SU943612A1 - Device for measuring transistor current gain - Google Patents

Device for measuring transistor current gain Download PDF

Info

Publication number
SU943612A1
SU943612A1 SU802981681A SU2981681A SU943612A1 SU 943612 A1 SU943612 A1 SU 943612A1 SU 802981681 A SU802981681 A SU 802981681A SU 2981681 A SU2981681 A SU 2981681A SU 943612 A1 SU943612 A1 SU 943612A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
voltage
output
current
input
unit
Prior art date
Application number
SU802981681A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Трофимович Осьминин
Владимир Сергеевич Васильев
Иван Тихонович Золототрубов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6707
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6707 filed Critical Предприятие П/Я Р-6707
Priority to SU802981681A priority Critical patent/SU943612A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU943612A1 publication Critical patent/SU943612A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

(5) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА УСИЛЕНИЯ ПО ТОКУ ТРАНЗИСТОРОВ(5) DEVICE FOR MEASURING THE GAIN COEFFICIENT ON TRANSISTOR CURRENT

1one

Изобретение относитс  к измерительной технике и предназначено дл  контрол  параметров полупроводниковых приборов, в частности дл  измерени  коэффициента усилени  по току транзисторов, при их массовом производстве .The invention relates to a measurement technique and is intended to control the parameters of semiconductor devices, in particular for measuring the current gain of transistors, during their mass production.

Известно устройство дл  измерени  статического коэффициента усилени  по току транзисторов, содержащее источник эмиттерного тока, источник коллекторного напр жени , переключатель рода работ, усилитель и измерительный блок l.A device for measuring the static current gain of transistors is known, comprising an emitter current source, a collector voltage source, a type of work switch, an amplifier, and a measuring unit l.

Недостатком известного устройства  вл етс  наличие систематической погрешности, обусловленной конечной величиной сопротивлени  резистора, включенного в базовую цепь испытуемого транзистора. Другим недостатком устройства  вл етс  низка  производительность, обусловленна  необходимостью переключени  измерительного устройства (вольтметра ) с коллекторной цепи на базовую в процессе контрол .A disadvantage of the known device is the presence of a systematic error due to the finite value of the resistance of the resistor included in the base circuit of the tested transistor. Another disadvantage of the device is the low productivity due to the necessity of switching the measuring device (voltmeter) from the collector circuit to the base one during the control process.

Известно также устройство дл  измерени  коэффициента усилени  поIt is also known a device for measuring the gain factor

J /току транзисторов ). содержащее источник эмиттерного тока и коллекторного напр жени , резисторы , вольтметр и генератор синусом дальнего напр жени  2.J / current transistors). containing a source of emitter current and a collector voltage, resistors, a voltmeter, and a generator with a sine of a far voltage 2.

IQ Недостатком известного устройства  вл етс  наличие систематической погрешности, обусловленной конечной величиной сопротивлени  резистора, включающего в базовую цепь испытуе15 мого транзистора, низка  производительность , обусловленна  большим временем измерени  напр жени  с помощью вольтметра.IQ. A disadvantage of the known device is the presence of a systematic error due to the finite resistance value of the resistor including the test transistor in the base circuit, low productivity due to the long voltage measurement time with a voltmeter.

Наиболее близким к предлагаемомуClosest to the proposed

Claims (3)

