RU2188401C1 - Интерферометр - Google Patents
Интерферометр Download PDFInfo
- Publication number
- RU2188401C1 RU2188401C1 RU2001113539/28A RU2001113539A RU2188401C1 RU 2188401 C1 RU2188401 C1 RU 2188401C1 RU 2001113539/28 A RU2001113539/28 A RU 2001113539/28A RU 2001113539 A RU2001113539 A RU 2001113539A RU 2188401 C1 RU2188401 C1 RU 2188401C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- lattice structure
- periodic lattice
- strokes
- periodic
- interferometer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области спектрального анализа. Интерферометр содержит оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и фотодетектор, выполненный в виде периодической решетчатой структуры с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов упомянутой решетчатой структуры на прозрачную пластинку. Интерферометр дополнительно снабжен второй периодической решетчатой структурой с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов с таким же периодом, как у первой решетчатой структуры, при этом вторая периодическая решетчатая структура размещена в плоскости первой периодической решетчатой структуры на той же прозрачной пластинке, а штрихи второй периодической решетчатой структуры расположены параллельно штрихам первой периодической решетчатой структуры со смещением на половину периода. Технический результат: существенное повышение точности измерений при измерении постоянной составляющей анализируемого излучения за счет учета фонового излучения 1 ил.
Description
Изобретение относится к области спектрального анализа и может быть использовано при спектральном анализе светового излучения.
Одним из классических устройств, используемым для спектрального анализа, является интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающие зеркала, светоделительную пластину, фотодетектор и спектроанализатор [Мерц Л. Интегральные преобразования в оптике. М.: Мир, 1969, с.80-83].
К недостаткам данного интерферометра можно отнести его большую дисперсию, что существенно сужает рабочий диапазон измерений.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому изобретению является интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и фотодетектор, выполненный в виде периодической решетчатой структуры с тонким частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов упомянутой решетчатой структуры на прозрачную пластинку, которая расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом [Атнашев А.В., Атнашев В. Б. , Атнашев П.В. Метод интерференции на дифракционной решетке. Метод Атнашева. Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2000. с. 18 (прототип)].
К недостаткам данного интерферометра можно отнести недостаточно высокую точность измерения из-за влияния светового фона при измерении постоянной составляющей анализируемого излучения.
Задачей изобретения является повышение точности измерения при измерении постоянной составляющей анализируемого излучения.
Поставленная задача может быть решена за счет того, что интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и фотодетектор, выполненный в виде периодической решетчатой структуры с тонким частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов упомянутой решетчатой структуры на прозрачную пластину, которая расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, дополнительно снабжен второй периодической решетчатой структурой с тонким частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов с таким же периодом, как у первой решетчатой структуры, при этом вторая периодическая решетчатая структура размещена в плоскости первой первой периодической решетчатой структуры на той же прозрачной пластинке, а штрихи второй периодической решетчатой структуры расположены параллельно штрихам первой периодической решетчатой структуры со смещением на половину периода.
Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена схема интерферометра.
Интерферометр содержит оптически сопряженные источник 1 светового излучения, отражающее зеркало 2 и фотодетектор 3, выполненный в виде периодической решетчатой структуры 4 с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов 5 упомянутой решетчатой структуры 4 на прозрачную пластинку 6, которая расположена между источником 1 светового излучения и отражающим зеркалом 2. Интерферометр дополнительно снабжен второй периодической решетчатой структурой 7 с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов 8 с таким же периодом, как у первой решетчатой структуры 4, при этом вторая периодическая решетчатая структура 7 размещена в плоскости первой периодической решетчатой структуры 4 на той же прозрачной пластинке 6, а штрихи 8 второй периодической решетчатой структуры 7 расположены параллельно штрихам 5 первой периодической решетчатой структуры 4 со смещением на половину периода. Выходы первой и второй периодических решетчатых структур 4, 7 соединены с входами электрического сумматора 9.
Интерферометр работает следующим образом.
