SE456538B - Sett och anordning for nivametning med mikrovagor - Google Patents

Sett och anordning for nivametning med mikrovagor

Info

Publication number
SE456538B
SE456538B SE8402960A SE8402960A SE456538B SE 456538 B SE456538 B SE 456538B SE 8402960 A SE8402960 A SE 8402960A SE 8402960 A SE8402960 A SE 8402960A SE 456538 B SE456538 B SE 456538B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
signal
distance
frequency
measuring
measurement
Prior art date
Application number
SE8402960A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8402960L (sv
SE8402960D0 (sv
Inventor
K O Edvardsson
Original Assignee
Saab Marine Electronics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saab Marine Electronics filed Critical Saab Marine Electronics
Priority to SE8402960A priority Critical patent/SE456538B/sv
Publication of SE8402960D0 publication Critical patent/SE8402960D0/sv
Priority to IN379/MAS/85A priority patent/IN164799B/en
Priority to DE8585850183T priority patent/DE3575782D1/de
Priority to EP85850183A priority patent/EP0167505B1/en
Priority to US06/737,529 priority patent/US4665403A/en
Priority to AU43052/85A priority patent/AU569158B2/en
Priority to FI852115A priority patent/FI80961C/sv
Priority to NO852181A priority patent/NO166345C/no
Priority to DK243585A priority patent/DK161261C/da
Priority to KR1019850003810A priority patent/KR900004883B1/ko
Priority to BR8502625A priority patent/BR8502625A/pt
Priority to ES543730A priority patent/ES8608177A1/es
Priority to MX205490A priority patent/MX158486A/es
Priority to JP60119641A priority patent/JPS60262080A/ja
Publication of SE8402960L publication Critical patent/SE8402960L/sv
Priority to SI8810689A priority patent/SI8810689A8/sl
Priority to YU68988A priority patent/YU46256B/sh
Publication of SE456538B publication Critical patent/SE456538B/sv
Priority to HR920410A priority patent/HRP920410A2/hr

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F23/00Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F23/00Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
    • G01F23/22Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
    • G01F23/28Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring the variations of parameters of electromagnetic or acoustic waves applied directly to the liquid or fluent solid material
    • G01F23/284Electromagnetic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/02Systems using reflection of radio waves, e.g. primary radar systems; Analogous systems
    • G01S13/06Systems determining position data of a target
    • G01S13/08Systems for measuring distance only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)

