SU1456916A1 - Logic tester - Google Patents

Logic tester Download PDF

Info

Publication number
SU1456916A1
SU1456916A1 SU864039480A SU4039480A SU1456916A1 SU 1456916 A1 SU1456916 A1 SU 1456916A1 SU 864039480 A SU864039480 A SU 864039480A SU 4039480 A SU4039480 A SU 4039480A SU 1456916 A1 SU1456916 A1 SU 1456916A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
comparator
diodes
level
low
diode
Prior art date
Application number
SU864039480A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Борис Семенович Таубе
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1742
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1742 filed Critical Предприятие П/Я А-1742
Priority to SU864039480A priority Critical patent/SU1456916A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1456916A1 publication Critical patent/SU1456916A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  логических интегральных схем при наладке и ремонте управл ющих вычислительных устройств . Цель изобретени  - повышение достоверности контрол  - достигаетс  за счет обеспечени  контрол  одиночных коротких импульсов. Устройство содержит щуп 1, соединенный с анодом первого 2 и катодом второго 3 диодов, например диодов Шоттки, компаратор 4, активный двухполюсник 5, источник 6 высокого опорного уровн , компара- тор 7 низкого уровн , двухполюсник 8 и источник 9 низкого опорного уровн . На чертеже также показаны блок 10 индикации и диоды 11 и 12, на которых могут быть выполнены активные двухполюсники 5 и 8. 2 ил. (Л СThe invention relates to a measurement technique and can be used to control logic integrated circuits when setting up and repairing control computing devices. The purpose of the invention — an increase in the reliability of control — is achieved by providing control of single short pulses. The device comprises a probe 1 connected to the anode of the first 2 and the cathode of the second 3 diodes, for example Schottky diodes, comparator 4, active two-port 5, high reference level source 6, low level comparator 7, low reference level 9. The drawing also shows the display unit 10 and the diodes 11 and 12, on which active two-terminal 5 and 8 can be performed. 2 Il. (Ls

Description

Фf/г.fFf / gf

Изобретение относитс  к измериельной технике и может быть использовано дл  контрол  логических интегральных схем при наладке и ремон- те управл ющих и вычислительных устройств .The invention relates to a measurement technique and can be used to control logic integrated circuits when setting up and repairing control and computing devices.

Цель изобретени  - повышение достоверности за счет обеспечени  контрол  одиночных коротких.импульсов. 10The purpose of the invention is to increase reliability by ensuring the control of single short pulses. ten

На фиг.1 представлена функциональна  схема логического пробника; на фйг,2а и б - временные диаграммы ра- боты известного и предлагаемого логических пробников при контроле ко- 15 ротких импульсов.Figure 1 shows the functional diagram of the logic probe; fig, 2a, and b are the time diagrams of the operation of the known and proposed logic probes when monitoring short pulses.

Устройство содержит щуп 1, соединенный с анодом первого 2 и катодом второго 3 диодов (например, диодов Шоттки) . Сигнальньй вход компар ато- 20 ра 4 высокого уровн  соединен с { катодом диода 2 и одним выводом активного двухполюсника 5, а его опорный вход - с другим выводом двухполюсника 5 и источником 6 высокого 25 опорного уровн .The device comprises a probe 1 connected to the anode of the first 2 and the cathode of the second 3 diodes (for example, Schottky diodes). The signal input of the high-level atom 4 compressor 4 is connected to {the cathode of diode 2 and one output of the active two-port 5, and its reference input is connected to the other output of the two-terminal 5 and source 6 of the high 25 reference level.

