TW201317593A - 模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法 - Google Patents

模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法 Download PDF

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Abstract

一種模仿插拔動作的測試裝置，包括偵測單元和處理單元，偵測單元用於在測試裝置與電子裝置的USB口物理連接後偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。處理單元包括識別設置模組，用於在偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔一預定時間刷新設置該測試裝置的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被該電子裝置識別。本發明還涉及一種相關的測試方法。

Description

模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法
本發明涉及一種在與電子裝置物理連接後、在該物理連接不斷開的情況下模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法。
現有的電子裝置一般都設置有USB（Universal Serial BUS）介面，以方便與週邊其他設備，如U盤進行連接以共用資料。當該些電子裝置生產完成後，需要對設置的USB介面的讀寫性能進行測試。目前一般的測試方法為：以具有USB介面的小型設備，如U盤為測試治具，人工進行插拔作業，且在每次將測試治具***電子裝置的USB介面，使得電子裝置與測試治具通過USB介面物理連接後判斷當前的電連接是否正常、能否對測試治具進行正確的讀寫操作及讀寫的速率是否合格等，一次測試完成後人工拔出測試治具並再次***至USB介面，周而復始地進行一定次數地測試。由於整個插拔測試都需要人工手動進行插拔作業，故測試效率十分低下，測試成本十分高昂，且一定次數的插拔無論對電子設備還是對測試治具都有很大的損傷。
有鑒於此，有必要提供一種用於模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法，以克服上述缺陷，解決業界亟待解決的問題。
該測試裝置用於通過第一USB介面與電子裝置的第二USB介面物理連接後，在該介面之間的物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置相對於該電子裝置進行多次插拔動作。該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用於在第一USB介面與第二USB介面物理連接後偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。該處理單元包括識別設置模組，該識別設置模組用於在該偵測模組偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔一預定時間刷新設置該測試裝置的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被該電子裝置識別。
一種測試方法，用於在測試裝置通過第一USB介面與電子裝置的第二USB介面物理連接後，在該介面之間的物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置相對於該電子裝置進行多次插拔動作。該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用於在第一USB介面與第二USB介面物理連接後偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。該方法包括處理單元執行的步驟：
在偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔一預定時間刷新設置該測試裝置的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被該電子裝置識別。
通過本發明的用於模仿插拔動作的測試裝置及其測試方法，能夠在測試裝置與電子裝置的物理連接不斷開的情況下方便地模仿測試裝置相對於電子裝置進行多次地插拔動作，減少了真實插拔動作對電子裝置的損害。
請參閱圖1，為本發明一實施方式中模仿插拔動作的測試裝置連接電子裝置的示意圖。該測試裝置100用於通過電子裝置200的USB介面2001與電子裝置200物理連接後，在該物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置100相對於該電子裝置200進行多次地插拔動作。該測試裝置100由於能夠模仿該多次插拔動作，則可進一步用於判斷電子裝置200的USB介面2001的讀寫性能是否合格，例如，判斷通過該USB介面的讀寫操作是否正確、該讀寫操作的速率是否大於等於一定值等。該電子裝置200為筆記本電腦、MP3等具有至少一個USB介面的裝置。
該測試裝置100包括偵測單元10、處理單元20以及第一USB介面30。該第一USB介面30用於與電子裝置200的第二USB介面2001物理連接，該偵測單元10用於在第一USB介面30和第二USB介面物理連接後，偵測測試裝置100是否與該電子裝置200電連接。當測試裝置100通過第一USB介面30、第二USB介面2001與電子裝置200物理連接後，電子裝置200通過USB介面2001的電源引腳（圖中未示）向測試裝置100供電，從而使得測試裝置100的第一USB介面30的電源引腳（圖中未示）處於高電平。在本實施方式中，當該偵測單元10偵測第一USB介面30的電源引腳處於高電平時，確定該測試裝置100通與該電子裝置200進行了電連接。
該處理單元20包括識別設置模組201。該識別設置模組201用於在該偵測單元10偵測到該測試裝置100與電子裝置200電連接後，每間隔一預定時間（例如20秒）刷新設置該測試裝置100的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置100迴圈地被電子裝置200識別並驅動以及不被該電子裝置200識別，從而，模仿了測試裝置100相對於電子裝置200進行多次插拔的過程。例如，設定當識別符為“1”時是可被識別狀態，測試裝置100可以被電子裝置200識別並驅動，當識別符為“0”時是不可被識別狀態，測試裝置100不能被電子裝置200識別，該識別設置模組201則每間隔該預定時間後將該識別符從“1”設置為“0”後又重新設置回“1”，完成一次刷新設置，從而，當測試裝置100在被電子裝置200識別並驅動後，在該預定時間後，該測試裝置100再次被電子裝置200識別並驅動，因此，該測試裝置100“被拔下後又***上”。
在本實施方式中，該測試裝置100還進一步用於判斷電子裝置200的USB介面2001的讀寫性能是否合格。該處理單元20還進一步包括讀寫測試模組202、記錄模組203和分析模組204。
該讀寫測試模組202用於在每次測試裝置100被識別並驅動後對該電子裝置200進行讀寫測試。在本實施方式中，該讀寫測試模組202在每個預定時間內將一存儲在測試裝置100內的測試檔寫入電子裝置200，並將該寫入電子裝置200後的測試檔與存儲在測試裝置100內的測試檔進行對比，當對比一致時，確認本次的測試結果為讀寫測試成功；當對比不一致時，確認本次的測試結果為讀寫測試失敗。在另一實施方式中，該讀寫測試模組202還用於每次在對電子裝置200進行讀寫測試時進一步測試測試檔的傳輸速率，當檔對比一致、且傳輸速率大於等於一預設值時，判斷本次的測試結果為讀寫測試成功，否則判斷本次的測試結果為讀寫測試失敗。
該記錄模組203用於對讀寫測試模組202的讀寫測試結果進行記錄，並判斷該讀寫測試結果的數目是否等於該預設次數，該分析模組204用於在記錄模組203判斷該讀寫測試結果的數目等於該預設次數時，根據該些記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置200的該USB介面2001的讀寫性能是否合格。在本實施方式中，當該分析模組204確定該讀寫測試成功的次數佔總測試次數的比例大於等於一設定值，例如95%時，該分析模組204判斷該USB介面2001的讀寫性能合格，否則，判斷該USB介面2001的讀寫性能不合格。
可以理解的是，在其他實施方式中，該讀寫測試模組202、記錄模組203和分析模組204不一定都設置在測試裝置100內，其可以根據實際測試靈活地設置在電子裝置200內或測試裝置100內。例如，將讀寫測試模組202、記錄模組203和分析模組204均設置在電子裝置200內，當電子裝置200每次識別並驅動測試裝置100後，電子裝置200內的讀寫測試模組202對測試裝置100進行讀寫測試（例如，將電子裝置200內存儲的測試檔寫入測試裝置100內），該記錄模組203對讀寫測試模組202每次的讀寫測試結果進行記錄，並判斷該讀寫測試結果的數目是否等於一預設次數，該分析模組204則在記錄模組203判斷讀寫測試結果等於該預設次數時，根據該記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置200的第二USB介面2001的讀寫性能是否合格。
如圖2所示，為本發明一實施方式中測試方法的流程圖。該測試方法用於在測試裝置100通過第一USB介面30與電子裝置200的第二USB介面2001物理連接後，在該介面30、2001之間的物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置100相對於該電子裝置200進行多次地插拔動作，該測試裝置100包括一偵測單元10和一處理單元20，該偵測單元10用於在第一USB介面30與第二USB介面2001物理連接後偵測該測試裝置100是否與電子裝置200電連接，該測試方法包括由處理單元20執行的步驟：
S201: 在偵測到測試裝置100與電子裝置200有電連接後，每間隔該預定時間（例如20秒）刷新設置該測試裝置100的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置100迴圈地被電子裝置200識別並驅動以及不被該電子裝置200識別。
在本實施方式中，該測試方法進一步用於對電子裝置200的USB介面2001的讀寫性能進行測試。該測試方法還包括由處理單元20執行的步驟：
S202: 每次該測試裝置100被識別並驅動後對該電子裝置200進行讀寫測試；
S203: 對每次的讀寫測試結果進行記錄；
S204: 判斷讀寫測試結果的數目是否等於該預設次數；
S205:在讀寫測試結果的數目等於該預設次數時，根據該些記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置200的該第二USB介面2001的讀寫性能是否合格。
100．．．測試裝置
200．．．電子裝置
2001．．．第二USB介面
10．．．偵測單元
20．．．處理單元
30．．．第一USB介面
201．．．識別設置模組
202．．．讀寫測試模組
203．．．記錄模組
204．．．分析模組
S201-S205．．．步驟
圖1為本發明一實施方式中模仿插拔動作的測試裝置連接電子裝置的示意圖。
圖2為本發明一實施方式中測試方法的流程圖。
S201．．．偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔預定時間刷新設置測試裝置的識別符，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被電子裝置識別
S202．．．每次測試裝置被識別並驅動後對該電子裝置進行讀寫測試
S203．．．對每次的讀寫測試結果進行記錄
S204．．．判斷讀寫測試結果的數目是否等於該預設次數
S205．．．根據記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置的USB介面的讀寫性能是否合格

