SE449136B - Forfarande for breddmetning hos en breda - Google Patents
Forfarande for breddmetning hos en bredaInfo
- Publication number
- SE449136B SE449136B SE8105050A SE8105050A SE449136B SE 449136 B SE449136 B SE 449136B SE 8105050 A SE8105050 A SE 8105050A SE 8105050 A SE8105050 A SE 8105050A SE 449136 B SE449136 B SE 449136B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- measuring
- sweep
- detectors
- board
- register
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
449 136
\
tur, i och för överföring av styrsignaler, ansluten till ett kant-
verk 16 i vilket icke visade, i och för sig kända riktorgan_är mon-
terade som i beroende av mottagna styrsignaler inställer det re-
lativa läget av en via en andra transportör 12 inmatad bräda i
förhållande till kantverkets bearbetningsorgan. Ur kantverket 16
utmatas sedan på en tredje transportör 13 en kantad bräda 10'.
För framtagning av lämliga styrsignaler i elektronikskåpet 15
måste konturerna av den okantade brädan 10 uppmätas och i form
av mätsignaler via elektriska ledningen 20a inmatas i elektronik-
skåpet.
Enligt fig. 2 innefattar sändarenheten 21 sgm en parallellrik-
tare en stationär konkav spegel 213 i form av en till parabelform
böjd plan remsa, en roterande motordriven planspegel 212 i para-
belspegelns 213 brännpunkt, och en strålningskälla, exempelvis en
laserdiod 211 som riktar sin stråle resp. sitt strålknippe §_på
den plana spegeln 212. Genonxplanspegelns rotation enligt P3 fås
att det från parabelspegeln reflekterade strålknippet S{T_S2 ...
förskjuts parallellt med sig själv, dvs att en "parallell svep-
stråle" erhålles. Varje svep har en längd Ä.
Brädan 10, som bildar mätföremâlet, har en smalare plan övre yta
10a, tvâ sneda sidoytor (vankanter) 10b, 10c och en bredare plan
undersida 10d. Dessa ytor möts utmed längsgående kanter vilka i
tvärsnittet framträder som hörnpunkter Cl: t2: t3f t4 0Ch i Sí9na1“
diagrammen (fig. 3a, Jb; som hörnen tl', tz", t3', t4“.
Svepstrålen S1, S2 ... utstakar på mätföremålets 10 övre yta 10a
och på de båda sidoytorna 10b, 10c en svep- eller avsökningszon Q;
Utmed hela denna zon Q reflekteras den mottagna strålningen prak-
tiskttagetåt alla håll, dvs också mot sidorna där detektorerna
22' och 22” är anordnade. Dessa detektorer har var sitt synfält
22'A och 22"A och är härvid så riktade, att de med sina respekti-
ve synfält från var sin sida omfattar mätföremâlet 10,dock så,
att vid sidan av den övre ytan endast mätföremålets främre, men in*
te den bortvända bortre sidoytan ligger i en detektors synfält.
Anordningen arbetar på följande sätt. I den mån som svepstrålen
S1, S2 ... sveper utmed zonen Q, mottar båda detektorerna ref-
lekterad strålning med varierande intensitet och alstrar en följd
449 15
av elektriska mätsignaler med varierande intensitet.I fig 3 visas för-
loppet av signalföljden hos detektorn 22' och i fig. 3b hos detek-
torn 22" (fig. 1). På abskissaxeln anges tiden, och på ordinat-
axeln signalintensiteten,alternativt sträckan (vid given svep-
hastighet). Linjen Q_anger ett förbestämt tröskelvärde överen
noll-linje Q. Med t1', t2" etc. betecknas i båda diagrammen de
Ställen Vilka mßtsvarar svepstrâlknippets passage förbi mätföremâlets
hörn t1, tz, etc. i fig. 2. Fastän vankanterna 10b och 10c
på grund av sitt lutande läge, och i allmänhetmörkare färg, har
mindre reflektionsförmåga än den övre plana ytan 10a, Så kan ändå
en till detektorn tillvänd vankant på grund av sitt läge avge en
kraftigare signal än den plana ytan. ' ü
Vid känd och i utvärderingsenheten 15A ingiven svephastighet kan
de verkliga avstânden mellan punkterna t1, t2 etc. på mätföre-
målet lätt fastställas. I fig. 3a och šbmligger över linjen Q zonen
motsvarande mottagningen av reflekterad strålning.
Ur betraktande av fig. 2 och 3a, 3b framgår att genom samverkan
av de båda detektorerna 22' och 22" lägen för alla fyra relevan-
ta "hörn" t1 - t4 kan fastställas med ledning av ställena tl', t2", W”
t3' och tgïi signaldiagrammen.
I fig. 2 visas vidare att brädan 10 har en defekt i form av ett
kvisthal 101 med dimensionen y. Där reflekteras givetvis prak-
tiskt taget ingen strålning alls, vilket i signaldiagrammen fram-
träder som gap mellan punkterna ts' och t6' resp. ts" och tö".
För att inte t.ex. endast sträckan tz' - t5' ellerntš" - tšï_
skall kunna uppfattas som bredden av hela brädan 10, är utvärde-
ringsenheten 15A programmerad att som mätsträckans pegynnelsepunkt
registrera signalföljdens första övergång från zonen motsvarande
icke-mottagning av på mätföremålet reflekterad strålning (zonen under
linjen D i fig. 3a och 3b) till zonen för mottagning av reflekterad
strålning (över linjen Q), och som mätsträckans slutpunkt den sista
övergången av signalföljden från zonen för mottagning av reflekteras
strålning (över linjen Q) till zonen för icke-mottagning (under linjen
Q). Därigenom uppnås "undertryckning" av kvisthâl och andra defekter
som orsakar utsläckning av reflexen från den sågade plana ytan. Märke
bör läggas till att utvärderingseneheten mottager signalföljderna från
båda detektorerna och att nämnda första och sista övergångar i regel
inte förekommer i en och samma detektor.
449 1_36
Registrering avhörnpunkterna§¿L, §¿1, t¿l, t¿: sker i ut-
värderingsenheten på följande sätt.
Breddkoordinater genereras genom att med början ñfim
en tid motsvarande svepets början, vid varje utsänd laserpuls
görs en uppräkning av innehållet i ett av utvärderingsenhetens
register. Koordinaten kopieras därefter omedelbart till något av
fyra andra register där man efter svepets slut kan erhålla hörn-
punkterna. Detta sker genom att regisuæmnas adresser bestäms del-
vis av datorprogrammet, delvis av de logiska nivåerna hos tvâ bi-
stabila vippor vilka av respektive detektorsignal kan ställas i
läge “1" och av en nollställningsimpuls i läge "O".
Vid svepets start uppvisar båda vipporna läget "00".”ïnnan
anordningens detektorer har uppfångat någon reflex, kommer därför
koordinatvärdet varje gång att inl sas i motsvarande register. Lä-
get av t¿l erhålls därför genom att ett inkrement läggs till talet
i detta register. Pâ samma sätt erhålls t¿: från registret med ad-
ressen innehållande "O1".
När t¿ï har passerats, ändras registreringen så att den av
datorprogrammet bestämda adressdelen ändras och vipporna áterställs
till "OO" efter varje registrering. Härigenom uppnås att vid den
nya adressen “11" lagras t¿l, medan t¿: erhålls vid "10".
