RU2011119094A - METHOD FOR CERTIFICATION OF OWN S-PARAMETERS OF DEVICES FOR MEASURING COMPLEX TRANSFER AND REFLECTING FOUR MICROWAVES - Google Patents

METHOD FOR CERTIFICATION OF OWN S-PARAMETERS OF DEVICES FOR MEASURING COMPLEX TRANSFER AND REFLECTING FOUR MICROWAVES Download PDF

Info

Publication number
RU2011119094A
RU2011119094A RU2011119094/28A RU2011119094A RU2011119094A RU 2011119094 A RU2011119094 A RU 2011119094A RU 2011119094/28 A RU2011119094/28 A RU 2011119094/28A RU 2011119094 A RU2011119094 A RU 2011119094A RU 2011119094 A RU2011119094 A RU 2011119094A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
load
parameters
values
reflection coefficients
port
Prior art date
Application number
RU2011119094/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2482504C2 (en
Inventor
Константин Станиславович Коротков (RU)
Константин Станиславович Коротков
Антон Сергеевич Левченко (RU)
Антон Сергеевич Левченко
Дмитрий Николаевич Мильченко (RU)
Дмитрий Николаевич Мильченко
Игорь Николаевич Шевченко (RU)
Игорь Николаевич Шевченко
Original Assignee
ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ "РИТМ" (ОАО "Компания "Ритм") (RU)
ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ "РИТМ" (ОАО "Компания "Ритм")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ "РИТМ" (ОАО "Компания "Ритм") (RU), ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ "РИТМ" (ОАО "Компания "Ритм") filed Critical ОТКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННАЯ КОМПАНИЯ "РИТМ" (ОАО "Компания "Ритм") (RU)
Priority to RU2011119094/28A priority Critical patent/RU2482504C2/en
Publication of RU2011119094A publication Critical patent/RU2011119094A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2482504C2 publication Critical patent/RU2482504C2/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Способ аттестации собственных S-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ, заключающийся в том, что измеряют нагрузку короткого замыкания и согласованную нагрузку один раз непосредственно, присоединяя их к аттестуемому измерительному порту, а второй раз через меру волнового сопротивления, отличающийся тем, что измеряют эталонные согласованную нагрузку, нагрузку короткого замыкания и нагрузку холостого хода, присоединяя их один раз непосредственно к аттестуемому измерительному порту, а второй раз присоединяя каждую из них к аттестуемому измерительному порту через меру волнового сопротивления с расчетными модулем и фазой ее коэффициента передачи, используя измеренные значения коэффициентов отражений трех эталонных нагрузок, присоединяемых непосредственно к аттестуемому измерительному порту и через линию калиброванной длины, а также используя эталонные значения этих нагрузок и расчетное значение коэффициента передачи меры волнового сопротивления получают зависимости остаточных S-параметров, характеризующих эквивалентный четырехполюсник погрешностей, постоянно присутствующий между эталонным измерительным портом и нагрузкой, путем приведения значений этих остаточных S-параметров к значениям параметров идеально согласованного по входу и выходу четырехполюсника без потерь, находят расчетные зависимости величин коэффициентов отражений эталонных нагрузок холостого хода и согласованной нагрузки в диапазоне частот измерителя комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ, выбирают значения коэффициентов  A method of attesting the own S-parameters of devices for measuring the complex transmission and reflection coefficients of microwave quadrupole, which consists in measuring the short-circuit load and the coordinated load once directly, connecting them to the certified measuring port, and the second time through a measure of wave resistance, characterized in that measure the reference coordinated load, short circuit load and idle load, attaching them once directly to the certifiable the port, and for the second time connecting each of them to the certified measuring port through a wave resistance measure with the calculation module and the phase of its transfer coefficient, using the measured values of the reflection coefficients of the three reference loads connected directly to the certified measuring port and through the calibrated length line, as well Using the reference values of these loads and the calculated value of the transfer coefficient of the wave impedance measure, the dependences of the residual S-parameters are obtained, Errors that are equivalent to a four-terminal device, which is constantly present between the reference measuring port and the load, by bringing the values of these residual S-parameters to the values of the parameters perfectly matched to the input and output of the four-terminal without losses, the calculated dependences of the reflection coefficients of the no-load reference loads and the coordinated load in the range are found frequency meter complex transmission and reflection coefficients of the four-port microwave, select the values of the coefficients

Claims (1)

