RU2014119933A - Система и способ контроля качества изделия - Google Patents
Система и способ контроля качества изделия Download PDFInfo
- Publication number
- RU2014119933A RU2014119933A RU2014119933/28A RU2014119933A RU2014119933A RU 2014119933 A RU2014119933 A RU 2014119933A RU 2014119933/28 A RU2014119933/28 A RU 2014119933/28A RU 2014119933 A RU2014119933 A RU 2014119933A RU 2014119933 A RU2014119933 A RU 2014119933A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- specified
- product
- control
- zone
- laser
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M13/00—Testing of machine parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G19/00—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B15/00—Systems controlled by a computer
- G05B15/02—Systems controlled by a computer electric
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/645—Specific applications or type of materials quality control
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
1. Система контроля качества изделия, характеризующаяся тем, что содержит:- защищенную камеру (3), имеющую входной порт, через который контролируемое изделие заходит в указанную камеру, и, по меньшей мере, один выходной порт, при этом указанная камера содержит зону (5) контроля,- устройство транспортировки для доставки указанного контролируемого изделия в указанную зону (5) контроля и для обеспечения его удаления через указанный, по меньшей мере, один выходной порт,- прибор (7) взвешивания указанного изделия в указанной зоне (5) контроля,- блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне (5) контроля, содержащий блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии и/или блок измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы (8, 9),- блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля при помощи лазерных пучков и/или соответственно рентгеновских лучей, при этом- указанная защищенная камера (3) выполнена из материала, не проницаемого для длин волн указанных лазерных пучков во время работы, соответственно для длин волн указанных лазерных пучков во время работы и указанных рентгеновских лучей, чтобы избегать любой утечки излучения.2. Система по п.1, характеризующаяся тем, что блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля содержит:- первый лазерный источник (10), выполненный с возможностью генерирования первого лазерного пучка для создания ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии,- второй лазерный источник (11), выполненный с возможностью генерирования второго лазерного пучка для освещения указанного конт�
Claims (11)
1. Система контроля качества изделия, характеризующаяся тем, что содержит:
- защищенную камеру (3), имеющую входной порт, через который контролируемое изделие заходит в указанную камеру, и, по меньшей мере, один выходной порт, при этом указанная камера содержит зону (5) контроля,
- устройство транспортировки для доставки указанного контролируемого изделия в указанную зону (5) контроля и для обеспечения его удаления через указанный, по меньшей мере, один выходной порт,
- прибор (7) взвешивания указанного изделия в указанной зоне (5) контроля,
- блок бесконтактного размерного измерения изделия в указанной зоне (5) контроля, содержащий блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии и/или блок измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы (8, 9),
- блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля при помощи лазерных пучков и/или соответственно рентгеновских лучей, при этом
- указанная защищенная камера (3) выполнена из материала, не проницаемого для длин волн указанных лазерных пучков во время работы, соответственно для длин волн указанных лазерных пучков во время работы и указанных рентгеновских лучей, чтобы избегать любой утечки излучения.
2. Система по п.1, характеризующаяся тем, что блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля содержит:
- первый лазерный источник (10), выполненный с возможностью генерирования первого лазерного пучка для создания ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии,
- второй лазерный источник (11), выполненный с возможностью генерирования второго лазерного пучка для освещения указанного контролируемого изделия,
- интерферометр (12) для измерения части второго пучка, отраженной от указанного контролируемого изделия, при этом указанный интерферометр (12) выполнен с возможностью генерирования электрического сигнала, характеризующего это измерение,
- при этом указанные лазерные источники (10, 11) и указанный интерферометр (12) оптически связаны с оптической измерительной головкой (13), установленной в указанной камере (3), при этом указанная измерительная головка (13) содержит оптический сканер.
3. Система по п.1 или 2, характеризующаяся тем, что блок анализа структуры изделия в указанной зоне (5) контроля содержит источник рентгеновских лучей и датчик, при этом контролируемое изделие расположено в указанной зоне (5) контроля между указанным источником рентгеновских лучей и указанным датчиком.
4. Система по п.1 или 2, характеризующаяся тем, что содержит детектор присутствия для остановки указанного устройства транспортировки, когда контролируемое изделие оказывается в указанной зоне (5) контроля.
