SU1474461A1 - Method of measuring thickness - Google Patents
Method of measuring thickness Download PDFInfo
- Publication number
- SU1474461A1 SU1474461A1 SU874276354A SU4276354A SU1474461A1 SU 1474461 A1 SU1474461 A1 SU 1474461A1 SU 874276354 A SU874276354 A SU 874276354A SU 4276354 A SU4276354 A SU 4276354A SU 1474461 A1 SU1474461 A1 SU 1474461A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- photons
- thickness
- source
- energy
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к неразрушающему контролю изделий с использованием ионизирующих излучений, а конкретно к толщиномерам объектов, выполненных из легких материалов. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени толщины оболочек в труднодоступных местах путем использовани источника вторичного излучени в качестве основного. В полый объект, толщину стенки которого нужно определ ть, ввод т эластичный баллон с точечным включением элемента. Зону, в которой находитс включение элемента, облучают фотонами первичного источника. Поток возбуждаемого этими фотонами рентгенофлуоресцентного излучени измер ют на фиксированных рассто ни х от наружной поверхности объекта контрол . 1 ил.The invention relates to non-destructive testing of products using ionizing radiation, and specifically to thickness gauges of objects made of lightweight materials. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring the thickness of the shells in hard-to-reach places by using a secondary radiation source as the main source. In a hollow object, the wall thickness of which is to be determined, an elastic balloon with a point-on element is inserted. The zone in which the element is turned on is irradiated with photons of the primary source. The flux of x-ray fluorescent radiation excited by these photons is measured at fixed distances from the outer surface of the test object. 1 il.
Description
1one
Изобретение относитс к неразрушающему контролю изделий с использованием ионизирующих излучений, а именно к толщиномерам объектов, выполненных из легких материалов.The invention relates to non-destructive testing of products using ionizing radiation, namely to thickness gauges of objects made of lightweight materials.
Цель изобретени - повышение точности измерени толщины оболочек в труднодоступных местах путем использовани источника вторичного излучени в качестве основного.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the thickness of the shells in hard-to-reach places by using a secondary radiation source as the main one.
На чертеже представлена схема измерени толщины по предлагаемому способу.The drawing shows the scheme for measuring the thickness of the proposed method.
Способ осуществл ют следующим образом.The method is carried out as follows.
В полый объект 1, толщину h стенки которого нужно определить, ввод т эластичный баллон 2 с точечным включением 3 элемента. В баллоне создаетс избыточное давление. Зону, в которой находитс включение 3 элемента , облучают фотонами источника 4 с энергией Е0 , меньшей или большей энергии Е„, дл того, чтобы обеспечить возможность разделени путем энергетической селекции фотонов характеристического излучени включени и фотонов-, образованных в объекте контрол вследствие комптоновски рассе нного излучени источника. Энерги Еа определ етс из соотношени In the hollow object 1, whose wall thickness h needs to be determined, an elastic balloon 2 is introduced with a point connection of 3 elements. An overpressure is created in the cylinder. The zone in which the 3 elements are included is irradiated with photons of source 4 with energy E0, less or more energy E ", in order to ensure that the inclusion radiation and photons formed in the object of control due to Compton scattered radiation source. Energy Ea is determined from the ratio
Е« Е41--1ь-()Г (1)E "E41--1b - () G (1)
4 14 1
4Ь 4ь4b 4b
ОЭOE
где mC - энерги поко электрона;where mC is the electron's rest energy;
Е„ 9 энерги рентгенофлуорес- центного излучени точечного включени ; угол рассе ни дл регистрируемых фотонов комптонов ски рассе нного излучени источника.E „9 is the energy of x-ray fluorescence of point inclusion; scattering angle for recorded compton photons of the scattered radiation of the source.
Выражение (1) дл Е„ получают путем преобразовани соотношени дл определени энергии ES рассе нного фотонаExpression (1) for E "is obtained by converting a relation to determine the ES energy of a scattered photon
2+2+
Еп SE (1-cos0)Еп SE (1-cos0)
ЈАЈA
Поток возбуждаемого этими фотонами рентгенофлуоресцентного излучени измер ют на фиксированных рассто ни х 20 L, и Ъг от наружной поверхности объекта 1. Полученные значени N и Na сопоставл ют и по результату сопоставлени суд т о толщине стенки объекта в зоне включени 3. Градуировоч- 25 ную кривую получают экспериментально , использу баллон с измен емой по известному закону толщиной стенки (например, путем ее наращивани дополнительными гибкими пластинками 30 известной- толщины), либо теоретически . В последнем случае, исход из того, что поток фотонов через единичную площадку по мере увеличени The flux of X-ray fluorescent radiation excited by these photons is measured at a fixed distance of 20 L and K from the outer surface of the object 1. The obtained values of N and Na are compared and the result of the comparison is judged on the wall thickness of the object in the zone of inclusion 3. Graduated The curve is obtained experimentally using a balloon with a wall thickness that can be varied according to a certain law (for example, by increasing it with additional flexible plates 30 of known thickness), or theoretically. In the latter case, based on the fact that the photon flux through a single site as the
фокусного рассто ни убывает по квад- объекта контрол прижимают пленкуthe focal distance decreases by quad; the control object presses the film
ратичному закону можно записатьratification law can be written
с точечным включением элемента, от сутствующего в материале объекта контрол в зоне контрол и в материале пленки, направл ют на точечное включение элемента через объек контрол первичные фотоны от источ ника ионизирующего излучени с эне гией Eh, определ емой из соотношен Iwith a point inclusion of an element that is not present in the control object material in the control zone and in the film material, the primary photons from the ionizing radiation source with the energy Eh determined from the ratio I
N,N,
N.N.