I fig. 4 visas ett alternativt utförande av mätanordningen enligt
uppfinningen, utan konkavspegeln 213 och där svepstrålen inte för-
flyttas utmed inbördes parallella, utan divergenta banor såsom
S"1, S"2. Nackdelen med denna - konstruktionsmässigt enklare -
-fïföringsform är, att avståndet mellan den roterande planspegeln
212 och mätföremålet 10 är kritiskt, vilket annars inte alls är
fallet med den "parallella svepstrålen" enligt fig. 2. Konstruk-
tionen enligt fig. 2 är således bl.a. okänslig för mätföremâlets
Olika tjOCklekSVärden E . I övrigt bör anmärkas att även dessa
dessa tjockleksvärden kan avkännas på konventionellt sätt, exem-
pelvis via tryckrullar 18 vilka uppifrån sänks ned på
mätföremålet, och motsvarande mätsiqnaler inmatas i utvärderings-
enheten 15A. Där kan således det optimala utbytet ur en given
bräda beräknas inte endast yt-, utan även volymmässigt.
Känsligheten för mätobjektets tjocklek kan hos anordningen enligt fig.4
undanröjas genom att använda ett på något annatkäflt Sätt än via
449 13
detektorerna uppmätt tjockleksvärde. Dock kan i anordningen enligt
fig. 4 alltför branta vankanter inte upptäckas, om inte mätavståndet
(10 - 212) görs rätt långt (i storleksordningen l0m).
Fastän det för enkelhets skull ibland talas om en svepstråle, gäl-
ler det givetvis alltid ett strâlknippe, eftersom en enda strâle
inte har någon breddimension. Spâret §l (fig. 5) av svepstrâlknip-
pet på mätföremålet har en given breddimension k, vars värde be-
stäms av praktiska överväganden, och en vald längddimension l i
mätföremålets frammatningsriktning P1. Längddimensionen k väljs
med fördel sådan, att vid given svephastighet i pilens P3' rikt-
ning, och vid given frammatningshastighet i pilens Pl riktning,
de enstaka svepzonerna C1, C2, C3 ... åtminstone berör, och helst
något överlappar varandra i nämnda riktning Pl. Därigenom avsöks
mätföremàl utan avbrott, dvs kontinuerlig täckning av hela mät-
föremålet uppnås.
Ett prövat utföringsexempel uppvisar följande parametrar:
Frammatningshastighet i riktningen Pl: 2,2 m/sec
Sveplängd (A) __ 512 mm
Svepfrekvens 200 svep/minut
Svepstrålknippets tvärsnittsdimensioner l = llmm, k = 2mm
LjuSkälïa= diodlaser LBl från
bolaget ITT
Detektorernas synfält: 21°
Första transportören: längd 6,5 m
Andra transportören: längd 8 m
Upplösning i längdled: 11 mm
Mätupplösning: 1 mm
En avkortning av anordningens hela bygglängd uppnås när i stället
för en enda mätanordning enligt uppfinningen flera sådana, exem-
pelvis 3 st i inbördes avstånd på omkring 2_m används. Då är
mätningen klar innan mätföremålet pâ exempelvis 6 m har framma-
tats utmed en sträcka svarande mot hela dess längd, och t.ex. den
andra transportören 12 kan avkortas till omkring 3 m.
