SU1075074A1 - Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1075074A1
SU1075074A1 SU823408663A SU3408663A SU1075074A1 SU 1075074 A1 SU1075074 A1 SU 1075074A1 SU 823408663 A SU823408663 A SU 823408663A SU 3408663 A SU3408663 A SU 3408663A SU 1075074 A1 SU1075074 A1 SU 1075074A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
optical
power supply
output
input
Prior art date
Application number
SU823408663A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Владимирович Евдокимов
Леонид Лейбович Кравчинский
Михаил Борисович Штенгер
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3374
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3374 filed Critical Предприятие П/Я А-3374
Priority to SU823408663A priority Critical patent/SU1075074A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1075074A1 publication Critical patent/SU1075074A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1, Способ определени  оптической толгдины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийс  в том, что облучают интерферометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистрируют сдвиг максимумов интерференционной картины, по которому определ ют оптическую толщину, отлич ающийс  тем, что, с целью упрощени  определени  оптической толщины, облучение интерферометра производ т излучением на двух длинах волн, модул цию интерференционной картины осуществл ют сканиру  оптическую толщину интерферометра линейно измен ющимс  напр жением , а оптическую толщину определ ют по формуле А 4 (K, Т где X, и Хл длины волн излучени ; &Г врем  между моментами по влени  соседних максимумов одного пор дка дл  X, и ,Я2,г Т врем  между моментами по влени  двух максимумов соседних пор дков дл  одной из длин волн Л , или fl-j. --1 сд

Description

2. Устройство дл  определени  оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучени , установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьеэоэлементом, распо .ложенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации,подключенный к выходу последнего, блок питани  интерферометра , информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки
информации и блока питани  интерферометра , отлич ающийс  тем, что, с целью упрощени  конструкции , источник оптического излучени  выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фильтр, а блок питани  выполнен в виде генератора треугольных импульсов и сумматооа, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй  вл етс  входом блока питани , соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора  вл етс  выходом блока питани , а вход генератора треугольны импульсов - син.хронизирующим входом блока питани .
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть исполь зовано при измерении размеров и перемещений объектов дл  автоматическо го регулировани  рассто ни  между пластинами интерферометра, вход щей в состав измерительной системы. Известен способ определени  опти ческой толщины интерферометра, заключающийс  в облучении его монохроматическим коллимированным излучени ем под разными углами и анализе смещени  интерференционной картины l Известно устройство дл  определени  оптической толщины интерфероМетров , содержащее источник излучени  и расположенные по ходу светового луча управл емый оптический фильт коллиматор, блок призм, раздел ющий световой поток на два пучка с различными углами наклона к оптической оси, интерферометр, линзу и фотоприемник:в каждом из световых потоков и измерительную схему, содержащую компа ратор, соединенный с блоком управлени  интерферометром il . Недостатком устройства и способа  вл етс  efo сложность, вызванна  необходимостью облучени  интерферометра излучением под разными углами, в частности наличи  в конструкции устройства сложного оптического блока и поворотного блока в интерферометре .-. Наиболее близким к изобретению  вл етс  способ определени  оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийс  в том, что облучают интерферометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистрируют сдвиг максиг« умов интерференциальной картины , по которому определ ют оптическую толщину. Регистраци  производитс  при изменении угла падени  излучени  на интерферометр 2 . Наиболее близким к изобретению  вл етс  устройство дл  определени  оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучени , установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьезоэлементом, расположенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питани  интерферометра, информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра , задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки информации и блока питани  интерферометра. Источник света выполнен монохроматическим , а блок питани  содержит компаратор, источник опорных напр жений , соединенный с последним, блок пам ти и усилитель мощности, а оптический канал содержит блок модул ции угла падени  излучени  на пластины интерферометра 2 . Недостатком известного способа и устройства  вл етс  их сложность, обусловленна  необходимостью обеспечени  изменени  угла падени  излучени  на пластины интерферометра. Целью изобретени   вл етс  упро щение, определени  оптической толщи ны, и упрощение конструкции устрой ства. Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу определе НИН оптической толщины сканирующег интерферометра Фабри-Перо, заключаю щемус  в том, что облучают интерфе рометр оптическим излучением, получают интерференционную картину и осуществл ют ее модул цию, регистри руют сдвиг максимумом интерференционной картины, по которому определ  ют оптическую толщину, облучение интерферометра производ т излучение на двух длинах волн, модул цию инте ференционной картины осуществл ют сканиру  ,оптическую толщину интерфе рометра линейно измен ющимс  напр жением , а оптическую толщину опреде л ют по формуле р Я, t X 2 . . 4 Т где Х , Х - длины волн излучени ; лт - врем  между моментами по влени  соседних ма симумов одного пор дк дл  X, и -Я 2; Т - врем  между моментами по влени  двух максимумов соседних пор дков дл  одной из длин волн Я или Л 2 Поставленна  цельдостигаетс  тем что в устройстве дл  определени  оп тической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащем источник оптического излучени , уста новленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пъезоэлементом, расположенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемнйк, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питани  интерферометра , информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор пр моугольных импульсов, выходы которого соединены с синхровизирующими входами блока обработки информации и блока питани  интерферометра , источник оптического излучени  выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фиЛ.тр, а блок питани  вь1Полнен в виде генератора треугольных импульсов и сумматора, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй  вл етс  входом блока питани , соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора  вл етс  выходом блока питани , а вход генератора треугольных импульсов - синхронизирующим входом блока питани . На фиг. 1 изображен график распределени  интенсивности освещенности в интерференционной картине; на фиг. 2 - блок-схема устройства. Способ основан на том, что облучают интерферометр излучением на двух данных волн, анализируют апНарать1ую функцию (зависимость коэффициента пропускани  от оптической толйшны), котора  определ етс  формулой Эри -1 . ч-а -К- ) где о - коэффициент пропускани ; - коэффициент отражени  пластин интерферометра; Л,,7,- длина- волн излучени ; ° - оптическа  толщина интерферометра; ф - угол падени  излучени  на пластины, принимает вид, показанный на фиг. 1. В результате анализа устанавливают , что рассто ние между максимумами соседних пор дков при нормальном падении излучени  () дл  -,(1.) равно л,/2, а дл  (Ьп) соответственно а /2. Следовательно рассто ние между аксимумами интерференции одного по дка (дЕп ) дл  , и Я равно лР - .llllj ЬЦ где h - пор док интерференции, соответствующий определенной оптической толщине интерферометра l.V.. де за f принимаетс  I еЕ,, f 2п оптические толщины интерферометра , соответствующие интерференционным максимумам одного пор дка . В результате преобразований получ e i--2exn птическа  толщина интерферометра опорциональна рассто нию между аксимумами интерференции одного по дка дл  -2 и ( ) Дл  упроотнос т к рассто нию меж соседних пор дков . q ( Ь ij ) . При ЭТОМ Vv л - 1 п. jT -7 Затем модулируют интерференционную теартииу . Отношение рассто ний , L замен ют на отношение соответствующих вр менных интервалов йТ(Т, аЕ)-п ЭТ .е. с погрешностью не более ft-p 12. м но допустить, что определ ема  по (б) толщина интерферометра мен етс  не дискретное в соответст вии с изменением пор дка интерфес-енции , а непрерывкой. При этом оп ч ;ческую толщину сканирующего инте ф-г;рометра ©абри-Перо, определ ют п шорктуле .. ло А,4 so С.Т нрем  между момег-ггамн по  лени  соседних максимумов одного пор дка дл  и А врем  между моментам- по в лени  двух максимз-мов соседних пор дков дл  образом, оптическа  на интерферометра определ етс  иэ огноидекию Д Т| Т . Устройство дл  опр-еделени  опти-iccKOK аодщины интерферометра,- реа-л зующ.ее предлагаемый способ, состоит K:-J источника 1 оптического излучени  (спектргшьной лампы), ус1ановле ных последовательно-ходу светового луча ьсоллиматора 2, опт:-ГчеокогО фильтра 3, интерферометра 4, линзы диао рагмн 6,- (кру.тлой диафргьгмы, вы дел ющей центр интерференционной картины) ,-, и фотоприемника 1, блока обработки информации, соединенного фотоприемникоь 7, блок 9 питани  ин терферометра, соединенный с блоком обработ и информации, зад.ai-oiueго ген ратора 10 пр моугольных импульсов, соединенного с синхронизирующими входами блока 8 обработки информаци и блокг 9 питани  интерферометра, интерферометр 4 содержит пьезоэлемент 11, соединенный с выходом блока 9 питани  интерферометра. Блок 8 обработки ин-формации сост ит из формировател  1.2 импульсов, коммутатора 13, соединенного с последни - по двум входам ге.