TW305095B - - Google Patents

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TW305095B TW085111882A TW85111882A TW305095B TW 305095 B TW305095 B TW 305095B TW 085111882 A TW085111882 A TW 085111882A TW 85111882 A TW85111882 A TW 85111882A TW 305095 B TW305095 B TW 305095B
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    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
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Description

經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 305G95 A7 B7 五、發明説明(丨) 發明背景 發明領域 本發明係有關於電子影像感測或攝影機系統的測試 工作,尤其是與用於使現有之最小可解析對比(MRC)的 測試之自動化有關。 待解決之問題 現在所使用的最小可解析對比(MRC)測試涉及一測 試觀察者’此觀察者可經由一TV攝影機觀察變動的對 比桿圖形(bar chart)而決定最低的對比,在此對比下可 解析給定頻率之3桿圖形中的所有桿(bar)。此MRC測試 的缺點爲:必須要有一位受過訓練的觀察者以得到有意 義的結果,且由於觀察者的變動而導致不準確性。因此 需要有一種可使得測試結果標準化的自動測試系統’尤 其是一相當簡單且價廉的自動測試系統。現在的測試方 法中尙需使用昂貴的變動對比目標物投影機。 習知技術說明 用於投射變動對比目標物的習知系統之例可參見美 國專利申請案案號4,299,451,申請人爲Η· L. TASK等 本紙張尺度適用中國國家樣準(CNS ) A4規格(210X 29*7公竣) I n 裳 n ^ 111 Ί 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 3〇5〇95 Α7 Β7 五、發明説明(>·) 人,其中對將測試的視訊慼測器產生測試影像形狀,以 偵測最小對比解析度,該偵測工作可由人類觀察者執 行。測試影像輸入感測器,且一分開的偵測器,分束儀 及極化器提供測試影像對比的回饋。 其他用於自動影像感測器及攝影機之測試的習知技 術之系統尙包含: 美國專利申請案案號5,033,015,申請人爲R. ZWIRN,其中說明一含位址的査閱表,此表爲測試感 測器輸出之信號及雜訊組成的函數,且包含與從人類觀 察者中得到的輸入信號相關的數據,且用於決定最小可 解析溫度,而非最小可解析X ; 美國專利申請案案號5,285,286,申請人爲R. KANNEGUNDLA,其中說明一系統,其可對將測試之 CCD感測器產生一測試影像,以加以顯示且不具有函數 儲存功能,但最後仍需要一觀察者; 美國專利申請案案號5,136,388,申請人爲Y. SAND £T AL,其中使用從將測試之影像感測器的胞元中顯影 的頻率分佈圖樣,且與標準的圖樣相比較,而不需要一 觀察者以補足攝影機缺陷,但其可調整對比。 美國專利申請案案號4,568,975,申請人爲 HARSHBARGER JR等人及美國專利申請案案號 5,351,201,申請人J. H. HARSHBARGER,JR_等人,兩者 均發展用於測試如CRT顯示器的電子顯示裝置之特性, 本紙張尺度逍用中國國家檁準(CNS ) A4规格(210X 297公嫠) I II I I —訂 I I I 1¾. (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央搮準局R工消费合作社印製 經濟部中央樣隼局貝工消费合作社印装 A7 B7 __ 五、發明説明(1) 其中使用測試圖樣,且不需要觀察者。 上述各習知技術的系統均無法提供一架構簡單且價 廉的機構及方法以測試如τν攝影機之電子影像感測器 的MRC,尤其是在不需要觀察者且可確保所需要的準 確度方面均無法達到。 發明目的 本發明係提供一方法及機構,其可應用較簡單且成 本更低廉的測試儀器克服現有MRC測試上的缺點。 本發明的另一目的係提供一用於對現有之MRC進 行自動測試的方法及機構,而不需要雇用特別經過訓練 的觀察者。 本發明的另一目的係提供一用於對現有之MRC進 行自動測試的方法及機構,其可以較低的測試成本而對 TV攝影機系統得到更準確,及可預測的品質。 發明槪述 本發明的目的係使用一系統克服上述及其他的問 題’該系統可用於在來自方形開孔目標物邊緣的邊緣響 * 應’或來自薄狹縫目標物之脈衝影像,用於數位信號處 理的電子影像感測器或視訊攝影機上自動執行最小可解 本紙张尺度適用中HD家標準(CNS )八4狀(21()><297公瘦) I I I I II 裝 I I I I I 訂— I I I I I 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 五 、發明説明(f) 析對比(MRC)測試,雜訊數據結合而發展出一自動 MRC(AMRC)方程式,可用於產生一調變轉換函數 (MTF),其數値可加以計算AMRC輸出。尤其是,含固 定對比的目標物用於產生一將爲攝影機所感測的測試影 像,且適於在不同的照明準位下產生多個測試影像的畫 面。爲攝影機所輸出,以回應感測測試影像且指示一影 像畫面的信號在一機構中處理此機構可感測信號及雜訊 特性及目標物邊緣,或薄狹縫,影像品質,且產生DC 響應,及雜訊數據和指示其數値的目標物數據信號。在 不同的目標物照明準位,對多個影像畫面收集且處理 DC響應,雜訊及目標物數據信號,且輸出指示收集數 據的信號。然後使用收集數據信號產生一AMRC輸出信 號,此信號係應用下式經由計算自動MRC數値得到: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本f ) -'9 Γ AMRC(N)= SNRm[ m
N
[βτ{Ν){1~ -v2P)+v2P r 2Afvte RS^M)
^SIG 經濟部中央橾準局負工消费合作社印製 且產生指示該數値的輸出信號作爲該測試値,其 中 SNRTH爲臨界信號對雜訊比; △ fv爲視訊頻寬(Hz); t爲觀察者眼睛整合時間(秒); e爲目標物桿縱橫比(長比寬’對一含2介間間隙的 3桿目標物爲5 : 1); 本紙张尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 經濟部中央樣隼局負工消費合作社印製 ^05035 五、發明説明(JT) α爲顯示縱橫比(寬對高); Ν爲目標物頻率(每圖像高度的TV線數); RSF(N)爲系統方波響應(只在一照明準位之下量 測);
J I R0T(N) I 2dN β τ(Ν)- ^---- Ν 在周期性方向的雜訊濾波器函數,即垂直於目標物 桿,其中R〇T(N)爲雜訊***點之後,組件的正弦波響應 (偵測器讀出,電子儀器和顯示器): VSIO :對應黑階之目標物照明準位處的平均信號電 壓;
Vtoto/ :在目標物照明準位之總雜訊均方根値; VP:在黑階下的雜訊均方根値(包含所有非爲信號產 生的 雜訊)。 圖式之簡單說明 由下文中的本發明之詳細說明可更進一步了解本發 明述及其他特徵,閱讀時並請參考附圖: 圖1爲一自動最小可解析對比(AMRC)測試器的方塊 紙伕尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 裝 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局男工消费合作社印製 A7 B7 五、發明説明(名) 圖,該測試器使用本發明的方形開孔目標物β 圖2a及2b示對應的垂直狹縫目標物及水平狹縫目標 物,其可取代圖1的方形開孔目標物,以用於MTF測 試。 發明之詳細說明 本發明係提供一方法及機構,可經由自動化的已知 最小可解析對比(MRC)測試,尤其是電視攝影機之信號 及雜訊特性的自動量測而照明電子影像感測器及攝影機 系統。在己知的MRC測試中,一測試觀察者經由TV攝 影機観看變動對比桿(contrast bar)以決定最低的對比, 在此對比下可解析給定頻率之3桿圖形中的所有桿。此 測試的缺點爲必須要要有一受過訓練的觀察者以得到有 意義的結果,由於観察者變動的不準確性,且需要使用 昂貴的變動對比目標物投影器。本發明應用簡單而且更 便宜的測試設備克服現行MRC測試的缺點。而且,本 發明爲自動化測試,因此不需要特別訓練的觀察者。所 以可得到更準確而可預測的TV攝影機系統,並且測試 成本更低。 本發明的自動MRC(AMRC)測試器自動量測電視攝 影機的信號及響應特性,且特別適用於測試及核對攝影 機,且將其方法與MRC設計預測比較。此MRC測試用 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ---------^— (請先M·讀背面之注意事項再填寫本瓦) 訂 線 3〇5〇95 A7 B7
經濟部中央樣準局員工消費合作杜印製 五、發明説明(7 ) 於估計TV攝影機目標物辨識,且偵測範圔領域之性 能。在範圍性能中的AMRC測試可改進範圔預備的準備 性。 圖1示本發明的AMRC測試器。由數位信號處埋器 1〇控制測試操作,該處理器10包含一畫面抓取器 (Grabber)組件12,雜訊處理單元14,目標物處理單元 16,及用於完成自動解析對比(AMRC)最小化的處埋。 將測試之TV攝影機20經一準直透鏡24観看一方形開孔 目標物22。方形開孔目標物22爲燈28經擴散器所照明, 而提供均勻之照明。TV攝影機20的輸出輸入類比數位 轉換器30,以備用於信號處理。在信號處理器1〇中’來 自A/D轉換30之視訊的畫面感測T在畫面抓取器12中, 以用於處理。在雜訊處理單元14而畫面的雜訊特性,且 在目標物處理單元16用於目標物邊緣或狹縫影像品質之 處理。另外,如圖2a,2b所示的目標物40a及40b(含薄 垂直及水平之對應狹縫光源開孔41,42)可取代MTF量 測用之方形開孔目標物22。來自單元14,16的數據在多 個畫面中,用於不同的燈照明準位在AMRC單元中收集 且處理,直到得到充分的數據以計算且輸出自動MRC 値。然後AMRC單元18輸出一信號,其指示MRC之數 値,且沿著一回饋信號至一燈控制器32,用於調整來自 燈2S的照明,及一自動增益控制(AGC)緊夾(clamping)燈 源34。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 读-!* 裝 訂
I 本紙浪尺度適用中國國家操準(CNS ) A4規格(210x;297公嫠) 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 A7 _ B7 五、發明説明(<K) 信號及雜訊處理 如圖1中所示者,使用一目標物21量測MRC之數 値,目標物21具有一亮度方形開孔22,此開孔22抵著黑 色背景26。然後’經由來自方形開孔目標物21之照明所 產生的信號及雜訊電壓當測試時在攝影機20的視訊輸出 處加以量測。在信號經由A/D轉換器30及畫面抓取器 12,在單元14量測雜訊,對目標物區域使用標準差作爲 目標物測試亮度的函數。然後從單元14中所產生的輸出 信號指示目標物區的均質亮度及照明源關掉時背景區的 均質亮度。其包含DC響應及雜訊數據。在單元16中, 目標物開孔端中任一端將提供一邊緣響應,或者另外, 一脈衝響應提供一狹縫目標物,其用於影像品質量測, 即所謂的調變轉換函數(MTF),可在攝影機的輸出處, 於攝影機16中計算微分邊綠響應的傅利葉轉換,或者收 集非微分狹縫響應。使用對方波的傅利葉展開式將MTF 輸出轉換成方波響應。這些參數(DC響應,雜訊及MTF) 隨後輸入AMRC處理單元18,在單元18中輸出凶計算的 自動 MRC^il。 可經由改變目標物頻寬對不同的背景光階自動決,定 MRC之數値。此項處理中的一部份包含決定目標物的 亮度是否在將測試之TV攝影機操作的線性區域中。如 ___10 本紙張尺度遴用中國國家梂準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) II I I I I 裝— —訂 I I I 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局員工消费合作社印製 A7 B7_ 五、發明説明(1 ) 果測試目標物的影像並沒有充塡攝影機自動增益控制 (AGC)窗,攝影機增益將設定得太高,且目標物的照明 將使攝影機的輸出飽合。如果偵測到此種狀況,動作目 標物外另一可調整之大面積光源(即圖1之AGC光源 34) » 當圖2a,2b中的窄開孔或狹縫目標物41或42中之一 用於MTF量測時,可在開始量測方形開孔目標物之前或 之後,將該目標物導引。因爲通常量測水平解析度,所 以用垂直狹縫量測爲基線。當需要垂直解析度時,執行 水平狹縫MTF之量測。一般狹縫目標物所產生的雜訊優 於在MTF量測時在方形開孔目標物邊界上所產生的雜 訊。但是,在量測期間,必須切換目標物,且需要有多 種不同尺寸的狹縫以對不同的解析解力測試影像感測器 的範圍。只需要一些方形開孔目標物測試相同廣泛範圍 的影像感測器。 AMRC處理 在AMRC處理單元18中的信號處理使用的方程式爲 Westinghouse Electric A. Rossell及R. H.
Wilson所發展,可參見1972年9月的Proc. SPIE第118 頁,篇名爲”Basics of Detection,Recognition,and Identification in Electro-Optical Formed Imagery"。所 11 本紙乐尺度逋用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X 297公釐) I 裝 I I I I 訂— I I I I 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 3〇5〇95 Α7 _Β7 五、發明説明(/〇 ) 以,爲下列方程式給定顯示的信號雜訊比SNR^,其對 於周期測試圖樣,其中爲具有5 : 1之長寬比的三個 垂直桿及兩個介間間隙: SNR = Μ _2MGTiav_ DI ae N [G2TySr(N)iav+Is]1/2 (式1) 其中: t爲觀察者眼睛整合時間(sec); ε爲目標物桿縱橫比(對標準的含兩介間間隙的3桿圖形 之長寬比爲5 : 1); α爲顯示縱橫比(通常爲4/3); e爲電子電荷(庫侖); N爲目標物頻率(每圖像高度之TV線數); RSF(N)爲系統方波響應: Μ爲調變對比(最大-大小)/(最大+最小); GT爲光表面及前置放大器間的信號增益; iav爲平均目標物及背景光電流(A);
Is爲前置放大器電流(A);以及 J | R0T(N) i 2dN β τ(Ν)= ^--- I I 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙张尺度遑用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X 297公釐) A7 B7 305095 五、發明説明(/ Μ 爲雜訊濾波器函數,位在與目標物桿徵正交的周期方 向,其中R〇T(N)爲雜訊***點之後組件(偵測器讀出, 電子儀器及顯示器)的正弦波響應。 解下式中所給定的雜訊對比(^): M(N)= SNRDI[a e/te]1/2 [N/RSF(N)] [G^ r ^)^+1^1/2 2Gxiav ( 式2) 除了雜訊項目外,所有的參數均知道且可加以量 測。爲了將此方程式轉換成可使用的形式,必須使用量 測雜訊量及泛用對比(C)(而非調變對比(M))加以表示。 泛用對比(universal contrast)C定義成最大輸入亮度 減去最小亮度除以最大亮度,其中最大亮度目標物亮度 或背景亮度中較大者。然後泛用對比C以調變對比Μ加 以表示如: C=2m/(1+M) (式 3) 同樣地,Μ可以C表示 M=C/(2-C) (式 4) C=M(2-C) (式·5) 對最小可解析對比MRC的一顯示表示法可將方程 本紙张尺度適用中國國家樣準(CNS ) Α4現格(210X297公釐) I 裝 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾隼局員工消費合作社印製 B7 五、發明説明(/>) 式2代入方程式3中得到,但方法較爲繁冗。另一方面’ 可將方程式2代入方程式5而得到一較爲簡單的式子。當 應用最小解析對比取代對比,且顧’ SNRdi由臨 界値SNR,SNRTH替代,則MRC之表示法如下: T [GxiSr (N)iav + IS]1/2 ,- MRC(N)= SNRDI[a e/te]1/2 [N/Rsf(N)]--(2_ C) ( 式6) 可經由執行MRC測試的觀察者調整顯示亮度,且 將對比控制在最適對比之下,而證明爲何在本發明中使 用固定臨界値顯示信號雜訊比(SNRth) ’而不使用爲對 比之函數的信號雜訊比。 爲了在視訊輸出處以童測項目表示雜訊組成,進行 下列替代運算: iAV^GTlav 經濟部中央標準局黃工消費合作社印—
