SU708269A1 - Устройство дл контрол интегральных микросхем - Google Patents
Устройство дл контрол интегральных микросхем Download PDFInfo
- Publication number
- SU708269A1 SU708269A1 SU782633413A SU2633413A SU708269A1 SU 708269 A1 SU708269 A1 SU 708269A1 SU 782633413 A SU782633413 A SU 782633413A SU 2633413 A SU2633413 A SU 2633413A SU 708269 A1 SU708269 A1 SU 708269A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- outputs
- unit
- inputs
- arrangement
- testing integrated
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, может быть использо вано в системах контрол и диагности ки неисправностей элементов радиоэлектронной аппаратуры. Известно устройство дл обнаружени неисправностей в логических схемах , содержащее счетчик, выходам которого соединены с блоком регистрации , эталонным блоком и контролируемые блоком, соедкн &лал своими выходами с соответствующими входгми блока регистрации и блока сравнени , вторые входы которого подключены к выходам эталонного блока, а выходы .- к блокам индикации и регистрации. Устройство содержит генератор управ .л гацих сигналов, тактовые выхсдаы которого подключены к управл ницим входам эталонного и контролируег.юго бло ков, к соответствующим входам блока сравнени , блоков индикации и регист рации и к счетному выходу счетчика; выхсщ установки нул генератора управл ющих сигналов соединен с соответствующими входами счетчика, блока регистрации, эталонного и контроли .руемого блоков, а его входы - с выходами блока;сравнени 1. Это устройство не может быть использовано при диагностике цифровых узлов. Наиболее близко к предлагаемому устройство дл контрол интегральных микросхем, содержащее одноконтактный зонд, соедин емый с выводсм контролиру 40й микросхемы, эталонную микросхему , блок сравнени и индикатор исправности 2 .. У этого устройства ограниченные функциональные возможности. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей - достигаетс благодар тому, что в устройство дл контрол интегральных микросхем , содержащее одноконтактный зонд, соедин емый с выводом контролируемой микросхемы, эталонную микросхет у,; . блок сравнени и индикатор исправности , введены блок пам ти и коммутатор, причем вход коммутатора соединен с с неконтактным зондом, а его выходы соединены со входгили блока пам ти, выходы которого соединены с соответствующими входами блока среш нени и эталонной микросхемы, выходы которой соединены с соответствующими вхоцами блока сравнени , а выходы последнего
св заны со входом индикатора исправности ..
На чертеже приведена структурна электрическа схема устройства.
Установка тестового контрол 1 задает входные воздействи в виде двоИЧН1ЛХ кодов на входы контролируемого цифрового узла 2 и производит поканальное сравнение ответных реакций узла 2 с заранее известными наборами двоичных кодов.
Сигналы, поступающие.на входы контролируемой микросхемы 3 и снимаемые с ее выходов, при помощи одноконтактного зонда и коммутатора 4 записьшаютс последовательно в блок пам ти 5.
Запись информации в блок пам ти 5 происходит в процессе прохождени тестовой программы дл контрол цифрового узла 2. За каждый полный цикл прохождени программы в блок пам ти записываетс информаци с одного вывода контролируемой микросхемы 3. После записи всех двоичных последовательностей со входов и выходов контролируемой микросхемы 3 происходит считывание информации из блока пам ти 5, причем информаци , соответствующа выходным каналам интегральной микросхемы 3, подаетс на входы эталонной микросхемы б и блока сравнени 7. Ответнйе сигналы с эталонной микросхемы 6 поступают на соответствующие входы блока сравнени 7. По результатам сравнени выходных сигналов эталонной микросхемы б и сигналов, записанных в блок пам ти 5 с выходов контролируемой микросхемы 3, делаетс вывод о правильности функционировани контролируемой микросхемы 3.
Результаты поканального сравнени вывод тс на индикатор исправности 8
Предлагаемое устройство обеспечивает возможность диагностики интегральных микросхем путем записи информации в блок пам ти через одноконтактный игольчатый зонд со всех 5 ее выводов в трудно;иоступных местах и в узлах, покрытых защитным слоем лака.
Положительным эффектом предлагаемого устройства вл етс возможность диагностировани интегральных микросхем в услови х, где применение группового контактного зонда исключено; при этом не требуетс привлечени высококвалифицированного персонала.
Claims (2)
1.Авторское свидетельство СССР 441532, кл. G 01 R 31/28, 1974.
2.Авторское свидетельство СССР №483633, кл. G 01 R 31/28, 1975.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782633413A SU708269A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Устройство дл контрол интегральных микросхем |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782633413A SU708269A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Устройство дл контрол интегральных микросхем |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU708269A1 true SU708269A1 (ru) | 1980-01-05 |
Family
ID=20772171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782633413A SU708269A1 (ru) | 1978-06-26 | 1978-06-26 | Устройство дл контрол интегральных микросхем |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU708269A1 (ru) |
-
1978
- 1978-06-26 SU SU782633413A patent/SU708269A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4298980A (en) | LSI Circuitry conforming to level sensitive scan design (LSSD) rules and method of testing same | |
US4841286A (en) | Apparatus and method for detection of an open thermocouple in a process control network | |
JPS6029906B2 (ja) | Lsi回路の交流性能の試験方法 | |
SU708269A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных микросхем | |
KR20060019556A (ko) | 집적 회로 디바이스 테스트 방법 및 장치, 집적 회로디바이스 | |
SU947863A1 (ru) | Устройство дл контрол и диагностики логических узлов | |
SU748422A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных схем | |
Su et al. | An I/sub DDQ/based built-in concurrent test technique for interconnects in a boundary scan environment | |
SU646279A1 (ru) | Устройство контрол контактировани интегральных схем | |
SU1056089A1 (ru) | Устройство дл контрол интегральных микросхем | |
SU1718222A1 (ru) | Устройство дл контрол логических схем | |
SU598240A1 (ru) | Коммутатор | |
SU902023A1 (ru) | Диагностическое устройство | |
SU896628A1 (ru) | Устройство дл группового поиска кратных дефектов в комбинационных логических блоках | |
SU1432528A2 (ru) | Устройство дл контрол функционировани логических блоков | |
SU868652A1 (ru) | Способ контрол и поиска неисправностей в электронном блоке | |
SU934488A1 (ru) | Устройство дл контрол электрических соединений | |
SU1071979A1 (ru) | Устройство дл диагностики цифровых узлов | |
SU964654A2 (ru) | Устройство дл определени параметрической надежности радиоэлектронных устройств | |
SU1672415A1 (ru) | Система автоматического управлени и отладки на основе отображени тактограммы | |
SU824082A1 (ru) | Устройство дл контрол электрическогоМОНТАжА | |
SU842627A1 (ru) | Устройство допускового контрол пАРАМЕТРОВ КОМплЕКСНыХ СОпРОТиВлЕНий | |
SU615432A1 (ru) | Устройство дл контрол параметров микросхемы | |
SU661552A1 (ru) | Устройство дл тестового диагностировани логических блоков | |
SU607218A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков |