RU2601365C1 - Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate - Google Patents

Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate Download PDF

Info

Publication number
RU2601365C1
RU2601365C1 RU2015131880/02A RU2015131880A RU2601365C1 RU 2601365 C1 RU2601365 C1 RU 2601365C1 RU 2015131880/02 A RU2015131880/02 A RU 2015131880/02A RU 2015131880 A RU2015131880 A RU 2015131880A RU 2601365 C1 RU2601365 C1 RU 2601365C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
glass substrate
thin
intermetallic
synthesis
film
Prior art date
Application number
RU2015131880/02A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Александрович Плотников
Сергей Викторович Макаров
Анна Николаевна Макрушина
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный университет"
Priority to RU2015131880/02A priority Critical patent/RU2601365C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2601365C1 publication Critical patent/RU2601365C1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/14Metallic material, boron or silicon
    • C23C14/18Metallic material, boron or silicon on other inorganic substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/58After-treatment
    • C23C14/5806Thermal treatment

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

FIELD: physics.
SUBSTANCE: invention relates to physics of nanosized structures, namely a method of producing thin metal films, which can be used as test objects of optical devices. Method of producing a thin nanocrystalline film of Ni-Al system on a glass substrate involves application by condensation in vacuum of metal layers on the glass substrate and synthesis of the intermetallic compound, herewith at least six layers are applied on the glass substrate in the sequence of Ni/Al/Ni/Al/Ni/Al in vacuum at the residual pressure of not less than 10-5 torr with the thickness of each layer from 30 to 60 nm, and synthesis of the intermetallic compound is carried out by means of relaxation annealing in vacuum by stepped heating at the rate of 1 deg/sec within the temperature range from 20 to 300 °C until obtaining a thin nanocrystalline film with the specified density of the intermetallic phase.
EFFECT: invention is aimed at creation of nanostructured thin films with controlled density of the intermetallic phase distribution.
1 cl, 6 ex, 4 tbl, 6 dwg

Description

Изобретение относится к области физики низкоразмерных структур, а именно тонких металлических пленок, способу их получения, формированию наноразмерной тонкопленочной структуры, и может быть использовано в различных высокотехнологичных областях промышленности и науки для создания новых материалов.The invention relates to the field of physics of low-dimensional structures, namely, thin metal films, the method for their preparation, the formation of a nanoscale thin-film structure, and can be used in various high-tech fields of industry and science to create new materials.

Известна воспламеняющаяся гетерогенная слоистая структура для осуществления экзотермической химической реакции в виде расширяющегося волнового фронта и способ получения наноструктурных многослойных пленок (патент США №5538795, 1996), включающий: выбор первого и второго экзотермического материала, попеременного составления их в единое целое, где каждый материал имеет толщину в диапазоне 0,002-1,0 мкм. Система обеспечивает экзотермическую реакцию, распространяющуюся со скоростью в диапазоне 0,2-100 метров в секунду в зависимости от пропорций слоев, синтезируется слой интерметаллического соединения, имеющий толщину в диапазоне 0,0003-0,018 мкм, расположенный между слоями первого и второго материалов и повторяющийся с периодом D в диапазоне 0,005-2,0 мкм.Known flammable heterogeneous layered structure for the implementation of an exothermic chemical reaction in the form of an expanding wavefront and a method for producing nanostructured multilayer films (US patent No. 5538795, 1996), including: the choice of the first and second exothermic material, alternately compiling them into a single unit, where each material has thickness in the range of 0.002-1.0 microns. The system provides an exothermic reaction propagating at a speed in the range of 0.2-100 meters per second depending on the proportions of the layers, an intermetallic compound layer is synthesized having a thickness in the range of 0.0003-0.018 μm, located between the layers of the first and second materials and repeating with period D in the range of 0.005-2.0 microns.

