TW201618071A - 有機發光顯示裝置及其驅動方法 - Google Patents

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Abstract

一種有機發光顯示裝置，包含：一顯示面板，包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體(OLED)，該有機發光二極體用以發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光；一劣化決定器，用於根據被輸入至各該畫素之累積影像資料之一值來決定該有機發光二極體之一劣化程度；一電流感測器，用以對該有機發光二極體施加一感測電壓並量測對應於該感測電壓之一電流；以及一劣化計算器，用以根據該電流感測器所量測之該電流來計算該有機發光二極體之一劣化量。

Description

有機發光顯示裝置及其驅動方法 【相關申請案之交叉參考】
本申請案主張於2014年11月10日向韓國智慧財產局提出申請之韓國專利申請案第10-2014-0155521號之優先權及權利，該韓國專利申請案之全部內容以引用方式併入本文中。
一或多個實例實施例係關於一種有機發光顯示裝置及其驅動方法。
近來，已開發出各種比陰極射線管輕薄得多的平板顯示裝置。平板顯示裝置之實例包括液晶顯示(liquid crystal display；LCD)裝置、場發射顯示(field emission display；FED)裝置、電漿顯示面板(plasma display panel；PDP)裝置、及有機發光顯示裝置。
作為使用會發光之有機化合物之平板顯示裝置，有機發光顯示裝置利用有機發光二極體來顯示影像，有機發光二極體藉由電子與電洞之複合而產生光。
有機發光顯示裝置具有響應時間快、功耗低、亮度高、色純度高、及設計輕薄之特性，因此其被期待用作包括可攜式顯示裝置在內的各種顯示裝置。
一有機發光顯示裝置包含複數畫素，各該畫素代表包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色，並以與施加至各該畫素之一資料電壓對應之一亮度發出光。
各該畫素包含一有機發光二極體(organic light-emitting diode；OLED)、以及一畫素電路，該畫素電路耦合至一資料線及一掃描線並控制該有機發光二極體。有機發光二極體以與自畫素電路供應之一驅動電流對應之一亮度發出光。
畫素電路可包含複數電晶體及儲存電容器，並因應於一資料訊號而控制供應至有機發光二極體之驅動電流，其中該資料訊號係在一掃描訊號被施加至掃描線時被施加至資料線。
在此種情形中，有機發光顯示裝置之畫素可能會因隨著有機發光二極體之劣化而產生的效率變化而無法以一所需亮度顯示一影像。事實上，隨著時間流逝，有機發光二極體可能會劣化，且因此可能會因應於同一資料訊號而以一更低之亮度產生光。
一或多個實例實施例係關於一種有機發光顯示裝置及其驅動方法。根據本發明之某些實施例，一有機發光顯示裝置及其驅動方法可藉由利用在一劣化畫素及一未劣化畫素中所量測之電流來計算一有機發光二極體(OLED)之一劣化量，藉此補償劣化而無需使用初始劣化資料。
一或多個實例實施例包含一種有機發光顯示裝置及其驅動方法，該有機發光顯示裝置及其驅動方法可降低雜訊對顯示器運作之影響以決定與由一有機發光二極體(OLED)之劣化所導致之亮度下降對應之一補償量。
本發明之其他態樣將在以下之說明中予以部分闡述，且該等態樣將藉由說明而部分地變得顯而易見，抑或可藉由實踐所提供之實施例而得知。