Toppkapaciteten av en anordning enligt uppfinningen inom sågverks-
industrin ligger vid omkring 20 brädor per minut vid en medel-
Claims (10)
1. Förfarande för breddmätning hos en bräda (10) med två sidoytor (10b, 10c) av vilka åtminstone en är en sned vankant, och med två plansågade ytor (10a, 10d) av vilka den ena är sma- lare än den andra och tillsammans med de båda sidoytorna bely- ses av en strålningskälla (211) samt bringas i synfält (22'A, 22“A) av tvâ strålningsdetektorer (22', 22") som alstrar mät- signaler varierande i intensitet i funktion av intensitetsvaria- tionen hos mottagen, på brädan reflekterad strålning när brädan avsöks genom i en avsökningszon (C) i mätriktningen förlöpande _ 449 156 svep, varvid nämnda mätsignaler från båda detektorerna inmataš i en med register försedd programmerbar elektronisk enhet (1SA) typ dator eller minidator, där de hopförs för utvärdering och framräkning av den sökta breddimensionen, k ä n n e t e c k - n a t a v att elektronikenheten programmeras att som mät- sträckans begynnelsepunkt registrera det första tillfälle under ett givet svep då signalintensiteten ökar över ett valt tröskel- värde (D), att som mätsträckans slutpunkt registrera det'sista tillfälle under samma svep då signalintensiteten sjunker under nämnda tröskelvärde, och att för fastställande av mätsträckans dimension uraktlåta signalintensitetens alla mellanliggande övergångar (t'5 - t'5, t"5 - t"5) av tröskelvärdet i endera__ riktningen,sâ att mätfel förorsakade av förekomsten av defekta ställen (101) på den smalare plana ytan vilka har nedsatt ref- lektionsförmåga,undanröjes.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k - n a t a v att nämnda svep åstadkommes genom att ett strål- knippe (S1) förskjuts parallellt med sig självt i mätriktningen, varvid detektorerna är stationärt anordnade.
3. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k - n a t a v att nämnda svep åstadkommas genom att ett strål- knippe (Sl“) svängs i mätriktningen utmed divergenta banor kring en mittpunkt, varvid detektorerna är statiønärt anordnade.
4. Förfarande enligt något eller några av föregående pa- .tentkrav vid användning hos en under mätningen i sin längdrikt- ning frammatad bräda, k ä n n e t e c k n a t a v att brä- "dan avsöks utan avbrott genom att dess frammatningshastighet -_samt svepets hastighet och avsökningszonens utsträckning (l) i enskilda svepzonerna (Cl-Cs) På brädan följer efter varandra utan mellanrum.
5. Förfarande enligt patentkrav 4, k ä n n e t e c k - n a t a v att frammatningshastigheten är i storleksordning- en 2,2 m/sec, sveplängden (A) 512 mm, svepfrekvensen 200/min och avsökningszonens nämnda utsträckning är ll mm.
6. Förfarande enligt något eller nâgra av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda defek- ta ställen registreras.
7. Förfarande enligt något eller några av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda trös- kelvärde väljes under den signalintensitet (t'1, t"r) som sva- u» 449 136 rar mot vankantens (10b, 10c) anslutningsställe (tl, tt) till den bredare plansågade ytan (10dL så att lägen för alla fyra hörn (tl - tt) i en brädas tvärsnitt kan fastställas.
8. Förfarande enligt något eller några av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda belys- ning åstadkommes med pulserande laserstrålning.
9. Förfarande enligt patentkrav 8, k ä n n e t e c k - n a t a v att i den elektroniska enheten för framtagning av mätresultatet fastställs lägen för fyra hörnpunkter (t1, tg, ta, tr) hos en brädas tvärsnitt, genom att breddkoordinater ge- nereras genom att från ett sveps begynnelse vid varje lasertuls uppräknas innehållet i ett register i den elektroniska enheten och koordinaten omedelbart kopieras till något av fyra andra i nämnda enhet förefintliga register vilkas adresser bestäms dels av programmet, dels av logiska nivåer hos två bistabila vippor som av mätsignaler från respektive detektor kan ställas i läge "1" och av en nollställningspuls i läge "O". och vilka vid sve- pets början ärfläget "0", varvid innan detektorerna har upp- fångat någon reflekterad strålning, koordinatvärdet inläses varje gång i motsvarande register, medan läget (t'1) för den första hörnpunkten (t1)erhâllesgenom att ett inkrement läggs till talet i detta register, läget (t"2)fördenandrahörnpunkten (t2)er- hålles på samma sätt från registret med adressen innehållande "01 " , var- efter registreringen ändras sâ att den av programmet bestämda adress- delen ändras och vipporna återställs till "OO" efter varje regist- rering, så att vid den nya adressen "11" lagras läget (t'g) för den tredje hörnpunkten (tg) medan läget (t"~) för den fjär- de (tu) erhålles vid adressen "10".