Способ не позволяет получить однородный тонкопленочный продукт в виде статистически распределенных островков интерметаллической фазы. Волновой процесс синтеза, базовые параметры которого определяются самим процессом, а именно производством энтальпии и потерями тепла, не позволяют управлять синтезом интерметаллической фазы.The method does not allow to obtain a homogeneous thin-film product in the form of statistically distributed islands of the intermetallic phase. The wave process of synthesis, the basic parameters of which are determined by the process itself, namely the production of enthalpy and heat loss, do not allow the synthesis of the intermetallic phase to be controlled.

Известен «Способ синтеза сверхпроводящего интерметаллических соединений в пленках» - (Патент РФ №2285743, заявка №2005104854/02 от 22.02.2005 г., Бюл. 29 от 20.10.06).The well-known "Method for the synthesis of superconducting intermetallic compounds in films" - (RF Patent No. 2285743, application No. 2005104854/02 of 02.22.2005, Bull. 29 of 10.20.06).

Согласно способу наносят с помощью ионно-плазменного совместного распыления исходных металлических мишеней из ниобия и олова, конденсации несверхпроводящей пленки твердого раствора исходных металлов и последующего воздействия потоком ионизирующего излучения заданной интенсивности для синтеза интерметаллического соединения путем сканирования потока по поверхности пленки или относительно потока.According to the method, it is applied using ion-plasma co-sputtering of initial metal targets from niobium and tin, condensation of a nonsuperconducting film of a solid solution of starting metals and subsequent exposure to a stream of ionizing radiation of a given intensity to synthesize an intermetallic compound by scanning the stream over the film surface or relative to the stream.

Данный способ не позволяет получить состав твердого раствора нужной стехиометрии (в анализируемом способе это интерметаллическое соединение Nb3Sn), в связи с тем, что в ходе облучения будет синтезироваться данное соединение и другие соединения системы Nb-Sn, кроме того, останется одна из металлических компонент, что не позволяет сформировать сверхпроводящий монофазный слой на заданной глубине пленки.This method does not allow to obtain the composition of the solid solution of the desired stoichiometry (in the analyzed method it is an intermetallic compound Nb 3 Sn), due to the fact that during the irradiation this compound and other compounds of the Nb-Sn system will be synthesized, in addition, one of the metallic component, which does not allow the formation of a superconducting single-phase layer at a given depth of the film.

Известен способ реализации самораспространяющегося высокотемпературного синтеза и твердофазных реакций в двухслойных тонких пленках Al/Ni, Al/Fe, Al/Co (Мягков В.Г. и др. Самораспространяющийся высокотемпературный синтез и твердофазные реакции в двухслойных тонких пленках // ЖТФ, 1998, т. 68, №10, с. 58-62), взятый за прототип. Волна синтеза реализуется при интенсивном нагреве до температуры инициирования реакции, которая на 300-350°С ниже, чем в макроскопических объемах порошковых экзотермических системах. Степень превращения исходных пленочных компонент составляет 0,6-0,8, лишь для системы Ni-Al достигнута степень превращения, равная 1, но при тщательном соблюдении стехиометрии Ni2Al3, однако и в этом случае наблюдается небольшое количество фазы NiAl. В двухслойных системах практически невозможно избежать многофазного структурного состояния по окончанию синтеза в связи со сложностью поддержания стехиометрического соотношения элементов в металлических слоях (в ходе синтеза интерметаллического соединения, например стехиометрии Ni2Al3, в окружающей матрице меняется соотношение компонент из-за диффузионного массопереноса их в зону реакции). Кроме того, процесс синтеза носит неуправляемый характер из-за самоподдерживающегося характера волнового процесса, который определяется внутренними параметрами системы. Для инициирования, а в ряде случаев и поддержания волны реакции, требуется интенсивный внешний источник энергии, компенсирующий потери энергии в результате теплоотвода.A known method for the implementation of self-propagating high-temperature synthesis and solid-state reactions in two-layer thin films Al / Ni, Al / Fe, Al / Co (Myagkov V.G. et al. Self-propagating high-temperature synthesis and solid-phase reactions in two-layer thin films // ZhTF, 1998, t . 68, No. 10, pp. 58-62), taken as a prototype. The synthesis wave is realized upon intense heating to the reaction initiation temperature, which is 300-350 ° C lower than in macroscopic volumes of exothermic powder systems. The degree of conversion of the starting film components is 0.6-0.8, only for the Ni-Al system the degree of conversion is 1, but with careful observance of the stoichiometry of Ni 2 Al 3 , however, in this case a small amount of the NiAl phase is also observed. In two-layer systems, it is practically impossible to avoid a multiphase structural state at the end of synthesis due to the difficulty in maintaining the stoichiometric ratio of elements in metal layers (during the synthesis of an intermetallic compound, for example, stoichiometry of Ni 2 Al 3 , the ratio of components in the surrounding matrix changes due to their diffusion mass transfer in reaction zone). In addition, the synthesis process is uncontrollable due to the self-sustaining nature of the wave process, which is determined by the internal parameters of the system. To initiate, and in some cases maintain a reaction wave, an intense external energy source is required to compensate for the energy loss resulting from heat removal.