根據一或多個實例實施例，一種有機發光顯示裝置包含：一顯示面板，包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體(OLED)，該有機發光二極體用以發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光；一劣化決定器，用於根據被輸入至各該畫素之一累積影像資料之值來決定該有機發光二極體之一劣化程度；一電流感測器，用以對該有機發光二極體施加一感測電壓並量測對應於該感測電壓之一電流；以及一劣化計算器，用以根據該電流感測器所量測之該電流來計算該有機發光二極體之一劣化量。
該劣化決定器可包含一記憶體，該記憶體用以儲存被輸入至各該畫素之一影像資料之值，且該劣化決定器可用以根據儲存於該記憶體中之該影像資料之值來決定該有機發光二極體之該劣化程度。
該劣化計算器可用以基於在該等畫素中一未劣化畫素中所量測之一電流而計算一背景電流。
該劣化計算器可用以基於該背景電流與在該等畫素中一劣化畫素中所測量之一電流間之一差別而計算該劣化量。
該有機發光顯示裝置可更包含一劣化補償器，用以對一劣化畫素應用與該劣化量對應之補償資料。
該劣化決定器可用以自被輸入至各該畫素之該累積影像資料之值分離出一劣化區域及一未劣化區域。
該劣化計算器可用以利用同時量測之複數電流來計算該有機發光二極體之該劣化量。
根據一或多個實例實施例，在一種驅動一有機發光顯示裝置之方法中，該有機發光顯示裝置包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體(OLED)，該有機發光二極體用以發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光，該方法包含：儲存被輸入至各該畫素之影像資料；根據該影像資料決定該有機發光二極體之一劣化程度；對該有機發光二極體施加一感測電壓；量測與該感測電壓對應之一電流；以及根據該量測之該電流計算該有機發光二極體之一劣化量。
計算該劣化量之步驟可包含：基於在該等畫素中一未劣化畫素中所量測之一電流而計算一背景電流。
計算該劣化量之步驟可包含：基於該背景電流與在該等畫素中一劣化畫素中所測量之一電流間之一差別而計算該劣化量。
該方法可更包含：對一劣化畫素應用與該劣化量對應之補償資料。
決定該劣化程度之步驟可包含：自被輸入至各該畫素之該累積影像資料之一值分離出一劣化區域及一未劣化區域。
計算該劣化量之步驟可包含：利用同時量測之複數電流來計 算該有機發光二極體之該劣化量。
100‧‧‧有機發光顯示裝置
100’‧‧‧有機發光顯示裝置
110‧‧‧顯示面板
120‧‧‧劣化決定器
130‧‧‧電流感測器
140‧‧‧劣化計算器
150‧‧‧劣化補償器
A-A’、B-B’、C-C’‧‧‧虛線
Cst‧‧‧儲存電容器
DL‧‧‧資料線
DL1~DLm‧‧‧資料線
ELVDD‧‧‧驅動電壓
ELVSS‧‧‧接地電壓
EM‧‧‧發光訊號
IEL‧‧‧驅動電流
I‧‧‧電流
OLED‧‧‧有機發光二極體
PC‧‧‧畫素電路
PX‧‧‧畫素
S110~S140‧‧‧操作
SL‧‧‧掃描線
SL1~SLn‧‧‧掃描線
T1‧‧‧驅動電晶體
T2‧‧‧開關電晶體
△‧‧‧劣化量
結合附圖閱讀下文對各實例實施例之說明，此等及/或其他態樣將變得顯而易見且更易於理解，在附圖中：第1圖以及第2A圖及第2B圖係為根據一實例實施例，用於解釋利用在一初始時間所量測之一電流來計算一劣化量之一方法之一曲線圖；第3圖係為例示根據一實例實施例之一有機發光顯示裝置之一配置圖；第4圖係為例示根據一實例實施例，有機發光顯示裝置之一畫素電路之一配置圖；第5圖係為根據另一實例實施例，用於解釋計算一劣化量之一方法之一曲線圖；第6圖係為例示根據另一實例實施例之一有機發光顯示裝置之一配置圖；以及第7圖係為根據一實例實施例，驅動一有機發光顯示裝置之一方法之一流程圖。
本發明之各態樣可包含各種實例實施例及潤飾，且其實例實施例將在圖式中予以例示並將在本文中予以相當詳細地闡述。將參照其中顯示本發明實例實施例之附圖更充分地闡述本發明之態樣及特徵以及達成該等態樣及特徵之方法。然而，本發明可實施為諸多不同形式，而不應被視為僅限於本文中所述之實例實施例。