Claims (10)

  1. 一種模仿插拔動作的測試裝置，用於通過第一USB介面與電子裝置的第二USB介面物理連接後，在該介面之間的物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置相對於該電子裝置進行多次地插拔動作，該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用於在第一USB介面與第二USB介面物理連接後偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接，其改良在於，該處理單元包括識別設置模組，該識別設置模組用於在該偵測模組偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔一預定時間刷新設置該測試裝置的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被該電子裝置識別。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之模仿插拔動作的測試裝置，其中，該處理單元還包括讀寫測試模組、記錄模組和分析模組，該讀寫測試模組用於每次在該測試裝置被識別並驅動後對該電子裝置進行讀寫測試，該記錄模組用於對讀寫測試模組每次的讀寫測試結果進行記錄，並判斷該讀寫測試結果的數目是否等於一預設次數，該分析模組用於在該記錄模組判斷讀寫測試結果等於該預設次數時，根據該記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置的該第二USB介面的讀寫性能是否合格。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之模仿插拔動作的測試裝置，其中，該讀寫測試模組用於在每個預定時間內將一存儲在測試裝置內的測試檔寫入電子裝置，並將該寫入電子裝置後的測試檔與存儲在測試裝置內的測試檔進行對比，當對比一致時，確認本次的測試結果為讀寫測試成功，否則確認本次的測試結果為讀寫測試失敗。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之模仿插拔動作的測試裝置，其中，該讀寫測試模組還用於每次在對電子裝置進行讀寫測試時進一步判斷測試檔的傳輸速率，當該寫入電子裝置後的測試檔與存儲在測試裝置內的測試檔對比一致、且傳輸速率大於等於一預設值時，判斷本次的測試結果為讀寫測試成功，否則判斷本次的測試結果為讀寫測試失敗。
  5. 如申請專利範圍第3項或4項所述之模仿插拔動作的測試裝置，其中，當該分析模組確定該讀寫測試成功的次數佔總測試次數的比例大於等於一設定值時，判斷該第二USB介面的讀寫性能合格。
  6. 一種測試方法，用於在測試裝置通過第一USB介面與電子裝置的第二USB介面物理連接後，在該介面之間的物理連接不斷開的情況下模仿該測試裝置相對於該電子裝置進行多次地插拔動作，該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用於在第一USB介面與第二USB介面物理連接後偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接，其改良在於，該方法包括處理單元執行的步驟：
    在偵測到測試裝置與電子裝置電連接後，每間隔一預定時間刷新設置該測試裝置的識別符，使得該識別符迴圈地處於可被識別狀態和不可被識別狀態，使該測試裝置迴圈地被電子裝置識別並驅動以及不被該電子裝置識別。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試方法，其中，該測試方法還包括由處理單元執行的步驟：
    每次在該測試裝置被識別並驅動後對該電子裝置進行讀寫測試；
    對讀寫測試模組每次的讀寫測試結果進行記錄；
    判斷該讀寫測試結果的數目是否等於一預設次數；
    在該讀寫測試結果的數目等於該預設次數時，根據該記錄的讀寫測試結果判斷電子裝置的第二USB介面的讀寫性能是否合格。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，其中，該讀寫測試方法為在每個預定時間內將一存儲在測試裝置內的測試檔寫入電子裝置，並將該寫入電子裝置後的測試檔與存儲在測試裝置內的測試檔進行對比，當對比一致時，確認當前的測試結果為讀寫測試成功，否則確認本次的測試結果為讀寫測試失敗。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試方法，其中，該讀寫測試方法還包括每次在對電子裝置進行讀寫測試時進一步判斷測試檔的傳輸速率，當該寫入電子裝置後的測試檔與存儲在測試裝置內的測試檔對比一致、且傳輸速率大於等於一預設值時，判斷本次的測試結果為讀寫測試成功，否則判斷本次的測試結果為讀寫測試失敗。
  10. 如申請專利範圍第8項或第9項所述之測試方法，其中，判斷USB介面的讀寫性能是否合格的方法為：當讀寫測試成功的次數佔總測試次數的比例大於等於一設定值時，判斷該第二USB介面的讀寫性能合格。
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