нератора частотных меток, соединенно.го с- ком мутатором 13, соединенных последовательно по двум выxoдa зла 15 двоичных счетчиков, узла 16 вводаззода и вьгчислител  17, соединенных последовательно запоминающего узла 18 и цифро-аналогового преобразовател  19, фop п5poвaтeль 12 соединен также с узлом 16, который св зан таке с запомлнаюгцим узлом 18. Блок 9 питани  интерферометра состоит из соединенных последдовательно генератора 20 треугольных импульсов и сумматора 21, второй вход которого  вл етс  информационным входом блока 9 питани , соединенным с дифро-аналоговым преобразователем 19 блока 8 обработки информации, выход сумматора 21  вл етс  выходом блока 9 питани , соединенным с пьезоэлементом 11, вход генератора 20 треугольных импульсов и второй вход зaпo 1инающего узла 18  вл ютс  синхронизирующими входами соответственно блока 8 обработки информации и блока 9 питани  . Устройство работает следующим образом. При облучении интерферометра 4 излучен ;ем,- содержащим две длины волны 7, и Ki и про -1ед111им через коллиматор 2 и оптический фильтр 3, от источника 1 опорного излучени , (спектральной лампы), на выходе интерферометра 4, в проход щем свете, по вл етс  интерферен лиональна  картина , (образованна  двум  независимыкад система.да колед, соответственно, от . ., и 7 , котора  с помощью линзы 5 фокусируетс  на чувствительную площадку фотоприемника 7. При этом диафрагмой б выдел етс  и.ентр интерференционной картины. Рассто ние между максимума -ли ( (кольцаг и) интерференции равного пор дка , соответствующих разным длинам волн, зависмт V.Q только от значений длины волн, но и от оптической толщины интерферометра 4, Рассто ние же между максимумами соседних ПОРЯДКОВ; соответствующих одной длине волны, например, htj , не зависит от оптической толщины интерферометра 4 и пропорционально , Задающ 1м генератором 10 и генератором 20 треугольных импульсов вырабатываетс  линейно измен ющеес  напр жение, которое после сумматора 21 подаетс  на пьезоэлемент 11. Амплитуда подаваемого напр жени  Uj-,, определ етс  из услови  равенства амплитуды модул ции интерференциальной картины рассто нию- между мaкcимi ia и соседних пор дков интерференции, т . е .11 j , где К - цьезоэлектр11ческий модуль столбиков пьезоэлемеггга 1 1 интерферометра 4 . При подаче напр жени  на столбики пьезоэлемента 11 происходит сканирование оптической толщины интерферометра 4 и, следовательно, модул ци  интерференционной картинь-i,;вызывающа  на выходе фотоприемника б измбшение электрического сигнала. Это изменение анализируюТ блоком f обработки информации. При этом с выходов формировател  12 снимаютс  импульсы разной длительности, равной соответственно интервалу времени между моментами по влени  максимумов интерференции одного пор дка дл и Tiq (лТ) и интервалу времени между моментами по влени  максимумов соседних пор дков интерференции дл  большей длины волны Ад (Т) . Следовательно , длительности этих импуль сов пропорциональны соответственно, перва  - оптической толщине интерфе рометра 4, втора  - только длине волны Т12 f и используетс  дл  норми ровани  первого импульса. Затем с помощью коммутатора 13, генератора и узла 15 происходит заполнение импульсов частотными метками и пересчет этих меток. Затем узел 16 осуществл ет ввод значений длительности сформированных импульсов в вычислитель 17, где в соответствии с программой определ етс  толщина интерферометра 6 , Полученное текущее значение толщ ны отображаетс  на табло вычислител  и сравниваетс  с заданным. При этом разностный сигнал с помощью узла 16 выводитс  из вычислител  17 в цифровой форме, поступает в запоминающий узел 18, где хранитс  до прихода следующего сигнала и затем, с помощью преобразовател  19, преобразуетс  в аналоговую форму. Поступа  в блок 9 питани  интерферометра , сигнал суммируетс  с линейно измен ющимс  напр жением и подаетс  одновременно на все столбики пьезоэлемента 11. При этом толщина интерферометра 4 мен етс  в зависимости от знака разностного сигнала. Если измеренна  толщина оказалась больше заданной Рд , то знак разностного сигнала,, поступающего на пьезоэлемент 11, положителен и вызывает уменьшение толщины интерферометра 4 и т.д. Процесс идет до полной установки оптической толщины, т.е. равенства нулю разностного сигнала , (при этом на вход сумматора 21 подаютс  разнопол рные импульсы треугольной формы), а на выходе сумматора изменение напр жени  происходит в обе стороны от величины посто нного смещени  (или разностного си гнал а), которое соответствует устанавливаемой толщине интерферометра 4(. Таким образом, при использовании в качестве источника оптического излучени  спектральной лампы, излучение которой содержит не менее двух длин волн, и выполнени  блока питани  интерферометра в виде генератора треугольных импульсов и сумматора, а также введении оптического фильтра, расположенного между коллиматором и интерферометром, достигаетс  упрощение устройства, ведущее к уменьшению его габаритов и стоимости изготовлени  .

Claims (2)

1, Способ определения оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, заключающийся в· том, что облучают интерферометр оптическим излучением’, получают интерференционную картину и осуществляют ее модуляцию, регистрируют сдвиг максимумов интерференционной картины, по которому определяют оптическую
η ^2 &Т ,
Όχ,-χα) τ ’
где Х^ и Х? - длины волн излучения',· лТ - время между моментами
появления соседних максимумов одного порядка для Х^ и Я2;
Т - время между моментами появления двух максимумов соседних порядков для одной из длин ВОЛН "Λ , ИЛИ
(19)
фиг.1
1075074
2. Устройство для определения оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо, содержащее источник оптического излучения, установленные последовательно по ходу светового луча коллиматор и интерферометр с пьезоэлементом, распо.ложенные на выходе интерферометра линзу, диафрагму и фотоприемник, блок обработки информации, подключенный к выходу последнего, блок питания интерферометра, информационный вход которого соединен с выходом блока обработки информации, а выход - с пьезоэлементом интерферометра, задающий генератор прямоугольных импульсов, выходы которого соединены с синхронизирующими входами блока обработки
информации и блока питания интерферометра, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, источник оптического излучения выполнен в виде спектральной лампы, за коллиматором на входе интерферометра установлен оптический фильтр, а блок питания выполнен в виде генератора треугольных импуль- сов и сумматора, первый вход которого соединен с генератором треугольных импульсов, второй является входом блока питания, соединенным с блоком обработки информации, выход сумматора является выходом блока питания, а вход генератора треугольных импульсов - синхронизирующим входом блока питания.
SU823408663A 1982-03-12 1982-03-12 Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени SU1075074A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823408663A SU1075074A1 (ru) 1982-03-12 1982-03-12 Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823408663A SU1075074A1 (ru) 1982-03-12 1982-03-12 Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1075074A1 true SU1075074A1 (ru) 1984-02-23

Family

ID=21001598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823408663A SU1075074A1 (ru) 1982-03-12 1982-03-12 Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1075074A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Патент US № 4092070, кл. G 01 В 9/02, 1978, 2, Патент FR № 2360118, кл. G 05 D 3/00, 1978 (прототип), *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5777736A (en) High etendue imaging fourier transform spectrometer
GB1478062A (en) Method and apparatus for recognizing coloured pattern
US4827317A (en) Time interval measuring device
US4822164A (en) Optical inspection device and method
US4893024A (en) Apparatus for measuring the thickness of a thin film with angle detection means
US4890921A (en) Scanning interferometer
US4722604A (en) Radiation interference devices
US3563663A (en) Analysis of spectra by correlation of interference patterns
SU1075074A1 (ru) Способ определени оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство дл его осуществлени
US3549260A (en) Spatially dispersive correlation interferometer
CN105115601B (zh) 扫摆式干涉仪控制***
US3740152A (en) Device for detecting the boundary between different brightness regions of an object
SU1370456A1 (ru) Способ фиксации положени границы объекта
GB2205155A (en) Object movement measuring apparatus
RU2092787C1 (ru) Способ определения коротких дистанций до диффузно-отражающих объектов и устройство для его осуществления
SU1035419A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений
GB1292465A (en) Improvements in and relating to spectrometric apparatus
JPH0682552A (ja) 光波距離計における測距方法
SU599158A1 (ru) Интерференционный способ измерени величины линейных и угловых перемещений
RU2065142C1 (ru) Датчик волнового фронта
RU1820204C (ru) Способ измерени углов отклонени лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмме
SU1458706A1 (ru) Фотоэлектрический преобразователь перемещений в фазу сигнала
SU1668863A1 (ru) Способ контрол децентрировани линз и устройство дл его осуществлени
SU1188535A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени линейных и угловых перемещений
SU1368851A1 (ru) Гетеродинный способ обработки голограмм и устройство дл его осуществлени