現在將詳細參照各實例實施例，各實例實施例之實例例示於附圖中。在圖式中，相同之元件由相同之參考編號表示，且對其不再予以重複解釋。
除非上下文中清楚地另外指明，否則本文中所用之單數形式「一(a、an)」及「該(the)」旨在亦包含複數形式。更應理解，本文中所用之用語「包含(comprises)」及/或「包含(comprising)」係用於指明所述特徵或組件之存在，但不排除一或多個其他特徵或組件之存在或添加。
應理解，儘管本文中可能使用用語「第一」、「第二」等來描述各種元件，然而該等元件不應受限於該等用語。該等用語僅係用於區分各個元件。此外應理解，本文中所用之用語「包含(comprises)」及/或「包含(comprising)」係用於指明所述特徵或組件之存在，但不排除一或多個其他特徵或組件之存在或添加。
本文中所用之用語「及/或」包含相關列出項其中之一或多個項之任意及所有組合。當例如「...中至少其中之一」等表達位於一系列元件之前時，該表達係修飾整個系列元件而非修飾該系列中之單個元件。
第1圖以及第2A圖及第2B圖係為根據一實例實施例，用於解釋利用在一初始時間所量測之一電流來計算一劣化量之一方法之曲線圖。
第1圖例示在複數畫素中所量測之電流，該等畫素排列於一有機發光顯示裝置之一顯示單元之一列中。儘管在第1圖中該等畫素(例如，1080個畫素)排列於顯示單元之一列中，但顯示單元所包含之畫素數目並非限於一具體值。
第1圖例示在不同時間所量測之電流。在第1圖中，一條曲線 顯示在有機發光顯示裝置被驅動時之一初始時間所量測之一電流，而另一條曲線顯示自有機發光顯示裝置被驅動之瞬間或時間點經過一時間段(例如，一預定時間段)之後所量測之一電流。
此外，每一電流係藉由量測在各該畫素所包含之一有機發光二極體(OLED)之兩端間流動之一電流而獲得。
參照第1圖，在初始時間所量測之電流與在經過該時間段(例如，一預定時間段)之後所量測之電流在一具體時間間隔中較在其他時間間隔中具有更大之差異。
隨著有機發光二極體被驅動時間之增加，該等畫素之某些有機發光二極體劣化。一旦有機發光二極體發生劣化，效率便會降低，且因此即使在施加與先前資料電壓具有相同大小之一資料電壓時，亦會以變低之亮度發光，進而無法顯示一所需影像或會降低影像品質。
藉由將具有一大小(例如，一預定大小)之一電壓施加至劣化有機發光二極體而量測之一電流小於藉由將具有與該大小(例如，該預定大小)相同大小之一電壓施加至一未劣化有機發光二極體而量測之一電流。此乃因隨著劣化之有機發光二極體發生劣化，內電阻增大。
因此，可確定在第1圖中其中一所量測電流之大小顯著小於在其他時間間隔中所量測電流之大小之一時間間隔係為包含一劣化畫素之時間間隔。
此外，可確定出劣化畫素之劣化量為在初始時間所量測之電流之一大小與自有機發光顯示裝置被驅動之瞬間或時間點經過該時間段(例如，預定時間段)之後所量測之電流之一大小之間的差△。
第2A圖係為一曲線圖，如同第1圖中一樣，其例示在一初始時間所量測之一電流以及自有機發光顯示裝置被驅動之瞬間或時間點經過一時間段(例如，一預定時間段)之後所量測之一電流。第2B圖係為根據一實例實施例之一曲線圖，其例示根據第2A圖所示之曲線圖以及被施加並累積於一畫素中之資料而計算之一劣化量。
有機發光顯示裝置之各畫素包含以與被施加至其之一電壓或一電流對應之一亮度發出光之有機發光二極體，且亦包含施加該電壓或該電流至該有機發光二極體之一畫素電路。
畫素電路自外部接收一資料電壓並將與該資料電壓對應之一驅動電流供應至有機發光二極體。當將與一高灰階對應之一資料電壓施加至有機發光二極體時，有機發光二極體以高亮度發出光，而當將與一低灰階對應之一資料電壓施加至有機發光二極體時，有機發光二極體以低亮度發出光。
隨著將與一高灰階對應之一資料電壓施加至一畫素且一累積資料量增大，該畫素所包含之有機發光二極體之一劣化量可能增大。如第1圖中一樣，在將相同之電壓施加至一劣化畫素時所量測之一電流之一大小降低。