10. Förfarande enligt något eller nâgra av föregående pa- tentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att även brädans tjocklek (m) avkännes och motsvarande värde inmatas i den elekt- roniska enheten för volymmässig utbytesoptimering. m-v - -.~.qwr-4.....~._..~ -..---
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8105050A SE449136B (sv) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | Forfarande for breddmetning hos en breda |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8105050A SE449136B (sv) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | Forfarande for breddmetning hos en breda |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8105050L SE8105050L (sv) | 1983-02-27 |
SE449136B true SE449136B (sv) | 1987-04-06 |
Family
ID=20344432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8105050A SE449136B (sv) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | Forfarande for breddmetning hos en breda |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SE (1) | SE449136B (sv) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5680219A (en) * | 1993-04-19 | 1997-10-21 | Rydningen; Toni | Device for optical measurement of width/thickness |
WO1999035464A1 (en) * | 1998-01-02 | 1999-07-15 | Limab Laser & Instrumentmekanik Ab | Method and device for measuring workpiece widths under severe environmental conditions |
US6100986A (en) * | 1993-04-19 | 2000-08-08 | Rydningen; Toni | Arrangement for optic measuring of both width and thickness of an object moving along a straight path |
-
1981
- 1981-08-26 SE SE8105050A patent/SE449136B/sv not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5680219A (en) * | 1993-04-19 | 1997-10-21 | Rydningen; Toni | Device for optical measurement of width/thickness |
US6100986A (en) * | 1993-04-19 | 2000-08-08 | Rydningen; Toni | Arrangement for optic measuring of both width and thickness of an object moving along a straight path |
WO1999035464A1 (en) * | 1998-01-02 | 1999-07-15 | Limab Laser & Instrumentmekanik Ab | Method and device for measuring workpiece widths under severe environmental conditions |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE8105050L (sv) | 1983-02-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11808891B2 (en) | Integrated LIDAR illumination power control | |
AU2014352833B2 (en) | LiDAR scanner calibration | |
US4968146A (en) | Optical depth measuring device to be mounted on drilling power tool | |
US3016464A (en) | Apparatus for determining the location and thickness of a reflecting object | |
US6879384B2 (en) | Process and apparatus for measuring an object space | |
US4993835A (en) | Apparatus for detecting three-dimensional configuration of object employing optical cutting method | |
US4146327A (en) | Optical triangulation gauging system | |
JPS60128304A (ja) | 溶接機計測ヘツド | |
GB1449050A (en) | Device for determining the location of orientation of an object in a designated environment | |
US20060044570A1 (en) | Laser-based position measuring device | |
US4524282A (en) | Electro-optical level detector | |
US10955555B2 (en) | Depth sensor combining line triangulation and time of flight | |
US4221973A (en) | Linear array signal processing circuitry for locating the midpoint of a source of light | |
KR900006577B1 (ko) | 형상 측정기 | |
SE449136B (sv) | Forfarande for breddmetning hos en breda | |
US3809891A (en) | Beam scanning object detection system | |
US4521113A (en) | Optical measuring device | |
US4911307A (en) | Photoelectric apparatus for sorting articles according to size | |
US5587787A (en) | Process for measuring relative angles | |
US20050279913A1 (en) | Target tracking device for a flight vehicle | |
US3804534A (en) | Detection of blemishes in a surface | |
JPS63231286A (ja) | レ−ザビ−ムを用いた移動体の追尾距離測定装置 | |
US11681028B2 (en) | Close-range measurement of time of flight using parallax shift | |
CN211554316U (zh) | 双毫米精度激光探测器 | |
JPS62222117A (ja) | 多点距離計測センサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NAL | Patent in force |
Ref document number: 8105050-2 Format of ref document f/p: F |
|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8105050-2 Format of ref document f/p: F |