RU2195046C2 - Способ очистки поверхности - Google Patents
Способ очистки поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- RU2195046C2 RU2195046C2 RU2000115222/28A RU2000115222A RU2195046C2 RU 2195046 C2 RU2195046 C2 RU 2195046C2 RU 2000115222/28 A RU2000115222/28 A RU 2000115222/28A RU 2000115222 A RU2000115222 A RU 2000115222A RU 2195046 C2 RU2195046 C2 RU 2195046C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- plates
- argon
- treated
- cleaning
- cleaned
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Использование: в микроэлектронике для очистки поверхности пластин в процессе изготовления сверхбольших интегральных схем. Сущность: помещают очищаемую пластину в вакуумную камеру и обрабатывают поверхность пластины интенсивной струей криоаэрозоля азота и аргона, с добавками примеси кислорода в присутствии ультрафиолетового излучения с длиной волны менее 200 нм. Технический результат изобретения заключается в повышении эффективности очистки от органических примесей поверхности со сглаженным рельефом. 1 табл.
Description
Областью применения изобретения является микроэлектроника, а именно способы очистки поверхности пластин в процессе изготовления сверхбольших интегральных схем (СБИС).
Известен способ очистки поверхности от механических загрязнений, состоящий в обработке очищаемой поверхности струей сжатого углекислого газа - СО2, который при расширении в пространство превращается в микрочастицы сухого льда и этими частицами эффективно очищает поверхность от механических частиц и органических примесей [1].
Однако он недостаточно эффективно очищает поверхность со сложным профилем от субмикронных частиц и неэффективен при чистке от загрязнений со сглаженным рельефом. Кроме того, углекислый газ хорошо растворяет в себе многие органические соединения, в том числе углеводороды, и его трудно от них очистить.
Недостатком этого способа является то, что после такой обработки поверхности не исключается ее загрязнение следами масел, содержащихся в СО2, да и сам углекислый газ по своей химической природе является загрязняющей примесью при создании СБИС.
Наиболее близким к предлагаемому изобретению является способ очистки поверхности с использованием криогенного аэрозоля, включающий помещение очищаемой пластины в высокочистую вакуумную камеру и обработку ее поверхности интенсивной струей сжиженных газов аргона и азота, находящихся при температуре, близкой к температуре плавления аргона. При этом происходит обработка поверхности аэрозолем жидкого азота и микрочастицами твердого аргона, которые эффективно очищают обрабатываемую поверхность от механических загрязнений, включая субмикронные частицы и полимерные остатки после реактивно-ионного травления (РИТ) [2]. Удаленные аэрозолем с пластины частицы и полимеры удаляются из камеры вместе с аэрозолем в откачную систему. Данный способ применяется при очистки поверхности кремниевых пластин от субмикронных частиц, органических осадков и пленок с высоким профилем, в том числе и от металлоорганических осадков после РИТ.
Недостатком этого способа является то, что он малоэффективен при очистке поверхности от органических микропримесей со сглаженным профилем.
Задачей, на решение которой направлено предлагаемое изобретение, является достижение технического результата, заключающегося в дополнительной очистке поверхности от органических микропримесей со сглаженным профилем. Данный технический результат достигается в способе очистки поверхности, включающем помещение очищаемой пластины в высокочистую вакуумную камеру и одновременную обработку очищаемой поверхности интенсивной струей криоаоэрозоля аргона и азота с примесью кислорода и ультрафиолетовым излучением с длиной волны менее 200 нм.
Таким образом, отличительными признаками изобретения являются дополнительная обработка очищаемой поверхности ультрафиолетовым излучением с длиной волны менее 200 нм с введением в криоаэрозоль аргона и азота примеси кислорода.
Перечисленные отличительные признаки позволяют достичь указанного технического результата.
Процесс очистки поверхности происходит следующим образом. Очищаемую пластину помещают в вакуумную камеру и одновременно обрабатывают струей криоаэрозоля аргона и азота с примесью кислорода и ультрафиолетовым излучением с длиной волны менее 200 нм, которое не поглощается инертными газами и азотом и обладает энергией, достаточной для деструкции химических связей органических соединений, а в присутствии следов кислорода - в количествах, существенно не влияющих на ослабление интенсивности потока ультрафиолетового излучения на обрабатываемой поверхности, и для интенсивного окисления органических соединений. Поэтому такая дополнительная обработка приводит к очистки поверхности от органических примесей со сглаженным рельефом. Источник ультрафиолетового излучения может находится как непосредственно в вакуумной камере, так и за ее пределами. В последнем случае излучение от источника направляется на очищаемую пластину в камере через дополнительное окно, выполненное из прозрачного для применяемых длин волн материала, например сапфира, фторида кальция, фторида магния. В качестве источника ультрафиолетового излучения могут быть применены эксимерные лазеры с длиной волны менее 200 нм, ламповые источники интенсивного ультрафиолетового излучения с длиной волны менее 200 нм (например, дейтеривые разрядные лампы, ртутные лампы низкого давления с кварцевой оболочкой), либо данное ультрафиолетовое излучение может формироваться непосредственно в камере путем инициирования в остаточных газах высокочастотного разряда от индуктора, расположенного в камере либо за ее пределами, например на дополнительном кварцевом стакане, герметично закрепленном на поверхности камеры над столиком.
Пример реализации способа.
На химически отмытые кремниевые пластины наносился 1% раствор фоторезиста S1813 в ацетоне. Затем пластины высушивали при 100oС 1 мин на горячей плите. Подготовленные пластины делили на шесть групп. Первая группа пластин анализировалась на присутствие углерода методом "вторично-ионной масс-спектрометрии" (ВИМС). Пластины из второй группы помещали на столик в вакуумную камеру. Камера откачивалась турбомолекулярным насосом. Затем пластины обрабатывалась распыляемой струей криоаэрозоля, состоящего из капель жидкого азота с примесью частиц твердого аргона (10%), при непрерывной откачке, и обработанный участок пластины анализировали на присутствие углерода методом ВИМС. Пластины из третьей группы помещали на столик в вакуумную камеру. Камера откачивалась турбомолекулярным насосом. Затем пластины обрабатывалась распыляемой струей жидкого азота с примесью аргона (10%) и кислорода (1%) при непрерывной откачке, и обработанный участок пластины анализировали на присутствие углерода методом ВИМС. Пластины из четвертой группы помещали на столик в вакуумную камеру. Камера откачивалась и заполнялась аргоном. Затем центральная часть пластин обрабатывалась ВУФ излучением от дейтериевой лампы мощностью 350 Вт и распыляемой струей криоаэрозоля, состоящего из капель жидкого азота с примесью частиц твердого аргона (10%), при непрерывной откачке. Обработанный участок пластины анализировался на присутствие углерода методом ВИМС. Пластины из пятой группы помещали на столик в вакуумную камеру. Камера откачивалась. Затем центральная часть пластин обрабатывалась ВУФ излучением от дейтериевой лампы мощностью 350 Вт и распыляемой струей криоаэрозоля, состоящего из капель жидкого азота с примесью частиц твердого аргона (10%) и газообразного кислорода (1%), при непрерывной откачке. Обработанный участок пластины анализировался на присутствие углерода методом ВИМС. Во всех экспериментах струя распыляемых газов подавалась на поверхность пластины под углом, близким к 45o. Продолжительность обработки ВУФ излучением и струей криоаэрозоля составляла пять минут. Шестую группу пластин отмывали от следов фоторезиста в ацетоне, подвергали жидкостной химической обработке в КАРО+ПАР и анализировали при присутствии углерода методом ВИМС. Основные результаты ВИМС-анализа приведены в таблице. Как вино из таблицы, поверхность пластин из первой группы покрыта углеродом с относительной интенсивностью сигнала на уровне 1017. Поверхность пластин из шестой группы имеет концентрацию углерода на поверхности, которую можно характеризовать как фоновую. Пластины из второй группы имеют меньшую концентрацию углерода по сравнению с пластинами из первой группы (на уровне 1014), примерно такую же концентрацию углерода имеют и пластины из третьей группы. Пластины из четвертой группы имеют много меньшую концентрацию углерода на поверхности (относительная интенсивность сигнала углерода 1010), а пластины из пятой группы имеют среднюю концентрацию углерода на поверхности минимальную из всех групп пластин, кроме пластин из четвертой группы, т.е. наибольшую степень очистки.
ЛИТЕРАТУРА
1. Аналог: Stuart A. Hoenig / Cleaning Surfaces with Dry lce//Compressed Air Magazine, August 1986, p.22-24.
1. Аналог: Stuart A. Hoenig / Cleaning Surfaces with Dry lce//Compressed Air Magazine, August 1986, p.22-24.
2. Прототип: McDermott W.T., Ockovic R.C., Wu J.J., Cooper D.W., Snwarz A. , Wolfe H.L. Патент EP 0461476 А2 от 29.05.91, H 01 L 21/306, приоритет 05.06.90, US 534810.
Claims (1)
- Способ очистки поверхности включающий помещение очищаемой пластины в вакуумную камеру и обработку поверхности пластины интенсивной струей криоаэрозоля азота и аргона, отличающийся тем, что в криоаэрозоль азота и аргона вводят примесь кислорода и подвергают очищаемую поверхность одновременно с обработкой струей криоаэрозоля обработке ультрафиолетовым излучением с длиной волны менее 200 нм.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2000115222/28A RU2195046C2 (ru) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | Способ очистки поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2000115222/28A RU2195046C2 (ru) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | Способ очистки поверхности |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2000115222A RU2000115222A (ru) | 2002-05-10 |
RU2195046C2 true RU2195046C2 (ru) | 2002-12-20 |
Family
ID=20236133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2000115222/28A RU2195046C2 (ru) | 2000-06-15 | 2000-06-15 | Способ очистки поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2195046C2 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2680112C1 (ru) * | 2015-08-27 | 2019-02-15 | Зюсс Микротек Фотомаск Эквипмент Гмбх Унд Ко.Кг | Устройство для нанесения жидкой среды, подвергаемой ультрафиолетовому облучению, на подложку |
RU2756470C2 (ru) * | 2017-03-01 | 2021-09-30 | Зюсс Микротек Фотомаск Эквипмент Гмбх Унд Ко. Кг | Устройство для нанесения нагруженной ультрафиолетовым излучением жидкой среды на подложку |
-
2000
- 2000-06-15 RU RU2000115222/28A patent/RU2195046C2/ru not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2680112C1 (ru) * | 2015-08-27 | 2019-02-15 | Зюсс Микротек Фотомаск Эквипмент Гмбх Унд Ко.Кг | Устройство для нанесения жидкой среды, подвергаемой ультрафиолетовому облучению, на подложку |
RU2756470C2 (ru) * | 2017-03-01 | 2021-09-30 | Зюсс Микротек Фотомаск Эквипмент Гмбх Унд Ко. Кг | Устройство для нанесения нагруженной ультрафиолетовым излучением жидкой среды на подложку |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5534107A (en) | UV-enhanced dry stripping of silicon nitride films | |
KR100677661B1 (ko) | 자외광 조사장치 및 방법 | |
US6923189B2 (en) | Cleaning of CVD chambers using remote source with cxfyoz based chemistry | |
US20060144820A1 (en) | Remote chamber methods for removing surface deposits | |
EP2166564B1 (en) | Method for removing a hardened photoresist from a semiconductor substrate | |
KR101214643B1 (ko) | 레지스트 제거방법 및 그를 위한 장치 | |
KR100478663B1 (ko) | 반도체 장치의 세정 방법 및 세정 장치 | |
JP2009503270A (ja) | 表面沈着物を除去するためのnf3の使用方法 | |
US7964039B2 (en) | Cleaning of plasma chamber walls using noble gas cleaning step | |
US4936940A (en) | Equipment for surface treatment | |
JP2007530792A (ja) | 表面堆積物を除去するための遠隔チャンバ方法 | |
US20070028943A1 (en) | Method of using sulfur fluoride for removing surface deposits | |
TWI581331B (zh) | 降低多孔低k膜的介電常數之方法 | |
US20030056388A1 (en) | Cleaning gas for semiconductor production equipment | |
US20060180173A1 (en) | System and method for removal of materials from an article | |
US6143477A (en) | Dual wavelength UV lamp reactor and method for cleaning/ashing semiconductor wafers | |
RU2195046C2 (ru) | Способ очистки поверхности | |
KR100744224B1 (ko) | 흡착된 분자를 챔버로부터 제거하는 방법 | |
KR100485743B1 (ko) | 반도체 생산 설비용 세정 가스 | |
WO2014158320A1 (en) | Wet cleaning of chamber component | |
US20080302400A1 (en) | System and Method for Removal of Materials from an Article | |
JPH0697075A (ja) | 薄膜堆積室のプラズマクリーニング方法 | |
US20060144819A1 (en) | Remote chamber methods for removing surface deposits | |
JP2000066003A (ja) | 光学部品の洗浄方法 | |
RU2649695C1 (ru) | Способ очистки подложек из ситалла в струе высокочастотной плазмы пониженного давления |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20040616 |