Ip"=2eIsA fv Iav2=2eiav A fvGT2 其中,
Iav :爲目標物及背景電流(A)的平均値; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X公釐) 經濟部中央揉準局貝工消费合作社印製 305095 Α7 Β7 五、發明説明(I))
Ip爲在前置放大器(A)處之前置放大器雜訊的均方根 値; .
Iav爲在前置放大器輸入(A)處雜散雜訊之均方根値;以 及 △ fv爲視訊頻寬(H2);因此 MRC(N)= _ 歷⑽ (式7) MRC可經由可在分子及分母中消除之增益尺度而 表示成在視訊輸出處的量測電壓。然後電流可應用下列 對應電壓表示: MRC(N)= SNRm[-^-r lMN)2 + ylp r (2 - MRCW)(式 2d/vte RS?{N) 2Vav 8) 因爲所量測者爲全部雜訊,而非其組成,所以必須 使用一種可分開計算雜訊中各組成的方法。其執行方法 爲在目標物區及(系統前置放大器及信號所產生的雜訊) 對黑色背景區(只有系統及前置放大器雜訊)中量測雜 訊。可經由量測信號及雜訊電壓而進行,其中電壓爲目 標物亮度的函數。然後,解由信號所產生的雜訊。在式 8中所有可項目不是已知即是可加以量測者。可對系統 15 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -* 本紙張尺度適用中國國家橾率(CNS ) Α4规格(210Χ 297公釐) 五 發明説明(/ +) A7 B7 計算測試下的雜訊濾波器函數々τ(Νρ在攝影機的視訊 輸出外量測自動MRC(AMRC) ’因此顯不並不包含在量 測範圔之內。假設或特定的顯示可包含中。在 系統帶通的頻率範圍內y3T(N)爲幾近於1的,且可作爲 預先計算的功能》 在式8中的MRC並非是AMRC所需要的最終形式。 由方程式5中可將Μ表示成: M(N)= SNRm[ a lI/2 N [βτ{Ν)νΙ + vl ]1/2 2AfjeJ Rsf(N)
2V
AV (式9) 下一步驟係以在自動測試中所使用的信號電壓表示調 變(而非使用用於桿目標物中的平均電壓)。可使用上面 所給定對比的定義建立兩者的相關係:
C=(VMAX-VMIN)/V
MAX (式 I — I II I 批衣 I I n ;訂I 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 10) 經濟部中央揉隼局員工消费合作社印装
Vmax爲信號電壓,其稱爲VSIG,Vmin爲背景電壓 因爲,Vav=(Vsig+Vmin)/2,可應用 C及 Vskj解 VAV爲:
Vav=(2-C)VSig/2 (式 11) 16 本紙張尺度遑用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 3_95 A7 _ B7 五、發明説明(ΐζ) 將式11代入式9中得到: 12) 13) 14) M(N)= ,1/2 ^ ΙβΛΝψΙ + vl f2 24/> Rsf(N) (2~C)Fac (式 應用式5可將AMRC定義成以M表示的對比: AMRC(N)=M(N)(2-C) (式 計算M(N)可得到AMRC,且代入式10中得到: AMRC(N)= smm[ ί1/2
RSP(N) 2VSIC (式 — I— i I i I 裝— II 訂 I I I 線 《請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局負工消费合作社印製 由AMRC中所得到的方程式14,必須使用自動測試的 量測量加以表示。下列量係在目標物照明準位的範圍之 內加以量測: VSIO:相關於黑階之目標物照明準位處的平均信號電 壓;
Vteto/ :在目標物照明準位之總雜訊均方根値; 17 本紙張尺度遑用中國國家椟率(CNS ) A4规格(210X297公釐) 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印製 A7 B7 五、發明説明(丨石) vp:在黑階下的雜訊均方根彳直(包含所有·#爲信號產生的 雜 訊); 以及 RS=(N):方波影像(只在—目標物照明準位下量測h 其他項目爲將測試的輸入參數(Vav)除外,且分開 輸入計算MRC方程式的MRC處理器。隨目標物照明及 對比變動的雜訊項可從量測的雜訊%0仏丨及Vp中得 到。因爲從平均信號中產生的雜訊並不量測’而是量測 由峰値目標物所產生的雜訊(使用含固定對比的方形開 孔目標物,而非含變動對比的桿圖形),所以雜訊必須 以Vtotal加以表示,Vtotal爲VSIG^VP的均方根値。 首先使用用於信號電流的方程式’其中雜訊項從信 號方程式中得到。由對比可知信號電壓Vav與Vsm相 關,如前面式11中所示者,由此可得到以電流表示的對 等方程式: iAV=(2-C)iSIG/2 (式 15) 由平均電流所致之雜訊電流如下: 本紙張尺度遑用中國國家橾率(CNS ) A4規格(210X 297公釐) — 浲-- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 言 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(丨1 ) lAv2=WeiavAfvGT2 (式 16) 其中: iAv=目標物及背景電流(A)的平均値(A);
Iav爲在前置放大器輸入(A)中雜散雜訊的均方根値; △ fv爲視訊頻寬(Hz);以及 Gt爲光電流增益 將式15代入式16中從信號電流中使得的電壓轉換雜 訊信號’· 現在應用對應的電壓取代電流 11, =(2-C)eiSIGA fv G\ =((2-C)/2)(2eiSiGAfv^) =((2-C)/2)Isig2 (式 17) 式17以量測雜訊項及對比表示,且可代入式14中·, 以計算由量測量表示的 I 裝 訂 务 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 3050Q5 五、發明説明(/ί) Α7 Β7 AMRC(N)- SNRm[ 1/2 [凡(A〇(.2:巧C(D-)(匕-V2p) + V^f2 2Δ/〆 (式 18) 式18係用於配置AMRC處理單元18之方程式,可用 於計算且產生AMRC輸出。 因此提供用於量測影像感測器之最小可解析對比的 自動系統,該影像感測器如TV攝影機,且所使用的組 件及程序相當少且便宜,且不需要使用人類觀察者。 訂 線 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣隼局員工消費合作社印裝 20 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局負工消费合作杜印裝 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1. 一種在如TV攝影機的影像感測器上自動執行最小 可解析對比(MRC)測試的裝置,包含: 目標物機構,在測試下,用於產生爲該影像感測 器 所感測的測試影像; 照明機構,用於照明目標物機構且在不同的照明 準 位下 產生多個該測試影像的畫面,以輸入該影像感測 器; 用於處理視訊信號的機構,該視訊信號爲該影像 感 測所輸出且指示一影像畫面,以回應感測來自該 g 標物機構之一測試影像畫面,此機構包含: 一機構,用於感測DC響應及來自指示視訊信 號之 影像畫面的雜訊特性,以及產生DC響應及指 示視 訊信號的雜訊數據信號; 一機構,用於感測該指示視訊信號的影像I畫 面, 且產生調變轉換函數(MTF)信號,以回應該感 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4洗格(210X297公釐}
    申請專利範圍 測的 像 號 影像畫面;以及 一機構,不同的目標物照明準位下,對多個影 畫面收集且處理該雜訊及目標物數據信號及該 MTF函數信號,且輸出指示該收集信號的信 利用所收集的信號,以計算下列數値的機構: AMRC(N): Μ [凡⑼(2::c(Ar)VtL -vD+v2Pf2 ^SIG 中: 經濟部中央揉準局負工消费合作社印装 且產生指示該等數値的自動MRC輸出信號,其 SNRTH爲臨界信號對雜訊比; △ fv爲視訊頻寬(Hz); t爲観察者眼睛整合時間(秒); e爲目標物桿縱橫比(長比寬); α爲顯示縱橫比; Ν爲目標物頻率(每圖像高度的TV線數); RSF(N)爲系統方波響應(只在一照明準位之下量 測); --------f -裝------訂-----八级 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家#準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 A8 B8 C8 _D8 六、申請專利範圍 J I R〇T(N) I 2dN 冷 τ(Ν)= -5--- 爲正交於目標物桿的雜訊濾波器函數,其中 R〇t(N)爲雜訊揷入點之後,分量的正弦波響應; Vskj :相關於黑階之目標物照明準位處的平均信號 電壓; «•在目標物照明準位之總雜訊均方根値; Vp:在黑階下的雜訊均方根値(包含所有非爲信號產 生的 雜訊成份” 2. 如申請專利範圔第1項之裝置,其中用於處理指 示一影像畫面之視訊信號的機構包含一晝面抓取器 (Frame Grabber)。 3. 如申請專利範圍第1項之裝置,更包含一數位信 號處理器,其包含用於處理視訊信號的機構,該視訊信 號指示一測試影像畫面。 4. 如申請專利範圔第3項之裝置,其中該數位信號 處理器亦包含用於計算AMRC(N)之數値的機構。 5_如申請專利範園第1項之裝置,其中用於計算 AMRC(N)數値且產生自動MRC輸出信號的機構,更包 含一機構,此可對應於AMRC輸出信號,以控制該照明 機構在不同的照明準位下產生多個測試影像之畫面。. --------{裝------订-------{冰 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) 經濟部中央揉準局貞工消费合作社印製 305095 g D8 六、申請專利範圍 6. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中在不同的照 明準位下產生多個測試影像之畫面的照明機構包含一燈 及一分散器以照明該目標物機構,及一自動增益控制 (AGC)箝位(damping)照明源。 7. 如申請專利範圍第6項之裝置,其中用於計算 AMRC(N)數値且產生該自動MRC輸出信號的機構更包 含一機構,可對響應於該AMRC輸出信號,以控制該 AGC箝位照明源。 8. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中用於處理指 示一影像畫面的視訊信號之機構更包含一 A/D轉換器。 9. 如申請専利範圍第1項之裝置,其中該目標物機 構包含一方形開孔目標物,且用於產生一MTF信號的機 構包含: 從該方形開孔目標物之邊緣之一得到一邊緣響應 的 機構;以及 產生目標物數據信號的機構,包含: 一機構,藉由在影像感測器的輸出處計算微分 邊 緣響應之傅利葉(Fourier)轉換量,得到調變轉換 函數 _ (MTF),以及 使用用於方波之傅利葉展開式,將MTF信號轉換 J--------ί -裝------訂-----ί線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙张尺度逋用中國國家梂準(CNS > A4况格(210X297公釐) 經濟部中央標準局I工消費合作社印装 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 成方波響應的機構。 10·如申請專利範圍第1項之裝置,其中該目標物機 構包含一方形開孔目標物,且從該畫面信號感測雜訊特 性並產生指示雜訊之雜訊數據信號的前述機構包含在目 標物區使用標準差方法量測雜訊的機構,該雜訊爲目標 物亮度的函數,此量測雜訊的機構並產生指示雜訊的雜 訊數據信號。 u.如申請專利範圍第1項之裝置,其中該目標物機 構包含一方形開孔目標物,且從該畫面信號感測DC響 應特性並產生指示DC響應之DC響應數據信號的前述機 構包含一機構,此機構決定方形開孔目標物區的亮度平 均値及背景區的亮度之平均値之間的差値。 12.如申請專利範圔第1項之裝置,其中該目標物機 構包含一含細的垂直及水平狹縫光源開孔的狹縫目標物 機構,用於產生一MTF信號的機構包含: 用於產生影像品質數據信號的機構,此機構包含 一調 變轉換函數(MTF),此函數可在影像感測器的輸 出 處,計算狹縫響應的傅利葉轉換量得到;以及 使用用於方波的傅利葉展開式將MTF信號轉換成 方波 響應的機構。 本纸張又度適用中國國家棣準(CNS ) A4規格(210 X 297公嫠) --------{-裝------訂-------{線 (锖先閱讀背面之注意事項再填寫本育) A8 B8 C8 D8 305095 六、申請專利範圍 —種在如TV攝影機的影像感測器上自動執行最 小可解析對比(MRC)測試的方法,包含下列步驟.· 提供一照明源及具有固定對比的方形開孔目標物, 以 產生一將爲該影像感測器所感測的影像; 基於目標物邊緣或狹縫影像品質對於DC響應和雜 訊特 性及應用調變轉換函數,處理由該影像感測器輸出 的 一影像畫面,以回應感測到來自該目標物的影像, 且 產生指示該影像畫面的數據信號; 使用不同的目標物照明準位對多個影像晝面收集且 處 理該數據信號,且輸出指示該收集數據信號的輸出 信 號;以及 使用該收集數據信號的信號計算amrc(n)之數値 --------^ 政— (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂· 綵 經濟部中央標準局負工消费合作社印製 AMRC(N): SNRm[ a N [βτ{Ν){1~ -Vj) + Vj f2 it .. — 2¥v)ts RSP(N) ^SlO 且產生指示該數値的輸出信號,其中: 本紙張尺度逋用中國國家樣準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標準局MC工消費合作社印製 305095 六、申請專利範圍 SNRTH爲臨界信號對雜訊比; △ fv爲視訊頻寬(Hz): t爲觀察者眼睛整合時間(秒); ε爲目標物桿縱橫比(長比寬); α爲顯示縱橫比; Ν爲目標物頻率(每圖像高度的TV線數); RSF(N)爲系統方波響應(只在一照明準位乏下量 測); N J | R0T(N) | 2dN β τ(Ν)= ^——-- Ν 爲垂直目標物桿的雜訊濾波器函數,其中 R〇t(N)爲雜訊***點之後,分童的正弦波響應; VSIC :相關於黑階之目標物照明準位處的平均信號 電壓: Vtato/ :在目標物照明準位之總雜訊均方根値; VP:在黑階下的雜訊均方根値(包含所有非爲信號產 生的 雜訊)。 14.如申請專利範圍第13項之方法,其中對於雜訊 特性處理一影像畫面的步驟包含在目標物區使用標準差 方式量測雜訊,作爲具目標物亮度的函數,且產生指示 本紙伕尺度逋用中國國家梂準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) --------ί -裝------订-----{線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標車局負工消费合作社印S- A8 B8 C8 ----------- 、申請專利範園 該雜訊的數據信號。 15·如申請專利範圍第13項之方法,其中對於DC響 應特性從處理一影像畫面的步驟產生之指示數據信號包 含一信號,其指示目標物區之亮度平均値與背景區之亮 度平均値之間的差値。 16·如申請專利範圔第13項之方法,其中對於目標 物邊緣影像品質處理一影像畫面的步驟包含從該方形開 孔目標物的邊緣之一得到一邊緣響應。 17. 如申請專利範圍第I6項之方法’其中對於目檫 物邊緣影像品質從處理的一影像畫面之步驟中產生的指 示數據信號包含指示調變轉換函數(MTF)的信號,該調 變轉換函數係在影像感測器的輸出處將微分邊緣響應計 算傅利葉轉換量而得到;且更包含使用用於方波之傅利 葉展開式,將MTF信號轉換成方波的步驟。 18. 如申請專利範圍第13項之方法,其中對於狹縫 影像品質處理一影像衋面的步驟包含提供一目標物’此 目標物包含一狹縫目標物機構,其含細的垂直及水平狹 縫光源開孔。 19_如申請專利範圍第18項之方法’其中對於狹縫 影像品質從處理的一影像畫面之步驟中產生的指示數據 信號包含指示調變轉換函數(MTF)的信號,該調變轉,換 函數係在影像感測器的輸出處將微分狹縫響應計算傅利 葉轉換量而得到;且更包含使用用於方波之傅利葉展開 --------1 -装------ir-------{级 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙法尺度適用中國*家梂準(CNS > A4规格(210X297公釐) 經濟部中央標準局属工消費合作社印製 A8 3 0 5 0 9 5 C8 六、申請專利範圍 式,將MTF信號轉換成方波的步驟。 20. —種在如TV的影像感測器上自動執行最小可解 析對比(MRC)測試且產生一測試値的裝置,包含 具有固定對比的方形開孔目標物機構,以產生一將 爲 該影像感測器所感測之第一測試影像; 一狹縫目標物機構,具有細的垂直及水平光源開 孔, 用於產生一將爲該影像感測器所感測的第二測試影 像; 用於改變該方形開孔及該狹縫目標物機構之照明的 機 構,以在不同的照明準位下產生多個第一及第二測 試 影像之畫面; 用於處理信號的機構,可指示該測試影像畫面,此 影 像畫面係由該影像感測器所輸出,以回應來自該方 形 開孔目標物機構及來自該狹縫目標物機構中感測的 測 , 試影像畫面,此處理信號的機構包含: 一機構,用於感測來自該測試影像畫面信號輸出 --------< -裝------訂------C線 (請先閱讀背面之注意^項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家梂準(CMS) A4規格(210X29*7公釐) 經濟部中央標準局負工消費合作社印裝 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 的 雜訊特性,以回應來自該方形開孔目標物機構中 所 感測的第一測試影像畫面,且產生DC響應及指 示該 響應的雜訊數據信號; 一機構,用於感測從該測試影像畫面信號輸出的 狹 縫影像品質,以回應從該狹縫目標物機構中所感 測 的第二測試影像畫面,且產生指示該影像畫面的 調 變轉換函數(MTF)數據信號; 一機構,在不同的目標物照明準位下,對於多個 測 試影像畫面,收集且處理該DC響應,雜訊,及 MTF 數據信號,且輸出指示該收集數據的信號;以及 —機構,使用該收集的數據信號計算amrc(n) 之數 値 . AMRC(N)= [凡(λ〇(2~Ί^(Κ2)+Θ Γ SNRm[-^—f2 —^----2- Rsf(N) V3IC 10 --------{-裝------訂-----{線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙张尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公* ) 經濟部中央揉準局負工消费合作社印5L A8 B8 C8 _D8 六、申請專利範圍 且產生指示該數値的輸出信號作爲該測試値,其 中: SNRTH爲臨界信號對雜訊比; △ fv爲視訊頻寬(Hz); t爲觀察者眼睛整合時間(秒); ε爲目標物桿縱橫比(長比寬); α爲顯示縱橫比; Ν爲目標物頻率(每圖像高度的TV線數); Rsf(N)爲系統方波響應(只在一照明準位之下量 測); N J | ROT(N) | 2dN β τ(Ν)= = ——-- Ν 爲在周期性方向的雜訊濾波器函數,其中 R〇T(N)爲雜訊***點之後,分量的正弦波響應; VSIG :相關於黑階之目標物照明準位處的平均信號 電壓; VtoW:在目標物照明準位之總雜訊均方根値; vp:在黑階下的雜訊均方根値(包含所有非爲信號產 生的雜訊)。 1 1 --------f -裝------订-----f線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙伕尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108510480A (zh) * 2018-03-20 2018-09-07 北京理工大学 基于辐射对比度的卫星探测性能评估方法、装置及存储器

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6366312B1 (en) * 1998-06-09 2002-04-02 Intel Corporation Testing components in digital imaging devices
US7898571B1 (en) * 1999-02-27 2011-03-01 Raytheon Company Versatile video data acquisition and analysis system
US6900884B2 (en) * 2001-10-04 2005-05-31 Lockheed Martin Corporation Automatic measurement of the modulation transfer function of an optical system
US7068302B2 (en) * 2002-08-15 2006-06-27 Ford Global Technologies, Llc Method for camera calibration and quality testing
JP4328224B2 (ja) * 2004-01-26 2009-09-09 オリンパス株式会社 結像光学系の結像性能評価方法及び装置
US7518712B2 (en) * 2004-05-12 2009-04-14 Edmund Optics, Inc. Tilted edge for optical-transfer-function measurement
EP1628494A1 (en) * 2004-08-17 2006-02-22 Dialog Semiconductor GmbH Intelligent light source with synchronization with a digital camera
EP1648181A1 (en) * 2004-10-12 2006-04-19 Dialog Semiconductor GmbH A multiple frame grabber
