RU2012141588A - Устройство накопления заряда, способ его изготовления, способ изготовления электропроводящей структуры для устройства, мобильное электронное устройство, использующее устройство, и микроэлектронное устройство, содержащее устройство - Google Patents
Устройство накопления заряда, способ его изготовления, способ изготовления электропроводящей структуры для устройства, мобильное электронное устройство, использующее устройство, и микроэлектронное устройство, содержащее устройство Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012141588A RU2012141588A RU2012141588/07A RU2012141588A RU2012141588A RU 2012141588 A RU2012141588 A RU 2012141588A RU 2012141588/07 A RU2012141588/07 A RU 2012141588/07A RU 2012141588 A RU2012141588 A RU 2012141588A RU 2012141588 A RU2012141588 A RU 2012141588A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- charge storage
- storage device
- nanostructures
- electrically conductive
- conductive structure
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/84—Processes for the manufacture of hybrid or EDL capacitors, or components thereof
- H01G11/86—Processes for the manufacture of hybrid or EDL capacitors, or components thereof specially adapted for electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/24—Electrodes characterised by structural features of the materials making up or comprised in the electrodes, e.g. form, surface area or porosity; characterised by the structural features of powders or particles used therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/26—Electrodes characterised by their structure, e.g. multi-layered, porosity or surface features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/30—Electrodes characterised by their material
- H01G11/32—Carbon-based
- H01G11/36—Nanostructures, e.g. nanofibres, nanotubes or fullerenes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/52—Separators
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/54—Electrolytes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/04—Electrodes or formation of dielectric layers thereon
- H01G9/048—Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by their structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L28/00—Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L28/40—Capacitors
- H01L28/60—Electrodes
- H01L28/82—Electrodes with an enlarged surface, e.g. formed by texturisation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/13—Energy storage using capacitors
Abstract
1. Устройство накопления заряда, содержащее:первую электропроводящую структуру и вторую электропроводящую структуру, отделенные друг от друга электрическим изолятором,при этом:по меньшей мере одна электропроводящая структура из первой электропроводящей структуры и второй электропроводящей структуры содержит пористую структуру, содержащую множество каналов; икаждый из каналов имеет отверстие на поверхности пористой структуры.2. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:наименьший размер каждого из каналов составляет не менее 2 нанометров.3. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:наименьший размер каждого из каналов составляет не более 1 микрометра.4. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:пористая структура состоит из материала, выбранного из группы, содержащей кремний, германий, карбид кремния, кремний-германий, алюминий, вольфрам и медь.5. Устройство накопления заряда по п.1, дополнительно содержащее:электропроводящее покрытие по меньшей мере на участке пористой структуры и по меньшей мере в некоторых каналах.6. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:пористая структура содержит легирующую примесь.7. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:электрический изолятор содержит диэлектрический материал.8. Устройство накопления заряда по п.1, дополнительно содержащее:электролит, находящийся в физическом контакте с пористой структурой,при этом:электрический изолятор представляет собой двойной слой, созданный за счет наличия электролита.9. Устройство накопления заряда по п.8, в котором:электролит представляет собой органический электролит.10. Устройство накопления заряда по п.8, допо�
Claims (54)
1. Устройство накопления заряда, содержащее:
первую электропроводящую структуру и вторую электропроводящую структуру, отделенные друг от друга электрическим изолятором,
при этом:
по меньшей мере одна электропроводящая структура из первой электропроводящей структуры и второй электропроводящей структуры содержит пористую структуру, содержащую множество каналов; и
каждый из каналов имеет отверстие на поверхности пористой структуры.
2. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:
наименьший размер каждого из каналов составляет не менее 2 нанометров.
3. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:
наименьший размер каждого из каналов составляет не более 1 микрометра.
4. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:
пористая структура состоит из материала, выбранного из группы, содержащей кремний, германий, карбид кремния, кремний-германий, алюминий, вольфрам и медь.
5. Устройство накопления заряда по п.1, дополнительно содержащее:
электропроводящее покрытие по меньшей мере на участке пористой структуры и по меньшей мере в некоторых каналах.
6. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:
пористая структура содержит легирующую примесь.
7. Устройство накопления заряда по п.1, в котором:
электрический изолятор содержит диэлектрический материал.
8. Устройство накопления заряда по п.1, дополнительно содержащее:
электролит, находящийся в физическом контакте с пористой структурой,
при этом:
электрический изолятор представляет собой двойной слой, созданный за счет наличия электролита.
9. Устройство накопления заряда по п.8, в котором:
электролит представляет собой органический электролит.
10. Устройство накопления заряда по п.8, дополнительно содержащее:
между электролитом и пористой структурой материал, имеющий диэлектрическую проницаемость, значение которой составляет по меньшей мере 3,9.
11. Устройство накопления заряда по п.1, дополнительно содержащее:
наноструктуры, расположенные в пределах по меньшей мере некоторых каналов пористой структуры.
12. Устройство накопления заряда по п.11, дополнительно содержащее:
электропроводящее покрытие по меньшей мере на участке по меньшей мере некоторых наноструктур.
13. Устройство накопления заряда по п.11, дополнительно содержащее:
электролит, находящийся в физическом контакте с пористой структурой.
14. Устройство накопления заряда по п.13, в котором:
по меньшей мере некоторые наноструктуры покрыты материалом, не допускающим электрохимическую реакцию между наноструктурами и электролитом.
15. Устройство накопления заряда по п.13, в котором:
материал является одним материалом из ртути, галлия и галлия-индия-олова;
при этом материал образует монослой на поверхности наноструктур.
16. Устройство накопления заряда по п.11, в котором:
по меньшей мере некоторые наноструктуры содержат легирующую примесь.
17. Устройство накопления заряда, содержащее:
множество дискретных наноструктур; и
электролит, находящийся в физическом контакте по меньшей мере с некоторыми наноструктурами.
18. Устройство накопления заряда по п.17, дополнительно содержащее:
материал между электролитом и наноструктурами, имеющий диэлектрическую проницаемость, значение которой составляет по меньшей мере 3,9.
19. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
по меньшей мере некоторые наноструктуры покрыты материалом, не допускающим электрохимической реакции между наноструктурами и электролитом.
20. Устройство накопления заряда по п.19, в котором:
материалом является ртуть;
причем ртуть образует монослой на поверхности наноструктур.
21. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
электролит представляет собой органический электролит.
22. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
наноструктуры представляют собой наночастицы.
23. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
наноструктуры представляют собой нанопровода.
24. Устройство накопления заряда по п.23, в котором:
нанопровода изготовлены, по меньшей мере частично, из кремния.
25. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
наноструктуры представляют собой углеродные нанотрубки.
26. Устройство накопления заряда по п.17, в котором:
первый поднабор указанного множества дискретных наноструктур образует первый электрод устройства накопления заряда.
27. Устройство накопления заряда по п.26, в котором:
второй поднабор указанного множества дискретных наноструктур образует второй электрод устройства накопления заряда;
при этом устройство накопления заряда дополнительно содержит разделитель между первым электродом и вторым электродом.
28. Способ изготовления электропроводящей структуры для устройства накопления заряда, содержащий этапы, на которых:
обеспечивают раствор, содержащий множество наноструктур в растворителе;
наносят раствор на подложку;
подвергают отжигу раствор и подложку для формирования электропроводящей структуры.
29. Способ по п.28, в котором:
растворитель представляет собой фоторезист.
30. Способ по п.29, в котором:
на этапе нанесения фоторезиста наносят кругами фоторезист на подложку.
31. Способ по п.30, в котором:
на этапе нанесения фоторезиста кругами создают множество волокон, по меньшей мере некоторые из которых имеют длину по меньшей мере 500 микрометров.
32. Способ по п.28, в котором:
наноструктуры являются наночастицами.
33. Способ по п.28, в котором:
наноструктуры являются углеродными нанотрубками.
34. Способ по п.28, дополнительно содержащий этап, на котором:
формируют диэлектрический материал по меньшей мере на некоторых наноструктурах.
35. Способ изготовления устройства накопления заряда, содержащий этапы, на которых:
обеспечивают электропроводящую структуру, имеющую первую секцию и вторую секцию; и
помещают разделитель между первой секцией и второй секцией, причем разделитель выполнен с возможностью переноса ионного заряда; и
помещают электролит в физический контакт с электропроводящей структурой.
36. Способ по п.35, дополнительно содержащий этап, на котором:
создают канавку между первой секцией и второй секцией посредством травления,
при этом:
на этапе помещения разделителя между первой секцией и второй секцией помещают разделитель в канавку.
37. Способ по п.35, в котором:
на этапе обеспечения электропроводящей структуры:
обеспечивают раствор, содержащий множество наноструктур в растворителе;
наносят раствор на подложку; и
подвергают отжигу раствор и подложку для формирования электропроводящей структуры.
38. Мобильное электронное устройство, содержащее:
микропроцессор; и
устройство накопления заряда, связанное с микропроцессором,
при этом:
устройство накопления заряда содержит первую электропроводящую структуру и вторую электропроводящую структуру, отделенные друг от друга электрическим изолятором; и
по меньшей мере одна электропроводящая структура из первой электропроводящей структуры и второй электропроводящей структуры содержит пористую структуру, содержащую множество каналов.
39. Мобильное электронное устройство по п.38, в котором:
устройство накопления заряда представляет собой одно из множества устройств накопления заряда; а
мобильное электронное устройство дополнительно содержит переключательную схему, связанную с устройствами для накопления заряда.
40. Мобильное электронное устройство по п.39, дополнительно содержащее:
сеть датчиков, связанную с устройствами накопления заряда.
41. Мобильное электронное устройство по п.40, дополнительно содержащее:
блок регулировки напряжения, связанный с сетью датчиков и с устройствами накопления заряда.
42. Мобильное электронное устройство по п.41, дополнительно содержащее:
датчик температуры, связанный с устройствами накопления заряда.
43. Мобильное электронное устройство, содержащее:
микропроцессор; и
устройство накопления заряда, содержащее:
множество наноструктур; и
электролит, находящийся в физическом контакте по меньшей мере с некоторыми наноструктурами.
44. Мобильное электронное устройство по п.43, в котором:
устройство накопления заряда представляет собой одно из множества устройств накопления заряда; а
мобильное электронное устройство дополнительно содержит переключательную схему, связанную с устройствами накопления заряда.
45. Мобильное электронное устройство по п.44, в котором:
переключательная схема выполнена с возможностью конфигурировать множество устройств накопления заряда так, чтобы компенсировать снижение напряжения в устройстве накопления заряда.
46. Мобильное электронное устройство по п.44, дополнительно содержащее:
сеть датчиков, связанную с устройствами накопления заряда.
47. Мобильное электронное устройство по п.46, дополнительно содержащее:
блок регулировки напряжения, связанный с сетью датчиков и с устройствами накопления заряда.
48. Мобильное электронное устройство по п.44, дополнительно содержащее:
датчик температуры, связанный с устройствами накопления заряда.
49. Микроэлектронное устройство, содержащее:
подложку;
микропроцессор, расположенный на подложке; и
устройство накопления заряда, связанное с микропроцессором,
при этом:
устройство накопления заряда содержит первую электропроводящую структуру и вторую электропроводящую структуру, отделенные друг от друга электрическим изолятором; и
по меньшей мере одна электропроводящая структура из первой электропроводящей структуры и второй электропроводящей структуры содержит пористую структуру, содержащую множество каналов.
50. Микроэлектронное устройство по п.49, в котором:
устройство накопления заряда расположено на подложке.
51. Микроэлектронное устройство по п.49, в котором:
устройство накопления заряда расположено на микропроцессоре.
