熟知的系統。例如 c V D系統一般用來在半導體晶圓上沈積介電層、鈍化層 及摻雜層。C V D系統的操作是將反應處理的氣體或化學 蒸氣引入沈積室,要被處理的基底放置在沈積室中。當金 屬蒸氣通過基底上方,它被基底表面吸收並與其反應形成 膜。使用各種鈍性載氣將固體或氣體的源以蒸氣的型式載 入沈積室。典型上,基底要被加熱以催化反應。 廣爲用來處理半導體晶圓的C V D系統中,其中一種 是大氣壓力化學氣相沈積系統(後文中稱爲AP CVD系 統)。本文中所描述的A P C V D系統例如授予 Bartholomew等人的美國專利4,8 3 4,0 2 0,也倂入 本文參考。在A P CVD系統中,沈積室是在大氣壓力下 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -4 - 495558 A7 B7 五、發明說明(2) 工作’同時,氣體源的化學品被引入反應,並在基底上沈 積一層膜。 (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) 一種A P C V D系統,是在沈積處理期間使用皮帶或 輸送帶移動基底通過一連串的沈積室。以皮帶驅動的典型 AP CVD系統具有4到6個分離的沈積室。每一個沈積 室具有一直線式氣體注射器,用以將處理氣體引入沈積室 以處理基底,還有1或多個排氣口用以排放沈積室中的氣 體及副產品。 描述直線式處理氣體注射器的美國專利例如DeDontney 等人的5,638,516,也倂入本文參考。典型上, 注射器具有數個注射孔,與基底表面間的距離小於1吋, 且經常靠近到1 / 8至1 / 2吋。注射孔與基底表面間如 此小的距離,在沈積處理期間,注射孔很容易就會被材料 及所產生的副產品所被覆。材料及副產品也會沈積在排氣 口的下緣。經過一段時間,所累積的這些沈積就成爲顆粒 的來源,且會埋在沈積在基底上的膜內,使膜的品質劣化 。因此,必須防止或減緩此種累積。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 有數種方法嘗試減少累積在C V D系統之注射孔及排 氣口的沈積。一種方法是在注射器及排氣口之下表面的附 近及四周使用若干屏蔽(shield )。描述屏蔽的美國專利 例如 DeDontney 等人的 5,8 4 9,0 8 8 及 Tran 的 5,944,900,都倂入本文參考。典型上,每一個 屏蔽都包括一個底或支撐體,接合形成集氣室的一屏( serene ),其內充以屏蔽的鈍氣,如氮氣。屏蔽的氣體經由 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -5 - 495558 A7 B7 五、發明說明(3 ) 導管或計量管(metering tube )送入集氣室,沿著管的長 度方向有一列孔。若干輸送管線將屏蔽氣體從A P C V D 系統中的氣體岐管或艙壁裝置(bulkhead fitting )送到計 量管。氣體岐管再依次連接到外部的屏蔽氣體源,典型上 與系統間有一段距離。鈍氣擴散通過屏幕以置換及稀釋屏 蔽附近區域的反應氣體,藉以減少在屏蔽本身上的沈積。 在直徑2 0 0毫米的典型基底上生長膜,要將不一致 性降到3 %以下,在處理氣體注入區內及其四周,需要具 有控制良好及定義明確的氣流平衡。典型上,屏蔽是在直 線式處理氣體注射器的兩側,同時,基底在總成下方沿固 定的方向移動。在膜的不一致性要小於3 %的要求之下, 極重要的是在處理氣體兩側的屏蔽氣流必須一直保持穩定 ,且沿著注射器長度方向兩側的氣流要定義明確,以及對 側的氣流也要定義明確。因此,吾人需要一種裝置及方法 ,以提供定義明確及控制良好的屏蔽氣流,以便不會干擾 到處理氣流。 從一屏蔽中流出的屏蔽氣流,視計量管上之孔的數量 及大小而定,也視提供給計量管之屏蔽氣體的壓力及體流 率而定。後兩項因素部分視連接到屏蔽中之計量管用以供 應屏蔽氣體之輸送管線的長度及直徑而定。