Description

456 558 varvid endast pulsernas inbördes ordning är av betydelse. Vid kvot- bildningen användes en viktfaktor, vilken varierar under nxätinter- vallet. Viktfaktorn innebär att kvoten mellan mät- och referenssígna- len bestäms med minsta kvadraünetoden, vilket ger god noggrannhet i beräkningen redan efter ett mätintervall.
Denna metod lämpar sig dock inte om man för nivårnätningen vill använda ett nedåt genom en tank gående rör, vilket är nödvändigt i vissa lag- ringsanläggningar, exempelvis i stora cisterner med s.k. flytande tak.
Den nännda mätmetoden bygger nämligen på att mikrovågornas utbrednings- hastighet är konstant. Detta gäller emellertid inte i ett rör, där ut- bredningshastigheten varierar med frekvensen. Vid en mätning med den ovarmäymda netoden blir därför det erhållna värdet på avståndet för stort och för att korrigera värdet måste man veta rörets diameter. Denna är i praktiken svår att mäta upp med tillräcklig noggrannhet, eftersom röret kan bestå av ihopsvetsade rörstycken med något olika rördiameter eller det kan ha invändiga oljeskikt, som ger en viss skenbar ändring av diametern. Ändamålet med föreliggande uppfinning är följaktligen att åstadkomma ett sätt för nivâmätning med mikrovågor, vilket sätt ger mycket god mätnog- grannhet även vid mätning i rör. Ett annat ändamål med uppfinningen är att åstadkonma en anordning för genomförande av sättet. Ändamålet upp- nås därigenom att sättet och anordningen enligt föreliggande uppfinning uppvisar de i bifogade patentkrav angivna kännetecknen.
Enligt föreliggande uppfinning signalbehandlas referenssignalen på så sätt att det bildas en styrsignal vars frekvens blir proportionell mot förhållandet mellan ett ansatt värde för det sökta avståndet till ytan (nivån i tanken) och den kända sträckans längd, dvs frekvensen blir ungefär lika med den förväntade mätfrekvensen. Styrsignalen blandas med mätsignalen på så sätt att två 900 fasförskjutna, lågfrekventa svävningar erhålles. Svävningarnas frekvens är skillnadsfrekvensen mellan styrsignal och mätsignal och är således ettnåttpá hur bra det antagna förhållandet mellan avståndet (tanknivån) och den kända sträckans längd är. Svävningar- na A/D-omvandlas och används för beräkning av fasändringen mellan styr- signalen och mätsignalen under ett mätintervall(svep). Ur fasändringen kan 456 538 slutligen en korrektionsterm till den ansatta nivån beräknas, varige- nom det sökta avståndet erhålles.
Fördelen med denna signalbehandling är att man vid mätning i rör kan bestämma den distor$ion, som härrör från rörets diameter, och auto- matiskt korrigera det uppmätta värdet, så att rörets inverkan pà mät- värdet elimineras. En annan fördel ned uppfinningen är att anordningen för genomförande av sättet är relativt billig.
Föreliggande uppfinning kcnner nu att beskrivas närmare ned hänvisning till den bifogade ritningen, som visar ett blockschema för en föredragen utföringsform av anordningen enligt uppfinningen.
På ritningen betecknar 1 generellt en givarenhet som på känt sätt kan innefatta en svepgenerator 2, vilken är kopplad till en mikrovàgsoscil- lator 3, vars utgång är ansluten dels till en första blandare 4, dels till en andra blandare S. Den första blandaren är förbunden med en an- tenn 6, som är anbringad i övre delen av en (icke visad) behållare för förvaring av ett flytande eller fast material. Antennen är riktad ver- tikalt nedåt så att den bestràlar den materialyta 7, i behållaren X till vilken avståndet H skall bestännas. Blandaren 4 är också via en förstärkare 8 förbunden med en utgång 9 från givarenheten 1.
Mikrovågsoscillatorn 3 alstrar med hjälp av svepgeneratorn 2 ett väsent- ligen linjärt enstaka eller periodískt frekvenssvep kring en bärfrekvens, som exempelvis kan vara 10 GHz. Beskrivningen avser i fortsättningen förhållandena under ett enda svep om ej annat anges. Den så modulerade mikrovågssignalen sänds ut av antennen 6 och reflekteras i ytan 7 till- baka till antennen, varefter den blandas i blandaren 4 med den för ögon- blicket av oscillatorn 3 avgivna signalen. Härvid alstras en mätsignal med en frekvens fm, som är proportionell mot avståndet H till material- ytan 7. Proportionalitetskonstanten kan typiskt vara av storleks- ordningen 100 Hz/m. Mätsígnalen förstärks därefter av förstärkaren 8 innan den sänds vidare till en signalbehandlingsenhet som generellt betecknas med 10.