52. Микроэлектронное устройство, содержащее:
подложку;
процессор, расположенный на подложке; и
устройство накопления заряда, связанное с микропроцессором,
при этом:
устройство накопления заряда содержит множество наноструктур и электролит, находящийся в физическом контакте по меньшей мере с некоторыми наноструктурами.
53. Микроэлектронное устройство по п.52, в котором:
устройство накопления заряда расположено на подложке.
54. Микроэлектронное устройство по п.52, в котором:
устройство накопления заряда расположено на микропроцессоре.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/US2010/029821 WO2011123135A1 (en) | 2010-04-02 | 2010-04-02 | Charge storage device, method of making same, method of making an electrically conductive structure for same, mobile electronic device using same, and microelectronic device containing same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2012141588A true RU2012141588A (ru) | 2014-04-10 |
RU2553981C2 RU2553981C2 (ru) | 2015-06-20 |
Family
ID=44712548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012141588/07A RU2553981C2 (ru) | 2010-04-02 | 2010-04-02 | Устройство накопления заряда, способ его изготовления, способ изготовления электропроводящей структуры для устройства, мобильное электронное устройство, использующее устройство, и микроэлектронное устройство, содержащее устройство |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US9013861B2 (ru) |
EP (1) | EP2553696A4 (ru) |
JP (1) | JP5743353B2 (ru) |
KR (1) | KR101495971B1 (ru) |
CN (1) | CN102906834B (ru) |
CA (2) | CA2936222A1 (ru) |
RU (1) | RU2553981C2 (ru) |
SG (1) | SG184302A1 (ru) |
WO (1) | WO2011123135A1 (ru) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2936222A1 (en) * | 2010-04-02 | 2011-10-06 | Intel Corporation | Charge storage device, method of making same, method of making an electrically conductive structure for same, mobile electronic device using same, and microelectronic device containing same |
RU2578676C2 (ru) * | 2011-09-30 | 2016-03-27 | Интел Корпорейшн | Способ повышения удельной энергии и достижимой выходной мощности устройства накопления энергии |
US9409767B2 (en) | 2011-11-03 | 2016-08-09 | Intel Corporation | Energy storage structure, method of manufacturing a support structure for same, and microelectronic assembly and system containing same |
EP2788997A4 (en) * | 2011-12-08 | 2015-11-04 | Intel Corp | ENERGY STORAGE DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING POROUS STRUCTURE THEREFOR, AND MICROELECTRONIC ASSEMBLY AND SYSTEM CONTAINING THE DEVICE |
DE112011105957T5 (de) | 2011-12-14 | 2014-08-21 | Intel Corporation | Überwinden von Abweichung bei gestapelten Kondensatoren |
CN103988271B (zh) * | 2011-12-21 | 2017-12-12 | 英特尔公司 | 将储能器件集成到衬底上以用于微电子和移动设备 |
IN2014CN03385A (ru) | 2011-12-27 | 2015-07-03 | Intel Corp | |
DE112012005912T5 (de) * | 2012-02-21 | 2014-12-04 | Intel Corporation | Energiespeichergerät, Verfahren der Herstellung desselben und mobiles Elektronikgerät, dasselbe enthaltend |
WO2013128082A1 (en) | 2012-02-28 | 2013-09-06 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt | Integrable electrochemical capacitor |
CN104205624B (zh) | 2012-03-30 | 2018-05-15 | 英特尔公司 | 具有电解电容器的低频转换器 |
CN104170037B (zh) * | 2012-04-25 | 2018-12-11 | 英特尔公司 | 能量存储设备、制造其的方法以及包含其的移动电子设备 |
GB2501871B8 (en) * | 2012-05-03 | 2022-08-17 | Dyson Technology Ltd | Hybrid Capacitor |
GB201212051D0 (en) * | 2012-07-06 | 2012-08-22 | Zyk S A | Energy storage apparatus |
WO2014022282A1 (en) * | 2012-07-31 | 2014-02-06 | Shamrock Energy Corporation | Breakdown inhibitors for electrochemical cells |
US9025313B2 (en) * | 2012-08-13 | 2015-05-05 | Intel Corporation | Energy storage devices with at least one porous polycrystalline substrate |
US9093226B2 (en) * | 2012-09-17 | 2015-07-28 | Intel Corporation | Energy storage device, method of manufacturing same, and mobile electronic device containing same |
US9206523B2 (en) * | 2012-09-28 | 2015-12-08 | Intel Corporation | Nanomachined structures for porous electrochemical capacitors |
US9466662B2 (en) * | 2012-12-28 | 2016-10-11 | Intel Corporation | Energy storage devices formed with porous silicon |
US9928966B2 (en) * | 2012-12-28 | 2018-03-27 | Intel Corporation | Nanostructured electrolytic energy storage devices |
US8816465B1 (en) | 2013-02-22 | 2014-08-26 | Intel Corporation | Energy conversion and storage device and mobile electronic device containing same |
US9396883B2 (en) * | 2013-04-26 | 2016-07-19 | Intel Corporation | Faradaic energy storage device structures and associated techniques and configurations |
US9959983B2 (en) * | 2013-06-28 | 2018-05-01 | Intel Corporation | Robust porous electrodes for energy storage devices |
US9484576B2 (en) | 2013-06-28 | 2016-11-01 | Intel Corporation | Particle-based silicon electrodes for energy storage devices |
US10319535B2 (en) | 2013-09-27 | 2019-06-11 | Intel Corporation | High voltage high power energy storage devices, systems, and associated methods |
TWI621278B (zh) * | 2013-12-17 | 2018-04-11 | 瑞典商Glo公司 | 具有應變改質表面活性區域之第三族氮化物奈米線led及其製造方法 |
US9640332B2 (en) * | 2013-12-20 | 2017-05-02 | Intel Corporation | Hybrid electrochemical capacitor |
US9882086B2 (en) | 2014-08-12 | 2018-01-30 | Glo Ab | III-nitride nanowire LED with strain modified surface active region and method of making thereof |
CN107683516A (zh) | 2014-10-17 | 2018-02-09 | 芬兰国家技术研究中心股份公司 | 适合用作超级电容器的本体的坯件、超级电容器以及制造多孔硅卷的方法 |
CN104900849A (zh) * | 2015-07-02 | 2015-09-09 | 中国科学院电子学研究所 | 一种在三维立柱阵列表面形成多孔结构的方法 |
DE102016220685A1 (de) | 2016-10-21 | 2018-04-26 | Robert Bosch Gmbh | Elektrode mit elektrisch leitendem Netzwerk auf Aktivmaterialstrukturen |
KR102154216B1 (ko) * | 2017-09-18 | 2020-09-09 | 주식회사 아모그린텍 | 터치 스크린 패널용 기판, 이를 포함하는 터치 스크린 패널 및 이의 제조 방법 |
US11664172B2 (en) * | 2018-03-30 | 2023-05-30 | The Research Foundation For The State University Of New York | Performance of capacitors |
JP7444561B2 (ja) | 2019-08-08 | 2024-03-06 | 株式会社東芝 | アルミニウム電解コンデンサ、電気機器、及びアルミニウム電解コンデンサの製造方法 |
EP3796351B1 (en) * | 2019-09-17 | 2021-11-03 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Low defect high capacitance thin solid electrolyte capacitor and method of fabrication thereof |
Family Cites Families (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832769B2 (ja) | 1977-09-08 | 1983-07-15 | 松下電器産業株式会社 | 電解コンデンサ |
JPS5832769A (ja) | 1981-08-20 | 1983-02-25 | 松下電工株式会社 | マツサ−ジ機 |
JPH01246812A (ja) | 1988-03-29 | 1989-10-02 | Asahi Glass Co Ltd | 電気二重層コンデンサ |
US4882649A (en) | 1988-03-29 | 1989-11-21 | Texas Instruments Incorporated | Nitride/oxide/nitride capacitor dielectric |