Способ аттестации собственных S-параметров устройств для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ, заключающийся в том, что измеряют нагрузку короткого замыкания и согласованную нагрузку один раз непосредственно, присоединяя их к аттестуемому измерительному порту, а второй раз через меру волнового сопротивления, отличающийся тем, что измеряют эталонные согласованную нагрузку, нагрузку короткого замыкания и нагрузку холостого хода, присоединяя их один раз непосредственно к аттестуемому измерительному порту, а второй раз присоединяя каждую из них к аттестуемому измерительному порту через меру волнового сопротивления с расчетными модулем и фазой ее коэффициента передачи, используя измеренные значения коэффициентов отражений трех эталонных нагрузок, присоединяемых непосредственно к аттестуемому измерительному порту и через линию калиброванной длины, а также используя эталонные значения этих нагрузок и расчетное значение коэффициента передачи меры волнового сопротивления получают зависимости остаточных S-параметров, характеризующих эквивалентный четырехполюсник погрешностей, постоянно присутствующий между эталонным измерительным портом и нагрузкой, путем приведения значений этих остаточных S-параметров к значениям параметров идеально согласованного по входу и выходу четырехполюсника без потерь, находят расчетные зависимости величин коэффициентов отражений эталонных нагрузок холостого хода и согласованной нагрузки в диапазоне частот измерителя комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ, выбирают значения коэффициентов отражений эталонных нагрузок в окрестности частот, где электрическая длина меры волнового сопротивления кратна четверти длины волны, исключая окрестности особых точек ее кратности половине длины волны, и по выбранным значениям аппроксимируют амплитудно-частотные и фазочастотные зависимости коэффициентов отражений каждой из эталонных нагрузок холостого хода и согласованной нагрузки, в результате чего получают истинные величины коэффициентов отражений эталонных холостого хода и согласованных нагрузок, которые затем используют для вычисления истинных собственных S-параметров аттестуемого измерительного порта измерителя комплексных коэффициентов передачи и отражения четырехполюсников СВЧ, которые используют при измерениях испытуемых четырехполюсников СВЧ, используя измеренные значения коэффициентов отражений трех эталонных нагрузок, присоединяемых непосредственно к аттестуемому измерительному порту и через линию калиброванной длины, а также вычисленные истинные собственные S-параметры повторно вычисляют зависимости остаточных S-параметров аттестуемого измерительного порта, которые используют при вычислении погрешностей измерений испытуемых четырехполюсников СВЧ. A method of attesting the own S-parameters of devices for measuring the complex transmission and reflection coefficients of microwave quadrupole, which consists in measuring the short-circuit load and the coordinated load once directly, connecting them to the certified measuring port, and the second time through a measure of wave resistance, characterized in that measure the reference coordinated load, short circuit load and idle load, attaching them once directly to the certifiable the port, and for the second time connecting each of them to the certified measuring port through a wave resistance measure with the calculation module and the phase of its transfer coefficient, using the measured values of the reflection coefficients of the three reference loads connected directly to the certified measuring port and through the calibrated length line, as well Using the reference values of these loads and the calculated value of the transfer coefficient of the wave impedance measure, the dependences of the residual S-parameters are obtained, Errors that are equivalent to a four-terminal device, which is constantly present between the reference measuring port and the load, by bringing the values of these residual S-parameters to the values of the parameters perfectly matched to the input and output of the four-terminal without losses, the calculated dependences of the reflection coefficients of the no-load reference loads and the coordinated load in the range are found frequency meter complex transmission and reflection coefficients of the four-port microwave, select the values of the coefficients friction of reference loads in the vicinity of frequencies, where the electric length of the wave impedance measure is a multiple of a quarter of the wavelength, excluding the vicinity of the singular points of its multiplicity of half the wavelength, and the selected values approximate the amplitude-frequency and phase-frequency dependences of the reflection coefficients of each of the reference idling loads and the matched load as a result, the true values of the reflection coefficients of the reference idle and the agreed loads are obtained, which are then used for Calculation of the true intrinsic S-parameters of the certified measuring port of the complex microwave transmission and reflection coefficient meter, which is used in the measurements of the tested microwave four-terminal, using the measured reflection coefficients of the three reference loads connected directly to the certified measuring port and through the calibrated length line, as well as calculated true intrinsic S-parameters recalculate the dependences of the residual S-parameters of the attested from eritelnogo ports which are used when calculating the measurement error test microwave quadripoles.
RU2011119094/28A 2011-05-12 2011-05-12 Method for calibration of inherent s-parameters of devices for measuring complex coefficients of transmission and reflection of microwave four-terminal devices RU2482504C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011119094/28A RU2482504C2 (en) 2011-05-12 2011-05-12 Method for calibration of inherent s-parameters of devices for measuring complex coefficients of transmission and reflection of microwave four-terminal devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011119094/28A RU2482504C2 (en) 2011-05-12 2011-05-12 Method for calibration of inherent s-parameters of devices for measuring complex coefficients of transmission and reflection of microwave four-terminal devices