För att kompensera för olineariteter i mikrovàgsoscillatorn och varia- tioner i svephastigheten avges utsignalen från mikrovågsoscillatorn 3 456 538 4 även till en såsom fördröjningsanordning arbetande referenskabel 11, som är ansluten till den andra blandaren 5. Kabeln som skall representera en noggrant känd sträcka L bör göras så lång som möjligt under hänsyns- tagande till att dämpningen inte får bli för stor. På sæufia sätt som sker med den del av mikrovàgssignalen som utsändes av antennen 6 re- flekterar referenskabeln tillbaka den del av signalen, som matas via blandaren S, och med den fördröjning som här svarar mot gángtiden i kabeln blandas alltså denna signaldel i blandaren 5 med den just utsända mikrovágssignalen från oscillatorn 3. Man erhåller härvid en blandníngs- produkt vars frekvens fr, nedan benämnd referensfrekvens, motsvarar den kända sträckan dvs referenskabelns längd L. Blandningsprodukten som benämnes referenssignal, förstärkes i en förstärkare 12 och matas där- efter via en andra utgång 13 från givarenheten till signalbehandlings- enheten 10.
Signalbehandlingsenheten 10, vilken fysiskt kan vara belägen pá annan plats än givarenheten 1,varvid skärmade ledningar bör användas för enheternas hopkoppling,ínnefattar i det visade utföríngsexemplet ett smalbandigt filter 14, vilket via en fasvridare 15 med t.ex. 2x120° fasvridning och ett komparatornät med tillhörande pulsformare 16 är anslutet till ett multiplikatororgan 17. Detta styres från en beräk- ningsenhet 18, vilken exempelvis kan innefatta en mikrodator, och dess utgång är förbunden med en räknare 19, vilken är kopplad till ett minne 20 i vilket sinus- och cosinusvärden är lagrade. Minnet har två utgångar, vilka är anslutna till var sitt blandníngsorgan, som i denna utföringsform utgörs av D/Aromvandlare 21, 22. Omvandlarna, vilkasingàngar förspänningsreferensnottarnätsignalenfránutgàngen9 págivarenheten1, ingår i två identiska grenar,sunär kopplade tillberäkningsenheten18.I vardera grenen ingår förutom D/A-omvandlarna ett làgpassfilter 23 resp. 24 och en A/D-omvandlare 25 resp. 26. A/D-omvandlarna mottar på sina klockingångar samplingspulser, som via en divisionskrets 27 tas fràn puls- formarens 16 utgång.
Referenssignalen med frekvensen fr som mottas av signalbehandlingsen- heten 10 från givareutgàngen13, passerar det smalbandíga filtret 14, som filtrerar bort störningar och övertoner. Med hjälp av fasvrídarna15, komparatornätet och pulsformaren 16 omvandlas referenssignalen till ett pulståg, referenspulser, vars Frekvens är A gånger högre an den in- kommande referens- 456 538 signalens frekvens fr. Om fasvridaren 13 är på 2x120° kan talet A ha värdet 12. Denna frekvensökning, som motsvarar en skenbar ökning av referenskabelns 11 längd, kan naturligtvis utföras på många sätt, men det är viktigt att inga fördröjningar eller distorsioner införes. Referens- pulserna matas till multiplikatororganet 17, vilket för varje puls i puls- tåget avger Q stycken pulser. Talet Q är ett heltal vilket bestäms i be~ räkningsenheten 18 med ledning av tidigare mätresultat, så att frekvensen på utsignalen från minnet 20 motsvarar den antagna mätfrekvensen. Det från multiplikatororganet 17 avgivna pulståget, vilket således har frekvensen frkx A x Q, passerar räknaren 19, vilken avger en binär utsignal som bildar __adress till minnet 20. I minnet finns såsom tidigare nämnts en tabell med värden för sinus och cosinus för en mängd vinklar, exempelvis 256 st per period.
Funktionen hos minnet 20 är sådan att när det adresseras avges varje gäng ett binärt tal, som motsvarar tabellens sinusvärde för motsvarande adress, på dess enautgång t.ex. utgången till blandningsorganet 21, och ett binärt tal, som motsvarar tabellens cosinusvärde, på dess andra utgång t.ex. till blandningsorganet 22.Dessa båda styrsignalers frekvens är neddelad med en tvåpotens Z i förhållande till utsignalen från multiplikatororganet 17.
Styrsignalerna multipliceras i D/A-omvandlarna med den från givarutgàngen 9 kommande analoga mätsignalen som har frekvensen fm, varvid mätsignalen utgör spänningsreferens vid multiplikationen varefter sker en lågpassfiltrering i filtren 23 och 24. De lågpassfíluærade signalernas frekvens utgör skill- nadsfrekvensen mellan styrfrekvensen Aüfr/Z och den verkliga mätfrek- vensen Fm eller uttryckt med andra ord sinus resp cosinus för fassvin- keln á mellan styrsignalen från minnet 20 och mätsignalen. Om avståndet H i behållaren ändras långsamt kan Q provas ut till det heltal som närmast motsvarar mätfrekvensen och då blir fasändringen under ett helt svep bara en bråkdel av ett varv. Denna fasändring kan beräknas och användas för korrektion av det ansatta avstàndvärdet. Beräkningen av fasändringen under ett svep görs i beräkningsenheten 18 och för detta ändamål digitalomvand- las de lågpassfiltreuade signalerna i A/D-omvandlarna 25 och 26. Omvand- larna klockas med samplingspulser, som bildas av_referenspulserna fràn pulsformaren 16 genom att deras frekvens divideras ned med en konstant K i divisionskretsen 27. 456 538 För att noggrannheten skall bli så stor som möjligt är det väsentligt att beräkningen av fasändringen utföres under ett helt antal perioder av referensfrekvensen fr och att samplingspulserna inte är bundna till samma del av referenssignalens perioder. Av detta skäl bör K vara ett primtal och totala antalet referenspulser under ett svep bör vara så stort att talet i fråga är delbart med K.