Сигнальньй вход .компаратора.7 низкого уровн  соединен с анодом диода 3 и одним выводом активного двухполюсника 8, а его, опорный вход - с 30 другим выводом двухполюсника 8 и источником 9 низкого-опорного уровн . Сопротивлени  двухполюсников 5 и 8 выбраны так, что они существенно больше сопротивлени  в цепи открытых з5 малоинерционных диодов 2 и 3, но существенно меньше сопротивлени  утечки этих диодов. Выходы компараторов 4 и 7 соединены с соответствующими входами блока 10 индикации. 40 Последний в. простейшем случае состоит из двух идентичных цепей, кажда  из которых содержит одновибратор, вход которого соединен с выходом соот- ветствуклцего компаратора, усилитель 45 мощности и световой индикатор. Причем одновибратор построен так, что при коротком сигнале компаратора он вырабатывает импульс, по длительности достаточный дл  зрительного вое- о при ти  (обычно 0,1-0,2 с)..Если длительность сигнала компаратора больше , чем у импульса, вырабатываемого одновибратором, то на выходе последнего возникает импульс, соответст- вующий длительности сигнала компаратора . A low level signal input .Compontora.7 is connected to the anode of diode 3 and one output of an active two-terminal 8, and its reference input is connected to 30 another output of a two-terminal 8 and a low-reference source 9. The resistances of the two-terminal networks 5 and 8 are chosen so that they are substantially greater than the resistance in the open 3 circuit of low-inertia diodes 2 and 3, but substantially less than the leakage resistance of these diodes. The outputs of the Comparators 4 and 7 are connected to the corresponding inputs of the display unit 10. 40 Last in. The simplest case consists of two identical circuits, each of which contains a single-shot, whose input is connected to the output of a corresponding comparator, a power amplifier 45 and a light indicator. Moreover, the one-shot is designed so that, with a short comparator signal, it produces a pulse that is long enough for the optic ward when it is (usually 0.1-0.2 s) .. If the duration of the comparator signal is longer than the pulse produced by the single-shot, then a pulse appears at the output of the latter, corresponding to the duration of the comparator signal.

Активные двухполкюники 5 и 8 могут быть выполнены, например , в виде полупроводниковых диодов 11 и 12, анод и катод первого из которых соединен соответственно с опорным и сигнальным входами компаратора 4 высокого уровн , а анод и катод второго - с сигнальным и опорным входами компаратора 7 низкого уровн .Active bivolleks 5 and 8 can be made, for example, in the form of semiconductor diodes 11 and 12, the anode and cathode of the first of which are connected respectively to the reference and signal inputs of the comparator 4 high level, and the anode and cathode of the second - to the signal and reference inputs of the comparator 7 low level

Работа пробника при .контроле импульсов обоих уровней отличаетс  только значением и пол рностью приложени  сигналов. Поэтому достаточно рассмотреть его работу дл  случа  контрол  импульсов, например, высокого уровн .The probe operation in controlling the pulses of both levels differs only in the value and polarity of the signal application. Therefore, it is sufficient to consider his work for the case of controlling pulses, for example, a high level.

Логический пробник работает следующим образом. , .Logical probe works as follows. ,

Щуп 1 подключаетс  к соответствующему выводу контролируемой логической схемы. При достаточно большой длительности импульса, например, высокого уровн  диод 2 открываетс , и контролируемьй импульс передаетс  на сигнальньй вход компаратора 4. Поскольку сопротивление в цепи открытого малоинерционного диода 2 существенно меньше сопротивлени  активного двухполюсника 5, то последний не оказывает вли ни  на имп- литуду передаваемого импульса. Если эта амплитуда превьшгает заданный с помощью источника 6 высокий опорньй уровень, то на выходе компаратора 4 по вл етс  сигнал наличи  высокого уровн . Этот сигнал вызывает кратковременную световую индикацию в блоке 10 индикации.The probe 1 is connected to the corresponding output of the controlled logic circuit. At a sufficiently long pulse duration, for example, a high level, diode 2 opens, and a controlled pulse is transmitted to the signal input of the comparator 4. Since the resistance in the circuit of the open low-inertia diode 2 is substantially less than the resistance of the active two-pole 5, the latter does not affect the impulse transmitted momentum. If this amplitude exceeds the high reference level specified by source 6, then a high level signal appears at the output of comparator 4. This signal causes a short light indication in the display unit 10.