Данный способ не позволяет осуществлять синтез интерметаллического соединения нужной концентрации интерметаллических островков в связи с невозможностью управлять процессом синтеза и формированием структуры тонкопленочного агрегата в ходе автоволнового процесса.This method does not allow the synthesis of an intermetallic compound of the desired concentration of intermetallic islands due to the inability to control the synthesis process and the formation of the structure of a thin-film aggregate during the autowave process.

Задача изобретения - получение интерметаллических тонких пленок для создания наноструктурных материалов с регулируемой плотностью распределения интерметаллической фазы в тонкоплечочном состоянии.The objective of the invention is the production of intermetallic thin films to create nanostructured materials with an adjustable density distribution of the intermetallic phase in the thin-arm state.

Сущность изобретенияSUMMARY OF THE INVENTION

Предлагаемый способ получения тонкой нанокристаллической интерметаллической пленки осуществляется путем нанесения на подложку в вакууме не менее шести металлических слоев в последовательности Ni/Al/Ni/Al/Ni/Al для системы Ni-Al и последующего релаксационного отжига в вакууме путем ступенчатого нагрева пленок в интервале температур от комнатной температуры - 20 до 300°С. В процессе отжига происходит зарождение и рост множества островков интерметаллической фазы, плотность которых регулируется при ступенчатом нагреве, то есть получаются интерметаллические тонкие пленки с заданной плотностью интерметаллической фазы. Островки интерметаллической фазы на стадии зарождения представляют собой точечные объекты нанометрового масштаба, обладающие особыми свойствами электронной подсистемы низкоразмерного (нульмерного) объекта. Регулируя концентрацию островков интерметаллической фазы, получают тонкие пленки с заданными электрофизическими свойствами.The proposed method for producing a thin nanocrystalline intermetallic film is carried out by applying at least six metal layers to the substrate in vacuum in the sequence Ni / Al / Ni / Al / Ni / Al for the Ni-Al system and subsequent relaxation annealing in vacuum by stepwise heating the films in the temperature range from room temperature - 20 to 300 ° C. In the process of annealing, the nucleation and growth of many islands of the intermetallic phase occurs, the density of which is regulated by stepwise heating, i.e., intermetallic thin films with a given density of the intermetallic phase are obtained. The islands of the intermetallic phase at the nucleation stage are point objects of a nanometer scale that have special properties of the electronic subsystem of a low-dimensional (zero-dimensional) object. By adjusting the concentration of islands of the intermetallic phase, thin films with desired electrophysical properties are obtained.

Осуществление изобретенияThe implementation of the invention

Способ получения тонкой нанокристаллической интерметаллической пленки на стеклянной подложке осуществляется следующим образом.A method of obtaining a thin nanocrystalline intermetallic film on a glass substrate is as follows.

