SU978085A1 - Device for checking integrated circuit contacting - Google Patents
Device for checking integrated circuit contacting Download PDFInfo
- Publication number
- SU978085A1 SU978085A1 SU813305221A SU3305221A SU978085A1 SU 978085 A1 SU978085 A1 SU 978085A1 SU 813305221 A SU813305221 A SU 813305221A SU 3305221 A SU3305221 A SU 3305221A SU 978085 A1 SU978085 A1 SU 978085A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- output
- contacts
- input
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
га и повышение достоверности контрол .ha and increase the reliability of control.
Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл контрол контактировани интегральных схем, содержащее измеритель параметров, 5 соединенный первым входом через нормально замкнутые контакты первой группы контактов реле и первый зонд с первым выводом интегральной схемы, соединенной вторым выводом с-общей 10 шиной устройства, третьими выводами через вторые зонды и соответствующие нормально замкнутые контакты вторых групп контактов реле - с вторыми входами измерител параметров, источник 5 напр жени , соединенный выходами через резисторы с соотбетствующими нормально разомкнутыми контактами вторых групп контактов реле, триггеры , соединенные выходами с соответст-2д вующими входами элемента ИЯИ-НЕ, йедены двупороговые дискриминаторы, элемент индикации, элемент И-НЕ, первый и второй элементы задержки, элементы И, .одновибратор и кнопка, сое- с диненна перв.ым выводом с общей шиной устройства, вторым выводом - -первыми входамитриггеров, первого элемента задержки и одновибратора, соединенного выходом непосредственно с обмоткой реле, а через второй элемент задержки - с первым входом элемента ИТ-НЕ, соединенного выходом с третьим входом измерител , параметров, вторым входом с выходом элемента ИЛИ-НЕ соединенного входами с соответствующий 35 ми входами элемента индикации, вторые входы триггеров соединены с выходами соответствующих элементов И, соединенных первыми входами с выходами первого элемента задержки, вторыми 40 входами через соответствующие двупороговые дискриминаторы - с нормально разомкнутыми контактами вторых групп контактов реле.The goal is achieved by the fact that the device for controlling the contacting of integrated circuits, which contains a parameter meter, 5 is connected by the first input through normally closed contacts of the first relay contact group and the first probe to the first output of the integrated circuit connected by the second output to the common 10 bus device, third terminals through the second probes and the corresponding normally closed contacts of the second relay contact groups - with the second inputs of the parameter meter, voltage source 5, connected by the outputs via p Sistors with corresponding normally open contacts of the second relay contact groups, triggers connected to the outputs with corresponding 2d inputs of the NRN-NI element, two-threshold discriminators, display element, NAND element, first and second delay elements, AND elements, .odonibrator and the button connected to the first pin with the common bus of the device, the second pin from the first inputs of the triggers, the first delay element and the one-shot connected to the output directly to the relay coil, and through the second delay element with the first input of the IT-NOT element connected by the output to the third input of the meter, parameters, the second input to the output of the OR-NOT element connected by the inputs to the corresponding 35 inputs of the display element, the second inputs of the triggers are connected to the outputs of the corresponding And elements connected by the first inputs to the outputs the first delay element, the second 40 inputs through the corresponding two-threshold discriminators - with normally open contacts of the second relay contact groups.
На чертеже представлена структур- 45 на электрическа схема устройства дл контрол контактировани инте-. гральных схем.The drawing shows the structure-45 of the electrical circuit of the device for controlling contacting of the Internet. grail schemes.
Устройство содержит испытуемую ИС 1, зонды 2 или контакты 2 ко- JQ лодочного узла) по числу контактных площадок ИС 1 (выводов ИС 1), реле 3, измеритель 4 параметров, резисторы 5, источник б напр жени , двупороговые 1 дискриминаторы 7,1 элементы И 8, триг- с геры 9, индикатор 10, элемент ИЛИ-НЕ 11, одновибратор 12, первый 13 и второй 14 элементы задержки, элемент И-НЕ 15 и кнопку Пуск 16.The device contains the tested IC 1, probes 2 or contacts 2 of the boat-jQ node) according to the number of contact pads of IC 1 (IC outputs 1), relay 3, meter 4 parameters, resistors 5, voltage source b, double-threshold 1 discriminators 7.1 the elements AND 8, the trigger 9, the indicator 10, the element OR NOT 11, the one-shot 12, the first 13 and second 14 delay elements, the element NOT 15 and the Start button 16.
Устройство работает следующим образом.60The device works as follows.
При контроле контактировани ИС контактные площадки структур на плас тине Свыводы готовых ИС) дл подключени источника питани ИС закорачивсиотс на корпус, а осталь- 65When controlling the contact of the IC, the contact pads of the structures on the plate (Svyvody ready-made ICs) for connecting the power supply of the IC are short-circuited to the housing and the rest 65
ные выводы ИС разбиты на две группы в зависимости от типа канала выходного транзистора (пол рности подключени защитного диода ) и подключены через токоограничивающие резисторы The IC outputs are divided into two groups depending on the type of the output transistor channel (polarity of the protective diode connection) and connected through current-limiting resistors
5к разноименным выходам источника5k to the opposite source outputs
6напр жени таким образом, чтобы обеспечить открытое состо ние этого транзистора ( пр мое смещение диода-;. При коротком замыкании контролируемого вывода на общую шину на входе двухпорогового дискриминатора 7 1рисутствует нулевой-уровень потенциала , при отсутствии контракта - Высокий уровень потенциала (равный6 in order to ensure the open state of this transistor (direct diode-offset;; when a short-circuit monitored output to the common bus at the input of the two-threshold discriminator 7; 1 there is zero potential level, in the absence of a contract, High potential (equal to
напр жению источника 6), а при наличии контакта дл исправной ИС - низкий уровень потенциала. В первых двух случа х на выходе двухпорогово ,го дискриминатора 7 устанавливаетс логическа единица, а в третьем случае - логический нуль. Уровень низкого потенциала ограничен сверху и снизу и устанавливаетс дл кгикдого вывода ИС независимо.source voltage 6), and if there is contact for a serviceable IC, the potential is low. In the first two cases, a logical one is set at the output of the two-threshold discriminator 7, and in the third case - a logical zero. The low potential level is bounded above and below and is set independently for the IC output.
После опускани зондов 2, на контактные площадки ИС 1 и нажати кнопки Пуск 16 происходит запуск одновибратора 12, первогр элемента 13 задержки и сброс триггеров 9 и индикатора 10. Во врем действи импульса одновибратора 12 получает питание обмоткафеле 3, срабатывают его контакты , подключа выводы провер емой ИС 1 к источнику б напр жени через резисторы 5 и ко входам двухпороговы дискриминаторов 7, которые анализируют уровни потенциалов на выходах микросхемы 1. По истечении времени надежного срабатывани реле 3 и переходных .процессов в двухпороговых дискриминаторах 7на выходе первого элемента 13 задержки по вл етс короткий положительный импульс, поступающий на стробирующие ёходы элементов И 8. Если к этому моменту времени на выходе хот бы одного из двухпороговых дискриминаторов 7 присутствует логическа единица, срабатывает соответствующий триггер 9, включаетс индикаци номера оборванного неиспраного вывода, на вход элемента И-ИВ 15 через элемент ИЛИ-НЕ 11 поступает уровень логического нул , запреща последующий запуск измерител 4 параметров . Если на выходах всех двухпороговых дискриминаторов 7 устанавливаетс логический нуль, триггеры 9 остаютс в исходном состо нии, нп выходе элемента ИЛИ-НЕ 11 - логическа единица. По заднему фронту импульса одновибратора 12 запускает с второй элемент 14 задержки, на .выходе - которого по истечении времени отпускани контактов реле 3 по вл етс короткий положительный импульс, поступгиощий через элемент И-НЕ 15 на разрешающий вход измериAfter lowering the probes 2, onto the IC pads 1 and pressing the Start 16 button, the one-shot 12 starts, the delay element 13 is started and the flip-flops 9 and the indicator 10 are reset. During the pulse of the one-shot 12, the winding 3 is energized, its contacts are activated, connecting IC 1 to the voltage source b through the resistors 5 and to the inputs of the two threshold discriminators 7, which analyze the potential levels at the outputs of the chip 1. After a time of reliable operation of the relay 3 and transient processes in two The threshold discriminators 7 at the output of the first delay element 13 appear a short positive pulse arriving at the gate gate of the elements of AND 8. If by this point in time at the output of at least one of the two threshold discriminators 7 there is a logical unit, the corresponding trigger 9 is activated, the number of the broken non-corrupted output, the logical zero level comes to the input of the I-IV 15 element through the OR-NOT 11 element, prohibiting the subsequent launch of the 4-parameter meter. If at the outputs of all the two threshold discriminators 7 a logical zero is set, the triggers 9 remain in the initial state, np the output of the OR-NOT 11 element is a logical one. On the falling edge of the one-shot pulse 12, it starts with the second delay element 14, on the output — which, after the release time of the contacts of relay 3, a short positive pulse arrives, coming through the IS 15 element to the enable input
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813305221A SU978085A1 (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Device for checking integrated circuit contacting |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813305221A SU978085A1 (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Device for checking integrated circuit contacting |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU978085A1 true SU978085A1 (en) | 1982-11-30 |
Family
ID=20964579
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813305221A SU978085A1 (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Device for checking integrated circuit contacting |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU978085A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845475A (en) * | 1987-11-17 | 1989-07-04 | The Boeing Company | Automatic testing of position sensing devices employing stored sensed position |
-
1981
- 1981-06-19 SU SU813305221A patent/SU978085A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845475A (en) * | 1987-11-17 | 1989-07-04 | The Boeing Company | Automatic testing of position sensing devices employing stored sensed position |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4544910A (en) | Exit sign lamp flashing system with self-checking provisions | |
KR940006001B1 (en) | Relay device | |
US11489331B2 (en) | Leakage current detection and protection device, and power connector and electrical appliance employing the same | |
SU978085A1 (en) | Device for checking integrated circuit contacting | |
CN110958002B (en) | Solid state power switching device | |
US12003089B2 (en) | Short to ground protection and automatic recovery | |
US4344101A (en) | Testers | |
US4008417A (en) | Phase loss detector | |
US3405357A (en) | Continuity test bridge circuit with silicon-controlled rectifier indicator means | |
SU1483411A1 (en) | Device for testing integrated circuit contacting | |
SU1054823A1 (en) | Device for testing relay for service life | |
SU1112327A1 (en) | Logic probe | |
SU1056089A1 (en) | Device for checking integrated microcircuits | |
SU1300472A1 (en) | Device for checking quality of contact between integrated circuits | |
SU512439A1 (en) | Device for testing the insulation resistance of electrical circuits | |
SU1669077A1 (en) | Stimulus generator | |
SU1265980A1 (en) | Device for eliminating effects of contact chattering | |
SU1064243A1 (en) | Device for checking semiconductor diodes | |
KR970007089Y1 (en) | Circuit for testing a semiconductor device | |
SU1239654A1 (en) | Device for automatic monitoring of electric circuits with capacitors | |
SU1045178A1 (en) | Integrated circuit contacting checking device | |
SU472346A1 (en) | Monitoring device for contacting probe installations | |
KR960008878Y1 (en) | Relay tester | |
SU1383304A1 (en) | Timer group controller | |
SU1176270A1 (en) | Device for checking engagement of leads of integrated circuit |