При коротких контролируемых импульсах следует учитьшать вли ние (конструктивных и барьерных (полупроводниковых ) емкостей между сигнальным входом каждого компаратора и остальной частью пробника, которые, ка и и известном пробнике, про вл ют себ  как некотора  паразитна  емкост указанного сигнального входа, на общую шину.With short controlled pulses, the influence of (structural and barrier (semiconductor) capacitances between the signal input of each comparator and the rest of the probe, which, like a well-known probe, manifest as some parasitic capacitance of the specified signal input, on the common bus should be considered

При этом напр жение Е (фиг.26), до которого разр жаетс  эта паразитна  емкость, меньще опорного напр жени  источника 6 высокого уровн  на незначительную величину падени  на активном двухполюснике 5. В то же врем  высокий контролируемый у эовен и , до которого зар жаетс  указанна емкость, больше опорного напр жени  источника .высокого уровн  на величи порога срабатывани  компаратора 4. Практически разность V. - Е не превьппает 10-20 мВ. Следовательно, паразитна  емкость перезар жаетс  на величину , значительно меньшую полного перепада между высоким U, и низким lip контролируемыми уровн ми, и поэтому успевает зар дитьс  доамплитуды импульса даже при очень короткой длительности. Поскольку при этом паразитна  емкость разр жаетс  также незначительно, снижаетс  и частотна  погрешность контролируемых уровней коротких импульсов.At the same time, the voltage E (Fig. 26), to which this parasitic capacitance is discharged, is less than the reference voltage of the high-level source 6 by a small amount of incidence on the active two-pole circuit 5. At the same time, the high voltage at the controlled element and to which it is charged The indicated capacitance is greater than the reference voltage of the source. A high level is higher than the threshold value of the comparator 4. 4. In practice, the difference V. - E does not exceed 10-20 mV. Consequently, the parasitic capacitance is recharged by an amount much less than the total difference between high U and low lip controlled levels, and therefore it has time to charge up to a pulse amplitude even for very short durations. Since, at the same time, the parasitic capacitance is also slightly discharged, the frequency error of the monitored levels of short pulses decreases.

Активные двухполюсники 5 и 8 целесообразно выполнить в виде полупроводниковых диодов 11 и 12. Причем у диода 11 анод св зан с опорным, а катод - с сигнальным входами компаратора 4, а у диода 12 анод св зан с сигнальным, а катод .- с опорным входами компаратора v7.Active two-terminal 5 and 8 should be implemented in the form of semiconductor diodes 11 and 12. Moreover, for diode 11, the anode is connected to the reference, and the cathode to the signal inputs of the comparator 4, and for diode 12, the anode is connected to the reference, the inputs of the comparator v7.

В этом случае под действием высокого (положительного) контролируемого уровн  диод 11 запираетс . Его сопротивление возрастает, и практически весь импульс прикладываетс  к сигнальному входу компаратора 4. При переходе к низкому уровню мапоинер- ционный диод 2 закрываетс , а переход диода 11 смещаетс  в провод щем направлении. Причем падение напр жени  на диоде 11 весьма мало, т.е. последовательно с ним включено большое сопротивление закрытого диода 2. Следовательно, и в этом случае напр жение Е, , до которого перезар жаютс  паразитные емкости, мало отличаетс  от высокого контролируемогоIn this case, under the action of a high (positive) monitored level, the diode 11 is closed. Its resistance increases, and almost the entire pulse is applied to the signal input of the comparator 4. When switching to a low level, the mapping inertia diode 2 is closed, and the transition in diode 11 is shifted in the conducting direction. Moreover, the voltage drop across the diode 11 is very small, i.e. in series with it, a large resistance of the closed diode 2 is included. Consequently, in this case too, the voltage E, before which the parasitic capacitances are recharged, differs little from the high controlled

