TW201843436A - 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法 - Google Patents

標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201843436A
TW201843436A TW107106821A TW107106821A TW201843436A TW 201843436 A TW201843436 A TW 201843436A TW 107106821 A TW107106821 A TW 107106821A TW 107106821 A TW107106821 A TW 107106821A TW 201843436 A TW201843436 A TW 201843436A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
optical film
ejection
droplets
shielding plate
droplet
Prior art date
Application number
TW107106821A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI811207B (zh
Inventor
井村圭太
越野哲史
Original Assignee
日商住友化學股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商住友化學股份有限公司 filed Critical 日商住友化學股份有限公司
Publication of TW201843436A publication Critical patent/TW201843436A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI811207B publication Critical patent/TWI811207B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/005Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
    • B41J2/01Ink jet

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Golf Clubs (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Making Paper Articles (AREA)

Abstract

本發明提供一種標記裝置,即便從射出孔射出液滴時飛沫飛散的情況下,仍抑制飛沫附著於膜之缺陷部位以外的區域,而可提高製品之良率。標記裝置係能夠藉由對光學膜射出液滴來標記資訊,且具備:液滴射出裝置,係具有形成有對光學膜射出液滴的射出孔的射出面;以及遮蔽構件,係設置於射出面,能夠遮擋液滴從射出孔射出時飛散的飛沫;遮蔽構件係形成有開口部,該開口部係於與射出孔相對向的位置開口,並且具有遮擋朝向與射出面之法線交叉的方向飛散之飛沫的內壁面。

Description

標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法
本發明係關於一種標記裝置(marking device)、缺陷檢查系統及膜(film)製造方法。
例如,偏光膜等的光學膜係在進行異物缺陷或凹凸缺陷等的缺陷檢查之後,捲繞於芯材的周圍。關於缺陷之位置或種類的資訊(以下稱為「缺陷資訊」),係藉由將條碼(bar code)列印於光學膜之寬度方向的端部或於缺陷部位施作標記而記錄於光學膜。捲繞於芯材的光學膜係捲繞量達到一定量時,就從上游側的光學膜切離,作為原料捲(original fabric roll)來出貨。又,基於已施作於缺陷部位的標記而切出光學膜而取出片狀物(製品)。
例如,專利文獻1已揭示一種缺陷標記裝置,其能夠檢測出具有一定寬度且朝向垂直於寬度方向之長度方向搬運的片狀製品之部分缺陷,並且為了明示所檢測出的缺陷之部分而賦予標記用之傷痕。另一方面,專利文獻2已例示一種以噴墨(inkjet)等非接觸的列印方式來作為標記手段。
[先前技術文獻] [專利文獻]
專利文獻1:日本特開2002-303580號公報
專利文獻2:日本特開2011-102985號公報
本案申請人亦推展一種能夠藉由對光學膜射出液滴而標記資訊的標記裝置之開發。該標記裝置係具備液滴射出裝置,該液滴射出裝置係具有形成有對光學膜射出液滴的射出孔的射出面。由本發明人的檢討可知:在如此的標記裝置中,由於從射出孔所射出的液滴之尺寸及黏性等的特性,導致液滴從射出孔射出時飛沫會飛散。若液滴從射出孔射出時飛沫飛散的情形下,飛散的飛沫會附著於光學膜之缺陷部位以外的區域時,則本來應作為製品被取出的部分會因飛沫而受汙染,有時不得不將受汙染的部分作為不良品來廢棄,而有製品之良率降低的可能性。
本發明係有鑑於上述情形而開發完成,其提供一種即便從射出孔射出液滴時飛沫飛散的情況下,仍抑制飛沫附著於膜之缺陷部位以外的區域,而可提高製品之良率的標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法。
為了達成上述之目的,本發明係採用了以下的手段。
(1)本發明之一態樣的標記裝置係能夠藉由對光學膜射出液滴來標記資訊,該標記裝置係具備:液滴射出裝置,係具有形成有對前述光學膜射出前述液滴的射出孔的射出面;以及遮蔽構件,係設置於前述射出面,能夠遮擋前述液滴從前述射出孔射出時飛散的飛沫;前述遮蔽構件係形成有開口部,該開口部係於與前述射出孔相對向的位置開口,並且具有遮擋朝向與前述射出面之法線交叉的方向飛散之前述飛沫的內壁面。
(2)如上述(1)所述之標記裝置中,前述遮蔽構件亦可具備遮蔽板,該遮蔽板在平行於前述射出面之法線的方向具有厚度。
(3)如上述(2)所述之標記裝置中,可更具備固定構件,該固定構件係能夠將前述遮蔽板固定在前述液滴射出裝置。
(4)如上述(3)所述之標記裝置中,前述固定構件亦可具備:第一壁部,係覆蓋前述液滴射出裝置及前述遮蔽板之雙方的位在與前述射出面之法線正交的方向的側端部;以及第二壁部,係覆蓋前述遮蔽板之與前述射出面為相反側的面的前述開口部之外周的外緣部。
(5)如上述(3)所述之標記裝置中,前述固定構件亦可具備側壁部,該側壁部係與前述遮蔽板一體形成,並且覆蓋前述液滴射出裝置的位在與前述射出面之法線正交的方向的側端部。
(6)如上述(3)至(5)中任一項所述之標記裝 置中,前述液滴射出裝置亦可具備可射出前述液滴的複數個射出頭,前述遮蔽板係依前述複數個射出頭之各者而設置有複數個,前述固定構件為了可將前述遮蔽板依前述複數個射出頭之各者分別固定而設置有複數個。
(7)如上述(2)至(6)中任一項所述之標記裝置中,前述遮蔽板亦可抵接於前述射出面。
(8)如上述(2)至(6)中任一項所述之標記裝置中,前述遮蔽板亦可從前述射出面分離。
(9)如上述(1)至(8)中任一項所述之標記裝置中,前述開口部之直徑亦可比前述射出孔之直徑更大。
(10)如上述(1)所述之標記裝置中,前述遮蔽構件亦可具備朝向與前述射出面之法線平行的方向延伸的筒構件。
(11)如上述(10)所述之標記裝置中,前述筒構件之內徑亦可比前述射出孔之直徑更大。
(12)如上述(1)至(11)中任一項所述之標記裝置中,前述開口部的前述射出面之側的緣部亦可形成有錐形(taper)部,該錐形部係具有以面向前述射出孔的方式對於前述射出面之法線傾斜的傾斜面。
(13)如上述(1)至(12)中任一項所述之標記裝置中,前述液滴射出裝置亦可配置成在搬運長條帶狀的前述光學膜的期間,隔著前述光學膜而相對向於與前述光學膜接觸的導輥(guide roll),並從前述光學膜之與前述導輥接觸的位置之相反側射出前述液滴。
(14)本發明之一態樣的缺陷檢查系統係具備:搬運線路,係搬運長條帶狀的膜;缺陷檢查裝置,係進行在前述搬運線路上被搬運的膜之缺陷檢查;以及上述(1)至(13)中任一項所述之標記裝置,能夠基於前述缺陷檢查之結果而於缺陷之位置射出液滴,藉此能夠標記資訊。
(15)如上述(14)所述之缺陷檢查系統中,前述標記裝置亦可從與鉛直方向交叉的方向,對在前述搬運線路上沿著與鉛直方向平行之方向被搬運的膜射出前述液滴。
(16)如上述(14)所述之缺陷檢查系統中,前述標記裝置亦可從下方,對在前述搬運線路上沿著與鉛直方向交叉之方向被搬運的膜射出前述液滴。
(17)如上述(14)至(16)中任一項所述之缺陷檢查系統中,亦可更具備與前述膜接觸的導輥;前述標記裝置亦可配置成隔著前述膜而相對向於前述導輥,並從前述膜之與前述導輥接觸的位置之相反側射出前述液滴。
(18)如上述(17)所述之缺陷檢查系統中,前述膜亦可在40°以上且130°以下之角度範圍內繞掛於前述導輥之外周面。
(19)本發明之一態樣的膜製造裝置係具備上述(14)至(18)所述之缺陷檢查系統。
(20)本發明之一態樣的膜製造方法係包含使用上述(14)至(18)所述之缺陷檢查系統來進行標記的步驟。
依據本發明,可提供一種即便從射出孔射出液滴時飛沫飛散的情況下,仍抑制飛沫附著於膜之缺陷部位以外的區域,而可提高製品之良率的標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法。
1‧‧‧膜製造裝置
2‧‧‧缺陷檢查裝置
3‧‧‧缺陷資訊讀取裝置
4、204、304、404‧‧‧標記裝置
4a‧‧‧飛沫(第一飛沫)
4b‧‧‧飛沫(第二飛沫)
4i‧‧‧油墨
5a、5b‧‧‧夾持輥
6‧‧‧控制裝置
7‧‧‧導輥
9‧‧‧搬運線路
10、410‧‧‧缺陷檢查系統
11‧‧‧缺陷
12‧‧‧標誌
13‧‧‧不良品
14‧‧‧良品
20‧‧‧液滴射出裝置
20A‧‧‧射出頭
21‧‧‧射出孔
22‧‧‧射出面
23‧‧‧液滴射出裝置之側端部
30、130、230、430‧‧‧遮蔽構件(遮蔽板)
31、131、231、431‧‧‧開口部
31a、131a、231a、431a‧‧‧內壁面
32、432‧‧‧第一主面(遮蔽板之與射出面為 相反側的面)
33‧‧‧遮蔽板之側端部
34‧‧‧遮蔽板之外緣部
35‧‧‧第二主面(遮蔽板之射出面側的面)
40、140、440‧‧‧固定構件
41‧‧‧第一壁部
42‧‧‧第二壁部
50‧‧‧飛散限制構件
50f‧‧‧遮擋面
51‧‧‧第一飛散限制板
51f‧‧‧第一遮擋面
52‧‧‧第二飛散限制板
52f‧‧‧第二遮擋面
53‧‧‧第一固定壁部
53a‧‧‧上壁部
53b、54b‧‧‧側壁部
54‧‧‧第二固定壁部
54a‧‧‧下壁部
60、360‧‧‧吸引裝置
61、361‧‧‧第一吸引機構
62、362‧‧‧第二吸引機構
62f、361f、362f‧‧‧吸引面
62h‧‧‧吸引孔
64‧‧‧左右側面
65‧‧‧支撐軸
72‧‧‧載台
73‧‧‧支撐機構
71、73a‧‧‧支撐台
73b‧‧‧支撐板
73c‧‧‧豎起片
73h‧‧‧長孔
135‧‧‧第二主面
141、441‧‧‧固定構件之側壁部
230‧‧‧筒構件
335‧‧‧第二主面
436‧‧‧錐形部
436a‧‧‧傾斜面
d1‧‧‧開口部之直徑
d2‧‧‧射出孔之直徑
F1X、F10X‧‧‧光學膜
F4‧‧‧基材片
F4a‧‧‧偏光件
F4b、F4c‧‧‧保護膜
F5‧‧‧黏著層
F6‧‧‧分隔片
F7‧‧‧表面保護片
F8‧‧‧貼合片
F11‧‧‧第一光學膜
F12‧‧‧第二光學膜
F13‧‧‧第三光學膜
FX‧‧‧光學片
G‧‧‧邊框部
Ia‧‧‧射出通路
J1‧‧‧吸引面與光學膜間距離
J2‧‧‧吸引面與固定構件間距離
J3‧‧‧吸引孔與射出孔間距離
K1‧‧‧射出頭之射出孔與光學膜之間的距離
L1‧‧‧遮蔽板之第一主面與光學膜之 間的距離
L2‧‧‧飛散直徑
MA‧‧‧區域
P‧‧‧液晶顯示面
P1‧‧‧第一基板
P2‧‧‧第二基板
P3‧‧‧液晶層
P4‧‧‧顯示區域
R1‧‧‧原料捲
R2‧‧‧原料捲
Ry‧‧‧最大粗糙度
s1‧‧‧狹縫間隔
t1‧‧‧厚度
V1‧‧‧光學膜之搬運方向