如圖1所示, 典型上,這些輸送管線1 0的長度,隨著從一屏蔽1 2到 另一屏蔽,以及從一沈積室1 4到次一個而不同。這些變 異是A P C V D系統的實體限制,即,在距離氣體岐管 1 6或氣體供應源1 8較遠之沈積室中的屏蔽,必然需要 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) _ 6 - (請先閱?面坌意事項 寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A7 B7 五、發明說明(4) 較長的輸送管線1 0,以及製造輸送管線之製程變異(例 如長度或直徑)所造成的結果。這些變異使得要在每一個 計量管(未顯示)或屏蔽1 2中產生穩定、定義明確且控 制良好的氣流十分困難。 上述設計的另一個問題是來自屏蔽氣體供應源之屏蔽 氣體的氣流或壓力會不規則不斷地變動,致使流出計量管 的氣流不穩定且不平衡,干擾到處理氣流,致使膜厚不一 致。因此,吾人需要一種裝置及方法,所提供之屏蔽氣體 的氣流要高到足以減少累積在屏蔽上沈積,並充分地平衡 與穩定,以確保單個沈積室內均勻的處理,且在多個沈積 室間能充分地平衡與穩定,以確保在每一個沈積室中都能 得到相同的處理。 解決上述問題的習知方法是屏蔽內的每一個計量管都 使用獨立的管線連接到屏蔽氣體供應源,以各自獨立的壓 力調節器或流量控制器分別控制。此方法的根本問題是購 置、安裝及保養的成本都增加,一個具有4個沈積室的 A P C V D系統,每一個沈積室具有4個屏蔽,總共需要 多達1 6個壓力調節器或流量控制器。此外’此方法並不 能解決保持從每一個屏蔽流出的屏蔽氣流與其它屏蔽間達 到平衡的問題。事實上,使用多個壓力調節器或流量控制 器反使問題複雜化,因爲它們之間必須保持相互間的校準 ,否則將導致屏蔽氣流失衡。最後,爲簡單及保養容易’ 良好設計的原則是A P C V D系統與氣體供應源間’一種 氣體使用一條管線連接。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀SS拳項 寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A7 B7 五、發明說明(5) 因此’吾人需要一種裝置及方法,它輸送到 A P C VD系統內沈積室之注射口及排氣口四周之屏蔽的 屏蔽氣流,要高到足以減少沈積物在屏蔽上的形成與累積 。吾人也需要一種裝置及方法,要能提供充分平衡與穩定 屏蔽氣流’以允許沈積室內之基底四周能得到控制良好且 疋義明確的處理氣流。吾人還需要一種裝置及方法,它能 提供充分穩定與平衡屏蔽氣流,以確保在系統內之多個沈 積室中都能得到一致的處理。吾人還需要一種裝置及方法 ’它能降低由於屏蔽氣體供應源之氣流或壓力的變動所造 成的屏蔽氣流變化,且不需要使用大量、各自獨立的壓力 調節器或流量控制器。 發明槪述 本發明的目的是提供一種系統及方法,用以將氣體引 入化學氣相沈積(C V D )系統的沈積室內。更明確地說 ,本發明提供一種增進的氣體分配系統,用以經由多管路 以實質固定且相等的流率將屏蔽氣體引入沈積室。 按照一實施例,氣體分配系統包括將處理氣體引入沈 積室的處理氣體注射器,以及具有若干個毗鄰處理氣體注 射器之屏蔽體的屏蔽總成,以減少處理所產生的副產品沈 積於其上。每一個屏蔽體具有一屏及一導管,導管上有一 列孔,用以輸送屏蔽氣體通過屏。屏蔽氣體可以是鈍氣或 稀釋用氣體,經由若干氣流路徑供應,至少一條氣流路徑 轉合到每一導管,以供應屏蔽氣體。每一氣流路徑包括一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) _ 8 - (請先閱?面δ意事項 寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A7 B7 五、發明說明(6) (請先閲讀背面之注咅?事項寫本頁) 限流器,限流器口的截面積(A限㈤㉟□)經過調整’以使每 一個屏蔽體所提供的屏蔽氣體氣流實質上相等。