1. Выбор бинарной металлической системы, для синтезирования интерметаллических соединений системы Ni-Al в пленке Ni/Al/Ni/Al/Ni/Al.1. The choice of a binary metal system for the synthesis of intermetallic compounds of the Ni-Al system in a Ni / Al / Ni / Al / Ni / Al film.

2. Нанесение на подложку из силикатного стекла в вакууме при остаточном давлении не хуже 10-5 торр не менее шести металлических слоев, толщиной каждого слоя 30-60 нм.2. Application of a silicate glass substrate in vacuum at a residual pressure of no worse than 10 -5 torr of at least six metal layers, each layer 30-60 nm thick.

3. Ннагревают со скоростью 1 град/с от комнатной температуры ступенчато от 20 до 300°С вплоть до получения тонкой интерметаллической пленки с плотностью интерметаллической фазы, зависящей от конечной температуры нагрева.3. Heated at a speed of 1 deg / s from room temperature stepwise from 20 to 300 ° C until a thin intermetallic film with a density of the intermetallic phase, depending on the final heating temperature.

Выполнение перечисленных операций позволяет избежать ряд негативных процессов, сопровождающих получение тонких интерметаллических пленок в режиме волны синтеза:Performing the above operations avoids a number of negative processes accompanying the production of thin intermetallic films in the synthesis wave mode:

во-первых, при автоволновом синтезе нельзя вмешиваться в процесс и осуществлять регулирование этого процесса;firstly, during autowave synthesis it is impossible to interfere in the process and regulate this process;

во-вторых, при автоволновом синтезе интерметаллической пленки из двухслойной невозможно осуществить управление структурированием синтезируемого интерметаллического соединения из-за самоподдерживающегося характера автоволновой реакции и нарушения стехиометрии между слоями металлов.secondly, during autowave synthesis of an intermetallic film from a two-layer film, it is impossible to control the structuring of the synthesized intermetallic compound due to the self-sustaining nature of the autowave reaction and violation of stoichiometry between the metal layers.

В то же время при нанесении мультислоев (в связи с тем, что флуктуация состава возможна как в ту, так и другую сторону) в среднем стехиометрия интерметаллического соединения выдерживается точнее, что увеличивает вероятность зарождения как при конденсации из паров, так и в ходе термоактивируемого зарождения реакционных островков при ступенчатом нагреве. Контролируемый ступенчатый нагрев от комнатной температуры -20°С до 100°С, 200°С, 300°С, конденсированной системы металлических мультислоев приводит к синтезу интерметаллического соединения заданной стехиометрии. Реакция реализуется управляемо - в виде объемного синтеза - путем получения сплошной нанокристаллической интерметаллической пленки.At the same time, when applying multilayers (due to the fact that composition fluctuations are possible both ways), the average stoichiometry of the intermetallic compound is more accurately maintained, which increases the probability of nucleation both during condensation from vapors and during thermally activated nucleation reaction islands with step heating. Controlled stepwise heating from room temperature -20 ° С to 100 ° С, 200 ° С, 300 ° С, of a condensed system of metal multilayers leads to the synthesis of an intermetallic compound of a given stoichiometry. The reaction is implemented in a controlled manner - in the form of bulk synthesis - by obtaining a continuous nanocrystalline intermetallic film.

Пример 1.Example 1

Выбор металлической системы для осуществления синтеза интерметаллических соединений и получения многослойной тонкопленочной структуры обусловлен возможностью протекания в такой системе химических, в том числе и экзотермических реакций, конечным продуктом которых являются интерметаллические соединения. Рассмотрим диаграммы состояния двойных металлических систем Al-Ni (рис. 1).The choice of a metal system for the synthesis of intermetallic compounds and the production of a multilayer thin-film structure is due to the possibility of chemical, including exothermic, reactions in such a system, the end product of which are intermetallic compounds. Consider the state diagrams of binary metallic Al-Ni systems (Fig. 1).

