RU2521150C1 - Способ измерения шума узлов мфпу - Google Patents

Способ измерения шума узлов мфпу Download PDF

Info

Publication number
RU2521150C1
RU2521150C1 RU2012153271/28A RU2012153271A RU2521150C1 RU 2521150 C1 RU2521150 C1 RU 2521150C1 RU 2012153271/28 A RU2012153271/28 A RU 2012153271/28A RU 2012153271 A RU2012153271 A RU 2012153271A RU 2521150 C1 RU2521150 C1 RU 2521150C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
noise
fpu
voltage
noise voltage
power supply
Prior art date
Application number
RU2012153271/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2012153271A (ru
Inventor
Александр Иванович Патрашин
Original Assignee
Открытое акционерное общество "НПО "Орион"(ОАО "НПО Орион)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "НПО "Орион"(ОАО "НПО Орион) filed Critical Открытое акционерное общество "НПО "Орион"(ОАО "НПО Орион)
Priority to RU2012153271/28A priority Critical patent/RU2521150C1/ru
Publication of RU2012153271A publication Critical patent/RU2012153271A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2521150C1 publication Critical patent/RU2521150C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике. Сущность: способ измерения шума узлов фотоприемного устройства (ФПУ) включает измерение напряжения шума U ш1 с выключенным напряжением питания ФПУ, измерение напряжения шума U ш2 с включенным напряжением питания ФПУ и заданным временем накопления ФПУ, расчет напряжения шума ФПУ U ш по формуле: U ш = U ш 2 2 U ш 1 2
Figure 00000012
. Дополнительно измеряют напряжение шума Uш3 с включенным напряжением питания и нулевым временем накопления ФПУ и рассчитывают уровень шума матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) U шМФЧЭ и большой интегральной схемы (БИС) U шБИС по формулам: U ш М Ф Ч Э = U ш 2 2 U ш 3 2
Figure 00000015
, U ш Б И С = U ш 3 2 U ш 1 2
Figure 00000016
. Технический результат - раздельное измерение шума МФЧЭ и БИС. 3 ил., 1 табл.

Description

Изобретение относится к способам измерения параметров многоэлементных фотоприемных устройств (ФПУ), работающих в режиме накопления. Эти устройства работают в диапазонах 0,2-0,4 мкм, 0,4-0,9 мкм, 0,5-0,65 мкм, 0,8-1,1 мкм, 1-2,8 мкм, 3-5 мкм, 8-12 мкм и далее вплоть до 100-150 мкм.
ФПУ включают два основных узла, которые определяют параметры фоточувствительных элементов (ФЧЭ):
1 - Матрица фоточувствительных элементов (МФЧЭ);
2 - Кремниевый мультиплексор - большая интегральная схема (БИС).
МФЧЭ может включать более 1000000 ФЧЭ, которые должны иметь близкие параметры и осуществлять преобразование падающего на них излучения в фототок. БИС должна иметь такое же количество ячеек, скоммутированных поэлементно с МФЧЭ, и выполнять накопление фототоков с ФЧЭ, преобразование накопленных зарядов в напряжение, поэлементное считывание, предварительное усиление и вывод стандартизованных по диапазону изменений сигналов с заданной частотой кадров. Современные мультиплексоры-процессоры кроме этого осуществляют преобразование выходных сигналов из аналоговой формы в цифровую форму и осуществляют предварительную цифровую обработку этих сигналов. Рабочая температура МФЧЭ и БИС может быть и достаточно низкой, в случае работы в инфракрасном (ИК) диапазоне, чтобы снизить обратные токи ФЧЭ.
Производство ФПУ направлено на получение устройств с заданным фотоэлектрическим параметром, характеризующим его качество.
Таким параметром может быть пороговая облученность (NEI), или пороговая мощность (NEP), или удельная обнаружительная способность (D*), или пороговая разность температур (NETD).
Для производства годных ФПУ необходимо, чтобы величина заданного фотоэлектрического параметра удовлетворяла техническим требованиям (ТТ) или техническим условиям (ТУ). ФПУ, не удовлетворяющее требованию, считается дефектным и поставке не подлежит. В этом случае выпуск и дальнейшая поставка ФПУ останавливается до выяснения причин возникновения дефектов и принятия мер по их устранению, подтвержденному положительным результатом испытаний ФПУ с устраненным дефектом.
В этом случае нам требуется достаточно быстрый и корректный метод определения места возникновения дефектов и причин их возникновения.
Все вышеуказанные параметры являются пороговыми, т.е. определяются уровнем шума ФПУ. В дефектном ФПУ уровень шума будет повышенным. Шум ФПУ складывается из шума ФЧЭ и шума БИС. Следовательно, повышенным будет или шум МФЧЭ, или шум БИС, или оба шума.
В результате возникает необходимость раздельного определения уровня шумов МФЧЭ и БИС.
Известен метод измерения шума ФПУ, описанный в разделе 1.8 ГОСТ 17772-88.
В указанном методе необходимо измерить уровень шума измерительного стенда и суммарный уровень шума измерительного стенда и ФПУ, а затем определить уровень шума ФПУ в соответствии с формулой (19) ГОСТ 17772-88.
Figure 00000001
где Uш1 - напряжение шума без подачи напряжения питания ФПУ (напряжение шума стенда), В;
Uш2 - напряжение шума при подаче напряжения питания ФПУ (суммарное напряжение шума стенда и ФПУ), В;
Uш - напряжение шума ФПУ, В.
Указанный метод не позволяет раздельно измерить шум МФЧЭ и шум БИС.
Задачей заявляемого способа является раздельное измерение величин шума МФЧЭ и шума БИС.
Технический результат достигается тем, что в известном способе измерения шума узлов ФПУ, включающем измерение напряжения шума Uш1 с выключенным напряжением питания ФПУ, измерение напряжения шума Uш2 с включенным напряжением питания и заданным временем накопления ФПУ, и расчет напряжения шума ФПУ Uш по формуле
Figure 00000002
дополнительно измеряют напряжение шума Uш3 с включенным напряжением питания и нулевым временем накопления ФПУ, и рассчитывают уровень шума МФЧЭ UшМФЧЭ и БИС UшБИС по следующим формулам:
Figure 00000003
Figure 00000004
Сущность заявляемого способа состоит в следующем.
Шумы измерительного стенда и ФПУ являются некоррелированными. Тогда суммарный шум системы, включающей измерительный стенд и работающее ФПУ с заданным временем накопления τ, описывается выражением
Figure 00000005
а шум системы, включающей измерительный стенд и выключенное ФПУ, - выражением
Figure 00000006
Тогда шум работающего ФПУ с заданным временем накопления τ будет равен
Figure 00000007
Шум работающего ФПУ с заданным временем накопления τ является суммой шума БИС мультиплексора и МФЧЭ. Эти шумы также некоррелированные, поэтому их сумма описывается следующим выражением:
Figure 00000008
Если установить время накопления ФПУ равным нулю, то МФЧЭ будет изолировано от БИС. В этом случае шум ФПУ будет равен шуму БИС. Тогда суммарный шум системы, включающей измерительный стенд и ФПУ, работающее с нулевым временем накопления, будет описываться формулой
Figure 00000009
Из этого выражения мы получим формулу, описывающую величину шума БИС мультиплексора
Figure 00000010
и величину шума МФЧЭ,
Figure 00000011
В качестве примера реализации рассмотрим ФПУ формата 4×288 на основе фотодиодов из КРТ. МФЧЭ включает 8 линеек, расположенных в соответствии с топологией, представленной на фиг.1.
На автоматизированном стенде измерения параметров ФПУ были произведены измерения шумов в соответствии с заявленным способом. Измерение длилось 10 минут. Шум каждой ячейки ФПУ автоматически измерялся 1024 раза. Затем автоматически проводилось вычисление среднего значения шума каждой ячейки и значения средних шумов по линейкам и ФПУ. Средние значения измеренных напряжений шумов Uш1, Uш2, Uш3 приведены в таблице. Там же приведены рассчитанные значения шумов ФПУ, БИС и МФЧЭ.
Таблица
Uш1; мВ Uш2; мВ Uш3; мВ UшФПУ; мВ UшБИС; мВ UшМФЧЭτ; мВ
0,106 0,247 0,173 0,223 0,137 0,176
Заявленный способ компьютеризирован и позволяет провести измерения шума за короткое время с высокой точностью. По этой причине полезность его также не вызывает сомнений.
Заявленный способ позволяет также измерять шум каждой ячейки ФПУ, каждой ячейки БИС и каждого ФЧЭ.
На фиг.2 и 3 приведены графические результаты измерений шумов ячеек ФПУ, ячеек БИС и ФЧЭ в единицах АЦП по всем линейкам ФПУ, которые также автоматически получаются при использовании заявляемого способа.