限流器可 以在輸送管線內,耦合在導管的入口或在導管本身之內。 限流器口最好經過調整,以使流過每一導管的屏蔽氣體氣 流固定,即使供應屏蔽氣體之氣體供應源的壓力或氣流改 變 〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一般來說,每一導管中之孔的總截面積要實質上等於 其它導管。因此,調整限流器的口,以在每一導管的入口 提供實質相等的背壓力,以使每一個屏蔽體所提供的屏蔽 氣體氣流相等,以及,提供夠高的背壓力’允許氣體供應 源的壓力或‘氣流改變,但仍可得到固定的氣流。爲提供夠 高的背壓力,每一導管之孔的總截面積(Α π )以及與導管 相關之氣流路徑的截面積(Α氣流⑬彳莖)’氣流路徑中限流器 之限流器口的截面積(A□)應小於孔的總截面積’以 及,孔的總截面積應小於氣流路徑的截面積。(A㉟□ < A < A m流路徑)。較佳的情況是,在所有氣流路徑中之所 有限流器內所有口 2 7 0之截面積的和(總A㈤流器□)小於 所有導管之孔之截面積的和(總Α π ),以及所有導管之孔 之截面積的和,小於所有氣流路徑之截面積的和( 總Α氣流路徑)〇 (總A限流器□〈總A孔 < 總A氣流路徑)。更佳 的情況是總A孔/總A限流器□ k 1 · 5 ’以及 總A氣流路徑/總A孔之1 0 在另一態樣中,本發明針對一種操作化學氣相沈積系 統處理基底的方法。在該方法中,屏蔽總成包括若干屏蔽 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -9- 495558 Α7 Β7 五、發明說明(7) 請先閱讀背面之注音?事項寫本頁) 體,配置在處理氣體注射器附近,以減少處理的副產品沈 積於其上。每一個屏蔽體具有一屏以及其上具有一排孔的 導管,用以輸送屏蔽氣體通過屏,以減少沈積在屏上的處 理副產品。屏蔽氣體經由複數條氣流路徑供應給導管。通 過複數條氣流路徑之屏蔽氣體的氣流,被配置在每一氣流 路徑中具有一口的限流器限制。限流器口的截面積( A限流器□)經過調整,以使每一個屏蔽體都會g供應實質上均 等的屏蔽氣體氣流。將基底置入沈積室,並經由處理氣體 注射器將處理氣體引入沈積室以處理基底。在一較佳實施 例中,每一導管的孔包括一總截面積(Α π ),且實質上與 其它導管相等,以及,經由提供一口經過調整的限流器, 以在每一導管的入口得到相等的背壓力,因而獲致相等的 屏蔽氣體氣流。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在又一態樣中,本發明針對一用以處理基底的C V D 系統,此系統具有使屏蔽總成之數個屏蔽體中的每一個都 提供相等屏蔽氣體氣流的裝置。典型上,系統包括一處理 基底的沈積室,以及將處理氣體引入沈積室的處理氣體注 射器。屏蔽體在處理氣體注射器的附近,用以減少沈積在 其上的處理副產品。每一個屏蔽體具有一屏以及其上具有 一排孔的導管,用以輸送屏蔽氣體通過屏,以減少沈積在 其上的處理副產品。複數條氣流路徑供應屏蔽氣體給導管 。至少一條氣流路徑耦合到每一導管。沈積室的排氣系統 至少具有一個排氣口,以排放沈積室中的氣體及副產品。 在一實施例中,使每一導管提供均等屏蔽氣體氣流的裝置 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -10- 495558 A7 _ __ B7 五、發明說明(8) ,包括裝在每一氣流路徑中的限流器,限流器具有一被調 整到能提供均等屏蔽氣體氣流的口。 圖式簡單說明 在配合附圖閱讀過以下的詳細說明後,將可明瞭本發 明的這些及各種其它的特徵及優點,其中: 圖1 (習知技術)是將氣體輸送到習用化學氣相沈積 (C V D )系統之多沈積室中多屏蔽的輸送管線; 圖2是以皮帶驅動之大氣壓力化學氣相沈積( A P C V D )系統的側視槪圖; 圖3是具有按照本發明之氣體分配系統實施例之 A P C V D系統中一個沈積室的部分側視圖, 圖4是具有按照本發明之另一氣體分配系統實施例之 A P C V D系統中一個沈積室的部分側視圖, 圖5是按照本發明之實施例,操作一 A P C V D系統 以提供實質相等屏蔽氣流給若干輸送管路之方法實施例的 流程圖。 