Eftersom signalerna, som skall utvärderas, varierar tämligen långsamt över ett svep behöver antalet samplingspulser inte vara så stort.
Hastigheten på svepet och beräkningsenhetens snabbhet är därför inte kri- tiska.
Det bör också nämnas att man skulle kunna tänka sig en anordning med antingen enbart sinusgrenen eller enbart cosinusgrenen. Det är emeller- tid i så fall nödvändigt att ordna så att referenssignalens frekvens aldrig kan bli lika med mätsignalens eller att man kan skilja det fall då de båda signalernas frekvens är lika från det fall då man inte har någon signal.
Istället för att göra beräkningarna enligt ovan i blocken 17, 19, 20 och 27 kan sama funktioner implementeras i en mikroprocessor av konventio- nellt slag.
Hur beräkningen av nivàhöjden i tanken dvs avståndet H sker skall nu beskrivas, varvid antages att det under den effektiva delen av ett svep finns M st referenspulser i pulstâget från pulsformaren 16, dvs M/A referensperíoder, och att det på samma tid erhålles N st samplings- pulser, där N = NVR.
För varje svep göres med ledning av tidigare mätvärden en ansats h för avståndet H. Med utgångspunkt från denna ansats h bestämmes Q till: _h-z Q'LA.LJ där Z är kvoten mellan pulsfrekvensen före räknaren 19 och frekvensen hos styrsignalen ut ur minnet 20, A_är den faktor som réferenssignalens frekvens multipliceras med i kretsarna 15 och 16, och L är referenskabelns 11 längd. Pulståget, dvs referenspulserna, som efter pulsformaren 16 s» 456 538 alltså har frekvensen A x fr, frekvensmultipliceras med Q och frekvensdivideras med Z. Det betyder att utsignalen från minnet 20 har frekvensen (h/L)Xfr, dvs är lika med den förväntade frekvensen på mätsignalen. Vid multiplikationen i D/A-omvandlarna 21, 22 och fíltreríngen i lágpassfiltren 23, 24 erhålles två sinsemellan 900 fasförskjutna, lågfrekventa signaler, som betecknas Sn och Cn i sinus- respektíve cosinusgrenen. Ur dessa signaler beräknas fasändríngen A ø mellan mätsignalen och styrsignalen från minnet 20 under ett svep, genom att fasändringen Å ø mellan varje samplingspuls bestämmes.
A ø mellan samplingspuls n-1 och samplingspuls n fås definitionsmässigt SOITIZ A øn = øn - øn_1 = arctan S A ø blir vanligen så liten att "arctan" kan linjäriseras utan förlust av noggrannheten. Den totala fasändringen F ges därefter av: v N F=íf=øn n 1 F används för att korrigera Q och för att beräkna en korrektionsterm D till det ansatta avståndsvärdet h. Vid sunneringen av A øn kan man multiplicera A øn med viktfaktorer för att uppnå sanna fördelar som anges i det ovan nämnda US 4 044 355. Det beräknade avståndet H ges slutligen av: 3 Z 2 W Denna ekvation gäller i det fall då utbredningshastigheten är konstant och fasvinkeln ø mellan styrsignalen och mätsignalen således ökar linjärt. I rör är emellertid utbredníngshastigheten inte konstant och följaktligen kcnner fasen ø inte att variera linjärt med frekvensen. ø ges av: _ 456 538 där k är vågtalet, kc är vågtalet vid "cut-off" och D är höjdkorrek- tionen. I detta fall antar man att utbredningssträckan för mikrovågs- siganlen består av ett rör, som har sådan diameter att kc är lika med 3,68/díarnetern. Kvoten gäller om rörets grundmod används.
Rörets diameter är, såsom tidigare har nämnts, i praktiken svär att bestämma med tillräcklig noggrannhet och därmed kan inte heller kc och ø bestämmas särskilt exakt. Om man deriverar ø kan man ernellertíd eliminera kc ur ekvationen för D. Första- och andraderivatan av ø med avseende på k blir: = 2 k D øÜ kz - kcz -zn k Ze øl' = (kz _ kcz) 1,5 vilket efter eliminering av kc ger øl 2 V ï-(KKWVW) I det linjära fallet, dvs då utbredningshastigheten är konstant och ø D: ökar linjärt med frekvensen (vågtalet) blir gó' = konstant och ø" = 0.
Rotuttrycket i den sista ekvationen blir då 1 och D = ø '/2 . Man kan således bestämma ø' ur andra termen i ekvationen för H ovan. Ändringen av k är under det effektiva svepet /fïbd/AL och under ett samplígsíntervall 41” M/âIbKbvilket betyder att yó" kan beräknas som ø" =f< (MN- øø1>(¶)- Naturligtvis kan man beräkna ett ännu noggrannare värde pá få” genom att utnyttja samtliga 11 ø för en noggrannare kurvanpassning.

