TH85694B - Visual inspection device for circuit board and lamp pin contact - Google Patents
Visual inspection device for circuit board and lamp pin contactInfo
- Publication number
- TH85694B TH85694B TH601005633A TH0601005633A TH85694B TH 85694 B TH85694 B TH 85694B TH 601005633 A TH601005633 A TH 601005633A TH 0601005633 A TH0601005633 A TH 0601005633A TH 85694 B TH85694 B TH 85694B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- circuit board
- contact
- hole
- pin
- lamp pin
- Prior art date
Links
Abstract
อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจรและขาหลอดสัมผัสสำหรับการตรวจพินิจลักษณะเฉพาะทาง ไฟฟ้าของแผงวงจรที่จะถูกตรวจพินิจ อุปกรณ์ตรวจพินิจแผงวงจร 1 ซึ่งประกอบด้วยขาหลอดสัมผัส 2 ปลายที่หนึ่ง 23 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับแผงวงจร 100 ที่จะถูกตรวจพินิจที่ตำแหน่งตรวจพินิจที่ กำหนดไว้ล่วงหน้า 101 แผ่นอิเล็กโทรดเชื่อมต่อ 4 ที่มีอิเล็กโทรด 41 ซึ่งสัมผัสทางไฟฟ้ากับปลายที่ สอง 24 ของขาหลอดสัมผัส และตัวยึด 3 สำหรับการยึดขาหลอกสัมผัส 2 ตัวยึด 3 มีส่วนนำที่หนึ่ง 31 ที่มีรูนำที่หนึ่ง 311 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่หนึ่ง 311 ซึ่งนำปลายที่หนึ่ง 23 ไปยังตำแหน่งตรวจพินิจ 101 และส่วนนำที่สอง 32 ที่มีรูนำที่สอง 321 ขึ้นรูปอยู่ในนี้ รูนำที่สอง 321 ซึ่งนำปลายที่สอง 24 ไป ยังอิเล็กโทรด 41 ขาหลอดสัมผัส 2 ประกอบด้วยตัวนำเชิงเส้นอ่อนตัว 21 ที่มีปลายที่หนึ่ง 23 และ ปลายที่สอง 24 และผิวเคลือบฉนวน 22 ที่ถูกเคลือบอยู่บนพื้นผิวตามแนวเส้นรอบวงนอกของตัวนำ 21 ยกเว้นปลายที่หนึ่ง 23 และปลายที่สอง 24 และปลายที่สอง 24 มีความยาวที่สั้นกว่าความลึกของรู นำที่สอง 321 Circuit board and lamp pin connectors for special characterization Electrical circuit board to be examined Circuit Board 1 Diagnostic Device, which consists of two first contact lamp pins 23, which are electrically in contact with the circuit 100, that will be inspected at the diagnostic location at Predefined 101 electrode connecting pads 4 with electrode 41 which are electrically in contact with the second end 24 of the contact lamp pin and holder 3 for mounting of the contacted pin 2, the holder 3 has a leading part. One 31 with the first pilot hole 311 is molded in here, the first guide hole 311, which leads the first 23 to the inspection position 101, and the second guide 32 with the second guide hole 321 is molded in this hole. Lead the second 321, which leads the second end 24 to the 41-pin electrode, the contact tube 2 consists of a soft linear conductor 21 with the first 23 and the second end 24 and the insulating surface 22 glazed on the ground. The skin along the outer circumference of conductors 21 except the first 23 and the second 24 and the second 24 are shorter than the depth of the second leading hole 321.
Claims (2)
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TH85694A TH85694A (en) | 2007-07-19 |
TH85694B true TH85694B (en) | 2007-07-19 |
TH70515B TH70515B (en) | 2019-06-27 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW200801527A (en) | Probe, testing head having a plurality of probes, and circuit board tester having the testing head | |
JP2010511873A5 (en) | ||
TW200720665A (en) | Jig for inspecting substrate, and inspection probe | |
ATE549770T1 (en) | INVESTIGATION DEVICES FOR A CIRCUIT DEVICE HAVING AN ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR | |
MY162914A (en) | Wiring board for testing loaded printed circuit board | |
TW200801530A (en) | Air bridge structures and method of making and using air bridge structures | |
TWI506280B (en) | Probe module (2) | |
US10243280B2 (en) | Electrical connector for unterminated cables | |
JP3878578B2 (en) | Contact probe, semiconductor and electrical inspection apparatus using the same | |
US20080186036A1 (en) | High Speed Electrical Probe | |
JP2009229345A (en) | Inspection tool | |
TH85694B (en) | Visual inspection device for circuit board and lamp pin contact | |
US9880198B2 (en) | High bandwidth signal probe tip | |
US7358752B1 (en) | Signal launch for high speed differential signals | |
CN203630267U (en) | FPC (Flexible Printed Circuit) flat cable conduction testing device | |
WO2005089421A3 (en) | Electrical connector for semiconductor device test fixture and test assembly | |
CN105067982B (en) | The verifying attachment of solder joint between lead and device | |
JP6046200B2 (en) | Transmission line and inspection jig | |
CN203811771U (en) | Chip test device | |
CN207424157U (en) | The centralizer internal wiring testing cassete of directional tool | |
CN102183681A (en) | Handheld circuit board test fixture | |
CN103069280B (en) | Electrical probe and associated method | |
TW201144814A (en) | Probing apparatus for integrated circuit testing | |
KR20100060509A (en) | A prove device for tester | |
KR101531767B1 (en) | Probe card |