元件表 10 輸送管線 1 2 屏蔽 14 沈積室 16 岐管 18 氣體供應源 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)-11- (請先閱讀背面之注音?事項Η 裝· — — 1寫本頁} 訂· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 _B7五、發明說明(9 ) 100 APCVD系統 105 輸送帶 110 表面 115 基底 125 沈積室 120 處理窯 13 5 底板 130 加熱單元 15 5 氣體分配系統 16 0 頂壁 165a 側壁 165b 側壁 170 處理區 185a 底緣 185b 底緣 175a 排氣口 175b 排氣口 190 直線處理氣體注射器 195 注射口 200 屏蔽總成 2 10 注射器屏蔽體 (請先閱讀背面之注意事項v 裝—— ▼寫4頁) 訂: i線; 2 15 排氣口屏蔽體 2 2 0 底 2 2 5 框 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -12 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A7 B7 _ 五、發明說明(1〇) 2 3 0 屏 2 3 5 集氣室 240 計量管 250 氣體岐管 2 5 5 氣流路徑 2 6 0 輸送管線 2 6 5 限流器 2 7 0 限流器的口 2 7 5 入口 2 4 5 氣體輸出 發明詳細說明 本發明提供一種裝置及方法,用以分配氣體多路饋入 處理基底的沈積室。按照本發明的裝置及方法,對確保使 用大氣壓力化學氣相沈積系統(A p C V D系統)在半導 體晶圓上沈積高品質的膜特別有用,如圖2所示。在本文 所顯示之A P C V D系統的實施例只是用於說明,並非用 來限制本發明的範圍。 現請參閱圖2。典型的AP CVD系統1 〇 〇 —般包 括一連續的輸送帶1 〇 5,具有一表面1 1 〇,用以帶動 基底1 1 5通過具有一或多個沈積室1 2 5的處理窯 1 2 0 ’處理氣體或化學蒸氣被引入其中用以處理基底。 在處理2 〇的底板1 3 5之下是加熱單元1 3 0,將 基底1 1 5加熱到大約2 〇 〇到大約7 5 0 °C。排氣系統 本紙張尺賴财目获i?^NS)A4規格 1½ x 297 ;Jil一— ----.---·-------裝—— (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) .' 495558 Α7 _______ Β7 五、發明說明(11) 1 4 0將處理窯1 2 0及沈積室1 2 5中用過的化學蒸氣 、氣體及處理所產生的副產品排出。 ----:---·-------裝—— (請先閱讀背面之注音?事項vim寫本頁) 圖3是AP CVD系統1 〇 〇之沈積室1 2 5的部分 側視圖’具有ί女照本發明的氣體分配系統1 5 5實施例。 沈積室125包括頂壁160及側壁165a、165b ,包圍及定義一處理區170,膜或層(未顯示),例如 介電層、半導電或鈍化層等,即是在此區域沈積在基底 1 1 5上。氣體分配系統1 5 5將化學氣體分配到沈積室 125用以處理基底115。由底緣185a、185b ,側壁165a、165b及輸送帶1〇5的表面110 所定義的一或多個排氣口 1 7 5 a、1 7 5 b將用過的化 學蒸氣及氣體從沈積室1 2 5中排出。氣體分配系統 155與排氣口 175a、175b共同在基底11 5的 四周產生控制良好且定義明確的處理氣體流。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 氣體分配系統1 5 5包括直線式處理氣體注射器 190,具有一或多個注射口 195,用以將反應用的處 理氣體引入沈積室1 2 5中。氣體分配系統1 5 5也具有 一屏蔽總成2 0 0,具有若干個毗鄰處理氣體注射器 1 9 0的注射器屏蔽體2 1 0,以及毗鄰排氣口 1 7 5 a 、1 7 5 b的排氣口屏蔽體2 1 5,以減少沈積在其上的 處理副產品。屏蔽總成例如描述於T r a η的美國專利 5,944,900及〇6〇〇1^1^7等人的美國專利 5,849,088,以及美國專利臨時申請案 60/135,362,都倂入本文參考。每一個屏蔽體 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -14 - 495558 Α7 Β7 五、發明說明(12) 2 10、21 5通常都包括一底220,附接於框225 ,毗鄰處理氣體注射器1 9 0或排氣口 1 7 5 a、 175b,以及一有穿孔的片或屏230與底接合’構成 一集氣室2 3 5,稀釋或鈍性的屏蔽氣體,如氮氣’即被 引入其內。屏蔽氣體從屏散發或擴散出’以減少其上的沈 積。屏蔽氣體是經由導管或計量管2 4 0引入集氣室 2 3 5。在一實施例中,計量管是一單孔的管’沿著它的 長度方向有一列等距排列的出氣孔2 4 5。在另一實施例 中(未顯示),計量管240包括2或多個重疊、同軸的 管,如共同讓予之共同待審的美國專利申請案(委託案號 A — 6 7 1 7 8 )中的描述。在此型式中,僅最內層的管 耦合到氣體供應源,內及外管沿著它們的長度方向有數列 孔,以加強屏蔽氣體的散布。 屏蔽氣體是從AP CVD系統1 0 0內的氣體岐管 2 5 0沿著若干氣流路徑2 5 5供應到屏蔽體2 1 0、 2 1 5的集氣室2 3 5內。氣體岐管2 5 0依次連接到外 部的氣體供應源(未顯示),典型上與A P C V D系統間 有一段距離。氣流路徑2 5 5包括計量管2 4 0及耦合到 計量管的輸送管線2 6 0。在一實施例中(未顯示),屏 蔽氣體是由位於g十量管2 4 0兩端的兩條輸迭管線2 6 0 供應。按照本發明,每一條氣流路徑2 5 5至少具有一個 限流器2 6 5 ,限流器口 2 7 0的截面積(A限流器α )經過 調整,以使複數個計量管2 4 0及/或屏蔽體2 1 0、 2 1 5每一個所供應之屏蔽氣體的氣流實質上相等。限流 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -15- (請先閱讀背5 ί睪項 ,寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A7 B7 五、發明說明(13) (請先閱讀背面之注咅?事項寫本頁) 器265可以在計量管240的入口 275,如圖3所示 ,或提升到輸送管線2 6 0內,如圖4所示。限流器 2 6 5以在計量管2 4 0的入口 2 7 5爲佳,在輸送管線 內也最好儘量靠近入口,以能在氣體輸出孔2 4 5提供實 質相等的背壓力。比限流器2 6 5在氣流路徑2 5 5中之 位置更重要的是在每一條氣流路徑中之限流器的口 2 7 0 沿著氣流路徑與氣體輸出孔2 4 5間的距離要實質相同。 口 2 7 0可以是一個大孔(如所示),或數個較小的孔( 未顯示),其中每一個孔具有固定大小,孔的數量經過選 擇,以提供所要求的總截面積。 爲確保屏蔽氣體的穩定氣流能均等地分配到2或多條 氣流路徑2 5 5,每一條氣流路徑之限流器2 6 5內之口 2 7 0的截面積必須小於計量管2 4 0的總截面積(A孔) ,依次再小於氣流路徑之內徑的截面積(A氣流路彳莖)。因此 A限流器□ < A孔< A氣流路徑 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 限流器口 2 7 0之截面積的此種相對大小的進一步優 點是可減少由於屏蔽氣體供應源之氣流或壓力的變動所造 成之屏蔽氣體氣流的變化。