Световой поток от источника 1 светового излучения поступает на отражающее зеркало 2, отражается от него и в виде стоячей световой волны поступает на фотодетектор 3. За счет того, что периодические решетчатые структуры 4 и 7 выполнены из тонкого, частично пропускающего фотоэлектрического слоя в виде штрихов 5 и 8, возможна регистрация системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны. При совмещении штрихов 5 первой периодической решетчатой структуры 4 с местоположением системы пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны происходит воздействие электрического вектора стоячей световой волны на фоточувствительные штрихи 5. При этом на штрихи 8 второй периодической решетчатой структуры 7 воздействует магнитный вектор стоячей световой волны, так как штрихи 8 смещены параллельно штрихам 5 на половину периода. Электрический сумматор 9 обеспечивает получение разностного электрического сигнала, который детектируется на фоточувствительных периодических решетчатых структурах 4 и 7. Световое фоновое излучение оказывает равномерно распределенное воздействие на фоточувствительные штрихи 5, 8 и, следовательно, вычитается на сумматоре.
Предлагаемый интерферометр позволяет существенно повысить точность измерений за счет учета фонового излучения.
Claims (1)
- Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и фотодетектор, выполненный в виде периодической решетчатой структуры с тонким, частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов упомянутой решетчатой структуры на прозрачную пластинку, которая расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, отличающийся тем, что интерферометр дополнительно снабжен второй периодической решетчатой структурой с тонким частично пропускающим фотоэлектрическим слоем, нанесенным в виде штрихов с таким же периодом как у первой решетчатой структуры, при этом вторая периодическая решетчатая структура размещена в плоскости первой периодической решетчатой структуры на той же прозрачной пластинке, а штрихи второй периодической решетчатой структуры расположены параллельно штрихам первой периодической решетчатой структуры со смещением на половину периода.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2001113539/28A RU2188401C1 (ru) | 2001-05-16 | 2001-05-16 | Интерферометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2001113539/28A RU2188401C1 (ru) | 2001-05-16 | 2001-05-16 | Интерферометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2188401C1 true RU2188401C1 (ru) | 2002-08-27 |
Family
ID=20249738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2001113539/28A RU2188401C1 (ru) | 2001-05-16 | 2001-05-16 | Интерферометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2188401C1 (ru) |
-
2001
- 2001-05-16 RU RU2001113539/28A patent/RU2188401C1/ru not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
АТНАШЕВ А.В. и др. Метод интерференции на дифракционной решетке. Метод Атнашева. - Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2000, с. 18. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2732855C (en) | Cross-chirped interferometry system and method for light detection and ranging | |
CN101371129B (zh) | 表面等离子体共振传感器以及利用其检测样品的方法 | |
CN101806625B (zh) | 静态傅立叶变换干涉成像光谱全偏振探测装置 | |
KR960042049A (ko) | 광학적 측정방법 및 광학적 측정장치 | |
JPS6352033A (ja) | 光ファイバの時間的に分散される後方散乱量を光学的に測定する為の装置 | |
KR101987402B1 (ko) | 편광픽셀어레이를 이용한 박막과 후막의 두께 및 삼차원 표면 형상 측정 광학 장치 | |
CN109342368B (zh) | 一种基于参考光信号的双路对比测量光谱仪及测量方法 | |
JPS62201301A (ja) | レ−ザ−干渉測長機 | |
CN106092968A (zh) | 光学检测装置及方法 | |
RU2188401C1 (ru) | Интерферометр | |
CN208888136U (zh) | 一种超短单脉冲时间分辨泵浦探测仪 | |
KR101870989B1 (ko) | 광학계 및 이를 구비한 간섭계 | |
CN211877753U (zh) | 一种痕量气体浓度检测的光谱*** | |
CN106404695A (zh) | 分光光度计 | |
RU2540451C1 (ru) | Система лазерной локации | |
RU2177605C1 (ru) | Способ спектрометрии и устройство для его осуществления (варианты) | |
JPS5821527A (ja) | フ−リエ変換型赤外分光光度計 | |
JPS6067828A (ja) | フ−リェ変換赤外分光光度計 | |
JPH01143925A (ja) | マイケルソン干渉計 | |
SU654853A1 (ru) | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов | |
SU1753271A1 (ru) | Способ определени параметров вибрации | |
JPH02147840A (ja) | 多波長螢光・燐光分析方法および装置 | |
JP2024528340A (ja) | 多波長光放射の変調光源に適用される多相ロックイン分光計アセンブリ、ならびに関連する方法および使用 | |
RU2277222C2 (ru) | Интерферометр | |
RU2189017C1 (ru) | Способ спектрометрии и интерферометр для его осуществления |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20040517 |