Из анализа диаграммы состояния алюминий - никель (рис. 1) следует, что в этой системе возможны интерметаллические соединения Ni3Al, NiAl, Ni2Al3 и NiAl3. Наиболее вероятными являются соединения Ni3Al и NiAl, в ходе образования которых наблюдается большой экзотермический эффект.From an analysis of the aluminum – nickel state diagram (Fig. 1), it follows that Ni 3 Al, NiAl, Ni 2 Al 3, and NiAl 3 are possible in this system. The most probable compounds are Ni 3 Al and NiAl, during the formation of which a large exothermic effect is observed.

Пример 2.Example 2

Рассмотрим бинарные металлические пленки Ni/Al, полученные последовательной конденсацией из паровой фазы на стеклянные подложки пленок никеля и алюминия, толщиной каждого слоя примерно 30-60 нм. После получения пленки подвергаются отжигу путем нагрева с умеренной скорость 1 град/с до 600°С в вакууме с остаточным давление 10-5 torr. Проведен анализ структурно-фазового состояния бинарных пленок. На рис. 2 и 3 приведены рентгенограммы для пленки Ni/Al. В исходном состоянии конденсат аморфизирован, о чем свидетельствует сильный диффузионный фон рентгеновского излучения в широком интервале углов.Let us consider binary metallic Ni / Al films obtained by sequential condensation from the vapor phase onto glass substrates of nickel and aluminum films with a thickness of each layer of about 30-60 nm. After receipt of the film, they are annealed by heating at a moderate speed of 1 deg / s to 600 ° C in vacuum with a residual pressure of 10 -5 torr. The structural-phase state of binary films is analyzed. In fig. 2 and 3 are X-ray diffraction patterns for a Ni / Al film. In the initial state, the condensate is amorphized, as evidenced by the strong diffusion background of X-rays in a wide range of angles.

После отжига и прохождения структурной релаксации рентгенограмма (рис. 3) содержит рефлексы интерметаллической фазы, но диффузионный фон по-прежнему высокий, что свидетельствует о наличие остаточного (непрореагировавшего) металлического компонентаAfter annealing and structural relaxation, the X-ray diffraction pattern (Fig. 3) contains reflections of the intermetallic phase, but the diffusion background is still high, which indicates the presence of a residual (unreacted) metal component

Характерно, что структурное состояние пленок, которые по интегральной рентгенограмме являются аморфными, при детальном анализе можно назвать рентгеноаморфными, подчеркивая тем самым формирование некоторого дальнего порядка и кластеров уже в процессе конденсации двухслойных пленок Ni/Al. Этот вывод следует из проведенного ниже (рис. 3) анализа рентгенограмм.It is characteristic that the structural state of the films, which are amorphous in the integrated X-ray diffraction pattern, can be called X-ray amorphous in a detailed analysis, thereby emphasizing the formation of a certain long-range order and clusters already in the process of condensation of two-layer Ni / Al films. This conclusion follows from the analysis of radiographs carried out below (Fig. 3).

Уширение рефлексов аномально большое. Это свидетельствует о том, что структурное состояние тонкопленочного конденсата после проведения отжига характеризуется, как наноструктурное. Как показано в табл.1, размер зоны когерентного рассеяния составляет около 29,7 нм (размер зон когерентного рассеяния характеризует размер некоторого кристаллического кластера). То есть дальний порядок в расположении атомов фазы NiAl охватывает область размером 29, 7 нм. Размер кластеров алюминия меньше (размер зоны когерентного рассеяния для алюминия составляет 13 нм). Расчет размера зон когерентного рассеяния D производился по стандартной методике по упрощенной формулеReflex broadening is abnormally large. This indicates that the structural state of the thin-film condensate after annealing is characterized as nanostructured. As shown in Table 1, the size of the coherent scattering zone is about 29.7 nm (the size of the coherent scattering zones characterizes the size of some crystalline cluster). That is, the long-range order in the arrangement of atoms of the NiAl phase covers a region of 29.7 nm in size. The size of aluminum clusters is smaller (the size of the coherent scattering zone for aluminum is 13 nm). The calculation of the size of the coherent scattering zones D was carried out according to the standard method according to the simplified formula

Figure 00000001
Figure 00000001

Здесь λ - длина волны рентгеновского излучения в нм, β - уширение рентгеновского рефлекса в радианах, Θ - угловое положение рентгеновского рефлекса.Here, λ is the X-ray wavelength in nm, β is the broadening of the X-ray reflection in radians, and Θ is the angular position of the X-ray reflection.