Claims (1)

456 538 Patentkrav
1. Sätt att mäta avståndet till en yta hos ett fast eller flytande material, innefattande att en mikrovågssignal, vars frekvens varierar företrädesvis linjärt under ett mätintervall, sändes ut dels mot ytan, från vilken sig- nalen reflekteras och efter den mot avståndet svarande gångtiden mottages och blandas med den signal som för ögonblicket utsändes, så att en mät- signal med en mot avståndet svarande frekvens (fm) erhålles, dels så att signalen mottages med en mot en känd sträcka (L) svarande fördröjning och ' på analogt sätt omvandlas till en referenssignal med en mot den kända sträckan svarande referensfrekvens (fr), och att mätfrekvensen (fm) rela- teras till referensfrekvensen (fr) så att beräkningen av avståndet kommer att grunda sig på den kända sträckan, k ä n n e t e c k n a t av åt- gärderna att frekvensmultiplicera referenssignalen med ett tal (Q) vilket är proportionellt mot kvoten mellan en ansats för avståndet (H) och den kända sträckan (L), varefter frekvensen divideras med ett fast tal (Z) så att det bildas en styrsignal vars frekvens blir en approximation av den förväntade mätfrekvensen; att blanda styrsignalen med mätsígnalen; att under ett mätintervall beräkna ändringen i fasskillnad mellan mät- signalen och styrsignalen; och att med hjälp av fasändringen beräkna en korrektíonsterm, som lagd till det ansatta avståndsvärdet ger det sökta avståndet (H). Sätt enligt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a t därav, att den blandade styr/mätsignalen samples, att fasändringen under varje samp- lingsintervall beräknas och att ett viktat medelvärde av fasändringarna användes vid beräkningen av korrektionstermen. Sätt enligt något av föregående patentkrav, k än n e z e c k n a t därav, att referenssignalen efter multiplikationen bringas att styra bildningen av adresser till ett minne (20), i vilket värden för sínus och cosinus lagrats och från vilket en mycket ren, sinus-ormad signal avges. Sätt enligt något av föregående patentkrav, K ä n n e e c k n a t A' 'Q + 'F Z 2'TM den kända sträckan, Q det valbara talet, F totala fasändringen under I II' ir , där L är därav, att det sökta avståndet fås som H = 456 538 i 10 mätintervallet, M antalet referenspulser under mätintervallet samt A och Z konstanter. Sätt enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t därav, att fasändringens variation över mätintervallet beräknas ur fasändringarna och används för beräkningen av korrektionstermer då mätningen sker under förhållanden,där den mot ytan utsända mikrovågs- sígnalens utbredningshastighet inte är konstant på grund av att frekven- sen varierar. Sätt enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t därav, att mätningarna göres över ett helt antal perioder av referenssignalen och ett helt antal samplingsintervall. Sätt enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t därav, att kvoten mellan antalet referenspulser och antalet samp- lingsintervall är ett prímtal. Anordning för mätning av avståndet till en yta, innefattande en mikro- vågsgenerator (2, 3) för alstring av en mikrovågssígnal vars frekvens varierar företrädesvis linjärt under ett mätíntervall, en antenn (6) för utsändning av mikrovågssígnalen mot den yta (7), till vilken avståndet skall mätas, och för mottagning av den i ytan reflekterade mikrovågs- signalen, en till antennen (6) och mikrovågsgeneratorn (2, 3) ansluten första blandare (4), vilken är anordnad att blanda den reflekterade signalen med den utsända signalen för alstring av en mätsignal med en mot avståndet till ytan svarande frekvens, en till mikrovågsgeneratorn (2, 3) ansluten fördröjningsledning (11). vilken har en noggrant bestämd längd (L), en till fördröjningsledningen (11) och mikrovågsgeneratorn (2, 3) ansluten andra blandare (5), vilken är anordnad att alstra en referenssignal med en mot den nämnda längden (L) svarande frekvens (fr), och organ (10) för signalbehandling, k ä n n e t e c k n a d därav, att nämnda organ innefattar ett multiplikatororgan (17), vilket är anordnat att multiplicera referenssignalens frekvens (fr) med ett tal (Q) som representerar ett ansatt värde på avståndet (H); en räknare (19) anordnad att dividera frekvensen (Qfr) efter multiplikatororganet med ett fast tal (Z); blandningsorgan (21, 22) för att blanda den sålunda 456 538 11 multiplicerade och dívíderade referenssignalen med mätsignalen; en med nämnda blandníngsorgan (21,22) och multiplikatororgan (17) operativt förbunden beräkningsenhet (18), vilken är anordnad att beräkna ändringen i Fasskillnad mellan den multiplicerade referens- signalen och mätsignalen under ett mätintervall och att med ledning av denna beräkna en korrektíonsterm som lagd till det ansatta avståndsvärdet ger det sökta avståndet (H). Anordning enligt patentkravet 8, k ä n n e t e c k n a d av en mellan multiplikatororganet (17) och nämnda blandníngsorgan (21, 22) inkopplad signalbehandlíngskrets (19,20), vilken innefattar en räknare (19) vilken är kopplad till adressingàngarna på ett minne (20), i vilket värden för sinus och cosinus finns lagrade.
SE8402960A 1984-06-01 1984-06-01 Sett och anordning for nivametning med mikrovagor SE456538B (sv)

Priority Applications (17)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8402960A SE456538B (sv) 1984-06-01 1984-06-01 Sett och anordning for nivametning med mikrovagor
IN379/MAS/85A IN164799B (sv) 1984-06-01 1985-05-22
DE8585850183T DE3575782D1 (de) 1984-06-01 1985-05-23 Verfahren und vorrichtung zur pegelmessung mit mikrowellen.
EP85850183A EP0167505B1 (en) 1984-06-01 1985-05-23 Method and apparatus for level measurement with microwaves
US06/737,529 US4665403A (en) 1984-06-01 1985-05-24 Method and apparatus for level measurement with microwaves
AU43052/85A AU569158B2 (en) 1984-06-01 1985-05-28 Microwave level measurement
FI852115A FI80961C (sv) 1984-06-01 1985-05-28 Sätt och anordning för nivåmätning med mikrovågor
NO852181A NO166345C (no) 1984-06-01 1985-05-30 Fremgangsmaate og apparat for nivaamaaling med mikroboelger.
MX205490A MX158486A (es) 1984-06-01 1985-05-31 Mejoras en aparato para medir el nivel de un material con senales de microondas
DK243585A DK161261C (da) 1984-06-01 1985-05-31 Fremgangsmaade og apparat til niveaumaaling
KR1019850003810A KR900004883B1 (ko) 1984-06-01 1985-05-31 마이크로웨이브 이용의 레벨(level)측정방법 및 그 장치
BR8502625A BR8502625A (pt) 1984-06-01 1985-05-31 Processo para determinar a distancia de uma antena ate uma superficie de um material solido ou fluente por meio de um sinal de microonda e aparelho para medicao de uma distancia entre uma antena e uma superficie
ES543730A ES8608177A1 (es) 1984-06-01 1985-05-31 Un metodo y un aparato para determinar la distancia desde una antena a una superficie de un material solido o fluyente
JP60119641A JPS60262080A (ja) 1984-06-01 1985-06-01 マイクロ波信号による距離測定方法および装置
SI8810689A SI8810689A8 (sl) 1984-06-01 1988-04-07 Naprava za merjenje razdalje med anteno in površino fluentnega materiala s pomočjo mikrovalov
YU68988A YU46256B (sh) 1984-06-01 1988-04-07 Uredjaj za merenje udaljenosti izmedju antene i površine fluentnog materijala pomoću mikrotalasa
HR920410A HRP920410A2 (en) 1984-06-01 1992-09-21 Method and apparatus for level measurement with microwaves

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8402960A SE456538B (sv) 1984-06-01 1984-06-01 Sett och anordning for nivametning med mikrovagor

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE8402960D0 SE8402960D0 (sv) 1984-06-01
SE8402960L SE8402960L (sv) 1985-12-02
SE456538B true SE456538B (sv) 1988-10-10

Family

ID=20356101

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8402960A SE456538B (sv) 1984-06-01 1984-06-01 Sett och anordning for nivametning med mikrovagor

Country Status (15)

Country Link
US (1) US4665403A (sv)
EP (1) EP0167505B1 (sv)
JP (1) JPS60262080A (sv)
KR (1) KR900004883B1 (sv)
AU (1) AU569158B2 (sv)
BR (1) BR8502625A (sv)
DE (1) DE3575782D1 (sv)
DK (1) DK161261C (sv)
ES (1) ES8608177A1 (sv)
FI (1) FI80961C (sv)
IN (1) IN164799B (sv)
MX (1) MX158486A (sv)
NO (1) NO166345C (sv)
SE (1) SE456538B (sv)
YU (1) YU46256B (sv)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4737791A (en) * 1986-02-19 1988-04-12 Idea, Incorporated Radar tank gauge
DE3783112D1 (de) * 1986-09-24 1993-01-28 Cannonbear Inc Sensor und verfahren zum erfassen des leckagepegels und durchflusses.
JPH0616081B2 (ja) * 1988-10-06 1994-03-02 日本鋼管株式会社 距離測定装置
SE466519B (sv) * 1989-04-10 1992-02-24 Saab Marine Electronics Anordning foer maetning av nivaan av ett i en behaallare befintligt fluidum
US5365178A (en) * 1991-02-12 1994-11-15 Krohne Messtechnik Gmbh & Co. Kg Electrical device for liquid level measurements in industrial tanks and the like
US5233352A (en) * 1992-05-08 1993-08-03 Cournane Thomas C Level measurement using autocorrelation
DE4233324C2 (de) * 1992-10-05 1996-02-01 Krohne Messtechnik Kg Verfahren zur Messung des Füllstandes einer Flüssigkeit in einem Behälter nach dem Radarprinzip
DE4240491C2 (de) * 1992-12-02 1996-10-31 Grieshaber Vega Kg Vorrichtung zur Laufzeitmessung, insbesondere Entfernungsmessung
DE4241910C2 (de) * 1992-12-11 1996-08-01 Endress Hauser Gmbh Co Mit Mikrowellen arbeitendes Füllstandsmeßgerät
US5321408A (en) * 1992-12-31 1994-06-14 Baker Hughes Incorporated Microwave apparatus and method for ullage measurement of agitated fluids by spectral averaging
SE501472C2 (sv) * 1993-02-03 1995-02-27 Stiftelsen Metallurg Forsk Sätt att vid metallurgiska processer mäta positionerna av ytor mellan olika skikt
DE4345242A1 (de) * 1993-09-15 1995-04-06 Endress Hauser Gmbh Co Frequenzumsetzungsschaltung für ein Radar-Abstandsmeßgerät
US5406842A (en) * 1993-10-07 1995-04-18 Motorola, Inc. Method and apparatus for material level measurement using stepped frequency microwave signals
US5440310A (en) * 1994-02-14 1995-08-08 Motorola, Inc. Bandwidth synthesized radar level measurement method and apparatus
US5614831A (en) * 1995-02-13 1997-03-25 Saab Marine Electronics Ab Method and apparatus for level gauging using radar in floating roof tanks
DE19531540C2 (de) * 1995-08-25 1999-05-27 Krohne Messtechnik Kg Verfahren zur Messung des Füllstandes einer Flüssigkeit
US5996406A (en) * 1997-05-20 1999-12-07 Motorola, Inc. Advanced signal process for a material storage measuring device
EP0887658B1 (en) * 1997-06-27 2004-08-25 EADS Deutschland GmbH Radar level gauge
US6075480A (en) * 1998-10-23 2000-06-13 Deliberis, Jr.; Romeo A. Down range returns simulator
WO2001002818A1 (en) * 1999-07-02 2001-01-11 Saab Marine Electronics Ab Method and device for liquid level measurement by means of radar radiation
SE516597C2 (sv) 1999-07-02 2002-02-05 Saab Marine Electronics Metod och anordning vid vätskenivåmätning medelst radarstrålning
EP1083413B1 (de) * 1999-09-07 2003-04-23 Endress + Hauser GmbH + Co. KG Vorrichtung zur Bestimmung des Füllstands eines Füllguts in einem Behälter
KR20020050830A (ko) * 2000-12-22 2002-06-28 신현준 고로 수선 레벨측정장치 및 방법
ATE294401T1 (de) * 2001-04-20 2005-05-15 Krohne Messtechnik Kg Verarbeitungsverfahren für ein frequenzsignal
SE0200792D0 (sv) * 2002-03-18 2002-03-18 Saab Marine Electronics Hornantenn
US7053630B2 (en) * 2002-07-08 2006-05-30 Saab Rosemount Tank Radar Ab Level gauging system
SE0202491D0 (sv) * 2002-08-22 2002-08-22 Saab Marine Electronics System for level gauging and alarms
US7204140B2 (en) * 2004-07-01 2007-04-17 Saab Rosemount Tank Radar Ab Radar level gauge flange
US7525476B1 (en) * 2007-11-13 2009-04-28 Rosemount Tank Radar Ab System and method for filling level determination
US8009085B2 (en) * 2009-02-17 2011-08-30 Gk Tech Star Llc Level gauge with positive level verifier
DE102011084355A1 (de) * 2011-10-12 2013-04-18 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Schaltungsanordnung
US9541444B2 (en) * 2014-04-01 2017-01-10 Rosemount Tank Radar Ab Self-diagnosing FMCW radar level gauge
KR102339939B1 (ko) * 2021-08-05 2021-12-16 주식회사 가가 밀폐된 구조물 내부를 관찰할 수 있는 고분진환경용 80GHz급 저전력 1D 레벨센서
DE102021134451A1 (de) 2021-12-23 2023-06-29 Krohne S.A.S. Vorrichtung zur Abstandsmessung und Verfahren zur Funktionsüberprüfung einer Vorrichtung zur Abstandsmessung

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3428815A (en) * 1965-10-22 1969-02-18 Electronic Ind Eng Inc Distance measuring system using infrared ring-around oscillator with a reference loop having a light conducting rod
US4360812A (en) * 1967-03-16 1982-11-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army FM-CW Fuze
US3888588A (en) * 1972-02-03 1975-06-10 Granqvist Carl Erik Instrument for measuring distance
US4044355A (en) * 1973-11-20 1977-08-23 Saab-Scania Aktiebolag Measurement of contents of tanks etc. with microwave radiations
US4044353A (en) * 1976-08-06 1977-08-23 Simmonds Precision Products, Inc. Microwave level gaging system
US4106020A (en) * 1977-07-21 1978-08-08 Rca Corporation FM-CW Radar ranging system
US4245221A (en) * 1979-04-27 1981-01-13 Rca Corporation FM-CW Radar ranging system with automatic calibration
DE3215847C2 (de) * 1982-04-28 1985-10-31 MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel Zeitmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung

Also Published As

Publication number Publication date
EP0167505A2 (en) 1986-01-08
FI852115A0 (fi) 1985-05-28
JPS60262080A (ja) 1985-12-25
ES8608177A1 (es) 1986-06-01
YU68988A (en) 1990-12-31
SE8402960L (sv) 1985-12-02
DK161261B (da) 1991-06-17
BR8502625A (pt) 1986-02-04
MX158486A (es) 1989-02-03
FI852115L (fi) 1985-12-02
EP0167505B1 (en) 1990-01-31
KR900004883B1 (ko) 1990-07-09
DK243585A (da) 1985-12-02
NO166345C (no) 1991-07-10
NO852181L (no) 1985-12-02
FI80961C (sv) 1990-08-10
AU569158B2 (en) 1988-01-21
FI80961B (fi) 1990-04-30
DE3575782D1 (de) 1990-03-08
ES543730A0 (es) 1986-06-01
DK243585D0 (da) 1985-05-31
EP0167505A3 (en) 1987-08-26
KR860000544A (ko) 1986-01-29
SE8402960D0 (sv) 1984-06-01
US4665403A (en) 1987-05-12
IN164799B (sv) 1989-06-03
NO166345B (no) 1991-03-25
YU46256B (sh) 1993-05-28
DK161261C (da) 1991-12-30
AU4305285A (en) 1985-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE456538B (sv) Sett och anordning for nivametning med mikrovagor
US4807471A (en) Level measurement for storage silos
US4044355A (en) Measurement of contents of tanks etc. with microwave radiations
US4114441A (en) Method and apparatus for measuring the height of filling material on a surface, such as within a container
US5777892A (en) Doppler shift velocity measuring system with correction factors
US8478563B2 (en) Device and method for the dimensional characterization of a cylindrical object
US4619267A (en) Method for characterizing the structure of a medium and device for carrying out the method
EP0741291A1 (en) A measurement device
RU2410650C2 (ru) Способ измерения уровня материала в резервуаре
FI61246C (fi) Saett och anordning foer beraekning av en vaetskeytas nivao
US11474238B2 (en) Method for improving performance of a SODAR system
KR940008643B1 (ko) 물체까지의 거리를 측정하는 방법과 측정장치
RU97113716A (ru) Система управления огнем
HRP920410A2 (en) Method and apparatus for level measurement with microwaves
SU550556A1 (ru) Устройство дл измерени физикомеханических параметров объекта
FI58215C (fi) Foerfarande foer bestaemning av den genomsnittliga partikelstorleken i en uppslamning samt analysator foer utfoerande av foerfarandet
SU802804A1 (ru) Способ измерени мгновенногоВЕСОВОгО РАСХОдА
SU989342A1 (ru) Устройство дл виброизмерений
SU1201800A1 (ru) Измеритель динамических параметров
SU970251A1 (ru) Адаптивный измеритель параметров сигнала
SU1188640A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента затухани акустических колебаний
SU1187071A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды и фазы вибраций объекта
SU365664A1 (sv)
SU940079A1 (ru) Устройство дл измерени частоты заполнени импульсно-модулированных колебаний
JP2736325B2 (ja) 微小定数積算追尾測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8402960-2

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed