SU654853A1 - Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов - Google Patents
Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцовInfo
- Publication number
- SU654853A1 SU654853A1 SU772446397A SU2446397A SU654853A1 SU 654853 A1 SU654853 A1 SU 654853A1 SU 772446397 A SU772446397 A SU 772446397A SU 2446397 A SU2446397 A SU 2446397A SU 654853 A1 SU654853 A1 SU 654853A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- photometric
- contact
- light
- free method
- roughness height
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Этот способ вл етс относительным, т. е. требует наличи эталона. Однако создание эталонной сверхгладкой поверхности , -измерение ее и хранение представл ют достаточно сложную задачу. Кроме того, применение в качестве эталона алюмини , напыленного на полированный кварц, вызывает дополнительные ошибки при измерении образцов других материалов (например , меди, дл измерени которой в основном предназначен рефлексометр). Несмотр на то что 0S эталона известно, профиль эталонной поверхности может существенно отличатьс от профил поверхности образца (меди), что отразитс на индикатрисе рассе ни . Все эти недостатки, в конечном итоге, снижают точность и усложн ют процесс измерени .
Предлагаемый способ отличаетс от известного тем, что с целью повышени точности и упрощени процесса измерени последовательно измер ют сигналы от полного и диффузного отражени от поверхности издели потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определ ют по формуле
h - - ск - - г i
ПОЛИ
где А длина волны облучающего пучка света;
/дифф. /долы - соответственно сигналы от диффузного и полного отраженных потоков;
,1416 - известна посто нна .
На чертеже изображена принципиальна схема установки дл реализации и предлагаемого способа.
Установка содержит источник света 1 (лазер), зеркало 2, экран 3, ловушку света 4, фотометрический шар 5 с отверсти ми 6-9 и фотоприемник 10.
Осуществл етс предлагаемый способ следующим образом. Световой пучок, имеющий малое угловое расхождение, от источника 1 с помощью зеркала 2 направл етс через отверсти 8 и 9 шара на измер емую поверхность образца И под углом 5-10° к нормали поверхности. Отраженный измер емой поверхностью световой поток Фпол попадает в фотометрический шар 5, где интегрируетс и создает на приемной поверхности фотоприемника 6 через отверстие 9 освещенность, пропорциональную величине Фполы. Когда зеркальна составл юща отраженного светового потока Фзерк выпускаетс через отверстие 6 шара, т. е. экран 3 не перекрывает это отверстие, то на приемной поверхности фотоприемника создаетс освещенность пропорциональна величине диффузно отраженного от измер емой поверхностью светового потока
ФдиффЕсли обозначить через Фо величину падающего на образец светового потока, то
Фполн Фзерк + Фдифф Фогде R - коэффициент отражени образца. Учитыва , что
hi
Фзерк - Фоб
cos;.
можно выражение дл отраженного диффузно светового потока Фдифф представить в виде
Фдифф Фполн Фзерк
1 фЛ1-е
cos I
где /ZCK - среднеквадратична высота шероховатости;
Я - длина волны облучающего пучка света;
i - угол падени пучка света на образец .
Последнее соотношение справедливо при К
1, т. е. когда коэффициент зеркального отражени практически можно считать равным R. Разлагают экспоненциальный член этого выражени в р д по степен м аргумента и ограничиваютс первыми двум членами, получа соотношение
hi
cos i
тсЛ
(IJ
COS г,
POIH
откуда вытекает формула дл определени высоты
Vl
Г Фдифф S
полн
когда , т. е. .
Поскольку pei-истрируемые си -налы /дпфф и /поли, поступающие с фотоприемника, пропорциональны создаваемым на приемной поверхности освещенност м от поступающих в фотометрический шар световых потоков Фдифф и Флолн соответственно, то
h - Л/ диФФ
ск - у f
™ полн
Claims (1)
- Формула изобретениБесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов, заключающийс в том, что облучают измер емую поверхность образца монохроматическим пучком света под углом относительно нормали к ней, не превышающим 10°, и измер ют характеристики отраженного от этой поверхности излучени , отличающийс тем, что, с целью повышени точности и упрощени процесса измерени , последовательно измер ют сигналы от полного и диффузного отраженных от поверхности образца потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определ ют по формуледиффУ ТЛсгде л - длина волны облучающего пучка света;/дифф, /ПОЛИ - соответственно сигналы от диффузного и полного отраженных потоков;л 3,1416 - известна посто нна .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772446397A SU654853A1 (ru) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772446397A SU654853A1 (ru) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU654853A1 true SU654853A1 (ru) | 1979-03-30 |
Family
ID=20693170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772446397A SU654853A1 (ru) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU654853A1 (ru) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4954722A (en) * | 1989-07-21 | 1990-09-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Scanning scattering microscope with hemispherical mirror and microfocused beam |
US5597237A (en) * | 1995-05-30 | 1997-01-28 | Quantum Logic Corp | Apparatus for measuring the emissivity of a semiconductor wafer |
RU2823018C1 (ru) * | 2023-11-30 | 2024-07-17 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)" (МГТУ им. Н.Э. Баумана) | Способ определения среднеквадратического отклонения шероховатости оптической поверхности |
-
1977
- 1977-01-25 SU SU772446397A patent/SU654853A1/ru active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4954722A (en) * | 1989-07-21 | 1990-09-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Scanning scattering microscope with hemispherical mirror and microfocused beam |
US5597237A (en) * | 1995-05-30 | 1997-01-28 | Quantum Logic Corp | Apparatus for measuring the emissivity of a semiconductor wafer |
RU2823018C1 (ru) * | 2023-11-30 | 2024-07-17 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)" (МГТУ им. Н.Э. Баумана) | Способ определения среднеквадратического отклонения шероховатости оптической поверхности |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR940016660A (ko) | 박막 두께 측정 장치 및 방법 | |
FI78355B (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
KR890000876A (ko) | 미소 고저차 측정장치 및 그 방법 | |
US2707900A (en) | Movable sample holders in a spectrophotometer integrating sphere | |
SU654853A1 (ru) | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов | |
WO2005100955A1 (en) | Method and apparatus for determining the absorption of weakly absorbing and/or scattering liquid samples | |
Kawate et al. | New scatterometer for spatial distribution measurements of light scattering from materials | |
JPH0781836B2 (ja) | 光学測定装置 | |
RU2156437C2 (ru) | Устройство для определения шероховатости поверхности | |
US4240753A (en) | Method for the quantitative determination of turbidities, especially of immune reactions | |
SU1702179A1 (ru) | Способ определени шероховатости поверхности детали | |
RU2180429C2 (ru) | Устройство для определения шероховатости поверхности | |
SU872959A1 (ru) | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности прозрачных образцов | |
SU1262280A1 (ru) | Способ измерени параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий | |
JPH0850007A (ja) | 膜厚評価方法および装置 | |
JP2561141Y2 (ja) | 拡散反射測定装置 | |
JPH05296920A (ja) | 赤外分光光度測定装置 | |
RU2032166C1 (ru) | Способ определения показателя преломления клиновидных образцов | |
RU2061237C1 (ru) | Способ определения содержания жира и белка в молоке и устройство для его осуществления | |
RU2169360C1 (ru) | Двулучевой фотометр | |
JPS5473690A (en) | Method and apparatus for measuring linearity of photo detectors | |
RU2172945C2 (ru) | Устройство для измерения коэффициента пропускания оптической пластины | |
SU1075124A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициентов пропускани и отражени плоскопараллельных образцов | |
RU2188401C1 (ru) | Интерферометр | |
SU130700A1 (ru) | Способ определени качества поверхности, например бумаги |