SU1456916A1 - Logic tester - Google Patents
Logic tester Download PDFInfo
- Publication number
- SU1456916A1 SU1456916A1 SU864039480A SU4039480A SU1456916A1 SU 1456916 A1 SU1456916 A1 SU 1456916A1 SU 864039480 A SU864039480 A SU 864039480A SU 4039480 A SU4039480 A SU 4039480A SU 1456916 A1 SU1456916 A1 SU 1456916A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- comparator
- diodes
- level
- low
- diode
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол логических интегральных схем при наладке и ремонте управл ющих вычислительных устройств . Цель изобретени - повышение достоверности контрол - достигаетс за счет обеспечени контрол одиночных коротких импульсов. Устройство содержит щуп 1, соединенный с анодом первого 2 и катодом второго 3 диодов, например диодов Шоттки, компаратор 4, активный двухполюсник 5, источник 6 высокого опорного уровн , компара- тор 7 низкого уровн , двухполюсник 8 и источник 9 низкого опорного уровн . На чертеже также показаны блок 10 индикации и диоды 11 и 12, на которых могут быть выполнены активные двухполюсники 5 и 8. 2 ил. (Л СThe invention relates to a measurement technique and can be used to control logic integrated circuits when setting up and repairing control computing devices. The purpose of the invention — an increase in the reliability of control — is achieved by providing control of single short pulses. The device comprises a probe 1 connected to the anode of the first 2 and the cathode of the second 3 diodes, for example Schottky diodes, comparator 4, active two-port 5, high reference level source 6, low level comparator 7, low reference level 9. The drawing also shows the display unit 10 and the diodes 11 and 12, on which active two-terminal 5 and 8 can be performed. 2 Il. (Ls
Description
Фf/г.fFf / gf
Изобретение относитс к измериельной технике и может быть использовано дл контрол логических интегральных схем при наладке и ремон- те управл ющих и вычислительных устройств .The invention relates to a measurement technique and can be used to control logic integrated circuits when setting up and repairing control and computing devices.
Цель изобретени - повышение достоверности за счет обеспечени контрол одиночных коротких.импульсов. 10The purpose of the invention is to increase reliability by ensuring the control of single short pulses. ten
На фиг.1 представлена функциональна схема логического пробника; на фйг,2а и б - временные диаграммы ра- боты известного и предлагаемого логических пробников при контроле ко- 15 ротких импульсов.Figure 1 shows the functional diagram of the logic probe; fig, 2a, and b are the time diagrams of the operation of the known and proposed logic probes when monitoring short pulses.
Устройство содержит щуп 1, соединенный с анодом первого 2 и катодом второго 3 диодов (например, диодов Шоттки) . Сигнальньй вход компар ато- 20 ра 4 высокого уровн соединен с { катодом диода 2 и одним выводом активного двухполюсника 5, а его опорный вход - с другим выводом двухполюсника 5 и источником 6 высокого 25 опорного уровн .The device comprises a probe 1 connected to the anode of the first 2 and the cathode of the second 3 diodes (for example, Schottky diodes). The signal input of the high-level atom 4 compressor 4 is connected to {the cathode of diode 2 and one output of the active two-port 5, and its reference input is connected to the other output of the two-terminal 5 and source 6 of the high 25 reference level.
Сигнальньй вход .компаратора.7 низкого уровн соединен с анодом диода 3 и одним выводом активного двухполюсника 8, а его, опорный вход - с 30 другим выводом двухполюсника 8 и источником 9 низкого-опорного уровн . Сопротивлени двухполюсников 5 и 8 выбраны так, что они существенно больше сопротивлени в цепи открытых з5 малоинерционных диодов 2 и 3, но существенно меньше сопротивлени утечки этих диодов. Выходы компараторов 4 и 7 соединены с соответствующими входами блока 10 индикации. 40 Последний в. простейшем случае состоит из двух идентичных цепей, кажда из которых содержит одновибратор, вход которого соединен с выходом соот- ветствуклцего компаратора, усилитель 45 мощности и световой индикатор. Причем одновибратор построен так, что при коротком сигнале компаратора он вырабатывает импульс, по длительности достаточный дл зрительного вое- о при ти (обычно 0,1-0,2 с)..Если длительность сигнала компаратора больше , чем у импульса, вырабатываемого одновибратором, то на выходе последнего возникает импульс, соответст- вующий длительности сигнала компаратора . A low level signal input .Compontora.7 is connected to the anode of diode 3 and one output of an active two-terminal 8, and its reference input is connected to 30 another output of a two-terminal 8 and a low-reference source 9. The resistances of the two-terminal networks 5 and 8 are chosen so that they are substantially greater than the resistance in the open 3 circuit of low-inertia diodes 2 and 3, but substantially less than the leakage resistance of these diodes. The outputs of the Comparators 4 and 7 are connected to the corresponding inputs of the display unit 10. 40 Last in. The simplest case consists of two identical circuits, each of which contains a single-shot, whose input is connected to the output of a corresponding comparator, a power amplifier 45 and a light indicator. Moreover, the one-shot is designed so that, with a short comparator signal, it produces a pulse that is long enough for the optic ward when it is (usually 0.1-0.2 s) .. If the duration of the comparator signal is longer than the pulse produced by the single-shot, then a pulse appears at the output of the latter, corresponding to the duration of the comparator signal.
