TH85694B - Visual inspection device for circuit board and lamp pin contact - Google Patents

Visual inspection device for circuit board and lamp pin contact

Info

Publication number
TH85694B
TH85694B TH601005633A TH0601005633A TH85694B TH 85694 B TH85694 B TH 85694B TH 601005633 A TH601005633 A TH 601005633A TH 0601005633 A TH0601005633 A TH 0601005633A TH 85694 B TH85694 B TH 85694B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
circuit board
contact
hole
pin
lamp pin
Prior art date
Application number
TH601005633A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH70515B (en
TH85694A (en
Inventor
นายมาโคโตะ ฟูจิโนะ นายทาดาคาซุ มิยาทาเคะ นายมิโนรุ คาโตะ
Original Assignee
นิเด็ดรีด คอร์ปอเรชั่น
Filing date
Publication date
Application filed by นิเด็ดรีด คอร์ปอเรชั่น filed Critical นิเด็ดรีด คอร์ปอเรชั่น
Publication of TH85694A publication Critical patent/TH85694A/en
Publication of TH85694B publication Critical patent/TH85694B/en
Publication of TH70515B publication Critical patent/TH70515B/en

Links

Abstract

อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัสสำหรับการตรวจพินิจลักษณะเฉพาะทาง ไฟฟ้าของแผงวงจรที่จะถูกตรวจพินิจ อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจร 1 ซึ่งประกอบด้วยขาหลอดสัมผัส 2 ปลายที่หนึ่ง 23 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจร 100 ที่จะถูกตรวจพินิจที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่ กำหนดไว้ล่วงหน้า 101 แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อ 4 ที่มีอิเล็กโทรด 41 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับปลายที่ สอง 24 ของขาหลอดสัมผัส และตัวยึด 3 สำหรับการยึดขาหลอกสัมผัส 2 ตัวยึด 3 มีส่วนนำที่หนึ่ง 31 ที่มีรูนำที่หนึ่ง 311 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่หนึ่ง 311 ซึ่งนำปลายที่หนึ่ง 23 ไปยังตำแหน่งตรวจพินิจ 101 และส่วนนำที่สอง 32 ที่มีรูนำที่สอง 321 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่สอง 321 ซึ่งนำปลายที่สอง 24 ไป ยังอิเล็กโทรด 41 ขาหลอดสัมผัส 2 ประกอบด้วยตัวนำเชิงเส้นอ่อนตัว 21 ที่มีปลายที่หนึ่ง 23 และ ปลายที่สอง 24 และผิวเคลือบฉนวน 22 ที่ถูกเคลือบอยู่บนพื้นผิวตามแนวเส้นรอบวงนอกของตัวนำ 21 ยกเว้นปลายที่หนึ่ง 23 และปลายที่สอง 24 และปลายที่สอง 24 มีความยาวที่สั้นกว่าความลึกของรู นำที่สอง 321 Circuit board and lamp pin connectors for special characterization Electrical circuit board to be examined Circuit Board 1 Diagnostic Device, which consists of two first contact lamp pins 23, which are electrically in contact with the circuit 100, that will be inspected at the diagnostic location at Predefined 101 electrode connecting pads 4 with electrode 41 which are electrically in contact with the second end 24 of the contact lamp pin and holder 3 for mounting of the contacted pin 2, the holder 3 has a leading part. One 31 with the first pilot hole 311 is molded in here, the first guide hole 311, which leads the first 23 to the inspection position 101, and the second guide 32 with the second guide hole 321 is molded in this hole. Lead the second 321, which leads the second end 24 to the 41-pin electrode, the contact tube 2 consists of a soft linear conductor 21 with the first 23 and the second end 24 and the insulating surface 22 glazed on the ground. The skin along the outer circumference of conductors 21 except the first 23 and the second 24 and the second 24 are shorter than the depth of the second leading hole 321.

Claims (2)

1. อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรซึ่งประกอบด้วยขาสัมผัสที่มีส่วนปลายที่หนึ่งซึ่งถูก จัดสัณฐานให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจรหลักที่ถูกตรวจพินิจที่ทำหน้าที่เป็นเป้าหมายสำหรับ ทดสอบที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่กำหนดไว้ล่วงหน้า, แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อที่มีส่วนอิเล็กโทรด ซึงถูกจัดสัณฐานให้สัมผัสทางไฟฟ้ากับส่วนปลายที่สอง1. Circuit board inspection device consisting of a contact pin with one end that is Conduct electrical contact with the inspected main circuit board that serves as a target for Tested at predetermined inspection position, connected pads with electrode sections Which was arranged to make electrical contact with the second tip 2. อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรดังขอถือสิทธิในข้อถือสิทธิ 12. Circuit board inspection equipment hereby holds the right to claim 1
TH601005633A 2006-11-14 Circuit board and pin sensing device TH70515B (en)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH85694A TH85694A (en) 2007-07-19
TH85694B true TH85694B (en) 2007-07-19
TH70515B TH70515B (en) 2019-06-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200801527A (en) Probe, testing head having a plurality of probes, and circuit board tester having the testing head
JP2010511873A5 (en)
TW200720665A (en) Jig for inspecting substrate, and inspection probe
ATE549770T1 (en) INVESTIGATION DEVICES FOR A CIRCUIT DEVICE HAVING AN ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR
MY162914A (en) Wiring board for testing loaded printed circuit board
TW200801530A (en) Air bridge structures and method of making and using air bridge structures
TWI506280B (en) Probe module (2)
US10243280B2 (en) Electrical connector for unterminated cables
JP3878578B2 (en) Contact probe, semiconductor and electrical inspection apparatus using the same
US20080186036A1 (en) High Speed Electrical Probe
JP2009229345A (en) Inspection tool
TH85694B (en) Visual inspection device for circuit board and lamp pin contact
US9880198B2 (en) High bandwidth signal probe tip
US7358752B1 (en) Signal launch for high speed differential signals
CN203630267U (en) FPC (Flexible Printed Circuit) flat cable conduction testing device
WO2005089421A3 (en) Electrical connector for semiconductor device test fixture and test assembly
CN105067982B (en) The verifying attachment of solder joint between lead and device
JP6046200B2 (en) Transmission line and inspection jig
CN203811771U (en) Chip test device
CN207424157U (en) The centralizer internal wiring testing cassete of directional tool
CN102183681A (en) Handheld circuit board test fixture
CN103069280B (en) Electrical probe and associated method
TW201144814A (en) Probing apparatus for integrated circuit testing
KR20100060509A (en) A prove device for tester
KR101531767B1 (en) Probe card