SU1081494A1 - Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов - Google Patents

Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов Download PDF

Info

Publication number
SU1081494A1
SU1081494A1 SU823496171A SU3496171A SU1081494A1 SU 1081494 A1 SU1081494 A1 SU 1081494A1 SU 823496171 A SU823496171 A SU 823496171A SU 3496171 A SU3496171 A SU 3496171A SU 1081494 A1 SU1081494 A1 SU 1081494A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
absorbing materials
radiographic
texturizing
intensively
checking
Prior art date
Application number
SU823496171A
Other languages
English (en)
Inventor
Виталий Васильевич Прокопенко
Виктор Тарасович Неумержицкий
Original Assignee
Предприятие П/Я Ю-9877
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Ю-9877 filed Critical Предприятие П/Я Ю-9877
Priority to SU823496171A priority Critical patent/SU1081494A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1081494A1 publication Critical patent/SU1081494A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ПОРОШКОЮГО ОБРАЗЦА ДЛЯ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СИЛЬНОТЕКСТУРУЮШИХСЯ СЛАБОПОГЛО1ЦА СЩЙХ МАТЕРИАЛОВ, включающий нанесение моночастичного сло  материала на плоскую клеевую подложку , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности контрол  без увеличени  его продолжительности и усложнени , производ т обработку нанесенного сло  легколетучим разбавителем кле .

Description

Изобретение относитс  -к области исследовани  материалов с помощью рентгеновского излучени  средствами дифрактометрии, а точнее к области получени  и подготовки образцов при анализе сильнотекстурующихс  слабопоглощающих материалов. Известны способы приготовлени  плоских образцов порошковых проб дл  случа  сильнотекстурующихс  слабопоглощающих материалов.,не позвол ющие получать достаточно точные и воспроизводимые результаты по определению рентгеноструктурных параметров , поскольку текстура (преим щественна  ориентаци  кристаллитов) и слабое подглощение в образце вли ют как на угловое положение максиму ма дифракционного отражени , так и на его полуширину 1. Известен также способ приготовле ни  порошкового образца сильнотекстурующихс  материалов, заключающийс  в том, что порошкообразный материал перед набивкой кюветы обрабаты вают обволакивающим реагентом с целью получени  капсул с формой, максимально приближенной к сферической 2J. В этом случае устран етс  тексту ра в образце, но из-за эффекта разбавлени  и изменени  коэффициента поглощени  пробы резко возрастают трудности в определении геометричес кого уширени  дифракционного отраже ни , и проведение анализа становитс  трудоемким. Наиболее близким техническим реш нием к изобретению  вл етс  способ приготовлени  порошкового образца дл  рентгенографического контрол  сильнотекстурующихс  слабопоглощающих материалов, включающий нанесение моночастичного сло  материала на плоскую клеевую подложку СЗ j. Недостаток известного способа состоит в том, что вли ние текстуры и все св занные с ней погрешности не устран ютс , так как частицы при напылении прилипают к подложке самым разнообразным образом, в результате либо оказываетс  недоста точной точность контрол , либо понижаетс  его производительность и возрастает трудоемкость. Цель изобретени  - повышение точ ности контрол  без увеличени  его продолжительности и усложнени . Цель достигаетс  тем, что соглас но способу приготовлени  порошкового образца дл  рентгенографического контрол  сильнотекстурующихс  слабопо-глощающих материалов, включа щему нанесение моночастичного сло  материала на плоскую клеевую подложку , производ т обработку нанесен ного сло  легколетучим разбавителем кле . Сущность предложенного способа сосостоит в том, что нанесенные на плоскую подложку, покрытую клеем, частицы материала занимают кристаллографически производные положени , однако в результате обработки легколетучих разбавитетем верхний клеевой слой кратковременно разжижаетс , и под действием сил т жести анизотропные частицы образца длинными ос ми выстраиваютс  параллельно поверхности подложки. Хот  текстура при этом не только не снимаетс , а наоборот увеличиваетс , она каждый раз реализуетс  наиболее полно (т.е. единообразно) дл  всех материалов, что приводит к улучшению воспроизводимости результатов и соответственно к увеличению точности анализа. Пример. Установка погрешности определени  рентгеноструктурных параметров порошкообразных образцов: межслоевого рассто ни  ( -/2) и размеров кристаллитов вдоль оси С (LJ,). Исследуемым материалом служил естественный кыштымский графит с размером частиц О,.08 мм. Порошкообразные образцы готовили трем  способами: 1.В кювету 0,5 мм насыпали смесь исследуемого материала с крахмалом, которую смачивали спиртом, затем избыток срезали лезвием параллельно рабочей плоскости кюветы. 2.Подложку из оргстекла покрывали тонким слоем спирторастворимого кле  и сверху насыпали исследуемый материал. Избыток стр хивали, переворачива  подложку. 3.Подложку из оргстекла так же как и во втором способе покрывали тонким слоем спирторастворимого кле  и сверху насыпали исследуемый материал. Его избыток стр хивали, а затем-на поверхность образца наносили . 2-3 капли этилового спирта. Через 20-30 с спирт улетучивалс . Образец .был готов дл  анализа. Съемку проводили на рентгеновском дифрактометре в медном излучении СиКр Ni-фильтром. Каждым способом приготавливали 15 образцов. По полуширине линии (002) определ ли размер кристаллитов по оси С (L ), а по угловому положению линии (004) - межслоевое рассто ние в графите (dooj)В качестве критери  точности использовали доверительную погрешность отдельных измерений d t-u, где (о - среднеквадратична  погрешность отдельных измерений, определенна  из 15 параллельных опытов,t - коэффициент Стьюдента. Результаты определени  погрешностей приведены в таб.аицп .
+0,0007 +10
+0,0009 ±120
±0,0007 ±20
+0,0008 . ±20
±0,0001 ±20
+50
+0,0005
Из таблицы вибно, что использование предлагаемого способа приготовлени  порошкового образца сильнотекстурующегос  слабопоглощающего материала дл  рентгенодифрактометрического анализа обеспечивает по сравнению с известными способами
.уменьшение случайной погрешности, обусловленной текстурой,и систематической погрешности, св занной с конечной толщиной поглощающего сло , что позвол ет повысить точность проведени  анализа в 1 ,5-3 раза без увеличени  его длительности и трудоемкости.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ПОРОШКОВОГО ОБРАЗЦА ДЛЯ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СИЛЬНОТЕКСТУРУЮШИХСЯ СЛАБОПОГЛОЩАКЩЙХ МАТЕРИАЛОВ/ включающий нанесение моночастичного слоя материала на плоскую клеевую подложку, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля без увеличения его продолжительности и усложнения, производят обработку нанесенного слоя легколетучим разбавителем клея.
    § со
SU823496171A 1982-10-01 1982-10-01 Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов SU1081494A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823496171A SU1081494A1 (ru) 1982-10-01 1982-10-01 Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823496171A SU1081494A1 (ru) 1982-10-01 1982-10-01 Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1081494A1 true SU1081494A1 (ru) 1984-03-23

