TW202001249A - 用於非接觸式電壓測量裝置之多感測器組態 - Google Patents

用於非接觸式電壓測量裝置之多感測器組態 Download PDF

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Abstract

提供用於測量一絕緣導體之AC電壓而不需要介於該導體與一測試電極或探針之間的電氣連接(galvanic connection)之系統及方法。一非電氣接觸式(non-galvanic contact)(或「非接觸式」)電壓測量系統包括一感測器子系統、一內部接地防護件、及一參考屏蔽蔽。共模參考電壓源係電耦接在該內部接地防護件與該參考屏蔽之間以產生一AC參考電壓，該AC參考電壓使一參考電流通行通過該導電感測器。控制電路系統接收指示由於該AC參考電壓及該絕緣導體中之該AC電壓而流動通過該感測器子系統之電流的一信號，並且至少部分基於所接收之該信號來判定該絕緣導體中之該AC電壓。該感測器子系統包括至少兩個獨立的感測器，該兩個感測器用於補償導體位置，同時改善準確度及動態範圍。

Description

用於非接觸式電壓測量裝置之多感測器組態
本揭露大致上係關於電壓測量裝置，且更具體地係關於用於電壓測量裝置之感測器。
伏特計係用於測量電路中電壓的儀器。測量超過一個電特性的儀器稱為萬用表或數位萬用表(digital multimeter, DMM)，並且操作以測量大致上用於維修、故障排除及維護應用所需要的數個參數。此類參數一般包括交流(alternating current, AC)電壓及電流、直流(direct current, DC)電壓及電流、以及電阻或導通性(continuity)。亦可測量其他參數，諸如功率特性、頻率、電容及溫度以滿足特定應用的要求。
運用測量AC電壓的習知伏特計或萬用表，需要使至少兩個測量電極或探針與導體電氣接觸(galvanic contact)，這通常需要切斷絕緣導線之絕緣部分，或預先提供用於測量之終端。除了需要用於電氣接觸的暴露導線或終端之外，使伏特計探針觸碰裸導線或終端的步驟亦會因為電擊或觸電風險而相對危險。「非接觸」電壓測量裝置可用於偵測交流(AC)電壓之存在，而不需要與電路電氣接觸。當偵測到電壓時，藉由指示(諸如光、蜂鳴器、或振動馬達)來警示使用者。然而，此等非接觸式電壓偵測器僅提供AC電壓之存在或不存在的指示，且不提供AC電壓之實際量值(例如，RMS值)的指示。
因此，需要一種AC電壓測量系統，其提供方便的且準確的電壓測量而無須與受測電路電氣接觸。
一種用以測量一絕緣導體中之交流電(AC)之裝置可概述成包括：一殼體；一感測器子系統，其實體上耦接至該殼體，該感測器子系統可選擇性地定位成鄰近該絕緣導體而不電氣接觸(galvanically contacting)該導體，其中該感測器子系統與該絕緣導體電容耦合，該感測器子系統包括一第一感測器部分及獨立於該第一感測器部分的一第二感測器部分；一導電內部接地防護件，其至少部分地圍繞該感測器子系統，並與該感測器子系統電氣隔離(galvanically isolated)，該內部接地防護件經定大小及定尺寸以屏蔽該感測器子系統免於雜散電流；一導電參考屏蔽，其環繞該殼體的至少一部分且與該內部接地防護件電氣絕緣(galvanically insulated)，該導電參考屏蔽經定大小及定尺寸以減少在該內部接地防護件與一外部接地之間的電流；一共模參考電壓源，其在操作中產生具有一參考頻率的一交流(AC)參考電壓，該共模參考電壓源電耦接在該內部接地防護件與該導電參考屏蔽之間；輸入電壓信號調節電路系統，其可選擇性地交替耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分，其中該輸入電壓信號調節電路系統在操作時產生指示由於受測試之該絕緣導體的該輸入電壓而傳導通過該感測器子系統之電流的一感測器電流信號；參考信號調節電路系統，其可選擇性地交替耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分，其中該參考信號調節電路系統在操作時產生指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流的一感測器電流信號；及控制電路系統，其通訊地耦接至該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統，其中該控制電路系統在操作時：接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的感測器電流信號；及至少部分基於所接收之該等感測器電流信號、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
該第一感測器部分可包括電耦接在一起的第一複數個間隔開的導電感測器，且該第二感測器部分可包括電耦接在一起的第二複數個間隔開的導電感測器。該第一感測器部分之該第一複數個導電感測器可與該第二感測器部分之該第二複數個導電感測器交錯。該輸入電壓信號調節電路系統可經由一第一開關而選擇性地交替耦接至該第一感測器部分及該第二感測器部分，且其中該參考信號調節電路系統可經由一第二開關而選擇性地交替耦接至該第一感測器部分及該第二感測器部分。該控制電路系統在操作時可同步地控制該第一開關及該第二開關之該等狀態以交替地：將該第一感測器部分電耦接至該參考信號調節電路系統，且將該第二感測器部分電耦接至該輸入電壓信號調節電路系統；及將該第二感測器部分電耦接至該參考信號調節電路系統，且將該第一感測器部分電耦接至該輸入電壓信號調節電路系統。該控制電路系統在操作時可以一50百分比之工作週期同步地控制該第一開關及該第二開關之該等狀態。該控制電路系統在操作時：可判定該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生該等最大感測器電流信號；及可至少部分基於該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生最大感測器電流信號之該判定來判定該絕緣導體中之該AC電壓。該控制電路系統在操作時：可判定該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生該等最大感測器電流信號；可忽略從產生該等最小感測器電流信號的第一及第二感測器部分中之該者所獲得的該等感測器電流信號；及可至少部分地基於從產生最大感測器電流信號之該第一感測器部分及該第二感測器部分中之該者所獲得的該等感測器電流信號來判定該絕緣導體中之該AC電壓。該控制電路系統在操作時：可判定接收自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之所接收的該等感測器電流信號之一加權組合；及可至少部分基於所接收之該等感測器電流信號之該加權組合來判定該絕緣導體中之該AC電壓。所接收之該等感測器電流信號的該加權組合可包括一線性加權組合或一指數加權組合中之至少一者。該輸入電壓信號調節電路及該參考信號調節電路系統之各者可包括一放大器、一濾波器、或一類比轉數位轉換器中之至少一者。該輸入電壓信號調節電路系統可經最佳化以調節或處理輸入電壓信號，且該參考信號調節電路系統可經最佳化以調節或處理AC參考電壓信號。該感測器子系統及該導電內部接地防護件之形狀可各係非平面的。該控制電路系統可在該共模參考電壓源經停用時獲得一第一測量，可在共模參考電壓源經啟用時獲得一第二測量，且可至少部分基於該第一測量及該第二測量、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
一種操作一裝置以測量在一絕緣導體中之交流(AC)電壓之方法可概述成包括：一殼體；一感測器子系統，其實體上耦接至該殼體，該感測器子系統可選擇性地定位成鄰近該絕緣導體而不電氣接觸該導體，其中該感測器子系統與該絕緣導體電容耦合，該感測器子系統包括一第一感測器部分及獨立於該第一感測器部分的一第二感測器部分；一導電內部接地防護件，其至少部分地圍繞該感測器子系統，並與該感測器子系統電氣隔離，該內部接地防護件經定大小及定尺寸以屏蔽該感測器子系統免於雜散電流；及一導電參考屏蔽，其圍繞該殼體的至少一部分且與該內部接地防護件電氣絕緣，該導電參考屏蔽經定大小及定尺寸以減少在該內部接地防護件與一外部接地之間的電流，該方法進一步包括：導致一共模參考電壓源產生具有一參考頻率的一交流(AC)參考電壓，該共模參考電壓源電耦接在該內部接地防護件與該導電參考屏蔽之間；經由可以一交替方式電耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分的輸入電壓信號調節電路系統來產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該輸入電壓而傳導通過該感測器子系統之電流；經由可以一交替方式電耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分的參考電流信號調節電路系統來產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流；藉由控制電路系統接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的該等感測器電流信號；及藉由該控制電路系統至少部分基於所接收之該等感測器電流信號、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
一種用以測量一絕緣導體中之交流電(AC)之裝置可概述成包括：一第一感測器部分，其包括第一複數個導電感測器；一第二感測器部分，其獨立於該第一感測器部分，該第二感測器部分包括第二複數個導電感測器；輸入電壓信號調節電路系統，其在操作時產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於受測試之該絕緣導體的該輸入電壓而傳導通過該第一感測器部分及該第二感測器部分中之至少一者的電流；參考信號調節電路系統，其在操作時產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於由該裝置產生且在該絕緣導體中偵測的一AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流；一第一可控制開關，其操作以將該第一感測器部分及該第二感測器部分之各者交替耦接至該輸入電壓信號調節電路系統；及一第二可控制開關，其操作以將該第一感測器部分及該第二感測器部分之各者交替耦接至該參考信號調節電路系統。
該裝置可進一步包括：控制電路系統，其通訊地耦接至該輸入電壓信號調節電路系統、該參考信號調節電路系統、該第一可控制開關、及該第二可控制開關，其中該控制電路系統在操作時：控制該第一可控制開關以交替地：將該第一感測器部分耦接至該輸入電壓信號調節電路系統，及將該第二感測器部分耦接至該輸入電壓信號調節電路系統；控制該第二可控制開關以交替地：將該第一感測器部分耦接至該參考信號調節電路系統，及將該第二感測器部分耦接至該參考信號調節電路系統；接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的感測器電流信號；及至少部分基於所接收之該等感測器電流信號來判定該絕緣導體中之該AC電壓。該控制電路系統在操作時可以一50百分比之工作週期同步地控制該第一可控制開關及該第二可控制開關之該等狀態。該第一感測器部分可包括電耦接在一起的第一複數個間隔開的導電感測器，且該第二感測器部分可包括電耦接在一起的第二複數個間隔開的導電感測器。該第一感測器部分之該第一複數個導電感測器可與該第二感測器部分之該第二複數個導電感測器交錯。
本揭露之一或多個實施方案係有關用於測量一絕緣或空白未絕緣導體(例如，絕緣導線)中之電參數(例如，電壓、電流、功率)而不需要介於該導體與一測試電極或探針之間的電氣連接(galvanic connection)之系統及方法。一般而言，提供非電流觸點式(或「非接觸式」)電壓測量裝置，其使用電容感測器相對於接地來測量絕緣導體中之AC電壓信號。在本文中，不需要電氣連接之此類系統稱為「非接觸式」。如本文所用，除非另外指明，「電耦接」包括直接及間接電耦接。如下文參考圖5進一步討論者，在至少一些實施方案中，使用兩個獨立的感測器以提供具有補償受測試導體之位置之經改善測量，並藉由使用信號分離方法(諸如濾波器、同步整流、或其他調變方法)來將信號路徑在感測器輸入處直接分成一參考信號及一輸入信號。如下文進一步討論者，此切分可用於獨立地最佳化，例如，靈敏度/範圍，以供參考信號及輸入信號改善效能/準確度並減少雜訊。
在下文描述中，提出某些具體細節以提供對各種所揭露實施方案的透徹理解。然而，所屬技術領域中具通常知識者將瞭解，可在沒有這些具體細節之一或多者的情況中實踐實施方案，或運用其他方法、組件、材料等實踐實施方案。在其他情況中，未展示或詳細描述與電腦系統、伺服器電腦及/或通訊網路相關聯之熟知結構，以避免不必要地模糊實施方案之說明。
除非上下文另外要求，否則在整個說明書及申請專利範圍中，用詞「包含(comprising)」與「包括(including)」同義，並且係內含或係開放式的(即，不排除額外、未列舉之元件或方法動作)。
在本說明書通篇中提及「一個實施方案(one implementation)」或「一實施方案(an implementation)」意指關聯於該實施方案描述之一特定特徵、結構或特性被包括在至少一個實施方案中。因此，在本說明書通篇各處，出現的片語「在一個實施方案中」或「在一實施方案中」不一定都是指相同實施方案。此外，可在一或多個實施方案中以任何合適方式來組合特定特徵、結構或特性。
如本說明書與隨附之申請專利範圍中所使用者，單數形式「一(a/an)」與「該(the)」皆包括複數的指涉，除非上下文另有明確指定。亦應注意，除非上下文明確另有所指定，否則用語「或(or)」在使用時通常包括「及/或(and/or)」之意涵。
在此提供的本揭露之標題及摘要僅為方便起見，並且不應解讀為實施方案之範疇或含義。
下文論述提供用於測量絕緣(例如，絕緣導線)或空白未絕緣導體(例如，匯流排(bus bar))的交流(AC)電壓而不需要介於導體與測試電極或探針之間之電氣連接之系統及方法的實例。本文所揭露之實施方案可在本文中稱為「參考信號類型電壓感測器」或系統。一般而言，提供非電流觸點式(或「非接觸式」)電壓測量裝置，其使用電容感測器相對於接地來測量絕緣導體中之AC電壓信號。在本文中，不需要電氣連接之此類系統稱為「非接觸式」。如本文所用，除非另外指明，「電耦接」包括直接及間接電耦接。
圖1A係根據一闡釋性實施例之一環境100的繪圖，其中可由一操作者104使用包括一參考信號類型電壓感測器或系統的一非接觸式電壓測量裝置102以測量存在於一絕緣導線106中之AC電壓，而不需要介於該非接觸式電壓測量裝置與導線106之間的電氣接觸。圖1B係圖1A之非接觸式電壓測量裝置102的俯視平面圖，展示在操作期間非接觸式電壓測量裝置的各種電氣特性。非接觸式電壓測量裝置102包括一殼體或主體108，該殼體或主體包括一抓握部分或端部110及一探針部分或端部112，在本文亦稱為與抓握部分相對的前端。殼體108也可包括促進使用者與非接觸式電壓測量裝置102之互動的使用者介面114。使用者介面114可包括任意數目個輸入(例如，按鈕、撥號盤、開關、觸控感測器)及任何數目個輸出(例如，顯示器、LED、揚聲器、蜂鳴器)。非接觸式電壓測量裝置102亦可包括一或多個有線及/或無線通訊介面(例如，USB、Wi-Fi® 、Bluetooth® )。
在至少一些實施方案中，如圖1B所最佳地展示的，探針部分112可包括由第一延伸部分118及第二延伸部分120界定的凹入部分116。凹入部分116接收絕緣導線106(參見圖1A)。絕緣導線106包括一導體122及圍繞導體122的一絕緣體124。凹入部分116可包括一感測器或電極126，當絕緣導線定位在非接觸式電壓測量裝置102之凹入部分116內時，該感測器或電極擱置在絕緣導線106之絕緣體124附近。雖然為清楚起見而未展示，但感測器126可設置在殼體108內，以防止感測器與其他物體之間的實體及電接觸。
如圖1A所展示，在使用中，操作者104可抓住殼體108之抓握部分110且置放探針部分112靠近在絕緣導線106，使得非接觸式電壓測量裝置102可準確地測量相對於接地(earth ground)(或另一個參考節點)存在於導線中之AC電壓。儘管探針端部112展示為具有凹入部分116，但在其他實施方案中，探針部分112可經不同地組態。例如，在至少一些實施方案中，探針部分112可包括一可選擇性移動式夾鉗、一鉤、包括感測器之一平坦或弓形表面、或允許非接觸式電壓測量裝置102之一感測器被定位靠近絕緣導線106的其他類型介面。下文參考圖5論述各種探針部分及感測器的實例。
僅在一些實施方案中操作者身體可作為接地(earth/ground)之參考。替代地，可使用經由一測試引線139與接地128的直接連接。本文所論述之非接觸測量功能不限於僅用於相對於接地進行測量的應用。外部參考可電容耦合或直接耦接至任何其他電位。例如，若外部參考電容耦接至三相系統中之另一相，則測量相間電壓(phase-to-phase voltage)。一般而言，本文所論述之概念不限於僅使用連接至參考電壓及任何其他參考電位的體電容耦合的接地參考。
如下文進一步論述，在至少一些實施方案中，在AC電壓測量期間，非接觸式電壓測量裝置102可利用介於操作者104與接地128之間的體電容(CB )。雖然術語接地用於節點128，但節點不一定是接地，而是可藉由電容耦合而依電氣隔離方式連接至任何其他參考電位。
下文參考圖2至圖4論述由非接觸式電壓測量裝置102使用以測量AC電壓的特定系統及方法。
圖2展示亦在圖1A及圖1B中展示之非接觸式電壓測量裝置102之各種內部組件的示意圖。在此實例中，非接觸式電壓測量裝置102之導電感測器126係實質上「V形」且被定位成鄰近受測試絕緣導線106，且與絕緣導線106之導體122電容耦合，形成一感測器耦合電容器(CO )。處置非接觸式電壓測量裝置102之操作者104具有接地的體電容(CB )。再者，如圖1A及圖1B中所展示，可使用藉由一導線(例如，測試引線139)之直接導電接地耦合。因此，如圖1B及圖2所展示，透過串聯連接之耦合電容器(CO )及體電容(CB )，在導線122中之AC電壓信號(VO )產生一絕緣導體電流分量或「信號電流」(IO )。在一些實施方案中，體電容(CB )亦可包括電氣隔離之測試引線，該測試引線產生對地電容或任何其他參考電位。
待測量之導線122中之AC電壓(VO )具有至外部接地128(例如，中性線(neutral))的連接。當操作者104 (圖1)將非接觸式電壓測量裝置固持於其手中時，非接觸式電壓測量裝置102本身也具有主要由體電容(CB )組成的對接地128之電容。電容CO 及CB 兩者產生導電環路，且該環路內的電壓產生信號電流(IO )。信號電流(IO )係藉由電容耦接至導電感測器126的AC電壓信號(VO )所產生，且透過非接觸式電壓測量裝置之殼體108及對接地128的體電容器(CB )而迴歸至外部接地128。電流信號(IO )取決於介於非接觸式電壓測量裝置102之導電感測器126與受測試絕緣導線106之間的距離、導電感測器126之特定形狀、及導體122中之大小及電壓位準(VO )。
為了補償直接影響信號電流(IO )的距離變異且因此補償耦合電容器(CO )變異，非接觸式電壓測量裝置102包括共模參考電壓源130，該共模參考電壓源產生具有與信號電壓頻率(fO )不同之參考頻率(fR )的AC參考電壓(VR )。
為了減少或避免雜散電流，非接觸式電壓測量裝置102之至少一部分可被導電內部接地防護件或網屏132圍繞，該導電內部接地防護件或網屏使得大部分電流通過導電感測器126，該導電感測器與絕緣導線106之導體122形成耦合電容器(CO )。內部接地防護件132可由任何合適之導電材料(例如，銅)形成，且可係實心(例如，箔)或具有一或多個開口(例如，網格)。
另外，為了避免內部接地防護件132與外部接地128之間的電流，非接觸式電壓測量裝置102包括一導電參考屏蔽134。參考屏蔽134可由任何合適之導電材料(例如，銅)所形成，並且可係實心(例如，片金屬、塑料殼體內側之濺鍍金屬)、可撓(例如，箔)、或具有一或多個開口(例如，網格)。共模參考電壓源130電耦接在參考屏蔽134與內部接地防護件132之間，而產生具有用於非接觸式電壓測量裝置102之參考電壓(VR )及參考頻率(fR )的一共模電壓或參考信號。此類AC參考電壓(VR )驅動額外參考電流(IR )通過耦合電容器(CO )及體電容器(CB )。
圍繞導電感測器126之至少一部分的內部接地防護件132保護導電感測器免於AC參考電壓(VR )之直接影響而避免導電感測器126與參考屏蔽134之間的參考電流(IR )的非所要偏移。如上所述，內部接地防護件132係用於非接觸電壓測量裝置102的內部電子接地138。在至少一些實施方案中，內部接地防護件132亦圍繞非接觸式電壓測量裝置102之一些或全部電子器件，以避免AC參考電壓(VR )耦接至該等電子器件中。
如上文所述，參考屏蔽134用於將參考信號注入至輸入AC電壓信號(VO )上，且其第二功能是最小化防護件132至接地128電容。在至少一些實施方案中，參考屏蔽134圍繞非接觸式電壓測量裝置102之殼體108之一些或全部。在此類實施方案中，一些或全部的電子器件看到參考共模信號，該參考共模信號也在導電感測器126與絕緣導線106中的導體122之間產生參考電流(IR )。在至少一些實施方案中，參考屏蔽134中之唯一間隙可係用於導電感測器126之開口，該開口允許在非接觸式電壓測量裝置102之操作期間定位導電感測器靠近絕緣導線106。
內部接地防護件132及參考屏蔽134可在非接觸式電壓測量裝置102之殼體108(參見圖1A及圖1B)周圍提供雙層網屏。參考屏蔽134可設置在殼體108之外表面上，且內部接地防護件132可作用為內部屏蔽或防護件。導電感測器126藉由防護件132而對參考屏蔽134予以屏蔽，使得任何參考電流流動均由導電感測器126與受測試導體122之間的耦合電容器(CO )產生。感測器126周圍之防護件132亦減少靠近感測器的相鄰導線的雜散影響。
如圖2所展示，非接觸式電壓測量裝置102可包括操作為反相電流轉電壓轉換器的一輸入放大器136。輸入放大器136具有電耦接至內部接地防護件132的一非反相終端，該內部接地防護件作用為非接觸式電壓測量裝置102之內部接地138。輸入放大器136之一反相終端可電耦接至導電感測器126。回授電路系統137(例如，回授電阻器)亦可耦合在輸入放大器136之反相終端與輸出終端之間，以提供用於輸入信號調節的回授及適當增益。
輸入放大器136接收來自導電感測器126的信號電流(IO )及參考電流(IR )且將所接收電流轉換成一感測器電流電壓信號，該感測器電流電壓信號指示在輸入放大器之輸出終端處的導電感測器電流。感測器電流電壓信號可係例如一類比電壓。類比電壓可饋送至信號處理模組140，如下文進一步討論的，該信號處理模組處理感測器電流電壓信號以判定絕緣導線106之導體122中之AC電壓(VO )。信號處理模組140可包括數位電路系統及/或類比電路系統之任何組合。
非接觸式電壓測量裝置102亦可包括通訊地耦接至信號處理模組140的使用者介面142(例如，顯示器)，以呈現所判定之AC電壓(VO )或藉由一介面傳達給非接觸式電壓測量裝置之操作者104。
圖3係非接觸式電壓測量裝置300的方塊圖，展示非接觸式電壓測量裝置之各種信號處理組件。圖4係圖3之非接觸式電壓測量裝置300的更詳細圖。
非接觸式電壓測量裝置300可類似或相同於上文論述之非接觸式電壓測量裝置102。因此，用相同的參考符號來標記類似或相同之組件。如所展示，輸入放大器136將來自導電感測器126的輸入電流(IO +IR )轉換成指示輸入電流之一感測器電流電壓信號。使用類比轉數位轉換器(analog-to-digital converter, ADC)302將感測器電流電壓信號轉換成數位形式。
藉由方程式(1)使導線122中之AC電壓(VO )與AC參考電壓(VR )相關：
Figure 02_image001
其中(IO )係由於導體122中之AC電壓(VO )而通過導電感測器126之信號電流，(IR )係由於AC參考電壓(VR )而通過導電感測器126之參考電流，(fO )係正被測量之AC電壓(VO )之頻率，且(fR )係參考AC電壓(VR )之頻率。
與AC電壓(VO )相關之具有下標「O」之信號所具有之特性(如頻率)不同於與共模參考電壓源130相關之具有下標「R」之信號之特性。在圖4之實施中，諸如實作快速傅立葉變換(FFT)演算法306之電路系統的數位處理可用於分離不同頻率之信號量值。在其他實施方案中，類比電子濾波器亦可用於將「O」信號特性(例如，量值、頻率)與「R」信號特性分開。
由於耦合電容器(CO )，電流(IO )及電流(IR )分別取決於頻率(fO )及頻率(fR )。流動通過耦合電容器(CO )及體電容(CB )的電流與頻率成比例，且因此，需要測量受測試導體122中之AC電壓(VO )之頻率(fO )，以判定參考頻率(fR )對信號頻率(fO )的比率(其已利用在上文列出之方程式(1)中)，或參考頻率係已知的(此係因為其係由系統本身產生)。
在輸入電流(IO +IR )已由輸入放大器136調節並由ADC 302數位化之後，可藉由使用FFT 306在頻域中表示信號來判定數位感測器電流電壓信號之頻率分量。當已測量頻率(fO )及(fR )二者時，可判定頻率頻格(frequency bin)以從FFT 306計算電流(IO )及(IR )之基本量值。
電流(IR )及/或電流(IO )之量值可根據參考信號感測器或電極(例如，電極126)與絕緣導線106之導體122之間的距離而變動。因此，系統可將所測量之電流(IR )及/或電流(IO )與所預期的各別電流相比較，以判定介於參考信號感測器或電極與導體122之間的距離。
接下來，如圖3之方塊308所指示者，電流(IR )及(IO )之基本諧波(分別標示為IR ,1 及IO ,1 )的比率可藉由所判定之頻率(fO )及(fR )校正，且此因數可藉由相加導線122中之諧波(VO )(係藉由計算平方諧波和之平方根而完成)而用以計算所測量之原始基本或RMS電壓，且可在顯示器312上呈現給使用者。
例如，取決於介於絕緣導體106與導電感測器126之間的距離，以及感測器126之特定形狀及尺寸，耦合電容器(CO )通常可具有在約0.02 pF至1 pF範圍內之電容值。例如，體電容(CB )可具有大約20 pF至200 pF之電容值。
從上文之方程式(1)可看出，由共模參考電壓源130產生之AC參考電壓(VR )不需要在與導體122中之AC電壓(VO )相同的範圍中以達成信號電流(IO )及參考電流(IR )的類似電流量值。藉由選擇相對高的參考頻率(fR )，AC參考電壓(VR )可相對低(例如，小於5 V)。作為一實例，參考頻率(fR )可選擇成3 kHz，其比具有60 Hz之信號頻率(fO )的典型120 VRMS AC電壓(VO )高50倍。在此類情況中，可將AC參考電壓(VR )選擇成僅2.4 V(即，120 V÷50)以產生相同的參考電流(IR )作為信號電流(IO )。一般而言，設定參考頻率(fR )為信號頻率(fO )之N倍允許AC參考電壓(VR )具有在導線122中之AC電壓(VO )的(1/N)倍之值以產生彼此在相同範圍中的電流(IR )及(IO )，以達成IR 及IO 的類似不確定性。
可使用任何合適之信號產生器產生具有參考頻率(fR )之AC參考電壓(VR )。在圖3所繪示之實例中，使用Sigma-Delta數位轉類比轉換器(Σ-Δ DAC)310。Σ-Δ DAC 310使用位元串流以建立具有經定義參考頻率(fR )及AC參考電壓(VR )的波形(例如，正弦波形)信號。在至少一些實施方案中，Σ-Δ DAC 310可產生與FFT 306之窗同相之波形以減小抖動。可使用任何其他參考電壓產生器，諸如PWM，其可使用低於Σ-Δ DAC的運算能力。
在至少一些實施方案中，ADC 302可具有14個位元之解析度。在操作中，針對標稱50 Hz輸入信號，ADC 302可依10.24 kHz取樣頻率下取樣來自輸入放大器136之輸出，以在100 ms提供2n 個樣本(1024)(用於FFT 306之10 Hz頻格)，該等樣本準備好供FFT 306處理。對於60 Hz輸入信號，取樣頻率可係12.288 kHz，例如，以獲得每循環相同數目個樣本。ADC 302之取樣頻率可與參考頻率(fR )之全數目個循環同步。輸入信號頻率可在例如40 Hz至70 Hz之範圍內。取決於AC電壓(VO )之所測量頻率，可使用FFT 306來判定用於AC電壓(VO )的頻格，且使用漢尼視窗(Hanning window)函數用於進一步計算，以抑制由彙總間隔所擷取之不完整信號循環而造成之相移抖動。
在一實例中，共模參考電壓源130產生具有2419 Hz之參考頻率(fR )的AC參考電壓(VR )。對於60 Hz信號，此頻率在第40諧波與第41諧波之間，對於50 Hz信號，此頻率在第48諧波與第49諧波之間。藉由提供具有不是所預期之AC電壓(VO )之諧波的參考頻率(fR )的AC參考電壓(VR )，AC電壓(VO )不太可能影響參考電流(IR )之測量。
在至少一些實施方案中，將共模參考電壓源130之參考頻率(fR )選擇成最不可能由受測試導體122中之AC電壓(VO )之諧波影響的一頻率。作為一實例，當參考電流(IR )超過限制時，可斷開共模參考電壓源130，其可指示導電感測器126正在接近受測試導體122。可在斷開共模參考電壓源130之情況中進行測量(例如，100 ms測量)，以偵測數個(例如，三個、五個)候選參考頻率之信號諧波。然後，可在數個候選參考頻率判定AC電壓(VO )中之信號諧波之量值，以識別哪些候選參考頻率最不可能被AC電壓(VO )之信號諧波影響。然後，可將參考頻率(fR )設定成所識別之候選參考頻率。參考頻率之此切換可避免或減少信號頻譜中之可能參考頻率分量的影響，這會增加所測量參考信號並降低準確度，並且可產生不穩定結果。除了2419 Hz之外，具有相同特性之其他頻率包括例如2344 Hz及2679 Hz。
圖5係包括一感測器陣列402之一感測器子系統400的示意圖。感測器陣列402可係相似於上文所論述之圖1B及圖2所示之感測器陣列126而定位及操作。感測器陣列402的形狀可係平面的(如所示)或可係非平面的(例如U形、V形)。感測器陣列402包括具有第一複數個感測器元件404的一第一獨立感測器陣列部分(「第一感測器部分」)。感測器陣列402亦包括具有第二複數個感測器元件406的一第二獨立感測器陣列部分(「第二感測器部分」)。在至少一些實施方案中，該複數個感測器元件之各者係呈伸長之一矩形形狀。在所繪示之實例中，第一複數個感測器元件404之感測器元件與第二複數個感測器元件406之感測器元件交錯。
第一複數個感測器元件404之各者耦接至一節點V1，該節點係分別經由可控制開關412及414耦接至輸入電壓信號調節或處理電路系統408與參考電流信號調節或處理電路系統410，該等電路系統係藉由由控制電路系統(例如，處理器)操作之一開關控制信號(fsynch )416所控制。類似地，第二複數個感測器元件406中之各者耦接至節點V2，該節點分別經由開關412及414而交替耦接至輸入電壓信號調節電路系統408及參考電流信號調節電路系統410。輸入電壓信號調節電路系統408可包括經組態以用於處理信號電流IO 的處理電路系統，且參考電流信號調節電路系統410可經組態以用於處理參考電流IR 。輸入電壓信號調節電路系統408及參考電流信號調節電路系統410可各包括類似於上述討論之特別經組態以用於分別測量電壓輸入信號及參考電流信號的處理電路系統(例如，放大器、濾波器、ADC等)。
第一複數個感測器元件404及第二複數個感測器元件406中之各者可係相同形狀，以在信號調節電路系統之前使信號電流與參考電流分開。此組態允許針對信號電流及參考電流使用不同濾波器及放大，以最佳化該兩個信號的信號品質及範圍。
為了補償任何位置相依性不平衡，尤其是在邊緣處，開關控制件416可運用50%工作週期操作，以交替耦接第一複數個感測器404至輸入電壓信號調節電路系統408及信號調節電路系統410，及交替耦接第二複數個感測器元件406至輸入電壓信號調節電路系統408及信號調節電路系統410。這具有平均化任何局部幾何不平衡的效果。
在至少一些實施方案中，與單一較大之感測器相比，第一複數個感測器404及第二複數個感測器406中之各者之信號量值將係信號量值之50%。然而，由於信號電流及參考電流被分開處理，所以可有利地針對各特定電流來最佳化信號調節電路系統(例如，增益、頻率)。
在至少一些實施方案中，切換頻率(fsynch )可與測量間隔(例如，100 ms)同步，以確保平均化全循環。例如，切換頻率可經選擇以搭配參考頻率fR 之全循環、或大於參考頻率之2倍及在參考頻率之多個值進行切換。
在至少一些實施方案中，第一組感測器元件404及第二組感測器元件406將經「輪詢(polled)」，且具有最大信號(例如、參考電流信號、輸入電壓信號)之該組感測器元件將用於處理。在至少一些實施方案中，將同等地使用來自該兩組之信號。在至少一些實施方案中，兩組404及406之加權組合可基於來自該第一組感測器元件及該第二組感測器元件之信號之各者之量值而經線性加權、指數加權、或以其他方式加權。
如上所述，直接分離輸入電壓信號及參考電流信號的優點是經改善之準確度及動態範圍。可針對低頻輸入電壓信號(例如，50至60 Hz)及較高頻率參考電流信號(例如，2.5 kHz)來在分離信號路徑之各者中最佳化增益及頻寬。此特徵亦減少雜訊效應並減少ADC所需的動態範圍。此外，如上文所述者，實體上切換該等感測器條使(在兩側上之)位置效應獨立於受測試導體之位置。
至少一些實施方案中，可使用三個或更多個感測器或感測器陣列來進一步補償受測試導體的位置(例如，XY、XYZ)。一個實例性應用係利用硬鉗口電流夾鉗(hard jaw current clamp)的非接觸式電壓測量裝置，其中受測試導體之位置可在鉗口內之任何位置。
在本文所論述之電壓測量裝置之至少一些實施方案中，參考電壓(VR )可具有多個頻率，以減少信號諧波或間諧波對於由信號電壓(VO )之較高頻率分量所引起的所測量參考電流(IR )之影響。例如，可週期性地斷開參考電壓源(例如，圖2之參考電壓源130)，並且多個參考頻率周圍的FFT頻格可比對相對極限制被分析且進行檢查。最低值可用於定義受到信號電壓(VO )或其他影響因素最小干擾的一所選擇參考頻率(fR )。
在至少一些實施方案中，斷開參考電壓源不一定會在測量流中產生間隙。例如，當參考電壓源斷開時，仍可測量信號電流(IO )，並且在先前間隔期間所測量的一參考電流(IR )可用於估計參考電壓源斷開之間隔的參考電流。
除了上文所論述之參考頻率切換之外，亦可使用參考信號的其他專用信號特性。實例包括振幅或頻率調變、同步或偽隨機切換、正交調變、相位切換等。
作為使用調變信號的實例，可利用調變頻率fm 來調變參考信號。在至少一些實施方案中，調變頻率fm 可經選擇成精確位於整數數目個FFT頻格處。例如，對於一100ms FFT間隔，此類頻率將係10 Hz、20 Hz、30 Hz等之頻率。在載波或參考頻率(fR )處沒有雜訊的情況中，這導致兩個對稱側頻帶，一個側頻帶在參考頻率之各側。
若兩個側頻帶中之兩者不具有相同量值，則可判定參考信號受到干擾(例如，被信號電壓(VO )干擾)。這是相對簡單之識別程序，不需要斷開參考電壓源。若發現參考信號被干擾，則系統可藉由使參考頻率移位Δf量，並且再次檢查側頻帶是否對稱，直到識別到合適之(未干擾)參考頻率。
為了進一步加速程序，在至少一些實施方案中，可同時使用多個參考頻率。此頻率混合可藉由例如預定表及位元串流(例如，ΣΔ DAC位元串流)或藉由類比相加脈衝寬度調變器(PWM)之經低通濾波輸出而產生。若使用PWM，則一對PWM可提供一參考頻率及一調變頻率，並且可使用多對PWM來提供多個參考頻率及多個對應調變頻率。
前述實施方式已經由使用方塊圖、示意圖及實例來闡述裝置及/或程序的各種實施方案。在此類方塊圖、示意圖及實例含有一或多個功能及/或操作的情況下，所屬技術領域中具有通常知識者將理解，可藉由多種硬體、軟體、韌體或其等之幾乎任何組合來個別地或統合地實施在此類方塊圖、流程圖或實例中之各功能及/或操作。在一實施方案中，本發明標的可經由特殊應用積體電路(ASIC)來實施。然而，所屬技術領域中具通常知識者將瞭解，本文所揭露之實施方案可整體地或部分地等效地在標準積體電路中實施為：在一或多個電腦上執行的一或多個電腦程式(例如，在一或多個電腦系統上執行的一或多個程式)；在一或多個控制器(例如，微控制器)上執行的一或多個程式；在一或多個處理器(例如，微處理器)上執行的一或多個程式；韌體；或其等之幾乎任何組合，並且將瞭解，設計電路系統及/或撰寫用於軟體及/或韌體之程式碼是在參酌本揭露的所屬技術領域中具有通常知識者的技術內。
所屬技術領域中具通常知識者將瞭解，本文所述之許多方法或演算法可採用額外動作、可省略某些動作、及/或可依不同於指定之順序來執行動作。
此外，所屬技術領域中具通常知識者將明白，本文所教導之機制能夠以多種形式散佈為程式產品，並且將明白，實例性實施方案同等地適用，無論用於實際執行散佈的特定類型之信號承載媒體為何。信號承載媒體之實例包括但不限於可記錄類型媒體，例如軟碟、硬碟機、CD ROM、數位磁帶及電腦記憶體。
可組合上述各種實施方案以提供進一步實施方案。若需要，可修改實施方案之態樣，以採用各種專利、申請案及公開案之系統，電路及概念來提供更進一步之實施方案。
參酌上文實施方式，可對實施方案進行這些及其他變化。一般而言，在下文申請專利範圍中，所用術語不應被解釋為將申請專利範圍受限於本說明書及申請專利範圍中揭露的具體實施方案，而是應理解為包括所有可能的實施方案連同此申請專利範圍享有的均等物之全部範疇。因此，申請專利範圍不受限於本揭露。
100‧‧‧環境 102‧‧‧非接觸式電壓測量裝置 104‧‧‧操作者 106‧‧‧絕緣導線/導線/絕緣導體 108‧‧‧殼體(或主體) 110‧‧‧抓握部分(或端部) 112‧‧‧探針部分(或端部) 114‧‧‧使用者介面 116‧‧‧凹入部分 118‧‧‧第一延伸部分 120‧‧‧第二延伸部分 122‧‧‧導體/導線 124‧‧‧絕緣體 126‧‧‧感測器(或電極)/導電感測器 128‧‧‧接地/節點 130‧‧‧共模參考電壓源/參考電壓源 132‧‧‧導電內部接地防護件(或網屏)/內部接地防護件/防護件 134‧‧‧導電參考屏蔽/參考屏蔽 136‧‧‧輸入放大器 137‧‧‧回授電路系統 138‧‧‧內部電子接地/內部接地 139‧‧‧測試引線 140‧‧‧信號處理模組 142‧‧‧使用者介面 300‧‧‧非接觸式電壓測量裝置 302‧‧‧類比轉數位轉換器(ADC) 306‧‧‧快速傅立葉變換(FFT)演算法 308‧‧‧方塊 310‧‧‧Sigma-Delta數位轉類比轉換器(Σ-Δ DAC) 312‧‧‧顯示器 400‧‧‧感測器子系統 402‧‧‧感測器陣列 404‧‧‧第一複數個感測器元件/第一複數個感測器/第一組感測器元件 406‧‧‧第二複數個感測器元件/第二複數個感測器/第二組感測器元件 408‧‧‧輸入電壓信號調節(或處理)電路系統 410‧‧‧參考電流信號調節(或處理)電路系統/信號調節電路系統 412‧‧‧可控制開關/開關 414‧‧‧可控制開關/開關 416‧‧‧開關控制信號/開關控制件 CB‧‧‧體電容/電容/體電容器 fR‧‧‧參考頻率/頻率 fsynch‧‧‧開關控制信號/切換頻率 fO‧‧‧信號電壓頻率/頻率/信號頻率 IO‧‧‧信號電流/電流信號/電流 IO,1‧‧‧基本諧波 IR‧‧‧參考電流/電流 IR,1‧‧‧基本諧波 IO+IR‧‧‧輸入電流 V1‧‧‧節點 V2‧‧‧節點 VO‧‧‧AC電壓信號/AC電壓信號/電壓/電壓位準/AC電壓/諧波/信號電壓 VR‧‧‧AC參考電壓/參考電壓/參考AC電壓
在附圖中，相同參考標號標識類似元件或動作。附圖中元件之尺寸及相對位置未必按比例繪製。例如，各種元件之形狀及角度未必按比例繪製，並且這些元件中之一些可被任意放大及定位以改善圖式易讀性。此外，所繪製之元件之特定形狀不一定意欲傳達關於特定元件之實際形狀的任何資訊，並且可僅是為了便於在附圖中辨識而選擇。 圖1A係根據一闡釋性實施例之一環境的繪圖，其中可由操作者使用包括參考信號類型電壓感測器的非接觸式電壓測量裝置以測量存在於絕緣導線中之AC電壓，而不需要與導線電氣接觸。 圖1B係根據一闡釋性實施例之圖1A之非接觸式電壓測量裝置的俯視圖，其展示介於絕緣導線與非接觸式電壓測量裝置的導電感測器之間形成的耦合電容、絕緣導體電流組件及介於非接觸式電壓測量裝置與操作者之間的體電容(body capacitance)。 圖2係根據一闡釋性實施方案之非接觸式電壓測量裝置之各種內部組件的示意方塊圖。 圖3係展示根據一闡釋性實施方案之非接觸式電壓測量裝置之各種信號處理組件的方塊圖。 圖4係根據一闡釋性實施方案之實作快速傅立葉變換(fast Fourier transform, FFT)之非接觸式電壓測量裝置的示意圖。 圖5係根據一闡釋性實施方案之感測器子系統的示意圖，該感測器子系統包括具有第一複數個感測器元件之一第一感測器陣列部分及具有第二複數個感測器元件之一第二感測器陣列部分，其中該第一複數個感測器元件與該第二複數個感測器元件交錯。
400‧‧‧感測器子系統
402‧‧‧感測器陣列
404‧‧‧第一複數個感測器元件/第一複數個感測器/第一組感測器元件
406‧‧‧第二複數個感測器元件/第二複數個感測器/第二組感測器元件
408‧‧‧輸入電壓信號調節(或處理)電路系統
412‧‧‧可控制開關/開關
414‧‧‧可控制開關/開關
416‧‧‧開關控制信號/開關控制件
V1‧‧‧節點
V2‧‧‧節點

Claims (20)

  1. 一種用以測量一絕緣導體中之交流(alternating current, AC)的裝置，該裝置包含： 一殼體； 一感測器子系統，其實體上耦接至該殼體，該感測器子系統可選擇性地定位成鄰近該絕緣導體而不電氣接觸(galvanically contacting)該導體，其中該感測器子系統與該絕緣導體電容耦合，該感測器子系統包含一第一感測器部分及獨立於該第一感測器部分的一第二感測器部分； 一導電內部接地防護件，其至少部分地圍繞該感測器子系統，並與該感測器子系統電氣隔離(galvanically isolated)，該內部接地防護件經定大小及定尺寸以屏蔽該感測器子系統免於雜散電流； 一導電參考屏蔽，其環繞該殼體的至少一部分且與該內部接地防護件電氣絕緣(galvanically insulated)，該導電參考屏蔽經定大小及定尺寸以減少在該內部接地防護件與一外部接地之間的電流； 一共模參考電壓源，其在操作中產生具有一參考頻率的一交流(AC)參考電壓，該共模參考電壓源電耦接在該內部接地防護件與該導電參考屏蔽之間； 輸入電壓信號調節電路系統，其可選擇性地交替耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分，其中該輸入電壓信號調節電路系統在操作時產生指示由於受測試之該絕緣導體的該輸入電壓而傳導通過該感測器子系統之電流的一感測器電流信號； 參考信號調節電路系統，其可選擇性地交替耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分，其中該參考信號調節電路系統在操作時產生指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流的一感測器電流信號；及 控制電路系統，其通訊地耦接至該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統，其中該控制電路系統在操作時： 接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的感測器電流信號；且 至少部分基於所接收之該等感測器電流信號、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  2. 如請求項1之裝置，其中該第一感測器部分包含電耦接在一起的第一複數個間隔開的導電感測器，且該第二感測器部分包含電耦接在一起的第二複數個間隔開的導電感測器。
  3. 如請求項2之裝置，其中該第一感測器部分之該第一複數個導電感測器與該第二感測器部分之該第二複數個導電感測器交錯。
  4. 如請求項1之裝置，其中該輸入電壓信號調節電路系統經由一第一開關而可選擇性地交替耦接至該第一感測器部分及該第二感測器部分，且其中該參考信號調節電路系統經由一第二開關而可選擇性地交替耦接至該第一感測器部分及該第二感測器部分。
  5. 如請求項4之裝置，其中該控制電路系統在操作時同步地控制該第一開關及該第二開關之該等狀態以交替地： 將該第一感測器部分電耦接至該參考信號調節電路系統，且將該第二感測器部分電耦接至該輸入電壓信號調節電路系統；及 將該第二感測器部分電耦接至該參考信號調節電路系統，且將該第一感測器部分電耦接至該輸入電壓信號調節電路系統。
  6. 如請求項5之裝置，其中該控制電路系統在操作時以一50百分比之工作週期同步地控制該第一開關及該第二開關之該等狀態。
  7. 如請求項1之裝置，其中該控制電路系統在操作時： 判定該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生該等最大感測器電流信號；且 至少部分基於該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生該等最大感測器電流信號之該判定來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  8. 如請求項7之裝置，其中該控制電路系統在操作時： 判定該第一感測器部分及該第二感測器部分中之何者產生該等最大感測器電流信號； 忽略從產生該等最小感測器電流信號的該第一感測器部分及該第二感測器部分中之該者所獲得的該等感測器電流信號；且 至少部分基於從產生該等最大感測器電流信號之該第一感測器部分及該第二感測器部分中之該者所獲得之該等感測器電流信號來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  9. 如請求項1之裝置，其中該控制電路系統在操作時： 判定接收自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之所接收的該等感測器電流信號之一加權組合；且 至少部分基於所接收之該等感測器電流信號之該加權組合來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  10. 如請求項1之裝置，其中所接收之該等感測器電流信號的該加權組合包含一線性加權組合或一指數加權組合中之至少一者。
  11. 如請求項1之裝置，其中該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者包含一放大器、一濾波器、或一類比轉數位轉換器中之至少一者。
  12. 如請求項1之裝置，其中該輸入電壓信號調節電路系統經最佳化以調節或處理輸入電壓信號，且該參考信號調節電路系統經最佳化以調節或處理AC參考電壓信號。
  13. 如請求項1之裝置，其中該感測器子系統及該導電內部接地防護件之形狀各自係非平面的。
  14. 如請求項1之裝置，其中該控制電路系統在該共模參考電壓源經停用時獲得一第一測量，在該共模參考電壓源經啟用時獲得一第二測量，且至少部分基於該第一測量及該第二測量、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  15. 一種操作一裝置以測量在一絕緣導體中之交流(AC)電壓之方法，該裝置包含：一殼體；一感測器子系統，其實體上耦接至該殼體，該感測器子系統可選擇性地定位成鄰近該絕緣導體而不電氣接觸該導體，其中該感測器子系統與該絕緣導體電容耦合，該感測器子系統包括一第一感測器部分及獨立於該第一感測器部分的一第二感測器部分；一導電內部接地防護件，其至少部分地圍繞該感測器子系統，並與該感測器子系統電氣隔離，該內部接地防護件經定大小及定尺寸以屏蔽該感測器子系統免於雜散電流；及一導電參考屏蔽，其圍繞該殼體的至少一部分且與該內部接地防護件電氣絕緣，該導電參考屏蔽經定大小及定尺寸以減少在該內部接地防護件與一外部接地之間的電流，該方法包含： 導致一共模參考電壓源產生具有一參考頻率的一交流(AC)參考電壓，該共模參考電壓源電耦接在該內部接地防護件與該導電參考屏蔽之間； 經由可以一交替方式電耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分的輸入電壓信號調節電路系統來產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該輸入電壓而傳導通過該感測器子系統之電流； 經由可以一交替方式電耦接至該感測器子系統之該第一感測器部分及該第二感測器部分的參考電流信號調節電路系統來產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於在受測試之該絕緣導體中偵側的該AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流； 藉由控制電路系統接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的該等感測器電流信號；及 藉由該控制電路系統至少部分基於所接收之該等感測器電流信號、該AC參考電壓、及該參考頻率來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  16. 一種用以測量一絕緣導體中之交流(AC)的裝置，該裝置包含： 一第一感測器部分，其包含第一複數個導電感測器； 一第二感測器部分，其獨立於該第一感測器部分，該第二感測器部分包含第二複數個導電感測器； 輸入電壓信號調節電路系統，其在操作時產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於受測試之該絕緣導體的該輸入電壓而傳導通過該第一感測器部分及該第二感測器部分中之至少一者的電流； 參考信號調節電路系統，其在操作時產生一感測器電流信號，該感測器電流信號指示由於由該裝置產生且在該絕緣導體中偵測的一AC參考電壓而傳導通過該感測器子系統之電流； 一第一可控制開關，其操作以將該第一感測器部分及該第二感測器部分之各者交替耦接至該輸入電壓信號調節電路系統；及 一第二可控制開關，其操作以將該第一感測器部分及該第二感測器部分之各者交替耦接至該參考信號調節電路系統。
