SU1631473A1 - Device for transistor testing - Google Patents

Abstract

Изобрртение относитс  к контрольно-измерительной технике и направлено на определение исправности типа проводимости и цоколевки бипол рных транзисторов. Цель изобретени  - повышение достоверности контрол  - достигаетс  за счет исключени  ложкой информации при подключении к контрольным клеммам неисправного транзистора. Устройство содержит клеммы 1 - 3 дл  подключени  выводов испытуемого транзистора, клемму 4 дл  подключени  источника опорного напр жени , три компаратора 5 - 7,три делител  8-10 напр жени , резистор 11 и элемент 12 неравнозначности. На выходе устройства формируетс  сигнал , близкий к нулю, только в тех случа х, когда испытуемый транзистор исправен, контрольное напр жение на клемме 4 соответствует типу проводимости транзистора (положительное - п - р - п -транзистор, отрицательное- р - п - р - транзистор), его база подключена к клемме 1, коллектор - к клемме 2, а эмиттер - к клемме 3. 2 ил. S (ЛThe invention relates to an instrumentation technique and is aimed at determining the operability of the type of conductivity and the pinout of bipolar transistors. The purpose of the invention — to increase the reliability of the control — is achieved by eliminating a spoon with information when connecting to the control terminals of a faulty transistor. The device contains terminals 1–3 for connecting the leads of a transistor under test, terminal 4 for connecting a reference voltage source, three comparators 5–7, three voltage dividers 8–10, a resistor 11, and unequal element 12. At the output of the device, a signal close to zero is generated only in those cases when the transistor under test is healthy, the test voltage on terminal 4 corresponds to the type of transistor conductivity (positive - n - p - n - transistor, negative - p - n - p - transistor), its base is connected to terminal 1, the collector is connected to terminal 2, and the emitter is connected to terminal 3. 2 Il. S (l

Description

Фиг.22

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для контроля трапзисторов, содержащее клеммы для подклю· чения выводов испытуемого транзистора, первая из которых соединена с 15 клеммой для подключения источника опорного напряжения, вторая клемма для подключения выводов испытуемого транзистора соединена с инвертирующим входом первого компаратора, тре20 тья клемма для подключения выводов испытуемого транзистора соединена с инвертирующим входом второго компаратора и через первьй резистор с общей шиной устройства, выходы первого 25 и второго компараторов подключены соответственно к первому и второму входам элемента неравнозначности, выход которого соединен с выходной шиной устройства, отличающе30 е с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, оно снабжено третьим компаратором и тремя делителями напряжения, элемент неравнознач· ности выполнен с четырьмя входами, при этом первая клемма для подключе 35 ния выводов испытуемого транзистора через первый делитель напряжения сое· динена с неинвертирующим входом первого компаратора, а через второй делитель напряжения - с инвертирующим 4U входом третьего компаратора, неинвертирующий вход которого подключен к третьей клемме для подключения выводов испытуемого транзистора, вторая клемма для подключения выводов которого через третий делитель напряжения соединена с неинвертирующим входом второго компаратора, выход третьего компаратора подключен кA device for controlling transistors containing terminals for connecting the terminals of the tested transistor, the first of which is connected to 15 terminals for connecting the voltage reference source, the second terminal for connecting the terminals of the tested transistor is connected to the inverting input of the first comparator, and the third terminal for connecting the terminals of the tested transistor connected to the inverting input of the second comparator and through the first resistor to the device common bus, the outputs of the first 25 and second comparators are connected respectively As regards the first and second inputs of the disambiguation element, the output of which is connected to the output bus of the device, characterized in that, in order to increase the reliability of control, it is equipped with a third comparator and three voltage dividers, the disambiguation element is made with four inputs, with this is the first terminal for connecting 35 conclusions of the tested transistor through the first voltage divider is connected to the non-inverting input of the first comparator, and through the second voltage divider is connected to the inverting 4U input of the third to an omparator whose non-inverting input is connected to the third terminal for connecting the terminals of the transistor under test, the second terminal for connecting the terminals of which through the third voltage divider is connected to the non-inverting input of the second comparator, the output of the third comparator is connected to 50 третьему входу элемента неравнозначности, четвертый вход которого соединен с клеммой для подключения источника опорного напряжения.50 to the third input of the discontinuity element, the fourth input of which is connected to the terminal for connecting the voltage reference source.