在藉由量測一電流之一大小而決定一劣化量時，該劣化量在很大程度上受到在量測該電流時之一溫度之影響。假定如在第1圖及第2A圖中所示利用在不同時間所量測之電流之大小而決定一劣化程度，則若在量測電流之不同時間處之溫度彼此不同，量測之準確性會降低。
第2B圖係為根據一實例實施例之一曲線圖，其例示根據自 第2A圖所示曲線圖量測之一電流而計算之一劣化量。第2B圖例示在三個區域中之劣化量，且在該三個區域中累積之資料之值分別係為191、218、及132。
作為在該三個區域之畫素中累積之影像資料值的資料值可係為資料之灰階值。
可確定在具有一最高累積資料值之一區域中(亦即，在累積資料值為218之區域中)有機發光二極體劣化程度最嚴重，而在具有一最低累積資料值之一區域中(亦即，在累積資料值為132之區域中)有機發光二極體劣化程度最輕。
然而，根據第2A圖所示之曲線圖所計算之一劣化量在累積資料值為191之區域中被計算為最低，且不對應於根據累積資料值所預估之一劣化量。
亦即，在基於在不同時間所量測之電流而量測一劣化量時，由於溫度之影響，可能無法準確地計算該劣化量。
第3圖係為例示根據一實例實施例之一有機發光顯示裝置100之一配置圖。
根據一實例實施例之有機發光顯示裝置100包含一顯示面板110、一劣化決定器120、一電流感測器130、以及一劣化計算器140。
顯示面板110包含複數畫素PX，各該畫素PX包含有機發光二極體，該有機發光二極體發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光。
此外，顯示面板110可係為藉由接收一發光訊號EM、一驅動 電壓ELVDD、及一接地電壓ELVSS而運作之一發光二極體面板。
各該畫素PX可代表紅色、綠色、及藍色其中之一顏色，且一代表紅色之畫素、一代表綠色之畫素、及一代表藍色之畫素可依序重複排列。一使用者可感知到藉由組合由各相鄰畫素PX所代表之紅色光、綠色光、及藍色光而獲得的一顏色之光。
作為另一選擇，畫素PX可包含彼此相鄰之一紅色畫素、一綠色畫素、一藍色畫素、及一白色畫素。
此外，各該畫素PX包含有機發光二極體。當將具有一最高灰階之一資料訊號施加至代表紅色、綠色、及藍色之畫素時，自該等畫素PX發出之各自具有一最高灰階之紅色光、綠色光、及藍色光可彼此組合而被感知為白色光。
作為另一選擇，當將具有一高灰階之一資料訊號施加至代表紅色及綠色之畫素中之每一畫素、並將具有一低灰階之一資料訊號施加至代表藍色之一畫素時，自該等畫素輸出之具有一高灰階之紅色光及綠色光以及具有一低灰階之藍色光可彼此組合而被感知為黃色光。
該等畫素PX可排列於沿顯示面板110之列排列之掃描線SL1至SLn與沿顯示面板110之行排列之資料線DL1至DLm之交叉點處。該等畫素PX分別自掃描線SL1至SLn及資料線DL1至DLm接收掃描訊號及資料訊號。
第3圖所示之一資料驅動器因應於一資料控制訊號而經由資料線DL1至DLm將對應於影像資料之一資料訊號施加至該等畫素PX。
此外，一掃描驅動器接收一掃描控制訊號並產生一掃描訊 號。掃描驅動器可經由掃描線SL1至SLn將所產生之掃描訊號施加至該等畫素PX。可根據掃描訊號而依序選擇一列該等畫素PX，且可施加資料訊號。
劣化決定器120根據被輸入至各該畫素PX之累積影像資料之值來決定有機發光二極體之一劣化程度。
各該畫素PX自資料驅動器接收對應於影像資料之一資料訊號，且劣化決定器120根據畫素PX來累積並儲存傳輸至各該畫素PX之影像資料。
畫素PX可能會因隨著有機發光二極體之劣化而產生的效率變化而無法顯示一所需影像。事實上，隨著時間流逝，有機發光二極體會劣化，因此因應於同一資料訊號而以一變低之亮度發出光。
有機發光二極體之劣化係由隨著施加至每一包含有機發光二極體之畫素之資料發生累積而產生之應力所導致，且劣化程度可能隨著累積資料量之增加而增大。
劣化決定器120可包含一記憶體，該記憶體儲存被輸入至顯示面板110所包含之各該畫素PX之累積影像資料之值，且劣化決定器120可根據儲存於該記憶體中之累積影像資料之值來決定畫素PX之一劣化程度。
該記憶體可係為一非揮發性記憶體，且可累積並儲存施加至顯示面板110所包含之該等畫素PX之資料。
劣化決定器120可根據被施加至該等畫素PX之累積影像資料之值來決定有機發光二極體之一劣化程度，且可確定包含於除具有一最低累積影像資料值之一畫素以外之畫素中之有機發光二極體全部劣化。
作為另一選擇，根據累積影像資料之值所決定之一劣化程度 可被劃分成若干位凖(例如，一預定數目之位凖(例如十個位凖))，且處於具有低劣化程度之若干位凖(例如，一預定數目之位凖)(例如，第一位準及第二位凖)之畫素可被確定為未劣化畫素。
作為另一選擇，顯示面板110可被劃分成複數顯示區域，可計算被施加至該等區域中所包含畫素之資料之值之一平均值，且可確定除具有一最低平均值之一顯示區域以外之顯示區域中所包含之畫素之有機發光二極體劣化。
電流感測器130對各有機發光二極體施加一感測電壓並量測對應於該感測電壓之一電流。
為量測對應於感測電壓之電流，電流感測器130將具有一大小(例如，一預定大小)之同一感測電壓施加至顯示面板110中所包含之所有畫素PX之有機發光二極體，並量測對應於該感測電壓之一輸出電流。
隨著有機發光二極體劣化，內電阻增大且效率降低。因此，即使在施加與先前電壓具有相同大小之一電壓時，亦可能以變低之亮度發出光。此外，隨著劣化程度增大，在施加與先前電壓具有相同大小之一電壓時所輸出之一電流進一步減小。
在將具有相同大小之一感測電壓施加至發出同一顏色之光之各畫素時，在一劣化畫素中所量測之一電流之一大小可小於在一未劣化畫素中所量測之一電流之一大小。
劣化計算器140根據電流感測器130所量測之電流來計算有機發光二極體之一劣化量。
如上所述，由於隨著有機發光二極體劣化，由電流感測器130 所量測之一電流之大小降低，故由電流感測器130所量測之電流可對應於有機發光二極體之一劣化量。
劣化決定器120可決定各該畫素PX所包含之有機發光二極體之一劣化程度，可對在發生劣化之一畫素(即，一劣化畫素)中所量測之電流與在未發生劣化之一畫素(即，一未劣化畫素)中所量測之電流進行比較，並可計算劣化畫素所包含之有機發光二極體之一劣化量。
第4圖係為例示根據一實例實施例，有機發光顯示裝置100之一畫素電路PC之一配置圖。
參照第4圖，有機發光顯示裝置100之每一畫素PX均包含畫素電路PC及有機發光二極體，且畫素電路PC包含一驅動電晶體T1及一開關電晶體T2。
開關電晶體T2包含：一第一電極，接收自一資料線DL施加之一資料訊號；以及一第二電極，耦合至驅動電晶體T1之一第一電極。
驅動電晶體T1自開關電晶體T2接收資料訊號，並將對應於該資料訊號之一驅動電流IEL輸出至有機發光二極體。
此外，驅動電晶體T1之第一電極接收驅動電壓ELVDD，且驅動電晶體T1之一第二電極耦合至有機發光二極體之一陽極。
開關電晶體T2之一閘極可耦合至一掃描線SL，掃描線SL施加一掃描訊號以將資料訊號傳輸至驅動電晶體T1。
畫素電路PC可包含一儲存電容器Cst，儲存電容器Cst之一第一電極接收驅動電壓ELVDD，且儲存電容器Cst之一第二電極耦合至驅動電晶體T1之一閘極。
有機發光二極體以與自驅動電晶體T1傳輸之驅動電流IEL對應之一亮度發出光。
有機發光二極體之一陰極耦合至具有一第二驅動電壓之一線，該第二驅動電壓可係為一參考電壓，且該參考電壓可例如係為接地電壓ELVSS。
如上所述，隨著有機發光二極體劣化，即使自驅動電晶體T1供應與先前驅動電流具有相同大小之一驅動電流時，亦可能無法以一所需亮度發出光。
電流感測器130可於有機發光二極體之陽極與陰極之間施加具有一大小(例如，一預定大小)之一感測電壓以計算有機發光二極體之一劣化量，且可量測自有機發光二極體輸出之對應於該感測電壓之一電流。
第4圖所示之畫素電路PC係為一實例，且有機發光顯示裝置100之每一畫素PX並非僅限於第4圖所示者。
