SU989467A1 - Способ ультразвуковой дефектоскопии стальных изотропных материалов - Google Patents

Description

(54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ СТАЛЬНЫХ ИЗОТРОПНЫХ МАТЕРИАЛОВ Изобретение относитс  к неразрушающему контролю и может быть использовано при ультразвуковой дефектоскопии изделий и сварных соединений. Известен способ ультразвукового конт рол , заключающийс  в том, что в изделие наклонно к его поверхности ввод т сдвиговые волны, принимают эхо-сигнал от дефекта, измер ют врем  его прихода на приемник и амплитуды, путем сравнени  последней с амплитудой эхо-сигнала от эталонного отражател , залегающегч5 на той же глубине в образце, по тарнробочным кривым определ ют эквивалентный размер дефекта I Недостатком этого способа  вл етс  необходимость обеспечени  идентичности образца и издели  по акустическим свойствам , чистоте и кривизне поверхности и учета фактического значени  коэффициента затухани  сдвиговых волн в материале издели  при построаши тар ровочных зависимостей, св зывающих амшшту ду эхо-ситаала, глубину залегани  дефекта и его размер. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату  вл етс  способ ультразвуковой дефектоскопии стальных изотропных материалов, заключающийс  в том, что в материал ввод т нормально к поверхности продольную и наклонно-сдвиговую волны, принимают первый донный эхосигнал продольной волны н эхо-сигйал сдвиговой волны от дефекта, намер ют врем  их прихода и амплитуды и по ним определ ют размер дефекта { 2 . Недостатком известного способа  вл етс  невысока  точность-и надежность контрол , обусловленна  необходимостью предварительного проведени  низкоточньл и трудоемких измер ЕШй коэффициентов затухани  продольных и сш говых волн в каждом конкретном материале. Цель изобретени  - повьпиение точности контрол .

Claims (1)

1. Формула изобретения

   Способ ультразвуковой дефектоскопии стальных изотропных материалов, заключающийся в том, что в материал вводят нормально к поверхности продольную и наклонно-сдвиговую волны, принимают первый донный эхо-сигнал продольной волны и эхо-сигнал сдвиговой волны от дефекта, измеряют время их прихода и амплитуды и по ним определяют размер дефекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, принимают дополнительно последующие донные эхо-сигналы, измеряют их время прихода и амплитуды, сравнивают амплитуду эхо-сигнала от дефекта с амплитудой ближайшего во времени донного эхо-сигнала и по их отношению определяют размер дефекта.