О существовании остаточной металлической компоненты свидетельствует элементный состав бинарных пленок на рис. 4 и 5.The existence of a residual metal component is indicated by the elemental composition of binary films in Fig. 4 and 5.

Из приведенных данных следует, что фазовыми составляющими тонкопленочного конденсата являются интерметаллическое соединение NiAl и чистый алюминий. То есть тонкопленочный конденсат после проведения отжига и осуществления структурной релаксации двухфазный, табл. 2, 3.From the data presented it follows that the phase components of the thin-film condensate are the intermetallic compound NiAl and pure aluminum. That is, the thin-film condensate after annealing and structural relaxation is two-phase, tab. 2, 3.

Пример 3.Example 3

Рассмотрим мультислойные (шестислойные) металлические пленки систем Al-Ni и Ni/Al/Ni/Al/Ni/Al соответственно. Как и в примере 2, пленки получены последовательной конденсацией из паровой фазы на стеклянные подложки пленок никеля и алюминия. После конденсации в пленках осуществлен синтез в виде волнового процесса. Волна синтеза была инициирована интенсивным подогревом пленки и подложки в вакууме. В таблице 4 представлены данные по структурно-фазовому состоянию пленок после осуществления синтеза.Consider multilayer (six-layer) metal films of the Al-Ni and Ni / Al / Ni / Al / Ni / Al systems, respectively. As in Example 2, the films were obtained by sequential condensation from the vapor phase onto the glass substrates of nickel and aluminum films. After condensation in the films, synthesis was carried out in the form of a wave process. The synthesis wave was initiated by intense heating of the film and substrate in vacuum. Table 4 presents data on the structural phase state of the films after synthesis.

Как показано в табл. 4, фазовый состав тонких пленок мультислойной системы Ni-Al представлен соединением Ni3Al, NiAl и непрореагировавшими Ni и Al. Все фазы представлены в виде наночастиц размером 8-12 нм. Особенностью структурного состояния тонкопленочной системы является высоких уровень напряжений. Относительное изменение межплоскостного расстояния Δd/d составило от 3·10-3 до 7·10-3. Таким образом, в мультислойной металлической тонкопленочной системе при проведении синтеза в виде автоволнового процесса формируется многофазный тонкопленочный продукт, управлять процессом синтеза нельзя в силу именно самоподдерживающегося характера реакции.As shown in the table. 4, the phase composition of NiAl thin films of the multilayer system a compound represented by Ni 3 Al, NiAl and Ni and unreacted Al. All phases are presented in the form of nanoparticles with a size of 8-12 nm. A feature of the structural state of the thin-film system is a high level of stress. The relative change in interplanar distance Δd / d ranged from 3 · 10 -3 to 7 · 10 -3 . Thus, in a multilayer metal thin-film system during synthesis in the form of an autowave process, a multiphase thin-film product is formed, the synthesis process cannot be controlled due to the self-sustaining nature of the reaction.

Пример 4.Example 4

После получения мультислойного металлического конденсата и автоволнового синтеза интерметаллических соединений как в п. 3 рассмотрим структуру волны синтеза. Как показано на рис. 6, в системе Ni-Al волновой фронт имеет резкую сплошную границу, которой предшествует фрагментированная область - реакционные островки. Волна синтеза в тонкопленочной системе Ni-Al на микроуровне имеет структуру, характеризующую структурно-фазовое состояние тонкой пленки на разных стадиях формирования интерметаллической фазы. Таким образом, процесс синтеза интерметаллических соединений представляет собой эволюцию структуры от стадии зародышеобразования и множественного зарождения до стадии коалесценции растущих и вновь образующихся реакционных островков с плотностью интерметаллической фазы, зависящей от конечной температуры нагрева.After obtaining multilayer metal condensate and autowave synthesis of intermetallic compounds, as in Section 3, we consider the structure of the synthesis wave. As shown in fig. 6, in the Ni-Al system, the wavefront has a sharp continuous boundary, which is preceded by a fragmented region — reaction islands. The synthesis wave in the Ni-Al thin-film system at the micro level has a structure characterizing the structural-phase state of a thin film at different stages of the formation of the intermetallic phase. Thus, the process of synthesis of intermetallic compounds represents the evolution of the structure from the stage of nucleation and multiple nucleation to the stage of coalescence of growing and newly formed reaction islands with the density of the intermetallic phase, which depends on the final heating temperature.

Композиции, сформированные путем нагрева мультислойной пленки, могут быть использованы в качестве тест объектов для оптических приборов.Compositions formed by heating a multilayer film can be used as test objects for optical instruments.

Figure 00000002
Figure 00000002

Figure 00000003
Figure 00000003

Figure 00000004
Figure 00000004

Figure 00000005
Figure 00000005

Claims (1)

Способ получения тонкой нанокристаллической пленки системы Ni-Al на стеклянной подложке, включающий нанесение конденсацией в вакууме металлических слоев на стеклянную подложку и проведение синтеза интерметаллического соединения, отличающийся тем, что на стеклянную подложку наносят не менее шести слоев в последовательности Ni/Al/Ni/Al/Ni/Al в вакууме при остаточном давлении не хуже 10-5 торр с толщиной каждого слоя от 30 до 60 нм, а синтез интерметаллического соединения осуществляют с помощью релаксационного отжига в вакууме путем ступенчатого нагрева со скоростью 1 град/с в интервале температур от 20 до 300°С до получения тонкой нанокристаллической пленки с заданной плотностью интерметаллической фазы. A method of producing a thin nanocrystalline film of the Ni-Al system on a glass substrate, comprising applying metal layers to a glass substrate by condensation in vacuum and synthesizing an intermetallic compound, characterized in that at least six layers in the Ni / Al / Ni / Al sequence are applied to the glass substrate / Ni / Al in vacuum at a residual pressure of at least 10 -5 Torr with each layer thickness of 30 to 60 nm, and the intermetallic compound synthesis is carried out using a relaxation annealing in vacuo by stepwise in roar a rate of 1 deg / s in the temperature range from 20 to 300 ° C until a nanocrystalline thin film with a predetermined density of intermetallic phase.
RU2015131880/02A 2015-07-30 2015-07-30 Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate RU2601365C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015131880/02A RU2601365C1 (en) 2015-07-30 2015-07-30 Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2015131880/02A RU2601365C1 (en) 2015-07-30 2015-07-30 Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2601365C1 true RU2601365C1 (en) 2016-11-10

Family

ID=57277873

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015131880/02A RU2601365C1 (en) 2015-07-30 2015-07-30 Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2601365C1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030206819A1 (en) * 2002-05-02 2003-11-06 Talia George E. Method of making coatings comprising an intermetallic compound and coatings made therewith
US6672502B1 (en) * 2000-11-28 2004-01-06 The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University Method for making devices having intermetallic structures and intermetallic devices made thereby
RU2285743C1 (en) * 2004-04-12 2006-10-20 Дочернее государственное предприятие (на праве хозяйственного ведения) "Институт ядерной физики" Республиканского государственного предприятия (на праве хозяйственного ведения) "Национальный ядерный центр Республики Казахстан" Министерства энергетики и минеральных ресурсов Республики Казахстан Method of synthesis of superconducting inter-metallic joint in films
US7867633B2 (en) * 2004-06-07 2011-01-11 Colorado School Of Mines Coatings for glass molding dies and forming tools

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6672502B1 (en) * 2000-11-28 2004-01-06 The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University Method for making devices having intermetallic structures and intermetallic devices made thereby
US20030206819A1 (en) * 2002-05-02 2003-11-06 Talia George E. Method of making coatings comprising an intermetallic compound and coatings made therewith
RU2285743C1 (en) * 2004-04-12 2006-10-20 Дочернее государственное предприятие (на праве хозяйственного ведения) "Институт ядерной физики" Республиканского государственного предприятия (на праве хозяйственного ведения) "Национальный ядерный центр Республики Казахстан" Министерства энергетики и минеральных ресурсов Республики Казахстан Method of synthesis of superconducting inter-metallic joint in films
US7867633B2 (en) * 2004-06-07 2011-01-11 Colorado School Of Mines Coatings for glass molding dies and forming tools

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Мягков В.Г. и др. Самораспространяющийся высокотемпературный синтез и твердофазные реакции в двухслойных тонких пленках, Журнал технической физики, 1998, т.68, N 10, с.58-62. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Chevalier-César et al. Growth mechanism studies of ZnO nanowire arrays via hydrothermal method
Wahab et al. Synthesis, characterization and effect of pH variation on zinc oxide nanostructures
Iwasaki et al. Physico-geometrical kinetic modeling of the thermal decomposition of magnesium hydroxide
US5198043A (en) Making amorphous and crystalline alloys by solid state interdiffusion
Nie et al. Dislocation driven spiral and non-spiral growth in layered chalcogenides
Kim et al. Morphological variation of anatase TiO 2 crystals via formation of titanium glycerolate precursors under microwave irradiation
Kim et al. Mechanistic understanding of tungsten oxide in-plane nanostructure growth via sequential infiltration synthesis
Rana et al. XRD and SEM investigation of swift heavy ion-irradiated polyvinylidene fluoride thin films
Wang et al. Solvent effects and its role in quantitatively manipulating the crystal growth: benzoic acid as case study
Guan et al. Synthesis and alignment of Zn and ZnO nanoparticles by laser-assisted chemical vapor deposition
RU2566129C1 (en) Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate
Gromov et al. Specific features of the formation of arrays of silver clusters from a thin film on a SiO 2 surface
RU2601365C1 (en) Method of producing thin nanocrystalline intermetallic film on glass substrate
Coffey et al. Vacuum ultraviolet-enhanced oxidation—A route to the atomic layer etching of palladium metal
Jáger et al. Nucleation and growth kinetics of ZnAl2O4 spinel in crystalline ZnO–amorphous Al2O3 bilayers prepared by atomic layer deposition
RU2598723C1 (en) Method of producing monophase intermetallic thin film
CN107604331B (en) A method of Cu/Ti amorphous multilayer film is prepared with solid phase reaction technology
CN113718227B (en) Two-dimensional layered ternary compound and preparation method thereof
RU2680072C1 (en) Thin nanocrystalline inter-metallic film on glass substrate production method
Lützenkirchen-Hecht et al. Time‐Resolved Grazing Incidence X‐Ray Absorption Spectroscopy for the In Situ Investigation of the Initial Stages of Sputter‐Deposited Copper Thin Films
Luo et al. Coherent Atomic-Scale Ripples on Metallic Glasses Patterned by Low-Energy Ion Irradiation for Large-Area Surface Structuring
Biehler et al. Controlled synthesis of ZnO nanorods using different seed layers
Maskaeva et al. Features of the Formation of Thin Films of Supersaturated Cd x Pb 1–x S Solid Solutions by Chemical Bath Deposition
Attri et al. Synthesis of cobalt nanoparticles on Si (100) by swift heavy ion irradiation
Pershyn et al. Reactive diffusion in Sc/Si multilayer X-ray mirrors with CrB 2 barrier layers

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200731