在半導體製造的領域,此點特 別重要,因爲屏蔽氣體氣流即使有很小的變化,都會改變 基底1 1 5四周的處理氣體,造成膜厚不一致。如以上的 解釋,在半導體的製造中,膜厚的不一致性典型上必須保 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -16 - 495558 A7 B7 五、發明說明(14) (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) 持在遠小於目標厚度的3 %。較佳的情況是,在所有氣流 路徑2 5 5中之所有限流器2 6 5內所有口 2 7 〇之截面 積的和(總A卩艮流器□)小於所有計量管2 4 0之孔2 4 5之 截面積的和(總Α π ),以及所有計量管之孔2 4 5之截面 積的和,小於所有氣流路徑之截面積的和(總A _ _ @ > 。 因此, 總Α限流器□〈總Α孔 < 總Α氣流路徑 更佳的情況是,所有計量管2 4 0之孔2 4 5之截面 積的和與所有限流器口 2 7 0之截面積的和的比,大於或 等於大約1 · 5,以及所有氣流路徑2 2 5之截面積的和 與所有計量管之孔2 4 5之截面積的和的比,大於或等於 大約1。因此, 總A孔/總A限流器□之1 . 5 總A氣流路徑/總A孔之1 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 現請參閱圖5描述操作AP CVD系統1 〇 〇在基底 1 1 5上沈積一層的方法。在方法中,屏蔽氣體經由若干 氣流路徑2 5 5供應到計量管2 4 0 (步驟2 8 0 ),以 及,通過氣流路徑2 5 5之屏蔽氣體的氣流,被每一條氣 流路徑中具有一口 2 7 0的限流器2 6 5限制(步驟 285)。基底11 5置入沈積室中(步驟290),處 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) :17 - 495558 A7 B7 五、發明說明(15) 理氣體經由處理氣體注射器1 9 0的注射口 1 9 5引入沈 積室以處理基底(步驟295)。 (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) 在該方法的一較佳實施例中,每一計量管2 4 0所具 有之孔2 4 5的總截面積爲(Α π ),以及’供應屏蔽氣體 給計量管的步驟(步驟2 8 0 ),包括經由截面積爲( Α 氣流路徑)/ m ϋ?# iM i# Μ « ^ % ^ ® 胃 Μ Μ 調整,以使A ?l < Α氣流路彳莖。更佳的情況是’限制屏蔽氣體 氣流的步驟(步驟2 8 5 ),包括提供限流器口截面積爲 (A限流器□)的限流器,且g周整到A限流器□< A孔< A氣流路徑 實例 以下提供的實例將說明本發明之特定實施例的優點, 但並非以任何方式來限制本發明的範圍。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 APCVD 系統 100,如WJ — 1500,可從 Silicon Valley Group, Thermal System, LLC, of Scotts Valley California獲得,配置按照本發明的氣體分配系統。每一個 沈積室中的氣體分配系統包括一屏蔽總成,包括處理注射 器附近的一對注射器屏蔽體以及兩個排氣口附近的一對排 氣口屏蔽體。每一個屏蔽體包括一由同軸重疊之兩管所構 成的計量管。每一個內管包括3 9個孔,沿著它的長度方 向及繞著四周等間距地排列,每一個孔的直徑〇 · 〇 1吋 ,A孔的總截面積大約0 · 0 0 3 1吋2。外管具有一排孔 ,將屏蔽氣體分配到屏蔽體的集氣室內。屏蔽氣體經由氣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -18- 495558 A7 B7_ 五、發明說明(16 ) 流路徑供應到計量管,氣流路徑的最小內徑0 · 1 1 4吋 ’截面積A氣流路ί莖大約0 · 0 1 0 2时2。在測試的設§十中 ’爲了產生不平衡,供應屏蔽氣體給每一個屏蔽體的氣流 路徑沒有連接到單岐管,而是分別連接到屏蔽氣體供應源 ,以使每一個的背壓力可以各別地改變。在此實驗例中, 爲確保氣流從每一個屏蔽體均等地流出,使用口直徑爲 0 · 〇 4 7吋的限流器,其截面積Α㈤㈤g □大約 〇· 0 0 1 7吋2。爲評估限流器在修正或補償兩個注射器 屏蔽體其中之一不平衡的效果,其中一個注射器屏蔽體以 6 7 . 4吋/水柱的背壓力供應屏蔽氣體,另一個以 3 7 . 8吋/水柱的背壓力供應。排氣口屏蔽體則保持在 固定的背壓力大約3 7吋/水柱。在接下來的測試中, A P C VD系統使用上述的氣體分配系統,在半導體基底 上沈積一層膜,厚度從1 7 5 0埃到1 8 3 6埃。膜的不 一致性小於2 · 7 7 %。接下來的測試使用標準的氣體分 配系統,不使用限流器,以及同樣使用不對稱的背壓力, 1 2 6 2埃之膜的不一致性達1 〇 · 8 %。因此,測試的 結果說明按照本發明之氣體分配系統具有補償限流器口上 游壓力不平衡的能力。 須瞭解’在前文的描述中已說明了本發明之特定實施 例諸多的特徵及優點,以及本發明之各種實施例之結構與 功能的細節’但本揭示只是用於說明,在本發明完整範圍 的原理內’細節方面可做改變,特別是關於零件的結構與 配置,如所附申請專利範圍中以最廣義之名詞所做的表達。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請先閱讀背面£意事項 寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -19-

Claims (1)

  1. 495558 A8 B8 C8 D8 六、申旖御讀 附件A' 第89109368號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國91年1月修正 種用於化學氣相沈積系統的屏蔽總成,該屏蔽 總成包括: (a )複數個屏蔽體,每一個屏蔽體具有一屏以及其 上具有一排孔的導管,用以輸送屏蔽氣體通過屏;以及 (b )複數條氣流路徑,至少一條氣流路徑耦合到每 一條導管,用以供應屏蔽氣體給導管,以及 (c )在複數條氣流路徑之每一條中的限流器,限流 器具有一限流器口,截面積A⑯㈤胃□經過調整,以使複數個 屏蔽體中的每一個能供應實質上均等的屏蔽氣體氣流。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 ·如申請專利範圍第1項的屏蔽總成,其中複數條 氣流路徑從單一的屏蔽氣體供應源供應屏蔽氣體給導管, 且其中的限流器口經過調整,以使複數個屏蔽體中的每一 個都提供實質上固定的屏蔽氣體氣流,即使來自屏蔽氣體 供應源之屏蔽氣體的氣流或壓力改變。 3 ·如申請專利範圍第1項的屏蔽總成,其中每一條 導管上之孔的總截面積爲(A孔)以及與導管相關之氣流路 徑的截面積爲(A氣流路徑),且其中A限流器口 < A孔< A氣流路徑。 4 ·如申請專利範圍第1項的屏蔽總成,其中,所有 氣流路徑中之限流器之限流器口之截面積的和(總A器□ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS〉A4規格(210X297公釐) 495558 A8 B8 C8 D8 —________ 一.— -;--------—~—---— — "— --- 六、申請專利範圍 )小於所有導管之孔之截面積的和(總A孔),且其中總 A孔小於所有氣流路徑之截面積的和(總A氣涼n) ° 5 . —種氣體分配系統,用在處理基底的沈積室中分 配氣體’氣體分配系統包括· (a )處理氣體注射器,將處理氣體引入沈積室; (b )屏蔽總成,具有複數個峨鄰處理氣體注射器的 屏蔽體,用以減少處理所產生的副產品沈積於其上’每~ 個屏蔽體具有一屏以及其上具有一排孔的導管’用以輸送 屏蔽氣體通過屏;以及. _ (c )複數條氣流路徑,至少一條氣流路徑耦合到每 一條導管,用以供應屏蔽氣體給導管,以及 (d )在複數條氣流路徑之每一條中的限流器,限流 器具有一截面積爲A限流器□的口。 