US5711988A (en) | 1992-09-18 | 1998-01-27 | Pinnacle Research Institute, Inc. | Energy storage device and its methods of manufacture |
JP3689948B2 (ja) * | 1994-12-27 | 2005-08-31 | 旭硝子株式会社 | 電気二重層キャパシタ |
US6197450B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-03-06 | Ramot University Authority For Applied Research & Industrial Development Ltd. | Micro electrochemical energy storage cells |
AT408288B (de) | 2000-05-10 | 2001-10-25 | Funktionswerkstoffe Forschungs | Mehrschichtige elektrode |
US6643119B2 (en) | 2001-11-02 | 2003-11-04 | Maxwell Technologies, Inc. | Electrochemical double layer capacitor having carbon powder electrodes |
US6833983B2 (en) | 2002-02-11 | 2004-12-21 | Intel Corporation | Current limiting super capacitor charger |
JP2003286017A (ja) | 2002-03-28 | 2003-10-07 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 配向性カーボンナノチューブ膜の転写方法 |
EP1411533A1 (en) | 2002-10-09 | 2004-04-21 | Asahi Glass Company, Limited | Electric double layer capacitor and process for its production |
EP1434242B1 (en) * | 2002-12-27 | 2010-11-24 | Panasonic Corporation | Capacitor and method for producing the same, and circuit board with a built-in capacitor and method for producing the same |
DE10333550B4 (de) * | 2003-07-23 | 2006-06-14 | Epcos Ag | Elektrochemischer Doppelschichtkondensator und Verfahren zur Imprägnierung eines Doppelschichtkondensators |
JP4305832B2 (ja) | 2003-07-29 | 2009-07-29 | キヤノンアネルバ株式会社 | 多重極型質量分析計 |
US20070002525A1 (en) | 2003-08-27 | 2007-01-04 | Showa Denko K.K. | Sheet for capacitor electrodes, method and apparatus for manufacturing the same, and electrolytic capacitors |
US7393604B2 (en) | 2003-09-15 | 2008-07-01 | Intel Corporation | Hybrid power system and method |
KR101036378B1 (ko) | 2003-10-10 | 2011-05-23 | 히다치 훈마츠 야킨 가부시키가이샤 | 전기 이중층 캐패시터용 전극과 그의 제조 방법, 및 전기이중층 캐패시터, 및 도전성 접착제 |
JP4371979B2 (ja) * | 2003-10-10 | 2009-11-25 | ジャパンゴアテックス株式会社 | 電気二重層キャパシタ用電極、および電気二重層キャパシタ、並びに導電性接着剤 |
JP2005142381A (ja) * | 2003-11-07 | 2005-06-02 | Nec Tokin Corp | 電気二重層コンデンサ及びその製造方法 |
US7541782B2 (en) | 2004-03-30 | 2009-06-02 | Intel Corporation | System and method for extracting energy from an ultracapacitor |
US7050291B2 (en) | 2004-03-31 | 2006-05-23 | Intel Corporation | Integrated ultracapacitor as energy source |
TWI255314B (en) | 2004-05-28 | 2006-05-21 | Ming-Hsin Sun | Energy storage device manufacturing method that enhances manufacturing efficiency and product reliability |
JP4972854B2 (ja) * | 2004-06-18 | 2012-07-11 | 株式会社Ihi | 電極及び電極の製造方法 |
IL164017A0 (en) | 2004-09-09 | 2005-12-18 | Cerel Ceramic Technologies Ltd | Solid electrolyte capacitor with controlled properties and method for manufacturing the same |
WO2006056964A2 (en) | 2004-11-26 | 2006-06-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Electrochemical energy source, electronic module, electronic device, and method for manufacturing of said energy source |
JP5153056B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2013-02-27 | パナソニック株式会社 | カーボンナノファイバを含む、非水電解質二次電池用または電気二重層キャパシタ用複合集電体および電極の製造法 |
JP4811712B2 (ja) | 2005-11-25 | 2011-11-09 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | カーボンナノチューブ・バルク構造体及びその製造方法 |
KR100762797B1 (ko) * | 2005-12-28 | 2007-10-02 | 한국전기연구원 | 에너지 저장 장치의 전극 및 그 제조방법 |