V2‧‧‧與光學膜之搬運方向交叉的方向
Va‧‧‧相對向部分
θ‧‧‧圍包角度
第1圖係顯示液晶顯示面板之一例的俯視圖。
第2圖係第1圖的II-II剖視圖。
第3圖係顯示光學膜之一例的剖視圖。
第4圖係顯示第一實施形態的膜製造裝置之構成的側視圖。
第5圖係顯示製品化步驟的立體圖。
第6圖係顯示第一實施形態的標記裝置的立體圖。
第7圖係顯示第一實施形態的標記裝置之液滴射出裝置、遮蔽板及固定構件的前視圖。
第8圖係第7圖的VIII-VIII剖視圖。
第9圖係第8圖的主要部分放大圖,且為用以說明第一實施形態的遮蔽板之作用的示意圖。
第10圖係顯示固定構件之第一變化例的示意圖,且為對照第8圖的剖視圖。
第11圖係顯示固定構件之第二變化例的示意圖,且為對照第8圖的剖視圖。
第12圖係顯示遮蔽構件之變化例的示意圖,且為對照 第8圖的剖視圖。
第13圖係顯示第二實施形態的標記裝置之立體圖。
第14圖係包含第13圖的主要部分放大圖,且為用以說明第二實施形態的標記裝置中的飛散限制構件之作用的示意圖。
第15圖係顯示第三實施形態的標記裝置之立體圖。
第16圖係用以說明第三實施形態的標記裝置中的吸引裝置之作用的示意圖。
第17圖係顯示第四實施形態的標記裝置之示意圖,且為包含對照第8圖之剖面的示意圖。
〔第一實施形態〕
以下,參照圖式來詳細地說明本發明之第一實施形態。
本實施形態中,就光學顯示裝置之生產系統而言,針對構成其一部分的膜製造裝置及使用該膜製造裝置的膜製造方法加以說明。
膜製造裝置係用以製造樹脂製的膜狀之光學構件(光學膜)。例如,光學膜可列舉偏光膜、相位差膜及增亮膜等。例如,光學膜係貼合於液晶顯示面板(panel)及有機EL(electro luminescence;電致發光)顯示面板等面板狀的光學顯示零件(光學顯示面板)。膜製造裝置係構成用以生產包含此種光學顯示零件、光學構件等的光學顯示裝置的生產系統之一部分。
本實施形態中係例示穿透式之液晶顯示裝置作為光學顯示裝置。穿透式之液晶顯示裝置係具備液晶顯示面板及背光源(backlight)。此液晶顯示裝置中,係從液晶顯示面板之背面側入射背光源所射出的照明光,而從液晶顯示面板之表面側射出已藉由液晶顯示面板調變後的光,藉此能夠顯示影像。
(光學顯示裝置)
首先,就光學顯示裝置而言,針對第1圖及第2圖所示的液晶顯示面P之構成加以說明。第1圖係顯示液晶顯示面板P之一例的俯視圖。第2圖係第1圖的II-II剖視圖。另外,第2圖中係省略了顯示剖面的網點(hatching)之圖示。
如第1圖及第2圖所示,液晶顯示面板P係具備:第一基板P1;第二基板P2,係相對向於第一基板P1而配置;以及液晶層P3,係配置於第一基板P1與第二基板P2之間。
第一基板P1係由俯視觀察下呈長方形的透明基板所構成。第二基板P2係由比第一基板P1更小之呈長方形的透明基板所構成。液晶層P3係配置於用密封材料(未圖示)來封閉第一基板P1與第二基板P2之間的周圍且藉由密封材料所包圍之俯視觀察下呈長方形的區域之內側。液晶顯示面板P中,係將俯視觀察下被包圍在液晶層P3之外周的內側的區域作為顯示區域P4,將包圍該顯示區域P4之周圍的外側之區域作為邊框部G。
液晶顯示面板P之背面(背光源側)係依順序地積層貼合有作為偏光膜的第一光學膜F11,以及重疊於該第一光學膜F11作為增亮膜的第三光學膜F13。液晶顯示面板P之表面(顯示面側)係貼合有作為偏光膜的第二光學膜F12。以下,有時將包含第一光學膜F11至第三光學膜F13之任一者的光學膜統稱為光學膜F1X。
(光學膜)
其次,針對第3圖所示的光學膜F1X之一例加以說明。第3圖係顯示光學膜F1X之構成的剖視圖。再者,第3圖中係省略了顯示剖面的網點之圖示。
光學膜F1X係藉由從第3圖所示之長條帶狀的光學片(optical sheet)FX切出預定長度的切片(sheet piece)而取得。具體而言,該光學膜F1X係具有:基材片F4;黏著層F5,係設置於基材片F4之一方的面(第3圖中之上面);分隔片(separator sheet)F6,係經由黏著層F5而設於基材片F4之一方的面;以及表面保護片F7,係設於基材片F4之另一方的面(第3圖中之下面)。
基材片F4例如是偏光膜時,具有一對保護膜F4b、F4c夾住偏光件F4a的結構。黏著層F5係用以使基材片F4貼合於液晶顯示面板P。分隔片F6係用以保護黏著層F5。分隔片F6係在將基材片F4藉由黏著層F5貼合於液晶顯示面板P之前,從光學膜F1X之黏著層F5剝離。再者,將從光學膜F1X去掉分隔片F6後的部分稱為貼合片F8。
表面保護片F7係用以保護基材片F4之表面。表面保護片F7係在貼合片F8之基材片F4已黏貼於液晶顯示面板P之後,從基材片F4之表面剝離。
再者,有關基材片F4亦可省略一對保護膜F4b、F4c中之任一方。例如,可省略黏著層F5側的保護膜F4b,而將黏著層F5直接設於偏光件F4a。又,表面保護片F7側的保護膜F4c,例如亦可施予用以保護液晶顯示面板P之最外面的硬覆膜處理、能得到防眩功效的防眩(antiglare)處理等之表面處理。又,有關基材片F4係不限於上述積層結構,亦可為單層結構。又,亦可省略表面保護片F7。
(膜製造裝置及膜製造方法)
其次,針對第4圖所示的膜製造裝置1加以說明。第4圖係顯示第一實施形態的膜製造裝置1之構成的側視圖。
例如,膜製造裝置1係製造在偏光膜之雙面貼合表面保護膜而成的光學膜F10X。膜製造方法係包含光學膜F10X的製造步驟。例如,膜製造方法係包含:原料捲製造步驟,係製造長條帶狀的偏光膜之原料捲(未圖示);貼合步驟,係將長條帶狀的表面保護膜貼合於長條帶狀的偏光膜以製造長條帶狀的光學膜F10X之原料捲R1;以及標記步驟,係基於長條帶狀的光學膜F10X之缺陷檢查之結果,於缺陷之位置進行標記。再者,在標記步驟之後,進行將已被標記的部分作為不良品來除去且將未被標 記的部分作為良品來回收的製品化步驟。
例如,原料捲製造步驟中,係在對PVA(Polyvinyl Alcohol;聚乙烯醇)等之作為偏光件之基材的膜施予染色處理、交聯處理及延伸處理等之後,藉由在施予前述處理後的膜之雙面貼合TAC(Triacetylcellulose;三醋酸纖維素)等的保護膜來製造長條帶狀的偏光膜,且藉由將所製造出的偏光膜捲繞於芯材來取得原料捲(未圖示)。
貼合步驟中,係分別從長條帶狀的偏光膜之原料捲及長條帶狀的表面保護膜之原料捲(皆未圖示)捲出長條帶狀的偏光膜及長條帶狀的表面保護膜,並且用夾持輥(nip roll)等來夾住並予以貼合而拉出,藉此製造長條帶狀的光學膜F10X,且藉由將所製造出的光學膜F10X捲繞於芯材來取得原料捲R1。例如,表面保護膜係使用PET(Polyethylene terephthalate;聚對苯二甲酸乙二酯)。
標記步驟中,係基於缺陷檢查之結果而於缺陷之位置射出油墨4i(液滴),藉此對光學膜F10X標記資訊。在此,所謂「射出」,例如是指從第6圖所示的射出孔21發射油墨4i。標記步驟中,係將比缺陷更大的點狀之標誌(mark)列印(標記)於光學膜F10X之缺陷部位,藉此於缺陷部位進行直接記錄。
第5圖係顯示製品化步驟的立體圖。
如第5圖所示,製品化步驟中,從長條帶狀的光學膜F10X取得複數個片狀物(製品)。光學膜F10X的缺陷11之附近,係列印有比缺陷11更大的點狀之標誌12。再者, 光學膜F10X中的區域MA係對膜寬度方向全體施作標記(以下稱為「全寬標記」)後的區域。例如,全寬標記係在光學膜F10X之預定區域有多處發生缺陷等時進行。
製品化步驟中,係包含基於標記之資訊來切斷光學膜F10X的切斷步驟。切斷步驟中,基於標記之資訊而切出光學膜F10X,藉此取出片狀物(製品)。製品化步驟中,將已被標記的部分作為不良品13來除去,且將未被標記的部分作為良品14來回收。
如第4圖所示,膜製造裝置1係具備搬運線路9。搬運線路9係形成用以搬運從原料捲R1捲出之長條帶狀的光學膜F10X之搬運路徑。光學膜F10X係被施予缺陷檢查及標記等的預定處理,並在捲繞部8中捲繞於芯材以作為預定處理後的原料捲R2。
搬運線路9中配置有一對夾持輥5a、5b。再者,搬運線路9中亦可配置包含複數個張力調節輥(dancer roll)的積蓄器(accumulator)(未圖示)以及導輥7(參照第17圖)。
一對夾持輥5a、5b係將光學膜F10X夾於其間而彼此相互地逆向旋轉,藉此朝向第4圖中所示的箭頭之方向V1(光學膜F10X之搬運方向)拉出光學膜F10X。
積蓄器(未圖示)係用以吸收由於光學膜F10X之進給量的變動所致的差,並且減低作用於光學膜F10X的張力之變動。例如,積蓄器係在搬運線路9之預定區間,具有交替配置位在上部側的複數個張力調節輥與位 在下部側的複數個張力調節輥的構成。
積蓄器中,在光學膜F10X交錯地繞掛於上部側的張力調節輥與下部側的張力調節輥之狀態下,使上部側的張力調節輥與下部側的張力調節輥相對地於上下方向進行升降動作並且搬運光學膜F10X。藉此,不用停止搬運線路9,就可積蓄光學膜F10X。例如,積蓄器中可藉由增寬上部側的張力調節輥與下部側的張力調節輥之間的距離,來增加光學膜F10X之積蓄,另一方面,可藉由縮窄上部側的張力調節輥與下部側的張力調節輥之間的距離,來減少光學膜F10X之積蓄。積蓄器例如是在交換原料捲R1、R2的芯材之後進行片料接續等作業時運轉。
導輥7(參照第17圖)係旋轉而將藉由夾持輥5a、5b所拉出的光學膜F10X導引至搬運線路9之下游側。再者,導輥7係不限於一個,亦可配置複數個。
光學膜F10X係在捲繞部8捲繞於芯材成為預定處理後的原料捲R2之後,送往下一個步驟(參照第5圖)。
(缺陷檢查系統)
其次,針對上述膜製造裝置1所具備的缺陷檢查系統10加以說明。
如第4圖所示,缺陷檢查系統10係具備搬運線路9、缺陷檢查裝置2、缺陷資訊讀取裝置3、標記裝置4及控制裝置6。
缺陷檢查裝置2係進行光學膜F10X之缺陷 檢查。具體而言,缺陷檢查裝置2係檢測在製造光學膜F10X時以及在搬運光學膜F10X時所產生的異物缺陷、凹凸缺陷、亮點缺陷等之各種缺陷。缺陷檢查裝置2係對於在搬運線路上所搬運的光學膜F10X,藉由執行例如反射檢查、穿透檢查、斜穿透檢查、正交偏光鏡(crossed nicol)穿透檢查等的檢查處理,來檢測光學膜F10X之缺陷。
例如,缺陷檢查裝置2係在搬運線路9上,比夾持輥5a、5b更靠上游側,具有對光學膜F10X照射照明光的複數個照明部(未圖示),以及檢測穿透過光學膜F10X後的光(穿透光)或光學膜F10X所反射的光(反射光)的複數個光檢測部。
缺陷檢查裝置2為檢測穿透光的構成時,排列於光學膜F10X之搬運方向的複數個照明部與光檢測部係分別隔著光學膜F10X而相對向地配置。再者,缺陷檢查裝置2不限於檢測穿透光的構成,亦可為檢測反射光的構成,或是檢測穿透光及反射光的構成。檢測反射光時,將光檢測部配置於照明部側即可。
照明部係依缺陷檢查之種類,將光強度、波長、偏光狀態等經調整後的照明光照射於光學膜F10X。光檢測部係使用CCD(Charge Coupled Device;電荷耦合元件)等的攝像元件來拍攝光學膜F10X被照明光照射到的位置之影像。由光檢測部所拍攝到的影像(缺陷檢查之結果)係輸出至控置裝置6。
再者,亦可更具備:缺陷檢查裝置(未圖示), 係進行長條帶狀的光學膜及長條帶狀的表面保護膜貼合之前之長條帶狀的偏光膜之缺陷檢查;以及記錄裝置(未圖示),係將基於該缺陷檢查裝置之缺陷檢查的結果所得的缺陷資訊記錄於前述偏光膜。未圖示的缺陷檢查裝置係具有與上述之缺陷檢查裝置2同樣的構成,而檢測偏光膜之缺陷。
記錄裝置(未圖示)所記錄的缺陷資訊係包含關於缺陷之位置、種類等的資訊,例如,以文字、條碼、二維碼(DataMatrix碼、QR碼(註冊商標)等)等的識別碼來記錄。識別碼中,例如包含顯示由未圖示之缺陷檢查裝置所檢測出的缺陷存在於沿著膜寬度方向離所列印的識別碼的位置為多遠的距離的位置之資訊(關於缺陷之位置的資訊)。又,識別碼中亦可包含有關於被檢測出的缺陷之種類的資訊。
記錄裝置係在偏光膜之搬運線路上,設置於比未圖示之缺陷檢查裝置更靠下游側。記錄裝置係具有例如採用噴墨方式的列印頭。該列印頭係對沿著偏光膜的寬度方向之端緣部(端部)的位置吐出油墨,進行上述缺陷資訊之列印。
缺陷資訊讀取裝置3係在搬運線路9上,設置於比缺陷檢查裝置2更靠下游側。缺陷資訊讀取裝置3係讀取已記錄於光學膜F10X(前述偏光膜)的缺陷資訊。缺陷資訊讀取裝置3係具有攝像裝置。攝像裝置係使用CCD等的攝像元件來拍攝被搬運的光學膜F10X之缺陷資 訊。
缺陷資訊讀取裝置3係讀取包含關於缺陷之位置、種類等的資訊之被記錄成例如文字、條碼、二維碼(DataMatrix碼、QR碼(註冊商標)等)等的識別碼的缺陷資訊。例如,藉由讀取缺陷資訊,能得到顯示由缺陷檢查裝置2等所檢測出的缺陷是存在於沿著膜寬度方向離所列印的識別碼的位置為多遠的距離的位置之資訊(關於缺陷之位置的資訊)。又,識別碼中包含有關於被檢測出的缺陷之種類的資訊時,藉由讀取缺陷資訊來得到關於被檢測出的缺陷之種類的資訊。藉由缺陷資訊讀取裝置3所得到的缺陷資訊(讀取結果)係輸出至控置裝置6。
標記裝置4係在搬運線路9上設置於比缺陷資訊讀取裝置3更靠下游側。標記裝置4係基於缺陷檢查之結果而於缺陷之位置射出油墨4i,藉此對光學膜F10X標記資訊。標記裝置4係對光學膜F10X之缺陷部位,列印(標記)比缺陷更大的點狀之標誌,藉此於缺陷部位進行直接記錄。
再者,標記裝置4亦可藉由列印(標記)如包含缺陷之大小的點狀、線狀或是框狀的標誌,於缺陷部位進行直接記錄。此時,除了標誌以外,亦可將顯示缺陷之種類的記號、花紋等列印於缺陷部位,藉以記錄關於缺陷之種類的資訊。
缺陷檢查系統10亦可具備用以測定光學膜F10X之搬運量的測距器(未圖示)。例如,就測距器而言, 可在搬運線路9上,將旋轉編碼器(rotary encoder)等的角度位置感測器配置於夾持輥。測距器係依與光學膜F10X接觸而旋轉的夾持輥之旋轉位移量,測定光學膜F10X之搬運量。測距器之測定結果係輸出至控制裝置6。
控制裝置6係整合控制膜製造裝置1之各部。具體而言,該控制裝置6係具備作為電子控制裝置的電腦系統(computer system)。電腦系統係具備CPU(Central Processing Unit;中央處理單元)等的運算處理部,以及記憶體(memory)、硬碟(hard disk)等的資訊記憶部。
控制裝置6之資訊記憶部係記錄有控制電腦系統的作業系統(OS:operating system)、藉由運算處理部使膜製造裝置1之各部執行各種之處理的程式(program)等。又,控制裝置6亦可包含用以執行膜製造裝置1之各部的控制所需之各種處理的ASIC(Application Specific Integrated Circuit;特殊應用積體電路)等的邏輯電路。又,控制裝置6係包含用以進行電腦系統與外部裝置之輸出輸入的介面(interface)。該介面係能夠連接例如鍵盤(keyboard)、滑鼠(mouse)等的輸入裝置、液晶顯示器等的顯示裝置、通信裝置等。
控制裝置6係分析由缺陷檢查裝置之光檢測部所拍攝到的影像,判別缺陷之有無(位置)、種類等。控制裝置6係在判定出偏光膜中存在缺陷時,控制記錄裝置以將缺陷資訊記錄於偏光膜。控制裝置6係在基於缺陷檢查裝置之檢查結果及缺陷資訊讀取裝置3之讀取結果等 而判定出光學膜F10X中存在缺陷時,控制標記裝置4以將標誌列印於光學膜F10X。
(標記裝置)
其次,針對上述缺陷檢查系統10所具備的標記裝置4加以說明。
第6圖係顯示第一實施形態的標記裝置4的立體圖。
如第6圖所示,標記裝置4係具備液滴射出裝置20、遮蔽板30(遮蔽構件)及固定構件40。標記裝置4係藉由對光學膜F10X射出油墨4i,將比缺陷更大的點狀之標誌12列印於光學膜F10X之缺陷部位。
以下之說明中係依需要而設定xyz正交座標系統,參照此xyz正交座標系統,針對各構件之位置關係加以說明。本實施形態中,將液滴射出裝置20之射出面22的法線方向設為x方向,將射出面22之面內正交於x方向的方向(射出面22之寬度方向)設為y方向,將正交於x方向及y方向的方向設為z方向。在此,x方向與y方向係位在水平面內,z方向係位在鉛直方向(上下方向)。再者,有時會將x方向稱為前後方向,將y方向稱為左右方向。又,有時會將+x方向稱為前方向,將-x方向稱為後方向,將+y方向稱為左方向,將-y方向稱為右方向,將+z方向稱為上方向,將-z方向稱為下方向。
如第6圖所示,標記裝置4係對在搬運線路9上朝向與鉛直方向平行之方向V1(上方)搬運的光學膜F10X,從與鉛直方向正交的水平方向射出油墨4i。例如, 光學膜F10X之搬運速度(以下稱為「線路速度」),就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,係設為50m/min以下的值。本實施形態中,線路速度係設為30m/min以下的值。
第7圖係顯示第一實施形態的標記裝置4中之液滴射出裝置20、遮蔽板30及固定構件40的前視圖。第8圖係第7圖的VIII-VIII剖視圖。第9圖係第8圖的主要部分放大圖,且為用以說明第一實施形態的遮蔽板30之作用的示意圖。再者,第9圖中,適當地省略固定構件40之圖示。
如第7圖所示,液滴射出裝置20係具備能夠射出油墨的複數個射出頭20A。第7圖中雖圖示三個射出頭20A作為一例,但射出頭20A之數目係不限於此,能夠依需要而適當地設定一個、二個或四個以上等。射出頭20A係形成為沿著y方向具有長邊的長方體狀。射出頭20A之射出面22(參照第8圖)係在第7圖之正面觀察下形成為沿著y方向具有長邊的長方形。
遮蔽板30係依複數個射出頭20A之各者設置有複數個。第7圖中雖圖示依三個射出頭20A之各者設置的三個遮蔽板30作為一例,但遮蔽板30之數目係不限於此,能夠配合射出頭20A之數目來設定,且能夠依需要而適當地設定一個、二個或四個以上等。遮蔽板30之與射出面22為相反側的面32(以下稱為「第一主面」)係在第7圖之正面觀察下,呈現與射出面22大致相同大小的長方 形。
固定構件40係為了能夠將遮蔽板30依複數個射出頭20A之各者分別固定而設置有複數個。第7圖中雖圖示為了能夠將遮蔽板30依三個射出頭20A之各者分別固定而設置的三個固定構件40作為一例,但固定構件40之數目係不限於此,能夠配合射出頭20A及遮蔽板30之數目來設定,能夠依需要而適當地設定一個、二個或四個以上等。固定構件40係在第7圖之正面觀察下,呈現沿著遮蔽板30的第一主面32之外形的矩形框狀。
例如,射出頭20A係採用閥方式的噴墨頭(inkjet head)。例如,從射出頭20A之射出孔21所射出的油墨之量(以下稱為「液滴量」),係為了使列印於光學膜F10X的點狀之標誌12的直徑(以下稱為「點直徑」)成為1mm以上且10mm以下之範圍的值,而設為0.05μL以上且0.2μL以下之範圍的值。本實施形態中,液滴量係設為0.166μL左右。
例如,從射出頭20A之射出孔21所射出的油墨之黏度(以下稱為「油墨黏度」),係為了使點直徑成為1mm以上且10mm以下之範圍的值,而設為0.05×10-3Pa‧s以上且1.00×10-3Pa‧s以下之範圍的值。本實施形態中,油墨黏度係設為0.89×10-3Pa‧s。
例如,來自射出頭20A的油墨之射出速度(以下稱為「油墨射出速度」),就能夠列印的範圍而言,係設為1m/s以上且10m/s以下之範圍的值,較佳是設為 4m/s以上且5m/s以下之範圍的值。本實施形態中,油墨射出速度係設為4.2m/s左右。藉由將油墨射出速度設為上述範圍內,就可精度佳地列印於搬運中的光學膜F10X之作為目標的列印區域,且可抑制油墨之噴著時的飛沫(例如第14圖所示的第二飛沫4b)之發生。在此,所謂「油墨之噴著」,係表示所射出的油墨4i接觸於光學膜F10X,使得油墨4i之形狀崩潰且列印在光學膜F10X上。
例如,射出頭20A之射出孔21的開口時間,就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,係設為0.5ms以上之範圍的值,較佳是設為0.8ms以上且1.5ms以下之範圍的值,更佳是設為0.9ms以上且1.2ms以下之範圍的值。本實施形態中,開口時間係設為1.0ms左右。藉由將開口時間設為上述範圍內,就可使所射出的油墨之量穩定化,成為為目標的點直徑,且可抑制油墨射出時飛沫4a之發生。
例如,來自射出頭20A的油墨之射出壓力(以下稱為「油墨射出壓力」),就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,係設為0.030MPa以下之範圍的值,較佳是設為0.020MPa以上且0.28MPa以下之範圍的值。本實施形態中,油墨射出壓力係設為0.025MPa左右。藉由將油墨射出壓力設為上述範圍內,就可使油墨射出速度穩定化,且可抑制油墨射出時的飛沫4a及油墨之噴著時的飛沫(例如第14圖所示的第二飛沫4b)之發生。
例如,射出頭20A之射出孔21與光學膜 F10X之間的距離K1(參照第9圖),就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,係設為50mm以下的值,較佳是設為5mm以上且15mm以下的值。此係由於將距離K1設為過小時,射出頭20A可能會與光學膜F10X接觸,將距離K1設為過大時,油墨從射出孔21射出時飛散的飛沫可能廣範圍地擴展。本實施形態中,距離K1係設為13mm左右。再者,距離K1係設為以射出面22之法線方向連結射出面22的射出孔21之中心與光學膜F10X之列印面(-x方向側的面)所成的線段的長度。射出頭20A之射出孔21與光學膜F10X之間的距離係相當於射出頭20A之射出面22與光學膜F10X之間的距離。
例如,由於光學膜F10X之搬運而產生的光學膜F10X周邊之風速,就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,係設為0.5m/s以下之範圍的值,較佳是設為0.2m/s以下之範圍的值。本實施形態中,設為在線路速度25m/min左右之條件下,使前述風速成為0.1m/s左右。當風速在上述範圍內時,就可抑制所產生的飛沫4a、4b廣範圍地擴展。
射出頭20A(液滴射出裝置20)之射出面22係形成有對光學膜F10X射出油墨的複數個射出孔21。複數個射出孔21係於射出面22之上下方向(z方向)的中央,沿著射出面22之寬度方向(y方向)排列配置成一排。第7圖中雖圖示每一個射出面22有九個射出孔21作為一例,但本實施形態中,係每一個射出面22形成有十六個射出孔 21。再者,射出孔21之數目係不限於此,能夠依需要而適當地設定八個以下之數目或十個以上之數目等。又,射出孔21之排列係不限於一排,能夠依需要而適當地設定二排以上等。射出孔21係在第7圖之正面觀察下呈圓形。
如第8圖所示,遮蔽板30係設置於射出面22。如第9圖所示,遮蔽板30係在平行於射出面22之法線的方向(x方向)具有厚度t1。例如,遮蔽板30之厚度t1,較佳是設為2mm以上且10mm以下之範圍的值,更佳是設為2mm以上且5mm以下之範圍的值。本實施形態中,遮蔽板30之厚度t1係設為3mm左右。再者,遮蔽板30之厚度t1可在遮蔽板30未觸及光學膜F10X的範圍內盡可能地設為較大。
遮蔽板30係能夠遮擋從射出孔21射出油墨4i時飛散的飛沫4a。遮蔽板30係形成有於與射出孔21相對向之位置開口的開口部31。開口部31係具有面向射出油墨4i之射出通路Ia的內壁面31a。開口部31之內壁面31a係形成為以射出通路Ia為中心軸的圓筒狀。開口部31之內壁面31a係遮擋從射出孔21射出油墨4i時朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a。飛散的飛沫4a之至少一部分係附著於開口部31之內壁面31a。
如第7圖所示,開口部31係依複數個噴出孔21之各者而設置有複數個。複數個開口部31係於第一主面32之上下方向(z方向)的中央,沿著第一主面32之寬度方向(y方向)排列配置成一排。第7圖中雖圖示每一個遮 蔽板30有九個開口部31作為一例,但本實施形態中,每一個遮蔽板30配合十六個射出孔21而設置有十六個開口部31。再者,開口部31之數目係不限於此,能夠依需要而適當地設定八個以下之數目或十個以上之數目等。又,開口部31之排列係不限於一排,能夠依需要而適當地設定二排以上等。開口部31係在第7圖之正面觀察下呈圓形。
如第9圖所示,開口部31之直徑d1係比射出孔21之直徑d2更大(d1>d2)。例如,開口部31之直徑d1與射出孔21之直徑d2的比d1/d2,較佳是設為1.5以上且5以下之範圍的值,更佳是設為2以上且4以下之範圍的值。本實施形態中,比d1/d2係設為3左右,開口部31之直徑d1係設為3mm左右,射出孔21之直徑d2係設為1mm左右。再者,射出孔21之直徑d2亦可設為0.1mm以上且2mm以下之範圍的值。
遮蔽板30之第一主面32係與光學膜F10X分離。例如,遮蔽板30之第一主面32與光學膜F10X之間的距離L1,較佳是設為10mm以下的值,更佳是設為5mm以下的值。本實施形態中,前述距離L1係設為10mm左右。再者,前述距離L1可在遮蔽板30未觸及光學膜F10X的範圍內盡可能地設為較小。
遮蔽板30係抵接於射出面22。換言之,遮蔽板30之射出面22側的面35(以下稱為「第二主面」),係與射出面22配置於同一平面。
例如,遮蔽板30係藉由SUS等的金屬板、 或壓克力(acrylic)板及聚丙烯(polypropylene;PP)板等的塑膠板所形成。本實施形態中,遮蔽板30係由壓克力板所形成。再者,遮蔽板30亦可藉由對油墨不反應的板材所形成。藉此,可抑制油墨所致的遮蔽板30的腐蝕,故可提高遮蔽板30之耐蝕性。
固定構件40係將遮蔽板30固定於射出頭20A。如第8圖所示,固定構件40係具備第一壁部41及第二壁部42。例如,固定構件40係由SUS等的金屬板所構成。
第一壁部41係覆蓋射出頭20A及遮蔽板30之雙方的位在與射出面22之法線正交的方向的側端部23、33。第一壁部41係形成為沿著前後方向(x方向)延伸的矩形筒狀。第一壁部41係抵接於射出頭20A之上下方向(z方向)及寬度方向(y方向)的側端部23之射出面22側的部分,以及遮蔽板30之上下方向(z方向)及寬度方向(y方向)的側端部33之雙方。例如,第一壁部41係藉由螺栓等的緊固構件來鎖緊連結於射出頭20A。藉此,能限制射出頭20A及遮蔽板30之上下方向(z方向)及寬度方向(y方向)的相對移動。
第二壁部42係覆蓋遮蔽板30之第一主面32的開口部31之外周的外緣部34。第二壁部42係形成為從第一壁部41之前端(+x方向端)朝向z方向內側延伸的矩形框狀。第二壁部42係抵接於遮蔽板30之第一主面32的開口部31之外周的外緣部34。例如,第二壁部42係由 與第一壁部41相同的構件形成一體。再者,第二壁部42亦可藉由螺栓等的緊固構件來鎖緊連結於第一壁部41。藉此,能限制射出頭20A及遮蔽板30之前後方向(x方向)的相對移動。
如以上說明般,本實施形態的標記裝置4係能夠藉由對光學膜F10X射出油墨4i來標記標誌12,該標記裝置4係具備:液滴射出裝置20,係具有形成有對光學膜F10X射出油墨4i的射出孔21的射出面22;以及遮蔽板30,係設置於射出面22,且能夠遮擋從射出孔21射出油墨4i時飛散的飛沫4a;遮蔽板30係形成有開口部31,該開口部31係於與射出孔21相對向的位置開口,並且具有遮擋朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散之飛沫4a的內壁面31a。
根據本實施形態,由於遮蔽板30形成有於與射出孔21相對向的位置開口並且具有遮擋朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a之內壁面31a的開口部31,與未設置遮蔽板30而從液滴射出裝置20直接射出油墨4i的情況相較,可減小朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a之擴散範圍,具體而言,可減小飛沫4a附著於光學膜F10X時的以標誌12為中心的飛散直徑L2(參照第9圖),因此,即便從射出孔21射出油墨4i時飛沫4a飛散,仍抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。
又,由於具備在平行於射出面22之法線平 行的方向具有厚度t1的遮蔽板30,可藉由調整遮蔽板30之厚度t1來調整飛沫4a之擴散範圍,故可抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域。例如,藉由在遮蔽板30未觸及光學膜F10X的範圍內,盡可能地加大遮蔽板30之厚度t1,可最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。
又,由於更具備能夠將遮蔽板30固定於液滴射出裝置20的固定構件40,與未設置固定構件40的情況相較,更容易將遮蔽板30牢固地固定於液滴射出裝置20。
又,由於固定構件40係具備第一壁部41以及第二壁部42,該第一壁部41係覆蓋射出頭20A及遮蔽板30之雙方的位在與射出面22之法線正交的方向的側端部23、33,該第二壁部42係覆蓋遮蔽板30之第一主面32的開口部31之外周的外緣部34,可將遮蔽板30牢固地固定於射出頭20A,且可用簡單的構成來限制射出頭20A及遮蔽板30之前後左右上下方向(xyz方向)的相對移動。
又,由於液滴射出裝置20係具備能夠射出油墨4i的複數個射出頭20A,且遮蔽板30依複數個射出頭20A之各者設置有複數個,固定構件40為了可將遮蔽板30依複數個射出頭20A之各者分別固定而設置有複數個,可與各個射出頭20A以一對一的關係進行遮蔽板30及固定構件40之定位,故與設置有大小與複數個射出頭20A對應的遮蔽板及固定構件的情況相較,可抑制射出頭20A、遮蔽板30及固定構件40之相對位置偏移。
再者,由於遮蔽板30抵接於射出面22,與遮蔽板30與射出面22分離的情況相較,更容易限制射出頭20A及遮蔽板30之前後方向(x方向)的相對移動。
再者,由於開口部31之直徑d1設為比射出孔21之直徑d2更大,可避免從射出孔21所射出的油墨4i觸及開口部31。
本實施形態的缺陷檢查系統10係具備:搬運線路9,係搬運長條帶狀的光學膜F10X;缺陷檢查裝置2,係進行在搬運線路9上所搬運的光學膜F10X之缺陷檢查;以及標記裝置4,係基於缺陷檢查之結果而於缺陷11之位置射出油墨4i,藉此能夠列印標誌12。
依據本實施形態,由於具備上述標記裝置4,即便從射出孔21射出油墨4i時飛沫4a飛散,仍抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。又,由於具備基於缺陷檢查之結果而於缺陷11之位置射出油墨4i,藉此能夠列印標誌12之標記裝置4,而可對準缺陷之位置列印標誌12,故可有效地抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可更進一步提高製品的良率。
又,由於標記裝置4係對在搬運線路9上朝向與鉛直方向平行之方向搬運的光學膜F10X,從與鉛直方向正交的水平方向射出油墨4i,與標記裝置4對朝向水平方向搬運的光學膜F10X以鉛直方向朝下方射出油墨4i的情況相較,可抑制油墨4i因重力之影響從射出孔21自 然地滴落。
本實施形態的膜製造裝置1係具備上述缺陷檢查系統10。
依據本實施形態,由於具備上述缺陷檢查系統10,即便從射出孔21射出油墨4i時飛沫4a飛散,仍抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。又,由於對準缺陷之位置而列印標誌12,可有效地抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可更進一步提高製品的良率。
本實施形態的膜製造方法係包含使用上述的缺陷檢查系統10來標記的步驟。
依據本實施形態,由於包含上述標記步驟,即便從射出孔21射出油墨4i時飛沫4a飛散,仍抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。又,由於對準缺陷之位置而列印標誌12,可有效地抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可更進一步提高製品的良率。
另外,就從射出孔射出油墨時飛沫飛散的因素而言,可考慮(A1)液滴量、(A2)油墨黏度等。
以下,針對上述因素加以說明。
由本發明人的檢討可知:若液滴量微小,可認為從射出孔射出油墨時飛沫幾乎不會飛散,或者,即便飛沫飛散,汙染光學膜的程度之影響仍很少。另一方面,當液滴量較多時,從射出孔射出油墨時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會 汙染光學膜。
例如,市售的噴墨印表機(inkjet printer)中,因液滴量為1×10-6μL左右之微小量,故可認為從射出孔射油墨出時飛沫幾乎不會飛散,或者,即便飛沫飛散,汙染光學膜的程度之影響仍很少。另一方面,本實施形態的液滴射出裝置20中,液滴量為0.166μL左右,與市售的噴墨印表機相較時,因液滴量相當多,故從射出孔射出油墨時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染光學膜。
又,由本發明人的檢討可知:若油墨黏度較大,可認為從射出孔射出油墨時飛沫幾乎不會飛散。另一方面,當油墨黏度較小時,從射出孔射出油墨時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染光學膜。
例如,市售的噴墨印表機中,油墨黏度為1.17×10-3Pa‧s左右。另一方面,本實施形態的液滴射出裝置20中,因油墨黏度為0.89×10-3Pa‧s左右,與市售的噴墨印表機相較為較小,故從射出孔射出油墨時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染光學膜。
即便是由於上述因素(A1)、(A2)等造成從射出孔射油墨出時飛沫飛散的情況,依據本實施形態,由於遮蔽板30形成有開口部,該開口部係於與射出孔21相對向的位置開口,並且具有遮擋朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a的內壁面31a,與未設置遮蔽板30而從液滴射出裝置20直接射出油墨4i的情況相較,因可減小朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a之 擴散範圍,具體而言,可減小飛沫4a附著於光學膜F10X時的以標誌12為中心的飛散直徑L2(參照第9圖),故可有效地抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可更進一步提高製品的良率。
以下,針對實施形態之變化例加以說明。以下之變化例中,有關與第一實施形態共通的構成要素,係附記相同的符號,且省略其詳細的說明。
(固定構件之第一變化例)
第10圖係顯示固定構件之第一變化例的示意圖,且為對照第8圖的剖視圖。
上述實施形態中,係列舉固定構件40由與遮蔽板30不同的構件所形成。相對於此,本變化例中,如第10圖所示,固定構件140係由與遮蔽板30相同的構件形成為一體。
固定構件140係與遮蔽板130一起固定於射出頭120A。固定構件140係具備遮蔽板130及側壁部141。例如,固定構件140係藉由SUS等的金屬板所形成。
側壁部141係覆蓋射出頭20A的位在與射出面22之法線正交的方向的側端部23。側壁部141係形成為朝向前後方向(x方向)延伸的矩形筒狀。側壁部141係抵接於射出頭20A之上下方向(z方向)及寬度方向(y方向)的側端部23之射出面22側的部分。
遮蔽板130係形成為從側壁部141之前端(+x方向端)朝向z方向內側延伸的矩形框狀。遮蔽板130 係形成有開口部131,該開口部131係於與射出孔21相對向的位置開口,並且具有,遮擋朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a的內壁面131a。遮蔽板130係抵接於射出面22。換言之,遮蔽板130之第二主面135係與射出面22配置於同一平面。
例如,側壁部141係藉由螺栓等緊固構件來鎖緊連結於射出頭20A。藉此,能限制射出頭20A及遮蔽板130之上下方向(z方向)、寬度方向(y方向)及前後方向(x方向)的相對移動。
依據本變化例,由於固定構件140係與遮蔽板130形成為一體,且具備用以覆蓋射出頭20A的位在與射出面22之法線正交的方向的側端部23的側壁部141,故可將遮蔽板130牢固地固定於射出頭20A,且可用簡單的構成來限制射出頭20A及遮蔽板130之前後左右上下方向(xyz)方向的相對移動。又,與固定構件40由與遮蔽板30為不同的構件形成的情況相較,可削減零件數,而可謀求裝置構成的簡化。