Активные двухполкюники 5 и 8 могут быть выполнены, например , в виде полупроводниковых диодов 11 и 12, анод и катод первого из которых соединен соответственно с опорным и сигнальным входами компаратора 4 высокого уровн , а анод и катод второго - с сигнальным и опорным входами компаратора 7 низкого уровн .Active bivolleks 5 and 8 can be made, for example, in the form of semiconductor diodes 11 and 12, the anode and cathode of the first of which are connected respectively to the reference and signal inputs of the comparator 4 high level, and the anode and cathode of the second - to the signal and reference inputs of the comparator 7 low level
Работа пробника при .контроле импульсов обоих уровней отличаетс только значением и пол рностью приложени сигналов. Поэтому достаточно рассмотреть его работу дл случа контрол импульсов, например, высокого уровн .The probe operation in controlling the pulses of both levels differs only in the value and polarity of the signal application. Therefore, it is sufficient to consider his work for the case of controlling pulses, for example, a high level.
Логический пробник работает следующим образом. , .Logical probe works as follows. ,
Щуп 1 подключаетс к соответствующему выводу контролируемой логической схемы. При достаточно большой длительности импульса, например, высокого уровн диод 2 открываетс , и контролируемьй импульс передаетс на сигнальньй вход компаратора 4. Поскольку сопротивление в цепи открытого малоинерционного диода 2 существенно меньше сопротивлени активного двухполюсника 5, то последний не оказывает вли ни на имп- литуду передаваемого импульса. Если эта амплитуда превьшгает заданный с помощью источника 6 высокий опорньй уровень, то на выходе компаратора 4 по вл етс сигнал наличи высокого уровн . Этот сигнал вызывает кратковременную световую индикацию в блоке 10 индикации.The probe 1 is connected to the corresponding output of the controlled logic circuit. At a sufficiently long pulse duration, for example, a high level, diode 2 opens, and a controlled pulse is transmitted to the signal input of the comparator 4. Since the resistance in the circuit of the open low-inertia diode 2 is substantially less than the resistance of the active two-pole 5, the latter does not affect the impulse transmitted momentum. If this amplitude exceeds the high reference level specified by source 6, then a high level signal appears at the output of comparator 4. This signal causes a short light indication in the display unit 10.
При коротких контролируемых импульсах следует учитьшать вли ние (конструктивных и барьерных (полупроводниковых ) емкостей между сигнальным входом каждого компаратора и остальной частью пробника, которые, ка и и известном пробнике, про вл ют себ как некотора паразитна емкост указанного сигнального входа, на общую шину.With short controlled pulses, the influence of (structural and barrier (semiconductor) capacitances between the signal input of each comparator and the rest of the probe, which, like a well-known probe, manifest as some parasitic capacitance of the specified signal input, on the common bus should be considered
При этом напр жение Е (фиг.26), до которого разр жаетс эта паразитна емкость, меньще опорного напр жени источника 6 высокого уровн на незначительную величину падени на активном двухполюснике 5. В то же врем высокий контролируемый у эовен и , до которого зар жаетс указанна емкость, больше опорного напр жени источника .высокого уровн на величи порога срабатывани компаратора 4. Практически разность V. - Е не превьппает 10-20 мВ. Следовательно, паразитна емкость перезар жаетс на величину , значительно меньшую полного перепада между высоким U, и низким lip контролируемыми уровн ми, и поэтому успевает зар дитьс доамплитуды импульса даже при очень короткой длительности. Поскольку при этом паразитна емкость разр жаетс также незначительно, снижаетс и частотна погрешность контролируемых уровней коротких импульсов.At the same time, the voltage E (Fig. 26), to which this parasitic capacitance is discharged, is less than the reference voltage of the high-level source 6 by a small amount of incidence on the active two-pole circuit 5. At the same time, the high voltage at the controlled element and to which it is charged The indicated capacitance is greater than the reference voltage of the source. A high level is higher than the threshold value of the comparator 4. 4. In practice, the difference V. - E does not exceed 10-20 mV. Consequently, the parasitic capacitance is recharged by an amount much less than the total difference between high U and low lip controlled levels, and therefore it has time to charge up to a pulse amplitude even for very short durations. Since, at the same time, the parasitic capacitance is also slightly discharged, the frequency error of the monitored levels of short pulses decreases.