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2011119094A true RU2011119094A (en) 2012-11-20
RU2482504C2 RU2482504C2 (en) 2013-05-20

Family

ID=47322874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011119094/28A RU2482504C2 (en) 2011-05-12 2011-05-12 Method for calibration of inherent s-parameters of devices for measuring complex coefficients of transmission and reflection of microwave four-terminal devices

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2482504C2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113777547A (en) * 2021-07-29 2021-12-10 中国电子科技集团公司第十三研究所 Calibration judgment method and device for on-chip S parameter measurement system and terminal

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2635840C2 (en) * 2016-05-05 2017-11-16 Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт связи" ФГУП ЦНИИС Method of measuring frequency characteristics of transmission parameters of extended electric circuits in idle mode and short circuit
RU2673781C1 (en) * 2017-12-13 2018-11-29 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВО "КубГУ") Method for calibrating two-channel superheterodyne receiver in meter of complex transmission and reflection coefficients of microwave devices with frequency conversion
RU2753828C1 (en) * 2020-09-24 2021-08-23 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный университет" (ФГБОУ ВО "КубГУ") Method for calibration and determination of inherent systematic errors of vector network analyser

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2604528B1 (en) * 1986-09-25 1989-05-12 France Etat METHOD AND DEVICE FOR DIGITAL DETERMINATION OF THE AMPLITUDE OF THE INPUT-OUTPUT TRANSFER FUNCTION OF A QUADRIPOLE
SU1617385A1 (en) * 1988-01-07 1990-12-30 Предприятие П/Я В-8574 Panoramic meter of s-parameters
UA7267U (en) * 2004-11-15 2005-06-15 Univ Vinnytsia Nat Tech Method for measuring irregular s-parameters of a quadripole
RU2377591C1 (en) * 2008-09-10 2009-12-27 Открытое акционерное общество "Научно-производственная компания "Ритм" Method of certification of amplitude-phase error of devices for measurement of complex coefficients of transmitting and reflecting of four-pole shf

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113777547A (en) * 2021-07-29 2021-12-10 中国电子科技集团公司第十三研究所 Calibration judgment method and device for on-chip S parameter measurement system and terminal
CN113777547B (en) * 2021-07-29 2024-02-23 中国电子科技集团公司第十三研究所 Calibration judgment method, device and terminal of on-chip S parameter measurement system

Also Published As

Publication number Publication date
RU2482504C2 (en) 2013-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Magdowski et al. Coupling of stochastic electromagnetic fields to a transmission line in a reverberation chamber
CN104515907B (en) A kind of scattering parameter test system and its implementation
JP2004317506A5 (en)
TW201300799A (en) Method of measuring scattering parameters of device under test
RU2011119094A (en) METHOD FOR CERTIFICATION OF OWN S-PARAMETERS OF DEVICES FOR MEASURING COMPLEX TRANSFER AND REFLECTING FOUR MICROWAVES
CN103543425B (en) A kind of method of automatic compensation Network Analyzer measuring surface variation error
CN103048550B (en) Test system and test data calibration method of S-parameter of surface mount microwave device
TW201518736A (en) Vector network power meter
CN111983538A (en) On-chip S parameter measurement system calibration method and device
Kang et al. Direct comparison technique using a transfer power standard with an adapter and its uncertainty
US20080265911A1 (en) Power Sensing Module with Built-In Mismatch and Correction
RU2361227C2 (en) Method of measuring s-parametres of microwave transistors in linear mode
Wallis et al. A direct comparison system for power calibration up to 67 GHz
Shimaoka A new method for measuring accurate equivalent source reflection coefficient of three-port devices
RU126845U1 (en) ELECTRONIC CALIBRATOR OF VECTOR ANALYZER OF CHAINS
Wagih et al. Characterizing and modelling non-linear rectifiers for RF energy harvesting
RU2635840C2 (en) Method of measuring frequency characteristics of transmission parameters of extended electric circuits in idle mode and short circuit
Fezai et al. Characterization of reflection and attenuation parameters of device under test by vna
Cui et al. Evaluation and validation of a national WR-15 (50 to 75 GHz) power measurement system
CN106018976B (en) A kind of V-type linear impedance stabilization network isolation determines method
Singh et al. Comparison of Vector Network Analyser (VNA) calibration techniques at microwave frequencies
Chen et al. Evaluating uncertainties in net power delivery using dual directional couplers
RU2753828C1 (en) Method for calibration and determination of inherent systematic errors of vector network analyser
Fei The research of port extension and de-embedding based on vector network analyzer
Horibe et al. Measurement uncertainty in waveguide VNA calibrated by offset short calibration with oversized waveguide aperture at sub-millimeter wave frequency