(固定構件之第二變化例)
第11圖係顯示固定構件之第二變化例的示意圖,且為對照第8圖的剖視圖。
上述第一變化例中,係列舉遮蔽板130抵接於射出面22之例。相對於此,本變化例中,如第11圖所示,遮蔽板130係與射出面22分離。具體而言,遮蔽板130之第二主面135係配置於比射出面22更靠前方(+x方向)。
依據本變化例,由於遮蔽板130與射出面22分離,而可藉由調整遮蔽板130與射出面22之間隔來調整飛沫4a之擴散範圍,故可抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域。例如,藉由在遮蔽板130未觸及光學膜F10X的範圍內,盡可能地加大遮蔽板130與射出面22之間隔,可最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。又,與遮蔽板130抵接於射出面22的情況相較,即便不調整遮蔽板130之厚度t1,僅調整遮蔽板130與射出面22之間隔即可調整飛沫4a之擴散範圍,故能提高設計之自由度。
(遮蔽構件之變化例)
第12圖係顯示遮蔽構件之變化例的示意圖,且為對照第8圖的剖視圖。
上述實施形態中,係已列舉具備在與射出面22之法線平行的方向具有厚度的遮蔽板30作為遮蔽構件之例。相對於此,本變化例中,如第12圖所示,具備朝向與射出面22之法線平行的方向延伸的筒構件230作為遮蔽構件。
筒構件230係形成有於與射出孔21相對向之位置開口的開口部231。如第12圖所示,開口部231係具有與射出油墨之射出通路Ia(參照第9圖)面對的內壁面231a。開口部231之內壁面231a係遮擋從射出孔21射出油墨時朝向與射出面22之法線交叉的方向飛散的飛沫4a(參照第9圖)。
開口部231之內壁面231a係形成為以射出通路Ia為 中心軸的圓筒狀。開口部231之直徑(筒構件230之內徑)係比射出孔21之直徑更大。
筒構件230係抵接於射出面22。換言之,筒構件230之端面235(第二主面)係與射出面22配置於同一平面。
依據本變化例,由於具備朝向與射出面22之法線平行的方向延伸的筒構件230,可藉由調整筒構件230的長度(x方向的長度)來調整飛沫4a之擴散範圍,故可抑制飛沫4a附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域。例如,藉由在筒構件230未觸及光學膜F10X的範圍內,盡可能地加大筒構件230的長度,可最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。
又,由於開口部231之直徑設為比射出孔21之直徑更大,可避免從射出孔21所射出的油墨4i觸及開口部231。
〔第二實施形態〕
以下,針對本發明之第二實施形態的標記裝置之構成加以說明。第13圖係顯示第二實施形態的標記裝置204之立體圖。第14圖係包含第13圖的主要部分放大圖,且為用以說明第二實施形態的標記裝置204中的飛散限制構件50之作用的示意圖。再者,第14圖中,適當地省略了固定壁部53、54之圖示。本實施形態中,有關與第一實施形態共通的構成要素係附記相同的符號,且省略其詳細的說明。
第一實施形態中,如第6圖所示,已列舉 標記裝置4具備液滴射出裝置20、遮蔽板30、及固定構件40之例。相對於此,本實施形態中,如第13圖所示,標記裝置204係更具備飛散限制構件50。
如第14圖所示,飛散限制構件50係設置於射出面22與光學膜F10X之間。具體而言,飛散限制構件50係比遮蔽板30更靠前方,設置於固定構件40與光學膜F10X之間。飛散限制構件50係遮擋油墨4i從射出孔21射出起至噴著於光學膜F10X為止之間飛散的飛沫。前述飛沫係包含從射出孔21射出油墨4i時飛散的第一飛沫4a、以及油墨4i噴著於光學膜F10X時飛散的第二飛沫4b之至少一方。第一飛沫4a及第二飛沫4b係對列印對象的影響特別大。
在此,油墨4i從射出孔21射出起至噴著於光學膜F10X為止之間飛散的飛沫,除了油墨射出、噴著時產生的飛沫4a、4b以外,還可列舉油墨4i從射出孔21朝向光學膜F10X之飛行中飛散的飛沫。惟,此種油墨4i在飛行中飛散的飛沫相較於油墨射出、噴著時所產生的飛沫4a、4b,產生的量較少,且飛沫本身的大小亦非常地小,故認為汙染列印對象之程度的影響較少。
再者,第一飛沫4a係包含未附著於遮蔽板30的開口部31之內壁面31a而通過開口部31並浮游於空中的飛沫。又,油墨4i在飛行中飛散而形成的飛沫係與第一飛沫4a呈同樣的動作形態。
飛散限制構件50係形成有朝向與射出面22 之法線正交的方向擴展的遮擋面50f。飛散限制構件50中,射出面22側的遮擋面50f係限制第一飛沫4a朝向光學膜F10X側移動;光學膜F10X側的遮擋面50f係限制第二飛沫4b朝向射出面22側移動。亦即,飛散的第一飛沫4a之至少一部分係附著於飛散限制構件50的射出面22側之遮擋面50f,飛散的第二飛沫4b之至少一部分係附著於飛散限制構件50的光學膜F10X側之遮擋面50f。
再者,遮擋面50f係不限於朝向與射出面22之法線正交的方向擴展,亦可朝向與射出面22之法線交叉的方向擴展。例如,從有效地遮擋第一飛沫4a及第二飛沫4b的觀點來看,遮擋面50f較佳係以使與光學膜F10X之相對向面積成為最大之方式,朝向與膜搬運方向成為平行的方向且正交於射出面22之法線的方向擴展。再者,由於設備布局之關係而無法維持上述關係時,可調整遮擋面50f與射出面22之法線所成的角度以使相對於膜搬運方向儘量地成為平行。
如第13圖所示,飛散限制構件50係具備飛散限制板51、52、及固定壁部53、54。
飛散限制板51、52係在平行於射出面22之法線的方向(x方向)具有厚度。本實施形態中,飛散限制板51、52之厚度係設為3mm左右。再者,飛散限制板51、52之厚度可依需要而適當地設定,只要設定在能夠遮擋第一飛沫4a及第二飛沫4b的程度即可。
飛散限制板51、52係設為在膜寬度方向(第 13圖所示之y方向)具有長邊且在膜搬運方向(第13圖所示之z方向)具有短邊的長方形。本實施形態中,飛散限制板51、52之長邊的長度係設為相當於膜寬度的1600mm左右,飛散限制板51、52之短邊的長度係設為50mm左右。
如第14圖所示,第一飛散限制板51係隔著射出油墨4i的射出通路Ia而配置於一方側。第二飛散限制板52係隔著射出通路Ia而配置於另一方側。第一飛散限制板51係在鉛直方向上配置於比射出通路Ia更靠上方,第二飛散限制板52係在鉛直方向上配置於比射出通路Ia更靠下方。第一飛散限制板51及第二飛散限制板52係配置於隔著射出通路Ia而相鄰的位置。第一飛散限制板51係形成有朝向與射出面22之法線正交的方向擴展的第一遮擋面51f,第二飛散限制板52係形成有與第一遮擋面51f平行地擴展的第二遮擋面52f。
如第13圖所示,第一飛散限制板51及第二飛散限制板52分離的間隔s1(以下稱為「狹縫(slit)間隔」),係比射出孔21之直徑d2(參照第9圖)更大。例如,狹縫間隔s1較佳是設為2mm以上且10mm以下之範圍的值,更佳是設為2mm以上且5mm以下之範圍的值。此係由於將狹縫間隔s1設為過小時,油墨4i不能過通狹縫間隔s1,亦即有油墨4i觸及第一飛散限制板51及第二飛散限制板52的可能性,將狹縫間隔s1設為過大時,有來自射出孔21的第一飛沫4a會廣範圍地擴展的可能性。本實施形態中,狹縫間隔s1係設為5mm左右。再者,射出孔 21之直徑d2係設為1mm左右。
第一固定壁部53係具備上壁部53a及側壁部53b。第一固定壁部53係與第一飛散限制板51形成為一體。第一固定壁部53之上壁部53a係一體地連結於第一飛散限制板51之上端,並且傾斜成為越往後側(-x方向側)就越位在上方。第一固定壁部53之側壁部53b係一體地連結於第一飛散限制板51之左右側端及上壁部53a之左右側端,並且在傾斜成為越往後側(-x方向側)就越位在上方之後,朝向後方屈曲而延伸。藉此,可提高第一飛散限制板51之支撐剛性,並且可限制第一飛沫4a往上方及左右側方之移動。
例如,第一固定壁部53係藉由螺栓等的緊固構件而鎖緊連結於射出頭20A。藉此,能限制射出頭20A、第一固定壁部53及第一飛散限制板51之上下方向(z方向)、寬度方向(y方向)及前後方向(x方向)的相對移動。
第二固定壁部54係具備下壁部54a及側壁部54b。第二固定壁部54係與第二飛散限制板52形成為一體。第二固定壁部54之下壁部54a係一體地連結於第二飛散限制板52之下端,並且朝向後方(-x方向)延伸。第二固定壁部54之側壁部54b係一體地連結於第二飛散限制板52下部之左右側端及下壁部54a之左右側端,並且朝向後方延伸直至到達下壁部54a之後端為止。藉此,可提高第二飛散限制板52之支撐剛性,並且可限制第一飛沫4a往 下方及左右側方之移動。
例如,第二固定壁部54係藉由螺栓等的緊固構件而鎖緊連結於射出頭20A。藉此,能限制射出頭20A、第二固定壁部54及第二飛散限制板52之上下方向(z方向)、寬度方向(y方向)及前後方向(x方向)的相對移動。
飛散限制構件50之光學膜F10X側的遮擋面50f係與光學膜F10X分離。例如,飛散限制構件50之光學膜F10X側的遮擋面50f與光學膜F10X之間的距離(以下稱為「遮擋面與光學膜間距離」),較佳是設為10mm以下的值,更佳是設為1mm以上且5mm以下的值。此係由於將遮擋面與光學膜間距離設為過小時,有飛散限制構件50與光學膜F10X接觸的可能性,將遮擋面與光學膜間距離設為過大時,有無法藉由遮擋面50f來限制第二飛沫4b之移動的可能性。本實施形態中,遮擋面與光學膜間距離係設為3mm左右。
飛散限制構件50之射出面22側的遮擋面50f係與射出面22分離。例如,飛散限制構件50之射出面22側的遮擋面50f與射出面22之間的距離(以下稱為「遮擋面與射出面間距離」),較佳是設為3mm以上的值。本實施形態中,遮擋面與射出面間距離係設為10mm左右。此係由於將遮擋面與射出面間距離設為過小時,有無法藉由遮擋面50f來限制第二飛沫4b之移動的可能性,將遮擋面與射出面間距離設為過大時,必需加大狹縫間隔s1。
例如,飛散限制構件50係由SUS等的金屬板或壓克力板及聚丙烯板(PP板)等的塑膠板所形成。本實施形態中,飛散限制構件50係由壓克力板所形成。再者,飛散限制構件50亦可由對油墨不反應的板材所形成。藉此,因可抑制油墨所致的飛散限制構件50的腐蝕,故可提高飛散限制構件50之耐蝕性。
依據本實施形態,由於在射出面22與光學膜F10X之間設置能夠遮擋油墨4i從射出孔21射出時飛散的第一飛沫4a以及油墨4i噴著於光學膜F10X時飛散的第二飛沫4b之至少一方的飛散限制構件50,且飛散限制構件50形成有朝向與射出面22之法線正交的方向擴展的遮擋面50f,與未設置飛散限制構件50而從液滴射出裝置20直接射出油墨的情況相較,可限制第一飛沫4a在射出面22與光學膜F10X之間朝向光學膜F10X側移動,並且可限制第二飛沫4b朝向射出面22側移動,故即便油墨4i從射出孔21射出時第一飛沫4a飛散,或是油墨4i噴著於光學膜F10X時第二飛沫4b飛散,仍抑制第一飛沫4a及第二飛沫4b附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。
又,由於飛散限制構件50係具備在平行於射出面22之法線的方向(x方向)具有厚度的飛散限制板51、52,可藉由調整飛散限制板51、52之厚度來提高飛散限制板51、52之剛性,且可有效地遮擋第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,由於飛散限制構件50係具備隔著射出油墨4i的射出通路Ia而配置於一方側的第一飛散限制板51,以及隔著射出通路Ia而配置於另一方側的第二飛散限制板52,可用簡單的構成來有效地遮擋飛散至隔著射出通路Ia之兩側的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,由於第一飛散限制板51係在鉛直方向上配置於比射出通路Ia更靠上方,第二飛散限制板52係在鉛直方向上配置於比射出通路Ia更靠下方,可用簡單的構成來有效地遮擋飛散至隔著射出通路Ia之上下兩側的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,由於第一飛散限制板51係形成有朝向與射出面22之法線正交的方向擴展的第一遮擋面51f,第二飛散限制板52係形成有與第一遮擋面51f平行地擴展的第二遮擋面52f,與第一遮擋面51f及第二遮擋面52f相互地交叉的情況相較,射出面22與光學膜F10X之間的第一飛沫4a朝向光學膜F10X側之移動之限制以及第二飛沫4b朝向射出面22側之移動之限制之二者中,不會偏向任一方而可有效地限制。