6 . —種用以處理基底的化學氣相沈積系統,該系統 包括: (a)沈積室,基底在其內處理; (b )處理氣體注射器,將處理氣體引入沈積室以處 理基底; (c )屏蔽總成,具有複數個毗鄰處理氣體注射器的 屏蔽體,用以減少處理所產生的副產品沈積於其上,每一 個屏蔽體具有一屏以及其上具有一排孔的導管,用.以輸送 屏蔽氣體通過屏;以及 (d )複數條氣流路徑,至少一條氣流路徑耦合到每 一條導管,用以供應屏蔽氣體給導管,以及 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填、寫本頁) 、\v 口 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 495558 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (e )用以使複數個屏蔽體之每一個提供實質均等之 屏蔽氣體氣流的裝置;以及 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (ί )沈積室內的排氣系統,具有至少一個排氣口, 以從其中排出氣體及副產品。 7 ·如申請專利範圍第6項的系統,其中使每一導管 提供實質均等之屏蔽氣體氣流的裝置包括複數條氣流路徑 之每一條中的限流器,限流器具有一口,且截面積( Α氣流路徑)經過調整,以使複數個屏蔽體中的每一個都提供 實質上均等的屏蔽氣體氣流。‘ 8 ·如申請專利範圍第5或7項的系統,其中每一條 導管上之孔的總截面積爲(Α π )及與導管相關之氣流路徑 的截面積爲(A氣流路徑),且其中A限流器□< A孔< A氣流路n 〇 9 .如申請專利範圍第5或7項的系統,其中,所有 氣流路徑中之限流器之限流器口之截面積的和(總A P艮流器口 )小於所有導管之孔之截面積的和(總A孔),且其中總 A孔小於所有氣流路徑之截面積的和(總A $流◎ μ )。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 10.—種操作化學氣相沈積系統處理基底的方法, 該方法的步驟包括: (a )毗鄰處理氣體注射器配置包括複數個屏蔽體的 屏蔽總成,以減少沈積於其上的處理副產品,每一個屏蔽 體具有一屏以及其上具有一排孔的導管,用以輸送屏蔽氣 體通過屏,以減少沈積於其上的處理副產品; (b )經由複數條氣流路徑供應屏蔽氣體給導管; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 495558 A8 B8 C8 D8X、申請專利乾圍 (C )配置於每一氣流路徑中的限流器限制通過複數 條氣流路徑之屏蔽氣體的氣流,限流器具有一口,該口的 截面積(A限流n □)經過調整,以使複數個屏蔽體中的每一 個能供應實質上均等的屏蔽氣體氣流; (d )將基底置入沈積室;以及 (e )經由處理氣體注射器將處理氣體引入沈積室以 處理基底。 1 1 ·如申請專利範圍第1 0項的方法,其中每一條 導管上之孔的總截面積爲.(A孔),且其中步驟(b )包括 經由截面積(A氣流路徑)經過調整以使A孔< A氣流路徑之氣流 .路徑供應屏蔽氣體的步驟,其中步驟(c )包括提供一限 流器,限流器的口經過調整,以使A p艮^□ < A孔< A氣流路徑的步驟0 1 2 ·如申請專利範圍第1 1項的方法,其中步驟( b )包括經由總截面積經過調整以使總A $㈤路徑/總A孔$ 1 之氣流路徑供應屏蔽氣體的步驟,其中步驟(c )包括提 供一限流器,限流器的口經過調整,以使總A卩艮流n D / 總A孔> 1 · 5的步驟。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -4-
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