уровн  и, . Достоинством такого активного двухполюсника  вл етс  то, что требуемое соотношение его сопротивлени  с сопротивлением цепи малоинерционного диода устанавливаетс  автоматически под действием контролируемого импульса. Кроме того, па- level and The advantage of such an active two-pole network is that the required ratio of its resistance to the resistance of the low-inertia diode circuit is established automatically under the action of a controlled pulse. In addition,

-  -

дение напр жени  на полупроводниковом диоде 11 (12) мало зависит от температуры , так как его сопротивление измен етс  в ту же сторону, что и обратное сопротивление последовательно включенного с ним малоинерционно- го диода 2 (3).The voltage on a semiconductor diode 11 (12) depends little on temperature, since its resistance changes in the same direction as the reverse resistance of a low-inertia diode 2 (3) connected in series with it.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Логический пробник, содержащийLogical probe containing щуп, соединенные с ним соответственно анодом первый и катодом второй диоды, компараторы высокого уровн  и низкого уровн , опорные входы которых соединены соответственно с выходами источника высокого уровн  и источника низкого уровн , сигнальные входы - соответственно с катодом первого и анодом второго диодОв, а выходы - соответственно с первым и вторымa probe connected to it by an anode first and a cathode second diodes, high and low level comparators, the reference inputs of which are connected respectively to the high level source and low level source, the signal inputs to the first cathode and the second anode, respectively, and the second diode, and outputs respectively with the first and second входами блока индикации, отличающийс  тем, что, с целью повышени  достоверности за счет обеспечени  контрол  одиночных коротких импульсов в него введены два двухполюсника с активным сопротивлением, каждый из которых соединен с сигналь- ;ным и опорным входами соответственно компаратора высокого уровн  и компаратора низкого уровн .inputs of the display unit, characterized in that, in order to increase reliability by providing control of single short pulses, two two-pole resistors are introduced into it, each of which is connected to the signal and reference inputs of the high-level comparator and the low-level comparator, respectively. иand .. иand фиг. 2FIG. 2
SU864039480A 1986-03-20 1986-03-20 Logic tester SU1456916A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864039480A SU1456916A1 (en) 1986-03-20 1986-03-20 Logic tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864039480A SU1456916A1 (en) 1986-03-20 1986-03-20 Logic tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1456916A1 true SU1456916A1 (en) 1989-02-07

Family

ID=21227315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864039480A SU1456916A1 (en) 1986-03-20 1986-03-20 Logic tester

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1456916A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР 785807, кл. G 01 R 31/28, 1978. Патент US № 4145651, кл. 324-72.5, 1979. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4429236A (en) Apparatus for generating pulses upon decreases in supply voltage
US5479103A (en) Non-linear voltage measuring implementing capacitor charging time
US4317056A (en) Voltage monitoring and indicating circuit
JPH0456488B2 (en)
FR1576123A (en)
SU1456916A1 (en) Logic tester
US4370619A (en) Phase comparison circuit arrangement
US4881072A (en) Device for remote metering
US4365203A (en) Multi-frequency clock generator with error-free frequency switching
US4178585A (en) Analog-to-digital converter
CN209961878U (en) Test circuit for panel detection
US4017794A (en) Circuit for measuring time differences among events
JPH05312896A (en) Method and device for measuring conduction of scr
US5745062A (en) Pulse width modulation analog to digital converter
US3644751A (en) Digital capacitance meter
RU2723968C1 (en) Device for determining load capacity of microcircuits
SU1032559A1 (en) Device for checking condition of thyristors connected in series in converter
SU1195438A1 (en) Pulse signal inverter
SU1443058A1 (en) Device for cell-wise monitoring of storage battery voltage
SU1705778A1 (en) Probe to check logic device circuits
SU1104448A1 (en) Electronic unit checking device
SU532961A1 (en) Threshold clocked device
SU1105836A1 (en) Device for checking clock-pulse generator
SU978085A1 (en) Device for checking integrated circuit contacting
RU2236749C1 (en) Multivibrator