Family

ID=21030715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823496171A SU1081494A1 (ru) 1982-10-01 1982-10-01 Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1081494A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М., ФМ, 1961. 2.Ковба Л.М., Трунов В.К. Рентгенофазовый анализ. Изд-во МГУ, 1976. 3.N.Christu et.al Charakterisierung von Kohlenstoffen und Graphiten dui;eh Analyse der (OOl) - rSntgen interferenzen. Carbon, 1969, 7, № 3, 397-411. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Langridge et al. The molecular configuration of deoxyribonucleic acid: I. X-ray diffraction study of a crystalline form of the lithium salt
LeRoux et al. Direct quantitative X-ray analysis by diffraction-absorption technique
JPH0746111B2 (ja) 試料分析方法及びこれを用いた自動分析装置
JP2003506673A (ja) 半導体ウェハのテクスチャ解析のための装置および方法
SU1081494A1 (ru) Способ приготовлени порошкового образца дл рентгенографического контрол сильно текстурующихс слабопоглощающих материалов
Parrish et al. Accuracy and precision of intensities in X-ray polycrystalline diffraction
US3855470A (en) Process and apparatus for x-ray crystallography
Duwez et al. Quantitative Analysis of Cubic and Monoclinic Zirconia by X‐ray Diffraction
Chernock et al. An Automatic X‐Ray Reflection Specimen Holder for the Quantitative Determination of Preferred Orientation
DE3522098C2 (ru)
CN110609048A (zh) 基于单色x射线衍射的标定方法
Clemmons Procedures and errors in quantitative historadiography
Varriano‐Marston An infrared microspectroscopy method for determining deterrent penetration in nitrocellulose‐based propellant grains
Carlström Micro x-ray diffraction techniques for use in histochemistry
RU2808059C1 (ru) Способ создания стандартных калибровочных образцов химических элементов в виде сухих пленок для лазерной спектрометрии биологических образцов
Davis et al. Quantitative X-ray powder diffraction analysis applied to transmission diffraction
Eksperiandova et al. Specimen preparation for X-ray fluorescence analysis of solutions
DE930898C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke von plastischen, insbesondere fluessigen Filmen (plastischen Schichten)
KR20180036351A (ko) 헥토라이트를 포함하는 액상 원료의 xrd를 이용한 분석 방법
JPH0222544A (ja) 蛍光x線分析方法
Kay Rapid quartz analysis by X-ray spectrometry
RU1778651C (ru) Способ определени физических параметров надмолекул рной структуры древесных целлюлоз
JP4339997B2 (ja) 分析用標準試料のデータ取得方法、並びにこの標準試料を用いたx線分析方法および装置
Lange Comparison between crystalline islet A granules in teleosts and crystals of the hormone glucagon
RU2099693C1 (ru) Способ анализа липопротеидов в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния