SU1075074A1 - Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1075074A1 SU1075074A1 SU823408663A SU3408663A SU1075074A1 SU 1075074 A1 SU1075074 A1 SU 1075074A1 SU 823408663 A SU823408663 A SU 823408663A SU 3408663 A SU3408663 A SU 3408663A SU 1075074 A1 SU1075074 A1 SU 1075074A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- optical
- power supply
- output
- input
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
1, Способ определени оптической толгдины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийс в том, что облучают интерферометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистрируют сдвиг максимумов интерференционной картины, по которому определ ют оптическую толщину, отлич ающийс тем, что, с целью упрощени определени оптической толщины, облучение интерферометра производ т излучением на двух длинах волн, модул цию интерференционной картины осуществл ют сканиру оптическую толщину интерферометра линейно измен ющимс напр жением , а оптическую толщину определ ют по формуле А 4 (K, Т где X, и Хл длины волн излучени ; &Г врем между моментами по влени соседних максимумов одного пор дка дл X, и ,Я2,г Т врем между моментами по влени двух максимумов соседних пор дков дл одной из длин волн Л , или fl-j. --1 сд
Description
2. Устройство дл определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучени , установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьеэоэлементом, распо .ложенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации,подключенный к выходу последнего, блок питани интерферометра , информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки
информации и блока питани интерферометра , отлич ающийс тем, что, с целью упрощени конструкции , источник оптического излучени выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фильтр, а блок питани выполнен в виде генератора треугольных импульсов и сумматооа, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй вл етс входом блока питани , соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора вл етс выходом блока питани , а вход генератора треугольны импульсов - син.хронизирующим входом блока питани .
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть исполь зовано при измерении размеров и перемещений объектов дл автоматическо го регулировани рассто ни между пластинами интерферометра, вход щей в состав измерительной системы. Известен способ определени опти ческой толщины интерферометра, заключающийс в облучении его монохроматическим коллимированным излучени ем под разными углами и анализе смещени интерференционной картины l Известно устройство дл определени оптической толщины интерфероМетров , содержащее источник излучени и расположенные по ходу светового луча управл емый оптический фильт коллиматор, блок призм, раздел ющий световой поток на два пучка с различными углами наклона к оптической оси, интерферометр, линзу и фотоприемник:в каждом из световых потоков и измерительную схему, содержащую компа ратор, соединенный с блоком управлени интерферометром il . Недостатком устройства и способа вл етс efo сложность, вызванна необходимостью облучени интерферометра излучением под разными углами, в частности наличи в конструкции устройства сложного оптического блока и поворотного блока в интерферометре .-. Наиболее близким к изобретению вл етс способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийс в том, что облучают интерферометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистрируют сдвиг максиг« умов интерференциальной картины , по которому определ ют оптическую толщину. Регистраци производитс при изменении угла падени излучени на интерферометр 2 . Наиболее близким к изобретению вл етс устройство дл определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучени , установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьезоэлементом, расположенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питани интерферометра, информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра , задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки информации и блока питани интерферометра. Источник света выполнен монохроматическим , а блок питани содержит компаратор, источник опорных напр жений , соединенный с последним, блок пам ти и усилитель мощности, а оптический канал содержит блок модул ции угла падени излучени на пластины интерферометра 2 . Недостатком известного способа и устройства вл етс их сложность, обусловленна необходимостью обеспечени изменени угла падени излучени на пластины интерферометра. Целью изобретени вл етс упро щение, определени оптической толщи ны, и упрощение конструкции устрой ства. Поставленна цель достигаетс тем, что согласно способу определе НИН оптической толщины сканирующег интерферометра Фабри-Перо, заключаю щемус в том, что облучают интерфе рометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистри руют сдвиг максимумом интерференционной картины, по которому определ ют оптическую толщину, облучение интерферометра производ т излучение на двух длинах волн, модул цию инте ференционной картины осуществл ют сканиру ,оптическую толщину интерфе рометра линейно измен ющимс напр жением , а оптическую толщину опреде л ют по формуле р Я, t X 2 . . 