SU363934A1 - METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE - Google Patents

METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE

Info

Publication number
SU363934A1
SU363934A1 SU1413760A SU1413760A SU363934A1 SU 363934 A1 SU363934 A1 SU 363934A1 SU 1413760 A SU1413760 A SU 1413760A SU 1413760 A SU1413760 A SU 1413760A SU 363934 A1 SU363934 A1 SU 363934A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resistance
circuit
resistances
metallized
contact
Prior art date
Application number
SU1413760A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В. М. иронов Э. С. Шинкарев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1413760A priority Critical patent/SU363934A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU363934A1 publication Critical patent/SU363934A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к Технике электрических измерений и может примен тьс , преимущественно , дл  контрол  и испытаний печатных плат.The invention relates to an electrical measurement technique and can be used primarily for the control and testing of printed circuit boards.

Известны способы определени  сопротивлени  межслойных соединений многослойных печатных плат, основанные на четырехзондовом методе измерений путем подачи тока к двум металлизированным переходам и измерении напр жени  с противоположных сторон тех же переходов.Methods are known for determining the resistance of interlayer connections of multilayer printed circuit boards based on the four-probe measurement method by applying current to two metallized junctions and measuring voltage from opposite sides of the same junctions.

Цель изобретени  - определение сопротивлени  конкретного контактного перехода.The purpose of the invention is to determine the resistance of a particular contact junction.

Дл  достижени  цели выбирают цепь из двух проводников, имеющих общую контактную площадку, производ т измерение, указанным методом, сопротивлени  этой цепи и ее участков и вычисл ют сопротивление контактного перехода по формулеTo achieve the goal, a circuit of two conductors having a common contact pad is selected, using the indicated method, the resistance of this circuit and its sections is measured, and the resistance of the contact transition is calculated using the formula

+ г -  + g -

-2-2

где RI и / 2-значени  сопротивлений участков цепи, а - значение сопротивлени  всей цепи.where RI and / 2 are the resistance values of the circuit sections, and is the resistance value of the whole circuit.

Иа фиг. 1 показан участок многослойной печатной платы в разрезе, на фиг. 2 - ее электрический аналог; на фиг. 3 показана часть печатного монтажа; на фиг. 4 - ее электрический аналог.FIG. 1 shows a sectional view of a multilayer printed circuit board; FIG. 2 - its electrical counterpart; in fig. 3 shows a portion of the printed wiring; in fig. 4 - its electrical counterpart.

22

Две пары, токова  и потенциальна , контактов / контактируют по кра м внутренней поверхности металлизированных переходов 2, св занных с контактными площадками 3 печатного проводника 4 внутреннего сло  металлизированных с обеих сторон переходов многослойной печатной платы 5.Two pairs, current and potential, of the contacts / are in contact at the edges of the inner surface of the metallized transitions 2 connected to the contact areas 3 of the printed conductor 4 of the inner layer of the multilayered printed circuit board metallized on both sides of the transitions 5.

Таким образом, контакты подключаютс  к четырехполюснику (фиг. 2), который содержит: сопротивлени  6-9 участков металлизированных переходов 2, сопротивлени  10 и 11 межслойных соединений и сопротивление 12 печатного нроводника 4. Калиброванный ток подают на цепь, состо щую из сопротивлений 7, 10, 12, 11 и 9, чем создают -падение напр жени  на участке цепи из сопротивлений 10, 12 и 11. Напр лсение поступает на измеритель напр жени  (на чертежах не показан). Поскольку общимThus, the contacts are connected to a quadrupole (Fig. 2), which contains: resistances of 6-9 sections of metallized transitions 2, resistances 10 and 11 of interlayer connections and resistance 12 of the printed conductor 4. A calibrated current is fed to a circuit consisting of resistances 7, 10, 12, 11, and 9, which create a voltage drop across the circuit section of the resistances 10, 12, and 11. The voltage is applied to a voltage meter (not shown in the drawings). Since the general

участком дл  токовой и измерительной цепи  вл ютс  сопротивлени  10, 12 и 11, то переходные сопротивлени  контактов 1 и сопротивлени  6-9 металлизированных переходов 2 практически не вли ют на результат измерени .Because the section for the current and measuring circuit is resistors 10, 12, and 11, then the contact resistances of contacts 1 and resistances 6-9 of metallized transitions 2 have practically no effect on the measurement result.

Определение сопротивлени  межслойного соединени  (фиг. 3), состо щего, например, из двух печатных проводников 13, трех контактных площадок 14 и металлизированных переходов 2 производ т измерением величи ны сопротивлени  электрического аналога (фиг. 4), содержащего сопротивлени  15-17 межслойных соединений, сопротивлени  18 и 19 печатных проводников 13. Измерени  производ т между точками 20-21, 20-22 и 21- 22 и искомую величину определ ют из соотношени : г, - 20-21 + 21-22- 20-22 /XIB Предмет изобретени  Способ определени  сопротивлени  межслойных соединений многослоЙ Ш1х печатных плат, основанный на четырехзондовом методе измерений путем подачи тока к двум металлизированным переходам и измерении напр жени  с противоположных сторон тех же переходов , отличаю1цийс  тем, что, с целью определени  сопротивлени  контактного перехода , выбирают цепь из двух проводников, имеющих общую контактиую площадку, производ т измерение, указанным методом, сопротивлени  этой цепи и ее участков и вычисл ют сопротивление контактного перехода по формуле П -f + - 3 - 2 где RI и -значени  сопротивлений участков цепи, а У з-значение сонротивлени  всейThe determination of the resistance of the interlayer connection (Fig. 3), consisting, for example, of two printed conductors 13, three contact pads 14 and metallized transitions 2, is made by measuring the resistance of the electrical analog (Fig. 4) containing resistances 15-17 of interlayer connections , resistances 18 and 19 of the printed conductors 13. Measurements are made between points 20-21, 20-22 and 21-22 and the value sought is determined from the relation: g, - 20-21 + 21-22-20-22 / XIB method of determining the resistance of interlayer compounds GWL of printed circuit boards based on a four-probe measurement method by applying current to two metallized junctions and measuring voltage from opposite sides of the same junctions, differing in the fact that, in order to determine the resistance of the contact junction, a circuit of two conductors having a common contact area is selected , measure, by the indicated method, the resistance of this circuit and its sections and calculate the resistance of the contact junction according to the formula П-f + - 3 - 2 where RI and -the values of the resistance of the circuit sections, and z-value sonrotivleni all

Фиг. 1FIG. one

А азперителю напр жени A voltage generator

От источника токаFrom current source

Фиг. 2FIG. 2

2020

SU1413760A 1970-03-13 1970-03-13 METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE SU363934A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1413760A SU363934A1 (en) 1970-03-13 1970-03-13 METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1413760A SU363934A1 (en) 1970-03-13 1970-03-13 METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU363934A1 true SU363934A1 (en) 1972-12-25

Family

ID=20450744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1413760A SU363934A1 (en) 1970-03-13 1970-03-13 METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU363934A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68922356D1 (en) Electrical conductors for tight tolerance machining.
MY105336A (en) Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification
SU363934A1 (en) METHOD FOR DETERMINING RESISTANCE
US5198778A (en) Method for inspecting printed circuit boards with through-holes
US2839723A (en) Impedance measuring device
GB1297377A (en)
KR940015522A (en) Material surface resistivity measurement method and measuring probe for use therein
SU1691785A1 (en) Device for determination of short circuit position
TWI516779B (en) Structures and methods for testing integrated circuits and via chains therein
TW198170B (en)
SU991330A1 (en) Contact resistance measuring method
SU1388704A1 (en) Transducer for monitoring parameters of development of surface cracks
US5266904A (en) Printed circuit board with through-holes including a test land having two current measuring lands and two resistance measuring lands
JP2573476Y2 (en) IC microcurrent measuring device
SE410659B (en) VORIZATION PROPERTY FOR NON-ENLARGEMENT TESTING OF THE PROPERTY OF AN ELECTRICALLY CONDUCTIVE COATING IN HALL IN PRINTED CIRCUIT CARDS
SU1442933A1 (en) Voltage divider
JPS62126648A (en) Semiconductor device and evaluating method therefor
SU661439A1 (en) Arrangement for checking integrated microcircuit linear parameters
GB1536390A (en) Ohmmeters
SU1250992A1 (en) Device for contactless determining of location of break of current conductive track of lacquered printed-circuit board
US859556A (en) Method of and apparatus for fault location on electrical conductors.
SU422982A1 (en) METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE DISTRIBUTION
ES8400827A1 (en) Control device for the isolation of printed circuit boards.
JPS58216967A (en) Inspecting instrument for printed circuit board and method for inspecting same
TH11342EX (en) Methods and systems for simultaneous testing of electronic parts and inspection of conductive wires