EP2038218A1 (en) | 2006-05-31 | 2009-03-25 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Porous electrically conductive carbon material and uses thereof |
CN100490033C (zh) * | 2006-06-05 | 2009-05-20 | 厦门大学 | 基于液相中的电化学活性物质的超级电容器 |
US20080014504A1 (en) | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Adrian Schneuwly | Method of making and article of manufacture for an energy storage electrode apparatus |
KR100892382B1 (ko) * | 2006-08-25 | 2009-04-10 | 광주과학기술원 | 캐패시터용 탄소나노튜브 전극의 제조방법 |
KR100806872B1 (ko) * | 2006-10-12 | 2008-02-22 | 삼성전자주식회사 | 전기 습윤 현상을 이용한 가변 커패시터 |
GB2443221A (en) * | 2006-10-25 | 2008-04-30 | Nanotecture Ltd | Hybrid supercapacitor comprising double layer electrode and redox electrode |
US8116067B2 (en) * | 2006-10-31 | 2012-02-14 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Nanoporous insulating oxide electrolyte membrane ultracapacitor, button cell, stacked cell and coiled cell and methods of manufacture and use thereof |
TWI317016B (en) * | 2006-11-08 | 2009-11-11 | Nat Univ Tsing Hua | Multifunctional nano-probe interface structure for neural prostheses and manufacturing method thereof |
RU2483383C2 (ru) * | 2006-11-27 | 2013-05-27 | ЮНИВЕРСАЛ СУПЕРКАПАСИТОРЗ ЭлЭлСи | Электрод для использования в электрохимическом конденсаторе с двойным электрическим слоем (варианты) |
WO2008124167A1 (en) * | 2007-04-10 | 2008-10-16 | The Regents Of The University Of California | Charge storage devices containing carbon nanotube films as electrodes and charge collectors |
JP2008269827A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電気化学素子の電極材料およびその製造方法並びにそれを用いた電極極板および電気化学素子 |
US8081418B2 (en) * | 2007-06-05 | 2011-12-20 | California Institute Of Technology | Low temperature double-layer capacitors |
US8134220B2 (en) * | 2007-06-22 | 2012-03-13 | Nantero Inc. | Two-terminal nanotube devices including a nanotube bridge and methods of making same |
CN101471181A (zh) * | 2007-12-28 | 2009-07-01 | 财团法人工业技术研究院 | 复合型电容 |
DE102008011523A1 (de) * | 2008-02-26 | 2009-08-27 | Varta Microbattery Gmbh | Dreidimensionale Mikrobatterie und Verfahren zu deren Herstellung |
US8558324B2 (en) * | 2008-05-06 | 2013-10-15 | Korea Institute Of Science And Technology | Composite dielectric thin film, capacitor and field effect transistor using the same, and each fabrication method thereof |
WO2009148977A1 (en) | 2008-06-04 | 2009-12-10 | Seeo, Inc | Supercapacitors with block copolymer electrolytes |
US8183121B2 (en) * | 2009-03-31 | 2012-05-22 | Sandisk 3D Llc | Carbon-based films, and methods of forming the same, having dielectric filler material and exhibiting reduced thermal resistance |
CA2936222A1 (en) | 2010-04-02 | 2011-10-06 | Intel Corporation | Charge storage device, method of making same, method of making an electrically conductive structure for same, mobile electronic device using same, and microelectronic device containing same |
-
2010
- 2010-04-02 CA CA2936222A patent/CA2936222A1/en not_active Abandoned
- 2010-04-02 CN CN201080066031.7A patent/CN102906834B/zh active Active
- 2010-04-02 KR KR1020127025729A patent/KR101495971B1/ko active IP Right Grant
- 2010-04-02 RU RU2012141588/07A patent/RU2553981C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2010-04-02 WO PCT/US2010/029821 patent/WO2011123135A1/en active Application Filing
- 2010-04-02 US US13/637,795 patent/US9013861B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-04-02 CA CA2794714A patent/CA2794714C/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-04-02 JP JP2013502551A patent/JP5743353B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-04-02 SG SG2012071817A patent/SG184302A1/en unknown
- 2010-04-02 EP EP10849153.1A patent/EP2553696A4/en not_active Withdrawn
-
2015
- 2015-03-11 US US14/644,632 patent/US9368290B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-05-25 US US15/163,798 patent/US20160268065A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102906834B (zh) | 2016-03-16 |
KR101495971B1 (ko) | 2015-02-25 |
CA2936222A1 (en) | 2011-10-06 |
KR20120135298A (ko) | 2012-12-12 |
RU2553981C2 (ru) | 2015-06-20 |
SG184302A1 (en) | 2012-11-29 |
CA2794714A1 (en) | 2011-10-06 |
JP5743353B2 (ja) | 2015-07-01 |
US9013861B2 (en) | 2015-04-21 |
JP2013524504A (ja) | 2013-06-17 |
CA2794714C (en) | 2017-01-17 |
EP2553696A4 (en) | 2016-07-06 |
US9368290B2 (en) | 2016-06-14 |
WO2011123135A1 (en) | 2011-10-06 |
US20130016452A1 (en) | 2013-01-17 |
CN102906834A (zh) | 2013-01-30 |
US20160268065A1 (en) | 2016-09-15 |
EP2553696A1 (en) | 2013-02-06 |
US20150187515A1 (en) | 2015-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2012141588A (ru) | Устройство накопления заряда, способ его изготовления, способ изготовления электропроводящей структуры для устройства, мобильное электронное устройство, использующее устройство, и микроэлектронное устройство, содержащее устройство | |
RU2488552C2 (ru) | Покрытие и электрическое устройство, его содержащее | |
Zhang et al. | Rosin-enabled ultraclean and damage-free transfer of graphene for large-area flexible organic light-emitting diodes | |
Li et al. | Stamping fabrication of flexible planar micro‐supercapacitors using porous graphene inks | |
Lüssem et al. | Vertical organic transistors | |
US7732290B2 (en) | Carbon nanotube transistor process with transferred carbon nanotubes | |
US10373766B2 (en) | Method of producing a super-capacitor | |
JP2019083288A (ja) | 熱電素子の製造方法 | |
WO2008024674A1 (en) | Concentric gate nanotube transistor devices | |
CN105810746A (zh) | N型薄膜晶体管 | |
CN105810748A (zh) | N型薄膜晶体管 | |
Gao et al. | Encapsulate-and-peel: fabricating carbon nanotube CMOS integrated circuits in a flexible ultra-thin plastic film | |
WO2014139652A1 (en) | Electrochemically-gated field-effect transistor, method for its manufacture, its use, and electronics comprising said field- effect transistor | |
Kılçık et al. | Study on preparation of graphene oxide thin film layers: the electrical and dielectric characteristics of Au/GO/n-type Si junction structures | |
SA518391957B1 (ar) | خلية شمسية تشتمل على حبيبات من مادة مطلية شبه موصلة وطريقة لتصنيع الخلية الشمسية | |
US10037896B2 (en) | Electro-assisted transfer and fabrication of wire arrays | |
CN105810587A (zh) | N型薄膜晶体管的制备方法 | |
US10418490B2 (en) | Field effect transistor and manufacturing method thereof | |
CN105097429B (zh) | 碳纳米管复合膜的制备方法 | |
CN102629665B (zh) | 制作晶体管的方法、晶体管、阵列基板以及显示器 | |
CN105810747B (zh) | N型薄膜晶体管 | |
CN115244719A (zh) | 发电元件、发电装置、电子设备以及发电元件的制造方法 | |
CN107369651B (zh) | 互补场效应晶体管及其制备方法和像素电路 | |
US10170629B2 (en) | Field-effect transistor and the manufacturing method | |
KR20110019550A (ko) | 광기전 소자 및 그 제작 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20180403 |