4 Т где Х , Х - длины волн излучени ; лт - врем между моментами по влени соседних ма симумов одного пор дк дл X, и -Я 2; Т - врем между моментами по влени двух максимумов соседних пор дков дл одной из длин волн Я или Л 2 Поставленна цельдостигаетс тем что в устройстве дл определени оп тической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащем источник оптического излучени , уста новленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пъезоэлементом, расположенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемнйк, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питани интерферометра , информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхровизирующими входами блока обработки информации и блока питани интерферометра , источник оптического излучени выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фиЛ.тр, а блок питани вь1Полнен в виде генератора треугольных импульсов и сумматора, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй вл етс входом блока питани , соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора вл етс выходом блока питани , а вход генератора треугольных импульсов - синхронизирующим входом блока питани . На фиг. 1 изображен график распределени интенсивности освещенности в интерференционной картине; на фиг. 2 - блок-схема устройства. Способ основан на том, что облучают интерферометр излучением на двух данных волн, анализируют апНарать1ую функцию (зависимость коэффициента пропускани от оптической толйшны), котора определ етс формулой Эри -1 . ч-а -К- ) где о - коэффициент пропускани ; - коэффициент отражени пластин интерферометра; Л,,7,- длина- волн излучени ; ° - оптическа толщина интерферометра; ф - угол падени излучени на пластины, принимает вид, показанный на фиг. 1. В результате анализа устанавливают , что рассто ние между максимумами соседних пор дков при нормальном падении излучени () дл -,(1.) равно л,/2, а дл (Ьп) соответственно а /2. Следовательно рассто ние между аксимумами интерференции одного по дка (дЕп ) дл , и Я равно лР - .llllj ЬЦ где h - пор док интерференции, соответствующий определенной оптической толщине интерферометра l.V.. де за f принимаетс I еЕ,, f 2п оптические толщины интерферометра , соответствующие интерференционным максимумам одного пор дка . В результате преобразований получ e i--2exn птическа толщина интерферометра опорциональна рассто нию между аксимумами интерференции одного по дка дл -2 и ( ) Дл упроотнос т к рассто нию меж соседних пор дков . q ( Ь ij ) . При ЭТОМ Vv л - 1 п. jT -7 Затем модулируют интерференционную теартииу . Отношение рассто ний , L замен ют на отношение соответствующих вр менных интервалов йТ(Т, аЕ)-п ЭТ .е. с погрешностью не более ft-p 12. м но допустить, что определ ема по (б) толщина интерферометра мен етс не дискретное в соответст вии с изменением пор дка интерфес-енции , а непрерывкой. При этом оп ч ;ческую толщину сканирующего инте ф-г;рометра ©абри-Перо, определ ют п шорктуле .. ло А,4 so С.Т нрем между момег-ггамн по лени соседних максимумов одного пор дка дл и А врем между моментам- по в лени двух максимз-мов соседних пор дков дл образом, оптическа на интерферометра определ етс иэ огноидекию Д Т| Т . Устройство дл опр-еделени опти-iccKOK аодщины интерферометра,- реа-л зующ.ее предлагаемый способ, состоит K:-J источника 1 оптического излучени (спектргшьной лампы), ус1ановле ных последовательно-ходу светового луча ьсоллиматора 2, опт:-ГчеокогО фильтра 3, интерферометра 4, линзы диао рагмн 6,- (кру.тлой диафргьгмы, вы дел ющей центр интерференционной картины) ,-, и фотоприемника 1, блока обработки информации, соединенного фотоприемникоь 7, блок 9 питани ин терферометра, соединенный с блоком обработ и информации, зад.ai-oiueго ген ратора 10 пр моугольных импульсов, соединенного с синхронизирующими входами блока 8 обработки информаци и блокг 9 питани интерферометра, интерферометр 4 содержит пьезоэлемент 11, соединенный с выходом блока 9 питани интерферометра. Блок 8 обработки ин-формации сост ит из формировател 1.2 импульсов, коммутатора 13, соединенного с последни - по двум входам ге.нератора частотных меток, соединенно.го с- ком мутатором 13, соединенных последовательно по двум выxoдa зла 15 двоичных счетчиков, узла 16 вводаззода и вьгчислител 17, соединенных последовательно запоминающего узла 18 и цифро-аналогового преобразовател 19, фop п5poвaтeль 12 соединен также с узлом 16, который св зан таке с запомлнаюгцим узлом 18. Блок 9 питани интерферометра состоит из соединенных последдовательно генератора 20 треугольных импульсов и сумматора 21, второй вход которого вл етс информационным входом блока 9 питани , соединенным с дифро-аналоговым преобразователем 19 блока 8 обработки информации, выход сумматора 21 вл етс выходом блока 9 питани , соединенным с пьезоэлементом 11, вход генератора 20 треугольных импульсов и второй вход зaпo 1инающего узла 18 вл ютс синхронизирующими входами соответственно блока 8 обработки информации и блока 9 питани . Устройство работает следующим образом. При облучении интерферометра 4 излучен ;ем,- содержащим две длины волны 7, и Ki и про -1ед111им через коллиматор 2 и оптический фильтр 3, от источника 1 опорного излучени , (спектральной лампы), на выходе интерферометра 4, в проход щем свете, по вл етс интерферен лиональна картина , (образованна двум независимыкад система.да колед, соответственно, от . ., и 7 , котора с помощью линзы 5 фокусируетс на чувствительную площадку фотоприемника 7. При этом диафрагмой б выдел етс и.ентр интерференционной картины. Рассто ние между максимума -ли ( (кольцаг и) интерференции равного пор дка , соответствующих разным длинам волн, зависмт V.Q только от значений длины волн, но и от оптической толщины интерферометра 4, Рассто ние же между максимумами соседних ПОРЯДКОВ; соответствующих одной длине волны, например, htj , не зависит от оптической толщины интерферометра 4 и пропорционально , Задающ 1м генератором 10 и генератором 20 треугольных импульсов вырабатываетс линейно измен ющеес напр жение, которое после сумматора 21 подаетс на пьезоэлемент 11. Амплитуда подаваемого напр жени Uj-,, определ етс из услови равенства амплитуды модул ции интерференциальной картины рассто нию- между мaкcимi ia и соседних пор дков интерференции, т . е .11 j , где К - цьезоэлектр11ческий модуль столбиков пьезоэлемеггга 1 1 интерферометра 4 . При подаче напр жени на столбики пьезоэлемента 11 происходит сканирование оптической толщины интерферометра 4 и, следовательно, модул ци интерференционной картинь-i,;вызывающа на выходе фотоприемника б измбшение электрического сигнала. Это изменение анализируюТ блоком f обработки информации. При этом с выходов формировател 12 снимаютс импульсы разной длительности, равной соответственно интервалу времени между моментами по влени максимумов интерференции одного пор дка дл и Tiq (лТ) и интервалу времени между моментами по влени максимумов соседних пор дков интерференции дл большей длины волны Ад (Т) . Следовательно , длительности этих импуль сов пропорциональны соответственно, перва - оптической толщине интерфе рометра 4, втора - только длине волны Т12 f и используетс дл норми ровани первого импульса. Затем с помощью коммутатора 13, генератора и узла 15 происходит заполнение импульсов частотными метками и пересчет этих меток. Затем узел 16 осуществл ет ввод значений длительности сформированных импульсов в вычислитель 17, где в соответствии с программой определ етс толщина интерферометра 6 , Полученное текущее значение толщ ны отображаетс на табло вычислител и сравниваетс с заданным. При этом разностный сигнал с помощью узла 16 выводитс из вычислител 17 в цифровой форме, поступает в запоминающий узел 18, где хранитс до прихода следующего сигнала и затем, с помощью преобразовател 19, преобразуетс в аналоговую форму. Поступа в блок 9 питани интерферометра , сигнал суммируетс с линейно измен ющимс напр жением и подаетс одновременно на все столбики пьезоэлемента 11. При этом толщина интерферометра 4 мен етс в зависимости от знака разностного сигнала. Если измеренна толщина оказалась больше заданной Рд , то знак разностного сигнала,, поступающего на пьезоэлемент 11, положителен и вызывает уменьшение толщины интерферометра 4 и т.д. Процесс идет до полной установки оптической толщины, т.е. равенства нулю разностного сигнала , (при этом на вход сумматора 21 подаютс разнопол рные импульсы треугольной формы), а на выходе сумматора изменение напр жени происходит в обе стороны от величины посто нного смещени (или разностного си гнал а), которое соответствует устанавливаемой толщине интерферометра 4(. Таким образом, при использовании в качестве источника оптического излучени спектральной лампы, излучение которой содержит не менее двух длин волн, и выполнени блока питани интерферометра в виде генератора треугольных импульсов и сумматора, а также введении оптического фильтра, расположенного между коллиматором и интерферометром, достигаетс упрощение устройства, ведущее к уменьшению его габаритов и стоимости изготовлени .
Claims (2)
1, Способ определения оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийся в· том, что облучают интерферометр оптическим излучением’, получают интерференционную картину и осуществляют ее модуляцию, регистрируют сдвиг максимумов интерференционной картины, по которому определяют оптическую
η ^2 &Т ,
Όχ,-χα) τ ’
где Х^ и Х? - длины волн излучения',· лТ - время между моментами
появления соседних максимумов одного порядка для Х^ и Я2;
Т - время между моментами появления двух максимумов соседних порядков для одной из длин ВОЛН "Λ , ИЛИ
(19)
фиг.1
1075074
2. Устройство для определения оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучения, установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьезоэлементом, распо.ложенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питания интерферометра, информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор прямоугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки
информации и блока питания интерферометра, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, источник оптического излучения выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фильтр, а блок питания выполнен в виде генератора треугольных импуль- сов и сумматора, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй является входом блока питания, соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора является выходом блока питания, а вход генератора треугольных импульсов - синхронизирующим входом блока питания.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823408663A SU1075074A1 (ru) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823408663A SU1075074A1 (ru) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1075074A1 true SU1075074A1 (ru) | 1984-02-23 |
Family
ID=21001598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823408663A SU1075074A1 (ru) | 1982-03-12 | 1982-03-12 | Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1075074A1 (ru) |
-
1982
- 1982-03-12 SU SU823408663A patent/SU1075074A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Патент US № 4092070, кл. G 01 В 9/02, 1978, 2, Патент FR № 2360118, кл. G 05 D 3/00, 1978 (прототип), * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5777736A (en) | High etendue imaging fourier transform spectrometer | |
GB1478062A (en) | Method and apparatus for recognizing coloured pattern | |
US4827317A (en) | Time interval measuring device | |
US4822164A (en) | Optical inspection device and method | |
US4893024A (en) | Apparatus for measuring the thickness of a thin film with angle detection means | |
US4890921A (en) | Scanning interferometer | |
US4722604A (en) | Radiation interference devices | |
US3563663A (en) | Analysis of spectra by correlation of interference patterns | |
SU1075074A1 (ru) | Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени | |
US3549260A (en) | Spatially dispersive correlation interferometer | |
CN105115601B (zh) | 扫摆式干涉仪控制*** | |
US3740152A (en) | Device for detecting the boundary between different brightness regions of an object | |
SU1370456A1 (ru) | Способ фиксации положени границы объекта | |
GB2205155A (en) | Object movement measuring apparatus | |
RU2092787C1 (ru) | Способ определения коротких дистанций до диффузно-отражающих объектов и устройство для его осуществления | |
SU1035419A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений | |
GB1292465A (en) | Improvements in and relating to spectrometric apparatus | |
JPH0682552A (ja) | 光波距離計における測距方法 | |
SU599158A1 (ru) | Интерференционный способ измерени величины линейных и угловых перемещений | |
RU2065142C1 (ru) | Датчик волнового фронта | |
RU1820204C (ru) | Способ измерени углов отклонени лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмме | |
SU1458706A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь перемещений в фазу сигнала | |
SU1668863A1 (ru) | Способ контрол децентрировани линз и устройство дл его осуществлени | |
SU1188535A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл измерени линейных и угловых перемещений | |
SU1368851A1 (ru) | Гетеродинный способ обработки голограмм и устройство дл его осуществлени |