20  вл етс  устройство дл  измерени  коэффициента усилени  по току, содержащее управл емый источник эмиттерного тока, источник коллекторного напр жени , преобразователь тока 39 в напр жение, выполненный на операционном усилителе с резистором в цепи обратной св зи, блок регистрации , два конденсатора и два синхрон ных переключател  Г31. Недостатком устройства  вл етс  относительно низка  точность измерени , обусловленна  сложностью определени  приращени  выходного напр жени  как разности двух близких величин. Дл  обеспечени  высоко точности измерени  напр жени  на за поминающих конденсаторах должны оставатьс  посто нными между тактам измерени . , Цель изобретени  - повышение точ ности измерени  и расширение функци ональных возможностей. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  измерени  коэффициента усилени  по току транзисторов , содержащее блок управлени  с управл емым источником эмиттерного тока, выход которого соединен с клеммой дл  подключени  эмиттера исследуемого транзистора, к клемме дл  подключени  коллектора которого подсоединен источник коллекторного напр жени , а к клемме дл  подключени  базы подключен преобразователь ток-напр жение, выход которого соединен с входом блока па м ти, соединенного с одним входом блока суммировани , подключенного в ходом к одному входу блока регистра ции, а другой вход блока суммировани  соединен с выходом преобразовател  ток-напр жение, блок управлени  соединен с управл ющим входом блока пам ти, выход которого соединен с другим входом блока регистра На фиг. 1 изображена, функциональ на  схема устройства, на фиг. 2 временные диаграммы, по сн ющие его работу. Устройство содержит управл емый источник 1 эмиттерного тока, блок 2 управлени , преобразователь 3 токнапр жение , источник Ц коллекторного напр жени , блок 5 суммировани , блок 6 пам ти, блок 7 регистрации и клеммы 8, 9 и 10 дл  подключени  соответствующих электродов испытуем го транзистора. Блок 7 регистрации представл ет собой вольтметры амплитудного значе ни , один из которых предназначен дл  измерени  размаха амплитуды переменного напр жени , пропорционального величине 1 + h, а другой дл  измерени  посто нного напр жени , пропорционального значению I Oi . Устройство работает следующим образом . Управл емый источник 1 задает в эмиттер испытуемого транзистора импульс тока Ig, модулированного синусоидальным iсигналом, поступающим с выхода блока 2 управлени  (фиг.2а). Источник k обеспечивает необходимый режим на коллекторе, при этом ток базы преобразовываетс  преобразователем 3 в напр жение (фиг.26), который поступает на первые входы блоков 5 и 6 .До момента времени t. (фиг.2в) блок 6 пам ти работает в режиме инве этировани  входного сигнала с коэффициентом передачи равным -1, поэтому напр жение н& его выходе равно и противоположно по знаку напр жению, поступающему на его первый вход. В результате сложени  сигналов с выхода преобразовател  3 и выхода блока 6 напр жение на выходе блока 5 до момента равно нулю (фиг.2г), В момент t блок 2 вырабатывает сигнал, перевод щий блок 6 в режим запоминани , при котором уровень напр жени  -U запоминаетс  и хранитс  до момента времени t,. В результате сложени  сигналов, поступающих на входы блока 5, напр жение на его выходе в течение времени t -tj равно , где uU - размах переменного напр жени , пропорционального изменени м базового тока, k - коэффициент усилени  блока 5. , Таким образом, с выхода блока 5 в блок 7 регистрации поступает приведенное к нулю переменное напр жение , пропорциональное изменению базового тока йЗз Зэ iie йЗб Кбо Врем  измерени  параметра ha-te определ етс  только временем собственно измерени  t размаха амплитуды переменного напр жени  и численно равно длительности нескольких периодов модулирующего сигнала, что составл ет единицы милисекунд. Применение синусоидального сигнала позвол ет повысить помехозащищенность и устранить погрешность измерени , обусловленную протеканием обратного тока коллектора в базовую цепь, т. этот ток не вли ет на величину напр жени  k ли. С выхода блока 6 в блок 7 регис рации поступает импульс напр жени  DO пропорциональный посто нной составл ющей базового тока испытуе мого транзистора . . 1эо ,Эо где k. - коэффициент усилени  преоб разовател  3, I - ток эмиттера. Таким образом, предлагаемое устройство позвол ет одновременно измерить параметры Ь,, и Ь2 в одном цикле измерени , что расшир ет его функциональные возможности. Кроме того, предлагаемое устройство позвол ет производить измерение параметра на модулирующем сигнале любого вида, например в виде последовательности импульсов пр моугольной формы. Выбор модулирующего сигнала опре дел етс  требовани ми точности, быстродействи  и помехозащищенности :устройства. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  коэффициента усилени  по току транзисто2 ров, содержащее блок управлени  с управл емым источником эмиттерного тока, выход которого соединен с клеммой дл  подключени  эмиттера исследуемого транзистора, к клемме дл  подключени  коллектора которого присоединен источник коллекторного напр жени , а к клемме дл  подключени  базы подключен преобразователь ток-напр жение, выход которого соединен с входом блока пам ти, соединенного с одним входом блока суммировани , подключенного выходом к одному входу блока регистрации, о т л ичающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени  и расширени  функциональных возможностей, другой вход блока суммировани  соединен с выходом преобразовател  токнапр жение , блок управлени  соединен с управп ю)м входом блока пам ти, выход которого соединен с другим входом блсжа регистрации. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Лронов В.Л. и др. Испытание и исследование полупроводниковых приборов . М., Высша  школа, 1975i с. 72-7. .20 is a device for measuring the current gain factor, comprising a controlled emitter current source, a collector voltage source, a current converter 39 to a voltage, made on an operational amplifier with a resistor in the feedback circuit, a recording unit, two capacitors and two synchronous switch G31. The drawback of the device is the relatively low measurement accuracy due to the difficulty of determining the output voltage increment as the difference of two close values. In order to provide highly accurate measurements, the voltage on the recall capacitors must remain constant between the measurement cycles. , The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurement and expand functional capabilities. The goal is achieved in a device for measuring the current gain of transistors containing a control unit with a controlled emitter current source, the output of which is connected to a terminal for connecting the emitter of a transistor under investigation, to the terminal for connecting a collector of which a source of collector voltage is connected A current-voltage converter is connected to the terminal for connecting the base, the output of which is connected to the input of the computer unit connected to one input of the summation unit The input of the registration unit is in progress to one input, and the other input of the summation unit is connected to the output of the current-voltage converter, the control unit is connected to the control input of the memory unit, the output of which is connected to another input of the register unit. In FIG. 1 shows a functional diagram of the device; FIG. 2 time diagrams for his work. The device contains a controlled emitter current source 1, a control unit 2, a current converter 3, a collector voltage source C, a summation unit 5, a memory unit 6, a recording unit 7 and terminals 8, 9 and 10 for connecting the respective electrodes of the test transistor . The registration unit 7 is an amplitude value voltmeters, one of which is intended to measure the amplitude range of an alternating voltage proportional to 1 + h, and the other to measure a constant voltage proportional to the value I oi. The device works as follows. The controlled source 1 sets to the emitter of the tested transistor a pulse of current Ig modulated by a sinusoidal signal, coming from the output of control unit 2 (Fig. 2a). Source k provides the required mode on the collector, and the base current is converted by converter 3 into voltage (Fig. 26), which is supplied to the first inputs of blocks 5 and 6. Up to time point t. (figv) the memory block 6 operates in the mode of input signal investing with the transfer coefficient equal to -1, therefore the voltage n & its output is equal and opposite in sign to the voltage applied to its first input. As a result of adding the signals from the output of the converter 3 and the output of the block 6, the voltage at the output of the block 5 until the moment is zero (Fig. 2d). At the moment t, the block 2 produces a signal that transfers the block 6 to the memory mode at which the voltage level is U is stored and stored until time t ,. As a result of the addition of signals arriving at the inputs of block 5, the voltage at its output during the time t -tj is, where uU is the amplitude of the alternating voltage proportional to the change in the base current, k is the gain of the block 5. Thus, The output of block 5 to block 7 enters a zero voltage, reduced to zero, proportional to the change in the base current. For example, the measurement time of the parameter ha-te is determined only by the actual time of measurement t of the amplitude of the alternating voltage and is numerically equal to the duration There are several periods of the modulating signal, which is a few milliseconds. The use of a sinusoidal signal makes it possible to increase the noise immunity and eliminate measurement errors due to the flow of reverse collector current into the base circuit, i.e. this current does not affect the voltage k or li. From the output of block 6, block 7 of the registration receives a voltage pulse DO, proportional to the constant component of the base current of the transistor under test. . 1eo, Eo where k. - gain factor of converter 3, I - emitter current. Thus, the proposed device allows simultaneous measurement of the parameters b ,, and b2 in one measurement cycle, which expands its functionality. In addition, the proposed device allows measurement of a parameter on a modulating signal of any kind, for example, in the form of a series of rectangular pulses. The choice of the modulating signal is determined by the requirements of accuracy, speed and noise immunity: the device. The invention The device for measuring the current gain of transistors, comprising a control unit with a controlled source of emitter current, the output of which is connected to the terminal for connecting the emitter of the transistor under study, to the terminal for connecting the collector of which the source of collector voltage is connected, and to the terminal for connecting A current-voltage converter is connected to the base, the output of which is connected to the input of a memory unit connected to one input of a summation unit connected by an output to one To the input of the registration unit, in order to improve measurement accuracy and enhance the functionality, the other input of the summation unit is connected to the output of the current converter, the control unit is connected to the control input of the memory unit, the output of which is connected with another entry blszha registration. Sources of information taken into account during the examination 1. V. Lronov. and others. Testing and study of semiconductor devices. M., Higher School, 1975i p. 72-7. . 2. Аронов В.Л. и др. Испытание и исследование полупроводниковых при боров. М., Высша  школа, 1975, с. 97-103. 2. Aronov V.L. et al. Testing and investigation of semiconductor devices. M., Higher School, 1975, p. 97-103. 3. Авторское свидетельство СССР , кл. С 01 R 31/26, 1977.3. USSR author's certificate, cl. C 01 R 31/26, 1977.
SU802981681A 1980-09-15 1980-09-15 Device for measuring transistor current gain SU943612A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802981681A SU943612A1 (en) 1980-09-15 1980-09-15 Device for measuring transistor current gain

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802981681A SU943612A1 (en) 1980-09-15 1980-09-15 Device for measuring transistor current gain

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU943612A1 true SU943612A1 (en) 1982-07-15

Family

ID=20917607

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802981681A SU943612A1 (en) 1980-09-15 1980-09-15 Device for measuring transistor current gain

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU943612A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4806846A (en) High accuracy direct reading capacitance-to-voltage converter
US4070618A (en) Digital phase and frequency meter
US2527096A (en) Voltage phase displacement and amplitude indicating system
SU943612A1 (en) Device for measuring transistor current gain
US3771057A (en) Method and apparatus for measuring impedance in the presence of unwanted signals
SU1148002A1 (en) Device for measuring resistance of electrochemical resistors
SU693278A1 (en) Device for selecting pairs of transistors
SU800899A1 (en) Converter of three-element two-pole network parameters into voltage
SU1307417A1 (en) Device for cadibration checking of extraneous amplitude modulation meters
SU938220A1 (en) Device for measuring transistor current differential transmission coefficient
SU1628011A1 (en) Device for measuring specific resistance of semiconductor material
SU1495984A1 (en) Pulse shaper
SU712775A1 (en) Automatic meter of complex resistance components
SU648917A1 (en) Passive two-pole network parameter meter
SU1454466A1 (en) Apparatus for measuring resistance of biotissues
SU761918A1 (en) Direct current meter without circuit breakage
SU991442A1 (en) Integrator non-linearity measuring device
SU739434A1 (en) Impedance component converter
SU1187118A1 (en) Multiple-value standard of radiopulse voltage
SU702325A1 (en) Electric to magnetic value transducer
SU993136A1 (en) Resistance increment measuring device
SU1372592A1 (en) Simulator of electric resistance (conductivity)
JPH0466878A (en) Apparatus and method for measuring electrostatic capacitance, resistance and inductance
SU645102A1 (en) Arrangement for measuring amplification factor by transistor current
SU815693A1 (en) Voltage divider testing method