Активные двухполюсники 5 и 8 целесообразно выполнить в виде полупроводниковых диодов 11 и 12. Причем у диода 11 анод св зан с опорным, а катод - с сигнальным входами компаратора 4, а у диода 12 анод св зан с сигнальным, а катод .- с опорным входами компаратора v7.Active two-terminal 5 and 8 should be implemented in the form of semiconductor diodes 11 and 12. Moreover, for diode 11, the anode is connected to the reference, and the cathode to the signal inputs of the comparator 4, and for diode 12, the anode is connected to the reference, the inputs of the comparator v7.
В этом случае под действием высокого (положительного) контролируемого уровн диод 11 запираетс . Его сопротивление возрастает, и практически весь импульс прикладываетс к сигнальному входу компаратора 4. При переходе к низкому уровню мапоинер- ционный диод 2 закрываетс , а переход диода 11 смещаетс в провод щем направлении. Причем падение напр жени на диоде 11 весьма мало, т.е. последовательно с ним включено большое сопротивление закрытого диода 2. Следовательно, и в этом случае напр жение Е, , до которого перезар жаютс паразитные емкости, мало отличаетс от высокого контролируемогоIn this case, under the action of a high (positive) monitored level, the diode 11 is closed. Its resistance increases, and almost the entire pulse is applied to the signal input of the comparator 4. When switching to a low level, the mapping inertia diode 2 is closed, and the transition in diode 11 is shifted in the conducting direction. Moreover, the voltage drop across the diode 11 is very small, i.e. in series with it, a large resistance of the closed diode 2 is included. Consequently, in this case too, the voltage E, before which the parasitic capacitances are recharged, differs little from the high controlled
уровн и, . Достоинством такого активного двухполюсника вл етс то, что требуемое соотношение его сопротивлени с сопротивлением цепи малоинерционного диода устанавливаетс автоматически под действием контролируемого импульса. Кроме того, па- level and The advantage of such an active two-pole network is that the required ratio of its resistance to the resistance of the low-inertia diode circuit is established automatically under the action of a controlled pulse. In addition,
- -
дение напр жени на полупроводниковом диоде 11 (12) мало зависит от температуры , так как его сопротивление измен етс в ту же сторону, что и обратное сопротивление последовательно включенного с ним малоинерционно- го диода 2 (3).The voltage on a semiconductor diode 11 (12) depends little on temperature, since its resistance changes in the same direction as the reverse resistance of a low-inertia diode 2 (3) connected in series with it.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864039480A SU1456916A1 (en) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | Logic tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864039480A SU1456916A1 (en) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | Logic tester |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1456916A1 true SU1456916A1 (en) | 1989-02-07 |
Family
ID=21227315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864039480A SU1456916A1 (en) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | Logic tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1456916A1 (en) |
-
1986
- 1986-03-20 SU SU864039480A patent/SU1456916A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР 785807, кл. G 01 R 31/28, 1978. Патент US № 4145651, кл. 324-72.5, 1979. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4429236A (en) | Apparatus for generating pulses upon decreases in supply voltage | |
US5479103A (en) | Non-linear voltage measuring implementing capacitor charging time | |
US4317056A (en) | Voltage monitoring and indicating circuit | |
JPH0456488B2 (en) | ||
FR1576123A (en) | ||
SU1456916A1 (en) | Logic tester | |
US4370619A (en) | Phase comparison circuit arrangement | |
US4881072A (en) | Device for remote metering | |
US4365203A (en) | Multi-frequency clock generator with error-free frequency switching | |
US4178585A (en) | Analog-to-digital converter | |
CN209961878U (en) | Test circuit for panel detection | |
US4017794A (en) | Circuit for measuring time differences among events | |
JPH05312896A (en) | Method and device for measuring conduction of scr | |
US5745062A (en) | Pulse width modulation analog to digital converter | |
US3644751A (en) | Digital capacitance meter | |
RU2723968C1 (en) | Device for determining load capacity of microcircuits | |
SU1032559A1 (en) | Device for checking condition of thyristors connected in series in converter | |
SU1195438A1 (en) | Pulse signal inverter | |
SU1443058A1 (en) | Device for cell-wise monitoring of storage battery voltage | |
SU1705778A1 (en) | Probe to check logic device circuits | |
SU1104448A1 (en) | Electronic unit checking device | |
SU532961A1 (en) | Threshold clocked device | |
SU1105836A1 (en) | Device for checking clock-pulse generator | |
SU978085A1 (en) | Device for checking integrated circuit contacting | |
RU2236749C1 (en) | Multivibrator |