Li+hLi + h
L,+hL, + h
-)-)
(3)(3)
(4)(four)
Отсюда получают уравнение граду- ировочной кривойFrom here, get the equation of the calibration curve
, Li- , Li-
h л.шh lsh
лР - 1lR - 1
При получении объекта 1 фотонами радионуклидного источника, например из америци -241, в направлении 5 регистрации распростран ютс фотоны комптоновски рассе нного излучени источника и фотоны рентгеновской флоресценции тули . Если обеспечить выполнение услови (1), а именно если направить источник 4 на объект 1 так, чтобы значение 6 лежало в пределах 150-160°, комптоновски рассе нные фотоны будут иметь энергию (48,9-49,2) кэВ. Фотоны рентгеновской флуоресценции точечного вклчени , например, из тули обладаютWhen an object 1 is received by photons of a radionuclide source, for example, from americium-241, photons of Compton scattered radiation of the source and thuli x-ray florescence photons propagate in the 5-direction of registration. If we ensure the fulfillment of condition (1), namely, if we direct source 4 to object 1 so that the value 6 lies within 150-160 °, Compton scattered photons will have energy (48.9-49.2) keV. X-ray fluorescence photons of point inclusions, for example, from thuli possess
00
5five
0 5 0 0 5 0
энергией 59,1; 57,5; 57,3; 50,7 и 49,8 кэВ.energy of 59.1; 57.5; 57.3; 50.7 and 49.8 keV.
Приборный спектр регистрируемого излучени , характеризующий распределение числа N импульсов детектора по их амплитудам И, содержит пик фотонов рентгеновской флуоресценции и пик комптоновски рассе нных фотонов. Измерение потоков ионизирующего излучени осуществл етс с помощью известных средств, содержащих спектрометрический детектор, блок селекции импульсов по амплитудам и регистратор числа импульсов за заданный промежуток времени.The instrument spectrum of the detected radiation, which characterizes the distribution of the number N of detector pulses over their amplitudes And, contains a peak of x-ray fluorescence photons and a peak of Compton scattered photons. Measurement of ionizing radiation fluxes is carried out using known means containing a spectrometric detector, an amplitude pulse selection unit and a pulse number recorder for a given period of time.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874276354A SU1474461A1 (en) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | Method of measuring thickness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874276354A SU1474461A1 (en) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | Method of measuring thickness |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1474461A1 true SU1474461A1 (en) | 1989-04-23 |
Family
ID=21316370
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874276354A SU1474461A1 (en) | 1987-05-15 | 1987-05-15 | Method of measuring thickness |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1474461A1 (en) |
-
1987
- 1987-05-15 SU SU874276354A patent/SU1474461A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Рум нцев С.В. Радиационна дефектоскопи . - М.: Атомиздат, 1974, с.409. Ely R.L., Gardner R.P. On the theory of the gamma-ray transmission, dual-distance principle of determining thickness. - Nucklear engineering and design, 1971, (P 15, p.237. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4956856A (en) | Arrangement for examining a body comprising a radiation source | |
CA2355560A1 (en) | X-ray compton scatter density measurement at a point within an object | |
JPH0628657B2 (en) | Pulse transmission spectrum measuring device | |
US3936638A (en) | Radiology | |
USRE22531E (en) | Method and apparatus for measuring | |
US5113421A (en) | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating on a substrate | |
US2277756A (en) | Method and apparatus for measuring thickness | |
CN216284786U (en) | Density and concentration detection device | |
US3529151A (en) | Method of and apparatus for determining the mean size of given particles in a fluid | |
US3505520A (en) | Measuring the incombustible content of mine dust using backscatter of low energy gamma rays | |
SU1474461A1 (en) | Method of measuring thickness | |
US3409774A (en) | Method of determining the thickness of a coating on a metal base and method of calibrating the thickness gauge | |
US2846589A (en) | Apparatus for determining the thickness of zinc coating on a ferrous metal base | |
US4066898A (en) | Method and apparatus for monitoring amount of a substance applied to a fabric | |
FR2393300A1 (en) | WEIGHT PER UNIT OF SURFACE MEASUREMENT DEVICE | |
US3688110A (en) | Photographic emulsion silver gage | |
JPS6362694B2 (en) | ||
JPS5582006A (en) | Measuring method for thickness | |
JPS6244680A (en) | Bed density logging using two detector and line source | |
SU1073649A1 (en) | Method of measuring filler concentartion in paper sheet | |
JP2634075B2 (en) | Fluorescent glass dosimeter and its reading device | |
Švitel et al. | The determination of Br, Ag and I in pharmaceuticals using X-ray fluorescence excited by gamma sources | |
AU600461B2 (en) | Neutron and gamma-ray moisture assay | |
SU461687A1 (en) | Composition for obtaining tissue equivalent material | |
US4066897A (en) | Chemical change measuring apparatus |