5. Система по п.1 или 2, характеризующаяся тем, что указанный прибор (7) взвешивания выдает сигнал в ответ на взвешивание указанного изделия, указанный блок бесконтактного размерного измерения изделия выдает сигнал размерного измерения изделия и указанный блок анализа структуры изделия выдает сигнал, связанный с измерением структурного анализа указанного изделия, при этом система содержит центральный блок, связанный с носителем записи, содержащим, по меньшей мере, один файл данных, предварительно записанный на этом носителе записи, для определения контрольных параметров указанного изделия, при этом указанный центральный блок принимает каждый из указанных сигналов для их сравнения с указанными контрольными параметрами.
6. Система по п.1 или 2, характеризующаяся тем, что содержит устройство маркировки указанного изделия, когда при оценке его качества обнаруживается один или несколько дефектов.
7. Система по п.1 или 2, характеризующаяся тем, что дополнительно содержит блок контроля поверхностного состояния изделия и/или устройство оптической когерентной томографии.
8. Установка для изготовления изделия, оборудованная системой контроля качества указанного изделия по любому из п.1-7.
9. Способ оценки качества изделия, согласно которому указанное изделие помещают в зону (5) контроля, после чего осуществляют, по меньшей мере, первый из следующих этапов на этом изделии, помещенном в зону (5) контроля:
a) взвешивают указанное изделие,
b) осуществляют бесконтактное размерное измерение указанного изделия в указанной зоне (5) контроля при помощи блока бесконтактного размерного измерения, содержащего блок размерного измерения посредством лазерной интерферометрии, и/или блока измерения посредством проецирования светового рисунка и отслеживания при помощи стереоскопической системы (8, 9),
c) осуществляют структурный анализ указанного изделия, при этом
- по завершении каждого из этих этапов полученный результат сравнивают с одним или несколькими контрольными измерениями, и, если они соответствуют допустимым погрешностям, переходят к следующему этапу, если же они отличаются, изделие выбраковывают.
10. Способ по п.9, характеризующийся тем, что дополнительно контролируют поверхностное состояние этого изделия.
11. Способ по п.9 или 10, характеризующийся тем, что на этапе структурного анализа указанного изделия на указанное изделие направляют первый лазерный пучок для генерирования ультразвуковых волн в указанном контролируемом изделии, освещают указанное изделие вторым лазерным пучком так, чтобы часть этого второго пучка отразилась от указанного изделия, и посредством интерферометрии измеряют эту отраженную часть второго пучка, при этом все эти лазерные пучки проходят через одну оптическую считывающую головку.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1159357 | 2011-10-17 | ||
FR1159357A FR2981450B1 (fr) | 2011-10-17 | 2011-10-17 | Systeme et procede de controle de la qualite d'un objet |
PCT/EP2012/070510 WO2013057115A1 (fr) | 2011-10-17 | 2012-10-16 | Système et procédé de contrôle de la qualité d'un objet |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2014119933A true RU2014119933A (ru) | 2015-11-27 |
RU2620868C2 RU2620868C2 (ru) | 2017-05-30 |
Family
ID=47049154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2014119933A RU2620868C2 (ru) | 2011-10-17 | 2012-10-16 | Система и способ контроля качества изделия |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20140249663A1 (ru) |
EP (1) | EP2769196A1 (ru) |
CN (1) | CN104114992B (ru) |
BR (1) | BR112014009088A2 (ru) |
CA (1) | CA2852791A1 (ru) |
FR (1) | FR2981450B1 (ru) |
MX (1) | MX338117B (ru) |
RU (1) | RU2620868C2 (ru) |
SG (1) | SG11201400932PA (ru) |
WO (1) | WO2013057115A1 (ru) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105445290A (zh) * | 2014-09-02 | 2016-03-30 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线产品质量在线检测装置 |
CN106290416B (zh) * | 2016-08-26 | 2020-01-10 | 合肥泰禾光电科技股份有限公司 | 一种x射线食品异物检测*** |
FR3073043B1 (fr) * | 2017-10-27 | 2019-11-15 | Tiama | Procede et installation de controle dimensionnel en ligne d'objets manufactures |
CN108088407B (zh) * | 2017-12-15 | 2020-11-10 | 成都光明光电股份有限公司 | 光学玻璃制品形貌偏差校正方法及*** |
EP3502672B1 (en) * | 2017-12-20 | 2022-02-09 | Fundación Tecnalia Research & Innovation | Methods and systems for visual inspection |
EP3553508A3 (en) * | 2018-04-13 | 2019-12-04 | Malvern Panalytical B.V. | X-ray analysis apparatus and method |
KR102552557B1 (ko) * | 2018-06-07 | 2023-07-06 | 윌코아게 | 검사 방법 |
US10408606B1 (en) * | 2018-09-24 | 2019-09-10 | Faro Technologies, Inc. | Quality inspection system and method of operation |
WO2020142131A2 (en) | 2018-10-19 | 2020-07-09 | Inkbit, LLC | High-speed metrology |
AU2019374148A1 (en) | 2018-11-02 | 2021-05-27 | Inkbit, LLC | Intelligent additive manufacturing |
US11354466B1 (en) | 2018-11-02 | 2022-06-07 | Inkbit, LLC | Machine learning for additive manufacturing |
EP3856481A2 (en) | 2018-11-16 | 2021-08-04 | Inkbit, LLC | Inkjet 3d printing of multi-component resins |
WO2020106944A1 (en) * | 2018-11-21 | 2020-05-28 | Aaron Weber | High speed pharmaceutical quality control metrology |
WO2020146490A1 (en) | 2019-01-08 | 2020-07-16 | Inkbit, LLC | Depth reconstruction in additive fabrication |
WO2020146481A1 (en) | 2019-01-08 | 2020-07-16 | Inkbit, LLC | Reconstruction of surfaces for additive manufacturing |
EP3709006A1 (fr) * | 2019-03-15 | 2020-09-16 | Primetals Technologies France SAS | Système de contrôle visuel pour un produit étendu |
US10994477B1 (en) | 2019-11-01 | 2021-05-04 | Inkbit, LLC | Optical scanning for industrial metrology |
US11712837B2 (en) | 2019-11-01 | 2023-08-01 | Inkbit, LLC | Optical scanning for industrial metrology |
US10926473B1 (en) | 2020-02-20 | 2021-02-23 | Inkbit, LLC | Multi-material scanning for additive fabrication |
CN111288902B (zh) * | 2020-02-21 | 2021-09-10 | 苏州大学 | 一种双视场光相干断层扫描成像***及材料厚度检测法 |
CN115867788A (zh) * | 2020-07-01 | 2023-03-28 | 浜松光子学株式会社 | 用于高速检查的倾斜型光干涉断层摄影成像 |
US10994490B1 (en) | 2020-07-31 | 2021-05-04 | Inkbit, LLC | Calibration for additive manufacturing by compensating for geometric misalignments and distortions between components of a 3D printer |
CN112880787B (zh) * | 2021-01-08 | 2023-03-31 | 重庆开谨科技有限公司 | 一种用于车辆称重传感器的波形处理方法 |
CN114923935A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-08-19 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 在线3d扫描***及在线3d扫描方法 |
DE102022111511A1 (de) | 2022-05-09 | 2023-11-09 | Wipotec Gmbh | Inspektionsvorrichtung mit darin integrierter Röntgen- und Wägevorrichtung |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4589141A (en) * | 1984-03-12 | 1986-05-13 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus for automatically inspecting printed labels |
US4819783A (en) * | 1986-07-29 | 1989-04-11 | Cochlea Corporation | Automated inspection system and method |
US4906098A (en) * | 1988-05-09 | 1990-03-06 | Glass Technology Development Corporation | Optical profile measuring apparatus |
JP2714277B2 (ja) * | 1991-07-25 | 1998-02-16 | 株式会社東芝 | リード形状計測装置 |
DE4232201A1 (de) * | 1992-09-25 | 1994-03-31 | Sp Reifenwerke Gmbh | Vorrichtung zur Querschnittsvermessung von Fahrzeugreifen |
US5414512A (en) * | 1993-03-10 | 1995-05-09 | Grant Engineering, Inc. | Method and apparatus for viewing a shearographic image |
US6175415B1 (en) * | 1997-02-19 | 2001-01-16 | United Technologies Corporation | Optical profile sensor |
US6633384B1 (en) * | 1998-06-30 | 2003-10-14 | Lockheed Martin Corporation | Method and apparatus for ultrasonic laser testing |
JP3926055B2 (ja) * | 1999-03-03 | 2007-06-06 | 株式会社ブリヂストン | タイヤの内部検査方法及び装置 |
US6967716B1 (en) * | 1999-04-23 | 2005-11-22 | Pressco Technology Inc. | Apparatus and method for inspecting multi-layer plastic containers |
US6894775B1 (en) * | 1999-04-29 | 2005-05-17 | Pressco Technology Inc. | System and method for inspecting the structural integrity of visibly clear objects |
US8023724B2 (en) * | 1999-07-22 | 2011-09-20 | Photon-X, Inc. | Apparatus and method of information extraction from electromagnetic energy based upon multi-characteristic spatial geometry processing |
US6804629B2 (en) * | 2000-05-12 | 2004-10-12 | Ishida Co., Ltd. | Production management system and system for checking operating conditions of product processing apparatuses |
US6378387B1 (en) * | 2000-08-25 | 2002-04-30 | Aerobotics, Inc. | Non-destructive inspection, testing and evaluation system for intact aircraft and components and method therefore |
US7344082B2 (en) * | 2002-01-02 | 2008-03-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam |
US7089131B2 (en) * | 2002-03-22 | 2006-08-08 | Lear Corporation | Inspection and verification system and method |
US20030229463A1 (en) * | 2002-06-05 | 2003-12-11 | Chun-Chen Chen | Systematic method and system for quality control |
DE10333802B4 (de) * | 2003-07-24 | 2005-09-08 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Reifen |
US7355709B1 (en) * | 2004-02-23 | 2008-04-08 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Methods and systems for optical and non-optical measurements of a substrate |
WO2005119174A1 (de) * | 2004-05-26 | 2005-12-15 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät und verfahren zum messen eines objektes |
DE102004026357B4 (de) * | 2004-05-26 | 2022-11-17 | Werth Messtechnik Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Messen eines Objektes |
EP1626271A1 (de) * | 2004-08-14 | 2006-02-15 | Collmann GmbH & Co. Spezialmaschinenbau KG | Röntgenprüfverfahren für Fahrzeugreifen |
US8294809B2 (en) * | 2005-05-10 | 2012-10-23 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | Dimensioning system |
US7838858B2 (en) * | 2005-05-31 | 2010-11-23 | Nikon Corporation | Evaluation system and method of a search operation that detects a detection subject on an object |
US8068656B2 (en) * | 2005-11-16 | 2011-11-29 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
FR2897303B1 (fr) * | 2006-02-15 | 2009-11-13 | Michelin Soc Tech | Ensemble de roue et de pneumatique et procede de mesure en dynamique de parametres topologiques de la surface interne de la partie pertinente de pneumatique |
EP1975603A1 (en) * | 2007-03-27 | 2008-10-01 | Visys NV | Method and system for use in inspecting and/or removing unsuitable objects from a stream of products and a sorting apparatus implementing the same |
US7917241B2 (en) * | 2007-08-01 | 2011-03-29 | Tel Epion Inc. | Method and system for increasing throughput during location specific processing of a plurality of substrates |
JP5307155B2 (ja) * | 2007-12-06 | 2013-10-02 | ロッキード マーティン コーポレイション | レーザ超音波及び赤外線サーモグラフィを使用する非破壊検査 |
US8054470B2 (en) * | 2008-05-15 | 2011-11-08 | Lockheed Martin Corporation | Method and apparatus for spectroscopic characterization of samples using a laser-ultrasound system |
JP5352144B2 (ja) * | 2008-07-22 | 2013-11-27 | 株式会社荏原製作所 | 荷電粒子ビーム検査方法及び装置 |
DE102008037356C5 (de) * | 2008-08-12 | 2020-09-17 | Bernward Mähner | Stapelmodul und Zentriermodul für eine Prüfanlage zum Prüfen von Reifen |
CN101685073B (zh) * | 2008-09-26 | 2011-07-20 | 软控股份有限公司 | 载重轮胎x光机测试装置及其方法 |
JP5340717B2 (ja) * | 2008-12-16 | 2013-11-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
US8765493B2 (en) * | 2012-11-20 | 2014-07-01 | Ultratech, Inc. | Methods of characterizing semiconductor light-emitting devices based on product wafer characteristics |
-
2011
- 2011-10-17 FR FR1159357A patent/FR2981450B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-10-16 SG SG11201400932PA patent/SG11201400932PA/en unknown
- 2012-10-16 BR BR112014009088A patent/BR112014009088A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2012-10-16 WO PCT/EP2012/070510 patent/WO2013057115A1/fr active Application Filing
- 2012-10-16 RU RU2014119933A patent/RU2620868C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2012-10-16 EP EP12775479.4A patent/EP2769196A1/fr not_active Withdrawn
- 2012-10-16 CN CN201280050168.2A patent/CN104114992B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-10-16 US US14/349,187 patent/US20140249663A1/en not_active Abandoned
- 2012-10-16 CA CA2852791A patent/CA2852791A1/fr not_active Abandoned
- 2012-10-16 MX MX2014004569A patent/MX338117B/es active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2769196A1 (fr) | 2014-08-27 |
CN104114992B (zh) | 2019-02-05 |
FR2981450A1 (fr) | 2013-04-19 |
CN104114992A (zh) | 2014-10-22 |
BR112014009088A2 (pt) | 2017-04-18 |
MX2014004569A (es) | 2014-11-25 |
MX338117B (es) | 2016-04-01 |
US20140249663A1 (en) | 2014-09-04 |
SG11201400932PA (en) | 2014-09-26 |
FR2981450B1 (fr) | 2014-06-06 |
RU2620868C2 (ru) | 2017-05-30 |
WO2013057115A1 (fr) | 2013-04-25 |
CA2852791A1 (fr) | 2013-04-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2014119933A (ru) | Система и способ контроля качества изделия | |
WO2014200648A3 (en) | System and method for determining the position of defects on objects, coordinate measuring unit and computer program for coordinate measuring unit | |
CN203745385U (zh) | 激光超声光学干涉检测装置 | |
GB2416835C (en) | Method and apparatus for studying surfaces | |
CN110736721B (zh) | 基于衍射光栅的玻璃平板折射率均匀性检测装置及检测方法 | |
JP2013083581A5 (ru) | ||
CN103759675A (zh) | 一种用于光学元件非球面微结构的同步检测方法 | |
CN205643181U (zh) | 反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置 | |
KR20150067486A (ko) | 파장선택형 도막 두께 측정 장치 | |
CN109341519A (zh) | 用于确定结构中的兴趣区域的参数的方法和*** | |
CN105277131B (zh) | 三维孔结构的测量装置与测量方法 | |
CN104321633B (zh) | 用于测量基片中间隔区域的*** | |
WO2018209048A1 (en) | Apparatus and method for smart material analysis | |
TW201712296A (zh) | 測定物體之厚度或高度變化的裝置及方法 | |
CN108759690B (zh) | 工作效果好的基于双光路红外反射法的涂层测厚仪 | |
CN205581024U (zh) | 透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置 | |
KR20150021346A (ko) | 3차원 형상 측정기 | |
WO2013015349A1 (ja) | 光断層画像測定装置および光断層画像測定システム | |
KR101179952B1 (ko) | 비접촉식 3차원 좌표 측정 장치 | |
KR102254322B1 (ko) | 광 간섭 시스템 | |
CN205562427U (zh) | 反射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置 | |
KR101253913B1 (ko) | 다중 빔 헤드를 가지는 레이저 초음파 장치 및 이를 이용한 신호 처리 방법 | |
KR102057153B1 (ko) | 렌즈의 양면 곡률 형상과 굴절률 분포의 동시 측정방법 및 측정장치 | |
KR20100026619A (ko) | 디스플레이용 평판 유리 검사 장치 및 그 방법 | |
KR101826191B1 (ko) | 렌즈의 양면 곡률 형상과 굴절률 분포의 동시 측정 장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20191017 |