Claims (1)

  1. Способ измерения шума узлов фотоприемного устройства (ФПУ), включающий измерение напряжения шума U ш1 с выключенным напряжением питания ФПУ, измерение напряжения шума U ш2 с включенным напряжением питания ФПУ и заданным временем накопления ФПУ и расчет напряжения шума ФПУ U ш по формуле:
    Figure 00000012
    ,
    в котором дополнительно измеряют напряжение шума Uш3 с включенным напряжением питания и нулевым временем накопления ФПУ и рассчитывают уровень шума матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) U шМФЧЭ и большой интегральной схемы (БИС) U шБИС по следующим формулам :
    Figure 00000013
    ,
    Figure 00000014
    .
RU2012153271/28A 2012-12-10 2012-12-10 Способ измерения шума узлов мфпу RU2521150C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012153271/28A RU2521150C1 (ru) 2012-12-10 2012-12-10 Способ измерения шума узлов мфпу

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012153271/28A RU2521150C1 (ru) 2012-12-10 2012-12-10 Способ измерения шума узлов мфпу

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012153271A RU2012153271A (ru) 2014-06-20
RU2521150C1 true RU2521150C1 (ru) 2014-06-27

Family

ID=51213522

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012153271/28A RU2521150C1 (ru) 2012-12-10 2012-12-10 Способ измерения шума узлов мфпу

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2521150C1 (ru)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU819750A1 (ru) * 1979-05-08 1981-04-07 Казанский Ордена Трудового Крас-Ного Знамени Авиационный Институтим. A.H.Туполева Устройство дл измерени шумовыхХАРАКТЕРиСТиК фОТОчуВСТВиТЕльНыХэлЕМЕНТОВ
SU1064235A1 (ru) * 1982-06-18 1983-12-30 Институт электроники АН БССР Устройство дл автоматического измерени шумов
JP4728265B2 (ja) * 2007-02-20 2011-07-20 富士通セミコンダクター株式会社 ノイズ特性測定装置及びノイズ特性測定方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU819750A1 (ru) * 1979-05-08 1981-04-07 Казанский Ордена Трудового Крас-Ного Знамени Авиационный Институтим. A.H.Туполева Устройство дл измерени шумовыхХАРАКТЕРиСТиК фОТОчуВСТВиТЕльНыХэлЕМЕНТОВ
SU1064235A1 (ru) * 1982-06-18 1983-12-30 Институт электроники АН БССР Устройство дл автоматического измерени шумов
JP4728265B2 (ja) * 2007-02-20 2011-07-20 富士通セミコンダクター株式会社 ノイズ特性測定装置及びノイズ特性測定方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ГОСТ 17772-88, раздел 1.8 *

Also Published As

Publication number Publication date
RU2012153271A (ru) 2014-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Bonanno et al. Characterization measurements methodology and instrumental set-up optimization for new SiPM detectors—Part II: Optical tests
Guo et al. Quantitative analysis of crystalline silicon wafer PV modules by electroluminescence imaging
JP2015043395A (ja) 太陽電池装置及びその利用
CN103308841B (zh) 一种标定四主栅标片的方法
CN103472430A (zh) 太阳模拟器辐照不均匀度和不稳定度测试***
Sellner et al. Advanced PV module performance characterization and validation using the novel Loss Factors Model
Payne et al. Evaluating the accuracy of point spread function deconvolutions applied to luminescence images
Driesse et al. Spectrally selective sensors for PV system performance monitoring
RU2521150C1 (ru) Способ измерения шума узлов мфпу
Xu et al. Primary calibration of solar photovoltaic cells at the National Metrology centre of Singapore
Lopez-Garcia et al. Characterisation of n-type bifacial silicon PV modules
Dominé et al. The influence of measurement errors in spectral irradiance of flash solar simulators on the spectral mismatch factor of PV modules
CN106017681B (zh) 一种同时测量微型光谱仪增益及读出噪声的方法
CN105738075A (zh) 一种多结太阳电池太阳模拟器均匀性测试装置
Bhoopathy et al. Contactless Extraction of Implied IV Curves of Individual Solar Cells in Fully Assembled Modules Using Photoluminescence
Hameiri et al. Uncertainty in photoluminescence-based effective carrier lifetime measurements
Mäckel et al. Capturing the spectral response of solar cells with a quasi‐steady‐state, large‐signal technique
Sinton et al. Critical Evaluation of the Foundations of Solar Simulator Standards
CN108036928B (zh) Pst测试中入瞳电压值标定方法、***及pst测试***
CN111220858B (zh) 一种量子Bell态探测器噪声等效功率测量方法
JP4617141B2 (ja) 多接合型光電変換素子の特性制限要素セルの判定方法
CN201828643U (zh) 一种太阳能电池量子效率的直流测量装置
Klein Quality control for ATLAS ITk strip sensor production
Rehbein et al. Calibration of 122 SensL MicroFJ-60035 SiPMs and the reduction of optical crosstalk due to coupled light guides
Norton et al. Analysis of the output of two isotype cell sets compared to a precision spectroradiometer