又,由於狹縫間隔s1設為比射出孔21之直徑d2更大,可避免油墨4i觸及第一飛散限制板51及第二飛散限制板52。
再者,上述實施形態中雖已列舉將第一飛散限制板51及第二飛散限制板52隔著射出通路Ia配置於兩側之例加以說明,但不限於此。例如,飛散限制板亦可 僅配置於鉛直方向上比射出油墨4i的射出通路Ia更靠下方。藉此,與第一飛散限制板51及第二飛散限制板52隔著射出通路Ia配置於兩側的情況相較,能藉由削減零件數,以簡單的構成來謀求成本減低,並且可選擇性地遮擋因重力之影響而朝向比射出通路Ia更下方飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b。特別是,當點直徑較大時(液滴量較多時),在將光學膜F10X朝向上下方向搬運的情況下,向下方飛散的飛沫變多,故僅將飛散限制板配置於比射出通路Ia更靠下方的實效較大。
另一方面,就飛沫在油墨噴著於光學膜(列印對象)時飛散的因素而言,可考慮(B1)點直徑(液滴量)、(B2)油墨黏度、(B3)列印對象、(B4)線路速度等。
以下,針對上述因素加以說明。
由本發明人的檢討可知:若點直徑極微小(液滴量微小),則認為油墨噴著於列印對象時飛沫幾乎不會飛散,或者,即便飛沫飛散,汙染列印對象的程度之影響仍很少。另一方面,當點直徑較大(液滴量較多)時,油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
例如,市售的噴墨印表機中,因點直徑係極小的20μm左右,可推定液滴量為1×10-6μL左右,故可認為油墨噴著於列印對象時飛沫幾乎不會飛散,或者,即便飛沫飛散,汙染列印對象的程度之影響仍很少。另一方面,本實施形態的液滴射出裝置20中,點直徑為1mm以上且10mm以下之範圍的值,可推定液滴量為0.166μL左 右,與市售的噴墨印表機相較時,因點直徑相當大(液滴量相當多),故油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
又,由本發明人的檢討可知:若油墨黏度較大,可認為油墨噴著於列印對象時飛沫幾乎不會飛散。另一方面,當油墨黏度較小時,油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
例如,市售的噴墨印表機中,油墨黏度為1.17×10-3Pa‧s左右。另一方面,本實施形態的液滴射出裝置20中,因油墨黏度為0.89×10-3Pa‧s左右,與市售的噴墨印表機相較為較小,故油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
又,由本發明人的檢討可知:若列印對象為記錄紙等的紙媒體,可認為油墨噴著於列印對象時飛沫幾乎不會飛散。另一方面,當列印對象為包含PVA及TAC的光學膜時,油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
例如,市售的噴墨印表機中,列印對象為紙媒體。另一方面,本實施形態的液滴射出裝置20中,列印對象為光學膜,故油墨噴著於列印對象時飛沫會飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
又,由本發明人的檢討可知:若線路速度較小,可認為油墨噴著於列印對象時飛沫幾乎不會飛散。另一方面,當線路速度較大時,油墨噴著於列印對象時飛 沫會廣範圍地飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
例如,市售的噴墨印表機中,線路速度係較小的3m/min左右。另一方面,本實施形態中,線路速度為30m/min以下的值,且就能夠將標誌12列印於光學膜F10X的範圍而言,上限係50m/min以下的值而較大,故油墨噴著於列印對象時飛沫會廣範圍地飛散,且飛散的飛沫會汙染列印對象。
即便是由於上述因素(A1)、(A2)等造成從射出孔射出油墨時飛沫飛散的情況,或是由於上述因素(B1)至(B4)等造成油墨噴著於列印對象時飛沫飛散的情況,依據本實施形態,由於在射出面22與光學膜F10X之間設置能夠遮擋油墨4i從射出孔21射出時飛散的第一飛沫4a以及油墨4i噴著於光學膜F10X時飛散的第二飛沫4b之至少一方的飛散限制構件50,且飛散限制構件50形成有朝向與射出面22之法線正交的方向擴展的遮擋面50f,與未設置飛散限制構件50而從液滴射出裝置20直接射出油墨4i的情況相較,可限制第一飛沫4a在射出面22與光學膜F10X之間朝向光學膜F10X側移動,並且可限制第二飛沫4b朝向射出面22側移動,故可有效地抑制第一飛沫4a及第二飛沫4b附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可更進一步提高製品的良率。
〔第三實施形態〕
以下,針對本發明之第三實施形態的標記裝置之構成加以說明。第15圖係顯示第三實施形態的標記裝置304 的立體圖。第16圖係包含第15圖的主要部分放大圖,且為用以說明第三實施形態中的吸引裝置60之作用的示意圖。再者,第15圖中係僅適當地圖示第二吸引機構62(下側吸引機構),第16圖中係圖示第一吸引機構61及第二吸引機構62。又,第15圖中係適當地以二點鏈線來顯示光學膜F10X。本實施形態中,有關與第一實施形態共通的構成要素係附記相同的符號,且省略其詳細的說明。
第一實施形態中,如第6圖所示,已列舉標記裝置4具備液滴射出裝置20、遮蔽板30、及固定構件40之例。相對於此,本實施形態中,如第15圖所示,標記裝置304更具備吸引裝置60。
如第16圖所示,吸引裝置60係設置於射出面22與光學膜F10X之間。引裝置60係吸引從射出孔21射出油墨4i時飛散的第一飛沫4a以及油墨4i噴著於光學膜F10X時飛散的第二飛沫4b之至少一方。
如第15圖所示,本實施形態中,吸引裝置60係具備第二吸引機構62。第二吸引機構62僅配置於鉛直方向上比射出油墨4i的射出通路Ia更靠下方。第二吸引機構62係形成有以面向射出通路Ia的方式朝向前上方傾斜的吸引面62f。
第二吸引機構62之吸引面62f係形成有吸引第一飛沫4a及第二飛沫4b的吸引孔62h。吸引孔62h係在吸引面62f以沿著吸引面62f之寬度方向(y方向)的方式具有長邊而延伸。第15圖中雖圖示以沿著吸引面62f 之寬度方向(y方向)的方式延伸的吸引孔62h作為一例,但吸引孔62h之配置係不限於此,能夠依需要而適當地設定,例如,以複數個吸引孔沿著吸引面62f之寬度方向(y方向)排列配置成一排之方式,在吸引面62f之寬度方向(y方向)分割吸引孔62h等。
例如,吸引面62f與光學膜F10X之間的距離J1(以下稱為「吸引面與光學膜間距離」)係設為10mm以上的值。此係由於將吸引面與光學膜間距離J1設為過小時,有吸引面62f與光學膜F10X接觸的可能性。本實施形態中,吸引面與光學膜間距離J1係設為10mm左右。再者,吸引面與光學膜間距離J1係設為以列印面之法線方向(x方向)連結吸引面62f之下端與光學膜F10X之列印面的線段的長度。
例如,吸引面62f與固定構件40之間的距離J2(以下稱為「吸引面與固定構件間距離」)係設為30mm以上的值。此係由於將吸引面與固定構件間距離J2設為過小時,有吸引面62f與固定構件40接觸的可能性。本實施形態中,吸引面與固定構件間距離J2係設為30mm左右。再者,吸引面與固定構件間距離J2係設為以固定構件40之下面之法線方向(z方向)連吸引面62f之上端與固定構件40之下端的線段的長度。
例如,吸引孔62h與射出孔21之間的距離J3(以下稱為「吸引孔與射出孔間距離」),較佳是設為50mm以下的值,更佳是設為15mm以上且50mm以下之範圍的 值。本實施形態中,吸引孔與射出孔間距離J3係設為45mm左右。再者,吸引孔與射出孔間距離J3係設為連結吸引面62f的吸引孔62h之中心與射出面22的射出孔21之中心的線段的長度。
例如,吸引孔62h的長度係設為與吸引面62f之寬度(y方向)的長度同程度,具體而言,設為比吸引面62f之寬度方向(y方向)的長度更縮小達相當於第二吸引機構62之左右側壁的厚度量的長度。再者,吸引孔62h的長度係設為吸引孔62h之長邊方向(y方向)的長度。
例如,吸引孔62h之寬度較佳是設為50mm以下的值,更佳是設為5mm以上且20mm以下之範圍的值。本實施形態中,吸引孔62h之寬度係設為10mm左右。再者,吸引孔62h之寬度係設為吸引孔62h之短邊方向(吸引面62f之傾斜方向)的長度。
例如,藉由吸引孔62h來吸引飛沫時的風速(以下稱為「吸引風速」),較佳是設為2m/sec以上的值,更佳是設為5m/sec以上且7m/sec以下之範圍的值。本實施形態中,吸引風速係設為6.4m/sec。再者,就不使油墨4i(非為飛沫而是主液滴)偏移的範圍而言,吸引風速係設為4m/sec以上且20m/sec以下之範圍的值。
吸引孔62h的大小係設為能夠變更。例如,在吸引面62f設置能夠以沿著吸引孔62h之長邊方向的方式來移動的擋門(shutter)等的閉塞機構,藉此亦能夠變更吸引孔62h的大小。
第二吸引機構62係以吸引面62f面對射出通路Ia的方式形成為朝向前上方傾斜而延伸的形狀。具體而言,第二吸引機構62係具備:吸引面62f,係形成為在寬度方向(y方向)具有長邊的長方形;以及左右側面64,係將吸引面62f之左右側緣作為上底而形成為朝向前上方延伸的梯形。第二吸引機構62之後端部(-x方向側端部)係設置有與左右側面64之法線平行地朝向左右側方(y方向)突出的支撐軸65。
第二吸引機構62之左右側方係設置有能夠將第二吸引機構62支撐成轉動自如的支撐機構73。第二吸引機構62之下方係設置有朝向膜寬度方向(y方向)延伸的載台(stage)72。支撐機構73係具備:支撐台73a,係固定於載台72;支撐板73b,係固定於支撐台73a;以及豎起片73c,係從支撐板73b之寬度方向內側端部(+y方向側端部)朝向上方延伸。
豎起片73c係形成有於豎起片73c之厚度方向(y方向)開口並且朝向上下延伸的長孔73h。豎起片73c之長孔73h中係插通第二吸引機構62之支撐軸65。長孔73h的大小係設為能夠使支撐軸65上下移動且能夠繞著支撐軸65之軸線轉動的大小。支撐軸65係在插通長孔73h的狀態下,從豎起片73c朝向左右側方突出。第二吸引機構62係藉由未圖示之固定具將支撐軸65固定於豎起片73c,藉此能限制上下移動以及繞著支撐軸65之軸線的轉動。例如,可在支撐軸65之左右側端部形成螺牙,且藉由 將螺帽(nut)等螺鎖至支撐軸65之螺牙來限制第二吸引機構62之位置。
再者,圖中符號71為支撐液滴射出裝置20的支撐台。支撐台71係朝向液滴射出裝置20之寬度方向(y方向)延伸。例如,液滴射出裝置20係藉由螺栓等的緊固構件來鎖緊連結於支撐台71。
依據本實施形態,由於射出面22與光學膜F10X之間設置能夠吸引油墨4i從射出孔21射出時飛散的第一飛沫4a與油墨4i噴著於光學膜F10X時飛散的第二飛沫4b之至少一方的吸引裝置60,與未設置吸引裝置60而從液滴射出裝置20直接射出油墨4i的情況相較,可吸引飛散於射出面22與光學膜F10X之間的第一飛沫4a及第二飛沫4b,故即便油墨4i從射出孔21射出時第一飛沫4a飛散,或油墨4i噴著於光學膜F10X時第二飛沫4b飛散,仍抑制第一飛沫4a及第二飛沫4b附著於光學膜F10X之缺陷部位以外的區域,而可提高製品的良率。
再者,由於第二吸引機構62係僅配置於鉛直方向上比射出油墨4i的射出通路Ia更靠下方,與吸引機構隔著射出通路Ia而配置於兩側的情況相較,能藉由削減零件數,以簡單的構成來謀求成本減低,並且可選擇性地吸引因重力之影響而朝向比射出通路Ia更下方飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b。特別是,點直徑較大時(液滴量較多時),沿上下方向搬運光學膜F10X的情況下,向下方飛散的飛沫變多,故僅設第二吸引機構62的實效(僅將 吸引機構配置於比射出通路Ia更靠下方的實效)較大。