  17. 如請求項16之裝置，其進一步包含： 控制電路系統，其通訊地耦接至該輸入電壓信號調節電路系統、該參考信號調節電路系統、該第一可控制開關、及該第二可控制開關，其中該控制電路系統在操作時： 控制該第一可控制開關以交替地：將該第一感測器部分耦接至該輸入電壓信號調節電路系統，及將該第二感測器部分耦接至該輸入電壓信號調節電路系統； 控制該第二可控制開關以交替地：將該第一感測器部分耦接至該參考信號調節電路系統，及將該第二感測器部分耦接至該參考信號調節電路系統； 接收來自該輸入電壓信號調節電路系統及該參考信號調節電路系統之各者的感測器電流信號；且 至少部分基於所接收之該等感測器電流信號來判定該絕緣導體中之該AC電壓。
  18. 如請求項17之裝置，其中該控制電路系統在操作時以一50百分比之工作週期同步地控制該第一可控制開關及該第二可控制開關之該等狀態。
  19. 如請求項16之裝置，其中該第一感測器部分包含電耦接在一起的第一複數個間隔開的導電感測器，且該第二感測器部分包含電耦接在一起的第二複數個間隔開的導電感測器。
  20. 如請求項19之裝置，其中該第一感測器部分之該第一複數個導電感測器與該第二感測器部分之該第二複數個導電感測器交錯。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113219240A (zh) * 2021-05-28 2021-08-06 北京中科飞龙传感技术有限责任公司 非侵入式线缆电压测量传感器
CN113358913B (zh) * 2021-06-11 2022-03-08 南方电网数字电网研究院有限公司 电压检测装置和方法
CN113687289B (zh) * 2021-09-24 2023-09-19 广西电网有限责任公司电力科学研究院 一种非接触式微型电压传感器的测量及自校准方法及***
CN114113770A (zh) * 2021-12-03 2022-03-01 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 电压检测设备和检测方法

Family Cites Families (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5473244A (en) 1992-09-17 1995-12-05 Libove; Joel M. Apparatus for measuring voltages and currents using non-contacting sensors
JPH06222087A (ja) 1993-01-27 1994-08-12 Hamamatsu Photonics Kk 電圧検出装置
US5973501A (en) 1993-10-18 1999-10-26 Metropolitan Industries, Inc. Current and voltage probe for measuring harmonic distortion
JPH09184866A (ja) 1995-12-28 1997-07-15 Sumitomo Electric Ind Ltd ケーブルの活線下劣化診断方法
US6043640A (en) 1997-10-29 2000-03-28 Fluke Corporation Multimeter with current sensor
US6118270A (en) 1998-02-17 2000-09-12 Singer; Jerome R. Apparatus for fast measurements of current and power with scaleable wand-like sensor
IL127699A0 (en) 1998-12-23 1999-10-28 Bar Dov Aharon Method and device for non contact detection of external electric or magnetic fields
US6812685B2 (en) 2001-03-22 2004-11-02 Actuant Corporation Auto-selecting, auto-ranging contact/noncontact voltage and continuity tester
JP3761470B2 (ja) 2001-04-04 2006-03-29 北斗電子工業株式会社 非接触電圧計測方法及び装置並びに検出プローブ
US6644636B1 (en) 2001-10-26 2003-11-11 M. Terry Ryan Clamp adapter
CN2639905Y (zh) 2003-07-25 2004-09-08 深圳市纳米电子有限公司 一种钳形表校验仪
CA2552044C (en) * 2004-01-07 2014-05-27 Suparules Limited Voltage measuring device
US7256588B2 (en) 2004-04-16 2007-08-14 General Electric Company Capacitive sensor and method for non-contacting gap and dielectric medium measurement
DE102004063249A1 (de) 2004-12-23 2006-07-13 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Sensorsystem und Verfahren zur kapazitiven Messung elektromagnetischer Signale biologischen Ursprungs
JP4611774B2 (ja) 2005-03-04 2011-01-12 東日本電信電話株式会社 非接触型電圧検出方法及び非接触型電圧検出装置
US7466145B2 (en) 2005-10-12 2008-12-16 Hioki Denki Kabushiki Kaisha Voltage measuring apparatus and power measuring apparatus
JP4607752B2 (ja) 2005-12-16 2011-01-05 日置電機株式会社 可変容量回路、電圧測定装置および電力測定装置
JP4607753B2 (ja) 2005-12-16 2011-01-05 日置電機株式会社 電圧測定装置および電力測定装置
JP4713358B2 (ja) 2006-02-08 2011-06-29 日置電機株式会社 電圧検出装置
JP4648228B2 (ja) 2006-03-24 2011-03-09 日置電機株式会社 電圧検出装置および初期化方法
JP5106798B2 (ja) 2006-06-22 2012-12-26 日置電機株式会社 電圧測定装置
JP4726721B2 (ja) 2006-07-03 2011-07-20 日置電機株式会社 電圧測定装置
JP4726722B2 (ja) 2006-07-03 2011-07-20 日置電機株式会社 電圧測定装置
JP4629625B2 (ja) 2006-07-12 2011-02-09 日置電機株式会社 電圧測定装置
GB0614261D0 (en) 2006-07-18 2006-08-30 Univ Sussex The Electric Potential Sensor
JP5106909B2 (ja) 2007-04-10 2012-12-26 日置電機株式会社 線間電圧測定装置
JP5144110B2 (ja) 2007-04-13 2013-02-13 日置電機株式会社 電圧測定装置
JP4927632B2 (ja) 2007-04-13 2012-05-09 日置電機株式会社 電圧測定装置
JP5069978B2 (ja) 2007-08-31 2012-11-07 株式会社ダイヘン 電流・電圧検出用プリント基板および電流・電圧検出器
JP5160248B2 (ja) 2008-01-18 2013-03-13 日置電機株式会社 電圧検出装置
US20100090682A1 (en) 2008-02-14 2010-04-15 Armstrong Eric A Multi-Meter Test Lead Probe For Hands-Free Electrical Measurement of Control Panel Industrial Terminal Blocks