除驅動電晶體T1、開關電晶體T2、及儲存電容器Cst以外，畫素PX可更包含一或多個電晶體或一或多個電容器。
第5圖係為根據一實例實施例，用於解釋計算一劣化量之一方法之一曲線圖。
參照第5圖，存在一如下畫素區域：在該畫素區域中所量測之一電流之一大小相較於其他畫素區域急劇下降。
該畫素區域可係為其中有機發光二極體劣化、且所量測電流之大小下降之一區域。
隨著有機發光二極體劣化，有機發光二極體之內電阻增大。因此，即使施加與先前電壓具有相同大小之一電壓時，亦會以一變低之亮度發出光。此外，在一劣化畫素中所量測之一電流之大小可小於在一未劣化畫素中所量測之一電流之大小。
第5圖顯示三個劣化區域。對位於一劣化區域兩端之兩個未劣化畫素進行線性連接的虛線(例如，A-A’、B-B’、或C-C’)表示一背景電流。劣化量△可被定義為藉由自在每一畫素中所量測之一電流之大小減去該背景電流所獲得之值。
背景電流係指若一劣化畫素未發生劣化時所預計量測到之一電流。劣化畫素之一補償量可被確定為對應於劣化量△。
儘管為便於計算，在第5圖中由背景電流線性連接在位於一劣化區域兩端之未劣化畫素中所量測之電流，但本實例實施例並非僅限於此，且考量到在未劣化畫素中所量測之電流之變化，背景電流可係為一曲線。
因若一劣化區域中所包含之各畫素未發生劣化時預計量測到之一電流可藉由計算背景電流而獲得，故可根據背景電流與在各劣化畫素中所量測之電流間之一差別而獲得劣化量△及補償量。
電流感測器130將具有一預定大小之一感測電壓施加至顯示面板110所包含之每一畫素、量測對應於該感測電壓之一電流、並施加所量測之該電流至劣化計算器140。
劣化計算器140可如參照第5圖所述根據所量測之電流計算一背景電流，且可根據背景電流與在劣化區域所包含之畫素中所量測之一 電流間之一差別而計算劣化量△。
儘管已在第5圖中解釋一種根據一列中所包含之畫素來計算一背景電流之方法，但亦可使用該方法來計算二維(2D)劣化區域中所包含之一劣化畫素之一劣化量。
此外，在計算一背景電流時，可利用自位於一劣化區域之一起始座標及一結束座標之前及之後的非劣化畫素所量測之電流，抑或可利用自複數未劣化畫素所量測之電流。
舉例而言，可使用一種利用自位於起始座標之前的五個未劣化畫素所量測之電流之一平均值、以及自位於結束座標之後的五個未劣化畫素所量測之電流之一平均值來計算一背景電流之方法。
儘管一劣化補償系統可利用在一初始時間所量測之一電流與在經過一時間段(例如，一預定時間段)之後所量測之一電流間之一差別來決定一劣化畫素之一補償量，但根據本發明之有機發光顯示裝置100利用在一劣化畫素及一未劣化畫素中所量測之電流間之一差別，因此不需要利用初始資料來補償有機發光二極體之劣化。
第6圖係為例示根據另一實例實施例之一有機發光顯示裝置100’之一配置圖。
參照第6圖，相較於第1圖所示之有機發光顯示裝置100，有機發光顯示裝置100’更包含一劣化補償器150。
劣化補償器150對一劣化畫素應用與一劣化量對應之補償資料。劣化補償器150對資料驅動器應用補償資料，且資料驅動器因應於一資料控制訊號而經由資料線DL1至DLm將與該補償資料對應之一資料訊號 施加至顯示面板110所包含之該等畫素PX。
自劣化補償器150應用之補償資料可係為一資料電壓，該資料電壓使一電流在劣化畫素中流動，該電流係與劣化畫素之位置所對應之一背景電流一樣大。
作為另一選擇，補償資料可係為藉由將與由劣化計算器140所計算之劣化畫素之劣化量△對應之影像資料與欲被應用至劣化畫素之影像資料相加而獲得之影像資料。
如此一來，由於由劣化補償器150所應用之補償資料，劣化畫素可以一均勻亮度顯示一影像，而無論劣化畫素之有機發光二極體劣化與否。
第7圖係為根據一實例實施例，驅動一有機發光顯示裝置之一方法之一流程圖。
根據本實例實施例之方法係為一種驅動一有機發光顯示裝置之方法，該有機發光顯示裝置包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體，該有機發光二極體發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光。該方法包含：操作S110，在該操作步驟中根據畫素累積並儲存影像資料；操作S120，在該操作步驟中決定有機發光二極體之一劣化程度；操作S130，在該操作步驟中量測在有機發光二極體中流動之一電流；以及操作S140，在該操作步驟中計算有機發光二極體之一劣化量。
在操作S110中，根據畫素累積並儲存輸入至各該畫素之影像資料。在操作S120中，根據累積影像資料決定有機發光二極體之劣化程度。
當有機發光顯示裝置之有機發光二極體接收與施加至一畫素電路之一資料電壓對應之一驅動電流時，有機發光二極體以與該驅動電流之一大小對應之一亮度發出光。
隨著有機發光二極體被驅動之時間增加，有機發光二極體因所累積之應力而劣化，且所累積應力之一大小對應於施加至有機發光二極體之資料之大小。
該資料可係為與欲由有機發光二極體之發光所表示之一顏色對應之灰階資料。當對應於一高灰階之一資料電壓被施加至有機發光二極體時，灰階資料之大小增大且所累積應力量亦增大。
因此，在操作S110及操作S120中，累積並儲存施加至各該畫素之資料(亦即，影像資料或灰階資料)，且根據所累積並儲存之資料而決定畫素之一劣化程度。
在操作S130中，對有機發光二極體施加一感測電壓並量測對應於該感測電壓之一電流。在操作S140中，根據在操作S130中所量測之電流來計算有機發光二極體之一劣化量。
隨著有機發光二極體劣化，內電阻增大。因此，即使在施加與先前電壓具有相同大小之一電壓時，亦會產生一大小減小之電流。因此，在將一感測電壓施加至有機發光二極體之一陽極與一陰極兩端並量測對應於該感測電壓之一電流時，可獲得在一劣化畫素及一未劣化畫素中所量測之電流間之一差別，且因此可計算與該等電流間之該差別對應之一劣化量。
為最小化由環境條件(例如，溫度)導致之量測誤差，在 操作S130中，利用同時量測之複數電流來計算有機發光二極體之劣化量。
在操作S140中，如以上參照第5圖所述，可根據在該等畫素中未劣化畫素中所量測之電流而計算一背景電流，且可根據背景電流與在劣化畫素中所量測之電流間之一差別而計算劣化量。
背景電流係指若劣化的有機發光二極體未發生劣化時所預計量測到之一電流，且可根據用於連接在位於劣化畫素周圍之未劣化畫素中所量測之電流的一直線來計算該背景電流。
在操作S110中，可自被輸入至各該畫素之累積影像資料之值分離出一劣化區域及一未劣化區域。
可利用施加至畫素之累積影像資料或灰階資料之值而決定每一畫素所包含之有機發光二極體之劣化程度，可根據劣化程度分離劣化區域與未劣化區域，且可根據在未劣化區域中所量測之一電流而計算該未劣化區域中所包含之一或多個畫素之劣化量。
舉例而言，一顯示面板可被劃分成包含該等畫素之複數顯示區域，且可自被施加至各該顯示區域之累積影像資料之值分離出未劣化區域及劣化區域。
亦即，可計算各該顯示區域中所包含之該等畫素之累積影像資料之值，且當該等畫素之累積影像資料之值的一平均值等於或小於一值(例如，一預定值)時，該顯示區域可被界定為一未劣化區域。
同樣，當該等畫素之累積影像資料之值的一平均值大於該值(例如，該預定值)時，該顯示區域可被界定為一劣化區域。
在此種情形中，可根據在未劣化區域中所量測之一電流而 計算一背景電流，且可利用該背景電流與在劣化區域中所測量之一電流間之一差別而計算劣化區域之一劣化量。
第7圖所示之方法可更包含對劣化畫素應用與該劣化量對應之補償資料。
該補償資料可係為一資料電壓，該資料電壓使得一電流在劣化畫素中流動，該資料電壓係與劣化畫素之一位置所對應之背景電流一樣大。
作為另一選擇，補償資料可係為藉由將與在操作S140中所計算之劣化畫素之劣化量對應之影像資料與欲被應用至劣化畫素之影像資料相加而獲得之影像資料。