DE102005006755A1 (de) * 2005-02-15 2006-08-17 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur optischen Justage einer Kamera
US8094195B2 (en) * 2006-12-28 2012-01-10 Flextronics International Usa, Inc. Digital camera calibration method
WO2010101945A2 (en) * 2009-03-02 2010-09-10 Flextronics Ap, Llc Calibration techniques for camera modules
US8310548B2 (en) * 2009-10-23 2012-11-13 Contec Llc System and method for video quality parametric tests
CN102279092B (zh) * 2011-04-08 2013-08-14 长春理工大学 一种基于led显示的光学靶标***
JP5839990B2 (ja) * 2011-12-28 2016-01-06 三菱重工業株式会社 コントラスト光源装置及びコントラスト光源の形成方法
WO2016094383A1 (en) * 2014-12-08 2016-06-16 Trw Automotive U.S. Llc Compact modular transfer function evaluation system
DE102018133289A1 (de) 2018-12-21 2020-06-25 Hensoldt Optronics Gmbh Messvorrichtung und Verfahren zur Bestimmung des minimal auflösbaren Kontrasts

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3912396A (en) * 1973-05-23 1975-10-14 Bell & Howell Co Electronic lens tester
US4299451A (en) * 1980-04-15 1981-11-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Minimum resolvable contrast measurement device
US4568975A (en) * 1984-08-02 1986-02-04 Visual Information Institute, Inc. Method for measuring the gray scale characteristics of a CRT display
US5033015A (en) * 1988-08-12 1991-07-16 Hughes Aircraft Company Automated system for testing an imaging sensor
JPH07117571B2 (ja) * 1988-09-22 1995-12-18 松下電子工業株式会社 固体撮像素子の検査方法
DE3836280C1 (zh) * 1988-10-25 1989-08-10 Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg, 8000 Muenchen, De
US5155558A (en) * 1990-09-19 1992-10-13 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method and apparatus for analyzing the appearance features of a surface
US5285286A (en) * 1992-01-24 1994-02-08 Eastman Kodak Company Apparatus for testing image sensors that simultaneously output multiple image blocks
US5351201A (en) * 1992-08-19 1994-09-27 Mtl Systems, Inc. Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices
US5572444A (en) * 1992-08-19 1996-11-05 Mtl Systems, Inc. Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108510480A (zh) * 2018-03-20 2018-09-07 北京理工大学 基于辐射对比度的卫星探测性能评估方法、装置及存储器
CN108510480B (zh) * 2018-03-20 2021-02-09 北京理工大学 基于辐射对比度的卫星探测性能评估方法、装置及存储器

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EP0864231A1 (en) 1998-09-16
WO1997016032A1 (en) 1997-05-01
IL123684A0 (en) 1998-10-30
US5748230A (en) 1998-05-05

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