US8222886B2 (en) 2008-06-18 2012-07-17 Hioki Denki Kabushiki Kaisha Voltage detecting apparatus and line voltage detecting apparatus having a detection electrode disposed facing a detected object
JP5389389B2 (ja) 2008-07-22 2014-01-15 日置電機株式会社 線間電圧測定装置およびプログラム
GB2465638B (en) * 2009-03-13 2011-03-02 Energeno Ltd Current measuring device
CN101881791B (zh) 2009-04-30 2015-08-05 日置电机株式会社 电压检测装置
US8581609B2 (en) * 2009-06-03 2013-11-12 Fluke Corporation Shielded antenna for system test of a non-contact voltage detector
JP5340817B2 (ja) 2009-06-11 2013-11-13 日置電機株式会社 電圧検出装置
JP5420387B2 (ja) 2009-12-09 2014-02-19 日置電機株式会社 電圧検出装置
JP5474707B2 (ja) 2010-08-30 2014-04-16 日置電機株式会社 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置
US8680845B2 (en) 2011-02-09 2014-03-25 International Business Machines Corporation Non-contact current and voltage sensor
US9063184B2 (en) * 2011-02-09 2015-06-23 International Business Machines Corporation Non-contact current-sensing and voltage-sensing clamp
JP5737750B2 (ja) * 2011-02-25 2015-06-17 株式会社日立パワーソリューションズ 交流電力測定装置
JP5834663B2 (ja) * 2011-04-06 2015-12-24 富士通株式会社 交流電力測定装置
JP5834292B2 (ja) 2011-05-09 2015-12-16 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
CN103649688B (zh) * 2011-06-30 2017-02-22 迈普尔平版印刷Ip有限公司 用于电容式测量***的有源屏蔽
CN103930877B (zh) 2011-08-03 2018-09-18 弗兰克公司 维护管理***和方法
US8754636B2 (en) * 2011-12-07 2014-06-17 Brymen Technology Corporation Clamp meter with multipoint measurement
US20140035607A1 (en) 2012-08-03 2014-02-06 Fluke Corporation Handheld Devices, Systems, and Methods for Measuring Parameters
JP5981270B2 (ja) 2012-08-28 2016-08-31 日置電機株式会社 電圧測定用センサおよび電圧測定装置
JP5981271B2 (ja) 2012-08-28 2016-08-31 日置電機株式会社 電圧測定用センサおよび電圧測定装置
US9007077B2 (en) 2012-08-28 2015-04-14 International Business Machines Corporation Flexible current and voltage sensor
EP2929359B1 (en) * 2012-12-05 2021-02-03 Schneider Electric USA, Inc. Isolated and self-calibrating voltage measurement sensor
US9625535B2 (en) 2013-08-07 2017-04-18 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for computing a position of a magnetic target
JP6349748B2 (ja) * 2014-01-31 2018-07-04 オムロン株式会社 非接触電圧計測装置
JP6210938B2 (ja) 2014-06-18 2017-10-11 日置電機株式会社 非接触型電圧検出装置
US9689903B2 (en) * 2014-08-12 2017-06-27 Analog Devices, Inc. Apparatus and methods for measuring current
US10602082B2 (en) 2014-09-17 2020-03-24 Fluke Corporation Triggered operation and/or recording of test and measurement or imaging tools
US9606146B2 (en) * 2014-09-25 2017-03-28 Fluke Corporation Wireless rogowski coil system
TWI649568B (zh) 2014-10-17 2019-02-01 日商日置電機股份有限公司 Voltage detecting device
WO2016065261A1 (en) 2014-10-24 2016-04-28 Fluke Corporation Imaging system employing fixed, modular mobile, and portable infrared cameras with ability to receive, communicate, and display data and images with proximity detection
US9541581B2 (en) * 2014-10-27 2017-01-10 Fluke Corporation Flexible current sensor
KR20170113541A (ko) * 2014-12-01 2017-10-12 조 데이비드 왓슨 고전압 부싱에 대한 능동 모니터링 시스템 및 이에 관한 방법
KR20160065613A (ko) * 2014-12-01 2016-06-09 삼성전자주식회사 전압 측정 장치 및 전압 센서
US9733281B2 (en) * 2014-12-29 2017-08-15 Eaton Corporation Voltage sensor system
US10352967B2 (en) 2016-11-11 2019-07-16 Fluke Corporation Non-contact electrical parameter measurement systems
US10139435B2 (en) * 2016-11-11 2018-11-27 Fluke Corporation Non-contact voltage measurement system using reference signal
US10502807B2 (en) * 2017-09-05 2019-12-10 Fluke Corporation Calibration system for voltage measurement devices

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