再者,上述實施形態中,雖已列舉第二吸引機構62僅配置於鉛直方向上比射出油墨4i的射出通路Ia更靠下方之例來加以說明,但不限於此。例如,如第16圖所示,吸引裝置60亦可具備隔著射出油墨4i的射出通路Ia而配置於一方側的第一吸引機構61以及隔著射出通路Ia而配置於另一方側的第二吸引機構62。亦即,亦可將吸引機構61、62隔著射出通路Ia而配置於兩側。藉此,可用簡單的構成有效地吸引隔著射出通路Ia而飛散至兩側的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,第一吸引機構61亦可配置於鉛直方向上比射出通路Ia更靠上方,且第二吸引機構62(相當於上述實施形態的第二吸引機構62)亦可配置於鉛直方向上比射出通路Ia更靠下方。藉此,可用簡單的構成有效地吸引隔著射出通路Ia而飛散至上下兩側的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
第一吸引機構61係吸引朝向射出通路Ia之上方飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b,第二吸引機構係吸引朝向射出通路Ia之下方飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b。由第一吸引機構61所吸引的飛沫,係經過配管而往箭頭之方向Q1移送,由第二吸引機構62所吸引的飛沫,係經過配管而往箭頭之方向Q2移送,且分別貯存於未圖示之槽內。
〔第四實施形態〕
以下,針對本發明之第四實施形態的標記裝置之構成加以說明。第17圖係顯示第四實施形態的標記裝置404之示意圖,且為包含對照第8圖之剖面的示意圖。本實施形態中,有關與第一實施形態及第一實施形態之第二變化例共通的構成要素,係附記相同的符號,且省略其詳細的說明。
如第6圖所示,第一實施形態中係已列舉標記裝置4具備液滴射出裝置20、遮蔽板30及固定構件40之例,如第11圖所示,第一實施形態之第二變化例中係已列舉在固定構件140與遮蔽板130藉由相同之構件形成為一體的構成中,遮蔽板130與射出面22分離之例。相對於此,如第17圖所示,本實施形態中,標記裝置404係具備液滴射出裝置20、固定構件440及吸引裝置460。
固定構件440係與遮蔽板430藉由相同的構件來形成為一體。固定構件440係與遮蔽板430一起固定於射出頭20A。固定構件440係具備遮蔽板430及側壁部141。例如,固定構件440係由SUS等的金屬板所形成。
遮蔽板430係與射出面22分離。具體而言,遮蔽板430之第二主面435係配置於比射出面22更靠前方(+x方向)。藉由使遮蔽板430從射出面22分離,遮蔽板430亦成為具有上述飛散限制構件的功能。具體而言,藉由使遮蔽板430從射出面22分離,遮蔽板430之第二主面435(射出面22側的面)係能限制第一飛沫4a朝向光學膜F10X側移動,而遮蔽板430之第一主面432(光學膜F10X 側的面)係能限制第二飛沫4b朝向射出面22側移動。
遮蔽板430之開口部431的射出面22側之緣部係形成有錐形部436,該錐形部436係具有以面向射出孔21的方式對於射出面22之法線而傾斜的傾斜面436a。再者,遮蔽板430之開口部431的射出面22側之緣部係開口部431之內壁面431a與遮蔽板430之第二主面435之間的交界部。
本實施形態中係設有與光學膜F10X接觸的導輥7。本實施形態的液滴射出裝置20係配置成在搬運光學膜F10X的期間,隔著光學膜F10X而相對向於導輥7。液滴射出裝置20係從光學膜F10X與導輥7接觸的位置之相反側射出油墨4i(參照第9圖)。
光學膜F10X較佳是在40°以上且130°以下之角度範圍(以下稱為「圍包角度θ」)內繞掛於導輥7之外周面。再者,圍包角度係設為以導輥7之中心角來表示光學膜F10X接觸於導輥7之外周面的周方向之部分的角度範圍的值。
此係由於當圍包角度θ未滿40°時,光學膜F10X容易在導輥7之外周面上滑動,而有光學膜F10X發生擦傷等的可能性,而當圍包角度θ超過130°時,例如氣泡容易進入表面保護膜與偏光膜之間。
又,施加於光學膜F10X的張力較小時,較佳是將圍包角度θ設為超過90°的值,更佳是設為95°以上。施加於光學膜F10X的張力越小時越容易產生振顫,但藉 由將圍包角度θ設為超過95°以上,即便是施加於光學膜F10X的張力較小的情況,仍可抑制發生於光學膜F10X的振顫。另一方面,施加於光學膜F10X的張力較大時,較佳是將圍包角度θ設為未滿90°,更佳是設為85°以下。藉此,即便是施加於光學膜F10X的張力較大的情況,仍可抑制光學膜F10X過度密接於導輥7之外周面。
再者,光學膜F10X之搬運速度通常為9m/min以上且50m/min以下之範圍的值。又,施加於光學膜F10X的張力,在乾燥爐內設為400N以上且1500N以下之範圍的值,而在乾燥爐外設為200N以上且500N以下之範圍的值。再者,光學膜F10X之寬度係設為500mm以上且1500mm以下之範圍的值,光學膜F10X之厚度係設為10μm以上且300μm以下之範圍的值。光學膜F10X之寬度越大,或者光學膜F10X之厚度越薄,就越容易發生振顫。
例如,導輥7之外徑較佳是設為100mm以上且150mm以下之範圍的值。此係由於當加大導輥7之外徑時,對於圍包角度θ之光學膜F10X接觸於導輥7之外周面的面積變大,而可抑制發生於光學膜F10X的振顫,但過度加大導輥7之外徑時,光學膜F10X容易發生上述的擦傷及氣泡之進入等。
例如,導輥7之正圓度較佳是設為1.0mm以下的值,更佳是設為0.5mm以下的值。此係由於導輥7之正圓度越小,越可抑制接觸於導輥7的光學膜F10X之 振動。
例如,導輥7之外周面的表面粗糙度(最大粗糙度Ry)較佳是設為100s以下的值,更佳是設為25s以下的值。此係由於當導輥7之外周面的表面粗糙度(最大粗糙度Ry)過大時,光學膜F10X容易發生上述的擦傷及氣泡之進入等。
又,從更有效地抑制發生於光學膜F10X的振顫的觀點來看,亦可在導輥7之上游側及下游側,追加設置與光學膜F10X接觸的導輥。又,亦可使光學膜F10X對於所追加的導輥具有圍包角度。
導輥7係能夠朝向與光學膜F10X之搬運方向V1交叉的方向V2進退。例如,亦可於導輥7安裝壓力缸(cylinder)機構等,藉此使導輥7能夠朝向前下方及後上方等的斜方向移動。藉此,從膜通過性、連接部、頭部清潔等的觀點來看可以謀求作業性提高。
具體而言,膜通過性的觀點係指從光學膜F10X尚未於搬運線路9進行搬運之狀態(尚未通過的狀態)開始要搬運光學膜F10X時(通過時),藉由加寬標記裝置404與導輥7之距離來提高作業性。
其次,說明連接部的觀點。在交換原料捲R1、R2時,若用膠帶等來連接光學膜F10X則會產生連接部。光學膜F10X的連接部的厚度與通常之部位的厚度(非連接部的厚度)相較變得較大。即便是如此的情況,仍能夠使導輥7移動,藉此可避免連接部與標記裝置404之接觸,可使搬運 線路9搬運光學膜F10X,而能提高作業性。
再者,頭部清潔係指頭部之清掃,藉由能夠使導輥7移動,可加寬作業空間,故可提高作業性。
再者,亦可使液滴射出裝置20朝向與光學膜F10X之搬運方向V1交叉的方向(例如前後方向)進退。
第17圖中的符號Va係顯示包含射出油墨4i的射出通路Ia(參照第9圖)之固定構件340與導輥7相對向的部分(以下稱為「相對向部分」)。
吸引裝置460係具備:第一吸引機構461,係隔著相對向部分Va而配置於一方側;以及第二吸引機構462,係隔著相對向部分Va而配置於另一方側。亦即,吸引機構461、462係隔著相對向部分Va而配置於兩側。具體而言,第一吸引機構461係配置於鉛直方向上比相對向部分Va更靠上方,第二吸引機構462係配置於鉛直方向上比相對向部分Va更靠下方。
第一吸引機構461係形成有以面向相對向部分Va的方式往前下方傾斜的吸引面461f。第二吸引機構462係形成有以面向相對向部分Va的方式往後下方傾斜的吸引面462f。各吸引面461f、462f係形成有吸引第一飛沫4a及第二飛沫4b的吸引孔(未圖示)。各吸引機構461、462係配置成各吸引面461f、462f進入遮蔽板430之第一主面432與接觸於導輥7的光學膜F10X之間的間隙。
依據本實施形態,由於遮蔽板430之開口部431的射出面22側之緣部形成具有以面向射出孔21的 方式相對於射出面22之法線而傾斜的傾斜面436a的錐形部436,而可用傾斜面436a來承接第一飛沫4a,故可避免第一飛沫4a***。若遮蔽板430之開口部431的射出面22側之緣部未形成錐形部,因在開口部431之內壁面431a與遮蔽板430之第二主面435的交界部形成剖面觀察下為90°左右的角部,故有從射出孔21射出油墨4i時飛散的第一飛沫4a在角部***的可能性。
又,由於吸引裝置460具備隔著相對向部分Va而配置於一方側的第一吸引機構461以及隔著相對向部分Va而配置於另一方側的第二吸引機構462,故可用簡單的構成有效地吸引朝向隔著相對向部分Va的兩側飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,由於第一吸引機構461配置於鉛直方向上比相對向部分Va更靠上方,第二吸引機構462配置於鉛直方向上比相對向部分Va更靠下方,故可用簡單的構成來有效地吸引朝向隔著相對向部分Va的上下兩側飛散的第一飛沫4a及第二飛沫4b。
又,由於各吸引機構461、462配置成各吸引面461f、462f進入遮蔽板430之第一主面432與接觸於導輥7的光學膜F10X之間的間隙,故可使吸引孔接近射出通路Ia,而可有效地吸引飛散於射出面22與光學膜F10X之間的第一飛沫4a及第二飛沫4b。再者,藉由使吸引孔接近油墨4i之噴著位置,可更有效地吸引第二飛沫4b。
又,由於液滴射出裝置20配置成在搬運光學膜F10X的期間,隔著光學膜F10X而相對向於與光學膜F10X接觸的導輥7,故能夠以抑制了發生於光學膜F10X的振顫之狀態來配置液滴射出裝置20及固定構件440,而可在遮蔽板430不與光學膜F10X接觸的範圍內,盡可能地減小固定構件440之遮蔽板430與射出面22的間隔,最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。
又,藉由在吸引機構461、462不吸入光學膜F10X的範圍內,盡可能地減小吸引機構461、462之吸引面與相對向部分Va的間隔,可最大限度地吸收飛沫4a、4b。
再者,即便是未具備固定構件440(遮蔽板430)的情況,仍可藉由在射出面22不與光學膜F10X接觸的範圍內,盡可能地減小射出頭20A之射出孔21與光學膜F10X的間隔,最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。
本實施形態的缺陷檢查系統410更具備與光學膜F10X接觸的導輥7,標記裝置404係配置成隔著光學膜F10X而相對向於導輥7,並從光學膜F10X與導輥7接觸的位置之相反側射出油墨4i。
依據本實施形態,由於更具備上述導輥7,故能夠以抑制了發生於光學膜F10X的振顫之狀態來配置液滴射出裝置20及固定構件440,而可在遮蔽板430不與光學膜F10X接觸的範圍內,盡可能地減小固定構件440之遮蔽板430與射出面22的間隔,最大限度地減小飛沫4a之擴散範圍。
再者,本實施形態中雖已列舉將遮蔽板430形成為平板狀,亦即將遮蔽板430之第一主面432為與yz平面平行的面之例,但不限於此。例如,亦可將遮蔽板430之與導輥7相對向的部分,以朝向導輥7之相反側凹陷的方式,形成為剖面觀察下呈圓弧狀之面,亦即將遮蔽板之第一主面以沿著導輥7之外周面的方式形成為圓弧狀的面。藉此,與遮蔽板430形成為平板狀的情況相較,可更進一步減小遮蔽板與光學膜F10X之間隔,故可更有效地減小飛沫4a之擴散範圍。
再者,本發明未必限於上述實施形態,能夠在未脫離本發明之意旨的範圍內施加各種的變更。
上述實施形態中雖已列舉標記裝置對於以搬運線路9沿著與鉛直方向平行的方向搬運的光學膜F10X,從與鉛直方向正交的水平方向射出油墨4i之例加以說明,但不限於此。例如,標記裝置亦可從下方對於沿著水平方向搬運的光學膜F10X射出油墨4i。即便是此情況,與標記裝置從上方對於沿著水平方向搬運的光學膜F10X射出油墨4i的情況相較,可抑制油墨4i受重力之影響從射出孔21自然地滴落。
又,上述實施形態中雖已列舉標記裝置係在隔著射出油墨4i的射出通路Ia的兩側配置飛散限制板或吸引機構之例來加以說明,但不限於此。例如,由於光學膜F10X之搬運而產生之風的流向、油墨4i之射出通路Ia的方向等,使得油墨4i之飛沫集中於射出通路Ia之一方側時, 亦可僅在該一方側配置飛散限制板或吸引機構。
又,上述實施形態中雖已列舉如第7圖等所示的液滴射出裝置中,具有複數個射出孔的射出頭以涵蓋列印範圍之方式,沿光學膜F10X之寬度方向配置複數個的構成之例加以說明,但不限於此。例如,液滴射出裝置亦可具備單獨之射出頭,射出頭係具有一至三個射出孔,依來自控制裝置之缺陷位置資訊,使該液滴射出裝置沿著光學膜F10X之寬度方向及搬運方向移動,以對光學膜F10X上之缺陷位置射出油墨4i而列印。再者,飛散限制板、吸引機構亦可與液滴射出裝置一起往缺陷位置移動而防止油墨4i之飛沫汙染光學膜。
又,雖已列舉上述缺陷檢查系統10係設置於膜製造裝置1之一部分的構成作為一例來加以說明,但不限於此。上述缺陷檢查系統10亦可與膜製造裝置1個別獨立地設置。例如,膜製造裝置1亦可不具備上述缺陷檢查系統10,而是將膜製造裝置1中所製造的光學膜F10X用捲繞部8捲繞於芯材成為光學膜F10X之原料捲R2之後,送往下一個步驟,而在下一個步驟的設備之一部分設有上述缺陷檢查系統10。
再者,有關本發明所適用的膜,未必限於上述偏光膜、相位差膜及增亮膜等的光學膜,而能夠將本發明廣泛地應用於能藉由標記裝置來進行列印的膜。
以上雖已參照圖式針對本發明之較佳的實施形態例加以說明,但本發明當然不限於該等例。上述之 例中所示的各構成構件之各種形狀、組合等為其一例,能夠在未脫離本發明之意旨的範圍內基於設計要求等進行各種變更。

Claims (15)

  1. 一種標記裝置,係能夠藉由對光學膜射出液滴來標記資訊,該標記裝置係具備:液滴射出裝置,係具有形成有對前述光學膜射出前述液滴的射出孔的射出面;以及遮蔽構件,係設置於前述射出面,能夠遮擋前述液滴從前述射出孔射出時飛散的飛沫;前述遮蔽構件係形成有開口部,該開口部係於與前述射出孔相對向的位置開口,並且具有遮擋朝向與前述射出面之法線交叉的方向飛散之前述飛沫的內壁面。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之標記裝置,其中,前述遮蔽構件係具備遮蔽板,該遮蔽板在平行於前述射出面之法線的方向具有厚度。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之標記裝置,更具備固定構件,該固定構件係能夠將前述遮蔽板固定在前述液滴射出裝置。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之標記裝置,其中,前述固定構件係具備:第一壁部,係覆蓋前述液滴射出裝置及前述遮蔽板之雙方的位在與前述射出面之法線正交的方向的側端部;以及第二壁部,係覆蓋前述遮蔽板之與前述射出面為相反側的面的前述開口部之外周的外緣部。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之標記裝置,其中,前述 固定構件係具備側壁部,該側壁部係與前述遮蔽板一體形成,並且覆蓋前述液滴射出裝置的位在與前述射出面之法線正交的方向的側端部。
  6. 如申請專利範圍第3項至第5項中任一項所述之標記裝置,其中,前記液滴射出裝置具備可射出前述液滴的複數個射出頭;前述遮蔽板係依前述複數個射出頭之各者而設置有複數個;前述固定構件為了可將前述遮蔽板依前述複數個射出頭之各者分別固定而設置有複數個。
  7. 如申請專利範圍第2項至第6項中任一項所述之標記裝置,其中,前述遮蔽板係抵接於前述射出面。
  8. 如申請專利範圍第2項至第6項中任一項所述之標記裝置,其中,前述遮蔽板係從前述射出面分離。
  9. 如申請專利範圍第1項至第8項中任一項所述之標記裝置,其中,前述開口部之直徑比前述射出孔之直徑更大。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之標記裝置,其中,前述遮蔽構件係具備朝向與前述射出面之法線平行的方向延伸的筒構件。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之標記裝置,其中,前述筒構件之內徑比前述射出孔之直徑更大。
  12. 如申請專利範圍第1項至第11項中任一項所述之標記裝置,其中,前述開口部的前述射出面之側的緣部形 成有錐形部,該錐形部係具有以面向前述射出孔的方式對於前述射出面之法線傾斜的傾斜面。
  13. 如申請專利範圍第1項至第12項中任一項所述之標記裝置,其中,前述液滴射出裝置係配置成在搬運長條帶狀的前述光學膜的期間,隔著前述光學膜而相對向於與前述光學膜接觸的導輥,並從前述光學膜之與前述導輥接觸的位置之相反側射出前述液滴。
  14. 一種缺陷檢查系統,係具備:搬運線路,係搬運長條帶狀的膜;缺陷檢查裝置,係進行在前述搬運線路上所搬運的膜之缺陷檢查;以及申請專利範圍第1項至第13項中任一項所述之標記裝置,係基於前述缺陷檢查之結果而於缺陷之位置射出液滴,藉此能夠標記資訊。
  15. 一種膜製造方法,係包含:使用申請專利範圍第14項所述之缺陷檢查系統來進行標記的步驟。
TW107106821A 2017-03-03 2018-03-01 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法 TWI811207B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-040930 2017-03-03
JP2017040930A JP6991721B2 (ja) 2017-03-03 2017-03-03 マーキング装置、欠陥検査システム及びフィルム製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201843436A true TW201843436A (zh) 2018-12-16
TWI811207B TWI811207B (zh) 2023-08-11

Family

ID=63486509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107106821A TWI811207B (zh) 2017-03-03 2018-03-01 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6991721B2 (zh)
KR (1) KR102447149B1 (zh)
CN (1) CN108535275A (zh)
TW (1) TWI811207B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114953764B (zh) * 2021-02-18 2023-08-22 恒美光电股份有限公司 一种偏光膜缺点汇整标记***

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000062166A (ja) * 1998-08-18 2000-02-29 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 描画ヘッド装置
JP4343456B2 (ja) 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4711280B2 (ja) 2003-10-14 2011-06-29 オリンパス株式会社 画像記録装置
US7424902B2 (en) 2004-11-24 2008-09-16 The Boeing Company In-process vision detection of flaw and FOD characteristics
JP2008093849A (ja) * 2006-10-06 2008-04-24 Canon Inc 液滴吐出ヘッド及び液滴吐出装置
JP2008175940A (ja) 2007-01-17 2008-07-31 Sekisui Chem Co Ltd 光学フィルムの欠陥のマーキング方法
JP2010099996A (ja) 2008-10-27 2010-05-06 Seiko Epson Corp 液体噴射ヘッド、およびプリンタ
JP2010099997A (ja) 2008-10-27 2010-05-06 Seiko Epson Corp 液体噴射ヘッド、液体吐出方法、およびメンテナンス方法
JP2011065184A (ja) 2009-04-10 2011-03-31 Nitto Denko Corp 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法
JP2011178089A (ja) 2010-03-02 2011-09-15 Seiko Epson Corp 液体噴射ヘッド、液体噴射ヘッドユニット及び液体噴射装置
JP2012232450A (ja) * 2011-04-28 2012-11-29 Panasonic Corp 液体吐出ヘッド及び液体吐出装置
JP2012232552A (ja) * 2011-05-09 2012-11-29 Riso Kagaku Corp インクジェットヘッド
JP6155759B2 (ja) 2013-03-29 2017-07-05 セイコーエプソン株式会社 液体吐出装置
JP6177017B2 (ja) * 2013-06-12 2017-08-09 住友化学株式会社 欠陥検査システム
JP2016137588A (ja) * 2015-01-26 2016-08-04 セイコーエプソン株式会社 ヘッドユニット及び記録装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP6991721B2 (ja) 2022-01-12
CN108535275A (zh) 2018-09-14
KR20180101209A (ko) 2018-09-12
KR102447149B1 (ko) 2022-09-23
JP2018146362A (ja) 2018-09-20
TWI811207B (zh) 2023-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102369758B1 (ko) 결함 검사 시스템
JP6236766B2 (ja) 搬送装置及び記録装置
TWI750337B (zh) 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造裝置
CN108535273B (zh) 缺陷检查***、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
TWI772372B (zh) 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造裝置
TWI811207B (zh) 標記裝置、缺陷檢查系統及膜製造方法
JP2014198626A (ja) 画像形成装置
KR101704973B1 (ko) 디스플레이 유닛 제조 시스템
JP7117864B2 (ja) 欠陥検査システム、フィルム製造装置、フィルム製造方法、印字装置及び印字方法
JP2019045502A (ja) 欠陥記録システム、およびフィルム製造システム、ならびにフィルムの製造方法
JP7195042B2 (ja) 欠陥情報読取方法、欠陥情報読取システム及びフィルム製造装置