如此一來，由於該補償資料，劣化畫素可以一均勻亮度顯示一影像，而無論劣化畫素之有機發光二極體劣化與否。
綜上所述，根據一或多個上述實例實施例，可提供一種有機發光顯示裝置及其驅動方法，該有機發光顯示裝置及其驅動方法可降低雜訊對一顯示器運作之影響以決定與由一有機發光二極體之劣化所導致之亮度下降對應之一補償量。
儘管已參照圖式闡述了一或多個實例實施例，但此項技術中具有通常知識者將理解，在不背離由以下申請專利範圍及其等效形式所界定之精神及範圍之條件下，可作出各種形式及細節上之變化。
100‧‧‧有機發光顯示裝置
110‧‧‧顯示面板
120‧‧‧劣化決定器
130‧‧‧電流感測器
140‧‧‧劣化計算器
DL1~DLm‧‧‧資料線
ELVDD‧‧‧驅動電壓
ELVSS‧‧‧接地電壓
EM‧‧‧發光訊號
PX‧‧‧畫素
SL1~SLn‧‧‧掃描線

Claims (13)

  1. 一種有機發光顯示裝置，包含：一顯示面板，包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體(organic light-emitting diode；OLED)，該有機發光二極體用以發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光；一劣化決定器，用於根據被輸入至各該畫素之一累積影像資料之值來決定該有機發光二極體之一劣化程度；一電流感測器，用以對該有機發光二極體施加一感測電壓並量測對應於該感測電壓之一電流；以及一劣化計算器，用以根據該電流感測器所量測之該電流來計算該有機發光二極體之一劣化量。
  2. 如請求項1所述之有機發光顯示裝置，其中該劣化決定器包含一記憶體，該記憶體用以儲存被輸入至各該畫素之一影像資料之值，其中該劣化決定器用以根據儲存於該記憶體中之該影像資料之值來決定該有機發光二極體之該劣化程度。
  3. 如請求項1所述之有機發光顯示裝置，其中該劣化計算器用以基於在該等畫素中一未劣化畫素中所量測之一電流而計算一背景電流。
  4. 如請求項3所述之有機發光顯示裝置，其中該劣化計算器用以基於該背景電流與在該等畫素中一劣化畫素中所測量之一電流間之一差別而計算該劣化量。
  5. 如請求項1所述之有機發光顯示裝置，更包含一劣化補償器，用以對一 劣化畫素應用與該劣化量對應之補償資料。
  6. 如請求項1所述之有機發光顯示裝置，其中該劣化決定器用以自被輸入至各該畫素之該累積影像資料之值分離出一劣化區域及一未劣化區域。
  7. 如請求項1所述之有機發光顯示裝置，其中該劣化計算器用以利用同時量測之複數電流來計算該有機發光二極體之該劣化量。
  8. 一種驅動一有機發光顯示裝置之方法，該有機發光顯示裝置包含複數畫素，其中各該畫素包含一有機發光二極體(OLED)，該有機發光二極體用以發出包含紅色、綠色、及藍色的複數顏色其中之一顏色的光，該方法包含：儲存被輸入至各該畫素之一影像資料；根據該影像資料決定該有機發光二極體之一劣化程度；對該有機發光二極體施加一感測電壓；量測與該感測電壓對應之一電流；以及根據量測之該電流計算該有機發光二極體之一劣化量。
  9. 如請求項8所述之方法，其中計算該劣化量之步驟包含：基於在該等畫素中一未劣化畫素中所量測之一電流而計算一背景電流。
  10. 如請求項9所述之方法，其中計算該劣化量之步驟包含：基於該背景電流與在該等畫素中一劣化畫素中所測量之一電流間之一差別而計算該劣化量。
  11. 如請求項8所述之方法，更包含：對一劣化畫素應用與該劣化量對應之 補償資料。
  12. 如請求項8所述之方法，其中該決定該劣化程度之步驟包含：自被輸入至各該畫素之該累積影像資料之該值分離出一劣化區域及一未劣化區域。
  13. 如請求項8所述之方法，其中計算該劣化量之步驟包含：利用同時量測之複數電流來計算該有機發光二極體之該劣化量。
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